CN111781803B - 量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法 - Google Patents
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- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 title claims abstract description 192
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 101
- 238000000059 patterning Methods 0.000 title claims abstract description 52
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 claims abstract description 35
- 239000012454 non-polar solvent Substances 0.000 claims abstract description 22
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 18
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Natural products CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 15
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 11
- WGQTUDZUXGCWHU-YPCIICBESA-N (3E,5E)-3,5-bis[(4-azido-2,3,5,6-tetrafluorophenyl)methylidene]-1-methylpiperidin-4-one Chemical compound C1N(C)C\C(=C/c2c(c(F)c(N=[N+]=[N-])c(F)c2F)F)C(=O)\C1=C\c1c(F)c(F)c(N=[N+]=[N-])c(F)c1F WGQTUDZUXGCWHU-YPCIICBESA-N 0.000 claims description 10
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 10
- IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N N-Heptane Chemical compound CCCCCCC IMNFDUFMRHMDMM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910007709 ZnTe Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 229910004613 CdTe Inorganic materials 0.000 claims description 6
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N chlorobenzene Chemical compound ClC1=CC=CC=C1 MVPPADPHJFYWMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N indium antimonide Chemical compound [Sb]#[In] WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000003446 ligand Substances 0.000 claims description 6
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 claims description 6
- TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N octane Chemical compound CCCCCCCC TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- -1 HgSe Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000011258 core-shell material Substances 0.000 claims description 4
- YBNMDCCMCLUHBL-UHFFFAOYSA-N (2,5-dioxopyrrolidin-1-yl) 4-pyren-1-ylbutanoate Chemical compound C=1C=C(C2=C34)C=CC3=CC=CC4=CC=C2C=1CCCC(=O)ON1C(=O)CCC1=O YBNMDCCMCLUHBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- WRIDQFICGBMAFQ-UHFFFAOYSA-N (E)-8-Octadecenoic acid Natural products CCCCCCCCCC=CCCCCCCC(O)=O WRIDQFICGBMAFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- QGLWBTPVKHMVHM-KTKRTIGZSA-N (z)-octadec-9-en-1-amine Chemical compound CCCCCCCC\C=C/CCCCCCCCN QGLWBTPVKHMVHM-KTKRTIGZSA-N 0.000 claims description 3
- LQJBNNIYVWPHFW-UHFFFAOYSA-N 20:1omega9c fatty acid Natural products CCCCCCCCCCC=CCCCCCCCC(O)=O LQJBNNIYVWPHFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- QSBYPNXLFMSGKH-UHFFFAOYSA-N 9-Heptadecensaeure Natural products CCCCCCCC=CCCCCCCCC(O)=O QSBYPNXLFMSGKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910003373 AgInS2 Inorganic materials 0.000 claims description 3
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910004576 Cd1-xZnxS Inorganic materials 0.000 claims description 3
- LZZYPRNAOMGNLH-UHFFFAOYSA-M Cetrimonium bromide Chemical compound [Br-].CCCCCCCCCCCCCCCC[N+](C)(C)C LZZYPRNAOMGNLH-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 3
- XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N Cyclohexane Chemical compound C1CCCCC1 XDTMQSROBMDMFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910005542 GaSb Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910004262 HgTe Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910000673 Indium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 3
- GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N Indium phosphide Chemical compound [In]#P GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000005642 Oleic acid Substances 0.000 claims description 3
- ZQPPMHVWECSIRJ-UHFFFAOYSA-N Oleic acid Natural products CCCCCCCCC=CCCCCCCCC(O)=O ZQPPMHVWECSIRJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910002665 PbTe Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 claims description 3
- WNAHIZMDSQCWRP-UHFFFAOYSA-N dodecane-1-thiol Chemical compound CCCCCCCCCCCCS WNAHIZMDSQCWRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N indium arsenide Chemical compound [In]#[As] RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- QXJSBBXBKPUZAA-UHFFFAOYSA-N isooleic acid Natural products CCCCCCCC=CCCCCCCCCC(O)=O QXJSBBXBKPUZAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- ZQPPMHVWECSIRJ-KTKRTIGZSA-N oleic acid Chemical compound CCCCCCCC\C=C/CCCCCCCC(O)=O ZQPPMHVWECSIRJ-KTKRTIGZSA-N 0.000 claims description 3
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 claims description 3
- 229920000036 polyvinylpyrrolidone Polymers 0.000 claims description 3
- 239000001267 polyvinylpyrrolidone Substances 0.000 claims description 3
- 235000013855 polyvinylpyrrolidone Nutrition 0.000 claims description 3
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- OCGWQDWYSQAFTO-UHFFFAOYSA-N tellanylidenelead Chemical compound [Pb]=[Te] OCGWQDWYSQAFTO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- BVQJQTMSTANITJ-UHFFFAOYSA-N tetradecylphosphonic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCP(O)(O)=O BVQJQTMSTANITJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- RMZAYIKUYWXQPB-UHFFFAOYSA-N trioctylphosphane Chemical compound CCCCCCCCP(CCCCCCCC)CCCCCCCC RMZAYIKUYWXQPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 125000003944 tolyl group Chemical group 0.000 claims description 2
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 abstract description 7
- 239000003086 colorant Substances 0.000 abstract description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 abstract description 4
- 238000005424 photoluminescence Methods 0.000 abstract description 4
- 238000007639 printing Methods 0.000 abstract description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 58
- 239000010408 film Substances 0.000 description 52
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 18
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 17
- 238000000879 optical micrograph Methods 0.000 description 13
- HEDRZPFGACZZDS-MICDWDOJSA-N Trichloro(2H)methane Chemical compound [2H]C(Cl)(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-MICDWDOJSA-N 0.000 description 12
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 11
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L Magnesium sulfate Chemical compound [Mg+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 8
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N ether Substances CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000006862 quantum yield reaction Methods 0.000 description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 8
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 8
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 7
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N Acetonitrile Chemical compound CC#N WEVYAHXRMPXWCK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- IOJFHZXQSLNAQJ-UHFFFAOYSA-N 4-azido-2,3,5,6-tetrafluorobenzoic acid Chemical compound OC(=O)C1=C(F)C(F)=C(N=[N+]=[N-])C(F)=C1F IOJFHZXQSLNAQJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PXIPVTKHYLBLMZ-UHFFFAOYSA-N Sodium azide Chemical compound [Na+].[N-]=[N+]=[N-] PXIPVTKHYLBLMZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000010828 elution Methods 0.000 description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 4
- 229910052943 magnesium sulfate Inorganic materials 0.000 description 4
- 235000019341 magnesium sulphate Nutrition 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 4
- 238000004293 19F NMR spectroscopy Methods 0.000 description 3
- 238000005160 1H NMR spectroscopy Methods 0.000 description 3
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- IVRMZWNICZWHMI-UHFFFAOYSA-N azide group Chemical group [N-]=[N+]=[N-] IVRMZWNICZWHMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 3
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 3
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 3
- VHYFNPMBLIVWCW-UHFFFAOYSA-N 4-Dimethylaminopyridine Chemical compound CN(C)C1=CC=NC=C1 VHYFNPMBLIVWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 239000000084 colloidal system Substances 0.000 description 2
- 239000003480 eluent Substances 0.000 description 2
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 2
- 239000005457 ice water Substances 0.000 description 2
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 description 2
- 238000006713 insertion reaction Methods 0.000 description 2
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 2
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 2
- CGSQBDQXCKRZQT-UHFFFAOYSA-N methyl 4-azido-2,3,5,6-tetrafluorobenzoate Chemical compound COC(=O)C1=C(F)C(F)=C(N=[N+]=[N-])C(F)=C1F CGSQBDQXCKRZQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 2
- 239000013110 organic ligand Substances 0.000 description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 description 2
- 238000010992 reflux Methods 0.000 description 2
- 238000002390 rotary evaporation Methods 0.000 description 2
- HPALAKNZSZLMCH-UHFFFAOYSA-M sodium;chloride;hydrate Chemical compound O.[Na+].[Cl-] HPALAKNZSZLMCH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010023 transfer printing Methods 0.000 description 2
- LMDZBCPBFSXMTL-UHFFFAOYSA-N 1-Ethyl-3-(3-dimethylaminopropyl)carbodiimide Substances CCN=C=NCCCN(C)C LMDZBCPBFSXMTL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HUUPVABNAQUEJW-UHFFFAOYSA-N 1-methylpiperidin-4-one Chemical compound CN1CCC(=O)CC1 HUUPVABNAQUEJW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QJXCFMJTJYCLFG-UHFFFAOYSA-N 2,3,4,5,6-pentafluorobenzaldehyde Chemical compound FC1=C(F)C(F)=C(C=O)C(F)=C1F QJXCFMJTJYCLFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LMEHSTPTYNAMPG-UHFFFAOYSA-N 2-(4-azido-2,3,5,6-tetrafluorobenzoyl)oxyethyl 4-azido-2,3,5,6-tetrafluorobenzoate Chemical compound FC1=C(N=[N+]=[N-])C(F)=C(F)C(C(=O)OCCOC(=O)C=2C(=C(F)C(N=[N+]=[N-])=C(F)C=2F)F)=C1F LMEHSTPTYNAMPG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FPQQSJJWHUJYPU-UHFFFAOYSA-N 3-(dimethylamino)propyliminomethylidene-ethylazanium;chloride Chemical compound Cl.CCN=C=NCCCN(C)C FPQQSJJWHUJYPU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FYZZJXVVOINZGG-UHFFFAOYSA-N 4-azido-2,3,5,6-tetrafluorobenzaldehyde Chemical compound FC1=C(F)C(N=[N+]=[N-])=C(F)C(F)=C1C=O FYZZJXVVOINZGG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IOJFHZXQSLNAQJ-UHFFFAOYSA-M 4-azido-2,3,5,6-tetrafluorobenzoate Chemical compound [O-]C(=O)C1=C(F)C(F)=C(N=[N+]=[N-])C(F)=C1F IOJFHZXQSLNAQJ-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen sulfide Chemical class S RWSOTUBLDIXVET-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 150000001540 azides Chemical class 0.000 description 1
- 239000012267 brine Substances 0.000 description 1
- 150000001735 carboxylic acids Chemical class 0.000 description 1
- 239000007810 chemical reaction solvent Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000004821 distillation Methods 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 125000004185 ester group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- UXJRQNXHCZKHRJ-UHFFFAOYSA-N methyl 2,3,4,5,6-pentafluorobenzoate Chemical compound COC(=O)C1=C(F)C(F)=C(F)C(F)=C1F UXJRQNXHCZKHRJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005459 micromachining Methods 0.000 description 1
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000006303 photolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 150000003141 primary amines Chemical class 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000010898 silica gel chromatography Methods 0.000 description 1
- 238000002791 soaking Methods 0.000 description 1
- 239000012265 solid product Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
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- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/20—Exposure; Apparatus therefor
- G03F7/2002—Exposure; Apparatus therefor with visible light or UV light, through an original having an opaque pattern on a transparent support, e.g. film printing, projection printing; by reflection of visible or UV light from an original such as a printed image
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Abstract
本发明公开了一种量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,该方法包括如下步骤:a、将量子点分散在非极性溶剂中,加入光敏交联分子,制成薄膜;b、将所述步骤a中的薄膜在365nm紫外光照射下曝光,发生交联反应;c、采用非极性溶剂洗脱除去未经紫外光照射曝光区域的量子点,得到图案化的量子点薄膜。本发明的方法普遍适用于多种不同组分、性质和结构的量子点薄膜的图案化,图案分辨率可以达到10微米以下,与传统光刻技术的分辨率相近并且优于打印方法所获得的量子点薄膜分辨率,获得的含有不同颜色红、绿、蓝量子点的薄膜具有较高的光致发光效率,可以用于LED等显示器件以及其他基于量子点的光电器件中。
Description
技术领域
本发明属于光电材料技术领域,具体涉及一种量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法。
背景技术
胶体量子点是溶液方法合成的、呈现出量子限域效应的无机半导体材料。量子点具有独特的的物理化学性质以及溶液可加工的特点,在诸多领域尤其是光电材料与器件方面具有重要的应用前景。优异的窄谱发射和宽谱吸收性质使量子点薄膜在LED显示、太阳能电池领域、光检测器等领域展示出巨大应用潜力。
实现量子点薄膜从单一原型元件到满足应用需求的复杂集成阵列式光电器件的一个关键是发展量子点薄膜的可控、高效、高精度图案化方法。例如,量子点显示器件具有高光谱纯度、宽色域、高亮度等优势,被认为是显示行业未来的一个重要发展方向。但是在目前已有的量子点显示产品中,量子点的作用是将蓝色背光源转为红、绿光。进一步实现更有优势、主动电致发光的量子点LED显示设备需要制备图案化的、包含不同组成和发光波长的量子点薄膜。因此,发展量子点薄膜的图案化方法对实现其在显示及其他光电器件领域的应用具有重要意义,需要开发一种量子点薄膜的可控、高效、高精度图案化方法。
发明内容
本发明是基于发明人对以下事实和问题的发现和认识做出的:
目前,人们开发出多种针对量子点薄膜的图案化方法。在获得了不同精度图案化量子点薄膜的同时,这些方法也存在一定局限性,如电子束直写法需要昂贵的仪器和苛刻的高真空条件、加工效率低,模板转印、传统光刻法需要模板的精密制备、添加与去除工艺,模板转印法和喷墨打印法会使图案失真导致分辨率较低,喷墨打印法需要对基底进行特定修饰,纳米压印法加工效率较低等等。这些方法一方面增加了操作的复杂性和图案化的成本,另一方面复杂的步骤与模板添加/去除等步骤不利于保持量子点的原有性质。例如,基于光刻胶模板的传统光刻技术是目前集成电路微加工领域最主要的技术之一,但是由于溶剂兼容性、光刻胶模板去除等问题,该方法不利于获得高分辨率、高性能的图案化量子点薄膜。
本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
为此,本发明的实施例提出一种量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,该方法普遍适用于多种不同组分、性质和结构的量子点薄膜的图案化,图案分辨率可以达到10微米以下,与传统光刻技术的分辨率相近并且优于打印方法所获得的量子点薄膜分辨率,获得的含有不同颜色(红、绿、蓝)量子点的薄膜具有较高的光致发光效率,可以用于LED等显示器件以及其他基于量子点的光电器件中。
根据本发明实施例的一种量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,包括如下步骤:
a、将量子点分散在非极性溶剂中,加入光敏交联分子,制成薄膜;
b、将所述步骤a中的薄膜在365nm紫外光照射下曝光,发生交联反应;
c、采用非极性溶剂洗脱除去未经紫外光照射曝光区域的量子点,得到图案化的量子点薄膜。
根据本发明实施例的具有的独立权利要求带来的优点和技术效果,1、本发明实施例的方法普遍适用于多种不同组分、性质和结构的量子点薄膜的图案化,适用范围广;2、采用本发明实施例的方法所获得的图案分辨率可以达到10微米以下,与传统光刻技术的分辨率相近,并且优于打印方法所获得的量子点薄膜分辨率;3、本发明实施例的方法所获得的含有不同颜色(红、绿、蓝)量子点的薄膜具有较高的光致发光效率,可以被用于LED等显示器件以及其他基于量子点的光电器件;4、本发明实施例的方法采用365nm紫外光对量子点薄膜照射曝光,显著减少了量子点图案化过程中光照对量子点的损害,并且采用365nm紫外光照射易于与现有的可规模化的光刻机兼容,使本发明实施例的方法易于应用。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,所述步骤a中,所述量子点与所述光敏交联分子的质量比为100:1-20。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,所述步骤a中,所述光敏交联分子中含有至少两个叠氮基团,该光敏交联分子在365nm紫外光下光吸收系数大于1000cm-1M-1。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,所述光敏交联分子为(3E,5E)-3,5-双(4-叠氮-2,3,5,6-四氟代苯亚甲基)-1-甲基哌啶-4-酮。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,所述步骤b中,365nm紫外光的曝光剂量一般大于25mJ/cm2。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,所述量子点的表面配体为油酸、油胺、十二烷基硫醇、十四烷基膦酸、三正辛基膦、十六烷基三甲基溴化铵、聚乙二醇或聚乙烯基吡咯烷酮。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,所述步骤a中,所述量子点为II-VI族量子点,如CdS、CdSe、CdTe、ZnS、ZnSe、ZnTe、HgSe、HgTe、HgS、HgxCd1-xTe、HgxCd1-xS、HgxCd1-xSe、HgxZn1-xTe、CdxZn1-xSe、或CdxZn1-xS,其中0<x<1;或者III-V族量子点,如InP、InAs、InSb、GaAs、GaP、GaN、GaSb、InN、InSb、AlP、AlN、AlAs;或者Ⅵ-VI族量子点,如PbS、PbSe、PbTe;或者,具备核壳结构的量子点,如CdSe@ZnS、CdSe@CdS、InP@ZnS、CdTe@CdSe、CdSe@ZnTe、ZnTe@CdSe、ZnSe@CdS或Cd1-xZnxS@ZnS;或其他量子点,如CuInS2、CuInSe2、AgInS2等,只要表面包覆有机配体的量子点均可以适用。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,所述步骤a和c中,所述非极性溶剂为甲苯、氯苯、正己烷、正辛烷、正庚烷、环己烷、二氯甲烷、氯仿或四氢呋喃。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,所述步骤a中,所述量子点分散在非极性溶剂中后,浓度为5-200mg/mL。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,还包括步骤d,所述步骤c得到的图案化的量子点薄膜为第一层图案薄膜,在该第一层图案薄膜的基底上将第二层薄膜的量子点与光敏交联分子的混合溶液进行第二次成膜,对第二层薄膜进行365nm紫外曝光,再用非极性溶剂将未曝光区域进行洗脱,得到两种图案薄膜,根据需要重复该步骤,得到多层图案化的量子点薄膜。
附图说明
图1是本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法的过程示意图;
图2为(3E,5E)-3,5-双(4-叠氮-2,3,5,6-四氟代苯亚甲基)-1-甲基哌啶-4-酮在乙腈中的紫外可见摩尔吸光系数光谱图;
图3是本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法中叠氮的光分解反应以及单线态氮烯的碳氢插入反应示意图;
图4是本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法中多层图案化流程图;
图5是本发明实施例2-7中图案化量子点薄膜的光学显微镜照片,(A)CdSe,(B)PbS,(C)InP,(D)CdSe/ZnS(红色发光),(E)CdSe/ZnS(绿色发光),(F)CdZnS/ZnS;
图6是本发明实施例2制得的量子点薄膜在紫外灯下在硅基底上的图案化照片;
图7是本发明实施例6制得的量子点薄膜在紫外灯下在硅基底上的图案化照片;
图8是本发明实施例7制得的量子点薄膜在紫外灯下在硅基底上的图案化照片;
图9是本发明实施例8制得的量子点薄膜图案的光学显微镜照片,(A)USAF分辨率标准图案展示出分辨率在10微米以下;(B)线宽为9微米的一系列平行直线图案;(C)长宽分别为20和8微米的长方形图案;(D)边长为15微米的正方形图案,(A-D)照片视野大小均为1.0×1.3mm;
图10是本发明实施例9制得的量子点薄膜图案的光学显微镜照片;
图11是本发明实施例10制得的量子点薄膜图案的光学显微镜照片;
图12是对比例1制得的量子点薄膜的照片;
图13是对比例1制得的量子点薄膜光学显微镜照片;
图14是对比例4制得的量子点薄膜光学显微镜照片;
图15是对比例5制得的量子点薄膜光学显微镜照片。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例,所述实施例的示例在附图中示出。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
如图1所示,根据本发明实施例的一种量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,包括如下步骤:
a、将量子点分散在非极性溶剂中,加入光敏交联分子,制成薄膜;
b、将所述步骤a中的薄膜在365nm紫外光照射下曝光,发生交联反应;
c、采用非极性溶剂洗脱除去未经紫外光照射曝光区域的量子点,得到图案化的量子点薄膜。
根据本发明实施例的具有的独立权利要求带来的优点和技术效果,1、本发明实施例的方法普遍适用于多种不同组分、性质和结构的量子点薄膜的图案化,适用范围广;2、采用本发明实施例的方法所获得的图案分辨率可以达到10微米以下,与传统光刻技术的分辨率相近,并且优于打印方法所获得的量子点薄膜分辨率;3、本发明实施例的方法所获得的含有不同颜色(红、绿、蓝)量子点的薄膜具有较高的光致发光效率,可以被用于LED等显示器件以及其他基于量子点的光电器件;4、本发明实施例的方法采用365nm紫外光对量子点薄膜照射曝光,显著减少了量子点图案化过程中光照对量子点的损害,并且采用365nm紫外光照射易于与现有的可规模化的光刻机兼容,使本发明实施例的方法易于应用。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,所述步骤a中,所述量子点与所述光敏交联分子的质量比为100:1-20。本发明实施例的方法优选了量子点与光敏交联分子的配比,使量子点薄膜能够在365nm紫外光照射下实现量子点的图案化。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,所述步骤a中,所述光敏交联分子中含有至少两个叠氮基团,通式如下:
其中,R可以是含有共轭结构的任意官能团,例如可以含有烃基,酯基,酰胺键,苯环,醚键等,n≥2,优选为2,3或4,只要该光敏交联分子在365nm紫外光下具有显著的光响应即可,优选光敏交联分子在365nm紫外光下的吸收系数大于1000cm-1M-1。
光敏交联分子优选为(3E,5E)-3,5-双(4-叠氮-2,3,5,6-四氟代苯亚甲基)-1-甲基哌啶-4-酮,分子式为:
(3E,5E)-3,5-双(4-叠氮-2,3,5,6-四氟代苯亚甲基)-1-甲基哌啶-4-酮在365nm处的摩尔吸收系数为3.4×103cm-1M-1,其在乙腈中的紫外可见摩尔吸光系数光谱见图2,较高的吸收系数决定了其在365nm具有较强的吸光性质,从而保证了光照下交联反应的高效进行。
本发明实施例中,所述量子点的表面配体一般为含有长链碳氢结构的分子,包括但不限于,有机小分子:一级羧酸油酸、一级胺如油胺、硫醇如十二烷基硫醇、有机磷酸如十四烷基膦酸、有机膦如三正辛基膦;两亲性分子,如十六烷基三甲基溴化铵;高分子,如聚乙二醇或聚乙烯基吡咯烷酮。本实施例的方法在波长为365nm的紫外光照下,光敏交联分子中的叠氮基团分解产生不稳定中间体单线态氮烯(Nitrene),氮烯与量子点的配体分子进行碳氢插入反应,从而将相邻量子点的配体分子进行交联并显著降低了量子点的胶体稳定性,见图3。在制备的含有光敏交联分子的量子点薄膜上,对特定区域量子点进行365nm紫外光照射引发交联反应,利用非极性溶剂作为洗脱液去除未光照区域的量子点即可实现无需任何光刻胶或其他模板的量子点薄膜图案化。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,所述步骤b中,365nm紫外光的曝光剂量一般大于25mJ/cm2,优选为25-200mJ/cm2。曝光强度显著影响着量子点薄膜图案化效果,曝光量过低,无法实现量子点薄膜图案化。本发明实施例中优选了365nm紫外光照射的曝光量,使采用本发明方法获得图案化的量子点薄膜在能够保持较高的分辨率的情况下,显著降低了量子点图案化过程中光照对量子点的损害。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,所述步骤a中,所述量子点为II-VI族量子点,如CdS、CdSe、CdTe、ZnS、ZnSe、ZnTe、HgSe、HgTe、HgS、HgxCd1-xTe、HgxCd1-xS、HgxCd1-xSe、HgxZn1-xTe、CdxZn1-xSe、或CdxZn1-xS,其中0<x<1;或者III-V族量子点,如InP、InAs、InSb、GaAs、GaP、GaN、GaSb、InN、InSb、AlP、AlN、AlAs;或者Ⅵ-VI族量子点,如PbS、PbSe、PbTe;或者具备核壳结构的量子点,如CdSe@ZnS、CdSe@CdS、InP@ZnS、CdTe@CdSe、CdSe@ZnTe、ZnTe@CdSe、ZnSe@CdS或Cd1-xZnxS@ZnS;或其他量子点,如CuInS2、CuInSe2、AgInS2等,本发明实施例中只要表面包覆有机配体的量子点均可以适用。本发明实施例中的量子点均可以采用现有技术公开的方法合成。
根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,所述步骤a和c中,所述非极性溶剂的介电常数小于10,包括但不限于甲苯、氯苯、正己烷、正辛烷、正庚烷、环己烷、二氯甲烷、氯仿或四氢呋喃。本发明实施例中的量子点的表面配体可以在非极性溶剂中形成稳定的胶体,胶体浓度可涵盖1–500mg/mL,并通过溶液工艺形成薄膜。优选地,所述步骤a中,所述量子点分散在非极性溶剂中后,浓度为5-200mg/mL。
如图4所示,根据本发明实施例的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其中,还包括步骤d,所述步骤c得到的图案化的量子点薄膜为第一层图案薄膜,在该第一层图案薄膜的基底上将第二层薄膜的量子点与光敏交联分子的混合溶液进行第二次成膜,对第二层薄膜进行365nm紫外曝光,再用非极性溶剂将未曝光区域进行洗脱,得到两种图案薄膜,根据需要重复该步骤,得到多层图案化的量子点薄膜。本发明实施例的图案化方法可以用于同种或多种量子点的多层图案化,由于第一层图案化完成后,光照区域的薄膜不会再分散于非极性溶剂中,因此可以用相同或不同的量子点溶液在第一层的基础上成膜并进行第二层的图案化。本实施例的方法可以获得两层或多层图案,在LED显示中具有显著的应用潜力。
实施例1光敏交联分子的合成
在连有回流冷凝管的双颈圆底烧瓶中加入358mg叠氮化钠和980mg五氟苯甲醛,倒入7.5mL丙酮和7.5mL水。反应溶液在氮气保护下搅拌加热回流反应18小时。反应结束后,将产物冷却至室温,然后加入25mL水稀释初始的反应混合物,接着用25mL乙醚进行萃取,重复三次。有机层再用饱和食盐水洗涤,硫酸镁干燥除水后,用减圧蒸馏得到浓缩溶液。再用硅胶层析柱纯化,洗脱液为乙酸乙酯与正己烷的混合溶剂(乙酸乙酯体积分数为5%)。在经过正己烷的重结晶后,得到680mg的白色固体4-叠氮基-2,3,5,6-四氟苯甲醛,其1H,13F核磁谱信息如下:1H NMR(400MHz,CDCl3):δ10.26-10.27(m,1H);19F NMR(377MHz,CDCl3):δ-150.93至-150.03(m,2F),-144.97至-144.97(m,2F)。
在双颈圆底烧瓶中加入610mg前面合成的4-叠氮基-2,3,5,6-四氟苯甲醛,并加入2mL甲醇搅拌溶解。冰水浴下,先后逐滴加入3.3mL浓度为1M氢氧化钾水溶液和0.16mL N-甲基-4-哌啶酮,室温下搅拌反应4小时。反应结束后,过滤混合液并用少量水洗涤固体残留物,再经过二氯甲烷重结晶纯化后得到340mg米黄色固体(3E,5E)-3,5-双(4-叠氮-2,3,5,6-四氟代苯亚甲基)-1-甲基哌啶-4-酮,其1H,13F核磁谱信息如下:1H NMR(400MHz,CDCl3):δ2.37(s,3H),3.42(s,4H),7.56(s,2H);19F NMR(377MHz,CDCl3):δ-151.47至-151.38(m,4F),δ-137.20至-137.11(m,4F)。
实施例2图案化过程
采用现有文献公开的方法合成发射红光的CdSe/ZnS核壳结构量子点,其图案化过程如下:
为了避免图案化过程受外界紫外光的影响,以下操作过程须在黄光下进行:
1)量子点薄膜制备:将合成的红色CdSe/ZnS量子点分散于甲苯中,加入实施例1中合成的光敏交联分子(3E,5E)-3,5-双(4-叠氮-2,3,5,6-四氟代苯亚甲基)-1-甲基哌啶-4-酮,并搅拌混合均匀,量子点浓度为30mg/mL,(3E,5E)-3,5-双(4-叠氮-2,3,5,6-四氟代苯亚甲基)-1-甲基哌啶-4-酮分子浓度为2.5mg/mL,即量子点与光敏交联分子的质量比为100:12。
选用硅为基底制备量子点薄膜,基底首先采用丙酮进行清洗并干燥,利用旋涂成膜的加工方法将上面制备的红色量子点与光敏性分子的复合物制备成均匀薄膜,旋涂转速为3000rpm,旋涂时间30秒。
2)薄膜曝光:将预制有图案的光掩模放置于制得的量子点薄膜上,利用365nm紫外灯光源进行曝光,曝光剂量为100mJ/cm2。该曝光过程可以利用普通紫外灯或在光刻机上(如SUSS MJB4等)进行。当使用激光直写式光刻设备时量子点薄膜的曝光和图案化过程可不需要光掩模。
3)薄膜洗涤:曝光结束后,将薄膜浸泡于非极性溶剂甲苯中以除去未曝光部分,浸泡时间小于3分钟。
本实施例制得的量子点薄膜的光学显微镜照片见图5D,在紫外灯下在硅基底上的图案化照片见图6,荧光量子产率见表1。
实施例3
与实施例2的图案化方法相同,不同之处在于采用的量子点为CdSe,本实施例制得的量子点薄膜的光学显微镜照片见图5A。
实施例4
与实施例2的图案化方法相同,不同之处在于采用的量子点为PbS,本实施例制得的量子点薄膜的光学显微镜照片见图5B。
实施例5
与实施例2的图案化方法相同,不同之处在于采用的量子点为InP,本实施例制得的量子点薄膜的光学显微镜照片见图5C。
实施例6
与实施例2的图案化方法相同,不同之处在于采用的量子点为发射绿光的CdSe/ZnS,本实施例制得的量子点薄膜的光学显微镜照片见图5E,在紫外灯下在硅基底上的图案化照片见图7。
实施例7
与实施例2的图案化方法相同,不同之处在于采用的量子点为发射蓝光的CdZnS/ZnS,本实施例制得的量子点薄膜的光学显微镜照片见图5F,在紫外灯下在硅基底上的图案化照片见图8。
实施例8
与实施例6的方法相同,不同之处在于365nm紫外光照射的曝光剂量为200mJ/cm2。本实施例制得的量子点薄膜的图案的光学显微镜照片见图9,(A)USAF分辨率标准图案展示出分辨率在10微米以下;(B)线宽为9微米的一系列平行直线图案;(C)长宽分别为20和8微米的长方形图案;(D)边长为15微米的正方形图案,(A-D)照片视野大小均为1.0×1.3mm。
实施例9
与实施例2的方法相同,不同之处在于,量子点浓度为50mg/mL,将(3E,5E)-3,5-双(4-叠氮-2,3,5,6-四氟代苯亚甲基)-1-甲基哌啶-4-酮分子浓度降低至0.5mg/mL,也即量子点与光敏交联分子的质量比为100:1,曝光剂量为200mJ/cm2,洗脱后光学显微镜照片见图10,得到清晰图案。
实施例10量子点多层图案化
如图3所示,1)按实施例2中的方法先将红色量子点与光敏交联分子的混合溶液第一次成膜,在掩膜版下进行365nm紫外曝光,用溶剂将未曝光区域进行洗脱,得到红色单色量子点图案;2)在得到的第一层图案的基底上将绿色量子点与光敏交联分子的混合溶液进行第二次成膜,在第二种掩膜版下进行365nm紫外曝光,用溶剂将未曝光区域进行洗脱,得到含有红绿两色量子点的两种图案;3)在得到的红绿两种图案的基底上将蓝色量子点与光敏交联分子的混合溶液进行第三次成膜,在第三种掩膜版下进行365nm紫外曝光,再用溶剂将未曝光区域进行洗脱,得到含有红绿蓝三色量子点的图案。
本实施例制得的量子点薄膜图案的光学显微镜照片见图11,图中展示了红绿蓝量子点的三层图案化。其中红绿蓝量子点图案发光单元均为8×30μm的长方形,和蓝色量子点,三种量子点均保持了原有的荧光颜色,而且粉色图案是蓝色和红色复合叠加的结果,证明了我们的方法除了可以得到红绿蓝单色图案,也可以得到其他复色图案。
对比例1
与实施例2的方法相同,不同之处在于采用的光敏交联分子为双(4-叠氮-2,3,5,6-四氟代苯甲酸基),分子式为
双(4-叠氮-2,3,5,6-四氟代苯甲酸基)的具体合成过程如下:在装有8mL丙酮和10mL水的反应瓶中加入0.30g叠氮化钠和0.97g五氟苯甲酸甲酯,在搅拌下,加热回流反应8小时。反应结束后,将反应溶液降至室温,再加入10mL水,接着用10mL乙醚萃取,重复三次。萃取液用硫酸镁进行干燥,经过减压蒸馏除去乙醚溶剂,得到0.98g无色固体4-叠氮基-2,3,5,6-四氟苯甲酸甲酯。
量取0.8mL质量分数为20%的氢氧化钠水溶液,加入10mL甲醇和1mL水混合均匀后,加入0.59g合成的4-叠氮基-2,3,5,6-四氟苯甲酸甲酯。冰水浴中在搅拌下滴加2N浓盐酸并随时用pH试纸检测pH值,直到溶液pH<1,然后用10mL氯仿进行3次萃取。萃取液用硫酸镁进行干燥除水后旋蒸除去反应溶剂甲醇和萃取溶剂氯仿,得到0.53g的无色固体产物4-叠氮基-2,3,5,6-四氟苯甲酸。
氮气氛围下,在0.50g 4-叠氮基-2,3,5,6-四氟苯甲酸的10mL无水二氯甲烷溶液中加入66mg乙二醇和26mg 4-二甲氨基吡啶,搅拌下常温反应30分钟。然后,在反应体系中加入454mg 1-乙基-(3-二甲基氨基丙基)碳二亚胺盐酸盐,继续常温下搅拌过夜。加入10mL水后继续搅拌反应30分钟。随后,用10mL二氯甲烷对反应液进行萃取,重复三次,有机层继续用50mL水和50mL饱和食盐水进行洗涤后,分离出有机溶液并用硫酸镁进行干燥除水。最后用层析柱进行纯化(流动相为体积比为3:2的正己烷和乙酸乙酯溶剂),旋蒸除去溶剂得到350mg白色固体双4-叠氮基-2,3,5,6-四氟苯甲酸乙二醇酯产率为70%,其1H,13F核磁谱详细信息如下:1H NMR(400MHz,CDCl3):δ4.68(s,4H);19F NMR(377MHz,CDCl3):δ-150.81至-150.70,(m,4F),-138.27至-138.18(m,4F)。
采用对比例1的方法制备的量子点薄膜在洗脱后的照片见图12,光学显微镜照片见图13,从图12和13可见,量子点CdSe与双(4-叠氮-2,3,5,6-四氟代苯甲酸基)在365nm紫外光照后,无法看到图案,无法得到图案化的量子点薄膜。
对比例2
对比例2与实施例2的方法相同,不同之处在于紫外光的波长为254纳米,制得的量子点薄膜的荧光量子产率见表1。
对比例3
对比例3与实施例2的方法相同,不同之处在于紫外光的波长为254纳米,曝光剂量为50mJ/cm2,制得的量子点薄膜的荧光量子产率见表1。
表1
注:空白组为取35μL红色量子点甲苯溶液30mg/mL旋涂在硅基底上(1.25×1.25cm),旋涂条件为3000rpm,30秒。
通过表1可知,对比例2和对比例3同实施例2相比,量子点薄膜的荧光量子产率严重下降,荧光量子产率下降原因可能是量子点表面原子发生氧化反应导致表面缺陷增加,捕获更多的光生电子或空穴,导致光生电子和空穴复合下降,从而引起荧光量子产率的降低,可见,365nm同254nm光照条件相比,能够显著提升量子点薄膜的荧光量子产率,实施例2中采用的曝光剂量100mJ/cm2,对比例3中采用的曝光剂量为50mJ/cm2,在365nm紫外光条件下,即使采用了高达一倍的曝光剂量,仍然获得了更高的荧光量子产率。
对比例4
对比例4与实施例2的方法相同,不同之处在于将曝光剂量降低至5mJ/cm2,洗脱后肉眼下观察无图案,光学显微镜照片见图14,没有找到图案,可见,在曝光剂量为5mJ/cm2,无法使量子点薄膜图案化。
对比例5
对比例5与实施例2的方法相同,不同之处在于将(3E,5E)-3,5-双(4-叠氮-2,3,5,6-四氟代苯亚甲基)-1-甲基哌啶-4-酮分子浓度降低至为0.1mg/mL,也即量子点与光敏交联分子的质量比为100:0.3,洗脱后肉眼下观察无图案,光学显微镜照片见图15,没有找到图案。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
在本发明中,术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (7)
2.根据权利要求1所述的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其特征在于,所述步骤a中,所述量子点与所述光敏交联分子的质量比为100:1-20。
3.根据权利要求1所述的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其特征在于,所述步骤b中,365nm紫外光的曝光剂量大于25mJ/cm2。
4.根据权利要求1所述的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其特征在于,所述步骤a中,所述量子点为II-VI族量子点:CdS、CdSe、CdTe、ZnS、ZnSe、ZnTe、HgSe、HgTe、HgS、HgxCd1-xTe、HgxCd1-xS、HgxCd1-xSe、HgxZn1-xTe、CdxZn1-xSe或CdxZn1-xS,其中0<x<1;或者,III-V族量子点:InP、InAs、InSb、GaAs、GaP、GaN、GaSb、InN、InSb、AlP、AlN或AlAs;或者,Ⅵ-VI族量子点:PbS、PbSe或PbTe;或者具备核壳结构的量子点:CdSe@ZnS、CdSe@CdS、InP@ZnS、CdTe@CdSe、CdSe@ZnTe、ZnTe@CdSe、ZnSe@CdS或Cd1-xZnxS@ZnS;或者CuInS2、CuInSe2、AgInS2。
5.根据权利要求1所述的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其特征在于,所述步骤a和c中,所述非极性溶剂为甲苯、氯苯、正己烷、正辛烷、正庚烷、环己烷、二氯甲烷、氯仿或四氢呋喃。
6.根据权利要求1所述的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其特征在于,所述步骤a中,所述量子点分散在非极性溶剂中后,浓度为5-200mg/mL。
7.根据权利要求1所述的量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法,其特征在于,还包括步骤d,所述步骤c得到的图案化的量子点薄膜为第一层图案薄膜,在该第一层图案薄膜的基底上将第二层薄膜的量子点与光敏交联分子的混合溶液进行第二次成膜,对第二层薄膜进行365nm紫外曝光,再用非极性溶剂将未曝光区域进行洗脱,得到两种图案薄膜,根据需要重复该步骤,得到多层图案化的量子点薄膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010586651.9A CN111781803B (zh) | 2020-06-24 | 2020-06-24 | 量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202010586651.9A CN111781803B (zh) | 2020-06-24 | 2020-06-24 | 量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN111781803A CN111781803A (zh) | 2020-10-16 |
CN111781803B true CN111781803B (zh) | 2021-10-26 |
Family
ID=72759884
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202010586651.9A Active CN111781803B (zh) | 2020-06-24 | 2020-06-24 | 量子点薄膜的无光刻胶光致图案化方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN111781803B (zh) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112130416B (zh) * | 2020-10-19 | 2024-02-13 | 北京京东方技术开发有限公司 | 一种光刻材料、显示基板及其制作方法、显示面板 |
CN112410019A (zh) * | 2020-11-20 | 2021-02-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | 纳米粒子、纳米粒子层图案化的方法及相关应用 |
CN113084353B (zh) * | 2021-02-20 | 2022-04-22 | 清华大学 | 基于配体化学的纳米晶体激光热致图案化方法和图案化纳米晶体膜 |
CN113337274A (zh) * | 2021-05-31 | 2021-09-03 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 量子点模组、量子点膜层的图案化方法及显示装置 |
CN114839835A (zh) * | 2022-03-18 | 2022-08-02 | 清华大学 | 量子点的无损光刻图案化方法和设备 |
CN117835778A (zh) * | 2022-09-26 | 2024-04-05 | 清华大学 | 图案化量子点薄膜的制备方法、光电器件与电子设备 |
CN117148688A (zh) * | 2023-11-01 | 2023-12-01 | 长春理工大学 | 用于直接光刻的量子点的加工方法以及双通道成像芯片 |
CN117276425B (zh) * | 2023-11-21 | 2024-03-26 | 利亚德光电股份有限公司 | 量子点图案化膜及其制备方法、电子传输层及量子点电致发光器件 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106129261A (zh) * | 2016-07-04 | 2016-11-16 | Tcl集团股份有限公司 | 一种量子点彩膜及其制备方法 |
CN108172603A (zh) * | 2018-01-03 | 2018-06-15 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种量子点发光二极管基板及其制备方法、显示面板 |
CN110835529A (zh) * | 2019-11-28 | 2020-02-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 量子点材料及其制备方法、量子点发光器件、显示装置 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102087299B1 (ko) * | 2018-04-09 | 2020-03-10 | 숭실대학교산학협력단 | 양자점 박막, 이의 패터닝 방법 및 이를 적용한 양자점 발광소자 |
-
2020
- 2020-06-24 CN CN202010586651.9A patent/CN111781803B/zh active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106129261A (zh) * | 2016-07-04 | 2016-11-16 | Tcl集团股份有限公司 | 一种量子点彩膜及其制备方法 |
CN108172603A (zh) * | 2018-01-03 | 2018-06-15 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种量子点发光二极管基板及其制备方法、显示面板 |
CN110835529A (zh) * | 2019-11-28 | 2020-02-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 量子点材料及其制备方法、量子点发光器件、显示装置 |
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Title |
---|
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Publication number | Publication date |
---|---|
CN111781803A (zh) | 2020-10-16 |
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PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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