CN217846396U - 一种立体天线测试夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种立体天线测试夹具，包括基板、天线组件以及测试组件；所述测试组件与所述基板相连；所述天线组件与所述测试组件电性相连；所述基板上设有第一限位孔和第二限位孔；所述天线组件包括天线本体、馈电点以及地馈点；所述测试组件包括支撑板、第一支撑柱以及第二支撑柱；所述支撑板上设有馈点连接点以及地点连接点；第一支撑柱以及第二支撑柱与支撑板之间设有弹簧，将传统的探针式测试接触点改为弹簧加支撑板的方式，使得测试设备可以兼容不同的天线，尤其适合立体天线，并且测试治具与天线地点和馈点之间的距离短，在测试时不会产生过多的干扰，也容易调试。
Description
技术领域
本实用新型涉及无线通信领域，特别涉及一种适用于立体天线测试用的治具。
背景技术
S11是S参数中的一个，表示回波损耗特性，一般通过网络分析仪来看其损耗的dB值和阻抗特性。此参数表示天线的发射效率好不好，值越大，表示天线本身反射回来的能量越大，这样天线的效率就越差。
史密斯圆图是Phillip Smith发明的用于简化各种系统和电路的阻抗匹配电路计算的一种图形化工具，其建立在反射系数复平面(Гr，Гi)上，由阻抗圆图、导纳圆图和等反射系数圆叠加而成。史密斯圆图所表示的阻抗是把实际阻抗相对于系统的特性阻抗Z0进行归一化处理后得到的归一化阻抗和归一化导纳。
在天线生产的过程中往往都需要进行调试和测试，在测试的过程中往往需要较高的检测速率以及较高的检测准确性。以往的测试方法是通过PCB基板以及金属探针接触天线的地点和馈点进行测试。此种方法对于平面的天线而言是较好的，且不会对测试效果产生较大的影响。而测试立体天线时，由于探针长度较长导致馈、地距离加大，从而导致天线明显偏长。特别是MIMO这类小天线大多是N77/78频段，天线本身尺寸很小。一旦加入探针就会明显加长天线长度(表现为S11向低频偏)，表现为：1、高频波形不好调试，甚至完全调试不出来；2、探针会引起更多杂波；3、探针弹性不足引起检测误差大。因此，急需一种新型的检测治具来改善立体天线检测时的体验。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种立体天线测试夹具，解决目前立体天线使用探针式治具检测效果较差的问题。
为解决上述问题，本实用新型提供一种立体天线测试夹具，包括基板、天线组件以及测试组件；
所述测试组件与所述基板相连；所述天线组件与所述测试组件电性相连；
所述基板上设有第一限位孔和第二限位孔；
所述天线组件包括天线本体、馈电点以及地馈点；
所述测试组件包括支撑板、第一支撑柱以及第二支撑柱；所述支撑板上设有馈点连接点以及地点连接点；所述馈点连接点与所述馈电点电性相连；所述地点连接点与所述地馈点电性相连；所述第一支撑柱以及所述第二支撑柱与所述支撑板相连；所述第一支撑柱穿过所述第一限位孔并可以沿所述第一限位孔上下移动；所述第二支撑柱穿过所述第二限位孔并可以沿所述第二限位孔上下移动。
可选的，在所述的一种立体天线测试夹具中，所述基板的材质为PCB材质。
可选的，在所述的一种立体天线测试夹具中，所述支撑板的为金属材质。
可选的，在所述的一种立体天线测试夹具中，所述第一支撑柱以及所述第二支撑柱为金属材质。
可选的，在所述的一种立体天线测试夹具中，所述第一支撑柱以及所述第二支撑柱与所述支撑板之间还设有弹簧，所述弹簧用以提供所述支撑板向上的压力。
可选的，在所述的一种立体天线测试夹具中，所述馈点连接点为金属弹片或金属凸块。
可选的，在所述的一种立体天线测试夹具中，所述馈点连接点的表面镀有金或铜。
可选的，在所述的一种立体天线测试夹具中，所述地点连接点为金属弹片或金属凸块。
可选的，在所述的一种立体天线测试夹具中，所述地点连接点的表面镀有金或铜。
可选的，在所述的一种立体天线测试夹具中，所述馈点连接点与所述地点连接点相邻且中间留有缝隙。
本实用新型的有益效果是：
本申请提供一种立体天线测试夹具，将传统的探针式改为弹簧加支撑板的方式，在支撑板上设置新式的天线地点、馈点接触点，使得新的地点接触点和馈点接触点可以上下移动并压紧，使得测试设备可以兼容不同的天线，尤其适合立体天线，并且测试治具与天线地点和馈点之间的距离短，在测试时不会产生过多的干扰，也容易调试。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实施例所提供的一种立体天线测试夹具的结构图；
图2为本实施例所提供的一种立体天线测试夹具的正视图；
图3为本实施例所提供的一种立体天线测试夹具的侧视图；
图4为本实施例所提供的一种立体天线测试夹具的局部放大图；
图5为传统天线测试夹具的结构图；
图6为传统天线测试夹具的侧视图；
图7为传统天线测试夹具测试高频天线的S参数仿真图；
图8为传统天线测试夹具测试高频天线的smith图；
图9为本实施例所提供的一种立体天线测试夹具测试高频天线的S参数仿真图；
图10为本实施例所提供的一种立体天线测试夹具测试高频天线的smith图；
其中，各附图标记说明如下：
1－基板；2－天线组件；3－测试组件；31－支撑板；32－第一支撑柱；33－第二支撑柱；34－馈点连接点；35－地点连接点。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型提出的一种立体天线测试夹具及室内终端做进一步详细说明。需要说明的是，本实用新型的说明书和权利要求书及附图说明中的“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，以便描述本实用新型的实施例，而不用于描述特定的顺序或先后次序，应该理解这样使用的结构在适当情况下可以互换。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、的方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、的方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
本实用新型提供的一种立体天线测试夹具，包括基板、天线组件以及测试组件；所述测试组件与所述基板相连；所述天线组件与所述测试组件电性相连；所述基板上设有第一限位孔和第二限位孔；所述天线组件包括天线本体、馈电点以及地馈点；所述测试组件包括支撑板、第一支撑柱以及第二支撑柱；所述支撑板上设有馈点连接点以及地点连接点；第一支撑柱以及第二支撑柱与支撑板之间设有弹簧，将传统的探针式测试接触点改为弹簧加支撑板的方式，使得测试设备可以兼容不同的天线，尤其适合立体天线，并且测试治具与天线地点和馈点之间的距离短，在测试时不会产生过多的干扰，也容易调试。
请参阅图1至图4，本实施例提供一种立体天线测试夹具，包括基板1、天线组件2以及测试组件3；所述测试组件3与所述基板1相连；所述天线组件2与所述测试组件3电性相连；所述基板1上设有第一限位孔和第二限位孔(图中未示出)；所述天线组件2包括天线本体、馈电点以及地馈点(图中未示出)；所述测试组件3包括支撑板31、第一支撑柱32以及第二支撑柱33；所述支撑板上设有馈点连接点34以及地点连接点35；所述馈点连接点34与所述馈电点电性相连；所述地点连接点35与所述地馈点电性相连；所述第一支撑柱32以及所述第二支撑柱33与所述支撑板31相连；所述第一支撑柱31穿过所述第一限位孔并可以沿所述第一限位孔上下移动；所述第二支撑柱32穿过所述第二限位孔并可以沿所述第二限位孔上下移动。
更佳的，所述基板1的材质为PCB材质，所述支撑板31的为金属材质，所述第一支撑柱32以及所述第二支撑柱33为金属材质，所述第一支撑柱32以及所述第二支撑柱33同时与所述基板1和所述支撑板31相连，此时，所述第一支撑柱32以及所述第二支撑柱33可以看成是所述支撑板31的大接地点，如此在治具对天线进行测试时，可以提供良好的接地效果，使得测试的效果更好，结果更加准确。
所述馈点连接点34为金属弹片或金属凸块，所述馈点连接点34的表面镀有金或铜，所述地点连接点35为金属弹片或金属凸块，所述地点连接点35的表面镀有金或铜，给接触点的表面镀上金或铜可以防止接触点被腐蚀从而影响测试结构也可以增强接触点的导电性。
所述第一支撑柱32以及所述第二支撑柱33与所述支撑板31之间还设有弹簧，所述弹簧用以提供所述支撑板向上的压力，从而使得所述支撑板31上的所述馈点连接点34以及所述地点连接点35能够与所述天线组件2的所述馈电点以及所述地馈点牢牢压紧，使得天线在测试时不会因为接触不良而影响天线的测试效果。
请参阅图5至图6，传统的天线测试夹具是基板和金属探针的组合，在测试平面天线时，探针可以很容易下压，且可以获得不错的测试效果。
请参阅图6，当测试立体天线时，可以看出，金属探针此时伸出的长度较长，此时，相当于测试点与天线地点、馈点之间增加了相当长的一段金属结构，会极大的影响天线的调试难度和测试结构；进一步的，当天线的地点、馈点距离基板更加远的时候，就可能需要更换更长的金属探针，因此，传统的天线测试夹具对天线的兼容性较差。
请参阅图7至图8，在测试同一立体高频天线时，采用传统夹具检测高频的方案得到的S11仿真图和Smith图如图所示，使用传统测试夹具进行天线测试时，无法还原天线本身的波形，高频频段基本没有波形，需要用数值较极端的匹配强行拉过去波形，从而无法正常检测待测天线。
请参阅图9至图10，在测试同一立体高频天线时，采用立体夹具检测高频的方案得到的S11仿真图和Smith图如图所示，此时，基本可以还原整机上波形的状态，只需要微调就可以直接使用，不仅方便调试，更增加了天线检测的效率和准确率。
综上所述，本实施例提供一种立体天线测试夹具，包括基板、天线组件以及测试组件；所述测试组件与所述基板相连；所述天线组件与所述测试组件电性相连；所述基板上设有第一限位孔和第二限位孔；所述天线组件包括天线本体、馈电点以及地馈点；所述测试组件包括支撑板、第一支撑柱以及第二支撑柱；所述支撑板上设有馈点连接点以及地点连接点；所述馈点连接点与所述馈电点电性相连；所述地点连接点与所述地馈点电性相连；所述第一支撑柱以及所述第二支撑柱与所述支撑板相连；所述第一支撑柱穿过所述第一限位孔并可以沿所述第一限位孔上下移动；所述第二支撑柱穿过所述第二限位孔并可以沿所述第二限位孔上下移动；将传统的探针式改为弹簧加支撑板的方式，在支撑板上设置新式的天线地点、馈点接触点，使得新的地点接触点和馈点接触点可以上下移动并压紧，使得测试设备可以兼容不同的天线，尤其适合立体天线，并且测试治具与天线地点和馈点之间的距离短，在测试时不会产生过多的干扰，也容易调试。
上述描述仅是对本实用新型较佳实施例的描述，并非对本实用新型范围的任何限定，本实用新型领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。
Claims (10)
1.一种立体天线测试夹具，其特征在于，包括基板、天线组件以及测试组件；
所述测试组件与所述基板相连；所述天线组件与所述测试组件电性相连；
所述基板上设有第一限位孔和第二限位孔；
所述天线组件包括天线本体、馈电点以及地馈点；
所述测试组件包括支撑板、第一支撑柱以及第二支撑柱；所述支撑板上设有馈点连接点以及地点连接点；所述馈点连接点与所述馈电点电性相连；所述地点连接点与所述地馈点电性相连；所述第一支撑柱以及所述第二支撑柱与所述支撑板相连；所述第一支撑柱穿过所述第一限位孔并可以沿所述第一限位孔上下移动；所述第二支撑柱穿过所述第二限位孔并可以沿所述第二限位孔上下移动。
2.根据权利要求1所述的一种立体天线测试夹具，其特征在于，所述基板的材质为PCB材质。
3.根据权利要求1所述的一种立体天线测试夹具，其特征在于，所述支撑板的为金属材质。
4.根据权利要求1所述的一种立体天线测试夹具，其特征在于，所述第一支撑柱以及所述第二支撑柱为金属材质。
5.根据权利要求1所述的一种立体天线测试夹具，其特征在于，所述第一支撑柱以及所述第二支撑柱与所述支撑板之间还设有弹簧，所述弹簧用以提供所述支撑板向上的压力。
6.根据权利要求1所述的一种立体天线测试夹具，其特征在于，所述馈点连接点为金属弹片或金属凸块。
7.根据权利要求1所述的一种立体天线测试夹具，其特征在于，所述馈点连接点的表面镀有金或铜。
8.根据权利要求1所述的一种立体天线测试夹具，其特征在于，所述地点连接点为金属弹片或金属凸块。
9.根据权利要求1所述的一种立体天线测试夹具，其特征在于，所述地点连接点的表面镀有金或铜。
10.根据权利要求1所述的一种立体天线测试夹具，其特征在于，所述馈点连接点与所述地点连接点相邻且中间留有缝隙。
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