CN113299214B - 显示面板自动检测装置及显示面板的色偏检测方法 - Google Patents

显示面板自动检测装置及显示面板的色偏检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN113299214B
CN113299214B CN202110722034.1A CN202110722034A CN113299214B CN 113299214 B CN113299214 B CN 113299214B CN 202110722034 A CN202110722034 A CN 202110722034A CN 113299214 B CN113299214 B CN 113299214B
Authority
CN
China
Prior art keywords
display panel
display
tested
preset
parameters
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202110722034.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN113299214A (zh
Inventor
马建东
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kunshan New Flat Panel Display Technology Center Co Ltd
Original Assignee
Kunshan New Flat Panel Display Technology Center Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kunshan New Flat Panel Display Technology Center Co Ltd filed Critical Kunshan New Flat Panel Display Technology Center Co Ltd
Priority to CN202110722034.1A priority Critical patent/CN113299214B/zh
Publication of CN113299214A publication Critical patent/CN113299214A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN113299214B publication Critical patent/CN113299214B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

本申请实施例提供一种显示面板自动检测装置及显示面板的色偏检测方法。第一方面提供的显示面板自动检测装置,包括:电场生成组件,包括竖直方向上相对且间隔设置的电极板,电极板水平面内延伸,竖直方向上相邻两个电极板之间能够生成有源场;传输组件,能够带动待测显示面板横切有源场移动,以使待测显示面板在有源场内累积电荷;控制组件,使带电荷的待测显示面板在预设灰阶下显示测试画面;监测组件,获取待测显示面板在当前灰阶下显示的测试画面的显示参数以及待测显示面板上累积的当前电荷量;控制组件还能够根据显示参数计算具有当前电荷量的待测显示面板在当前灰阶下的色偏参数。提高显示色偏检测的自动化程度,检测效率以及准确性。

Description

显示面板自动检测装置及显示面板的色偏检测方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域,具体涉及一种显示面板自动检测装置及显示面板的色偏检测方法。
背景技术
在制备显示面板以及显示面板实际使用过程中,对显示面板的显示性能,例如对显示面板的显示色偏方面的检测是十分重要的。一般的显示面板显示色偏方面的检测自动化程度低,色偏检测的准确性及效率低下。
因此,急需一种显示面板自动检测装置及显示面板的色偏检测方法。
发明内容
一方面,本申请实施例提供一种显示面板自动检测装置,包括:
电场生成组件,包括竖直方向上相对且间隔设置的电极板,电极板水平面内延伸,竖直方向上相邻两个电极板之间能够生成有源场;
传输组件,能够带动待测显示面板横切有源场移动,以使待测显示面板在有源场内累积电荷;
控制组件,使带电荷的待测显示面板在预设灰阶下显示测试画面;
监测组件,获取待测显示面板在当前灰阶下显示的测试画面的显示参数以及待测显示面板上累积的当前电荷量;
控制组件还能够根据显示参数计算具有当前电荷量的待测显示面板在当前灰阶下的色偏参数。
本申请实施例第一方面提供的显示面板自动检测装置,通过电场生成组件以及传输组件的配合作用,使得待测显示面板高效快速地进行自动累积电荷。监测组件准确获取带电荷的待测显示面板的显示参数,控制组件根据显示参数计算色偏参数,提高了对待测显示面板显示色偏程度的检测准确性。显示面板自动检测装置中电场生成组件、传输组件、控制组件及控制组件相互配合工作,提高显示面板显示色偏检测的自动化程度,提高检测效率以及检测的准确性。
在本申请实施例第一方面一种可能的实施方式中,传输组件包括:
承载部件,用于承载待测显示面板,保证在有源场中待测显示面板厚度方向与有源场同向;
优选的,承载部件包括用于支撑待测显示面板的支架,支架采用绝缘材料构成。
在本申请实施例第一方面一种可能的实施方式中,显示面板自动检测装置还包括:
点屏组件,点屏组件与控制组件电连接,控制组件通过控制点屏组件中的触头与待测显示面板接触,使待测显示面板在预设灰阶下显示测试画面以及使待测显示面板切换不同预设灰阶下的测试画面。
在本申请实施例第一方面一种可能的实施方式中,控制组件使累积有预设电荷量的待测显示面板移出有源场的同时在预设灰阶下显示测试画面。
在本申请实施例第一方面一种可能的实施方式中,控制组件通过控制有源场的场强和/或有源场对待测显示面板的作用时间,使待测显示面板累积有预设电荷量。
在本申请实施例第一方面一种可能的实施方式中,监测组件包括光学探测部件,光学探测部件对累积有预设电荷量且移出有源场的待测显示面板进行光学检测,以获取待测显示面板在当前灰阶下显示的测试画面的显示参数;
优选的,测试画面的显示参数包括测试画面中多个预设测试点对应的亮度和色度。
本申请实施例第二方面提供一种显示面板的色偏检测方法,包括:
提供待检测显示面板,待检测显示面板具有预设检测显示区域;
使待检测显示面板依次累积有n个不同量级的电荷量,n为大于1的自然数;
当待检测显示面板累积有第i个量级对应的电荷量时,使显示面板显示k帧不同预设灰阶下的测试画面,k个预设灰阶在第一预设灰阶范围内间隔分布,获取每帧测试画面在预设检测显示区域的显示参数,i取n中的任意值;
根据显示参数计算每帧测试画面在预设检测显示区域的色偏参数;
利用预设分析规则对第i个量级对应的电荷量下、所有测试画面在预设检测显示区的色偏参数进行分析,以评价第i个量级对应的电荷量下、待检测显示面板在第一预设灰阶范围内的色偏程度;
优选的,显示参数包括色度和亮度。
本申请实施例第二方面提供的色偏检测方法,获取对应不同灰阶的每帧测试画面在预设检测显示区域的色偏参数,并利用预设分析规则对第i个量级对应的电荷量下、所有测试画面在预设检测显示区的色偏参数进行分析。可客观准确地评价累积有不同电荷量的待测显示面板在第一预设灰阶范围内的色偏程度。
在本申请实施例第二方面一种可能的实施方式中,色偏检测方法还包括预检测步骤,预检测步骤包括:
使待检测显示面板累积预设电荷量;
获取待检测显示面板中心显示区域的显示参数以及根据中心显示区域的显示参数计算中心显示区域的色偏参数;
获取待检测显示面板边缘显示区域的显示参数以及根据边缘显示区域的显示参数计算确定中心显示区域的色偏参数;
根据中心显示区域的色偏参数与边缘显示区域的色偏参数比较的结果,确定预设检测显示区域。
在本申请实施例第二方面一种可能的实施方式中,根据显示参数计算每帧测试画面在预设检测显示区域的色偏参数的步骤中:
显示参数包括位于预设检测显示区域中多个测试点的显示参数,根据各测试点的显示参数计算各测试点的色偏参数,选取所有测试点的色偏参数中的最大值和中位数值作为该帧测试画面的色偏参数。
在本申请实施例第二方面一种可能的实施方式中,利用预设分析规则对第i个量级对应的电荷量下、所有测试画面在预设检测显示区的色偏参数进行分析的步骤包括:
在第i个量级对应的电荷量下,将所有测试画面的色偏参数分别与预设色偏阈值进行比较。
附图说明
通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述,本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显,其中,相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征,附图并未按照实际的比例绘制。
图1a为待测显示面板处于本申请实施例第一方面的电场生成组件累积电荷的示意图;
图1b为检测组件获取移出有源场的待测显示面板的显示参数的示意图;
图2为本申请实施例第二方面提供的一种显示面板的色偏检测方法流程图;
图3为待测显示面板的俯视图;
图中:
电极板-1;待测显示面板-2;支撑部-31;底座-32;承载部件-3;监测组件-4;
具体实施方式
下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例,为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及具体实施例,对本发明进行进一步详细描述。应理解,此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本发明,并不被配置为限定本发明。对于本领域技术人员来说,本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
发明人研究发现,显示面板在低亮度(低灰阶范围)下显示色偏严重。在一些示例中,显示面板在低灰阶下容易产生偏绿,影响用户的日常使用体验,尤其影响用户在夜晚的使用体验。因此,需要对显示面板进行地灰阶下显示色偏的检测,以获得对显示面板低灰阶显示色偏程度的准确评价,了解显示面板的性能。
发明人在对显示色偏研究过程中发现,由于显示面板使用过程中在干燥环境中与周围物体(例如衣物等)摩擦容易使得显示面板盖板表面积累较多的电荷,电荷积累会导致显示面板的驱动器件层中的TFT(Thin Film Transistor)薄膜晶体管的电特性在静电场作用下发生偏移,从而使得显示面板色偏。在低灰阶范围内显示面板显示色偏尤其明显。但是一般在检测过程中采用铜棒在显示面板盖板表面连续摩擦或者采用静电场在显示面板表面注入电荷,以使得显示面膜累积静电模拟在显示面板的实际使用过程中静电荷在显示面板的积累。但是,采用上述两种积累电荷所需时间长,且累积的电荷在显示面板分布不均。又,通常采用检测人员目测检测方法对积累有电荷的显示面板显示色偏情况进行检测。综上,一般的显示面板色偏检测存在检测结果客观性较差,色偏评价标准不统一,检测自动化程度低且检测效率低下等问题。在一些例子中,低灰阶的范围指0灰阶至32灰阶。
鉴于对上述技术问题的发现以及分析,提出本申请。
本申请实施例第一方面提供一种显示面板自动检测装置,包括电场生成组件、传输组件、控制组件及监测组件。
电场生成组件包括竖直方向上相对且间隔设置的电极板。电极板水平面内延伸,竖直方向上相邻两个电极板之间能够生成有源场。在一些示例中,竖直方向上相邻两个电极板中的一者连接电源的正极,竖直方向上相邻两个电极板中的另一者连接电源的负极。对竖直方向上相邻两个电极板通电后,竖直方向上相邻两个电极板之间的有源场为电场。
传输组件,能够带动待测显示面板横切有源场移动,以使待测显示面板在有源场内累积电荷。
控制组件,使带电荷的待测显示面板在预设灰阶下显示测试画面。
监测组件,获取待测显示面板在当前灰阶下显示的测试画面的显示参数以及待测显示面板上累积的当前电荷量。
控制组件还能够根据显示参数计算具有当前电荷量的待测显示面板在当前灰阶下的色偏参数。在一些示例中,待测显示面板累积的电荷量越多则待测显示面板的色偏程度越大。
本申请实施例第一方面提供的显示面板自动检测装置,通过电场生成组件以及传输组件的配合作用,使得待测显示面板高效快速地进行自动累积电荷。监测组件准确获取带电荷的待测显示面板的显示参数,控制组件根据显示参数计算色偏参数,提高了对待测显示面板显示色偏程度的检测准确性。显示面板自动检测装置中电场生成组件、传输组件、控制组件及控制组件相互配合工作,提高显示面板显示色偏检测的自动化程度,提高检测效率以及检测的准确性。
在一些可选的实施例中,电场生成组件包括多对在竖直方向上相对且间隔设置的电极板,每对电极板使至少一个显示面板积累电荷。
在一些可选的实施例中,电场生成组件为一对在竖直方向上相对且间隔设置的电极板,该对电极板对应使得一个或多个显示面板积累电荷。
如图1a及图1b所示,在一些可选的实施例中传输组件包括承载部件3。承载部件3用于承载待测显示面板2,承载部件3保证在有源场中待测显示面板2厚度方向与有源场同向。在这些实施例中,承载部件3使得显示面板累积的电荷在与显示面板厚度方向相垂直的整个显示区域分布更均匀,利于提高显示面板色偏检测的准确性。
在一些实施例中,承载部件3包括用于支撑待测显示面板2的支架,支架采用绝缘材料构成。在一些示例中,支架包括底座32以及设置于底座32上且间隔设置的多个支撑部31。各支撑部31背离底座32的一侧位于同一水平面上,支撑部31用于支撑显示面板,使显示面板位于竖直方向上两相对且间隔的电极板1形成的有源场中。支架采用绝缘材料构成,防止竖直方向上两相对且间隔的电极板1之间电连接,从而影响有源场的形成。在一些示例中,传输组件能够带动待测显示面板2横切所述有源场移动。如图1a所示,当待测显示面板2需要累积电场时,承载有待测显示面板2的承载部件3移入到竖直方向上两相对且间隔的电极板1形成的有源场中以累积电荷。以使待测显示面板2在所述有源场内累积电荷。如图1b所示,当待测显示面板2累积有预设电荷量后,承载有待测显示面板2的承载部件3移出到竖直方向上两相对且间隔的电极板1形成的有源场外。累积有预设电荷量的待测显示面板2位于有源场外时,监测组件4获取待测显示面板2在当前灰阶下显示的测试画面的显示参数。
在一些可选的实施例中,显示面板自动检测装置还包括点屏组件。点屏组件与控制组件电连接,控制组件通过控制点屏组件中的触头与待测显示面板接触,使待测显示面板在预设灰阶下显示测试画面以及使待测显示面板切换不同预设灰阶下的测试画面。
在上述实施例的一些示例中,需要采用显示面板自动检测装置测量低灰阶范围内多个预设灰阶下显示面板的色偏参数。当检测组件获取当前灰阶下显示测试画面的显示参数后,控制组件向点屏组件发出切换测试画面的指令。点屏组件中的触头根据上述指令与待测显示面板的显示侧接触,使显示面板由当前灰阶下的测试画面切换到另一预设灰阶下的测试画面。
在一些可选的实施例中,控制组件使累积有预设电荷量的待测显示面板移出有源场的同时显示预设灰阶下的测试画面。
在这些实施例中,在有源场外获取已经累积有预设电荷量的待测显示面板的显示参数。待测显示面板中累积的电荷量越多则显示面板色偏越严重,因而累积电荷量的多少影响显示面板的色偏。当待测显示面板在累积有预设电荷量时,需移出有源场在停止电荷积累情况下进行检测,提高检测的准确性。累积有预设电荷量的待测显示面板移出有源场的同时显示预设灰阶下的测试画面,使得待检测显示面板在移出有源场后监测组件可立即获取待测显示面板在当前灰阶下显示的所述测试画面的显示参数,进一步地提高检测效率。
在上述实施例的一些示例中,控制组件与待测显示面板及传输组件均进行电连接。控制组件向位于有源场内且累积有预设电荷量的待测显示面板发出显示预设灰阶下的测试画面的第一指令,且控制组件与传输组件发出使累积有预设电荷量的待测显示面板移出有源场的第二指令。待测显示面板执行第一指令显示预设灰阶下的测试画面,同时传输组件执行第二指令带动累积有预设电荷量的待测显示面板移出有源场。
在上述实施例的一些示例中,显示面板自动检测装置还包括点屏组件。点屏组件包括第一触头,第一触头位于竖直方向上相邻两个所述电极板之间。控制组件使累积有预设电荷量的待测显示面板移出有源场的同时,控制第一触头与待测显示面板的显示侧接触,以使显示面板显示预设灰阶下的测试画面。
在一些可选的实施例中,控制组件通过控制有源场的场强和/或有源场对待测显示面板的作用时间,使待测显示面板累积有预设电荷量。在这些实施例中,有源场的场强以及有源场对待测显示面板的作用时间(也可以理解为待测显示面板处于有源场的时间)均影响待测显示面板累积的电荷量。因此,控制有源场的场强以及有源场对待测显示面板的作用时间中的至少一者,可控制待测显示面板累积的电荷量。
在上述实施例的一些示例中,控制组件控制竖直方向上相邻两个电极板之间的电势差U不变,通过控制竖直方向上相邻两个电极板之间的距离d,以控制电场强度E,其中,E=U/d。
在上述实施例的一些示例中,控制组件控制竖直方向上相邻两个电极板之间的距离d不变,控制竖直方向上相邻两个电极板之间的电势差U改变,以控制电场强度E,其中,E=U/d。
在上述实施例的一些示例中,控制组件通过控制传输组件以控制有源场对待测显示面板的作用时间。有源场对待测显示面板的作用时间(待测显示面板处于有源场中的累积时间)与待测显示面板累积的电荷量Qi呈正相关。有源场对待测显示面板的作用时间t应为待测显示面板每次处于有源场中的时间ti之和,即t=∑ti,i为大于或等于1的自然数。
在一些可选的实施例中,监测组件包括光学探测部件,光学探测部件对累积有预设电荷量且移出有源场的待测显示面板进行光学检测,以获取待测显示面板在当前灰阶下显示的测试画面的显示参数;
在一些示例中,测试画面的显示参数包括测试画面中多个预设测试点对应的亮度和色度。
在一些示例中,控制组件中储存有多个预设测试点的坐标位置信息。在累积有预设电荷量的待测显示面板移出到有源场外时,控制组件根据待测显示面板的位置以及尺寸大小建立坐标系,光线探测部件根据已储存的多个测试点的坐标位置信息获取待测显示面板在当前灰阶下测试画面中多个预设测试点对应的亮度和色度。在一些例子中,预设测试点均匀分布于待测试显示面板的整体显示区域中。在另一些例子中,预设测试点分布与待测试显示面板的边缘显示区域。
作为一个具体例子,采用本申请实施例第一方面提供的显示面板自动检测装置对待检测显示面板的色偏程度进行检测。
该例子中假设有源场的场强度保持不变,则待测显示面板累积的电荷量与有源场对待测显示面板的作用时间正相关。
采用显示面板自动检测装置对待检测显示面板的色偏程度进行检测的方法包括:
设置检测参数,检测参数包括竖直方向上相邻两个电极板之间的电势差U以及距离d,待测显示面板每次处于有源场中的时间ti,待检测显示面板中不同预设灰阶下的测试画面,多个预设测试点的坐标位置信息以及待测显示面板进入到有源场的次数x。
控制组件控制传输组,使传输组件带动未带有电荷的待测显示面板移入有源场,待测显示面板处于有源场中t1时间后,控制组件控制传输组件移出有源场,监测组件根据待测显示面板处于有源场中的累积∑ti=t1时间获取待测显示面板累积的当前电荷量Q1,
控制组件使累积有电荷量Q1的待测显示面板在预设灰阶下显示测试画面,监测组件获取移出有源场的待测显示面板在当前灰阶下显示的测试画面的显示参数,控制组件根据显示参数计算具有当前电荷量Q1的待测显示面板在当前灰阶下的色偏参数;
监测组件完成显示参数获取后,控制组件使传输组件将累积有电荷量Q1的待测显示面板再次移入有源场,并重复执行设置检测参数后的操作步骤,直至待测显示面板进入到有源场的次数大于x次,则停止检测。
如图2所示。本申请实施例第二方面提供一种显示面板的色偏检测方法,包括:
S10,提供待检测显示面板,待检测显示面板具有预设检测显示区域;
S20,使待检测显示面板依次累积有n个不同量级的电荷量,n为大于1的自然数;
S21,当待检测显示面板累积有第i个量级对应的电荷量时,使显示面板显示k帧不同预设灰阶下的测试画面,k个预设灰阶在第一预设灰阶范围内间隔分布,获取每帧测试画面在预设检测显示区域的显示参数,i取n中的任意值;
S22,根据显示参数计算每帧测试画面在预设检测显示区域的色偏参数;
S23,利用预设分析规则对第i个量级对应的电荷量下、所有测试画面在预设检测显示区的色偏参数进行分析,以评价第i个量级对应的电荷量下、待检测显示面板在第一预设灰阶范围内的色偏程度。
在一些实施例中,显示参数包括色度和亮度。
本申请实施例第二方面提供的显示面板的色偏检测方法,在显示面板累积达到第i个量级对应的电荷量时,通过对第一预设灰阶范围内不同预设灰阶下的测试画面的色偏参数的进行分析,更客观准确地评价累积有预设电荷量的显示面板的色偏程度。
在一些可选的实施例中,色偏检测方法还包括预检测步骤,S01预检测步骤包括:
使待检测显示面板累积预设电荷量,获取待检测显示面板中心显示区域的显示参数以及根据中心显示区域的显示参数计算中心显示区域的色偏参数,获取待检测显示面板边缘显示区域的显示参数以及根据边缘显示区域的显示参数计算确定中心显示区域的色偏参数,根据中心显示区域的色偏参数与边缘显示区域的色偏参数比较的结果,确定预设检测显示区域。
如图3所示,在这些实施例中,待测显示面板2包括中心显示区域AA2以及围绕该中心显示区域AA2的边缘显示区域AA1。中心显示区域AA2分布有多个测试点a,边缘显示区域分布有多个测试点a。各显示区域的色偏参数反应显示区的色偏程度。
在一些示例中,以均匀色空间CIE L u’v’的W255中心点CIE值为显色标准参考点。根据显示参数(色度以及亮度)与上述显色标准参考点计算得到反应显示区域色偏程度的色偏参数Δlum及Δu’v’。又在一些例子中,获取多个中心显示区域的测试点的显示参数(色度及亮度),计算得到各测试点对应的色偏参数Δlumj及Δu’v’j,根据各测试点对应的色偏参数Δlumj及Δu’v’j按预设计算规则得到反应显示区域色偏程度的色偏参数Δlum及Δu’v’。
在一些实施例中,显示面板累积有电荷后在边缘显示区域的色偏程度明显大于或小于中心显示区域的边缘显示区域的色偏程度。在还一些示例中,显示面板累积有电荷后在中心显示区域的色偏程度与边缘显示区域的色偏程度基本相同。为了更准确客观地评价待显示面板的色偏程度,将中心显示区域的色偏参数与边缘显示区域的色偏参数比较,若中心显示区域的色偏参数与边缘显示区域的色偏参数的差值大于预设阈值,则选择色偏参数较大的显示区域(即色偏程度较大的显示区域)作为预设检测显示区域。若中心显示区域的色偏参数与边缘显示区域的色偏参数的差值小于预设阈值,则以待测显示面板的整体显示区域作为预设检测显示区域。
在一些可选的实施例中,根据显示参数计算每帧测试画面在预设检测显示区域的色偏参数的步骤中:
显示参数包括位于预设检测显示区域中多个测试点的显示参数,根据各测试点的的显示参数计算各测试点的色偏参数,选取所有测试点的色偏参数中的最大值和中位数值作为该帧测试画面的色偏参数。
在这些实施例的一些示例中,以均匀色空间CIE L u’v’的W255中心点CIE值为显色标准参考点。根据各个测试点的显示参数(色度以及亮度)与上述显色标准参考点计算得到反应各测试点的色偏参数Δlumj及Δu’v’j。选取预设检测显示区域中所有测试点的色偏参数中的最大值(Δlummax及Δu’v’max)和中位数值(Δlummid及Δu’v’mid)作为该帧测试画面的色偏参数。以最大值(Δlummax及Δu’v’max)和中位数值(Δlummid及Δu’v’mid)对该帧测试画面的色偏程度进行综合评价。
在一些可选的实施例中,S23步骤包括:
S231,在第i个量级对应的电荷量下,将所有测试画面的色偏参数分别与预设色偏阈值进行比较。
在一些实施例中,一般情况下待测显示面板累积的电荷量越多,则色偏程度越大。评价待检测显示面板在第一预设灰阶范围内的色偏程度,需要以待测显示面板中累积的电荷量处于同一水平量级为前提进行评价。第i个量级对应的电荷量对应待测显示面板的色偏阈值为Δlumi及Δu’v’i,量级越大积累的电荷量越多,则对应待测显示面板的色偏阈值也越大。将所有测试画面的色偏参数分别与预设色偏阈值进行比较,将色偏参数小于色偏阈值为Δlumi及Δu’v’i的测试画面数量记为m。当m≥p≥k,p为预设合格帧数,得出第i个量级对应的电荷量下、待检测显示面板在第一预设灰阶范围内的色偏程度处于合理范围的评价。当m<p,得出第i个量级对应的电荷量下、待检测显示面板在第一预设灰阶范围内的色偏程度处于不合理范围的评价。且在i越大越趋于n情况下,得出第i个量级对应的电荷量下、待检测显示面板在第一预设灰阶范围内的色偏程度处于合理范围的评价时,则说明待检测显示面板的耐静电能力越强,在电荷量未累积到较高水平时色偏程度低,提高用户的使用体验。
依照本发明如上文所述的实施例,这些实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然,根据以上描述,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本发明的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (13)

1.一种显示面板自动检测装置,其特征在于,包括:
电场生成组件,包括竖直方向上相对且间隔设置的电极板,所述电极板水平面内延伸,所述竖直方向上相邻两个所述电极板之间能够生成有源场;
传输组件,能够带动待测显示面板横切所述有源场移动,以使所述待测显示面板在所述有源场内累积电荷;
控制组件,使带电荷的所述待测显示面板在预设灰阶下显示测试画面;
监测组件,获取所述待测显示面板在当前灰阶下显示的所述测试画面的显示参数以及所述待测显示面板上累积的当前电荷量;
所述控制组件还能够根据所述显示参数计算具有当前电荷量的所述待测显示面板在当前灰阶下的色偏参数。
2.根据权利要求1所述的显示面板自动检测装置,其特征在于,所述传输组件包括:
承载部件,用于承载所述待测显示面板,保证在所述有源场中所述待测显示面板厚度方向与所述有源场同向。
3.根据权利要求2所述的显示面板自动检测装置,其特征在于,所述承载部件包括用于支撑所述待测显示面板的支架,所述支架采用绝缘材料构成。
4.根据权利要求2所述的显示面板自动检测装置,其特征在于,所述显示面板自动检测装置还包括:
点屏组件,所述点屏组件与所述控制组件电连接,所述控制组件通过控制所述点屏组件中的触头与所述待测显示面板接触,使所述待测显示面板在预设灰阶下显示所述测试画面以及使所述待测显示面板切换不同预设灰阶下的所述测试画面。
5.根据权利要求1至4任一项所述的显示面板自动检测装置,其特征在于,所述控制组件使累积有预设电荷量的所述待测显示面板移出所述有源场的同时在预设灰阶下显示所述测试画面。
6.根据权利要求1所述的显示面板自动检测装置,其特征在于,所述控制组件通过控制所述有源场的场强和/或所述有源场对所述待测显示面板的作用时间,使所述待测显示面板累积有预设电荷量。
7.根据权利要求1所述的显示面板自动检测装置,其特征在于,所述监测组件包括光学探测部件,所述光学探测部件对累积有预设电荷量且移出所述有源场的所述待测显示面板进行光学检测,以获取所述待测显示面板在当前灰阶下显示的所述测试画面的显示参数。
8.根据权利要求7所述的显示面板自动检测装置,其特征在于,所述测试画面的显示参数包括所述测试画面中多个预设测试点对应的亮度和色度。
9.一种利用权利要求1-8任一项所述的显示面板自动监测装置的色偏检测方法,其特征在于,包括:
提供待检测显示面板,所述待检测显示面板具有预设检测显示区域;
使所述待检测显示面板依次累积有n个不同量级的电荷量,n为大于1的自然数;
当所述待检测显示面板累积有第i个量级对应的电荷量时,使所述显示面板显示k帧不同预设灰阶下的测试画面,k个所述预设灰阶在第一预设灰阶范围内间隔分布,获取每帧所述测试画面在所述预设检测显示区域的显示参数,i取n中的任意值;
根据所述显示参数计算每帧所述测试画面在所述预设检测显示区域的色偏参数;
利用预设分析规则对第i个量级对应的电荷量下、所有所述测试画面在所述预设检测显示区的色偏参数进行分析,以评价第i个量级对应的电荷量下、所述待检测显示面板在所述第一预设灰阶范围内的色偏程度。
10.根据权利要求9所述的色偏检测方法,其特征在于,所述显示参数包括色度和亮度。
11.根据权利要求9所述的色偏检测方法,其特征在于,所述色偏检测方法还包括预检测步骤,所述预检测步骤包括:
使所述待检测显示面板累积预设电荷量;
获取所述待检测显示面板中心显示区域的显示参数以及根据所述中心显示区域的显示参数计算所述中心显示区域的色偏参数;
获取所述待检测显示面板边缘显示区域的显示参数以及根据边缘显示区域的显示参数计算确定所述中心显示区域的色偏参数;
根据所述中心显示区域的色偏参数与所述边缘显示区域的色偏参数比较的结果,确定所述预设检测显示区域。
12.根据权利要求9所述的色偏检测方法,其特征在于,所述根据所述显示参数计算每帧所述测试画面在所述预设检测显示区域的色偏参数的步骤中:
所述显示参数包括位于所述预设检测显示区域中多个测试点的显示参数,根据各所述测试点的显示参数计算各所述测试点的色偏参数,选取所有所述测试点的色偏参数中的最大值和中位数值作为该帧所述测试画面的色偏参数。
13.根据权利要求9所述的色偏检测方法,其特征在于,
所述利用预设分析规则对第i个量级对应的电荷量下、所有所述测试画面在所述预设检测显示区的色偏参数进行分析的步骤包括:
在第i个量级对应的电荷量下,将所有测试画面的色偏参数分别与预设色偏阈值进行比较。
CN202110722034.1A 2021-06-28 2021-06-28 显示面板自动检测装置及显示面板的色偏检测方法 Active CN113299214B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110722034.1A CN113299214B (zh) 2021-06-28 2021-06-28 显示面板自动检测装置及显示面板的色偏检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110722034.1A CN113299214B (zh) 2021-06-28 2021-06-28 显示面板自动检测装置及显示面板的色偏检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN113299214A CN113299214A (zh) 2021-08-24
CN113299214B true CN113299214B (zh) 2022-09-02

Family

ID=77329853

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110722034.1A Active CN113299214B (zh) 2021-06-28 2021-06-28 显示面板自动检测装置及显示面板的色偏检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113299214B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113823227B (zh) * 2021-09-30 2023-01-24 联想(北京)有限公司 显示面板及其显示驱动方法及电子设备

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW198770B (en) * 1991-08-24 1993-01-21 Hualon Microelectronics Corp Color linear charge-coupled device
JP2012060493A (ja) * 2010-09-10 2012-03-22 Canon Inc 画像読取装置
CN102467862B (zh) * 2010-11-17 2014-08-27 京东方科技集团股份有限公司 液晶显示面板的电压调节方法和装置
CN103390394B (zh) * 2013-07-30 2015-09-09 深圳市华星光电技术有限公司 一种液晶面板和液晶面板的驱动方法
CN104950494B (zh) * 2015-07-28 2019-06-14 京东方科技集团股份有限公司 残像测试、消除方法和残像测试、消除装置
CN107068082B (zh) * 2017-03-03 2019-07-05 京东方科技集团股份有限公司 液晶显示面板的反转控制方法、装置和液晶显示面板
CN108206014B (zh) * 2018-01-02 2021-08-06 京东方科技集团股份有限公司 液晶显示面板的显示方法及液晶显示装置
CN109738719B (zh) * 2018-12-19 2021-05-04 Oppo广东移动通信有限公司 静电释放esd检测方法及相关产品

Also Published As

Publication number Publication date
CN113299214A (zh) 2021-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108877676B (zh) 电压降补偿方法及其装置、显示装置
KR100422295B1 (ko) 디스플레이 장치의 화질 분석 방법 및 시스템
CN111341233B (zh) 显示面板残影检测方法以及检测装置
CN103513477B (zh) 液晶显示器及其检测方法
CN113299214B (zh) 显示面板自动检测装置及显示面板的色偏检测方法
CN111970506A (zh) 镜头脏污检测方法、装置和设备
CN101655409A (zh) 残像等级评定方法及装置
CN111855149A (zh) 显示面板残影测试方法、装置和计算机设备
KR20100028275A (ko) 평판 디스플레이의 전극라인 검사 장치 및 방법
CN111487257A (zh) 一种显示面板异常像素实时检测修复方法及装置
KR20150039277A (ko) 디스플레이 장치의 화질 검사장치 및 그 방법
US8610780B2 (en) Display light leakage
CN110225335A (zh) 相机稳定性评估方法及装置
KR20140067785A (ko) 표시패널의 색감차 얼룩 자동 검사 장치 및 방법
CN104122075B (zh) 一种基于运动方块宽度的直接测量显示器运动模糊的方法
Lee et al. P‐33: A Measurement and Analysis Method of Image Sticking in LCD
CN103529571B (zh) 液晶面板离子检测装置及检测方法
Watson et al. 64.3: flicker visibility: a perceptual metric for display flicker
US20100142754A1 (en) Inspection method and system for display
KR101420331B1 (ko) 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법
CN110136620B (zh) 显示面板的驱动时间差确定方法及系统
JPH11211770A (ja) 静電気評価装置
JP4568623B2 (ja) ショート検出装置
CN110085193A (zh) 光源自动补正方法、装置、存储介质及光学检测设备
KR20180108714A (ko) 불균일 평가 방법 및 불균일 평가 장치

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant