TW201636977A - 顯示面板、檢測電路與其檢測方法 - Google Patents

Abstract

顯示面板包含閘極線、資料線、第一測試墊、第二測試墊以及開關電路。閘極線用以自第一節點接收閘極驅動信號。資料線用以自第二節點接收資料信號。第一測試墊用以經由第一預留導線與第一傳輸路徑中之一者傳輸閘極驅動信號至第一節點。第二測試墊用以經由第二預留導線與第二傳輸路徑中之一者提供資料信號至第二節點。開關電路用以根據控制信號使第一傳輸路徑選擇性地連接至第一節點，並使第二傳輸路徑選擇性地連接至第二節點。第一測試墊經由第一預留導線連接至第一節點，且第二測試墊經由第二預留導線連接至第二節點。

Description

顯示面板、檢測電路與其檢測方法

本案是有關於一種顯示面板，且特別是有關於具有檢測電路的顯示面板與其檢測方法。

隨著電子商品市場的蓬勃發展，對於顯示面板的需求越來越多。為了能夠提升良率，在製造時通常會在顯示面板中加入檢測機制。

然而，目前的檢測機制中，通常具有較大的導通阻抗，故必須採用具有較高電壓位準的測試信號進行測試，以維持一定的驅動能力。另外，在檢測機制與顯示面板斷開後，當顯示面板還需要後續的檢測時，無法有效地再度透過檢測機制重新進行檢測，造成後續的不便。

為了解決上述問題，本揭示內容之一態樣提供了一種顯示面板。顯示面板包含閘極線、資料線、第一測試墊、第二測試墊以及開關電路。閘極線用以自第一節點接收閘極驅動信號。資料線用以自第二節點接收資料信號。第一測試墊用 以經由第一預留導線與第一傳輸路徑中之一者傳輸閘極驅動信號至第一節點。第二測試墊用以經由第二預留導線與第二傳輸路徑中之一者提供資料信號至第二節點。開關電路用以根據控制信號使第一傳輸路徑選擇性地連接至第一節點，並使第二傳輸路徑選擇性地連接至第二節點。第一測試墊經由第一預留導線連接至第一節點，且第二測試墊經由第二預留導線連接至第二節點。

本揭示內容之另一態樣提供了一種檢測電路。檢測電路用以測試顯示面板，且檢測電路包含第一測試墊、第二測試墊、第一開關以及第二開關。第一開關的第一端經由第一預留導線與第一傳輸路徑中任一者耦接至第一測試墊與顯示面板，第一開關的第二端經由第一預留導線與第一傳輸路徑中任一者耦接至第一開關的第一端與顯示面板，且第一開關的控制端用以接收控制信號。第二開關的第一端經由第二預留導線與與第二傳輸路徑中任一者連接至第二測試墊與顯示面板，第二開關的第二端經由第二預留導線與與第二傳輸路徑中任一者連接至第二開關的第一端與顯示面板，且第二開關的控制端用以接收控制信號。前述的第一預留導線與第一傳輸路徑具有部分重疊，且第二預留導線與第二傳輸路徑具有部分重疊。

本揭示內容之又一態樣提供了一種檢測方法。檢測方法適用於顯示面板，檢測方法包含下列步驟：提供第一預留導線至第一測試墊，並提供第二預留導線至第二測試墊；經由第一開關提供第一傳輸路徑至第一測試墊，並經由第二開關 提供第二傳輸路徑至第二測試墊，其中第一預留導線與第一傳輸路徑具有部分重疊，且第二預留導線與第二傳輸路徑具有部分重疊；自第一測試墊經由第一預留導線傳輸閘極驅動信號至顯示面板，並自第二測試墊經由第二預留導線傳輸資料信號至顯示面板，以進行第一次畫面檢測；經由雷射切割方式斷開第一預留導線與第二預留導線；根據控制信號導通第一開關與第二開關；以及自第一測試墊經由第一傳輸路徑傳輸閘極驅動信號至顯示面板，並自第二測試墊經由第二傳輸路徑傳輸資料信號至該顯示面板，以進行第二次畫面檢測。

綜上所述，本揭露內容所示的顯示面板、檢測電路與其檢測方法可藉由預留導線達到低導通阻抗，以確保畫面檢測時的測試信號不會失真。檢測電路可藉由額外的控制信號VC再次對顯示面板進行檢測，使得檢測的方便性得以改善。另外，檢測電路可在不用額外的繞線下設置於顯示面板中，故檢測電路所使用的電路面積可大幅降低，以節省整體的成本。

100‧‧‧顯示面板

120‧‧‧影像顯示區

122‧‧‧畫素陣列

124‧‧‧畫素

140‧‧‧檢測電路

100A‧‧‧元件測試機

GL1~GLM‧‧‧閘極線

DL1~DLN‧‧‧資料線

VG[1]~VG[m]‧‧‧閘極驅動信號

VD[1]~VD[n]‧‧‧資料信號

200‧‧‧檢測電路

220、240‧‧‧測試墊

221、241‧‧‧預留導線

222、242‧‧‧傳輸路徑

260‧‧‧開關電路

280‧‧‧預定切割區域

N1、N2‧‧‧節點

VC‧‧‧控制信號

Q1、Q2‧‧‧開關

221a、221b、241a、242b‧‧‧區段

300‧‧‧方法

S310、S320、S330、S340、S350、S360‧‧‧步驟

為讓本揭示內容之上述和其他目的、特徵、優點與實施例能更明顯易懂，所附圖式之說明如下：第1圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示的一種顯示面板的示意圖；第2A圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示的一種檢測電路的示意圖；第2B圖為根據本揭示內容之一實施例繪示第2A圖的檢 測電路中的預留導線經外部切割後的示意圖第2A圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示的一種檢測電路的示意圖；以及第3圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示的一種適用於顯示面板的檢測方法的流程圖。

下文係舉實施例配合所附圖式作詳細說明，但所提供之實施例並非用以限制本發明所涵蓋的範圍，而結構操作之描述非用以限制其執行之順序，任何由元件重新組合之結構，所產生具有均等功效的裝置，皆為本發明所涵蓋的範圍。此外，圖式僅以說明為目的，並未依照原尺寸作圖。為使便於理解，下述說明中相同元件將以相同之符號標示來說明。

關於本文中所使用之『第一』、『第二』、…等，並非特別指稱次序或順位的意思，亦非用以限定本發明，其僅僅是為了區別以相同技術用語描述的元件或操作而已。

另外，關於本文中所使用之『耦接』或『連接』，均可指二或多個元件相互直接作實體或電性接觸，或是相互間接作實體或電性接觸，亦可指二或多個元件相互操作或動作。

請參照第1圖，第1圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示的一種顯示面板的示意圖。如第1圖所示，顯示面板100包含影像顯示區120與檢測電路140。

影像顯示區120包含由多條資料線DL1~DLN與多條閘極線GL1~GLM配置而形成的畫素陣列122與多個畫素124，其中多個畫素124配置於畫素陣列122中。影像顯示區 可根據多個閘極驅動信號VG[1]~VG[m]以及多個資料信號VD[1]~VD[n]而顯示不同影像。

檢測電路140設置於影像顯示區120的一側，並耦接至元件測試機100A接收上述多個閘極驅動信號VG[1]~VG[m]以及多個資料信號VD[1]~VD[n]，並將其傳送至影像顯示區120，以測試影像顯示區120是否能夠正常顯示影像。在測試完成後，檢測電路140可透過外部切割方式斷開與影像顯示區120的連接，以使影像顯示區120可開始經由面板驅動器(未繪示)驅動而顯示影像。當影像顯示區120還需要進一步地測試時，檢測電路140可根據控制信號VC而重新連接至影像顯示區120，以進行後續的檢測操作。

以下段落將提出各個實施例，來說明上述檢測電路140的功能與應用，但本發明並不僅以下所列的實施例為限。

請參照第2A圖，第2A圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示的一種檢測電路的示意圖。如第2A圖所示，檢測電路200包含測試墊220、測試墊240與開關電路260。

為簡化說明，以下僅以單一閘極線GLM與單一資料線DLN為例進行說明檢測電路140的相關操作，其中閘極線GLM耦接至節點N1以接收閘極驅動信號VG[m]，且資料線DLN耦接至節點N2以接收資料信號VD[n]。

測試墊220耦接至元件測試機(未繪示)，以接收閘極驅動信號VG[n]，並用以經由預留導線221與傳輸路徑222中之一者傳輸閘極驅動信號VG[m]至節點N1。測試墊240耦接至元件測試機，以接收資料信號VD[n]，並用以經由預留導線 241與傳輸路徑242中之一者傳輸資料信號VD[n]至節點N2。

開關電路260耦接至節點N1、節點N2、測試墊220以及測試墊240。開關電路260用以根據控制信號VC而使傳輸路徑222選擇性地連接至節點N1，並使傳輸路徑242選擇性地連接至節點N2。

於一些實施例中，如第2A圖所示，開關電路260包含開關Q1與開關Q2。開關Q1耦接於測試墊220與節點N1之間，並設置以根據控制信號VC選擇性地導通。開關Q2耦接於測試墊240與節點N2之間，並設置以根據控制信號VC選擇性地導通。

具體而言，如第2A圖所示，傳輸路徑222與傳輸路徑242各自包含第一段導線與第二段導線。開關Q1的第一端可經由預留導線221與傳輸路徑222的第一段導線中的任一者耦接於測試墊220以接收閘極驅動信號VG[n]，開關Q1的第二端耦接於節點N1，並可經由預留導線221與傳輸路徑222的第二段導線中的任一者耦接至開關Q1的第一端，且開關Q1的控制端用以接收控制信號VC。開關Q2的第一端耦接於測試墊240以接收資料信號VD[n]，開關Q2的第二端可經由預留導線241與傳輸路徑242的第一段導線中的任一者耦接於節點N2，並同時經由預留導線241與傳輸路徑242的第二段導線中的任一者耦接至開關Q2的第一端，且開關Q2的控制端用以接收控制信號VC。

藉由上述設置方式，開關Q1的第一端與其第二端可透過預留導線221相互耦接，且開關Q2的第一端與其第二端 可透過預留導線241相互耦接。於一些實施例中，預留導線221與傳輸路徑222之間具有部分重疊，且預留導線241與傳輸導線242之間具有部分重疊。也就是說，在一些實施例中，在佈局上，預留導線221與傳輸路徑222的第一段導線與第二段導線可由同一導線實現，且預留導線241與傳輸路徑242的第一段導線與第二段導線可由同一導線實現。

於各個實施例中，前述的預留導線221、預留導線241、傳輸路徑241以及傳輸路徑242皆可設置於影像顯示區12的同一側。換言之，檢測電路200可在不用額外的繞線下設置於顯示面板100中，以降低檢測電路200所使用的電路面積。

如第2A圖所示，測試墊220可經由預留導線221直接耦接至節點N1以及閘極線GLM，且測試墊240可經由預留導線241直接耦接至節點N2以及資料線DLN。如此一來，於初次測試時，閘極驅動信號VG[m]的傳遞路徑所對應的導通阻抗以及資料信號VD[n]的傳遞路徑所對應的導通阻抗皆得以降低，以確保閘極驅動信號VG[m]與資料信號VD[n]被傳輸時不會失真，並足以驅動顯示面板。

請參照第2B圖，第2B圖為根據本揭示內容之一實施例繪示第2A圖的檢測電路中的預留導線經外部切割後的示意圖。

如先前第2A圖所示，藉由預先佈局的方式，預留導線221與預留導線224可在開關電路260的下側大致形成預定切割區域280。在預定切割區域280內，預留導線221與預留導線224與開關Q1與開關Q2的連接狀態可被外部切割方式(例 如：雷射)斷開。

例如，當預留導線221對應的導線在預定切割區域280內經由雷射切割後，開關Q1的第一端與其第二端無法在透過預留導線221而互相耦接。同樣地，當預留導線222對應的導線在預定切割區域280內經由雷射切割後，開關Q2的第一端與其第二端無法透過預留導線241而互相耦接。如此一來，檢測電路200無法直接傳輸閘極驅動信號VG[n]與資料信號VD[m]至節點N1與節點N2，進而使前述的影像顯示區120可開始經由面板驅動器(未繪示)驅動而顯示影像。

再者，於一些實施例中，如第2B圖所示，藉由預先佈局的方式，預留導線221對應的導線在預定切割區域280內可至少存在區段221a與區段221b，且預留導線241對應的導線在預定切割區域280內可至少存在區段241a與區段241b，其中區段221a與區段221b彼此互相平行，且區段241a與區段241b彼此互相平行。如此一來，只要區段221a與區段221b中至少一者能被雷射切割，開關Q1的第一端與其第二端的連接狀態即可斷開。同樣地，只要區段241a與區段241b中至少一者能被雷射切割，開關Q2的第一端與其第二端的連接狀態即可斷開。藉由上述方式，可確保外部切割的操作正確性得以提升，以確保影像顯示區120後續可正確地經由面板驅動器(未繪示)驅動。

如第2B圖所示，若當影像顯示區120還需要進一步地測試時，開關Q1與開關Q2可在控制信號VC為高電位時導通。如此一來，測試墊220可藉由傳輸路徑222傳輸閘極驅動 信號VG[m]至節點N1，且測試墊240可藉由傳輸路徑242傳輸資料信號VD[n]至節點N2，以進行後續的影像檢測操作。

藉由傳輸路徑222以及傳輸路徑242，顯示面板100可根據實際需求而藉由檢測電路200重複地進行影像檢測。藉由切換控制信號VC，顯示面板100亦可在檢測後重新改由面板驅動器進行驅動。

第3圖為根據本揭示內容之一實施例所繪示的一種適用於顯示面板的檢測方法的流程圖。為方便說明，請一併參照第2A圖、第2B圖與第3圖，檢測方法300的操作將搭配第2A圖與第2B圖中的檢測電路200進行說明。

如第3圖所示，檢測方法300包含步驟S310、步驟S320、步驟S330、步驟S340、步驟S350以及步驟S360。於步驟S310中，提供預留導線221至測試墊220，並提供預留導線242至測試墊240。

於步驟S320中，經由開關Q1提供傳輸路徑222至測試墊220，並經由開關Q2提供傳輸路徑242至測試墊240，其中預留導線221與傳輸路徑222具有部分重疊，且預留導線241與傳輸路徑242具有部分重疊。

於步驟S330中，自測試墊220經由預留導線221傳輸閘極驅動信號VG[m]至顯示面板100，並自傳輸路徑242經由預留導線241傳輸資料信號VD[n]至顯示面板100，以進行第一次畫面檢測。

例如，如第2A圖所示，測試墊220可同時經由預留導線221與傳輸路徑222耦接至節點N1，且測試墊240可同 時經由預留導線241與傳輸路徑242耦接至節點N2。測試墊220與測試墊240可耦接至元件測試機(如第1圖所示的元件測試機100A)，以分別接收閘極驅動信號VG[m]以及資料信號VD[n]。如此，閘極驅動信號VG[m]可經由測試墊220與預留導線221傳送至顯示面板100中的閘極線GLM，且資料信號VD[n]可經由測試墊240與預留導線241傳送至顯示面板100中的資料線DLN。依此類推，多個閘極驅動信號VG[1]~VG[m]以及多個資料信號VD[1]~VD[n]可依序傳送至顯示面板100，以對顯示面板100進行初次的畫面檢測。

請再次參照第3圖。於步驟S340中，經由雷射切割方式斷開預留導線221與預留導線241。於步驟S350中，開關Q1與開關Q2根據控制信號VC而導通。於步驟S360中，自測試墊220經由傳輸路徑222傳輸閘極驅動信號VG[m]至顯示面板100，且自測試墊240經由傳輸路徑242傳輸資料信號VD[n]至顯示面板100，以進行第二次畫面檢測。

例如，如第2B圖所示，預留導線221與預留導線241兩者所對應的導線在預定切割區域280再經由雷射切割後，測試墊220僅可經由開關Q1以及傳輸路徑222耦接至節點N1，且測試墊240僅可經由開關Q2以及傳輸路徑242耦接至節點N2。當控制信號VC切換為高電壓位準時，開關Q1與開關Q2皆為導通。如此一來，測試墊220可自元件測試機(未繪示)接收閘極驅動信號VG[m]，並經由傳輸路徑222將閘極驅動信號VG[n]傳輸至閘極線GLM。同樣地，測試墊240可自元件測試機(未繪示)接收資料信號VD[n]，並經由傳輸路徑242將資 料信號VD[n]傳輸至資料線DLN，以對顯示面板100再次進行畫面檢測。

綜上所述，本揭露內容所示的顯示面板、檢測電路與其檢測方法可藉由預留導線達到低導通阻抗，以確保畫面檢測時的測試信號不會失真。檢測電路可藉由額外的控制信號VC再次對顯示面板進行檢測，使得檢測的方便性得以改善。另外，檢測電路可在不用額外的繞線下設置於顯示面板中，故檢測電路所使用的電路面積可大幅降低，以節省整體的成本。

雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

200‧‧‧檢測電路

220、240‧‧‧測試墊

221、241‧‧‧預留導線

222、242‧‧‧傳輸路徑

260‧‧‧開關電路

280‧‧‧預定切割區域

N1、N2‧‧‧節點

VC‧‧‧控制信號

Q1、Q2‧‧‧開關

VG[m]‧‧‧閘極驅動信號

VD[n]‧‧‧資料信號

Claims (10)

1. 一種顯示面板，包含：一閘極線，用以自一第一節點接收一閘極驅動信號；一資料線，用以自一第二節點接收一資料信號；一第一測試墊，用以經由一第一預留導線與一第一傳輸路徑中之一者傳輸該閘極驅動信號至該第一節點；一第二測試墊，用以經由一第二預留導線與一第二傳輸路徑中之一者提供該資料信號至該第二節點；以及一開關電路，用以根據一控制信號使該第一傳輸路徑選擇性地連接至該第一節點，並使該第二傳輸路徑選擇性地連接至該第二節點，其中該第一測試墊經由該第一預留導線連接至該第一節點，且該第二測試墊經由該第二預留導線連接至該第二節點。
2. 如申請專利範圍第1項之顯示面板，其中該第一測試墊經由該第一預留導線直接連接至該閘極線，且該第二測試墊經由該第二預留導線直接連接至該資料線。
3. 如申請專利範圍第1項之顯示面板，其中該開關電路包含：一第一開關，耦接於該第一測試墊與該第一節點之間，並用以根據該控制信號選擇性地導通；以及一第二開關，耦接於該第二測試墊與該第二節點之 間，並用以根據該控制信號選擇性地導通。
4. 如申請專利範圍第3項之顯示面板，其中該第一開關的一第一端耦接於該第一測試墊，以接收該閘極驅動信號，該第一開關的一第二端耦接至該第一節點，並同時經由該第一預留導線與該第一傳輸路徑耦接至該第一開關的該第一端，且該第一開關的一控制端用以接收該控制信號。
5. 如申請專利範圍第3項之顯示面板，其中該第二開關的一第一端耦接於該第二測試墊，以接收該資料信號，該第二開關的一第二端耦接至該第二節點，並同時經由該第二預留導線與該第二傳輸路徑耦接至該第二開關的該第一端，且該第二開關的一控制端用以接收該控制信號。
6. 如申請專利範圍第1項之顯示面板，其中該第一預留導線與該第一傳輸路徑具有部分重疊，且該第二預留導線與該第二傳輸路徑具有部分重疊。
7. 一種檢測電路，用以測試一顯示面板，該檢測電路包含：一第一測試墊；一第二測試墊；一第一開關，其中該第一開關的一第一端經由一第一 預留導線與一第一傳輸路徑中任一者耦接至該第一測試墊與該顯示面板，該第一開關的一第二端經由該第一預留導線與該第一傳輸路徑中任一者耦接至該第一開關的該第一端與該顯示面板，且該第一開關的一控制端用以接收一控制信號；以及一第二開關，其中該第二開關的一第一端經由由一第二預留導線與一第二傳輸路徑中任一者連接至該第二測試墊與該顯示面板，該第二開關的一第二端經由該第二預留導線與該第二傳輸路徑中任一者連接至該第二開關的該第一端與該顯示面板，且該第二開關的一控制端用以接收該控制信號；其中該第一導線與該該第一傳輸路徑具有部分重疊，且該第二導線與該第二傳輸路徑具有部分重疊。
8. 如申請專利範圍第7項之檢測電路，其中該顯示面板具有一顯示區，且該第一導線、該第二導線、該第一傳輸路徑與該第二傳輸路徑皆設置於該顯示區之一側。
9. 如申請專利範圍第7項之檢測電路，其中該顯示面板包含一閘極線與一資料線，其中該第一開關的該第二端耦接至該閘極線，且該第二開關的該第二端耦接至該資料線。
10. 一種檢測方法，適用於一顯示面板，該檢 測方法包含：提供一第一預留導線至一第一測試墊，並提供一第二預留導線至一第二測試墊；經由一第一開關提供一第一傳輸路徑至該第一測試墊，並經由一第二開關提供一第二傳輸路徑至該第二測試墊，其中該第一預留導線與該第一傳輸路徑具有部分重疊，且該第二預留導線與該第二傳輸路徑具有部分重疊；自該第一測試墊經由該第一預留導線傳輸一閘極驅動信號至該顯示面板，並自該第二測試墊經由一第二預留導線傳輸一資料信號至該顯示面板，以進行一第一次畫面檢測；經由一雷射切割方式斷開該第一預留導線與該第二預留導線；根據一控制信號導通該第一開關與該第二開關；以及自該第一測試墊經由該第一傳輸路徑傳輸該閘極驅動信號至該顯示面板，並自該第二測試墊經由該第二傳輸路徑傳輸該資料信號至該顯示面板，以進行一第二次畫面檢測。