CN112363048A - 一种集成电路测试针床 - Google Patents
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Abstract
一种集成电路测试针床，属集成电路制造技术领域，包括驱动部、支撑部、拼装部和测试部，驱动部向上连接压力机，驱动部上安装被测板卡，拼装部安装在支撑部上，测试部安装在拼装部上。驱动部包括盖板、板卡槽、立柱，盖板两侧各具有一个朝向内侧的板卡槽，板卡槽前端开口后端封闭，盖板顶部具有立柱，立柱向上连接压力机。支撑部包括横梁、滑槽和顶部槽，横梁具有一对，两个横梁分列驱动部下方的两侧，横梁具有朝向内侧的滑槽，滑槽前端开口后端封闭，横梁顶部具有贯通滑槽的顶部槽。拼装部包括横杆、安装槽和螺钉，横杆从滑槽嵌入支撑部，横杆上具有安装槽。测试部包括支座、顶针、外六角螺母、弹簧和内六角螺母。
Description
技术领域
本发明属于集成电路制造技术领域，尤其涉及一种集成电路测试针床。
背景技术
集成电路制造的最后环节重要环节是测试，其主要目的是测试集成电路的各个焊点和元件的连接是否正确，集成电路的测试通常使用针床，针床的主体通常是通用的，但是，针床使用的测试板卡通常需要对不同的集成电路专门设计制造，对于大批量生产的集成电路，该方式比较合适，定制的测试板卡可以长时间使用。但是，对于研发阶段的集成电路制造的测试，该阶段集成电路的设计也许并没有完全确定，后续还有更改的可能，更改的集成电路需要新的测试板卡，无疑增加研发成本。
发明内容
本发明提供一种集成电路测试针床，以解决上述背景技术中的问题。
本发明所解决的技术问题采用以下技术方案来实现：
一种集成电路测试针床，包括驱动部、支撑部、拼装部和测试部，驱动部向上连接压力机，驱动部上安装被测板卡，拼装部安装在支撑部上，测试部安装在拼装部上，根据被测板卡的尺寸和被测点位数量安装相应数量的拼装部和测试部，以拼装的方式完成针床的拼装。驱动部包括盖板、板卡槽、立柱，盖板两侧各具有一个朝向内侧的板卡槽，板卡槽前端开口后端封闭，盖板顶部具有立柱，立柱向上连接压力机，用于驱动盖板完成上下往复运动。支撑部包括横梁、滑槽和顶部槽，横梁具有一对，两个横梁分列驱动部下方的两侧，横梁具有朝向内侧的滑槽，滑槽前端开口后端封闭，横梁顶部具有贯通滑槽的顶部槽。拼装部包括横杆、安装槽和螺钉，横杆从滑槽嵌入支撑部，横杆上具有安装槽，安装槽上安装测试部，根据被测板卡的尺寸和测试点位数量安装合适数量的横杆。测试部包括支座、顶针、外六角螺母、弹簧和内六角螺母，测试部安装在拼装部的安装槽内。支座嵌入安装槽内，外六角螺母从支座底部将支座固定在拼装部上，顶针安装在支座内，外六角螺母将支座固定在拼装部上，弹簧安装在支座内部的顶针底部，内六角螺母从支座底部将弹簧安装在支座内部。内六角螺母的内六角槽贯穿整个螺母，便于导线从内六角槽内穿出。
进一步的，板卡槽侧部安装卡片，卡片前端为斜面，卡片紧贴盖板前端面的部位形成卡扣。板卡槽内安装被测板卡，被测板卡从前端插入板卡槽，被测板卡经过卡片的斜面插入板卡槽，当被测板卡完全进入板卡槽时，卡片的卡扣部位卡住被测板卡。当然，当被测板卡尺寸较小时，对于研发阶段的板卡，可以预留边料或者辅助板料作为定位的辅助部位。
进一步的，横杆两端通过螺钉固定在滑槽内。
进一步的，支座为中空结构，支座包括圆头、上孔、上凸台、方块和下螺杆，圆头位于支座顶部，圆头中部具有上孔，顶针从上孔穿出支座，圆头底部具有上凸台，上凸台下方具有方块，方块嵌入安装槽，上凸台将整个支座卡合在横杆上，方块下方具有下螺杆，下螺杆上安装外六角螺母，上凸台和外六角螺母共同完成测试部的安装和定位。
进一步的，顶针包括锥头、下凸台和导线，锥头从上孔穿出支座，用于向上对接被测板卡的被测出点。锥头底部具有下凸台，下凸台将顶针限位在支座中空的内孔中，锥头向下穿过下凸台连接导线，导线再连接测试电路，形成测试电路的通路。
进一步的，下凸台和上孔采取绝缘措施，防止测试电路短路或者其他异常。
本发明的有益效果是：
本发明用于集成电路板的测试工作，其具有模块化的拼装部，可以根据被测板卡的尺寸灵活拼装，其还具有独立设计的测试部，根据被测板卡的测试点位灵活安装测试部，便可以方便的完成集成电路板的测试工作。
附图说明
图1是本发明的示意图；
图2是本发明的右视图；
图3是本发明的爆炸图；
图中：10.驱动部，11.盖板，12.板卡槽，13.立柱，14.卡片，20.支撑部，21.横梁，22.滑槽，23.顶部槽，30.拼装部，31.横杆，32.安装槽，33.螺钉，40.测试部，41.支座，411.圆头，412.上孔，413.上凸台，414.方块，415.下螺杆，42.顶针，421.锥头，422.下凸台，423.导线，43.外六角螺母，44.弹簧，45.内六角螺母。
具体实施方式
为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的首选实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容更加透彻全面。
参见图1-图3所示的集成电路测试针床，包括驱动部10、支撑部20、拼装部30和测试部40，驱动部10向上连接压力机，驱动部10上安装被测板卡，拼装部30安装在支撑部20上，测试部40安装在拼装部40上，根据被测板卡的尺寸和被测点位数量安装相应数量的拼装部30和测试部40，以拼装的方式完成针床的拼装。
驱动部10包括盖板11、板卡槽12、立柱13和卡片14，盖板11两侧各具有一个朝向内侧的板卡槽12，板卡槽12前端开口后端封闭，盖板11顶部具有立柱13，立柱13向上连接压力机，用于驱动盖板11完成上下往复运动，板卡槽12侧部安装卡片14，卡片14前端为斜面，卡片14紧贴盖板11前端面的部位形成卡扣。板卡槽12内安装被测板卡，被测板卡从前端插入板卡槽12，被测板卡经过卡片14的斜面插入板卡槽12，当被测板卡完全进入板卡槽12时，卡片14的卡扣部位卡住被测板卡。当然，当被测板卡尺寸较小时，对于研发阶段的板卡，可以预留边料或者辅助板料作为定位的辅助部位。
支撑部20包括横梁21、滑槽22和顶部槽23，横梁21具有一对，两个横梁21分列驱动部10下方的两侧，横梁21具有朝向内侧的滑槽22，滑槽22前端开口后端封闭，横梁21顶部具有贯通滑槽22的顶部槽23。
拼装部30包括横杆31、安装槽32和螺钉33，横杆31从滑槽22嵌入支撑部20，横杆31上具有安装槽32，安装槽32上安装测试部40，根据被测板卡的尺寸和测试点位数量安装合适数量的横杆31，横杆31两端通过螺钉33固定在滑槽22内。
测试部40包括支座41、顶针42、外六角螺母43、弹簧44和内六角螺母45，测试部40安装在拼装部30的安装槽32内，根据被测板卡的尺寸和测试点位数量安装合适数量的测试部40。支座41嵌入安装槽32内，外六角螺母43从支座41底部将支座41固定在拼装部30上，顶针42安装在支座41内，外六角螺母43将支座41固定在拼装部30上，弹簧44安装在支座41内部的顶针42底部，内六角螺母45从支座41底部将弹簧44安装在支座41内部。内六角螺母45的内六角槽贯穿整个螺母，便于导线423从内六角槽内穿出。
支座41为中空结构，支座41包括圆头411、上孔412、上凸台413、方块414和下螺杆415，圆头411位于支座41顶部，圆头411中部具有上孔412，顶针42从上孔412穿出支座41，圆头411底部具有上凸台413，上凸台413下方具有方块414，方块414嵌入安装槽32，上凸台413将整个支座41卡合在横杆31上，方块414下方具有下螺杆415，下螺杆415上安装外六角螺母43，上凸台413和外六角螺母43共同完成测试部40的安装和定位。
顶针42包括锥头421、下凸台422和导线423，锥头421从上孔412穿出支座41，用于向上对接被测板卡的被测出点。锥头421底部具有下凸台422，下凸台422将顶针42限位在支座41中空的内孔中，锥头421向下穿过下凸台422连接导线423，导线423再连接测试电路，形成测试电路的通路。
此外，下凸台422和上孔412采取绝缘措施，防止测试电路短路或者其他异常。
本发明的工作原理是：首先根据被测板卡的尺寸和被测点位安装适当数量的拼装部30和测试部40，将所有导线423按照被测板卡的电路逻辑连接至测试计算机，将被测板卡插入板卡槽12，启动压力机驱动盖板11向下运动，直至被测板卡的点位与锥头421接触，计算机测试板卡的线路是否正常工作，测试结束后，向上移动盖板11，便完成了一个被测板卡的测试工作。
以上实施例主要说明了本发明的集成电路测试针床。尽管只对其中有限的实施例和技术特征进行了描述，本领域技术人员应当了解，本发明可以在不偏离其主旨与范围内以许多其他的形式实施。因此，所展示的实施例被视为示意性的而非限制形的，在不脱离所附权利要求所定义的本发明的精神及范围的情况下，本发明可能涵盖各种修改与替换的方案。
Claims (7)
1.一种集成电路测试针床，包括驱动部(10)、支撑部(20)、拼装部(30)和测试部(40)，其特征在于，所述驱动部(10)向上连接压力机，驱动部(10)上安装被测板卡，拼装部(30)安装在支撑部(20)上，测试部(40)安装在拼装部(40)上，驱动部(10)包括盖板(11)、板卡槽(12)、立柱(13)，盖板(11)两侧各具有一个朝向内侧的板卡槽(12)，板卡槽(12)前端开口后端封闭，盖板(11)顶部具有立柱(13)，立柱(13)向上连接压力机，板卡槽(12)内安装被测板卡，支撑部(20)包括横梁(21)、滑槽(22)和顶部槽(23)，横梁(21)具有一对，两个横梁(21)分列驱动部(10)下方的两侧，横梁(21)具有朝向内侧的滑槽(22)，滑槽(22)前端开口后端封闭，横梁(21)顶部具有贯通滑槽(22)的顶部槽(23)，拼装部(30)包括横杆(31)、安装槽(32)和螺钉(33)，横杆(31)从滑槽(22)嵌入支撑部(20)，横杆(31)上具有安装槽(32)，安装槽(32)上安装测试部(40)，测试部(40)包括支座(41)、顶针(42)、外六角螺母(43)、弹簧(44)和内六角螺母(45)，测试部(40)安装在拼装部(30)的安装槽(32)内，支座(41)嵌入安装槽(32)内，外六角螺母(43)从支座(41)底部将支座(41)固定在拼装部(30)上，顶针(42)安装在支座(41)内，外六角螺母(43)将支座(41)固定在拼装部(30)上，弹簧(44)安装在支座(41)内部的顶针(42)底部，内六角螺母(45)从支座(41)底部将弹簧(44)安装在支座(41)内部，内六角螺母(45)的内六角槽贯穿整个螺母。
2.如权利要求1所述的集成电路测试针床，其特征在于，所述板卡槽(12)侧部安装卡片(14)，卡片(14)前端为斜面，卡片(14)紧贴盖板(11)前端面的部位形成卡扣。
3.如权利要求1所述的集成电路测试针床，其特征在于，所述横杆(31)两端通过螺钉(33)固定在滑槽(22)内。
4.如权利要求1所述的集成电路测试针床，其特征在于，所述支座(41)为中空结构，支座(41)包括圆头(411)、上孔(412)、上凸台(413)、方块(414)和下螺杆(415)，圆头(411)位于支座(41)顶部，圆头(411)中部具有上孔(412)，顶针(42)从上孔(412)穿出支座(41)，圆头(411)底部具有上凸台(413)，上凸台(413)下方具有方块(414)，方块(414)嵌入安装槽(32)，上凸台(413)将整个支座(41)卡合在横杆(31)上，方块(414)下方具有下螺杆(415)，下螺杆(415)上安装外六角螺母(43)。
5.如权利要求1所述的集成电路测试针床，其特征在于，所述顶针(42)包括锥头(421)、下凸台(422)和导线(423)，锥头(421)从上孔(412)穿出支座(41)，用于向上对接被测板卡的被测出点。
6.锥头(421)底部具有下凸台(422)，下凸台(422)将顶针(42)限位在支座(41)中空的内孔中，锥头(421)向下穿过下凸台(422)连接导线(423)，导线(423)再连接测试电路。
7.如权利要求1所述的集成电路测试针床，其特征在于，所述下凸台(422)和上孔(412)采取绝缘措施。
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