CN104950494B - 残像测试、消除方法和残像测试、消除装置 - Google Patents

残像测试、消除方法和残像测试、消除装置 Download PDF

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Abstract

本发明实施例公开了一种残像测试、消除方法和残像测试、消除装置，涉及显示领域，能够解决现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。本发明的残像测试方法，包括：显示面板播放残像测试画面；向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。

Description

残像测试、消除方法和残像测试、消除装置
技术领域
本发明涉及显示领域，尤其涉及一种残像测试、消除方法和残像测试、消除装置。
背景技术
残像是现在液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)常见的缺陷之一，所谓残像，是指LCD长时间显示同一画面的情况的下，当突然切换到另一画面的时候，会隐约看到上一个画面的显示内容。究其原因在于，在液晶显示器的制作过程中，由于各种因素的存在，液晶盒内会存在一些离子，如图2(a)所示，显示时这些离子按照正负电场(即驱动电场)的方向移动，当正负电场对离子的移动能量不均一时，这些离子会逐渐向一边聚集，当聚集的离子达到一定浓度的时候，会改变面板的透过率，在突然切换下一个画面时，如图2(b)所示，聚集的离子有些无法马上散开，会继续保持原来的画面，因此出现图像残留。
现有残像测试通常采用如下方法：长时间(一般约1小时)显示图1所示九宫格画面，然后切换到灰阶画面下就会有出现残像现象，根据残像消失的时间长短来评价该显示器的图像残留水平。残像消失的时间长短一般是通过光学观察面板表面亮度来实现的，进而基于这种评价进行修正，存在残像水平变好变坏不明显，评价不够准确，无法进行准确修正的问题。
发明内容
本发明的实施例提供一种残像测试、消除方法和残像测试、消除装置，解决了现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。
为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
一种残像测试方法，包括：显示面板播放残像测试画面；向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。
所述通过数据线获取所述像素电极上的电位信息，具体为：打开所述显示面板上的所有栅线，使所述数据线与所述像素电极导通，所述数据线输出的信号即为所述像素电极上的电位信息。
优选地，所述通过数据线获取所述像素电极上的电位信息之前，还包括：断开数据线与像素电极的连接，然后向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平；然后，将所述数据线悬空。
可选地，所述第二固定电平信号为公共电压信号。
可选地，所述向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号，具体为：打开所述显示面板上的所有栅线，通过数据线向像素电极加载第一固定电平信号。
可选地，所述第一固定电平信号为接地电压信号。
优选地，所述残像测试画面沿着数据线延伸方向颜色一致。
可选地，所述向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号通过如下方式实现:设定显示面板播放各像素一致的灰阶图像或者全黑图像。
本发明实施例还提供一种残像消除方法，包括：步骤S1、通过上述任一项所述的残像测试方法获取像素电极的电位信息；步骤S2、根据获得的电位信息对灰阶电压进行调整。
进一步地，所述残像消除方法还包括：重复执行步骤S1和步骤S2，直至像素电极的电位信息满足预设条件。
优选地，获取像素电极的电位信息时，如果采用下述方式：先断开数据线与像素电极的连接，然后向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平，然后再将所述数据线悬空；打开所述显示面板上的所有栅线，使所述数据线与所述像素电极导通，通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息；则步骤S2具体包括：
将获得的所述电位信息与所述第一固定电平信号进行比较，求出像素电极电位与第一固定电平的差值；
对灰阶电压进行调整：如果像素电极电位比所述第二固定电平高，则将灰阶电压降低一个所述差值；如果像素电极电位比所述第二固定电平低，则将灰阶电压抬高一个所述差值。
可选地，步骤S2中通过调整伽马电压来调整所述灰阶电压。
可选地，所述像素电极的电位信息满足预设条件，具体为：所述像素电极电位与所述第一固定电平的差值满足预设值。
另一方面，本发明实施例还提供一种残像测试装置，包括：播放单元，用于使显示面板播放残像测试画面；加载单元，用于在显示面板播放残像测试画面后，向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；获取单元，用于通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。
具体地，所述获取单元包括：栅线控制模块，用于在通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息之前，控制所述栅线开启以使所述数据线与所述像素电极连通；获取模块，用于通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息。
优选地，所述栅线控制模块，还用于在向数据线输入第二固定电平信号之前，控制栅线关闭以使所述数据线与像素电极断开；还用于所述第二固定电平加载结束后，且所述数据线输入悬空时，控制所述栅线开启以使所述数据线与所述像素电极连通；
所述获取单元还包括：固定电平加载模块，用于在所述数据线与所述像素电极断开后，向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平；数据输入控制模块，用于在所述第二固定电平加载结束后，使所述数据线输入悬空。
可选地，所述第二固定电平信号为公共电压信号。
可选地，所述第一固定电平信号为接地电压信号。
优选地，所述残像测试画面沿着数据线延伸方向颜色一致。
可选地，所述加载单元具体用于:向显示面板加载各像素一致的灰阶图像或者全黑图像。
本发明实施例还提供一种残像消除装置，包括：上述任一项所述的残像测试装置；灰阶电压调整单元，用于根据所述残像测试装置获得的电位信息对灰阶电压进行调整。
进一步地，所述的残像消除装置还包括：终止单元，用于在像素电极的电位信息满足预设条件时，关闭所述残像测试装置和所述灰阶电压调整单元。
所述残像测试装置的获取单元包括：栅线控制模块，用于在向数据线输入第二固定电平信号之前，控制栅线关闭以使所述数据线与像素电极断开；还用于所述第二固定电平加载结束后，且所述数据线输入悬空时，控制所述栅线开启以使所述数据线与所述像素电极连通；固定电平加载模块，用于在所述数据线与所述像素电极断开后，向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平；数据输入控制模块，用于在所述第二固定电平加载结束后，使所述数据线输入悬空，获取模块，用于通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息；所述灰阶电压调整单元，具体包括：比较模块，用于将获得的所述电位信息与所述第一固定电平信号进行比较，求出像素电极电位与第一固定电平的差值；灰阶电压调整模块，用于如果像素电极电位比所述第二固定电平高，则将灰阶电压降低一个所述差值；如果像素电极电位比所述第二固定电平低，则将灰阶电压抬高一个所述差值。
可选地，所述像素电极的电位信息满足预设条件，具体为：所述像素电极电位与所述第一固定电平的差值满足预设值。
本发明实施例提供的残像测试、消除方法和残像测试、消除装置，使显示面板先播放残像测试画面，再向显示面板的像素电极加载第一固定电平信号，然后通过数据线获取像素电极上的电位信息，因该电位信息包含测试画面切换后待测面板材料上堆积的离子极性和离子多少的信息(这是导致残像产生的主要原因)，因此可以据此进行残像等级判定和修正。本发明将原来残像测试中的光学问题转换到电学领域进行测量，反馈迅速、准确度高，解决了现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为现有残像测试使用的画面；
图2(a)为画面切换前驱动电场以及离子聚集情况示意图；
图2(b)为画面切换后驱动电场以及离子堆积情况示意图；
图3为本发明实施例一提供的残像测试方法流程图一；
图4为本发明实施例一中残像测试使用的画面；
图5为本发明实施例一中通过数据线获取所述像素电极上的电位信息示意图；
图6(a)为本发明实施例一提供的残像测试方法流程图二；
图6(b)为本发明实施例一提供的残像消除方法流程图一；
图7为本发明实施例一提供的残像消除方法流程图二；
图8为本发明实施例二提供的残像测试装置的结构示意图；
图9为本发明实施例二提供的残像测试装置的获取单元的结构示意图；
图10为本发明实施例二提供的残像消除装置的结构示意图。
附图标记
10-残像测试装置，11-播放单元，12-加载单元，13-获取单元，
131-栅线控制模块，132-固定电平加载模块，133-数据输入控制模块，
134-获取模块，20-灰阶电压调整单元，30-终止单元。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一
本发明实施例提供一种残像测试方法，如图3所示，该方法包括：
S101、显示面板播放残像测试画面；
本实施例对测试画面不做任何限定，可以是本领域技术人员所熟知的任何用来测试残像的画面，但要求测试画面保持一较长的预设时间，一般约1个小时作用，具体取决于设计时显示面板对残像的要求。
例如，本步骤的残像测试画面可以是图1所示的黑白色块间隔呈九宫格排列的画面。但优选地如图4所示，为避免相邻像素相互干扰影响测试准确度，本实施例优选沿着数据线延伸方向颜色一致的画面，即残像测试画面优选为竖向条纹状图形。
S102、向显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；
本步骤向各像素电极加载第一固定电平信号。所述第一固定电平信号可以是任何具有恒定电平的信号，但为便于后续步骤的计算以及连接上的便利性等，第一固定电平信号一般选择接地信号GND。本步骤具体可通过下述方式实现：打开显示面板上的所有栅线，通过数据线向像素电极加载第一固定电平信号。
本步骤还可以通过如下方式实现：设定显示面板播放各像素一致的灰阶图像或者全黑图像，此时也相当于显示面板的各像素电极加载一致的固定电位的信号。
S103、通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。
如图2(b)所示，画面切换(步骤S102相当于将显示面板的画面进行了切换)后，聚集的离子不能马上散开这是残像产生的主要原因，本步骤如图5所示通过数据线采集各像素中像素电极上的电位信息，该电位信息中即包含有待测面板材料上不能马上散开的离子(也称堆积离子)的极性和数量信息。如果残像测试发生在安装源极驱动电路之前，可以直接将数据线作为堆积离子信息采集的传输线；如果残像测试发生在安装源极驱动电路之后，则需要先断开数据线与源极驱动电路的连接(如将数据线悬空)，才可以通过数据线获取采集堆积离子的信息。另外，本步骤还要求将显示面板上的栅线打开(可以一次性全部打开，也可以分区域逐一打开)，数据线与像素电极相连通，数据线才能作为堆积离子信息采集的传输线。
与现有技术的不同之处在于，本实施例通过数据线采集像素电极上的感应电压，根据感应电压的极性及大小进行残像水平判定，将光学测量问题转换到电学领域进行测量，反馈迅速、准确度高，解决了现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。
进一步地，本实施例还提供另一种残像测试方法，如图6(a)所示，在该种测试方法中，上述S103具体为：打开所述显示面板上的所有栅线，使所述数据线与所述像素电极导通，所述数据线输出的信号即为所述像素电极上的电位信息。
优选地，上述S103通过数据线获取所述像素电极上的电位信息之前，还可包括：
S1031、断开数据线与像素电极的连接，然后向数据线输入第二固定电平信号直至数据线的电位变为第二固定电平；
本步骤具体可以为：关闭所有栅线，从而断开数据线与像素电极之间的连接，然后向数据线输入第二固定电平，直至数据线的电位变为第二固定电平，其中所述第二固定电平信号优选公共电压Vcom，但不限于公共电压Vcom，还可以是其它具有恒定电平的信号。
本步骤主要目的是使数据线上达到一个恒定的电平准位，其作用是为了后续更精准的感应像素盒内的残像电场，此处的残像电场指堆积离子产生的，主要生成残像的电场。并且，通过本步骤能够排除公共电压线上电压对测试的影响，增加测试精确度。
S1032、然后，将所述数据线悬空；本步骤目的主要是断开数据线主动输入电压的连接，一般为切断数据线与源极驱动电路的连接，为下一步骤作准备，这样下一步骤才能使用数据线采集堆积离子的信息。
本实施例下一步骤打开所述显示面板上的所有栅线，使数据线与像素电极导通，数据线输出的信号即为像素电极上的电位信息。本实施例提供的残像测试方法排除了公共电压线上电压对测试的影响，测试精确度更高。
基于上述的残像测试方法，本实施例还提供一种残像消除方法，如图6(b)所示，该方法包括：
步骤S1、通过上述残像测试方法获取像素电极的电位信息；本步骤的已在前面做过叙述，此处不再赘述。
步骤S2、根据获得的电位信息对灰阶电压进行调整。本步骤中可通过调整伽马电压来调整所述灰阶电压，因为灰阶电压由伽马电压得到的。
本步骤中进行必要的信息处理如可能包括放大、模数转换、滤波消除干扰等步骤，从而在获得的电位信息中提取出反映堆积离子极性和多少的信息，然后输入至显示驱动单元(如源极驱动器)，并据此对灰阶电压进行调整。优选地，可以分区域有针对性地对灰阶电压进行调整，削弱或消除残像现象。
如果步骤S1获取像素电极的电位信息时，采用了上述S1031～S1033步骤中的方式，那么本步骤(步骤S2)具体包括：将获得的电位信息与第一固定电平信号进行比较，求出像素电极电位与第一固定电平的差值；对灰阶电压进行调整：如果像素电极电位比第一固定电平高，则将灰阶电压降低一个上述差值；如果像素电极电位比第一固定电平低，则将灰阶电压抬高一个上述差值。本实施例根据像素电极电位与第一固定电平的差值对灰阶电压的调整，能够达到削弱或消除残像问题的目的。
进一步地，如图7所示，上述残像消除方法，还包括：步骤S3、重复执行步骤S1和步骤S2，直至像素电极的电位信息满足预设条件。本步骤经过多次调整，直至像素电极的电位信息满足预设条件，可达到更高的修正标准，显示效果质量更佳，并且可以实现自动化调整，自动消除残像。其中所述的预设条件与设计时对残像问题的最低要求标准有关，可以通过经验或实验确定。
可选地，在上述根据像素电极电位与第一固定电平的差值对灰阶电压的调整的情况下，步骤S3中所述的预设条件具体以为像素电极电位与第一固定电平的差值满足预设值，即步骤S3中重复执行步骤S1和步骤S2，直至像素电极电位与第一固定电平的差值满足预设值，预设值与设计时对残像问题的最低要求标准有关，可以通过经验或实验确定。
为便于本领域普通技术人员理解实现上述残像测试及消除方法，下面结合具体实施例进行详细介绍：
步骤一、长时间(1小时)显示如图4所示测试画面，显示画面沿着数据线方向颜色一致；
步骤二、打开所有的栅线，并向数据线输出接地信号(GND信号)，加载GND信号时间应该足够长，能使像素电极上的电压同数据线上电压基本相同；
步骤三、关闭所有的栅线，并使原本连接源极驱动电路的数据线与公共电压短接，确保数据线与公共电极二者不存在压差，然后将数据线悬空。此处数据线悬空的含义为数据线不再接收数据信号，改而作为残像问题的信号采集的传输线使用。
步骤四、打开面板上的所有栅线，使数据线跟像素电极相导通，使用数据线及像素电极作为堆积离子的测试传感器；由于液晶面板内离子堆积会使悬空的数据线及像素电极上产生感应电压，测试数据线及像素电极上产生的感应电压(即像素电极上的电位信息)，即可获得有关残像问题的信息。
步骤五、根据像素电极上产生的感应电压的极性跟大小对原始灰阶电压进行反补偿，来抵消这部分离子堆积的电压偏量，从而削弱或消除残像现象。
本步骤中的反补偿指，如果像素电极上产生的感应电压的极性为正，像素电极电位比第一固定电平高，则将灰阶电压降低一个感应电压的大小；如果像素电极上产生的感应电压的极性为负，像素电极电位比第一固定电平低，则将灰阶电压抬高一个感应电压的大小。
本实施例提供的上述测试方法，由于步骤二已经将像素内存储电荷已经释放掉，像素盒内残留的电荷电场产生电场，数据线作为传感单元(此时，需要切断数据线主动输出电平的功能，一般是将数据线输入悬空)连通像素电极，即可将像素内残留电荷产生的电场反映出来。如果步骤二中向数据线输出的不是接地信号(GND信号)，而是其它固定电平信号，则在步骤五像素电极上产生的感应电压需要先减去这个固定电平信号，再根据得到的差值的正负及大小对原始灰阶电压进行反补偿，抵消离子堆积的电压偏量，削弱或消除残像现象。
本实施例提供的上述测试方法，还可包括：重复测试、调整灰阶电压直至解决离子堆积问题(即残像现象)。因为测试时对液晶盒内残像电场感应的精准度可能存在误差，需要通过判定检测出来的电压信号是否小于一预设值来决定是否继续重复测试、调整灰阶电压的步骤，该预设值需要一般根据客户端对残像的容忍差异决定。
本发明实施例提供一种残像测试、消除方法，通过测量面板材料上离子积累极性和大小，通过反向补偿正负灰阶电压与公共极电压差，快速有效的解决面板显示残留的问题。
将原来残像测试中的光学问题转换到电学领域进行测量，反馈迅速、准确度高，并可实现自动化测量、调整功能，解决了现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。
实施例二
本发明实施例提供一种残像测试装置10，如图8所示，该装置包括：播放单元11，用于使显示面板播放残像测试画面；加载单元12，用于在显示面板播放残像测试画面后，向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；获取单元13，用于通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。
本实施例播放单元11用于使显示面板播放残像测试画面，可以直接使用显示面板中驱动面板进行显示的驱动电路。加载单元12在显示面板播放残像测试画面后，向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号，加载单元12的功能还可以直接通过播放单元11实现，即在显示面板播放残像测试画面后，继续播放各像素一致的灰阶图像或者全黑图像，因此本实施例残像测试装置10也可只包括播放单元11和获取单元13。获取单元13与数据线直接或间接相连，用于通过数据线获取所述像素电极上的电位信息并存储，然后进行必要的信息处理，例如给出面板的残像测试结果如残像等级等。
具体而言，所述获取单元包括：栅线控制模块131，用于在通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息之前，控制所述栅线开启以使所述数据线与所述像素电极连通；获取模块134，用于通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息。
在本实施例的一种优选的实施方式中，如图9所示，栅线控制模块131，还用于在向数据线输入第二固定电平信号之前，控制栅线关闭以使所述数据线与像素电极断开；还用于所述第二固定电平加载结束后，且所述数据线输入悬空时，控制所述栅线开启以使所述数据线与所述像素电极连通；所述获取单元还包括：固定电平加载模块132，用于在数据线与像素电极断开后，向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平；数据输入控制模块133，用于在所述第二固定电平加载结束后，使所述数据线输入悬空；获取模块134，用于通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息。
本实施例栅线控制模块131可以直接通过栅极驱动器实现；固定电平加载模块132和数据输入控制模块133功能可以直接通过源极驱动器实现。需要注意的是，数据输入控制模块133在所述第二固定电平加载结束后，使数据线输入悬空，其目的是切断数据线的主动电压输入功能，以便获取模块134通过数据线读取像素电极上的电位信息，在残像消除装置中，数据输入控制模块133直接将数据线输入切换至灰阶电压调整单元，这样获取模块134通过数据线读取像素电极上的电位信息可以直接传递给灰阶电压调整单元，灰阶电压调整单元据此进行灰阶电压调整，从而削弱或消除残像现象。
本实施例通过栅线控制模块131、固定电平加载模块132、数据输入控制模块133和获取模块134相互配合，先使数据线上达到一个恒定的电平准位，再通过数据线采集像素电极上的电位信息，能够排除公共电压线上电压对测试的影响，增加测试精确度。
可选地，上述第一固定电平信号为接地电压信号，上述第二固定电平信号为公共电压信号。直接利用已有信号，便于连接，不需要增加新的信号线，并且后续计算也比较方便。
优选地，所述残像测试画面沿着数据线延伸方向颜色一致，能够避免相连像素相互影响，提高测试准确度。
本发明实施例还提供一种残像消除装置，如图10所示，该残像消除装置包括：上述任一项所述的残像测试装置10；灰阶电压调整单元20，用于根据所述残像测试装置获得的电位信息对灰阶电压进行调整。
进一步地，所述残像消除装置10还包括：终止单元30，用于在像素电极的电位信息满足预设条件时，关闭残像测试装置10和灰阶电压调整单元20。
如果残像测试装置10的获取单元通过先使数据线上达到一个恒定的电平准位，再通过数据线采集像素电极上的电位信息的方式工作，即获取单元包括上述的栅线控制模块、固定电平加载模块、数据输入控制模块和获取模块，则所述灰阶电压调整单元对应包括：比较模块，用于将获得的所述电位信息与第一固定电平信号进行比较，求出像素电极电位与第一固定电平的差值；灰阶电压调整模块，用于如果像素电极电位比第一固定电平高，则将灰阶电压降低一个差值；如果像素电极电位比第一固定电平低，则将灰阶电压抬高一个差值。此时，终止测试和灰阶电压调整的条件为：像素电极电位与第一固定电平的差值满足预设值。
本发明实施例提供的残像测试、消除装置，通过数据线获取像素电极上的电位信息，并据此进行残像等级判定和修正。由于本发明实施例将原来残像测试中的光学问题转换到电学领域进行测量，发明实施例提供的残像测试、消除装置具有反馈迅速、准确度高的优势，解决了现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于设备实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(RandomAccessMemory，RAM)等。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (21)

1.一种残像测试方法，其特征在于，包括：
显示面板播放残像测试画面；
向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；
通过数据线获取所述像素电极上的电位信息；
所述通过数据线获取所述像素电极上的电位信息之前，还包括：
断开数据线与像素电极的连接，然后向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平；
然后，将所述数据线悬空。
2.根据权利要求1所述的残像测试方法，其特征在于，所述通过数据线获取所述像素电极上的电位信息，具体为：
打开所述显示面板上的所有栅线，使所述数据线与所述像素电极导通，所述数据线输出的信号即为所述像素电极上的电位信息。
3.根据权利要求1所述的残像测试方法，其特征在于，
所述第二固定电平信号为公共电压信号。
4.根据权利要求1或2所述的残像测试方法，其特征在于，所述向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号，具体为：
打开所述显示面板上的所有栅线，通过数据线向像素电极加载第一固定电平信号。
5.根据权利要求4所述的残像测试方法，其特征在于，所述第一固定电平信号为接地电压信号。
6.根据权利要求1所述的残像测试方法，其特征在于，
所述残像测试画面沿着数据线延伸方向颜色一致。
7.根据权利要求1所述的残像测试方法，其特征在于，所述向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号通过如下方式实现:
设定显示面板播放各像素一致的灰阶图像或者全黑图像。
8.一种残像消除方法，其特征在于，包括：
步骤S1、通过权利要求1-6任一项所述的残像测试方法获取像素电极的电位信息；
步骤S2、根据获得的电位信息对灰阶电压进行调整。
9.根据权利要求8所述的残像消除方法，其特征在于，重复执行步骤S1和步骤S2，直至像素电极的电位信息满足预设条件。
10.根据权利要求8或9所述的残像消除方法，其特征在于，获取像素电极的电位信息时，如果采用下述方式：先断开数据线与像素电极的连接，然后向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平，然后再将所述数据线悬空；打开所述显示面板上的所有栅线，使所述数据线与所述像素电极导通，通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息；则步骤S2具体包括：
将获得的所述电位信息与所述第一固定电平信号进行比较，求出像素电极电位与第一固定电平的差值；
对灰阶电压进行调整：如果所述像素电极电位比所述第一固定电平高，则将灰阶电压降低一个所述差值；如果所述像素电极电位比所述第一固定电平低，则将灰阶电压抬高一个所述差值。
11.根据权利要求8或9所述的残像消除方法，其特征在于，步骤S2中通过调整伽马电压来调整所述灰阶电压。
12.根据权利要求9所述的残像消除方法，其特征在于，所述像素电极的电位信息满足预设条件，具体为：
所述像素电极电位与所述第一固定电平的差值满足预设值。
13.一种残像测试装置，其特征在于，包括：
播放单元，用于使显示面板播放残像测试画面；
加载单元，用于在显示面板播放残像测试画面后，向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；
获取单元，用于通过数据线获取所述像素电极上的电位信息；
所述获取单元包括：
栅线控制模块，用于在通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息之前，控制所述栅线开启以使所述数据线与所述像素电极连通；
获取模块，用于通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息；
所述栅线控制模块，还用于在向数据线输入第二固定电平信号之前，控制栅线关闭以使所述数据线与像素电极断开；还用于所述第二固定电平加载结束后，且所述数据线输入悬空时，控制所述栅线开启以使所述数据线与所述像素电极连通；所述获取单元还包括：
固定电平加载模块，用于在所述数据线与所述像素电极断开后，向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平；
数据输入控制模块，用于在所述第二固定电平加载结束后，使所述数据线输入悬空。
14.根据权利要求13所述的残像测试装置，其特征在于，
所述第二固定电平信号为公共电压信号。
15.根据权利要求13所述的残像测试装置，其特征在于，所述第一固定电平信号为接地电压信号。
16.根据权利要求13所述的残像测试装置，其特征在于，
所述残像测试画面沿着数据线延伸方向颜色一致。
17.根据权利要求16所述的残像测试装置，其特征在于，所述加载单元具体用于:向显示面板加载各像素一致的灰阶图像或者全黑图像。
18.一种残像消除装置，其特征在于，包括：
权利要求13-17任一项所述的残像测试装置；
灰阶电压调整单元，用于根据所述残像测试装置获得的电位信息对灰阶电压进行调整。
19.根据权利要求18所述的残像消除装置，其特征在于，还包括：
终止单元，用于在像素电极的电位信息满足预设条件时，关闭所述残像测试装置和所述灰阶电压调整单元。
20.根据权利要求18或19所述的残像消除装置，其特征在于，所述残像测试装置的获取单元包括：
栅线控制模块，用于在向数据线输入第二固定电平信号之前，控制栅线关闭以使所述数据线与像素电极断开；还用于所述第二固定电平加载结束后，且所述数据线输入悬空时，控制所述栅线开启以使所述数据线与所述像素电极连通，
固定电平加载模块，用于在所述数据线与所述像素电极断开后，向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平，
数据输入控制模块，用于在所述第二固定电平加载结束后，使所述数据线输入悬空，
获取模块，用于通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息；所述灰阶电压调整单元，具体包括：
比较模块，用于将获得的所述电位信息与所述第一固定电平信号进行比较，求出像素电极电位与第一固定电平的差值，
灰阶电压调整模块，用于如果所述像素电极电位比所述第一固定电平高，则将灰阶电压降低一个所述差值；如果所述像素电极电位比所述第一固定电平低，则将灰阶电压抬高一个所述差值。
21.根据权利要求19所述的残像消除装置，其特征在于，所述像素电极的电位信息满足预设条件，具体为：
所述像素电极电位与所述第一固定电平的差值满足预设值。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104950494B (zh) * 2015-07-28 2019-06-14 京东方科技集团股份有限公司 残像测试、消除方法和残像测试、消除装置
CN107193147B (zh) * 2017-07-24 2020-05-05 武汉华星光电技术有限公司 一种触控显示面板及其显示方法、显示装置
KR102537993B1 (ko) * 2017-10-31 2023-06-01 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치의 블랙 데이터 설정 방법 및 이를 채용한 표시 장치
CN108206014B (zh) * 2018-01-02 2021-08-06 京东方科技集团股份有限公司 液晶显示面板的显示方法及液晶显示装置
CN109036236B (zh) * 2018-09-14 2021-10-26 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板检测方法及检测装置
CN113259656B (zh) * 2021-05-11 2022-09-06 中国科学院国家天文台 一种图像传感器的残像测试方法及装置
CN113299214B (zh) * 2021-06-28 2022-09-02 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 显示面板自动检测装置及显示面板的色偏检测方法
CN113671749B (zh) * 2021-09-07 2023-03-31 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 降低影像内残像的方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1487494A (zh) * 2002-07-12 2004-04-07 ���ṫ˾ 液晶显示设备、控制该设备的方法以及便携式终端
CN101650480A (zh) * 2008-08-11 2010-02-17 北京京东方光电科技有限公司 液晶面板中离子浓度的分析方法和装置
CN102024439A (zh) * 2010-12-31 2011-04-20 德为显示科技股份有限公司 一种消除液晶显示器影像残留的方法
CN102033372A (zh) * 2009-09-24 2011-04-27 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd阵列基板及其制造、检测和驱动方法

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100551590B1 (ko) * 2000-10-23 2006-02-13 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치의 잔상측정방법
JP3715616B2 (ja) * 2002-11-20 2005-11-09 Ｎｅｃディスプレイソリューションズ株式会社 液晶表示装置及び該装置のコモン電圧設定方法
WO2005054933A2 (en) * 2003-11-26 2005-06-16 E Ink Corporation Electro-optic displays with reduced remnant voltage
KR101172498B1 (ko) * 2005-06-01 2012-08-10 삼성전자주식회사 액정 표시 장치의 제조 방법, 액정 표시 장치 및 에이징시스템
KR101245218B1 (ko) * 2006-06-22 2013-03-19 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 표시소자
KR101374507B1 (ko) * 2006-10-31 2014-03-26 엘지디스플레이 주식회사 유기발광다이오드 표시장치와 그 구동방법
CN101425246A (zh) * 2007-10-31 2009-05-06 台湾薄膜电晶体液晶显示器产业协会 检测显示器的残影现象的方法及装置
JP5010030B2 (ja) * 2008-07-04 2012-08-29 パナソニック株式会社 表示装置及びその制御方法
TW201303820A (zh) * 2011-07-15 2013-01-16 Chunghwa Picture Tubes Ltd 檢測液晶顯示裝置之液晶驅動電壓的方法
JP2015087608A (ja) * 2013-10-31 2015-05-07 京セラディスプレイ株式会社 タッチパネル付き液晶表示装置
KR102105329B1 (ko) * 2013-12-31 2020-04-29 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 구동 방법
CN104485058B (zh) * 2014-12-12 2017-07-11 厦门天马微电子有限公司 一种测试电路、阵列基板及显示装置
CN104536177A (zh) * 2014-12-31 2015-04-22 深圳市华星光电技术有限公司 消除影像残留的方法以及液晶显示器
CN104950494B (zh) * 2015-07-28 2019-06-14 京东方科技集团股份有限公司 残像测试、消除方法和残像测试、消除装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1487494A (zh) * 2002-07-12 2004-04-07 ���ṫ˾ 液晶显示设备、控制该设备的方法以及便携式终端
CN101650480A (zh) * 2008-08-11 2010-02-17 北京京东方光电科技有限公司 液晶面板中离子浓度的分析方法和装置
CN102033372A (zh) * 2009-09-24 2011-04-27 北京京东方光电科技有限公司 Tft-lcd阵列基板及其制造、检测和驱动方法
CN102024439A (zh) * 2010-12-31 2011-04-20 德为显示科技股份有限公司 一种消除液晶显示器影像残留的方法

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