CN210923889U - 一种芯片测试架 - Google Patents

Abstract

本实用新型揭示了一种芯片测试架，包括：电源接口、USB接口、主控芯片组件、主控插针板、PCB板、闪存芯片，以及闪存芯片底座；USB接口设置在PCB板上；电源接口设置在PCB板上，以给PCB板上的各部件通电；闪存芯片底座设置在PCB板一端面；闪存芯片设置在闪存芯片底座上；PCB板远离闪存芯片的一端面设置有主控插针板；主控芯片组件一端设有插针脚，插针脚与主控插针板配合，实现两者的活动连接。与现有技术相比，上述结构无需通过焊接的方式将主控芯片组件设置在PCB板上，大幅降低主控芯片结构损坏的概率，缩短主控芯片的测试时间；主控芯片组件与PCB板活动连接，极大地提高主控芯片安装在PCB板的效率。因此，上述结构极大地提高了主控芯片的测试效率。

Description

一种芯片测试架

技术领域

本实用新型涉及到半导体领域，特别是涉及到一种芯片测试架。

背景技术

以前测试人员测试成品主控芯片时，需要将主控芯片焊接到测试架的PCB板上。主控芯片具有多个芯片引脚，且引脚之间的距离也离得近，因此焊接时费时费力，或者容易弄坏芯片引脚，导致焊接失败。因此，当测试人员测试主控芯片有问题时，需要判断该问题是出自人为焊接，还是主控芯片本身具有问题。测试人员无法直接排除人为焊接问题，因此需在测试芯片过程增加判断人为焊接问题的测试工序，极大地延长了测试时间。综上，现有主控芯片的测试效率有待提高。

实用新型内容

本实用新型的主要目的为提供一种芯片测试架，旨在解决提升现有主控芯片的测试效率。

本实用新型提供一种芯片测试架，包括：电源接口、USB接口、主控芯片组件、主控插针板、PCB板、闪存芯片，以及闪存芯片底座；

USB接口设置在PCB板上；

电源接口设置在PCB板上，以给PCB板上的各部件通电；

闪存芯片底座设置在PCB板一端面；

闪存芯片设置在闪存芯片底座上；

PCB板远离闪存芯片的一端面设置有主控插针板；

主控芯片组件一端设有插针脚，插针脚与主控插针板配合，实现两者的活动连接。

优选的，芯片组件包括主控芯片底座和主控芯片；

主控芯片相对的两端设有引脚；

主控芯片底座相对的两端设有引脚定位槽；

引脚与引脚定位槽配合，实现主控芯片与主控芯片底座的活动连接。

优选的，主控芯片底座远离引脚定位槽的一端的侧壁设有缺口；

缺口的底部相对PCB板的高度高于引脚定位槽所在的平面。

优选的，芯片测试架还包括电源开关；

PCB板上设有多组闪存芯片底座以及闪存芯片；

各闪存芯片分别设置在闪存芯片底座上；

PCB板远离闪存芯片的一端设有多组主控芯片组件，主控芯片组件的数量与闪存芯片相同；

各主控芯片组件的一端分别设有一电源开关，以控制外接电源给芯片测试架供电与断电；

各芯片组件分别与各闪存芯片电连接，以实现测试主控芯片。

优选的，电源开关相对PCB板的高度高于芯片组件相对PCB板的高度，且电源开关与芯片组件位于PCB板的同一水平线。

优选的，主控芯片以预设角度倾斜设置于主控芯片底座。

优选的，预设角度范围为30°至45°。

优选的，主控芯片底座相对主控插针板的一端设有定位柱，且定位柱远离插针脚设置；

主控插针板与定位柱相对的一端设有定位孔；

定位柱与定位孔配合，以实现主控芯片底座和主控插针板之间的定位。

本实用新型的有益效果:主控芯片组件通过可拆卸的方式设置在测试架上，避免主控芯片通过传统焊接方式固定在PCB板的低效，以及避免焊接造成的主控芯片引脚损坏。通过上述设置，主控芯片组件安装在测试架PCB板的效率大大提高。另外，主控芯片组件与PCB板活动连接，当测试人员需测试不同型号的芯片时，只需将原有主控芯片组件从测试架PCB板拆除，将包含有不同型号芯片的新的主控芯片组件安装在PCB板即可。综上，上述结构无需通过焊接的方式将主控芯片组件设置在PCB板上，大幅降低主控芯片结构损坏的概率，使得测试人员减少测试主控芯片结构是否完整的次数，缩短主控芯片的测试时间；主控芯片组件与PCB板活动连接，极大地提高主控芯片安装在PCB板的效率。因此，上述结构极大地提高了主控芯片的测试效率。

附图说明

图1为本实用新型一种芯片测试架的第一实施例的结构示意图；

图2为本实用新型一种芯片测试架的主控芯片底座的结构示意图；

图3为本实用新型一种芯片测试架的闪存芯片底座的结构示意图。

标号说明：

1、电源接口；2、USB接口；3、主控芯片；4、主控芯片底座；5、主控插针板；6、闪存芯片；7、闪存芯片底座；8、电源开关；9、PCB板。

本实用新型目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

参照图1，本实用新型提供一种芯片测试架，包括：电源接口1、USB接口2、主控芯片组件、主控插针板5、PCB板9、闪存芯片6，以及闪存芯片底座7；

USB接口2设置在PCB板9上；

电源接口1设置在PCB板9上，以给PCB板9上的各部件通电；

闪存芯片底座7设置在PCB板9一端面；

闪存芯片6设置在闪存芯片底座7上；

PCB板9远离闪存芯片6的一端面设置有主控插针板5；

主控芯片组件一端设有插针脚，插针脚与主控插针板5配合，实现两者的活动连接。

在本实用新型实施例中，USB接口2的作用在于实现芯片测试架与电脑之间的通信传输，从而测试人员能根据电脑检测结果，得知主控芯片3是否合格。主控芯片3的作用是发送和接收控制指令，控制芯片测试架的运行。芯片测试架测试主控芯片3时，主控芯片3将发送控制指令至闪存芯片6，闪存芯片6接收并执行控制指令。PCB板9相对闪存芯片底座7的一端设有排母，作用是固定闪存芯片底座7、传输信号。闪存芯片底座7的一端设有排针，排母与闪存芯片底座7的排针配合，从而实现闪存芯片底座7与PCB板9的活动连接。由于不同型号的主控芯片6测试时，所需的闪存芯片6可能不同。因此，通过排针与排母的配合，此种可拆卸的设计使得测试人员可方便地更换闪存芯片底座7，由于闪存芯片底座7与闪存芯片6连接，即测试人员方便地更换测试主控芯片6所需闪存芯片6。主控芯片组件通过可拆卸的方式设置在测试架上，避免主控芯片3通过传统焊接方式固定在PCB板9的低效，以及避免焊接造成的主控芯片3引脚损坏。通过上述设置，主控芯片组件安装在测试架PCB板9的效率大大提高。另外，主控芯片组件与PCB板9活动连接，当测试人员需测试不同型号的芯片时，只需将原有主控芯片组件从芯片测试架PCB板9拆除，将包含有不同型号芯片的新的主控芯片组件安装在PCB板9即可。综上，上述结构无需通过焊接的方式将主控芯片组件设置在PCB板9上，大幅降低主控芯片3结构损坏的概率，使得测试人员减少测试主控芯片3结构是否完整的次数，缩短主控芯片3的测试时间；主控芯片组件与PCB板9活动连接，极大地提高主控芯片安装在PCB板9的效率。因此，上述结构极大地提高了主控芯片3的测试效率。

进一步地，芯片组件包括主控芯片底座4和主控芯片3；

主控芯片3相对的两端设有引脚；

主控芯片底座4相对的两端设有引脚定位槽；

引脚与引脚定位槽配合，实现主控芯片3与主控芯片底座4的活动连接。

在本实用新型实施例中，主控芯片3与主控芯片底座4活动连接。当测试人员多个同款主控芯片3时，只需将原有主控芯片3从主控芯片底座4分离，如通过真空吸盘的方式，将原有主控芯片3从主控芯片底座4分离，无需更换主控芯片底座4，因此只需一个主控芯片底座4就能测试多个同款主控芯片3，降低主控芯片3的测试成本。

进一步地，主控芯片底座4远离引脚定位槽的一端的侧壁设有缺口；

缺口的底部相对PCB板9的高度高于引脚定位槽所在的平面。

在本实用新型实施例中，主控芯片底座4的远离引脚定位槽的一端的侧壁设有缺口，缺口用于方便测试人员手动更换主控芯片3。测试人员只需将拇指和食指放在缺口上，即可触碰到主控芯片3的边缘，将主控芯片3从主控芯片底座4拔出。缺口的底部相对PCB板9的高度高于引脚定位槽所在的平面，避免主控芯片3无法与主控芯片底座4稳定连接。

进一步地，还包括电源开关8；

PCB板9上设有多组闪存芯片底座7以及闪存芯片6；

各闪存芯片6分别设置在闪存芯片底座7上；

PCB板9远离闪存芯片6的一端设有多组主控芯片组件，主控芯片组件的数量与闪存芯片6相同；

各主控芯片组件的一端分别设有一电源开关8，以控制外接电源给芯片测试架供电与断电；

各芯片组件分别与各闪存芯片6电连接，以实现测试主控芯片3。

在本实用新型实施例中，PCB板9上设置有多组主控芯片组件、闪存芯片6、闪存芯片底座7以及电源开关8，其中，主控芯片组件、闪存芯片6、闪存芯片底座7以及电源开关8一一对应，从而在PCB板9上构成独立的测试电路。通过上述设置，芯片测试架可以同时测试大批量的主控芯片3。

进一步地，电源开关8相对PCB板9的高度高于芯片组件相对PCB板9的高度，电源开关8与芯片组件位于PCB板9的同一水平线。

在本实用新型实施例中，电源开关8相对PCB板9的高度高于芯片组件相对PCB板9的高度，电源开关8与芯片组件位于PCB板9的同一水平线，通过上述设置，使得当芯片测试架受到外力冲击时，电源开关8能缓冲部分外力，减少外力对芯片组件的损害。

进一步地，主控芯片3以预设角度倾斜设置于主控芯片底座4。

进一步地，预设角度范围为30°至45°。

在本实用新型实施例中，传统的结构是主控芯片3垂直设置于主控芯片底座4上。当测试人员站立时，受俯视视角所限，无法直观地区分主控芯片3的正反面。当主控芯片3以预设角度倾斜设置于主控芯片底座4，测试人员俯视时就能直观地区分主控芯片3。当主控芯片3以30°至45°倾斜设置于主控芯片底座4时，测试人员不仅俯视观察区分主控芯片3正反面的效果最佳，且方便测试人员更换主控芯片3。

进一步地，主控芯片底座4相对主控插针板5的一端设有定位柱，且定位柱远离插针脚设置；

主控插针板5与定位柱相对的一端设有定位孔；

定位柱与定位孔配合，以实现主控芯片底座4和主控插针板5之间的定位。

在本实用新型实施例中，主控芯片底座4相对主控插针板5的一端设有定位柱，主控插针板5与定位柱相对的一端设有定位孔。主控插针板5分布有多个凹槽。定位柱与定位孔的定位，使得主控芯片底座4的插针脚能快速定位在主控插针板5凹槽的上方，从而提高主控芯片底座4安装在主控插针板5的效率。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种芯片测试架，其特征在于，包括：电源接口、USB接口、主控芯片组件、主控插针板、PCB板、闪存芯片，以及闪存芯片底座；

所述USB接口设置在所述PCB板上；

所述电源接口设置在所述PCB板上，以给所述PCB板上的各部件通电；

所述闪存芯片底座设置在所述PCB板一端面；

所述闪存芯片设置在所述闪存芯片底座上；

所述PCB板远离所述闪存芯片的一端面设置有所述主控插针板；

所述主控芯片组件一端设有插针脚，所述插针脚与所述主控插针板配合，实现两者的活动连接。

2.根据权利要求1所述的芯片测试架，其特征在于，所述芯片组件包括主控芯片底座和主控芯片；

所述主控芯片相对的两端设有引脚；

所述主控芯片底座相对的两端设有引脚定位槽；

所述引脚与所述引脚定位槽配合，实现所述主控芯片与所述主控芯片底座的活动连接。

3.根据权利要求2所述的芯片测试架，其特征在于，所述主控芯片底座远离所述引脚定位槽的一端的侧壁设有缺口；

所述缺口的底部相对所述PCB板的高度高于所述引脚定位槽所在的平面。

4.根据权利要求2所述的芯片测试架，其特征在于，还包括电源开关；

所述PCB板上设有多组所述闪存芯片底座以及所述闪存芯片；

各所述闪存芯片分别设置在所述闪存芯片底座上；

所述PCB板远离所述闪存芯片的一端设有多组所述主控芯片组件，所述主控芯片组件的数量与所述闪存芯片相同；

各所述主控芯片组件的一端分别设有一所述电源开关，以控制外接电源给所述芯片测试架供电与断电；

各所述芯片组件分别与各所述闪存芯片电连接，以实现测试所述主控芯片。

5.根据权利要求4所述的芯片测试架，其特征在于，所述电源开关相对所述PCB板的高度高于所述芯片组件相对所述PCB板的高度，且所述电源开关与所述芯片组件位于所述PCB板的同一水平线。

6.根据权利要求2所述的芯片测试架，其特征在于，所述主控芯片以预设角度倾斜设置于所述主控芯片底座。

7.根据权利要求6所述的芯片测试架，其特征在于，所述预设角度范围为30°至45°。

8.根据权利要求2所述的芯片测试架，其特征在于，所述主控芯片底座相对所述主控插针板的一端设有定位柱，且所述定位柱远离所述插针脚设置；

所述主控插针板与所述定位柱相对的一端设有定位孔；

所述定位柱与所述定位孔配合，以实现所述主控芯片底座和所述主控插针板之间的定位。

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