CN112198685A - Coa基板检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种COA基板检测方法及装置。COA基板检测方法，包括：将每个像素区域划分为多个子区域，并获取各像素区域中各子区域的灰阶值，其中，多个子区域至少包括一个与数据线对应的第一区域；根据各像素区域包括的各子区域的灰阶值，确定子区域对应的像素区域是否存在缺陷。本发明易于检测出像素区域中的缺陷，检测较为可靠。

Description

COA基板检测方法及装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种COA基板检测方法及装置。

背景技术

COA(Color Filter on Array)基板，是液晶显示器制造领域将彩色滤光片与阵列(Array)基板集成在一起的技术，即将彩色色阻涂布于已完成的阵列(Array)上形成彩色滤光层，可以改善传统彩色滤光片开口率低的问题。

目前，在COA基板的制程中、彩色滤光片形成后需要对COA基板进行检测，测试色阻是否涂布正确、是否有断线、异物附着等缺陷。具体的，COA基板上的多个纵横排布的扫描线和多个数据线线将AA区域划分为多个像素区域，通过CCD等扫描COA基板上的各个像素区域并得到灰阶图像，对AA区中各像素区域的灰阶图像与周围的像素区域的灰阶图像进行比对，以此得到各像素区域的缺陷信息。

然而，在彩色光阻的涂布制程中，在扫描出的灰阶图像中，各色阻边缘处、由对位精度的偏差浮动引起的灰阶差异比其它种类、其它位置的缺陷的灰阶差异大，导致该色阻对位精度的偏差浮动引起的缺陷能够被轻易检出，从而影响其它缺陷的检出，导致检测过程可靠性较差。

发明内容

本发明提供一种COA基板检测方法及装置，易于检测出像素区域中的缺陷，检测较为可靠。

本发明的第一方面提供一种COA基板检测方法，COA基板具有由多条扫描线和数据线定义出的多个像素区域，COA基板上的多个色阻单元与多个像素区域一一对应，方法包括：将每个像素区域划分为多个子区域，并获取各像素区域中各子区域的灰阶值，其中，多个子区域至少包括一个与数据线对应的第一区域；根据各像素区域包括的各子区域的灰阶值，确定子区域对应的像素区域是否存在缺陷。

在一种可能的实施方式中，根据各像素区域包括的各子区域的灰阶值确定各子区域是否存在缺陷，具体包括，根据各相邻像素区域中对应子区域的灰阶值的差值和预设阈值，确定各子区域是否存在缺陷，其中，预设阈值由各相邻像素区域中对应子区域的灰阶值决定；每相邻像素区域所包括的子区域中，第一区域的灰阶值对应的预设阈值大于其它子区域的灰阶值对应的预设阈值。

在一种可能的实施方式中，获取各像素区域中各子区域的灰阶值具体包括，获取第一像素区域、第二像素区域以及第三像素区域中当前子区域的灰阶值，其中，各相邻像素区域局包括相邻的第一像素区域、第二像素区域以及第三像素区域。

在一种可能的实施方式中，根据各相邻像素区域中对应子区域的灰阶值的差值和预设阈值，确定各子区域是否存在缺陷，具体包括，确定第一像素区域和第二像素区域的当前子区域的灰阶值的第一差值；确定第二像素区域和第三像素区域的当前子区域的灰阶值的第二差值；若第一差值大于第一预设阈值，且第二差值大于第二预设阈值，则确定第二像素区域的当前子区域存在缺陷；其中，预设阈值包括：与第一像素区域和第二像素区域的当前子区域的灰阶值对应的第一预设阈值，与第二像素区域和第三像素区域的当前子区域的灰阶值对应的第二预设阈值；将当前子区域的下一个子区域为新的当前子区域，并重复上述步骤，直至所有像素区域中的子区域均确定完毕。

在一种可能的实施方式中，第一像素区域和第二像素区域在第一方向上相邻，第二像素区域和第三像素区域在第二方向上相邻，其中，第一方向沿着数据线的长度方向延伸，第二方向沿着扫描线的方向延伸。

在一种可能的实施方式中，子像素区域由第一区域和第二区域构成，第二区域是像素区域中除了第一区域以外的区域。

在一种可能的实施方式中，根据第一像素区域和第二像素区域的当前子区域的灰阶值的平均值确定第一预设阈值；根据第二像素区域和第三像素区域的当前子区域的灰阶值的平均值确定第二预设阈值。

在一种可能的实施方式中，获取各像素区域中各子区域的灰阶值具体包括，扫描COA基板获取到影像；根据COA基板的影像获取各像素区域中各子区域的灰阶值。

在一种可能的实施方式中，多个子区域还包括与扫描线对应的区域、与COA基板上的像素电极对应的区域以及与COA基板上与薄膜晶体管对应的区域。

本发明第二方面提供一种COA基板检测装置，COA基板具有由多条扫描线和数据线定义出的多个像素区域，COA基板上的多个色阻单元与多个像素区域一一对应，装置包括：获取模块，用于将每个像素区域划分为多个子区域，并获取各像素区域中各子区域的灰阶值，其中，多个子区域至少包括一个与数据线对应的第一区域；以及处理模块，用于根据各像素区域包括的各子区域的灰阶值，确定子区域对应的像素区域是否存在缺陷。

本发明的COA基板检测方法及装置，COA基板具有由多条扫描线和数据线定义出的多个像素区域，COA基板上的多个色阻单元与多个像素区域一一对应，方法包括：将每个像素区域划分为多个子区域，并获取各像素区域中各子区域的灰阶值，其中，多个子区域至少包括一个与数据线对应的第一区域；根据各像素区域包括的各子区域的灰阶值，确定子区域对应的像素区域是否存在缺陷。在上述方案中，将每个像素区域划分为多个子区域，多个所述子区域又包括与数据线对应的第一区域，而与数据线对应的第一区域对应于色阻单元的边缘处，与其它位置的子区域相比，较容易因为色阻偏移不均缺陷而导致灰阶值发生较大的浮动。在缺陷检测的过程中，将灰阶差异浮动较为明显的第一区域与除了第一区域的其它子区域分开进行检测，在保证可以检测出第一区域的存在的缺陷的同时，可以避免该第一区域的检测对其它缺陷的检出造成的影响。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的COA基板的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的COA基板中第一区域的剖视图；

图3是本发明实施例提供的COA基板中第一区域的另一种结构的剖视图；

图4是本发明实施例提供的COA基板中第一区域的再一种结构的剖视图；

图5是本发明实施例提供的COA基板检测方法的流程示意图；

图6是本发明实施例提供的COA基板的详细结构示意图；

图7是本发明实施例提供的COA基板的检测方法中的预设阈值的确定方法的示意图；

图8是本发明实施例提供的COA基板的检测方法的另一流程示意图；

图9是本发明实施例提供的COA基板的检测方法中一个像素单元的结构示意图；

图10是本发明实施例提供的COA基板的检测装置的框图。

附图标记说明：

100-阵列基板；200-COA基板检测装置；201-获取模块；202-处理模块；300-COA基板；

1-色阻单元；11-扫描线；12-数据线；2-像素区域；21-第一像素区域；22-第二像素区域；23-第三像素区域；24-第四像素区域；25-第五像素区域；26-像素电极；31-第一区域；32-第二区域；33-第三区域；34-第四区域。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例

COA(Color-filter on Array)技术是一种将色阻单元直接制作在阵列基板上的一种集成技术，能够有效解决液晶显示装置对盒工艺中因对位偏差造成的漏光等问题，并能显著提升显示开口率，在面板高解析度高频率的前提下，COA技术有其不可替代的优势。

图1是本发明实施例提供的COA基板的结构示意图，图2是本发明实施例提供的COA基板中第一区域的剖视图，图3是本发明实施例提供的COA基板中第一区域的另一种结构的剖视图，图4是本发明实施例提供的COA基板中第一区域的再一种结构的剖视图。

本申请实施例中，参照图1，本申请实施例的COA基板300包括阵列基板100，以及涂布在阵列基板100上的R、G、B色阻单元1。其中，色阻单元1以虚线表示，并且COA基板300具有由多条扫描线11和数据线12定义出的多个像素区域2，COA基板上的多个色阻单元1与多个像素区域2一一对应，在图1中，像素区域2以点划线框表示。

应当理解的是，实际的COA基板上具有多个像素区域2，在图1中，以三个像素区域2为例进行说明，对于像素区域2的数量是其它的情况与此类似，此处不再赘述。

为了明确像素区域2中，与数据线12对应的第一区域31的色阻偏差缺陷情况，下面以剖视图表示第一区域31的结构。

参照图2、图3、图4，以虚线表示第一区域31，图2中表示出的是R色阻单元和G色阻单元的涂布制程中，二者之间的覆盖值为理论覆盖设计值时的情况。图3中表示出的是R色阻单元和G色阻单元的涂布制程中，因为对位精度偏差的浮动较大，导致覆盖值小于理论覆盖设计值时的情况，用CCD扫描COA基板而得到的灰阶图像中，第一区域31中的灰阶差异比较大，容易被检测到。若以整个像素区域2为光学检测设定的最小比较单元，则有可能会影响到其它缺陷的检测。

图4中表示出的是R色阻单元1和G色阻单元1的涂布制程中，因为对位精度偏差的浮动较大，导致覆盖值大于理论覆盖设计值时的情况，以光学设备CCD扫描COA基板而得到的灰阶图像中，第一区域31中的灰阶差异比较大，容易被检测到。若以整个像素区域2为灰阶比较的最小单元，则有可能会影响到其它缺陷的检测。

为了解决第一区域31的灰阶对比明显而对其它区域的缺陷检测造成影响的问题。本申请实施例中，将产品的像素单元划分为多个子区域，且多个子区域至少包括一个与数据线12对应的第一区域31，然后对第一区域31和除了第一区域31以外的其它子区域分别进行判断。使第一区域31和其它子区域的判定互不影响，因而可以有效的对产品进行有效地异常拦检。

图5是本发明实施例提供的COA基板检测方法的流程示意图，图6是本发明实施例提供的COA基板的详细结构示意图。

参照图5，本申请的COA基板检测方法包括：

S10、将每个像素区域划分为多个子区域，并获取各像素区域中各子区域的灰阶值，其中，多个子区域至少包括一个与数据线对应的第一区域。

S20、根据各像素区域包括的各子区域的灰阶值，确定子区域对应的像素区域是否存在缺陷。换言之，是将各像素区域包括的各子区域的灰阶值进行比较，确定子区域对应的像素区域是否存在缺陷。

在上述方案中，将每个像素区域2划分为多个子区域，多个所述子区域又包括与数据线12对应的第一区域31，而与数据线12对应的第一区域31对应于色阻单元1的边缘处，与其它位置的子区域相比，较容易因为色阻偏移不均缺陷而导致灰阶值差异较大。

需要说明的是，在本申请中，色阻偏移不均缺陷是指因为色阻偏移引起的颜色不均缺陷。

进一步的，在缺陷检测的过程中，将因颜色不均引起的灰阶差异浮动较为明显的第一区域31与除了第一区域31的其它子区域分开进行检测，在保证可以检测出第一区域31的存在的缺陷的同时，可以避免该第一区域31的检测对其它缺陷的检出造成的影响。

本申请实施例中，上述步骤S10中，获取各像素区域2中各子区域的灰阶值具体包括，

扫描COA基板300并获得影像，即扫描COA基板300得到灰阶图像。这是由于CCD器件的测量区域会在一定范围内，为了使尺寸有限的CCD器件对整个COA基板都进行拍摄，可以选择使CCD器件沿着像素区域的排列方向上移动扫描，以获取所有像素区域的灰阶图像。

根据COA基板300的影像获取各像素区域2中各子区域的灰阶值。

例如，可以用CCD扫描COA基板上的各个像素区域而得到灰阶图像，再根据COA基板的灰阶图像获取各像素区域2中各子区域的灰阶值。

本申请实施例中，为了便于说明，图6中省略了色阻单元1。参照图6，以COA基板包括八个像素区域2，每个像素区域2由第一区域31和第二区域32构成为例来进行说明，对于COA基板上的像素区域2的数量为多个，每个像素区域2被分为更多个子区域的情况与此类似，此处不再赘述。

本申请实施例中，根据各像素区域2包括的各子区域的灰阶值确定各子区域是否存在缺陷，具体包括，

根据各相邻像素区域2中对应子区域的灰阶值的差值和预设阈值，确定各子区域是否存在缺陷，其中，预设阈值由各相邻像素区域2中对应子区域的灰阶值决定；

并且每相邻像素区域2所包括的子区域中，第一区域31的灰阶值对应的预设阈值大于其它子区域的灰阶值对应的预设阈值。

以其中两组相邻的像素区域2的比较为例来说明，图6所示的COA基板上的像素区域2包括第一像素区域21、第二像素区域22、第三像素区域23，其中，第一像素区域21和第二像素区域22相邻，第二像素区域22和第三像素区域23相邻，以对第一像素区域21和第二像素区域22中，第一区域31的灰阶值进行比较来说明。对于第二像素区域22和第三像素区域23的灰阶值判断与此类似，此不再赘述。

首先以CCD扫描COA基板上的各像素区域2并得到灰阶图像，并获得第一像素区域21和第二像素区域22中第一区域31的灰阶值。并且根据这两个第一区域31的灰阶值的差值和预设阈值比较。

本申请实施例中，要对第一像素区域21和第二像素区域22中的第一区域31进行检测，也要对第一像素区域21和第二像素区域22中的第二区域32进行检测。需要注意的是，在对第一区域31进行检测的过程中的两个灰阶值对应的预设阈值，要大于第二区域32的两个灰阶值对应的预设阈值。

这是由于，第一区域31对应的是灰阶差异浮动较为明显的区域，该区域的缺陷较为容易被捕捉到，为了减小该区域的检出率，避免检出可以忽略的缺陷，将该区域的检出条件设置得较宽，即将第一区域31对应的预设阈值设置得较大。

第二区域32对应的是灰阶差异浮动略为轻微的区域，在该区域有异物附着、断线等缺陷时，反映到灰阶图像上的灰阶差异并不明显，为了使该区域的缺陷易于被捕捉到，将该区域的检出条件设置得较严，即将第二区域32对应的预设阈值设置得较小。

当然，在像素区域2中被划分为更多个子区域的情况下，相应预设阈值的设置与此类似，可以按照对应子区域灰阶浮动越明显，越容易被捕捉到，预设阈值越大的规律设置。此处不再赘述。

像上述这样，对于像素区域2中包括的各子区域，根据是否易于反映到灰阶值的情况区别对待，能够有效防止各区域间的相互影响和干扰。

本申请实施例中，根据第一像素区域21和第二像素区域22的当前子区域的灰阶值的平均值确定第一预设阈值。并且，根据第二像素区域22和第三像素区域23的当前子区域的灰阶值的平均值确定第二预设阈值。

例如第一像素区域21的第一区域31的灰阶值为55，第二像素区域22的第一区域31的灰阶值为25。则在比较第一像素的第一区域31的灰阶值与第二像素区域22的第一区域31的灰阶值时，根据预设的映射函数来确定第一区域31的预设值。

图7是本发明实施例提供的COA基板的检测方法中的预设阈值的确定方法的示意图，参照图7的坐标轴中示出的是预设映射函数的函数曲线图。其中，横轴为灰阶值，纵轴为预设阈值。灰阶值55和25的平均值为40，则与40相对应的预设阈值为13，由于灰阶值55和灰阶值25的差值为30，该值大于预设阈值13，因此，判定为第一像素区域21和第二像素区域22的第一区域31中存在发生缺陷的可能。

用相同方法比较第二像素区域22和第三像素区域23，若第二像素区域22和第三像素区域23的第一区域31的灰阶值差值也大于相对应的预设阈值，则判定为第二像素区域22和第三像素区域23的第一区域31中存在发生缺陷的可能。

综上，第二像素区域22存在缺陷。

可以理解的是，在第二像素区域22和第三像素区域23的第一区域31的灰阶值差值小于或等于相对应的预设阈值的情况下，判定为第二像素区域22的第一区域31中不存在缺陷。

需要注意的是，在一个所述像素区域2中包括的多个子区域中，若至少一个子区域存在缺陷，则确定该像素区域2中存在缺陷。

参照图6，如前所述，多个子区域可以包括第一像素区域21、第二像素区域22、第三像素区域23，其中，第一像素区域21和第二像素区域22在第一方向P上相邻，第二像素区域22和第三像素区域23在第二方向Q上相邻，其中，第一方向沿着数据线12的长度方向延伸，第二方向沿着扫描线11的长度方向延伸。

图8是本发明实施例提供的COA基板的检测方法的另一流程示意图。参照图8，本申请实施例中，根据各相邻像素区域2中对应子区域的灰阶值的差值和预设阈值，确定各子区域是否存在缺陷，具体包括，

S31、获取第一像素区域、第二像素区域以及第三像素区域中当前子区域的灰阶值，其中，各相邻像素区域局包括第一像素区域、第二像素区域以及第三像素区域，且第一像素区域和第二像素区域相邻，第二像素区域和第三像素区域相邻。

在上述步骤中，当前子区域是指当下正在进行检测的子区域，例如，先以对第一区域31的检测为例进行说明，获取第一像素区域21、第二像素区域22以及第三像素区域23中当第一区域31的灰阶值。

需要注意的是，此处的第一像素区域21位于第二像素区域22上侧，第三像素区域23位于第二像素区域22左侧为例进行说明，这三个像素区域2也可以为其他排列方式，只要第二像素区域22与第三像素区域23以及第一像素区域21相邻即可。此时，可以通过本方法确定出第二像素区域22的各子区域的缺陷情况。

如上述所述，利用CCD扫描COA基板的各个像素区域，并得到灰阶图像，以获取第一像素区域21、第二像素区域22以及第三像素区域23中第一区域31的灰阶值。

S32、确定第一像素区域和第二像素区域的当前子区域的灰阶值的第一差值；并确定第二像素区域和第三像素区域的当前子区域的灰阶值的第二差值；

S33、若第一差值大于第一预设阈值，且第二差值大于第二预设阈值，则确定第二像素区域的当前子区域存在缺陷；其中，预设阈值包括：与第一像素区域和第二像素区域的当前子区域的灰阶值对应的第一预设阈值，与第二像素区域和第三像素区域的当前子区域的灰阶值对应的第二预设阈值。

根据前述的第一像素区域21和第二像素区域22的第一区域31中灰阶值的平均值可以确定出，第一像素区域21和第二像素区域22的第一区域31对应的第一预设阈值。

同样地，根据前述的第二像素区域22和第三像素区域23的第一区域31中灰阶值的平均值可以确定出，第二像素区域22和第三像素区域23的第一区域31对应的第二预设阈值。

若第一差值大于第一预设阈值，且第二差值大于第二预设阈值，则确定第二像素区域22的第一区域31存在缺陷。

若第一差值大于第一预设阈值，且第二差值小于或等于第二预设阈值，则确定第二像素区域22的第一区域31不存在缺陷

若第一差值小于或等于第一预设阈值，则判定为第二像素区域22的第一区域31不存在缺陷。

再将第一区域31确定完毕后，可以与上述类似地进行下一个子区域，例如第二区域32的检测。

例如，执行步骤S34，将当第一区域31的下一个子区域、例如第二区域32作为新的当前子区域，并重复上述步骤S31-S34，直至所有像素区域2中的子区域均确定完毕。

如上所述当第二像素区域22的所有子区域都判定完毕后，继续进行与第二像素区域22的下一个像素区域2的检测。例如以第四像素区域24作为目标像素区域2，以第四像素区域24上方的第五像素区域25和第四像素区域24左侧的第二像素区域22为辅，进行第四像素区域24的缺陷判断。如此重复，直至所有的像素区域2均判定完毕。

图9是本发明实施例提供的COA基板检测方法中一个像素单元的结构示意图。

本申请实施例中，参照图9，在一个像素区域2被划分为更多子区域的情况中，多个子区域还可以包括与扫描线11对应的第三区域33、以及与COA基板上的像素电极26对应的第四区域34。对于各子区域的检测方法与上述第一区域31和第二区域32的检测方法类似，此处不再赘述。

本申请实施例中，将像素区域2划分为多个子区域，同时通过对与数据线12对应的第一区域31和其它子区域分别进行不同的参数逻辑设定，针对彩色滤光片与阵列基板100集成在一起的产品设计，能有效的对产品进行异常拦检，检出率从10％提升到75％，设备Run货时间可节省约10秒/片基板。避免造成过多的产品报废和协助提高产品的良率，达到监控的目的，同时也能反映出产品工艺实际改善的效果。

本实施例中，COA基板检测方法包括：将每个像素区域划分为多个子区域，并获取各像素区域中各子区域的灰阶值，其中，多个子区域至少包括一个与数据线对应的第一区域；根据各像素区域包括的各子区域的灰阶值，确定子区域对应的像素区域是否存在缺陷。在上述方案中，将每个像素区域划分为多个子区域，多个所述子区域又包括与数据线对应的第一区域，而与数据线对应的第一区域对应于色阻单元的边缘处，与其它位置的子区域相比，较容易因为色阻偏移引起颜色不均缺陷而导致灰阶值发生较大的浮动。在缺陷检测的过程中，将灰阶差异浮动较为明显的第一区域与除了第一区域的其它子区域分开进行灰阶判定检测，在保证可以检测出第一区域的存在的缺陷的同时，可以避免该第一区域的检测对其它缺陷的检出造成的影响。

图10是本发明实施例提供的COA基板的检测装置的框图。参照图10，本申请实施例还提供一种COA基板检测装置200，该装置200是在上述检测方法的基础上提供的，本申请实施例中的COA基板检测装置200，能够执行前述的COA基板检测方法。

该装置200包括：

获取模块21，用于将每个像素区域划分为多个子区域，并获取各像素区域中各子区域的灰阶值，其中，多个子区域至少包括一个与数据线对应的第一区域；以及

处理模块202，用于根据各像素区域包括的各子区域的灰阶值，确定子区域对应的像素区域是否存在缺陷。

本申请实施例中，处理模块202还用于根据各相邻的像素区域中对应子区域的灰阶值的差值和预设阈值，确定各子区域是否存在缺陷，其中，预设阈值由各相邻的像素区域中对应子区域的灰阶值决定；

每组相邻的像素区域所包括的子区域中，第一区域的灰阶值对应的预设阈值大于其它子区域的灰阶值对应的预设阈值。

获取模块201还用于获取第一像素区域、第二像素区域以及第三像素区域中当前子区域的灰阶值，其中，各相邻像素区域局包括相邻的第一像素区域、第二像素区域以及第三像素区域。

本申请实施例中，处理模块201还用于确定第一像素区域和第二像素区域的当前子区域的灰阶值的第一差值；

确定第二像素区域和第三像素区域的当前子区域的灰阶值的第二差值；

若第一差值大于第一预设阈值，且第二差值大于第二预设阈值，则确定第二像素区域的当前子区域存在缺陷；其中，预设阈值包括：与第一像素区域和第二像素区域的当前子区域的灰阶值对应的第一预设阈值，与第二像素区域和第三像素区域的当前子区域的灰阶值对应的第二预设阈值；

将当前子区域的下一个子区域为新的当前子区域，并重复上述步骤，直至所有像素区域中的子区域均确认完毕。

本申请实施例中，获取模块201还用于通过扫描COA基板上的各像素区域，并获得灰阶图像，并根据COA基板的灰阶图像获取各像素区域中各子区域的灰阶值。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种COA基板检测方法，其特征在于，所述COA基板具有由多条扫描线和数据线定义出的多个像素区域，所述COA基板上的多个色阻单元与多个所述像素区域一一对应，所述方法包括：

将每个所述像素区域划分为多个子区域，并获取各所述像素区域中各子区域的灰阶值，其中，所述多个子区域至少包括一个与所述数据线对应的第一区域；

根据各所述像素区域包括的各子区域的灰阶值，确定所述子区域对应的像素区域是否存在缺陷。

2.根据权利要求1所述的COA基板检测方法，其特征在于，所述根据各所述像素区域包括的各子区域的灰阶值确定各子区域是否存在缺陷，具体包括，

根据各相邻所述像素区域中对应子区域的所述灰阶值的差值和预设阈值，确定各所述子区域是否存在缺陷，其中，所述预设阈值由各相邻所述像素区域中对应子区域的所述灰阶值决定；

每相邻所述像素区域所包括的子区域中，所述第一区域的灰阶值对应的预设阈值大于其它所述子区域的灰阶值对应的预设阈值。

3.根据权利要求2所述的COA基板检测方法，其特征在于，所述获取各所述像素区域中各子区域的灰阶值，具体包括，

获取第一像素区域、第二像素区域以及第三像素区域中当前所述子区域的灰阶值，其中，所述各相邻像素区域局包括相邻的第一像素区域、第二像素区域以及第三像素区域。

4.根据权利要求3所述的COA基板检测方法，其特征在于，根据各相邻所述像素区域中对应子区域的所述灰阶值的差值和预设阈值，确定各所述子区域是否存在缺陷，具体包括，

确定所述第一像素区域和所述第二像素区域的当前所述子区域的灰阶值的第一差值；

确定所述第二像素区域和所述第三像素区域的当前所述子区域的灰阶值的第二差值；

若所述第一差值大于第一预设阈值，且所述第二差值大于第二预设阈值，则确定所述第二像素区域的当前所述子区域存在缺陷；其中，所述预设阈值包括：与所述第一像素区域和所述第二像素区域的当前所述子区域的灰阶值对应的第一预设阈值，与所述第二像素区域和所述第三像素区域的当前所述子区域的灰阶值对应的第二预设阈值；

将所述当前子区域的下一个子区域为新的当前子区域，并重复上述步骤，直至所有所述像素区域中的所述子区域均确定完毕。

5.根据权利要求4所述的COA基板检测方法，其特征在于，根据所述第一像素区域和所述第二像素区域的当前所述子区域的灰阶值的平均值确定所述第一预设阈值；

根据所述第二像素区域和所述第三像素区域的当前所述子区域的灰阶值的平均值确定所述第二预设阈值。

6.根据权利要求3所述的COA基板检测方法，其特征在于，

所述第一像素区域和所述第二像素区域在第一方向上相邻，所述第二像素区域和所述第三像素区域在第二方向上相邻，其中，所述第一方向沿着所述数据线的长度方向延伸，所述第二方向沿着所述扫描线的长度方向延伸。

7.根据权利要求1-6任一项所述的COA基板检测方法，其特征在于，所述子像素区域由所述第一区域和所述第二区域构成，所述第二区域是所述像素区域中除了所述第一区域以外的区域。

8.根据权利要求1-6任一项所述的COA基板检测方法，其特征在于，所述获取各所述像素区域中各子区域的灰阶值具体包括，

扫描所述COA基板并获得影像；

根据所述COA基板的影像获取各所述像素区域中各子区域的灰阶值。

9.根据权利要求1-6任一项所述的COA基板检测方法，其特征在于，多个所述子区域还包括与所述扫描线对应的区域、与所述COA基板上的像素电极对应的区域以及与所述COA基板上与薄膜晶体管对应的区域。

10.一种COA基板检测装置，其特征在于，所述COA基板具有由多条扫描线和数据线定义出的多个像素区域，所述COA基板上的多个色阻单元与多个所述像素区域一一对应，所述装置包括：

获取模块，用于将每个所述像素区域划分为多个子区域，并获取各所述像素区域中各子区域的灰阶值，其中，所述多个子区域至少包括一个与所述数据线对应的第一区域；以及

处理模块，用于根据各所述像素区域包括的各子区域的灰阶值，确定所述子区域对应的像素区域是否存在缺陷。

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