CN111445834A - 显示基板、显示面板和显示面板的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示基板、显示面板和显示面板的测试方法，属于显示技术领域，其可至少部分解决现有的显示基板部分不良不容易检出的问题。本发明实施例的显示基板包括：多个栅极驱动电路，每个栅极驱动电路具有多个驱动信号输入端，且每个栅极驱动电路连接多条栅线；与栅极驱动电路一一对应的多组第一测试头，每组第一测试头包括多个第一测试头，每个第一测试头通过一个开关与其对应的栅极驱动电路的一个驱动信号输入端连接；与栅极驱动电路一一对应的多条控制线，每条控制线用于控制对应一组第一测试头的多个开关，且每条控制线连接一个控制头。

Description

显示基板、显示面板和显示面板的测试方法

技术领域

本发明属于显示技术领域，具体涉及一种显示基板、显示面板和显示面板的测试方法。

背景技术

在背板工艺过程中，电路结构复杂多变的GOA电路(Gate Driver on Array，栅极驱动电路)对工艺要求高，工艺稍有异常，如轻微的ESD(Electro-Static Discharge，静电释放)，都有可能对GOA电路的电路功能造成损伤。

由于这些损伤造成的不良在前期测试中可能表现不明显，必须经过后续的信赖性测试才会表现出来，因此无法在背板工艺阶段就对不良产品进行拦截，进而造成了对不良产品的改善周期大，

增大了公司资源的消耗。

发明内容

本发明至少部分解决现有的显示基板中的部分不良不容易检出的问题，提供一种可容易的检出各种不良的显示基板、显示面板和显示面板的测试方法。

本发明的第一方面提供一种显示基板，所述显示基板包括：

多个栅极驱动电路，每个栅极驱动电路具有多个驱动信号输入端，且每个栅极驱动电路连接多条栅线；

与栅极驱动电路一一对应的多组第一测试头，每组第一测试头包括多个第一测试头，每个第一测试头通过一个开关与其对应的栅极驱动电路的一个驱动信号输入端连接；

与栅极驱动电路一一对应的多条控制线，每条控制线用于控制对应一组第一测试头的多个开关，且每条控制线连接一个控制头。

可选的，每个所述开关与其对应的栅极驱动电路的驱动信号输入端之间还连接有一个第二测试头。

可选的，所述开关为晶体管，每个所述晶体管的第一极连接对应的栅极驱动电路的驱动信号输入端，第二极连接对应的第一测试头，栅极连接对应的控制线。

进一步可选的，所述晶体管为宽长比大于预定值的P型晶体管。

可选的，所述栅极驱动电路的个数为2个。

进一步可选的，2个所述栅极驱动电路分别设于显示基板中沿栅线延伸方向的两个相对侧；

每条栅线的两端分别与2个所述栅极驱动电路连接。

本发明的第二方面提供一种显示面板，所述显示面板包括上述任意一种所述的显示基板。

本发明的第三方面提供一种显示面板的测试方法，所述显示面板为上述显示面板，所述测试方法包括：

轮流对每个栅极驱动电路进行测试；

其中，对每个栅极驱动电路进行测试包括：

向所有第一测试头通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，向对应该栅极驱动电路的控制头通入导通信号，向其他控制头通入关断信号。

可选的，所述向所有第一测试头通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，向对应该栅极驱动电路的控制头通入导通信号，向其他控制头通入关断信号包括：

使测试设备的测试探针分别与第一测试头、控制头接触，通过测试探针向所有第一测试头通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，向对应该栅极驱动电路的控制头通入导通信号，向其他控制头通入关断信号。

可选的，所述显示基板还包括多个数据信号测试头；

所述对每个栅极驱动电路进行测试还包括：向各数据信号测试头通入数据信号，以使所述显示面板进行显示，并通过所述显示面板的显示效果对该栅极驱动电路进行测试。

附图说明

图1为现有的“弱暗线”现象的示意图；

图2为本发明实施例的一种显示基板的结构示意图；

图3为本发明实施例的一种显示面板的开关的结构示意图；

图4为本发明实施例的一种显示面板的测试方法的流程示意图；

其中，附图标记为：1、栅极驱动电路；2、驱动信号输入端；

3、第一测试头；4、开关；5、控制线；6、控制头；7、第二测试头；8、栅线。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。

可以理解的是，此处描述的具体实施例和附图仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。

可以理解的是，在不冲突的情况下，本发明中的各实施例及实施例中的各特征可相互组合。

可以理解的是，为便于描述，本发明的附图中仅示出了与本发明相关的部分，而与本发明无关的部分未在附图中示出。

可以理解的是，在不冲突的情况下，本发明的流程图和框图中所标注的功能、步骤可按照不同于附图中所标注的顺序发生。

实施例1：

参照图2，本实施例提供一种显示基板，其包括：

多个栅极驱动电路1，每个栅极驱动电路1具有多个驱动信号输入端2，且每个栅极驱动电路1连接多条栅线8；

与栅极驱动电路1一一对应的多组第一测试头3，每组第一测试头3包括多个第一测试头3，每个第一测试头3通过一个开关4与其对应的栅极驱动电路1的一个驱动信号输入端2连接；

与栅极驱动电路1一一对应的多条控制线5，每条控制线5用于控制对应一组第一测试头的多个开关，且每条控制线5连接一个控制头6。

显示基板上存在多个栅极驱动电路(GOA)1，每个栅极驱动电路1包括多个驱动信号输入端2，并连接多条栅线8，从而栅极驱动电路1可根据驱动信号输入端2的信号驱动对应的栅线8。

而每个驱动信号输入端2通过开关4连接第一测试头(如AT Pad)3，故当开关4导通时，若向一个栅极驱动电路1对应的所有第一测试头3通入驱动信号，则该栅极驱动电路1即可工作，驱动与其连接的栅线8。

本实施例中，一个栅极驱动电路1对应的所有开关4是由一个控制头6通过一条控制线5控制的，故一个栅极驱动电路1对应的所有开关4必然全部处于导通或全部处于关断的状态，而不同栅极驱动电路1对应的开关4可处于不同状态。

因此，在测试过程时，例如在背板工艺过程中进行的AT测试(AcceptanceTesting，验收测试)时，若只让一组第一测试头3对应的开关4导通(即向对应的控制头6输入导通信号，向其他的控制头6输入关断信号)，则显示基板上只有该组第一测试头3对应的栅极驱动电路1工作，因此可通过检测与该栅极驱动电路1连接的栅线8的工作状态判断该栅极驱动电路1是否出现损伤。

通过控制控制头6使每组第一测试头3对应的开关4轮流导通(当然，要关断其他组第一测试头3对应的开关4)，则相当于轮流为不同的栅极驱动电路1输入驱动信号使其工作，可轮流检测各栅极驱动电路1是否出现损伤，实现对显示基板所有栅极驱动电路是否出现损伤的检测。

本实施例的显示基板中，由于设有开关，故任意时刻仅对一个栅极驱动电路1进行检测，故其检测准确，容易发现不良，可缩短改善周期。

可选的，栅极驱动电路的个数为2个。

参照图2，显示基板上可只有2个栅极驱动电路1。当然，栅极驱动电路1与栅线8的连接方式多种多样，如可以是一个栅极驱动电路1连接奇数行栅线，而另一个栅极驱动电路1连接偶数行栅线。

进一步可选的，2个栅极驱动电路1分别设于显示基板中沿栅线延伸方向的两个相对侧；每条栅线8的两端分别与2个栅极驱动电路连接。

即显示基板上的2个栅极驱动电路1设置在栅线8的不同侧(如图中的左右两侧)，其分别从两端为栅线8提供信号，以改善栅线8中信号的分布。

在现有的显示基板中，若位于栅线8不同侧的2个栅极驱动电路1中的一个在背板工艺过程中出现损伤，则参照图1，在测试过程中，由于只是一侧的栅极驱动电路1损坏，而另一边栅极驱动电路1驱动正常，对应损坏处的栅线8中仍然有信号(只是驱动能力较弱)，其对应的像素仍然可进行显示，只是像素可能充电不充分；进而，显示面板对应该栅线8处并不会出现“黑线”(因为仍有一个栅极驱动电路1为栅线8输入了信号)，而是出现亮度略低于正常显示颜色的弱暗线(因为出现异常的栅极驱动电路1无法给出正常的信号)。

而这种弱暗线现象很不明显，故难以被直接发现(如在AT测试中无法被发现)，因此需要在后续的CT点灯(成品测试)的过程中通过CT设备检测才可发现，这就造成了对显示基板的改善周期大(因为无法在背板工艺过程中就发现问题，只能在背板工艺完成进入CT点灯才能被发现)，增大了公司资源的消耗，浪费了成本。

同时，在一些极端情况下，CT设备也无法检测出这种弱暗线，也是就造成了不良产品流入市场的风险，严重影响用户的体验。

而在本发明实施例的显示基板中，在AT测试中可向所有第一测试头3同时通入驱动信号，但只导通其中一个栅极驱动电路1对应的开关4，使显示基板上只有该栅极驱动电路1可以工作，若该栅极驱动电路1出现损伤，则损伤部分对应的栅极处会出现“黑线”(因为出现异常的栅极驱动电路1无法给出正常的信号，而另一个栅极驱动电路1并没有工作无法给出信号)，这样的“黑线”很明显，故容易被发现。

同样的，关断该栅极驱动电路1对应的开关4，导通另一个栅极驱动电路1对应的开关4即可检测另一个栅极驱动电路1是否出现异常。

可选的，每个开关4与其对应的栅极驱动电路的驱动信号输入端2之间还连接有一个第二测试头7。

第二测试头7(如CT Pad)用于进行其他测试(如CT点灯)，其位于开关4和对应的栅极驱动电路的驱动信号输入端2之间。

这些第二测试头7可以是显示基板上用于连接最终产品中的驱动芯片的端头，例如其可直接连接驱动芯片(对COP方式)，或者是连接柔性线路板(FPC)，而柔性线路板再连接驱动芯片(对COF方式)。

当完成对栅极驱动电路的首次测试(AT测试)之后，由于开关4和第一测试头已经没有其他作用，因此可以将其这部分的显示基板切除，以减小显示面板的边框。

可选的，如图3所示，开关4为晶体管，每个晶体管4的第一极连接对应的栅极驱动电路的驱动信号输入端2，第二极连接对应的第一测试头3，栅极连接对应的控制线6。

晶体管是显示基板领域中比较常用的开关器件，故可用其作为开关4。

进一步可选的，开关4为宽长比大于预定值的P型晶体管。

开关4具体可为大宽长比的P型晶体管(如PMOS)，大宽长比的晶体管的电阻要小于普通的晶体管，从而驱动信号在经过开关4的过程中损失小；而P型晶体管的工艺更加成熟。

当然，与以上第一测试头3和第二测试头7分别对应的，还可设有用于向显示基板中的其它引线(如数据线)通入信号的端头(如数据信号测试头)，例如是2图中第一测试头3之间的其它小方块，以及第二测试头7之间的其它大方块，在此不再详细描述。

本实施例提供的显示基板可在背板工艺阶段对每个栅极驱动电路单独检测，在背板工艺阶段即可发现栅极驱动电路的损伤，大大减少了显示基板的改善周期，减少了公司资源的消耗，节约了成本。

实施例2：

本实施例提供一种显示面板，其包括实施例1中任意一种显示基板。

即可将以上显示基板与其它器件(如对盒基板)等组合成显示面板。

本实施例提供的显示面板可在背板工艺阶段对每个栅极驱动电路单独检测，在背板工艺阶段即可发现栅极驱动电路的损伤，大大减少了显示基板的改善周期，减少了公司资源的消耗，节约了成本。

实施例3：

参照图4，本实施例提供一种显示面板的测试方法，显示面板为实施例2的显示面板，则测试方法包括：

轮流对每个栅极驱动电路进行测试。

其中，对每个栅极驱动电路进行测试包括：

S101、向所有第一测试头通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，向对应该栅极驱动电路的控制头通入导通信号，向其他控制头通入关断信号。

通过测试设备向所有第一测试头3通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，向当前测试的栅极驱动电路1对应的控制头6通入导通信号，向其他控制头6通入关断信号，即导通当前测试的栅极驱动电路1对应的所有开关4，关断其他栅极驱动电路1对应的开关4，通过检测与当前测试的栅极驱动电路1连接的栅线8的工作状态判断当前测试的栅极驱动电路1是否出现损伤。

轮流向每个栅极驱动电路1对应的控制头6通入导通信号(当然也向其他栅极驱动电路1对应的控制头6通入关断信号)，即轮流导通每个栅极驱动电路1对应的开关4，为其输入驱动信号使其工作，通过轮流检测每个栅极驱动电路1连接的栅线8的工作状态判断每个栅极驱动电路1是否出现损伤。

可选的，向所有第一测试头通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，向对应该栅极驱动电路的控制头通入导通信号，向其他控制头通入关断信号包括：

S101、使测试设备的测试探针分别与第一测试头、控制头接触，通过测试探针向所有第一测试头通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，向对应该栅极驱动电路的控制头通入导通信号，向其他控制头通入关断信号。

将测试设备的测试探针与所有第一测试头3接触，用于向所有第一测试头3通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，同时，通过测试设备的测试探针向某个栅极驱动电路1(即当前测试的栅极驱动电路1)对应的控制头6通入导通信号(向对应该栅极驱动电路的控制头6通入导通信号，向其他控制头6通入关断信号)，以导通该栅极驱动电路对应的开关4，通过检测与该栅极驱动电路1连接的栅线8的工作状态判断该栅极驱动电路1是否出现损伤。

重新以上步骤对其他的栅极驱动电路1也进行检测，直到所有的栅极驱动电路1都被检测完成。

可选的，显示基板还包括多个数据信号测试头；

对每个栅极驱动电路进行测试还包括：

S102、向各数据信号测试头通入数据信号，以使显示面板进行显示，并通过显示面板的显示效果对该栅极驱动电路进行测试。

显示基板上海包括多个数据信号测试头，其在通入数据信号后可使显示面板进行显示。

则整个测试过程可以是：

向各数据信号测试头通入数据信号，以使显示面板进行显示。

向所有第一测试头3通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，通过向某个栅极驱动电路1(即当前测试的栅极驱动电路1)对应的控制控制头6通入导通信号(向其他控制头6通入关断信号)，导通该栅极驱动电路1对应的所有开关4。

观察显示面板的显示，若显示面板显示正常，则该栅极驱动电路1未出现损伤；若显示面板显示异常，则该栅极驱动电路1可能出现损伤。

从未被检测的栅极驱动电路1中选择一个栅极驱动电路1，重新上述过程，对其进行检测，直到完成对所有栅极驱动电路1的检测。

本实施例提供的显示面板的测试方法可在背板工艺阶段对每个栅极驱动电路单独检测，在背板工艺阶段即可发现栅极驱动电路的损伤，大大减少了显示基板的改善周期，减少了公司资源的消耗，节约了成本。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示基板，其特征在于，所述显示基板包括：

多个栅极驱动电路，每个栅极驱动电路具有多个驱动信号输入端，且每个栅极驱动电路连接多条栅线；

与栅极驱动电路一一对应的多组第一测试头，每组第一测试头包括多个第一测试头，每个第一测试头通过一个开关与其对应的栅极驱动电路的一个驱动信号输入端连接；

与栅极驱动电路一一对应的多条控制线，每条控制线用于控制对应一组第一测试头的多个开关，且每条控制线连接一个控制头。

2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，

每个所述开关与其对应的栅极驱动电路的驱动信号输入端之间还连接有一个第二测试头。

3.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，

所述开关为晶体管，每个所述晶体管的第一极连接对应的栅极驱动电路的驱动信号输入端，第二极连接对应的第一测试头，栅极连接对应的控制线。

4.根据权利要求3所述的显示基板，其特征在于，

所述晶体管为宽长比大于预定值的P型晶体管。

5.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，

所述栅极驱动电路的个数为2个。

6.根据权利要求5所述的显示基板，其特征在于，

2个所述栅极驱动电路分别设于显示基板中沿栅线延伸方向的两个相对侧；

每条栅线的两端分别与2个所述栅极驱动电路连接。

7.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括权利要求1至6中任意一项所述的显示基板。

8.一种显示面板的测试方法，其特征在于，所述显示面板为权利要求7所述的显示面板，所述测试方法包括：

轮流对每个栅极驱动电路进行测试；

其中，对每个栅极驱动电路进行测试包括：

向所有第一测试头通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，向对应该栅极驱动电路的控制头通入导通信号，向其他控制头通入关断信号。

9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述向所有第一测试头通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，向对应该栅极驱动电路的控制头通入导通信号，向其他控制头通入关断信号包括：

使测试设备的测试探针分别与第一测试头、控制头接触，通过测试探针向所有第一测试头通入用于驱动栅极驱动电路的驱动信号，向对应该栅极驱动电路的控制头通入导通信号，向其他控制头通入关断信号。

10.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述显示基板还包括多个数据信号测试头；

所述对每个栅极驱动电路进行测试还包括：向各数据信号测试头通入数据信号，以使所述显示面板进行显示，并通过所述显示面板的显示效果对该栅极驱动电路进行测试。

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