CN114006662B - 一种天线检测装置、系统及天线检测方法 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种天线检测装置、系统及天线检测方法。其中，该天线检测装置可以包括单板、一个或多个检测单元。其中，检测单元可以包括SMA接头、n根连接线，以及q个检测天线。其中，每一根连接线的一端与SMA接头相连，另一端与一个检测天线相连。可理解，SMA接头可以连接多根连接线。也就是说，SMA接头可以通过多根连接线，与多个检测天线相连。可理解，n为大于1的整数。q为不大于n的正整数。检测人员可以将待检测天线移向该天线检测装置，并控制天线检测装置中的检测天线与待检测天线之间的距离在第一范围内。然后，检测人员可以根据矢量网络分析仪中的S11曲线来判断待检测天线的质量是否合格。

Description

一种天线检测装置、系统及天线检测方法

技术领域

本申请涉及天线检测领域，尤其涉及一种天线检测装置、天线检测系统及天线检测方法。

背景技术

对于手机、平板电脑等终端设备而言，天线的质量直接影响着通信质量。因此，这些终端设备中的天线的检测过程是生产中极其重要的一环。检测这些天线，并筛除质量不合格的天线，可以提高这些终端设备的通信质量，也提升了用户体验。

检测人员可以利用探针触碰天线的PAD点，并通过观察分析该天线的S11曲线来判断该天线的质量是否合格。

然而，部分天线没有可供探针接触的PAD点，所以检测人员无法使用探针来检测该部分天线的质量，只能放弃检测。

因此，如何对没有PAD点的天线进行检测是目前亟待解决的问题。

发明内容

本申请提供了一种天线检测装置、系统及天线检测方法。其中，天线检测装置可以包括检测天线，该检测天线用于与待检测天线进行耦合，使得待检测天线上的阻抗信息得以传输至检测天线。天线检测装置还可以通过射频切换器来与矢量网络分析仪相连，这样就组成了天线检测系统。可理解，矢量网络分析仪中的S11曲线可以表征待检测天线的回波损耗信息和阻抗特性。因此，可以通过分析该S11曲线来判断待检测天线的质量。

第一方面，本申请提供了一种天线检测装置。该装置可以包括：单板、一个或多个检测单元；其中，至少一个所述检测单元包括射频同轴连接器、n根连接线，以及q个检测天线；所述射频同轴连接器焊接在所述单板上；所述n根连接线和所述q个检测天线设置于所述单板上；每一个所述检测天线与一根所述连接线的一端相连，所述连接线的另一端与所述射频同轴连接器相连；所述n为正整数；所述q为不大于n的正整数；所述射频同轴连接器用于传输射频信号；所述连接线用于信号传输；所述检测天线用于与待检测天线进行耦合，并实现对所述待检测天线的阻抗信息的检测。

在本申请提供的方案中，天线检测装置可以包括q个检测天线。该q个检测天线用于与待检测天线进行耦合，并将所述待检测天线上的射频信号传输至所述射频同轴连接器，便于对待检测天线上的射频信号进行分析。也就是说，待检测天线不用包括PAD点就能被检测。可理解，可以利用天线检测装置对待检测天线进行全面检测，无需放弃检测注塑后无PAD点的寄生枝节。另外，q可以为大于1的整数，即天线检测装置可以用于同时检测多个天线，可以节省检测时间。并且，天线检测装置中没有使用探针，降低了成本。

结合第一方面，在第一方面的一种可能的实现方式中，在所述q大于1的情况下，所述q个检测天线的位置与所述待检测天线的位置相匹配。

在本申请提供的方案中，在天线检测装置所包括的检测天线的数量大于1的情况下，这些检测天线在单板上的分布位置，与待检测天线的位置相匹配。可理解，待检测天线的数量可以为正整数。若待检测天线的数量也大于1，检测人员利用天线检测装置来对待检测天线进行检测时，将天线检测装置移向待检测天线，使得天线检测装置中的多个检测天线，分别与多个待检测天线进行空间耦合。在这种情况下，无需移动天线检测装置即可完成对多个待检测天线的检测。

结合第一方面，在第一方面的一种可能的实现方式中，所述至少一个所述检测单元还包括p个探针；所述p为不大于n-q的整数。

在本申请提供的方案中，射频同轴连接器可以通过连接线来与检测天线相连，同时，射频同轴连接器还可以通过连接线来与探针相连。也就是说，一个射频同轴连接器可以通过多根连接线分别连接检测天线和探针。通过这种方式，不仅可以利用检测天线来检测无PAD点的寄生枝节，还可以利用探针来检测有PAD点的天线，在保证天线能得到全面检测的情况下，可以保证检测的准确性。

结合第一方面，在第一方面的一种可能的实现方式中，所述射频同轴连接器为SMA接头。

结合第一方面，在第一方面的一种可能的实现方式中，所述装置还可以包括：固定夹具；所述固定夹具用于固定所述单板。

在本申请提供的方案中，可理解，天线检测装置还可以包括固定夹具。该固定夹具可以固定单板。另外，在检测过程中，该固定夹具可以固定检测天线与待检测天线的位置，便于检测天线与待检测天线进行耦合，并实现对该待检测天线的检测。

结合第一方面，在第一方面的一种可能的实现方式中，所述连接线为微带线。

第二方面，本申请提供了一种天线检测系统。该系统可以包括矢量网络分析仪、射频切换器，以及如第一方面及其可能的实现方式中的任一种天线检测装置；所述矢量网络分析仪与所述射频切换器相连；所述射频切换器与所述天线检测装置相连；所述矢量网络分析仪用于检测所述待检测天线的回波损耗；所述射频切换器用于切换选择与所述矢量网络分析仪连通的所述天线检测装置中的检测单元。

在本申请提供的方案中，检测人员可以利用天线检测系统来对待检测天线进行检测。该天线检测系统可以包括如第一方面及其可能的实现方式中的任一种天线检测装置。该天线检测装置可以通过射频切换器与矢量网络分析仪相连。检测人员可以通过矢量网络分析仪来对待检测天线的回波损耗进行分析，从而判断该待检测天线的质量是否合格。可理解，可以利用天线检测系统对待检测天线进行全面检测，无需放弃检测注塑后的寄生枝节。另外，n可以为大于1的整数，即天线检测系统可以用于同时检测多个天线，可以节省检测时间。并且，天线检测系统中没有使用探针，降低了成本。

结合第二方面，在第二方面的一种可能的实现方式中，所述矢量网络分析仪用于检测天线的回波损耗时，具体用于：在所述天线检测系统用于同时检测m个待检测天线的质量的情况下，所述矢量网络分析仪用于检测所述m个待检测天线组成的系统的回波损耗；m为不大于n的正整数。

在本申请提供的方案中，天线检测系统可以用于同时检测多个天线，节省了检测时间。

结合第二方面，在第二方面的一种可能的实现方式中，所述m个待检测天线为不同类型的天线。

在本申请提供的方案中，天线检测系统同时检测的m个待检测天线可以为不同类型的天线，以免检测时互相干扰，可以提高检测的准确性。

结合第二方面，在第二方面的一种可能的实现方式中，所述矢量网络分析仪用于检测天线的回波损耗时，具体用于：在所述天线检测装置包括多个检测单元的情况下，所述矢量网络分析仪用于依次检测与所述多个检测单元中的检测天线耦合的待检测天线的回波损耗。

在本申请提供的方案中，天线检测系统中的天线检测装置可以包括多个检测单元。检测人员在利用天线检测系统对多个待检测天线进行检测时，可以通过射频切换器来控制与不同检测单元的连通状态，从而依次完成对于不同检测单元中的检测天线进行耦合的待检测天线的检测。

第三方面，本申请提供了一种天线检测方法。该方法可以应用于上述第二方面以及第二方面的任一种可能的实现方式中的任一种天线检测系统。该方法可以包括：将待检测天线移向所述天线检测系统中的天线检测装置；将所述天线检测装置中的检测天线与所述待检测天线的距离控制在第一范围内；切换射频切换器以选择导通与所述待检测天线相耦合的检测天线所在的射频通路；通过矢量网络分析仪发送检测信号至所述待检测天线，以完成对所述待检测天线的阻抗信息的检测。

在本申请所提供的方案中，检测人员可以通过控制天线检测装置中的检测天线与待检测天线的距离，使得该检测天线与待检测天线得以耦合。检测人员还可以通过切换天线检测系统中的射频切换器来选择导通的射频通路，即选择并导通与待检测天线相耦合的检测天线所在的射频通路。检测人员还可以通过矢量网络分析仪发送检测信号至检测天线。由于检测天线与待检测天线相耦合，所以检测天线上的检测信号可以传输至待检测天线上，待检测天线可以将阻抗信息传输至矢量网络分析仪。也就是说，检测人员可以通过矢量网络分析仪发送检测信号以完成对待检测天线的阻抗信息的检测。根据该方法，无论待检测天线有没有PAD点，都可以被检测，使得待检测天线可以被全面检测。另外，通过该方法，还可以同时对多个待检测天线进行检测，节省了时间。并且，该方法无需使用探针，节省了成本。

结合第三方面，在第三方面的一种可能的实现方式中，所述方法还包括：通过所述矢量网络分析仪获取第一参数；所述第一参数用于表征所述待检测天线的回波损耗；根据所述第一参数判断所述待检测天线的质量是否合格；其中，所述矢量网络分析仪与所述射频切换器相连；所述射频切换器与所述天线检测装置相连；所述矢量网络分析仪用于检测所述待检测天线的回波损耗；所述射频切换器用于控制与所述天线检测装置中的检测单元的连通状态。

在本申请提供的方案中，检测人员可以利用天线检测系统来对待检测天线进行检测。具体地，可以通过矢量网络分析仪来获取用于保证待检测天线的回波损耗的第一参数，并根据该第一参数来判断待检测天线的质量是否合格。可理解，检测人员可以利用天线检测系统对待检测天线进行全面检测，无需放弃检测注塑后的寄生枝节。另外，n可以为大于1的整数，即天线检测系统可以用于同时检测多个天线，可以节省检测时间。并且，天线检测系统中没有使用探针，降低了成本。

在本申请的一些实施例中，第一参数可以是待检测天线的S11参数。关于S11的介绍请参考下文。

结合第三方面，在第三方面的一种可能的实现方式中，所述根据所述第一参数判断所述待检测天线的质量是否合格之前，所述方法还包括：通过所述矢量网络分析仪获取第二参数；所述第二参数用于表征良品天线的回波损耗；所述良品天线为与所述待检测天线类型相同的质量合格的天线；所述根据所述第一参数判断所述待检测天线的质量是否合格，具体包括：比较所述第一参数与所述第二参数，确定频率偏移量；若所述频率偏移量不超出第二范围，确定所述待检测天线质量合格；若所述频率偏移量超出所述第二范围，确定所述待检测天线质量不合格。

在本申请提供的方案中，在对待检测天线进行检测前，检测人员可以利用矢量网络分析仪获取第二参数。即用于表征与待检测天线类型相同的良品天线的回波损耗。可理解，若天线质量不合格(如长度不合格等)，在自由空间的阻抗以及电流路径长度会发生变化，导致谐振频率发生频率偏移、谐振深度改变。因此，检测人员可以通过频率偏移量来判断天线质量。

在本申请的一些实施例中，第二参数可以是与待检测天线类型相同的良品天线的S11参数。

可理解，本申请中提及的频率偏移量与频偏是同一概念。

结合第三方面，在第三方面的一种可能的实现方式中，在所述q大于1的情况下，所述q个检测天线的位置与所述待检测天线的位置相匹配。

在本申请提供的方案中，在天线检测装置所包括的检测天线的数量大于1的情况下，这些检测天线在单板上的分布位置，与待检测天线的位置相匹配。可理解，待检测天线的数量可以为正整数。若待检测天线的数量也大于1，检测人员利用天线检测装置来对待检测天线进行检测时，将天线检测装置移向待检测天线，使得天线检测装置中的多个检测天线，分别与多个待检测天线进行空间耦合。在这种情况下，无需移动天线检测装置即可完成对多个待检测天线的检测。

结合第三方面，在第三方面的一种可能的实现方式中，所述检测天线与所述待检测天线的耦合面积大于第一阈值。

在本申请提供的方案中，检测天线与待检测天线的耦合面积大于第一阈值，这样待检测天线上的射频信号才能尽可能传输到检测天线上，提高了天线检测的准确性。

结合第三方面，在第三方面的一种可能的实现方式中，所述至少一个所述检测单元还包括p个探针；所述p为不大于n-q的整数。

在本申请提供的方案中，射频同轴连接器可以通过连接线来与检测天线相连，同时，射频同轴连接器还可以通过连接线来与探针相连。也就是说，一个射频同轴连接器可以通过多根连接线分别连接检测天线和探针。通过这种方式，不仅可以利用检测天线来检测无PAD点的寄生枝节，还可以利用探针来检测有PAD点的天线，在保证天线能得到全面检测的情况下，可以保证检测的准确性。

附图说明

图1A为本申请实施例提供的一种天线结构示意图；

图1B为本申请实施例提供的一种注塑后的天线结构的示意图；

图2为本申请实施例提供的一种天线检测装置200的示意图；

图3为本申请实施例提供的又一种天线检测装置200的示意图；

图4为本申请实施例提供的又一种天线检测装置200的示意图；

图5为本申请实施例提供的又一种天线检测装置200的示意图；

图6为本申请实施例提供的一种天线检测系统300的示意图；

图7为本申请实施例提供的一种天线检测方法的流程图；

图8为本申请实施例提供的一种待检测天线的示意图；

图9为本申请实施例提供的一种天线检测方法的原理图；

图10为本申请实施例提供的又一种天线检测方法的原理图；

图11为本申请实施例提供的又一种天线检测方法的原理图；

图12为本申请实施例提供的一种S11曲线图；

图13为本申请实施例提供的又一种天线检测方法的原理图；

图14为本申请实施例提供的又一种S11曲线图；

图15A为本申请实施例提供的又一种待检测天线的示意图；

图15B为本申请实施例提供的又一种待检测天线的示意图；

图16为本申请实施例提供的又一种S11曲线图；

图17A为本申请实施例提供的又一种待检测天线的示意图；

图17B为本申请实施例提供的又一种待检测天线的示意图；

图18为本申请实施例提供的又一种天线检测方法的原理图；

图19为本申请实施例提供的又一种天线检测方法的原理图；

图20为本申请实施例提供的又一种S11曲线图；

图21A为本申请实施例提供的又一种待检测天线的示意图；

图21B为本申请实施例提供的又一种待检测天线的示意图；

图22为本申请实施例提供的又一种S11曲线图；

图23A为本申请实施例提供的又一种待检测天线的示意图；

图23B为本申请实施例提供的又一种待检测天线的示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。其中，在本申请实施例的描述中，除非另有说明，“/”表示或的意思，例如，A/B可以表示A或B；文本中的“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况，另外，在本申请实施例的描述中，“多个”是指两个或多于两个。

应当理解，本申请的说明书和权利要求书及附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

在本申请中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本申请所描述的实施例可以与其它实施例相结合。

对于手机、平板电脑等终端设备而言，天线的质量直接影响着通信质量。因此，这些终端设备中的天线的检测过程是生产中极其重要的一环。检测这些天线，并筛除质量不合格的天线，可以提高这些终端设备的通信质量，也提升了用户体验。

检测人员可以利用探针触碰天线的PAD点，并通过观察分析该天线的S11曲线来判断该天线的质量是否合格。

可理解，探针可以为金属探针。在本申请的一些实施例中，探针可以包括镀膜。

可理解，天线上的PAD点用于与探针进行接触，从而进行电流导通和信号传输。

可理解，S11曲线可以用于表征天线的回波损耗。具体地，检测人员可以通过对天线的S11曲线进行分析来判断所检测天线的回波损耗和阻抗特性，从而判断天线的质量是否合格(即判断天线是否是良品)，并拦截不合格的天线。

然而，部分天线没有可供探针接触的PAD点，所以检测人员无法使用探针来检测该部分天线的质量，只能放弃检测。

示例性的，如图1A所示，天线101为终端设备电池仓外侧的一个天线。天线101包括天线结构1011和天线结构1012。其中，天线结构1011上存在PAD点10111。天线结构1012为天线结构1011的寄生枝节，没有PAD点。天线结构1011通过电磁耦合将能量传递给天线结构1012。可理解，PAD点10111和天线101通过单板相连(例如，通过单板的总线相连)。如图1B所示，天线101注塑后，区域1013被塑料涂层覆盖。天线结构1011的PAD点10111外漏。检测人员可以利用探针接触PAD点10111，从而完成对天线结构1011的检测。具体地，检测人员可以用探针接触PAD点10111，获取天线结构1011的S11曲线，然后对该S11曲线进行分析，从而判断天线结构1011的质量是否合格。然而，天线101注塑后，天线结构1012被包裹，没有PAD点外漏。也就是说，天线结构1012上并没有可供探针接触的部位。因此，检测人员无法利用探针来检测天线结构1012，只能放弃检测天线结构1012。

可理解，寄生枝节也被称为寄生单元，或直接称为寄生，这一部分天线的作用主要是完善原天线的部分频段的性能。需要说明的是，寄生枝节一般是通过电磁耦合馈电。

本申请提供了一种天线检测装置、系统及天线检测方法。其中，该天线检测装置可以包括单板、一个或多个检测单元。其中，检测单元可以包括SMA接头、n根连接线，以及q个检测天线。其中，每一根连接线的一端与SMA接头相连，另一端与一个检测天线相连。可理解，SMA接头可以连接多根连接线。也就是说，SMA接头可以通过多根连接线，与多个检测天线相连。可理解，n为大于1的整数。q为不大于n的正整数。可理解，一个或多个检测单元可以置于单板上。另外，x个检测单元还可以通过x根连接线与射频切换器相连，射频切换器再与矢量网络分析仪相连。可理解，x为正整数。检测人员可以将该天线检测装置移向待检测天线，并控制天线检测装置中的检测天线与待检测天线之间的距离在第一范围内。然后，检测人员可以根据矢量网络分析仪中的S11曲线来判断待检测天线的质量是否合格。

可理解，对待检测天线的检测无需使用探针，节省了金钱成本。并且，对寄生枝节的检测无需放弃，增加了对质量不合格天线的拦截率。另外，多个天线可以同时进行检测，节省了时间。

请参阅图2，图2为本申请实施例提供的一种天线检测装置200的示意图。天线检测装置可以包括单板201、一个或多个检测单元202。

单板201可以包括铺地区域2011。可理解，将原始单板上限制的空间作为基准面，然后用金属(例如，铜)填充的过程称为铺地。金属填充的区域也就是铺地区域2011。可理解，铺地的意义在于：可以控制阻抗，保证能量更好地传输。需要说明的是，铺地区域2011的填充物还可以为其他材料，本申请对此不作限制。

检测单元202可以包括SMA接头2021、n根连接线2022，以及q个天线2023。其中，每一个天线2023可以与一根连接线2022的一端相连，这一根连接线2022的另一端可以连接SMA接头2021。可理解，SMA接头2021可以连接多根连接线2022。也就是说，SMA接头2021可以通过多根连接线2022，与多个天线2023相连。可理解，n为大于1的整数。q为不大于n的正整数。

可理解，一个或多个检测单元202可以置于单板201上。在本申请的一些实施例中，SMA接头2021和n根连接线可以置于单板201的铺地区域2011。可理解，SMA接头2021可以焊接在单板201上。n根连接线2022可以附在单板201的表面。在本申请的一些实施例中，n根连接线2022的一面裸露在空气中，而其他部分被铺地区域2011的填充物包裹。

另外，q个天线2023可以置于单板201上。在本申请的一些实施例中，q个天线2023可以置于单板201上的未铺地区域，即净空区域。也就是说，q个天线2023可以仍位于单板201上，但不在铺地区域2011内。即q个天线2023可以位于单板201的净空区域内。

需要说明的是，本申请提供的天线检测装置200中的至少一个检测单元包括SMA接头2021、n根连接线2022，以及q个天线2023。在本申请的一些实施例中，天线检测装置200中的检测单元不仅可以包括q个天线2023，同时，还可以包括p个探针。p为不大于n-q的整数。

可理解，单板201可以为电路板。该电路板包括但不限于陶瓷电路板，氧化铝陶瓷电路板，氮化铝陶瓷电路板，线路板，印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)，铝基板，高频板，厚铜板，阻抗板，超薄线路板，超薄电路板，印刷(铜刻蚀技术)电路板等。可理解，单板201还可以包括其他元器件以及其他连接线，本申请对此不作限制。

可理解，SMA接头是一种传输线缆接头。其全称为SubMiniature version A，是一种射频同轴连接器。SMA接头可以应用于微波设备和数字通信设备的射频回路中连接射频同轴电缆或微带线。需要说明的是，检测单元202中的SMA接头2021可以由其他具有相同作用的射频同轴连接器代替，本申请对此不作限制。

可理解，连接线用于信号传输和电流导通。在本申请的一些实施例中，连接线2022可以为微带线。

可理解，天线2023可以辐射能量。在本申请中，天线2023可以将信号和能量经空间耦合传递给待检测天线。在本申请的一些实施例中，天线2023可以为微带天线，且天线2023可以印刷到单板201上。需要说明的是，天线2023即为权利要求书中的检测天线。

在本申请的一些实施例中，如图3所示，检测单元202可以包括SMA接头2021、2根连接线2022和2个天线2023。

在本申请的一些实施例中，如图4所示，检测单元202可以包括SMA接头2021、3根连接线2022和3个天线2023。

在本申请的一些实施例中，天线检测装置200还可以包括固定夹具。固定夹具用于固定天线检测装置200中的单板201。在检测天线时，固定夹具还可以用于固定待检测天线。如图5所示，天线检测装置200可以包括单板201、一个或多个检测单元202和固定夹具203。

在检测天线的过程中，检测人员可以通过控制天线2023与待检测天线的距离，使得天线2023与待检测天线进行耦合，从而实现对该待检测天线的检测。在本申请的一些实施例中，天线2023与待检测天线之间的距离指的是垂直距离。

可理解，若天线2023与待检测天线之间的距离满足条件，天线2023与待检测天线可以进行空间耦合，从而可以实现对待检测天线的检测。在这种情况下，检测人员可以利用固定夹具来固定待检测天线，使得天线2023与待检测天线的距离控制在第一范围内。天线2023可以将能量辐射到待检测天线上，因而可以获取待检测天线的阻抗信息。检测人员可以对天线2023与待检测天线组成的系统的S11曲线进行分析，并判断待检测天线的质量是否合格。也就是说，分析的S11的曲线反映的是包括天线2023和待检测天线这两部分的整体的回波损耗和阻抗特性。

根据上述内容，SMA接头2021可以通过连接线2022与多个天线2023相连。也就意味着，检测人员可以同时检测多个天线，可以节省天线检测的时间，提高天线检测的效率。

可理解，天线2023与待检测天线进行空间耦合，具体指天线2023的开放端与待检测天线的开放端进行电场能量耦合。另外，需要注意的是，2个天线的耦合面积需要满足一定条件，才能更多的收集到待检测天线的阻抗信息，这2个天线才耦合的更好。例如，若2个天线的耦合面积大于预设阈值，这2个天线可以进行耦合。可理解，耦合面积可以理解为2个天线在平行平面上的投影的重叠部分的面积。

请参阅图6，图6为本申请实施例提供的一种天线检测系统300的示意图。天线检测系统300可以包括矢量网络分析仪301、射频切换器302和天线检测装置200。

矢量网络分析仪301与射频切换器302通过连接线303相连，射频切换器302通过x根连接线304分别与x个检测单元202相连。可理解，每一根连接线304的一端连接射频切换器302，另一端连接一个检测单元202中的SMA接头2021。可理解，x为正整数。

可理解，矢量网络分析仪301可以用于检测天线的回波损耗。检测人员可以通过分析天线的回波损耗，来判断哪些为质量不合格的天线，从而进一步筛除这些质量不合格的天线。

可理解，射频切换器302可以用于连通不同的检测单元202。即射频切换器302可以用于控制天线检测装置200中的一个或多个检测单元202的连通状态。也就是说，射频切换器302可以用于切换选择与矢量网络分析仪301连通的天线检测装置200中的检测单元202。

在本申请的一些实施例中，射频切换器302同时只能连通一个检测单元202。检测人员可以通过射频切换器302选择需要连通的检测单元202。

可理解，检测人员可以控制SMA接头2021所连接的q个天线2023与待检测的天线之间的距离，并通过控制射频切换器302切换不同的射频通路，从而对不同检测单元202中的天线2023所耦合的待检测天线进行检测。可理解，SMA接头2021可以连接多个天线2023，极大提高了可被检测的天线的数量，提高了不合格天线的拦截率。

需要说明的是，天线检测系统300可以用于对一个或多个天线进行检测，若天线质量不合格(如长度不合格等)，在自由空间的阻抗以及电流路径长度会发生变化，导致谐振频率发生频偏、谐振深度改变。可理解，S11曲线可以用于表征天线的回波损耗。检测人员可以通过对矢量网络分析仪301中的S11曲线进行分析来判断所检测天线的回波损耗和阻抗特性，从而判断天线的质量是否合格(即判断天线是否是良品)，并拦截不合格的天线。

下面结合图7介绍本申请实施例提供的一种天线检测方法。该方法可以应用于图2、图3、图4所示的天线检测装置和图5所示的天线检测系统。

S701：检测人员将待检测天线移向天线检测系统中的天线检测装置。

S702：检测人员将天线检测装置中的检测天线与待检测天线之间的距离控制在第一范围内。

在本申请的一些实施例中，检测人员可以通过气缸和压块来控制检测天线与待检测天线之间的距离。具体地，检测人员可以将待检测天线放入检测装置内，气缸推动压块，使得检测天线与待检测天线之间的距离在第一范围内。可理解，此处提及的检测装置可以包括前述实施例中的天线检测装置200或者天线检测系统300。

可理解，检测人员可以将天线检测装置中的检测天线与待检测天线之间的距离控制在第一范围内，使得待检测天线上的射频信号可以传输至射频同轴连接器(例如，SMA接头)中。

可理解，天线检测装置可以为前述实施例中的天线检测装置200。天线检测装置中的检测天线用于与待检测天线进行空间耦合。可理解，天线检测装置中的检测天线可以为天线2023。

可理解，检测天线与待检测天线之间的距离可以为垂直距离。

可理解，第一范围可以根据实际需求进行设置，本申请对此不作限制。在本申请的一些实施例中，第一范围可以为[3,5]，单位为毫米(mm)。

S703：检测人员切换射频切换器以选择导通与待检测天线相耦合的检测天线所在的射频通路。

可理解，射频切换器可以用于切换选择与矢量网络分析仪连通的所述天线检测装置中的检测单元。而检测天线的位置与待检测天线的位置相匹配。检测人员可以通过调节射频切换器来导通与需要检测的待检测天线相耦合的检测天线所在的射频通路。

S704：检测人员通过矢量网络分析仪发送检测信号至待检测天线，以完成对待检测天线的阻抗信息的检测。

可理解，检测人员可以通过矢量网络分析仪发送检测信号。检测信号可以传输至检测天线。由于检测天线与待检测天线相耦合，检测天线可以将检测信号传输至待检测天线。而待检测天线可以将其阻抗信息传送回检测天线，检测天线再将该阻抗信息传送回矢量网络分析仪。检测人员可以通过适量网络来分析待检测天线的阻抗信息。

在本申请的一些实施例中，天线检测方法可用于检测终端设备中的边框天线。可理解，该终端设备可以包括但不限于手机、平板电脑、个人电脑等。下面以手机为例进行说明。

如图8所示，边框401为手机400的边框。边框401集成有天线。图8中的天线4011、天线4012和天线4013为边框401中集成的天线。可理解，图8所示的手机400和边框401仅为本申请提供的一个示例，不应理解为对本申请的限制。在本申请的其他实施例中，边框401还可以集成更多或更少的天线。另外，边框401集成的天线的类型可以相同，也可以不同。

为了得到质量良好的手机，检测人员会对其边框401进行检测。即检测边框401所集成的天线(天线4011、天线4012和天线4013)质量是否合格。

具体地，如图9所示，检测人员可以将天线检测装置200移向边框401，控制天线检测装置200中的天线2023与边框401中的待检测天线的距离在第一范围内。可理解，天线检测装置200可以包括2个检测单元202，这2个检测单元202中分别包括SMA接头2021、2根连接线和2个天线2023。需要说明的是，图9所示的边框401为注塑后的手机边框。为了更清楚的体现待检测天线的结构，本申请中将注塑部分省略了。后文中提及的待检测天线均为注塑后的天线，相应附图也省略了注塑部分。

可理解，如图10所示，检测人员可以控制天线检测装置200与边框401的垂直距离，从而使得天线检测装置200中的4个天线2023分别与边框401的4个待检测天线(天线4011、天线4012和天线4013)之间的垂直距离在第一范围内。

需要说明的是，为了更清晰的展现检测过程，图10中省略了天线检测装置200的未铺地区域。另外，边框401可以置于天线检测装置200的上方，本申请只是为了体现检测过程中天线检测装置200的结构，所以才用图10来进行说明。

还需要说明的是，如图11所示，天线检测装置200还可以通过连接线304与射频切换器302相连，射频切换器302可以通过连接线303与矢量网络分析仪301相连。即检测人员可以利用天线检测系统300来完成对待检测天线的检测。检测人员将天线检测装置200中的4个天线2023分别与边框401的4个待检测天线(天线4011、天线4012和天线4013)之间的垂直距离控制在第一范围内之后，可以在矢量网络分析仪301中观察待检测天线的S11曲线，从而判断待检测天线的质量是否合格。

需要说明的是，在进行检测之前，检测人员可以选择质量合格的边框401进行检测，将此时得到的S11曲线作为标准曲线。

可理解，检测人员可以通过控制射频切换器302来切换不同的射频通路。

在本申请的一些实施例中，检测人员可以切换至与天线4011和天线4012进行耦合的天线2023所在的射频通路。此时，矢量网络分析仪301中的S11曲线为天线4011和天线4012的S11曲线。该S11曲线可以表示天线4011和天线4012的回波损耗和阻抗特性。检测人员可以将该S11曲线与标准曲线进行比较，判断该S11曲线相较于标准曲线发生频偏的幅度是否超出第二范围。若超过，则表示天线4011和天线4012中存在质量不合格的天线。检测人员需要对天线4011和天线4012进行下一步检查。若未超过，则表示天线4011和天线4012质量合格。

可理解，检测人员可以根据实际需求来设置第二范围，本申请对此不作限制。

在本申请的一些实施例中，检测人员可以切换至与天线4013进行耦合的天线2023所在的射频通路。此时，矢量网络分析仪中的S11曲线为天线4013的S11曲线。该S11曲线可以表示天线4013的回波损耗和阻抗特性。检测人员可以将该S11曲线与标准曲线进行比较，判断该S11曲线相较于标准曲线发生频偏的幅度是否超出第二范围。若超过，则表示天线4013中存在质量不合格的天线。检测人员需要对天线4013进行下一步检查。若未超过，则表示天线4013质量合格。

可理解，检测人员可以利用天线检测系统300同时检测多个天线。例如，前述实施例中同时对天线4011和天线4012进行检测。当然，检测人员也可以利用天线检测系统300检测单个天线。本申请对天线检测系统300检测的天线数量不作限制。

需要说明的是，检测人员可以根据手机边框集成的天线的位置、形状和数量来设置天线检测系统300中的天线2023的位置、形状和数量(即n的大小)，以便能够满足天线检测的需求。

下面结合图12介绍根据待检测天线的S11曲线和标准曲线来判断该待检测天线是否质量合格的方法。

可理解，图12为本申请实施例提供的一种S11曲线图。如图12所示，横坐标表示的是频率，单位是吉赫兹(GHz)。纵坐标表示的是S11参数，单位为分贝(dB)。曲线1为标准曲线。也就是说，曲线1为检测人员对与待检测天线类型相同的良品天线(质量合格的天线)进行检测时，所获取的S11曲线。曲线2为待检测天线的S11曲线。

方法1：

检测人员可以选取曲线1的第2个波谷来和曲线2的第2个波谷进行比较。即选取图12中的A点和B点进行比较。具体地，A点的坐标为(2.65，-9)，B点的坐标为(2.75，-6)。A点与B点的纵坐标之差为-0.1。也就是说，B点相较于A点向右偏移了0.1GHz。

在本申请的一些实施例中，第二范围为[-0.05,0.05]。也就是说，若B点相较于A点向左或向右偏移的幅度不超过0.05GHz，则待检测天线质量合格。根据前文，图12中的B点相较于A点向右偏移了0.1GHz。因此，该待检测天线质量不合格。检测人员可以对其进行进一步检查，并找出其不合格的具体原因。

方法2：

检测人员可以选取比A点的纵坐标大k分贝的点，分别与比B点的纵坐标大k分贝的点进行比较。比较方式与方法1类似，在此不再赘述。需要说明的是，比A点的纵坐标大k分贝的点可能存在2个，比B点的纵坐标大k分贝的点也可能存在2个。在这种情况下，检测人员可以在比A点的纵坐标大k分贝的2个点中选取横坐标较小的点，与比B点的纵坐标大k分贝的2个点中的横坐标较小的点进行比较。类似的，检测人员也可以在比A点的纵坐标大k分贝的2个点中选取横坐标较大的点，与比B点的纵坐标大k分贝的2个点中的横坐标较大的点进行比较。

可理解，上述方法1和方法2不仅可以由检测人员进行操作，还可以由矢量网络分析仪执行。若由矢量网络分析仪执行上述方法1和方法2，检测人员可以预先设置需比较的范围。当然，检测人员还可以预先设置其他参数，本申请对此不作限制。

需要说明的是，上述方法1和方法2仅为本申请给出的2个示例，不应视为对本申请的限制。本申请还可以包括其他比较曲线1和曲线2频偏的方法。

如图13所示，在本申请的一些实施例中，检测人员可以对天线1的寄生枝节——天线2进行检测。可理解，天线2为手机边框的腰部侧边寄生枝节。检测人员可以将天线检测系统300中的天线检测装置200移向待检测天线(即天线2)，控制天线检测装置200中的天线2023与天线2的垂直距离在第一范围内。检测人员可以观察天线检测系统300中的矢量网络分析仪301中的S11曲线。矢量网络分析仪301中可以显示2条S11曲线——曲线3和曲线4。其中，曲线3为对天线O进行检测而得到的S11曲线。曲线4为天线2的S11曲线。可理解，天线2与天线O为相同类型的天线。天线O为质量合格的天线。即良品天线。也就是说，曲线3可以作为标准曲线。检测人员可以通过判断曲线4相较于曲线3发生频偏的幅度是否超过第二范围，来判断天线2的质量是否合格。具体方法可以参考前述实施例，在此不再赘述。

另外，需要注意的是，天线1和天线2为一个完整天线的不同部分。

示例性的，如图14所示，曲线3为对天线O进行检测而得到的S11曲线。曲线4为天线2的S11曲线。根据前述实施例中的方法，可以判断曲线4相较于曲线3的频偏幅度超过了第二范围。检测人员可以对天线2进行进一步检测，发现相较于质量合格的天线O(如图15A所示)，天线2断裂3mm(如图15B所示)。

示例性的，如图16所示，曲线3为对天线O进行检测而得到的S11曲线。曲线4为天线2的S11曲线。根据前述实施例中的方法，可以判断曲线4相较于曲线3的频偏幅度超过了第二范围。检测人员可以对天线2进行进一步检测，发现相较于质量合格的天线O(如图17A所示)，天线2漏铣3mm(如图17B所示)。

需要说明的是，检测人员还可以检测天线1的质量。

在本申请的一些实施例中，检测人员可以利用探针来检测中的天线1是否合格。

在本申请的又一些实施例中，检测人员可以利用天线检测系统300同时检测天线1和天线2。如图18所示，天线检测系统300中的SMA接头2021分别与2根连接线2022相连，这2根连接线2022分别与2个天线2023相连。而这2个天线2023分别与天线1和天线2进行空间耦合。检测人员可以将天线检测系统300中的天线检测装置200移向待检测天线(即天线1和天线2)，控制天线检测装置200中的一个天线2023与天线1的垂直距离在第一范围内，且另一个天线2023与天线2的垂直距离在第一范围内。检测人员可以观察天线检测系统300中的矢量网络分析仪301中的S11曲线。矢量网络分析仪301中可以显示2条曲线。其中一条曲线为标准曲线(即检测质量合格的同类型天线所得到的S11曲线)。而另一条曲线为天线1和天线2的S11曲线。检测人员可以通过分析这两条曲线的频偏来判断天线1和天线2中是否存在质量合格的天线。可理解，采取这种方法，可以节省检测时间，并且，无需采取探针即可完成检测，节省了成本。

当然，检测人员还可以利用天线检测系统300同时对更多的天线进行检测，检测方法可以参考前述实施例，本申请对此不作限制。

如图19所示，在本申请的一些实施例中，检测人员可以对天线3进行检测。可理解，天线3为手机边框的底部侧边寄生枝节。检测人员可以将天线检测系统300中的天线检测装置200移向待检测天线(即天线3)，控制天线检测装置200中的天线2023与天线3的垂直距离在第一范围内。检测人员可以观察天线检测系统300中的矢量网络分析仪301中的S11曲线。矢量网络分析仪301中可以显示2条S11曲线——曲线5和曲线6。其中，曲线5为对天线P进行检测而得到的S11曲线。曲线6为天线3的S11曲线。可理解，天线3与天线P为相同类型的天线。天线P为质量合格的天线。即良品天线。也就是说，曲线5可以作为标准曲线。检测人员可以通过判断曲线6相较于曲线5发生频偏的幅度是否超过第二范围，来判断天线3的质量是否合格。具体方法可以参考前述实施例，在此不再赘述。

示例性的，如图20所示，曲线5为对天线P进行检测而得到的S11曲线。曲线6为天线3的S11曲线。根据前述实施例中的方法，可以判断曲线6相较于曲线5的频偏幅度超过了第二范围。检测人员可以对天线3进行进一步检测，发现相较于质量合格的天线P(如图21A所示)，天线3断裂3mm(如图21B所示)。

示例性的，如图22所示，曲线5为对天线P进行检测而得到的S11曲线。曲线6为天线3的S11曲线。根据前述实施例中的方法，可以判断曲线6相较于曲线5的频偏幅度超过了第二范围。检测人员可以对天线3进行进一步检测，发现相较于质量合格的天线P(如图23A所示)，天线3漏铣3mm(如图23B所示)。

可理解，通过上述方法，不仅寄生枝节可以得到检测，而且还可以同时检测多个天线，节省了时间成本。另外，不采取传统的探针检测方案，可以节省金钱成本。

需要说明的是，不仅可以由检测人员通过上述装置来检测天线，也可以由自动化机器以及其他具有实现上述检测方法功能的设备通过上述装置来检测天线，本申请对此不作限制。

以上实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。

Claims (15)

1.一种天线检测装置，其特征在于，所述装置包括：单板、一个或多个检测单元；

其中，至少一个所述检测单元包括一个射频同轴连接器、n根连接线，以及q个检测天线；所述一个射频同轴连接器焊接在所述单板上；所述n根连接线和所述q个检测天线设置于所述单板上；每一个所述检测天线与一根所述连接线的一端相连，所述连接线的另一端与所述一个射频同轴连接器相连；所述n为大于1的整数；所述q为不大于n的正整数；

所述射频同轴连接器用于传输射频信号；所述连接线用于信号传输；

所述检测天线用于与待检测天线进行耦合，并实现对所述待检测天线的阻抗信息的检测；所述检测天线与所述待检测天线耦合时，所述检测天线与所述待检测天线的距离控制在第一范围内。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，在所述q大于1的情况下，所述q个检测天线的位置与所述待检测天线的位置相匹配。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述至少一个所述检测单元还包括p个探针；所述p为不大于n-q的整数。

4.如权利要求1-3任一项所述的装置，其特征在于，所述射频同轴连接器为SMA接头。

5.如权利要求1-3任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：固定夹具；所述固定夹具用于固定所述单板。

6.如权利要求1-3任一项所述的装置，其特征在于，所述连接线为微带线。

7.一种天线检测系统，其特征在于，所述系统包括矢量网络分析仪、射频切换器，以及如权利要求1-6任一项所述的天线检测装置；所述矢量网络分析仪与所述射频切换器相连；所述射频切换器与所述天线检测装置相连；

所述矢量网络分析仪用于检测所述待检测天线的回波损耗；

所述射频切换器用于切换选择与所述矢量网络分析仪连通的所述天线检测装置中的检测单元。

8.如权利要求7所述的系统，其特征在于，所述矢量网络分析仪用于检测天线的回波损耗时，具体用于：

在所述天线检测系统用于同时检测m个待检测天线的质量的情况下，所述矢量网络分析仪用于检测所述m个待检测天线组成的系统的回波损耗；m为不大于n的正整数。

9.如权利要求8所述的系统，其特征在于，所述m个待检测天线为不同类型的天线。

10.如权利要求7-9任一项所述的系统，其特征在于，所述矢量网络分析仪用于检测天线的回波损耗时，具体用于：

在所述天线检测装置包括多个检测单元的情况下，所述矢量网络分析仪用于依次检测与所述多个检测单元中的检测天线耦合的待检测天线的回波损耗。

11.一种天线检测方法，其特征在于，所述方法应用于如权利要求7-10任一项所述的天线检测系统；所述方法包括：

将待检测天线移向所述天线检测系统中的天线检测装置；

将所述天线检测装置中的检测天线与所述待检测天线的距离控制在第一范围内；

切换射频切换器以选择导通与所述待检测天线相耦合的检测天线所在的射频通路；

通过矢量网络分析仪发送检测信号至所述待检测天线，以完成对所述待检测天线的阻抗信息的检测。

12.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过所述矢量网络分析仪获取第一参数；所述第一参数用于表征所述待检测天线的回波损耗；

根据所述第一参数判断所述待检测天线的质量是否合格；

其中，所述矢量网络分析仪与所述射频切换器相连；所述射频切换器与所述天线检测装置相连；所述矢量网络分析仪用于检测所述待检测天线的回波损耗；所述射频切换器用于控制与所述天线检测装置中的检测单元的连通状态。

13.如权利要求12所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一参数判断所述待检测天线的质量是否合格之前，所述方法还包括：

通过所述矢量网络分析仪获取第二参数；所述第二参数用于表征良品天线的回波损耗；所述良品天线为与所述待检测天线类型相同的质量合格的天线；

所述根据所述第一参数判断所述待检测天线的质量是否合格，具体包括：

比较所述第一参数与所述第二参数，确定频率偏移量；

若所述频率偏移量不超出第二范围，确定所述待检测天线质量合格；

若所述频率偏移量超出所述第二范围，确定所述待检测天线质量不合格。

14.如权利要求11-13任一项所述的方法，其特征在于，在所述q大于1的情况下，所述q个检测天线的位置与所述待检测天线的位置相匹配。

15.如权利要求14所述的方法，其特征在于，所述检测天线与所述待检测天线的耦合面积大于第一阈值。

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