CN112331117A - 液晶面板和液晶面板数据线电压检测方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种液晶面板和液晶面板数据线电压检测方法，其中液晶面板包括：有效显示区，该有效显示区具有多根扫描线，以及与多根扫描线交叉设置的多根数据线；阵列基板行驱动电路，设于有效显示区的侧部，用于给有效显示区的多根扫描线提供驱动信号；以及测试垫片，测试垫片与多根数据线中的任一待测数据线电性连接，用于在cell制程中进行cell测试。本申请通过将待检测的数据线与测试垫片电性连接，并在cell制程中直接测试测试垫片的电压，简化液晶面板数据线电压检测的过程，且提高液晶面板的生产良率。另外，由于cell制程是液晶面板制程中的必经步骤，在cell制程中进行液晶面板数据线电压检测无需额外的测试设备，节省成本，且检测效率更高。

Description

液晶面板和液晶面板数据线电压检测方法

技术领域

本申请涉及显示器领域，特别涉及一种液晶面板和液晶面板数据线电压检测方法。

背景技术

现有的液晶面板的工艺架构，以Gate driver design(栅极驱动器设计)来划分，可以分为SOC(System on chip，即系统级芯片)驱动扫面线和阵列基板行驱动(Gatedriver on array，即阵列基板栅极驱动器)两种。就产品需求的角度来看，边框越小，也是大家所期望的，所以相较SOC版设计，阵列基板行驱动由于具有较小的边界宽度，可以省去栅极驱动器芯片，降低成本，所以带有阵列基板行驱动的液晶面板势必是未来的主流趋势。

液晶面板的COF(英文全称为Chip On Flex或Chip On Film，译为覆晶薄膜)分别为阵列基板的扫描线和数据线提供驱动信号。COF提供的驱动信号影响着液晶面板的显示效果。但是，现有的检测液晶面板数据线电压的设计较为复杂，影响液晶面板的生产效率。

发明内容

本申请的主要目的是提出一种液晶面板和液晶面板数据线电压检测方法，旨在简化液晶面板数据线电压检测的过程，提高液晶面板的生产良率。

为实现上述目的，本申请提出一种液晶面板，其包括：

有效显示区，所述有效显示区具有多根扫描线，以及与多根所述扫描线交叉设置的多根数据线；

阵列基板行驱动电路，设于所述有效显示区的侧部，用于给所述有效显示区的多根扫描线提供驱动信号；以及

测试垫片，所述测试垫片与多根所述数据线中的任一待测数据线电性连接，用于在cell制程中进行cell测试。

在一些实施例中，所述测试垫片与多根所述数据线中的任一待测数据线通过导线连接。

在一些实施例中，所述阵列基板行驱动电路具有多个与多根所述扫描线一一对应连接的阵列基板行驱动单元，所述待测数据线与任一所述扫描线电性连接，且所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端与所述测试垫片电性连接。

在一些实施例中，所述待测数据线与任一所述输出端对应连接的扫描线激光焊接，所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端与所述测试垫片通过导线连接。

在一些实施例中，所述液晶面板还具有外部引线连接区，所述测试垫片设于所述的外部引线连接区内。

在一些实施例中，所述阵列基板行驱动电路设于有效显示区的一侧，或者所述阵列基板行驱动电路设于有效显示区的相对两侧。

本申请还提出一种液晶面板，其包括：

有效显示区，所述有效显示区具有多根扫描线，以及与多根所述扫描线交叉设置的多根数据线；

阵列基板行驱动电路，设于所述有效显示区的侧部，用于给所述有效显示区的多根扫描线提供驱动信号；以及

测试垫片，所述测试垫片与所述多根所述数据线中的任一待测数据线通过导线连接，用于在cell制程中进行cell测试。

本申请还提出一种液晶面板，其包括：

有效显示区，所述有效显示区具有多根扫描线，以及与多根所述扫描线交叉设置的多根数据线；

阵列基板行驱动电路，设于所述有效显示区的侧部，用于给所述有效显示区的多根扫描线提供驱动信号，所述阵列基板行驱动电路具有多个与多根所述扫描线一一对应连接的阵列基板行驱动单元；以及

测试垫片，用于在cell制程中进行cell测试；

待测数据线与任一所述扫描线电性连接，且所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端与所述测试垫片电性连接。

本申请还提出一种液晶面板数据线电压检测方法，适用于前述的液晶面板，所述液晶面板数据线电压检测方法包括：

所述测试垫片与所述多根所述数据线中的任一待测数据线电性连接；

在cell制程的cell测试中，测试所述测试垫片的电压。

本申请还提出一种液晶面板数据线电压检测方法，适用于前述的液晶面板，所述液晶面板数据线电压检测方法包括：

将待测数据线与任一扫描线电性连接，且所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端与所述测试垫片电性连接；

在cell制程的cell测试中，测试所述测试垫片的电压。

本申请通过将待检测的数据线与测试垫片电性连接，并在cell制程的cell测试中直接测试测试垫片的电压，简化液晶面板数据线电压检测的过程，且提高液晶面板的生产良率。另外，由于cell测试是液晶面板制程中的必经步骤，在cell测试中进行液晶面板数据线电压检测无需额外的测试设备，节省成本，且检测效率更高。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本申请的液晶面板的实施例一的结构示意图；

图2为本申请的液晶面板的实施例一的又一结构示意图；

图3为图2中左阵列基板行驱动电路的放大示意图；

图4为本申请的液晶面板数据线电压检测方法的实施例二的流程图；

图5为本申请的液晶面板数据线电压检测方法的实施例三的流程图；

图6为典型的数据线电压波形的示意图。

本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明，本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

另外，在本申请中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。

液晶面板的COF(英文全称为Chip On Flex或Chip On Film，译为覆晶薄膜)分别为阵列基板的扫描线和数据线提供驱动信号。COF提供的驱动信号影响着液晶面板的显示效果。但是，现有的检测液晶面板数据线电压的设计较为复杂，影响液晶面板的生产效率。

为此，需要一种简化液晶面板数据线电压检测的过程，且提高液晶面板的生产良率的液晶面板数据线电压检测方法和液晶面板。鉴于此，下面通过几个实施例对本申请进行说明。

实施例一

请参照图1，本申请提出一种液晶面板100，其包括：有效显示区10、阵列基板行驱动电路、覆晶薄膜30以及测试垫片20。

其中，所述有效显示区10具有多根扫描线11，以及与多根所述扫描线11交叉设置的多根数据线12。具体地，多根所述扫描线11沿所述有效显示区10的纵向均匀排列，多根所述数据线12沿所述有效显示区10的横向均匀排列。

所述阵列基板行驱动电路设于所述有效显示区10的侧部，用于给所述有效显示区10的多根扫描线11提供驱动信号。所述阵列基板行驱动电路位于所述有效显示区10的横向方向的侧部。值得一提的是，在本实施例中，所述阵列基板行驱动电路可包括设置于所述有效显示区10的横向方向的一侧或者所述有效显示区10的横向方向的两侧的两种情形。当所述阵列基板行驱动电路包括设置于所述有效显示区10的横向方向的两侧时，左阵列基板行驱动电路(即图1/图2中的左GOA电路)和右阵列基板行驱动电路(即图1/图2中的右GOA电路)同时驱动有效显示区10内的扫描线11连接的薄膜晶体管。此时的液晶面板为双端阵列基板行驱动电路驱动的液晶面板。

所述覆晶薄膜30用于给所述有效显示区10的多根数据线12提供驱动信号。所述覆晶薄膜30设于所述有效显示区10纵向方向的一侧，用于给所述每一数据线12提供驱动信号，所述覆晶薄膜30上具有多个与所述数据线12数量对应相等的引脚。所述覆晶薄膜30根据实际情况的需要可设置成一个或多个，在此不做限定。

测试垫片20，所述测试垫片20与多根所述数据线12中的任一待测数据线12电性连接，用于在cell制程中进行cell测试。所述液晶面板还具有外部引线连接区40，所述测试垫片20设于所述的外部引线连接区40内。进一步地，所述测试垫片20与多根所述数据线12中的任一待测数据线12直接通过导线连接。在其他的实施例中，所述测试垫片20与多根所述数据线12中的任一待测数据线12可通过激光焊接实现电性连接。所述测试垫片20可设置为一个或多个，在此不进行限定。

需要说明的是，普通液晶面板的cell制程包括：阵列基板与彩色滤光片基板拼合，拼合后再切割或裂片成单个cell，再往阵列基板与彩色滤光片基板之间灌注液晶，最后进行cell测试。其中单个cell的阵列基板上设有用于测试的测试垫片20。

在液晶面板的阵列基板上设有用于测试的测试垫片20，通过将所述测试垫片20与多根所述数据线12(如图所述的数据线d1、......、dn)中的任一待测数据线12电性连接，在cell测试中只需直接测试所述测试垫片20的电压，即可得出待检测数据线12的输出电压。

本实施例通过将待检测的数据线12与测试垫片20电性连接，并在cell测试中直接测试测试垫片20的电压，简化了液晶面板数据线12电压检测的过程，且提高液晶面板的生产良率。另外，由于cell测试是液晶面板制程中的必经步骤，在cell测试中进行液晶面板数据线12电压检测无需额外的测试设备，节省成本，且检测效率更高。

上述介绍的是所述测试垫片20与多根所述数据线12中的任一待测数据线12直接通过导线连接来检测数据线12电压的实施方式。下面介绍在一些实施例中，所述测试垫片20与多根所述数据线12中的任一待测数据线12通过间接连接实现检测数据线12电压的实施方式。

请参照图2和图3，所述阵列基板行驱动电路具有多个与多根所述扫描线11一一对应连接的阵列基板行驱动单元(即图3中的GOA单元)，且多个阵列基板行驱动单元以级联的方式电性连接，每一多个阵列基板行驱动单元具有输出端，且多个所述阵列基板行驱动单元的输出端与多根所述扫描线11之间是一一对应的关系。特别地，所述待测数据线12与任一所述扫描线11电性连接，且所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端与所述测试垫片20电性连接。

具体地，所述待测数据线12与任一扫描线11激光焊接，当然这里也可采用其他的电性连接方式，例如氩弧焊接，等离子弧焊以及电子束焊等。所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端与所述测试垫片20通过导线连接。当然这里也可采用其他的电性连接方式，例如氩弧焊接，等离子弧焊以及电子束焊等。

请参照图3，图3表示为图2中左阵列基板行驱动电路的放大示意图。由于所述阵列基板行驱动电路20包括多个沿所述纵向设置且依次级联的阵列基板行驱动单元(即图3中的GOA单元)，每一阵列基板行驱动单元的输出端与有效显示区10对应的扫描线11相连。即图中的每一阵列基板行驱动单元的输出端(g1、g2、...gn)与有效显示区10对应的扫描线11相连。除首级阵列基板行驱动单元(即位于阵列基板行驱动电路中最上端的阵列基板行驱动单元，即图3中的首级GOA单元)外，每一所述阵列基板行驱动单元的输入端与前一级阵列基板行驱动单元的输出端连接，且每一阵列基板行驱动单元的输出端与有效显示区10对应的扫描线11连接。

由于阵列基板行驱动单元具有类似移位暂存器的功能，待测数据线12的电压通过电性连接(即激光焊接)的扫描线11传输到阵列基板行驱动电路中。在级联的阵列基板行驱动单元中，所述待测数据线12的电压沿着级联的阵列基板行驱动单元往下“传递”，直至待测数据线12的电压从最后一级阵列基板行驱动单元(即位于阵列基板行驱动电路中最下端的阵列基板行驱动单元，即图3中的最后一级GOA单元)的输出端gn输出，又由于所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端gn与所述测试垫片20电性连接，在cell测试中只需直接测试所述测试垫片20的电压，即可得出待检测数据线12的输出电压。

本实施例中所述测试垫片20与多根所述数据线12中的任一待测数据线12通过阵列基板行驱动电路实现间接连接，并在cell制程的cell测试中直接测试测试垫片20的电压，简化了液晶面板数据线12电压检测的过程，且提高液晶面板的生产良率。另外，由于cell测试是液晶面板制程中的必经步骤，在cell测试中进行液晶面板数据线12电压检测无需额外的测试设备，节省成本，且检测效率更高。

实施例二

本实施例建立在实施例一的基础之上，下面仅对本实施例与实施例一的区别部分进行描述，与实施例一相同的部分进行省略或略写。

请参照图1和图4，本申请还提出一种液晶面板数据线电压检测方法，适用于前述的液晶面板，所述液晶面板数据线电压检测方法包括：

S10、所述测试垫片与所述多根所述数据线中的任一待测数据线电性连接；

具体地，所述测试垫片20与多根所述数据线12(如图所述的数据线d1、......、dn)中的任一待测数据线12直接通过导线连接。请参照图1，若待测的数据线12为数据线d1，可将数据线d1与所述测试垫片20电性连接。

可以理解的，在其他的实施例中，所述测试垫片20与多根所述数据线12中的任一待测数据线12可通过激光焊接实现电性连接。

S20、在cell制程的cell测试中，测试所述测试垫片的电压。

在液晶面板的阵列基板上设有用于测试的测试垫片20，通过将所述测试垫片20与多根所述数据线12中的任一待测数据线12激光焊接，在cell测试中只需直接测试所述测试垫片20的电压，即可得出待检测数据线12的输出电压。具体的，请参照图6，图6为典型的数据线电压波形的示意图。通过数据线12输出电压波形的高电平电压Vgh、低电平电压Vgl，上升时间Trise，下降时间Tfalling可得知数据线12电压波形的正常与否。从而可以判断从覆晶薄膜30输入到数据线12的电压是否存在异常，以及评价液晶面板的显示效果。

本实施例通过将待检测的数据线12与测试垫片20电性连接，并在cell制程的cell测试中直接测试测试垫片20的电压，简化了液晶面板数据线12电压检测的过程，且提高液晶面板的生产良率。另外，由于cell测试是液晶面板制程中的必经步骤，在cell测试中进行液晶面板数据线12电压检测无需额外的测试设备，节省成本，且检测效率更高。

实施例三

本实施例建立在实施例一的基础之上，下面仅对本实施例与实施例一的区别部分进行描述，与实施例一相同的部分进行省略或略写。

请参照图2，图3和图5，本申请还提出一种液晶面板数据线电压检测方法，适用于前述的液晶面板，所述液晶面板数据线电压检测方法包括：

S30、将待测数据线与任一扫描线电性连接，且所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端与所述测试垫片电性连接；

具体地，将所述待测数据线12与任一扫描线11激光焊接，当然这里也可采用其他的电性连接方式，例如氩弧焊接，等离子弧焊以及电子束焊等。所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端与所述测试垫片20通过导线连接。当然这里也可采用其他的电性连接方式，例如氩弧焊接，等离子弧焊以及电子束焊等。

请参照图2和图3，将待测数据线12与任一扫描线11激光焊接，例如可以将待测数据线d1与所述阵列基板行驱动电路的输出端g1对应连接的扫描线11电性连接。再将所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端gn与所述测试垫片20通过导线连接。

S40、在cell制程的cell测试中，测试所述测试垫片的电压。

由于待测数据线d1与任一扫描线11电性连接，即待测数据线12与任一扫描线11电性连接发生短路，待测数据线12的电压通过电性连接(即激光焊接)的扫描线11传输到阵列基板行驱动电路中，在级联的阵列基板行驱动单元中，所述待测数据线12的电压沿着级联的阵列基板行驱动单元往下“传递”，直至待测数据线12的电压从最后一级阵列基板行驱动单元的输出端gn输出，又由于所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端gn与所述测试垫片20电性连接，在cell测试中只需直接测试所述测试垫片20的电压，即可得出待检测数据线12的输出电压。同理，本实施例也可通过数据线12输出电压波形的高电平电压Vgh、低电平电压Vgl，上升时间Trise，下降时间Tfalling可得知数据线12电压波形的正常与否。从而可以判断从覆晶薄膜30输入到数据线12的电压是否存在异常。

本实施例中所述测试垫片20与多根所述数据线12中的任一待测数据线12通过阵列基板行驱动电路实现间接连接，并在cell制程的cell测试中直接测试测试垫片20的电压，简化了液晶面板数据线12电压检测的过程，且提高液晶面板的生产良率。另外，由于cell测试是液晶面板制程中的必经步骤，在cell测试中进行液晶面板数据线12电压检测无需额外的测试设备，节省成本，且检测效率更高。

以上所述仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是在本申请的发明构思下，利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种液晶面板，其特征在于，其包括：

有效显示区，所述有效显示区具有多根扫描线，以及与多根所述扫描线交叉设置的多根数据线；

阵列基板行驱动电路，设于所述有效显示区的侧部，用于给所述有效显示区的多根扫描线提供驱动信号；以及

测试垫片，所述测试垫片与多根所述数据线中的任一待测数据线电性连接，用于在cell制程中进行cell测试。

2.如权利要求1所述的液晶面板，其特征在于，所述测试垫片与多根所述数据线中的任一待测数据线通过导线连接。

3.如权利要求1所述的液晶面板，其特征在于，所述阵列基板行驱动电路具有多个与多根所述扫描线一一对应连接的阵列基板行驱动单元，所述待测数据线与任一所述扫描线电性连接，且所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端与所述测试垫片电性连接。

4.如权利要求3所述的液晶面板，其特征在于，所述待测数据线与任一所述输出端对应连接的扫描线激光焊接，所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端与所述测试垫片通过导线连接。

5.如权利要求1所述的液晶面板，其特征在于，所述液晶面板还具有外部引线连接区，所述测试垫片设于所述的外部引线连接区内。

6.如权利要求3所述的液晶面板，其特征在于，所述阵列基板行驱动电路设于有效显示区的一侧，或者所述阵列基板行驱动电路设于有效显示区的相对两侧。

7.一种液晶面板，其特征在于，其包括：

有效显示区，所述有效显示区具有多根扫描线，以及与多根所述扫描线交叉设置的多根数据线；

阵列基板行驱动电路，设于所述有效显示区的侧部，用于给所述有效显示区的多根扫描线提供驱动信号；以及

测试垫片，所述测试垫片与所述多根所述数据线中的任一待测数据线通过导线连接，用于在cell制程中进行cell测试。

8.一种液晶面板，其特征在于，其包括：

有效显示区，所述有效显示区具有多根扫描线，以及与多根所述扫描线交叉设置的多根数据线；

阵列基板行驱动电路，设于所述有效显示区的侧部，用于给所述有效显示区的多根扫描线提供驱动信号，所述阵列基板行驱动电路具有多个与多根所述扫描线一一对应连接的阵列基板行驱动单元；以及

测试垫片，用于在cell制程中进行cell测试；

待测数据线与任一所述扫描线电性连接，且所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端与所述测试垫片电性连接。

9.一种液晶面板数据线电压检测方法，其特征在于，适用于权利要求1至8中任一项所述的液晶面板，所述液晶面板数据线电压检测方法包括：

所述测试垫片与所述多根所述数据线中的任一待测数据线电性连接；

在cell制程的cell测试中，测试所述测试垫片的电压。

10.一种液晶面板数据线电压检测方法，其特征在于，适用于权利要求1至8中任一项所述的液晶面板，所述液晶面板数据线电压检测方法包括：

将待测数据线与任一扫描线电性连接，且所述阵列基板行驱动电路中最后一级阵列基板行驱动单元的输出端与所述测试垫片电性连接；

在cell制程的cell测试中，测试所述测试垫片的电压。

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