CN117330936A - 一种电路板传输线的检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种电路板传输线的检测方法及装置。本发明实施例提供的电路板传输线的检测方法包括将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号；根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度；接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号；根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态。本发明实施例提供的技术方案通过射频信号的频率和待测电路板传输线的长度对测试探针的长度进行调节，实现了提高测试结果的准确性，简化测试过程，降低测试成本。

Description

一种电路板传输线的检测方法及装置

技术领域

本发明涉及射频测试技术领域，尤其涉及一种电路板传输线的检测方法及装置。

背景技术

高频材料广泛应用于微型化的穿戴装置中，如高频信号传输线。在对高频信号传输线进行测试时，若高频信号传输线的射频传输路径小于测试频段的波长，则测试结果会呈现出几乎全反射的状态，难以确定产品的真实射频性能是否符合规格。若采用高精度的测试仪器，则会大幅增加测试成本。因此，现有的测试方法对高频信号传输线的测试准确度较差的问题，成为业内亟待解决的技术问题。。

发明内容

本发明提供了一种电路板传输线的检测方法及装置，以解决现有的测试方法对高频信号传输线的测试准确度较差的问题。

根据本发明的一方面，提供了一种电路板传输线的检测方法，包括：

将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号；

根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度；

接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号；

根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

可选的，根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度，包括：

根据所述射频信号的频率，确定所述射频信号的波长；

根据所述射频信号的波长和所述待测电路板传输线的长度，确定所述测试探针的长度；

根据所述测试探针的长度，调节末端夹具的下压强度。

可选的，射频信号的波长通过如下公式计算：

c＝3×10⁸(m/s) (2)

其中，c为射频信号在真空中的传输速度，v为射频信号在介质中的传输速度，ε为介质参数，f为射频信号的频率，λ为射频信号的波长。

可选的，将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号，包括：

将所述测试探针的第一端固定于测试治具的末端夹具上；

将所述测试探针的第二端与所述待测电路板传输线连接；

通过射频测试线将所述测试探针的测试接头与网络分析仪连接；

通过所述网络分析仪，向所述测试探针传输射频信号。

可选的，在所述根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度之前，还包括：

获取所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度。

可选的，接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号，包括：

通过所述网络分析仪，接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号。

可选的，根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态，包括：

获取所述待测电路板传输线的反射信号的共振频率；

根据所述反射信号的共振频率，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

可选的，根据所述反射信号的共振频率，确定所述待测电路板传输线的合格状态，包括：

将所述反射信号的共振频率与所述射频信号的频率进行比较，得到第一比较结果；

根据所述第一比较结果，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

可选的，根据所述第一比较结果，确定所述待测电路板传输线的合格状态，包括：

当所述反射信号的共振频率与所述射频信号的频率的差值小于或等于第一预设阈值时，所述待测电路板传输线为合格；

当所述反射信号的共振频率与所述射频信号的频率的差值大于所述第一预设阈值时，所述待测电路板传输线为不合格。

第二方面，本发明实施例提供一种电路板传输线的检测装置，包括：

射频测试线，用于将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号；

计算模块，用于根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度；

网络分析仪，用于接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号；

所述网络分析仪还用于根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

本发明实施例的技术方案，将测试探针与待测电路板传输线连接，并向测试探针传输射频信号，根据射频信号的频率和待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度。接收待测电路板传输线和调节长度后的测试探针的反射信号，并根据反射信号，确定待测电路板传输线的合格状态。本实施例的电路板传输线的检测方法根据射频信号的频率和待测电路板传输线的长度对测试探针的长度进行调节，进而根据反射信号确定待测电路板传输线的合格状态，实现了提高测试结果的准确性，简化测试过程，降低测试成本。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种电路板传输线的检测方法流程图；

图2是本发明实施例提供的另一种电路板传输线的检测方法流程图；

图3是本发明实施例提供的又一种电路板传输线的检测方法流程图；

图4是本发明实施例提供的又一种电路板传输线的检测方法流程图；

图5是本发明实施例提供的又一种电路板传输线的检测方法流程图；

图6是本发明实施例提供的又一种电路板传输线的检测方法流程图；

图7是本发明实施例提供的又一种电路板传输线的检测方法流程图；

图8是本发明实施例提供的又一种电路板传输线的检测方法流程图；

图9是本发明实施例提供的一种电路板传输线的检测装置的结构示意图；

图10是本发明实施例提供的一种电路板传输线的检测装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

图1是本发明实施例提供的一种电路板传输线的检测方法流程图。参见图1，本发明实施例提供的电路板传输线的检测方法，包括：

S101、将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号。

具体的，待测的电路板传输线可以是高频信号传输线中的一种，如高频FPC(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)传输线。测试探针是用于向待测电路板传输线输出射频信号的元件，射频信号通过测试探针输出至待测电路板传输线，根据电路板传输线反射的信号，可以对待测电路板传输线的性能，如散射参数进行分析，进而判断待测电路板传输线是否满足使用需求。

S102、根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度。

具体的，当待测电路板传输线的长度小于射频信号的波长时，测试探针还用于与待测电路板传输线共同接收射频信号，防止因高频信号传输线较短，导致射频传输路径小于射频信号的波长而不能得出准确的测试结果。因此，需要根据射频信号的波长对测试探针的长度进行调节。根据射频信号的频率可以确定射频信号的波长，再根据待测电路板传输线的长度，可以确定测试探针的长度。这样设置可以保证测试探针和待测电路板传输线能够接收到完整的射频信号，从而提高测试结果的准确性。

S103、接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号。

具体的，根据发出的射频信号，在待测电路板传输线和测试探针中会发生射频信号的反射，生成反射信号。反射信号会经过待测电路板传输线和测试探针返回输出端，可以通过如网络分析仪等设备接收反射信号，进而对待测电路板传输线的性能进行判断。

S104、根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

具体的，可以通过网络分析仪，根据反射信号生成测试结果图。根据测试结果对反射信号的共振频率等参数进行分析，从而判断待测电路板传输线的合格状态。

示例性的，对待测电路板传输线进行测试时，将测试探针与待测电路板传输线连接，并向测试探针传输射频信号。根据射频信号的频率确定射频信号的波长，再根据待测电路板传输线的长度，确定测试探针的长度。发出的射频信号经过待测电路板传输线和调节长度后的测试探针的反射后生成反射信号。此时通过如网络分析仪等设备接收待测电路板传输线和调节长度后的测试探针的反射信号，并对反射信号的共振频率等参数进行分析，从而判断待测电路板传输线的合格状态。

本发明实施例提供的电路板传输线的检测方法根据射频信号的频率和待测电路板传输线的长度对测试探针的长度进行调节，进而根据反射信号确定待测电路板传输线的合格状态。对测试探针的长度进行调节，使得待测的高频信号传输线较短的情况也可以保证测试探针和待测电路板传输线能够接收到完整的射频信号，从而实现了提高测试结果的准确性，简化测试过程，降低测试成本。

可选的，图2是本发明实施例提供的另一种电路板传输线的检测方法流程图。在上述实施例的基础上，参见图2，本发明实施例提供的电路板传输线的检测方法，包括：

S101、将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号。

S201、根据所述射频信号的频率，确定所述射频信号的波长。

具体的，射频信号的波长受到射频信号的频率及射频信号传播的介质的影响。因此在通过射频信号对待测电路板传输线进行测试时，可以根据射频信号的频率和介质参数，对射频信号的波长进行计算。射频信号的波长可以用于确定测试探针的长度，进而提高测试结果的准确性。

S202、根据所述射频信号的波长和所述待测电路板传输线的长度，确定所述测试探针的长度。

具体的，在测试过程中，射频信号的传输路径需要大于或等于射频信号的波长，以保证测试结果的准确性。测试过程中待测电路板传输线的长度和测试探针的长度之和即为射频信号的传输路径，因此待测电路板传输线的长度和测试探针的长度之和需要大于或等于射频信号的波长。测试探针的长度即为射频信号的波长与待测电路板传输线的长度的差值。

S203、根据所述测试探针的长度，调节末端夹具的下压强度。

具体的，测试探针通过测试治具的末端夹具固定在待测电路板传输线上，测试探针具备调节长度的功能，如可以通过伸缩调节长度，或由多段可拆卸的较短的探针组成较长的探针等。测试治具的末端夹具可以通过上位机等设备进行控制。根据计算得到的测试探针的长度，可以调节末端夹具的下压强度，使得测试探针的长度相应的改变，以满足测试需求。

S103、接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号。

S104、根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

可选的，在上述实施例的基础上，继续参见图2，射频信号的波长通过如下公式计算：

c＝3×10⁸(m/s) (2)

其中，c为射频信号在真空中的传输速度，v为射频信号在介质中的传输速度，ε为介质参数，f为射频信号的频率，λ为射频信号的波长。

具体的，根据介质参数的不同，射频信号的波长也不同。根据公式(1)和公式(2)，可以计算出射频信号在介质中的传输速度，再根据公式(3)，可以计算出当前频率的射频信号在介质中的波长，这样设置可以根据射频信号的波长确定测试探针的长度，进而提高测试结果的准确性。

可选的，图3是本发明实施例提供的又一种电路板传输线的检测方法流程图。在上述实施例的基础上，参见图3，本发明实施例提供的电路板传输线的检测方法，包括：

S301、将所述测试探针的第一端固定于测试治具的末端夹具上。

具体的，测试探针包括用于接收射频信号的第一端和用于向待测电路板传输线输出射频信号的第二端，通过测试治具的末端夹具固定测试探针的第一端可以便于调节测试治具的末端夹具的下压强度，进而调节测试探针的长度，方便测试。

S302、将所述测试探针的第二端与所述待测电路板传输线连接。

具体的，测试探针的第二端与待测电路板传输线的天线馈入点连接以输出射频信号，测试探针的第二端与天线馈入点接触时，根据测试治具的末端夹具的向下的压力，天线馈入点产生的反作用力可以调节测试探针的长度。

S303、通过射频测试线将所述测试探针的测试接头与网络分析仪连接。

具体的，测试探针的第一端还与测试探针的测试接头连接，测试接头用于通过射频测试线连接网络分析仪。网络分析仪可以发射用于测试的射频信号或接收反馈信号，并对反馈信号进行分析。这样设置可以进一步提高测试效率。

S304、通过所述网络分析仪，向所述测试探针传输射频信号。

具体的，网络分析仪可以根据待测电路板传输线的测试频段，向测试探针传输射频信号，并根据测试探针和待测电路板传输线反馈的反射信号确认待测电路板传输线的性能是否合格，从而完成测试。

S102、根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度。

S103、接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号。

S104、根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

可选的，图4是本发明实施例提供的又一种电路板传输线的检测方法流程图。在上述实施例的基础上，参见图4，本发明实施例提供的电路板传输线的检测方法，包括：

S101、将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号。

S401、获取所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度。

具体的，根据待测电路板传输线的测试频段不同，网络分析仪输出的射频信号的频率也会不同，因此需要确认射频信号的频率。测试探针的长度与待测电路板传输线的长度的和需要大于或等于射频信号的波长。因此调节测试探针的长度前需要确认待测电路板传输线的长度。这样设置可以进一步提高测试的准确性。

S102、根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度。

S103、接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号。

S104、根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

可选的，图5是本发明实施例提供的又一种电路板传输线的检测方法流程图。在上述实施例的基础上，参见图5，本发明实施例提供的电路板传输线的检测方法，包括：

S301、将所述测试探针的第一端固定于测试治具的末端夹具上。

S302、将所述测试探针的第二端与所述待测电路板传输线连接。

S303、通过射频测试线将所述测试探针的测试接头与网络分析仪连接。

S304、通过所述网络分析仪，向所述测试探针传输射频信号。

S102、根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度。

S501、通过所述网络分析仪，接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号。

具体的，网络分析仪发出的射频信号经过待测电路板传输线和调节长度后的测试探针的反射后生成反射信号。通过网络分析仪，可以接收经过测试接头和射频测试线返回的反射信号，进而可以对反射信号的共振频率等参数进行分析，从而判断待测电路板传输线的合格状态。

S104、根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

可选的，图6是本发明实施例提供的又一种电路板传输线的检测方法流程图。在上述实施例的基础上，参见图6，本发明实施例提供的电路板传输线的检测方法，包括：

S101、将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号。

S102、根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度。

S103、接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号。

S601、获取所述待测电路板传输线的反射信号的共振频率。

具体的，网络分析仪可以获取反射信号，并获取反射信号的共振频率等参数。根据网络分析仪发射的射频信号的频率与网络分析仪获取的反射信号的共振频率，可以判断待测电路板传输线的合格状态。

S602、根据所述反射信号的共振频率，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

具体的，网络分析仪是根据待测电路板传输线的测试频段发出的射频信号。因此在理想状态下，测试频段内的射频信号的频率与反射信号的共振频率应一致。在实际测试中，根据反射信号的共振频率与射频信号的频率的偏差情况，可以确定待测电路板传输线的合格状态。

可选的，图7是本发明实施例提供的又一种电路板传输线的检测方法流程图。在上述实施例的基础上，参见图7，本发明实施例提供的电路板传输线的检测方法，包括：

S101、将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号。

S102、根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度。

S103、接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号。

S601、获取所述待测电路板传输线的反射信号的共振频率。

S701、将所述反射信号的共振频率与所述射频信号的频率进行比较，得到第一比较结果。

具体的，将反射信号的共振频率与射频信号的频率进行比较，根据比较结果可以确认反射信号的共振频率与射频信号的频率的偏差情况，进而判断待测电路板传输线是否合格。

S702、根据所述第一比较结果，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

具体的，当反射信号的共振频率与射频信号的频率之间的偏差较大时，说明待测电路板传输线在测试频段内的射频性能难以满足实际需求，可以认为待测电路板传输线不合格。当反射信号的共振频率与射频信号的频率之间的偏差较小时，说明待测电路板传输线在测试频段内的射频性能可以满足实际需求，可以认为待测电路板传输线合格。这样设置可以进一步提高提高测试结果的准确性。

可选的，图8是本发明实施例提供的又一种电路板传输线的检测方法流程图。在上述实施例的基础上，参见图8，本发明实施例提供的电路板传输线的检测方法，包括：

S101、将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号。

S102、根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度。

S103、接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号。

S601、获取所述待测电路板传输线的反射信号的共振频率。

S701、将所述反射信号的共振频率与所述射频信号的频率进行比较，得到第一比较结果。

S801、当所述反射信号的共振频率与所述射频信号的频率的差值小于或等于第一预设阈值时，所述待测电路板传输线为合格。

具体的，第一预设阈值是用于反映反射信号的共振频率与射频信号的频率之间的偏差量的数值。当反射信号的共振频率与射频信号的频率的差值小于或等于第一预设阈值时，则反射信号的共振频率与射频信号的频率接近，二者之间的偏差量较小。说明待测电路板传输线在测试频段内的射频性能较好，可以认为此时待测电路板传输线为合格。

S802、当所述反射信号的共振频率与所述射频信号的频率的差值大于所述第一预设阈值时，所述待测电路板传输线为不合格。

具体的，当反射信号的共振频率与射频信号的频率的差值大于第一预设阈值时，则反射信号的共振频率与射频信号的频率相差很多，二者之间的偏差量较大。说明待测电路板传输线在测试频段内的射频性能较差，可以认为此时待测电路板传输线为不合格。

示例性的，对待测电路板传输线进行测试时，首先将测试探针的第一端固定于测试治具的末端夹具上，将测试探针的第二端与待测电路板传输线的天线馈入点连接。通过射频测试线将测试探针的测试接头与网络分析仪连接，通过网络分析仪，向测试探针传输射频信号。通过上位机等设备获取射频信号的频率和待测电路板传输线的长度，并根据射频信号的波长与待测电路板传输线的长度的差值，计算测试探针的长度。根据计算得到的测试探针的长度，调节末端夹具的下压强度，使得测试探针的长度相应的改变。

网络分析仪发出的射频信号经过待测电路板传输线和调节长度后的测试探针的反射后生成反射信号。网络分析仪接收该反射信号，并获取反射信号的共振频率等参数进行分析。将反射信号的共振频率与射频信号的频率进行差值运算，当反射信号的共振频率与射频信号的频率的差值小于或等于第一预设阈值时，则反射信号的共振频率与射频信号的频率接近，二者之间的偏差量较小。说明待测电路板传输线在测试频段内的射频性能较好，可以认为此时待测电路板传输线为合格。

当反射信号的共振频率与射频信号的频率的差值大于第一预设阈值时，则反射信号的共振频率与射频信号的频率相差很多，二者之间的偏差量较大。说明待测电路板传输线在测试频段内的射频性能较差，可以认为此时待测电路板传输线为不合格。本实施例的电路板传输线的检测方法实现了提高测试结果的准确性，简化测试过程，降低测试成本。

可选的，图9是本发明实施例提供的一种电路板传输线的检测装置的结构示意图。在上述实施例的基础上，参见图9，本发明实施例提供的电路板传输线的检测装置10，包括：

射频测试线11，用于将测试探针与待测电路板传输线连接，并向测试探针传输射频信号；

计算模块12，用于根据射频信号的频率和待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度；

网络分析仪13，用于接收待测电路板传输线和调节长度后的测试探针的反射信号；

网络分析仪13还用于根据反射信号，确定待测电路板传输线的合格状态。

本发明实施例提供的电路板传输线的检测装置，通过将测试探针与待测电路板传输线连接，并向测试探针传输射频信号，根据射频信号的频率和待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度。接收待测电路板传输线和调节长度后的测试探针的反射信号，根据反射信号，确定待测电路板传输线的合格状态。根据射频信号的频率和待测电路板传输线的长度对测试探针的长度进行调节，进而根据反射信号确定待测电路板传输线的合格状态，实现了提高测试结果的准确性，简化测试过程，降低测试成本。

一种可选的实施方式，图10是本发明实施例提供的一种电路板传输线的检测装置的结构示意图。在上述实施例的基础上，参见图10，测试探针16的第一端固定于测试治具的末端夹具14上，测试探针16的第二端与待测电路板传输线连接。测试探针16的测试接头15通过射频测试线11与网络分析仪13连接，测试治具的末端夹具14与计算模块12连接。本实施例提供的电路板传输线的检测装置具有上述任意实施例的电路板传输线的检测方法的有益效果，在此不再赘述。

另一种可选的实施方式，待测电路板传输线还可以包括天线馈入点和高频阻抗匹配元件，天线馈入点设置于待测电路板传输线的一侧，用于连接射频天线的元器件，在测试过程中可以用于与测试探针连接以接收射频信号。高频阻抗匹配元件与天线馈入点设置于同一侧，高频阻抗匹配元件用于调整射频产品整体的射频性能，在测试过程中可以用于匹配电路板传输线的检测装置的阻抗，以提高测试效果。

应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。

上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电路板传输线的检测方法，其特征在于，包括：

将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号；

根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度；

接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号；

根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度，包括：

根据所述射频信号的频率，确定所述射频信号的波长；

根据所述射频信号的波长和所述待测电路板传输线的长度，确定所述测试探针的长度；

根据所述测试探针的长度，调节末端夹具的下压强度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述射频信号的波长通过如下公式计算：

c＝3×10⁸(m/s) (2)

其中，c为射频信号在真空中的传输速度，v为射频信号在介质中的传输速度，ε为介质参数，f为射频信号的频率，λ为射频信号的波长。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号，包括：

将所述测试探针的第一端固定于测试治具的末端夹具上；

将所述测试探针的第二端与所述待测电路板传输线连接；

通过射频测试线将所述测试探针的测试接头与网络分析仪连接；

通过所述网络分析仪，向所述测试探针传输射频信号。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度之前，还包括：

获取所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号，包括：

通过所述网络分析仪，接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态，包括：

获取所述待测电路板传输线的反射信号的共振频率；

根据所述反射信号的共振频率，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据所述反射信号的共振频率，确定所述待测电路板传输线的合格状态，包括：

将所述反射信号的共振频率与所述射频信号的频率进行比较，得到第一比较结果；

根据所述第一比较结果，确定所述待测电路板传输线的合格状态。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一比较结果，确定所述待测电路板传输线的合格状态，包括：

当所述反射信号的共振频率与所述射频信号的频率的差值小于或等于第一预设阈值时，所述待测电路板传输线为合格；

当所述反射信号的共振频率与所述射频信号的频率的差值大于所述第一预设阈值时，所述待测电路板传输线为不合格。

10.一种电路板传输线的检测装置，其特征在于，包括：

射频测试线，用于将测试探针与待测电路板传输线连接，并向所述测试探针传输射频信号；

计算模块，用于根据所述射频信号的频率和所述待测电路板传输线的长度，调节测试探针的长度；

网络分析仪，用于接收所述待测电路板传输线和调节长度后的所述测试探针的反射信号；

所述网络分析仪还用于根据所述反射信号，确定所述待测电路板传输线的合格状态。