CN111341233A - 显示面板残影检测方法以及检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板残影检测方法以及检测装置，显示面板残影检测方法包括：控制待测显示面板显示棋盘格画面，棋盘格画面包括矩阵排列的多个纯色子画面，相邻两个纯色子画面的灰阶分别为第一灰阶和第二灰阶；在棋盘格画面显示第一预定时长后，控制待测显示面板显示预定灰阶的检测画面；控制参照显示面板显示标定画面，标定画面包括矩阵排列且相互交替的多个第一矩阵图片和多个第二矩阵图片，第一矩阵图片的灰阶与预定灰阶相同，第二矩阵图片的灰阶包括与预定灰阶相同的第三灰阶和与预定灰阶不同的第四灰阶；比对检测画面和标定画面，以得到待测显示面板的残影程度。本发明提供的显示面板残影检测方法能够提高对显示面板残影检测的准确性。

Description

显示面板残影检测方法以及检测装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板残影检测方法以及检测装置。

背景技术

显示面板出货前需要对其进行各项指标的检测，其中，残影消失时间是评价显示面板质量的一项重要指标。残影是指显示面板显示一种画面一段时间后，当切换到另一画面时，先前的画面会有残留，经过一段时间后方可消失的现象。

如何准确有效地检测显示面板的残影程度，以客观的评价显示面板的质量成为目前亟待解决的问题。

发明内容

本发明提供一种显示面板残影检测方法以及检测装置，能够提高对显示面板残影检测的准确性。

一方面，根据本发明实施例提供一种显示面板残影检测方法，包括：控制待测显示面板显示棋盘格画面，棋盘格画面包括矩阵排列的多个纯色子画面，每相邻两个纯色子画面的灰阶分别为第一灰阶和第二灰阶；在棋盘格画面显示第一预定时长后，控制待测显示面板显示具有预定灰阶的检测画面，预定灰阶处于第一灰阶和第二灰阶之间；控制参照显示面板显示标定画面，标定画面包括矩阵排列的多个第一矩阵图片和多个第二矩阵图片，每个第一矩阵图片与每个第二矩阵图片相互交替设置，第一矩阵图片包括多个第一单元格，第一矩阵图片中第一单元格的数量与纯色子画面中对应的子像素的数量相同，第一矩阵图片的灰阶与预定灰阶相同，第二矩阵图片包括多个第二单元格，第二矩阵图片中第二单元格的数量与纯色子画面中对应的子像素的数量相同，第二矩阵图片的灰阶包括第三灰阶和第四灰阶，第三灰阶与预定灰阶相同，第四灰阶与预定灰阶不同，残影等级与第三灰阶的第二单元格数量和第四灰阶的第二单元格的数量的比例具有对应关系；比对检测画面和标定画面，以得到待测显示面板的残影程度。

根据本发明实施例的一个方面，控制参照显示面板显示标定画面之前，显示面板残影检测方法还包括：形成标定画面，包括：根据待测显示面板中纯色子画面中对应的子像素的数量以及预定灰阶形成第一矩阵图片；根据待测显示面板中纯色子画面中对应的子像素的数量、预定灰阶以及残影等级形成第二矩阵图片；将第一矩阵图片与第二矩阵图片相互交替并矩阵排列拼接形成标定画面。

根据本发明实施例的一个方面，第二矩阵图片包括多个矩阵子图片，矩阵子图片包括矩阵排列的多个第二单元格，根据待测显示面板中纯色子画面中对应的子像素的数量、预定灰阶以及残影等级形成第二矩阵图片包括：根据待测显示面板中纯色子画面中对应的子像素的数量、预定灰阶以及残影等级形成矩阵子图片，残影等级与矩阵子图片中第三灰阶的第二单元格数量和第四灰阶的第二单元格的数量比例具有对应关系；将多个矩阵子图片矩阵排列拼接形成第二矩阵图片。

根据本发明实施例的一个方面，残影等级递增时，矩阵子图片中第四灰阶的第二单元格的数量以等差数列递增。

根据本发明实施例的一个方面，矩阵子图片中包括偶数个第二单元格，残影等级包括第一等级，在第一等级，矩阵子图片中第四灰阶的第二单元格的数量与第三灰阶的第二单元格的数量相同，或者，矩阵子图片中包括奇数个第二单元格，残影等级包括第一等级，在第一等级，矩阵子图片中第四灰阶的第二单元格的数量与第三灰阶的第二单元格的数量的差值为1。

根据本发明实施例的一个方面，第三灰阶与第四灰阶之间的差值为一个灰阶，第一灰阶和第二灰阶中的一者为L0，另一者为L255，预定灰阶为L127。

根据本发明实施例的一个方面，标定画面包括第一标定画面和第二标定画面，第一标定画面限定的残影等级与第二标定画面限定的残影等级不同，显示面板残影检测方法还包括：控制参照显示面板同时显示第一标定画面和第二标定画面；比对检测画面、第一标定画面和第二标定画面，以得到待测显示面板的残影程度。

根据本发明实施例的一个方面，比对检测画面和标定画面，以得到待测显示面板的残影程度包括：在待测显示面板显示检测画面第二预定时长后，对比检测画面的亮度差和标定画面的亮度差，以得到待测显示面板的残影程度。

根据本发明实施例的一个方面，比对检测画面和标定画面，以得到待测显示面板的残影程度，包括：持续比对检测画面的亮度差和标定画面的亮度差，获得检测画面的亮度差转变为与标定画面的亮度差相同时的转变时长，根据转变时长得到待测显示面板的残影程度。

另一方面，本发明实施例还提供一种显示面板的残影检测装置，包括：控制模块，被配置为将待测显示面板在显示棋盘格画面第一预定时长后，控制待测显示面板将棋盘格画面切换为具有预定灰阶的检测画面，棋盘格画面包括矩阵排列的多个纯色子画面，每相邻两个纯色子画面的灰阶分别为第一灰阶和第二灰阶，预定灰阶处于第一灰阶和第二灰阶之间；参照显示面板，被配置为显示标定画面，标定画面包括矩阵排列的多个第一矩阵图片和多个第二矩阵图片，每个第一矩阵图片与每个第二矩阵图片相互交替设置，第一矩阵图片包括多个第一单元格，第一矩阵图片中第一单元格的数量与纯色子画面中对应的子像素的数量相同，第一矩阵图片的灰阶与预定灰阶相同，第二矩阵图片包括多个第二单元格，第二矩阵图片中第二单元格的数量与纯色子画面中对应的子像素的数量相同，第二矩阵图片的灰阶包括第三灰阶和第四灰阶，第三灰阶与预定灰阶相同，第四灰阶与预定灰阶不同，残影等级与第三灰阶的第二单元格数量和第四灰阶的第二单元格的数量的比例具有对应关系，其中，所述标定画面用于与所述检测画面比对以得到所述待测显示面板的残影程度。

根据本发明的显示面板残影检测方法以及检测装置，其中，显示面板残影检测方法通过将待测显示面板显示棋盘格画面第一预设时长后，控制待测显示面板显示具有预定灰阶的检测画面，并控制参照显示面板显示能够限定残影等级的标定画面，由于标定画面中包括第一矩阵图片和第二矩阵图片，通过将第一矩阵图片中包括与纯色子画面对应的子像素数量相同的第一单元格且第一矩阵图片与预定灰阶相同，以使第一矩阵图片与纯色子画面的显示环境以及显示效果相同，通过将第二矩阵图片中包括与纯色子画面对应的子像素数量相同的第二单元格，以使第二矩阵图片与纯色子画面的显示环境以及显示效果相同，并根据残影等级合理设置第三灰阶的第二单元格的数量和第四灰阶的第二单元格的数量，使得第一矩阵图片和第二矩阵图片之间能够形成明显的亮度差，以更准确的对显示面板的残影进行标定。通过将检测画面和标定画面进行对比，例如将检测画面的亮度差与标定画面的亮度差进行对比，以准确的测试待测显示面板的残影程度，减小不同的残影测试人员在对待测显示面板的残影测试时的不确定度，可以客观准确的评价显示面板的残影程度，为显示面板的质量评价提供可靠依据。

附图说明

通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征，附图并未按照实际的比例绘制。

图1是本发明一个实施例提供的一种显示面板残影检测方法的流程示意图；

图2是待测显示面板显示棋盘格画面的示意图；

图3是待测显示面板显示检测画面的示意图；

图4是参照显示面板显示标定画面的示意图；

图5是图4中Q1处的放大图；

图6是图4中Q2处的放大图；

图7是本发明另一个实施例提供的一种显示面板残影检测方法的流程示意图；

图8是本发明一个实施例提供的显示面板的残影检测装置。

图中：

10-棋盘格画面；11-纯色子画面；

20-检测画面；

30-标定画面；31-第一矩阵图片；311-第一单元格；32-第二矩阵图片；321-矩阵子图片；3211-第二单元格；

100-检测装置；110-控制模块；120-参照显示面板。

具体实施方式

下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本发明，并不被配置为限定本发明。对于本领域技术人员来说，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

应当理解，在描述部件的结构时，当将一层、一个区域称为位于另一层、另一个区域“上面”或“上方”时，可以指直接位于另一层、另一个区域上面，或者在其与另一层、另一个区域之间还包含其它的层或区域。并且，如果将部件翻转，该一层、一个区域将位于另一层、另一个区域“下面”或“下方”。

下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例。此外，下文中所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。

在显示面板的研发和量产阶段不可避免的会产生一定的不良样品，为了保证显示面板的质量，控制生产成本，对显示面板进行缺陷检测，例如对显示面板的残影程度进行检测成为显示面板不可或缺的重要部分。

通常采用的是人工视觉检测法对待测显示面板的残影程度进行检测，即通过目视检查残影消失时间以对残影程度进行判断。但是，人工视觉检测法易受到测试员的主观影响，不同的测试员或者同一测试员在不同时间观察待测显示面板残影的消失时间都会存在差异，难以保证对待测显示面板残影程度测试的稳定性。

为了解决上述问题，本发明实施例提供了一种显示面板残影检测方法以及显示面板的残影检测装置。下面结合图1至图8对本发明实施例的显示面板残影检测方法以及显示面板的残影检测装置进行详细描述。

本实施例中的显示面板可以是液晶显示面板(Liquid Crystal Display，LCD)，也可以是有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)的显示面板或微发光二极管(Micro-LED)的显示面板，对于显示面板的类型，本发明不做限制。

请参阅图1，图1示出了本发明一个实施例提供的一种显示面板残影检测方法的流程示意图。本实施例的显示面板残影检测方法包括：

S100、控制待测显示面板显示棋盘格画面。

请参阅图2所示，图2示出了待测显示面板显示棋盘格画面的示意图。本发明实施例在对待测显示面板的残影进行检测时，首先将待测显示面板显示棋盘格画面10，棋盘格画面10包括矩阵排列的多个纯色子画面11，每相邻两个纯色子画面11的灰阶分别为第一灰阶和第二灰阶，其中第一灰阶和第二灰阶不同，由于第一灰阶和第二灰阶不同使得每相邻两个纯色子画面11存在亮度差。可选的，第一灰阶和第二灰阶可以为待测显示面板所能显示灰阶的最大值和最小值，从而提高显示面板残影检测的准确性。第一灰阶和第二灰阶中的一者可以为L0，另一者可以为L255，即待测显示面板显示黑白棋盘格画面10。

在具体实施时，待测显示面板显示的棋盘格画面10可以根据待测显示面板的比例进行调整，示例性的，棋盘格画面10可以为8×8矩阵排列的棋盘格。可选的，棋盘格画面10的每个纯色子画面11的形状为矩形，对于8×8矩阵排列的棋盘格画面10而言，可以根据待测显示面板的像素排布结构划分棋盘格，例如可以将待测显示面板的子像素的行数和子像素的列数平均分为8份，以得到相应的棋盘格。其中，棋盘格画面10的具体结构和矩阵排列可以根据用户需求进行设定。

S200、在棋盘格画面显示第一预定时长后，控制待测显示面板显示具有预定灰阶的检测画面。

请参阅图3所示，图3示出了待测显示面板显示检测画面的示意图。本实施例中的检测画面20具有预定灰阶，预定灰阶处于第一灰阶和第二灰阶之间。当第一灰阶和第二灰阶中的一者为L0，另一者为L255时，检测画面20为处于黑白画面之间具有预设灰阶等级的画面，即检测画面20的亮度处于最亮画面(白色画面)和最暗画面(黑色画面)之间的一个画面。可选的，在待测显示面板的残影检测中，预设灰阶可以为L127。

在具体实施时，棋盘格画面10显示的第一预定时长可以根据用户的需求进行设定，第一预定时长可以为10分钟、一个小时、两个小时或者更长时间。通过设定合理的第一预定时长，能够提高对显示面板的残影程度测试准确性。

S300、控制参照显示面板显示标定画面。

请一并参阅图4至图6，图4示出了参照显示面板显示标定画面的示意图，图5示出了图4中Q1处的放大图，图6是图4中Q2处的放大图。在图4至图6中，利用同一种填充图案表示具有相同灰阶的画面。本发明实施例中的标定画面30包括矩阵排列的多个第一矩阵图片31和多个第二矩阵图片32，每个第一矩阵图片31与每个第二矩阵图片32相互交替设置，第一矩阵图片31包括多个第一单元格311，第一矩阵图片31中第一单元格311的数量与纯色子画面11中对应的子像素的数量相同，第一矩阵图片31的灰阶与预定灰阶相同。通过设置第一矩阵图片31中第一单元格311的数量与纯色子画面11中对应的子像素的数量相同且第一矩阵图片31的灰阶预定灰阶相同，以使第一矩阵图片31与纯色子画面11的显示环境且显示效果相同，有效的避免显示效果不一致时影响标定画面30的标定作用。其中，第一单元格的形状和尺寸可以与子像素的形状和尺寸相同。

请参阅图6，第二矩阵图片32包括多个第二单元格3211，第二矩阵图片32中第二单元格3211的数量与纯色子画面11中对应的子像素的数量相同，第二矩阵图片32的灰阶包括第三灰阶和第四灰阶，第三灰阶与预定灰阶相同，第四灰阶与预定灰阶不同，残影等级与第三灰阶的第二单元格3211数量和第四灰阶的第二单元格3211的数量的比例具有对应关系。通过设置第二矩阵图片32中第二单元格3211的数量与纯色子画面11中对应的子像素的数量相同，以使第二矩阵图片32与纯色子画面11的显示环境和显示效果相同，并根据残影等级合理设置第三灰阶的第二单元格3211的数量和第四灰阶的第二单元格3211的数量之间的比例，使得第一矩阵图片31和第二矩阵图片32之间能够形成明显的亮度差，以更准确的对待测显示面板的残影等级进行标定。可选的，第二单元格3211的显示的画面为纯色画面。

可选的，第三灰阶与第四灰阶之间的差值为一个灰阶。当预设灰阶可以为L127时，第三灰阶为L127，第四灰阶为L126或L128。可选的，第三灰阶与第四灰阶之间的差值可以根据用户需求进行设定，第三灰阶与第四灰阶之间的差值也可为两个灰阶甚至更多。

S400、比对检测画面和标定画面，以得到待测显示面板的残影程度。

在对待测显示面板的残影进行检测时，待测显示面板显示检测画面20时，显示面板的残影在未完全消失时，测试者在观察检测画面20时，仍会看到检测画面20上存在亮度差。可以通过测试员将检测画面20和标定画面30进行对比，例如在预定的时间内比对检测画面20的亮度差和标定画面30的亮度差，以得到待测显示面板的残影程度。当然也可以通过亮度采集装置采集检测画面20的亮度差和标定画面30的亮度差，并将检测画面20和标定画面30进行对比，以得到待测显示面板的残影程度。

根据本发明的显示面板残影检测方法，其中，显示面板残影检测方法通过将待测显示面板显示棋盘格画面10第一预设时长后，控制待测显示面板显示具有预定灰阶的检测画面20，且控制参照显示面板120显示能够限定残影等级的标定画面30，通过将检测画面20和标定画面30进行对比，例如测试者能够准确的判断出检测画面20的亮度差是否与标定画面30的亮度差一致，以准确的测量显示面板的残影程度，能够减小不同的残影测试人员在对待测显示面板的残影测试时的不确定度，可以客观准确的评价待测显示面板的残影程度，为显示面板的质量评价提供可靠依据。

请参阅图7，图7示出本发明另一个实施例提供的一种显示面板残影检测方法的流程示意图。在一些实施例中，步骤S300、控制参照显示面板120显示标定画面30之前，显示面板残影检测方法还包括：

S250、形成标定画面。

其中，步骤S250、形成标定画面包括：

根据待测显示面板中纯色子画面11中对应的子像素的数量以及预定灰阶形成第一矩阵图片31；

根据待测显示面板中纯色子画面11中对应的子像素的数量、预定灰阶以及残影等级形成第二矩阵图片32；

将第一矩阵图片31与第二矩阵图片32相互交替并矩阵排列拼接形成标定画面30。

可选的，可以使用MATLAB软件制作标定画面30，其中，第一矩阵图片31中的形状和尺寸与待测显示面板中纯色子画面11的形状和尺寸均相同，使得第一矩阵图片31与其中一个纯色子画面11的显示环境一致，减少由于第一矩阵图片31与纯色子画面11形状和尺寸不同时对测试员造成视觉上的影响，提高测试员在目视检测待测显示面板的残影程度时的准确性。同样的，第二矩阵图片32中的形状和尺寸与待测显示面板中纯色子画面11的形状和尺寸均相同，使得第一矩阵图片31与其中一个纯色子画面11的显示环境和显示效果一致。通过将第一矩阵图片31与第二矩阵图片32相互交替并矩阵排列拼接形成标定画面30，能够更准确的反映出待测显示面板的残影消失过程中的显示画面，以使标定画面30将残影等级固定，将亮度发生变化的检测画面20和亮度保持固定的标定画面30进行对比，减少测试员主观判断带来的不确定性，从而有效减小同一测试员在不同时间或者不同的测试员对待测显示面板的残影测试时存在的差异。

进一步的，通过形成标定画面30，使得标定画面30能够以图片的形式保存、复制或粘贴，能够对不同测试地点的待测显示面板的残影等级进行标定，提高了本发明实施例的显示面板残影测试方法的通用性。

为了提高标定画面30的制作效率，简化标定画面30制作难度，在一些实施例中，第二矩阵图片32包括多个矩阵子图片321，矩阵子图片321包括矩阵排列的多个第二单元格3211，根据待测显示面板中纯色子画面11中对应的子像素的数量、预定灰阶以及残影等级形成第二矩阵图片32的步骤包括：

根据待测显示面板中纯色子画面11中对应的子像素的数量、预定灰阶以及残影等级形成矩阵子图片321，残影等级与矩阵子图片321中第三灰阶的第二单元格3211数量和第四灰阶的第二单元格3211的数量比例具有对应关系；

将多个矩阵子图片321矩阵排列拼接形成第二矩阵图片32。

在具体实施时，可以使用MATLAB软件形成其中一个矩阵子图片321，矩阵子图片321能够限定残影等级，然后再用MATLAB软件将矩阵子图片321复制并矩阵排列拼接形成第二矩阵图片32，有效提高了第二矩阵图片32制作效率。

在一些实施例中，可以形成多个标定画面30以对待测显示面板的残影程度进行更精确的检测，多个标定画面30所限定的残影等级不同。残影等级递增时，矩阵子图片321中第四灰阶的第二单元格3211的数量以等差数列递增。通过合理设置第四灰阶的第二单元格3211的数量，以标定画面30中的亮度差更加明显化，以更准确的限定出残影等级。需要说明的是，残影等级递增时表明待测显示面板的残影消失的时间递增，也即表明待测显示面板的残影消失的能力越差。

下面对形成矩阵子图片321的具体过程进行描述。具体的，可以根据第二矩阵图片32在第二单元格3211的行数和第二单元格3211的列数平均划分，以限定矩阵子图片32的尺寸。

在一些实施例中，矩阵子图片321中包括偶数个矩阵排列第二单元格3211，残影等级包括第一等级，在第一等级，矩阵子图片321中第四灰阶的第二单元格3211的数量与第三灰阶的第二单元格3211的数量相同，例如矩阵子图片321中包括6×6矩阵排列的第二单元格3211时，在第一等级，矩阵子图片321中第四灰阶的第二单元格3211的数量与第三灰阶的第二单元格3211的数量均为18个。第四灰阶的第二单元格3211与第三灰阶的第二单元格3211的排布方式可以为相互交替设置，也可以随机设置。

残影等级还可以包括第二等级和第三等级，以矩阵子图片321中包括6×6矩阵排列的第二单元格3211为例进行说明，在第二等级，矩阵子图片321中第四灰阶的第二单元格3211的数量为18+N个，其中N为正整数且N大于等于2，第三灰阶的第二单元格3211的数量均为18-N个。在第三等级，矩阵子图片321中第四灰阶的第二单元格3211的数量为18+2N个，第三灰阶的第二单元格3211的数量均为18-2N个。通过上述设置，可以形成残影等级为第二等级的标定画面30和残影等级为第三等级的标定画面30，以对待测显示面板的残影程度进行更准确的标定，同时通过合理设置不同残影等级中矩阵子图片321中第四灰阶的第二单元格3211的数量之间的差值，使得限定不同残影等级的标定画面30之间具有明显的目视效果差异。

在一些实施例中，矩阵子图片321中包括奇数个第二单元格3211，残影等级包括第一等级，在第一等级，矩阵子图片321中第四灰阶的第二单元格3211的数量与第三灰阶的第二单元格3211的数量的差值为1。例如矩阵子图片321中包括5×5矩阵排列的第二单元格3211时，在第一等级，矩阵子图片321中第四灰阶的第二单元格3211的数量与第三灰阶的第二单元格3211的数量中其中一者为13个，另一者为12个。第四灰阶的第二单元格3211与第三灰阶的第二单元格3211的排布方式可以为相互交替设置，也可以随机设置。当残影等级还包括第二等级时，在第二等级，矩阵子图片321中第四灰阶的第二单元格3211的数量可以为13+D个，其中D为正整数且D大于等于2，第三灰阶的第二单元格3211的数量均为12-D个。

为了对待测显示面板不同的残影等级进行标定，标定画面30包括第一标定画面30和第二标定画面30，第一标定画面30限定的残影等级与第二标定画面30限定的残影等级不同，显示面板残影检测方法还包括：

控制参照显示面板120同时显示第一标定画面和第二标定画面；

比对检测画面20、第一标定画面30和第二标定画面30，以得到待测显示面板的残影程度。

其中第一标定画面和第二标定画面的形成方法相似，均可以通过第一矩阵图片31和第二矩阵图片32拼接形成。通过上述设置，使得测试员将不同的标定画面30与待测显示面板的检测画面20进行对比，以提高对待测显示面板的残影程度检测的准确性。

在一些实施例中，步骤S400、比对检测画面和标定画面，以得到待测显示面板的残影程度包括：

在待测显示面板显示检测画面20第二预定时长后，对比检测画面20的亮度差和标定画面30的亮度差，以得到待测显示面板的残影程度。

具体的，在待测显示面板显示检测画面20第二预定时长后，测试员可以分别目视检测画面20的亮度差和标定画面30的亮度差，并通过测试员将目视到的检测画面20的亮度差和标定画面30的亮度差进行对比，以得到待测显示面板的残影程度。例如，在第二预定时长后，测试员得到检测画面20的亮度差和标定画面30的亮度差相同，则得到待检测面板在第二预定时长时的残影等级与标定画面30相同。在第二预定时长后，测试员得到检测画面20的亮度差低于标定画面30的亮度差，则得到待检测面板在第二预定时长时的残影等级优于标定画面30所限定的残影等级。当参照显示面板同时显示第一标定画面和第二标定画面时，测试员将目视到的检测画面20的亮度差分别和第一标定画面的亮度差、第二标定画面的亮度差进行对比，以得到待测显示面板的残影程度。

在一些实施例中，步骤S400、比对检测画面和标定画面，以得到待测显示面板的残影程度包括：

持续比对检测画面20的亮度差和标定画面30的亮度差，获得检测画面20的亮度差转变为与标定画面30亮度差相同时的转变时长，根据转变时长得到待测显示面板的残影程度。

具体的，在待测显示面板显示检测画面20第二预定时长后，测试员在开始计时，然后可以持续比对检测画面20的亮度差和标定画面30的亮度差，当观察到检测画面20的亮度差转变为与标定画面30的亮度差相同时结束计时，得到转变时长，然后测试员根据转变时长得到待测显示面板的残影程度。可选的，可以预先设定满足要求的测试面板的预设转变时长，当待测检测面板的转变时长小于等于预设转变时长时，表明待测显示面板为合格的显示面板，从而提高最终显示面板的质量。

为了对本发明实施例的显示面板残影检测方法进行验证，将本发明实施例的检测方法与对比例提供的待测显示面板的残影检测方法进行对比。

对比例中残影检测方法包括：

控制待测显示面板显示黑白棋盘格画面；

在黑白棋盘格画面显第三预定时长后，控制待测显示面板显示预定灰阶的检测画面；

确定残影小时的时间，以得到待测显示面板的残影程度。

其中，利用本发明实施例的检测方法中的棋盘格画面显示的第一预定时长与对比例中的第三预定时长相同，且两种方法中预定灰阶相同，例如可以为L127。

在测试时，多位残影测试员分别利用对比例提供的检测方法和本发明实施例提供的检测方法，对相同的4个待测显示面板进行测试，重复测试3～4次。

通过对比测试结果，得到测试员通过采用本发明实施例提供的显示面板的残影检测方法进行测试时，每个测试员对4个待测显示面板进行残影测试时，不确定度平均下降20s，得到待测显示面板的残影程度更加准确可靠。对相同的待测显示面板进行3次测试时，确定待测显示面板的残影程度所用时间差约为10s，表明利用本发明实施例的检测方法进行测试时的重复性更好，便于多次测量。

综上，根据本发明的显示面板残影检测方法以及检测装置100，其中，显示面板残影检测方法通过将待测显示面板显示棋盘格画面10第一预设时长后，控制待测显示面板显示具有预定灰阶的检测画面20，并控制参照显示面板120显示能够限定残影等级的标定画面30，由于标定画面30中包括第一矩阵图片31和第二矩阵图片32，通过将第一矩阵图片31中包括与纯色子画面11对应的子像素数量相同的第一单元格311且第一矩阵图片31与预定灰阶相同，以使第一矩阵图片31与纯色子画面11的显示环境和显示效果相同，通过将第二矩阵图片32中包括与纯色子画面11对应的子像素数量相同的第二单元格3211，以使第二矩阵图片32与纯色子画面11的显示环境和显示效果相同，并根据残影等级合理设置第三灰阶的第二单元格3211的数量和第四灰阶的第二单元格3211的数量，使得第一矩阵图片31和第二矩阵图片32之间能够形成明显的亮度差，以更准确的对显示面板的残影进行标定。通过将检测画面20和标定画面30进行对比，例如将检测画面20的亮度差与标定画面30的亮度差进行对比，以准确的测量显示面板的残影程度，能够减小不同的残影测试人员在对待测显示面板的残影测试时的不确定度，可以客观准确的评价待测显示面板的残影程度，为显示面板的质量评价提供可靠依据。

请参阅图8，图8示出本发明一个实施例提供的显示面板的残影检测装置。本发明实施例还提供一种显示面板的残影检测装置100，包括控制模块110和参照显示面板120。

控制模块110被配置为将待测显示面板在显示棋盘格画面10第一预定时长后，控制待测显示面板将棋盘格画面10切换为具有预定灰阶的检测画面20，棋盘格画面10包括矩阵排列的多个纯色子画面11，每相邻两个纯色子画面11的灰阶分别为第一灰阶和第二灰阶，预定灰阶处于第一灰阶和第二灰阶之间。

参照显示面板120被配置为显示标定画面30，标定画面30能够限定残影等级，标定画面30包括矩阵排列的多个第一矩阵图片31和多个第二矩阵图片32，每个第一矩阵图片31与每个第二矩阵图片32相互交替设置，第一矩阵图片31包括多个第一单元格311，第一矩阵图片31中第一单元格311的数量与纯色子画面11中对应的子像素的数量相同，第一矩阵图片31的灰阶与预定灰阶相同，第二矩阵图片32包括多个第二单元格3211，第二矩阵图片32中第二单元格3211的数量与纯色子画面11中对应的子像素的数量相同，第二矩阵图片32的灰阶包括第三灰阶和第四灰阶，第三灰阶与预定灰阶相同，第四灰阶与预定灰阶不同，残影等级与第三灰阶的第二单元格3211数量和第四灰阶的第二单元格3211的数量的比例具有对应关系，其中，标定画面30用于与检测画面20比对以得到待测显示面板的残影程度。

在对待测显示面板的残影进行检测时，可以通过测试员目视将检测画面20和标定画面30进行比对，以得到待测显示面板的残影程度。

在一些实施例中，显示面板的残影检测装置100还可以包括亮度采集模块和处理模块，亮度采集模块用于采集检测画面20的亮度差和标定画面30的亮度差，处理模块用于对采集到的检测画面20的亮度差和标定画面30的亮度差进行对比，以得到待测显示面板的残影程度。在具体实施时，可以在棋盘格画面10的每个纯色子画面11的正上方设置一个亮度采集模块，当棋盘格画面10切换至检测画面20时，亮度采集模块可以采集检测画面20的多个位置处的亮度并将采集到的亮度发送至处理模块，处理模块分别计算相邻亮度采集模块采集到的亮度之间的差值并将多个亮度差值进行均值处理得到检测画面20的亮度差。进一步的，可以利用相同的方式对标定画面30的亮度差进行测定。因此，本发明实施例的显示面板的残影检测装置100，通过显示标定画面30，标定画面30能够将残影等级进行固定，使得在残影检测过程中，将标定画面30与检测画面20进行对比，能够提高残影检测的准确性，减少不同测试员或同一测试员在不同的测试时间中产生的差异，为显示面板的质量评价提供可靠依据。

依照本发明如上文的实施例，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (10)

1.一种显示面板残影检测方法，其特征在于，包括：

控制待测显示面板显示棋盘格画面，所述棋盘格画面包括矩阵排列的多个纯色子画面，每相邻两个纯色子画面的灰阶分别为第一灰阶和第二灰阶；

在所述棋盘格画面显示第一预定时长后，控制所述待测显示面板显示具有预定灰阶的检测画面，所述预定灰阶处于所述第一灰阶和所述第二灰阶之间；

控制参照显示面板显示标定画面，所述标定画面包括矩阵排列的多个第一矩阵图片和多个第二矩阵图片，每个所述第一矩阵图片与每个所述第二矩阵图片相互交替设置，所述第一矩阵图片包括多个第一单元格，所述第一矩阵图片中所述第一单元格的数量与所述纯色子画面中对应的子像素的数量相同，所述第一矩阵图片的灰阶与所述预定灰阶相同，所述第二矩阵图片包括多个第二单元格，所述第二矩阵图片中所述第二单元格的数量与所述纯色子画面中对应的子像素的数量相同，所述第二矩阵图片的灰阶包括第三灰阶和第四灰阶，所述第三灰阶与所述预定灰阶相同，所述第四灰阶与所述预定灰阶不同，残影等级与所述第三灰阶的所述第二单元格数量和所述第四灰阶的所述第二单元格的数量的比例具有对应关系；

比对所述检测画面和所述标定画面，以得到所述待测显示面板的残影程度。

2.根据权利要求1所述的显示面板残影检测方法，其特征在于，所述控制参照显示面板显示标定画面之前，所述显示面板残影检测方法还包括：

形成所述标定画面，包括：

根据所述待测显示面板中所述纯色子画面中对应的子像素的数量以及所述预定灰阶形成所述第一矩阵图片；

根据所述待测显示面板中所述纯色子画面中对应的子像素的数量、所述预定灰阶以及所述残影等级形成所述第二矩阵图片；

将所述第一矩阵图片与所述第二矩阵图片相互交替并矩阵排列拼接形成所述标定画面。

3.根据权利要求2所述的显示面板残影检测方法，其特征在于，所述第二矩阵图片包括多个矩阵子图片，所述矩阵子图片包括矩阵排列的多个所述第二单元格，所述根据所述待测显示面板中所述纯色子画面中对应的子像素的数量、所述预定灰阶以及所述残影等级形成所述第二矩阵图片包括：

根据所述待测显示面板中所述纯色子画面中对应的子像素的数量、所述预定灰阶以及所述残影等级形成所述矩阵子图片，所述残影等级与所述矩阵子图片中所述第三灰阶的所述第二单元格数量和所述第四灰阶的所述第二单元格的数量比例具有所述对应关系；

将多个所述矩阵子图片矩阵排列拼接形成所述第二矩阵图片。

4.根据权利要求3所述的显示面板残影检测方法，其特征在于，所述残影等级递增时，所述矩阵子图片中所述第四灰阶的所述第二单元格的数量以等差数列递增。

5.根据权利要求4所述的显示面板残影检测方法，其特征在于，所述矩阵子图片中包括偶数个所述第二单元格，所述残影等级包括第一等级，在所述第一等级，所述矩阵子图片中所述第四灰阶的所述第二单元格的数量与所述第三灰阶的所述第二单元格的数量相同，

或者，所述矩阵子图片中包括奇数个所述第二单元格，所述残影等级包括第一等级，在所述第一等级，所述矩阵子图片中所述第四灰阶的所述第二单元格的数量与所述第三灰阶的所述第二单元格的数量的差值为1。

6.根据权利要求1所述的显示面板残影检测方法，其特征在于，所述第三灰阶与所述第四灰阶之间的差值为一个灰阶，

所述第一灰阶和所述第二灰阶中的一者为L0，另一者为L255，所述预定灰阶为L127。

7.根据权利要求1所述的显示面板残影检测方法，其特征在于，所述标定画面包括第一标定画面和第二标定画面，所述第一标定画面限定的残影等级与所述第二标定画面限定的残影等级不同，

所述显示面板残影检测方法还包括：

控制所述参照显示面板同时显示所述第一标定画面和所述第二标定画面；

比对所述检测画面、所述第一标定画面和所述第二标定画面，以得到所述待测显示面板的残影程度。

8.根据权利要求1至7任意一项所述的显示面板残影检测方法，其特征在于，所述比对所述检测画面和所述标定画面，以得到所述待测显示面板的残影程度包括：

在所述待测显示面板显示所述检测画面第二预定时长后，对比所述检测画面的亮度差和所述标定画面的亮度差，以得到所述待测显示面板的残影程度。

9.根据权利要求1至7任意一项所述的显示面板残影检测方法，其特征在于，所述比对所述检测画面和所述标定画面，以得到所述待测显示面板的残影程度，包括：

持续比对所述检测画面的亮度差和所述标定画面的亮度差，获得所述检测画面的亮度差转变为与所述标定画面的亮度差相同时的转变时长，根据所述转变时长得到所述待测显示面板的残影程度。

10.一种显示面板的残影检测装置，其特征在于，包括：

控制模块，被配置为将待测显示面板在显示棋盘格画面第一预定时长后，控制所述待测显示面板将所述棋盘格画面切换为具有预定灰阶的检测画面，所述棋盘格画面包括矩阵排列的多个纯色子画面，每相邻两个纯色子画面的灰阶分别为第一灰阶和第二灰阶，所述预定灰阶处于所述第一灰阶和所述第二灰阶之间；

参照显示面板，被配置为显示标定画面，所述标定画面包括矩阵排列的多个第一矩阵图片和多个第二矩阵图片，每个所述第一矩阵图片与每个所述第二矩阵图片相互交替设置，所述第一矩阵图片包括多个第一单元格，所述第一矩阵图片中所述第一单元格的数量与所述纯色子画面中对应的子像素的数量相同，所述第一矩阵图片的灰阶与所述预定灰阶相同，所述第二矩阵图片包括多个第二单元格，所述第二矩阵图片中所述第二单元格的数量与所述纯色子画面中对应的子像素的数量相同，所述第二矩阵图片的灰阶包括第三灰阶和第四灰阶，所述第三灰阶与所述预定灰阶相同，所述第四灰阶与所述预定灰阶不同，所述残影等级与所述第三灰阶的所述第二单元格数量和所述第四灰阶的所述第二单元格的数量的比例具有对应关系，其中，所述标定画面用于与所述检测画面比对以得到所述待测显示面板的残影程度。

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