CN110033726A - 一种显示面板的测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例公开了一种显示面板的测试方法。该方法包括:在显示面板上显示第一测试画面,显示面板包括第一区域和第二区域,第一测试画面在第一区域和第二区域均为纯色画面,且第一测试画面在第一区域和第二区域的显示灰阶的差值大于设定阈值;在第一测试画面显示第一预设时间后,在显示面板上显示第二测试画面,第二测试画面为纯色画面,第二测试画面的显示灰阶大于第一区域的显示灰阶,且小于第二区域的显示灰阶;获取第二测试画面在第一区域的第一色坐标和第一亮度,以及第二测试画面在第二区域的第二色坐标和第二亮度;根据第一色坐标、第一亮度、第二色坐标和第二亮度确定显示面板的残影等级。本发明实施例提高了残影测试结果的准确度。

Description

一种显示面板的测试方法
技术领域
本发明实施例涉及显示技术,尤其涉及一种显示面板的测试方法。
背景技术
有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode,OLED)显示面板是一种自发光显示面板,OLED显示面板由于具有轻薄、高亮度、宽视角、高响应速度以及宽使用温度范围等优点而越来越多地被应用于各种高性能显示领域中。
OLED显示面板画面显示过程中易出现残影这一问题是显示面板行业长期关注的研发课题。
发明内容
本发明提供一种显示面板的测试方法,以提高残影测试结果的准确度。
本发明实施例提供了一种显示面板的测试方法,包括:
在显示面板上显示第一测试画面,所述显示面板包括第一区域和第二区域,所述第一测试画面在所述第一区域和所述第二区域均为纯色画面,且所述第一测试画面在所述第一区域和所述第二区域的显示灰阶的差值大于设定阈值;
在所述第一测试画面显示第一预设时间后,在显示面板上显示第二测试画面,所述第二测试画面为纯色画面,所述第二测试画面的显示灰阶大于所述第一区域的显示灰阶,且小于所述第二区域的显示灰阶;
获取所述第二测试画面在所述第一区域的第一色坐标和第一亮度,以及所述第二测试画面在所述第二区域的第二色坐标和第二亮度;
根据所述第一色坐标、第一亮度、第二色坐标和第二亮度确定显示面板的残影等级。
可选的,根据所述第一色坐标、第一亮度、第二色坐标和第二亮度确定显示面板的残影等级,包括:
获取标准光源的第三色坐标和第三亮度;
根据所述第一色坐标、第一亮度、第二色坐标、第二亮度、第三色坐标和第三亮度计算Delta-E;
根据Delta-E确定显示面板的残影等级。
可选的,获取所述第二测试画面在所述第一区域的第一色坐标和第一亮度,以及所述第二测试画面在所述第二区域的第二色坐标和第二亮度,包括:
在所述第二测试画面持续显示的第二预设时间内,多次获取所述第二测试画面在所述第一区域的第一色坐标和第一亮度,以及所述第二测试画面在所述第二区域的第二色坐标和第二亮度。
可选的,根据Delta-E确定显示面板的残影等级,包括:
根据Delta-E的最大值确定显示面板的残影等级,或者,根据Delta-E达到设定值的时间确定显示面板的残影等级。
可选的,在显示面板上显示第一测试画面之前,还包括:
在显示面板上显示所述第二测试画面。
可选的,所述第一测试画面在所述第一区域的显示灰阶为所述显示面板的最小显示灰阶,所述第一测试画面在所述第二区域的显示灰阶为所述显示面板的最大显示灰阶。
可选的,所述第一测试画面的所述第一区域和所述第二区域为灰度画面,所述第二测试画面为灰度画面。
可选的,所述第一测试画面在所述第一区域和所述第二区域为同一颜色的单色显示画面,所述第二测试画面为单色显示画面,且所述第二测试画面的颜色与所述第一测试画面的颜色相同。
可选的,所述第一区域和所述第二区域相邻。
可选的,所述第二预设时间小于或等于1分钟。
本发明实施例通过采集第二测试画面在第一区域的第一色坐标和第一亮度,以及第二测试画面在第二区域的第二色坐标和第二亮度,并根据所述第一色坐标、第一亮度、第二色坐标和第二亮度确定显示面板的残影等级,本实施例的方案对残影等级判定时,综合考虑了色度和亮度,更能反应残影的真实水平,使得后期对残影的补偿更为准确,有利于提高显示面板的画面显示质量。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程图;
图2是本发明实施例提供的一种显示面板的示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
正如背景技术中提到的显示面板在画面显示过程中易出现残影,现有的显示面板在进行残影判断时,一部分采用肉眼判定,另一部分通过测试显示面板的显示亮度进行残影判断,这两种判定方式均不能准确的反应显示面板的残影水平。基于此,发明人提出了以下解决方案:
本实施例提供了一种显示面板的测试方法,图1是本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程图,参考图1,该方法包括:
步骤110、在显示面板上显示第一测试画面,所述显示面板包括第一区域和第二区域,所述第一测试画面在所述第一区域和所述第二区域均为纯色画面,且所述第一测试画面在所述第一区域和所述第二区域的显示灰阶的差值大于设定阈值。
步骤120、在所述第一测试画面显示第一预设时间后,在显示面板上显示第二测试画面,所述第二测试画面为纯色画面,所述第二测试画面的显示灰阶大于所述第一区域的显示灰阶,且小于所述第二区域的显示灰阶。
步骤130、获取所述第二测试画面在所述第一区域的第一色坐标和第一亮度,以及所述第二测试画面在所述第二区域的第二色坐标和第二亮度。
步骤140、根据所述第一色坐标、第一亮度、第二色坐标和第二亮度确定显示面板的残影等级。
其中,设定阈值为正数,设定阈值的大小可以根据显示面板中驱动晶体管的特性,以及显示面板的最大显示灰阶确定,本实施例并不做具体限定。示例性的,对于最大显示灰阶为255灰阶的显示面板,设定阈值的大小可以大于或等于128灰阶等。第一预设时间可以为几秒或几分钟,由于显示面板在第一测试画面停留的时间越长,当切换到第二测试画面时,残影越严重,因此为测试显示面板的最大残影水平,可以设置第一预设时间为一较长的时间,如设置为10秒、1分钟、2分钟、3分钟或5分钟等,具体数值可以根据显示面板的驱动晶体管特性确定。纯色画面可以为纯灰画面或单色画面。可以采用色度仪采集第一色坐标和第二色坐标,并采用亮度仪采集第一亮度和第二亮度。
具体的,可以根据第一色坐标与第二色坐标的第一差值,以及第一亮度与第二亮度的第二差值确定显示面板的残影等级,也可以通过其他计算方式确定显示面板的残影等级。
本实施例的方案通过采集第二测试画面在第一区域的第一色坐标和第一亮度,以及第二测试画面在第二区域的第二色坐标和第二亮度,并根据所述第一色坐标、第一亮度、第二色坐标和第二亮度确定显示面板的残影等级,本实施例的方案对残影等级判定时,综合考虑了色度和亮度,更能反应残影的真实水平,使得后期对残影的补偿更为准确,有利于提高显示面板的画面显示质量。
图2是本发明实施例提供的一种显示面板的示意图。可选的,参考图2,第一区域11和第二区域12相邻。
具体的,由于当相邻的区域存在亮度偏差时,人眼更容易识别,因此通过测试显示面板中相邻的第一区域11和第二区域12在显示第二测试画面时的残影,为后期对残影的补偿等提供依据,更有利于提高显示面板的画面显示质量。
示例性的,参考图2,可以设置显示面板包括多个第一区域11和多个第二区域12,第一区域11和第二区域12以棋盘格的形式排列。此外,还可以设置第一区域11和第二区域12以条纹的形式等其他形式排列,本实施例并不做具体限定。
可选的,根据所述第一色坐标、第一亮度、第二色坐标和第二亮度确定显示面板的残影等级,包括:
获取标准光源的第三色坐标和第三亮度;
根据所述第一色坐标、第一亮度、第二色坐标、第二亮度、第三色坐标和第三亮度计算Delta-E;
根据Delta-E确定显示面板的残影等级。
其中,标准光源可以为D65标准光源,Delta-E(ΔE)指的是在均匀颜色感觉空间中,人眼感觉色差的测试单位,Delta-E是用以保证色彩一致性的量度。不同Delta-E范围内的色彩效果是不一样的,示例性的,Delta-E=0~0.25,色差非常小,属于理想状态下的颜色匹配;Delta-E=0.25~0.5,色差微小,属于可接受的颜色匹配;Delta-E==0.5~1,色差微小到中等,在一些产品中可接受;Delta-E=1~2,色差中等,在特定产品中可接受,Delta-E=2~4,存在较大的色差,在特定产品中可接受;Delta-E在4以上色差非常大,在大部分产品中不可接受。通过采用Delta-E确定显示面板的残影等级,可以综合考虑亮度和色度偏差,使得确定的残影等级更加准确。
具体的,计算Delta-E的过程如下:
1、根据第一色坐标(x1,y1)和第一亮度Y11,以及第二色坐标(x2,y2)和第二亮度Y22分别求出相应的三刺激值:
Y1=Y11;
Y2=Y22;
Yn=Ynn;
其中,X1,Y1,Z1为第一区域的三刺激值,X2,Y2,Z2为第二区域的三刺激值,(xn,yn)为D65光源对应的色坐标,Ynn为D65光源的亮度,Xn,Yn和Zn为D65光源对应的三刺激值。
2、计算样品在标准光源下的三刺激值函数;
f(X/Xn)=(X/Xn)1/3,X/Xn>0.008856;
f(X/Xn)=7.787(X/Xn)+16/116,X/Xn≤0.008856;
f(Y/Yn)=(Y/Yn)1/3,Y/Yn>0.008856;
f(Y/Yn)=7.787(Y/Yn)+16/116,Y/Yn≤0.008856;
f(Z/Zn)=(Z/Zn)1/3,Z/Zn>0.008856;
f(Z/Zn)=7.787(Z/Zn)+16/116,Z/Zn≤0.008856;
其中,将X1,Y1和Z1带入上述公式可以得到第一区域对应的三刺激函数f(X1/Xn),f(Y1/Yn)和f(Z1/Zn)。将X2,Y2和Z2带入上述公式可以得到第二区域对应的三刺激函数f(X2/Xn),f(Y2/Yn)和f(Z2/Zn)。
3、根据三刺激值函数计算相应的L*、a*、b*
L*=116f(Y/Yn)-16;
a*=500[f(X/Xn)-f(Y/Yn)];
b*=200[f(Y/Yn)-f(Z/Zn)];
将f(X1/Xn),f(Y1/Yn)和f(Z1/Zn)代入上述公式可以分别得到L1*、a1*和b1*,将f(X2/Xn),f(Y2/Yn)和f(Z2/Zn)代入上述公式可以分别得到L2*、a2*和b2*
4、计算第一区域与第二区域的色差。
Delta-E=[(ΔL*)2+(Δa*)2+(Δb*)2]1/2
ΔL*=L1*-L2*
Δa*=a1*-a2*
Δb*=b1*-b2*
可选的,获取所述第二测试画面在所述第一区域的第一色坐标和第一亮度,以及所述第二测试画面在所述第二区域的第二色坐标和第二亮度,包括:
在所述第二测试画面持续显示的第二预设时间内,多次获取所述第二测试画面在所述第一区域的第一色坐标和第一亮度,以及所述第二测试画面在所述第二区域的第二色坐标和第二亮度。
具体的,由于从第一测试画面切换到第二测试画面后,显示面板显示第二测试画面的初始时间段,即在残影持续时间内亮度和色度是不断变化的,通过多次测量第一色坐标、第一亮度、第二色坐标和第二亮度,可以得到各个时间点的残影水平,可以更为准确全面的确定显示面板的残影等级。
其中,第二预设时间可以根据显示面板的显示特性确定,可选的,第二预设时间小于或等于1分钟。
具体的,发明人通过研究发现现有的显示面板的残影持续时间一般不会超过一分钟,通过设置第二预设时间小于或等于1分钟,在保证能够全面准确的对残影进行检测的同时,可以缩短测试时间,提升测试效率。
可选的,根据Delta-E确定显示面板的残影等级,包括:
根据Delta-E的最大值确定显示面板的残影等级,或者,根据Delta-E达到设定值的时间确定显示面板的残影等级。
具体的,第二测试画面在第一区域和第二区域的色度和亮度差异越大,Delta-E越大,残影越强,通过根据Delta-E的最大值确定为显示面板的残影等级,可以更准确地反映显示面板的残影水平。此外,在残影持续时间内,第二测试画面在第一区域和第二区域的色度和亮度是逐级变化的,最终变化为第一区域和第二区域的色度和亮度均一致,即残影结束。设定值可以为一较小的数值,使得人眼无法分辨出第一区域和第二区域的残影,Delta-E达到设定值的时间越短,则残影越弱,显示面板的显示特性越好,通过根据Delta-E达到设定值的时间确定显示面板的残影等级,可以更准确地反映显示面板的残影水平。
可选的,在显示面板上显示第一测试画面之前,还包括:
在显示面板上显示所述第二测试画面。
具体的,由于第二测试画面为纯色画面,通过在显示第一测试画面之前先显示第二测试画面,可以对显示面板的所有像素单元进行初始化,使得所述像素单元的初始状态相同,提高残影测试的准确性。
可选的,所述第一测试画面在所述第一区域的显示灰阶为所述显示面板的最小显示灰阶,所述第一测试画面在所述第二区域的显示灰阶为所述显示面板的最大显示灰阶。
具体的,第一测试画面中第一区域和第二区域的显示灰阶的差异越大,切换到中间显示灰阶的第二测试画面时,第一区域和第二区域出现残影的概率越大。通过设置第一测试画面在第一区域为最小显示灰阶,在第二区域为最大显示灰阶,可以对显示面板的最大残影进行测试,更能测得显示面板的残影真是水平。示例性的,第一测试画面在第一区域的显示灰阶可以为0灰阶,在第二区域的显示灰阶可以为255灰阶,此时第二测试画面的显示灰阶可以设置为48灰阶。
可选的,所述第一测试画面的所述第一区域和所述第二区域为灰度画面,所述第二测试画面为灰度画面。
具体的,第一测试画面在第一区域的显示画面可以为纯黑画面,在第二区域的显示画面可以为纯白画面。其中,当第一区域和第二区域显示灰度画面时,第一区域和第二区域中每一像素单元包括的至少三个不同颜色的子像素单元显示的灰阶相同,示例性的,当显示纯黑画面时,每一子像素单元显示0灰阶,当显示纯白画面时,每一子像素单元显示255灰阶。通过设置第一测试画面的第一区域和第二区域为灰度画面,第二测试画面为灰度画面,一方面可以对每一像素单元包括的子像素单元的综合残影进行测评,另一方面可以根据测得的色坐标对显示面板的白平衡进行评测,使得在对显示面板进行补偿时,可以在改善残影水平的同时调节显示面板的白平衡,有利于进一步提升画面显示质量。
可选的,所述第一测试画面在所述第一区域和所述第二区域为同一颜色的单色显示画面,所述第二测试画面为单色显示画面,且所述第二测试画面的颜色与所述第一测试画面的颜色相同。
具体的,第一测试画面在第一区域和第二区域可以均为红色显示画面,第二测试画面相应的为红色显示画面。第一测试画面在第一区域和第二区域可以均为蓝色显示画面,第二测试画面相应的为蓝色显示画面。第一测试画面在第一区域和第二区域可以均为绿色显示画面,第二测试画面相应的为绿色显示画面。通过获取第一测试画面的色度和亮度以及第二测试画面的色度和亮度,可以对单色显示画面的残影水平进行测试,有利于进一步提升显示面板的显示质量。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板的测试方法,其特征在于,包括:
在显示面板上显示第一测试画面,所述显示面板包括第一区域和第二区域,所述第一测试画面在所述第一区域和所述第二区域均为纯色画面,且所述第一测试画面在所述第一区域和所述第二区域的显示灰阶的差值大于设定阈值;
在所述第一测试画面显示第一预设时间后,在显示面板上显示第二测试画面,所述第二测试画面为纯色画面,所述第二测试画面的显示灰阶大于所述第一区域的显示灰阶,且小于所述第二区域的显示灰阶;
获取所述第二测试画面在所述第一区域的第一色坐标和第一亮度,以及所述第二测试画面在所述第二区域的第二色坐标和第二亮度;
根据所述第一色坐标、第一亮度、第二色坐标和第二亮度确定显示面板的残影等级。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述第一色坐标、第一亮度、第二色坐标和第二亮度确定显示面板的残影等级,包括:
获取标准光源的第三色坐标和第三亮度;
根据所述第一色坐标、第一亮度、第二色坐标、第二亮度、第三色坐标和第三亮度计算Delta-E;
根据Delta-E确定显示面板的残影等级。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,获取所述第二测试画面在所述第一区域的第一色坐标和第一亮度,以及所述第二测试画面在所述第二区域的第二色坐标和第二亮度,包括:
在所述第二测试画面持续显示的第二预设时间内,多次获取所述第二测试画面在所述第一区域的第一色坐标和第一亮度,以及所述第二测试画面在所述第二区域的第二色坐标和第二亮度。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,根据Delta-E确定显示面板的残影等级,包括:
根据Delta-E的最大值确定显示面板的残影等级,或者,根据Delta-E达到设定值的时间确定显示面板的残影等级。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在显示面板上显示第一测试画面之前,还包括:
在显示面板上显示所述第二测试画面。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:
所述第一测试画面在所述第一区域的显示灰阶为所述显示面板的最小显示灰阶,所述第一测试画面在所述第二区域的显示灰阶为所述显示面板的最大显示灰阶。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:
所述第一测试画面的所述第一区域和所述第二区域为灰度画面,所述第二测试画面为灰度画面。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:
所述第一测试画面在所述第一区域和所述第二区域为同一颜色的单色显示画面,所述第二测试画面为单色显示画面,且所述第二测试画面的颜色与所述第一测试画面的颜色相同。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:
所述第一区域和所述第二区域相邻。
10.根据权利要求3所述的方法,其特征在于:
所述第二预设时间小于或等于1分钟。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110376218A (zh) * 2019-07-29 2019-10-25 昆山国显光电有限公司 显示面板残影检测方法及装置
CN111341233A (zh) * 2020-04-09 2020-06-26 昆山国显光电有限公司 显示面板残影检测方法以及检测装置
CN111397856A (zh) * 2020-03-30 2020-07-10 昆山国显光电有限公司 显示面板的残影测试方法、残影测试装置
CN112539921A (zh) * 2020-11-30 2021-03-23 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 目视残影测试系统
CN113176678A (zh) * 2020-07-28 2021-07-27 深圳同兴达科技股份有限公司 屏幕残影的测试方法
CN113345356A (zh) * 2021-06-15 2021-09-03 合肥维信诺科技有限公司 残影测试方法、装置及存储介质
WO2021203523A1 (zh) * 2020-04-10 2021-10-14 Tcl华星光电技术有限公司 基于显示面板数据错充的测试方法及装置
CN113963645A (zh) * 2021-11-08 2022-01-21 合肥维信诺科技有限公司 显示面板的残影测试方法及装置
CN114442346A (zh) * 2022-01-25 2022-05-06 苏州华星光电技术有限公司 显示面板的残影计算方法、装置、存储介质及终端设备
TWI804263B (zh) * 2022-03-31 2023-06-01 大陸商北京集創北方科技股份有限公司 自發光顯示器的環境光補償方法、顯示驅動晶片、顯示裝置及資訊處理裝置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140333681A1 (en) * 2013-05-10 2014-11-13 Samsung Display Co., Ltd. Method of generating image compensation data for display device, image compensation device using the same, and method of operating display device
CN104282251A (zh) * 2014-10-28 2015-01-14 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种显示装置的残像等级判定方法及检测装置
CN108877615A (zh) * 2018-08-14 2018-11-23 京东方科技集团股份有限公司 显示面板的残像检测方法和残像检测装置
CN109345986A (zh) * 2018-11-02 2019-02-15 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种显示面板的残像判定方法及装置
CN109613730A (zh) * 2019-02-25 2019-04-12 苏州长风航空电子有限公司 机载液晶显示器影像残留检测方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140333681A1 (en) * 2013-05-10 2014-11-13 Samsung Display Co., Ltd. Method of generating image compensation data for display device, image compensation device using the same, and method of operating display device
CN104282251A (zh) * 2014-10-28 2015-01-14 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种显示装置的残像等级判定方法及检测装置
CN108877615A (zh) * 2018-08-14 2018-11-23 京东方科技集团股份有限公司 显示面板的残像检测方法和残像检测装置
CN109345986A (zh) * 2018-11-02 2019-02-15 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种显示面板的残像判定方法及装置
CN109613730A (zh) * 2019-02-25 2019-04-12 苏州长风航空电子有限公司 机载液晶显示器影像残留检测方法

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110376218A (zh) * 2019-07-29 2019-10-25 昆山国显光电有限公司 显示面板残影检测方法及装置
CN111397856B (zh) * 2020-03-30 2022-03-29 昆山国显光电有限公司 显示面板的残影测试方法、残影测试装置
CN111397856A (zh) * 2020-03-30 2020-07-10 昆山国显光电有限公司 显示面板的残影测试方法、残影测试装置
CN111341233A (zh) * 2020-04-09 2020-06-26 昆山国显光电有限公司 显示面板残影检测方法以及检测装置
US11749149B2 (en) 2020-04-09 2023-09-05 Kunshan Go-Visionox Opto-Electronics Co., Ltd Method and device for detecting residual image of a display panel
WO2021203523A1 (zh) * 2020-04-10 2021-10-14 Tcl华星光电技术有限公司 基于显示面板数据错充的测试方法及装置
CN113176678A (zh) * 2020-07-28 2021-07-27 深圳同兴达科技股份有限公司 屏幕残影的测试方法
CN112539921A (zh) * 2020-11-30 2021-03-23 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 目视残影测试系统
CN113345356B (zh) * 2021-06-15 2022-07-08 合肥维信诺科技有限公司 残影测试方法、装置及存储介质
CN113345356A (zh) * 2021-06-15 2021-09-03 合肥维信诺科技有限公司 残影测试方法、装置及存储介质
CN113963645A (zh) * 2021-11-08 2022-01-21 合肥维信诺科技有限公司 显示面板的残影测试方法及装置
CN113963645B (zh) * 2021-11-08 2023-12-19 合肥维信诺科技有限公司 显示面板的残影测试方法及装置
CN114442346A (zh) * 2022-01-25 2022-05-06 苏州华星光电技术有限公司 显示面板的残影计算方法、装置、存储介质及终端设备
CN114442346B (zh) * 2022-01-25 2024-01-12 苏州华星光电技术有限公司 显示面板的残影计算方法、装置、存储介质及终端设备
TWI804263B (zh) * 2022-03-31 2023-06-01 大陸商北京集創北方科技股份有限公司 自發光顯示器的環境光補償方法、顯示驅動晶片、顯示裝置及資訊處理裝置

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