CN111397856A - 显示面板的残影测试方法、残影测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板的残影测试方法、残影测试装置。残影测试方法包括：将待测显示面板的显示界面划分为阵列排布的多个区块；在待测显示面板上显示第一中灰阶画面；在待测显示面板上切换为显示测试画面；在待测显示面板上切换为显示第二中灰阶画面；在待测显示面板显示第二中灰阶画面的状态下，采集待测显示面板的实际影像中各区块的亮度，根据每个区块与区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数；根据多个区块的第一残影参数获得待测显示面板的第二残影参数；以及根据第二残影参数获得残影测试结果。根据本发明实施例的显示面板的残影测试方法，最终得到量化的残影测试结果，从而提高残影测试结果的客观性。

Description

显示面板的残影测试方法、残影测试装置

技术领域

本发明涉及显示面板测试领域，具体涉及一种显示面板的残影测试方法、残影测试装置。

背景技术

显示面板的残影现象是指显示面板在显示前一静态画面持续一段时长后，在显示后一画面时仍然出现前一静态画面的影像或轮廓的现象。残影现象严重的显示面板，其显示效果较差。因此，对显示面板的残影水平进行测试，对显示面板生产良率的改善具有重要的意义。

现有技术中，通过人为观测显示面板的残影消失所需时长来判定显示面板的残影水平。然而不同人对残影的敏感程度不同，容易导致最终的判定结果不一致。

发明内容

本发明提供一种显示面板的残影测试方法、残影测试装置，提高修补效率。

一方面，本发明实施例提供一种显示面板的残影测试方法，其包括：将待测显示面板的显示界面划分为阵列排布的多个区块；在待测显示面板上显示第一中灰阶画面，第一中灰阶画面的灰阶介于待测显示面板的最高灰阶和最低灰阶之间；在待测显示面板上切换为显示测试画面，在测试画面中，每个区块显示第一图案或第二图案，第一图案的灰阶与第二图案的灰阶不同，第一图案和第二图案在测试画面中呈棋盘式分布；在待测显示面板上切换为显示第二中灰阶画面，第二中灰阶画面的灰阶与第一中灰阶画面的灰阶相等；在待测显示面板显示第二中灰阶画面的状态下，采集待测显示面板的实际影像中各区块的亮度，根据每个区块与区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数；根据多个区块的第一残影参数获得待测显示面板的第二残影参数；以及根据第二残影参数获得残影测试结果。

根据本发明一方面的上述实施方式，显示面板的残影测试方法还包括：获取待测显示面板显示第一中灰阶画面时每个区块的初始亮度；根据每个区块与区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数包括：根据每个区块的初始亮度、实际亮度以及相邻区块的初始亮度、实际亮度获得每个区块对应的第一残影参数。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，与每个区块相邻的区块的数量为至少两个，根据每个区块与区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数包括：获取每个区块的至少两个残影子参数，其中，每个残影子参数根据区块的初始亮度、实际亮度与对应一个相邻区块的初始亮度、实际亮度获得；根据区块的至少两个残影子参数获得区块对应的第一残影参数。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，根据区块的至少两个残影子参数获得区块对应的第一残影参数包括：将区块的至少两个残影子参数中的数值最大者作为区块对应的第一残影参数。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，获取每个区块的至少两个残影子参数包括：根据以下式子获取区块的各残影子参数：

其中，sIS为残影子参数；L(0)_n为区块的初始亮度；L(t)_n为区块的实际亮度；L(0)_m为区块的对应一个相邻区块的初始亮度；L(t)_m为区块的对应一个相邻区块的实际亮度。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，每个区块包括中心区域以及围绕于中心区域外周的边缘区域，在获取每个区块的至少两个残影子参数的步骤中，区块的初始亮度、实际亮度取自区块的中心区域的亮度，对应一个相邻区块的初始亮度、实际亮度取自对应一个相邻区块的中心区域的亮度。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，每个区块为多边形，每个区块包括中心区域以及围绕于中心区域外周的边缘区域，边缘区域包括与区块的多条边一一对应的多个子边缘区，其中每个子边缘区与区块的对应一条边邻接且同向延伸，在获取每个区块的至少两个残影子参数的步骤中，区块的初始亮度、实际亮度取自区块的子边缘区的亮度，对应一个相邻区块的初始亮度、实际亮度取自对应一个相邻区块的子边缘区的亮度，其中区块的子边缘区与对应一个相邻区块的子边缘区相邻。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，根据多个区块的第一残影参数获得待测显示面板的第二残影参数包括：将多个区块的第一残影参数中的数值最大者作为待测显示面板的第二残影参数。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，根据第二残影参数获得残影测试结果包括：从在待测显示面板上切换为显示第二中灰阶画面开始计时，持续获得待测显示面板在各时刻所对应的第二残影参数；根据待测显示面板在各时刻所对应的第二残影参数得到残影曲线，并作为残影测试结果。

根据本发明一方面的上述任一实施方式，根据第二残影参数获得残影测试结果包括：从在待测显示面板上切换为显示第二中灰阶画面开始计时，持续获得待测显示面板的第二残影参数并与预设阈值比对，直至第二残影参数降低至预设阈值；将降低至预设阈值的第二残影参数对应的时刻作为残影测试结果。

另一方面，本发明实施例提供一种显示面板的残影测试装置，其包括：分区模块，与待测显示面板耦合，用于将待测显示面板的显示界面划分为阵列排布的多个区块；画面控制模块，与分区模块以及待测显示面板耦合，用于控制待测显示面板显示第一中灰阶画面、显示测试画面、或第二中灰阶画面，其中，第一中灰阶画面的灰阶介于待测显示面板的最高灰阶和最低灰阶之间，在测试画面中，每个区块显示第一图案或第二图案，第一图案的灰阶与第二图案的灰阶不同，第一图案和第二图案在测试画面中呈棋盘式分布，第二中灰阶画面的灰阶与第一中灰阶画面的灰阶相等；亮度获取模块，能够在待测显示面板显示第二中灰阶画面的状态下，采集待测显示面板的实际影像中各区块的实际亮度，并获取每个区块的亮度；计算模块，与分区模块以及亮度获取模块耦合，用于根据每个区块与区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数，以及根据多个区块的第一残影参数获得待测显示面板的第二残影参数；以及结果获取模块，与计算模块耦合，用于根据第二残影参数获得残影测试结果。。

根据本发明实施例的显示面板的残影测试方法，在显示具有棋盘格团的测试画面之前，先在待测显示面板上显示第一中灰阶画面，使得显示测试画面之前各区块的显示灰阶均一，避免多余因素对测试结果造成不良影响，提高残影测试的准确性和可靠性。在待测显示面板显示第二中灰阶画面的状态下，根据每个区块与区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数，之后根据第一残影参数获得第二残影参数以及根据第二残影参数得到残影测试结果。在上述过程中，由区块的亮度信息最终得到量化的残影测试结果，从而提高残影测试结果的客观性，避免不同人、不同环境对残影水平判定的主观影响。

附图说明

通过阅读以下参照附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显，其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征，附图并未按照实际的比例绘制。

图1是本发明第一实施例提供的显示面板的残影测试方法的流程框图；

图2是本发明第一实施例提供的显示面板的残影测试方法中将待测显示面板的显示界面划分为阵列排布的多个区块步骤的显示界面示意图；

图3是本发明第一实施例提供的显示面板的残影测试方法中第一中灰阶画面的画面示意图；

图4是本发明第一实施例提供的显示面板的残影测试方法中测试画面的画面示意图；

图5是本发明第一实施例提供的显示面板的残影测试方法中第二中灰阶画面的画面示意图；

图6是本发明第一实施例提供的显示面板的残影测试方法中实际影像的影像示意图；

图7是本发明第二实施例提供的显示面板的残影测试方法的流程框图；

图8是本发明第二实施例提供的显示面板的残影测试方法中待测显示面板的实际影像的局部示意图；

图9是本发明替代的第三实施例提供的显示面板的残影测试方法中待测显示面板的实际影像的局部示意图；

图10是本发明一种实施例提供的显示面板的残影测试装置的结构框图。

具体实施方式

下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅被配置为解释本发明，并不被配置为限定本发明。对于本领域技术人员来说，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本发明实施例提供一种显示面板的残影(image sticking)测试方法，通过对显示面板进行残影测试，得到该显示面板对应的残影测试结果，以获知该显示面板的残影水平。

图1是本发明第一实施例提供的显示面板的残影测试方法的流程框图，该实施例提供的显示面板的残影测试方法包括步骤S110至步骤S170。

在步骤S110中，将待测显示面板的显示界面划分为阵列排布的多个区块。图2是本发明第一实施例提供的显示面板的残影测试方法中将待测显示面板的显示界面划分为阵列排布的多个区块步骤的显示界面示意图。在一些实施例，每个区块SA可以是多边形，例如本实施例中每个区块SA为矩形。本实施例中，将待测显示面板的显示界面划分为8×8个区块，即阵列排列为8行和8列的区块。在其它实施例中，根据不同的测试需求，可以将显示截面划分为其它数量的区块。

在步骤S120中，在待测显示面板上显示第一中灰阶画面，第一中灰阶画面的灰阶介于待测显示面板的最高灰阶和最低灰阶之间。图3是本发明第一实施例提供的显示面板的残影测试方法中第一中灰阶画面MP1的画面示意图。在本实施例中，待测显示面板例如可以显示256阶的灰阶，其中待测显示面板的最高灰阶为255，最低灰阶为0。本文中，术语“中灰阶画面”是指显示中段灰阶(介于待测显示面板的最高灰阶和最低灰阶之间的任意灰阶)的画面。在本实施例中，第一中灰阶画面MP1的灰阶例如是128，即最高灰阶与最低灰阶的中间值灰阶。在其它一些实施例中，第一中灰阶画面MP1的灰阶可以是48等其它中段灰阶。

在步骤S130中，在待测显示面板上切换为显示测试画面，在测试画面中，每个区块显示第一图案或第二图案，第一图案的灰阶与第二图案的灰阶不同，第一图案和第二图案在测试画面中呈棋盘式分布，即第一图案和第二图案呈阵列且相互交替排布。图4是本发明第一实施例提供的显示面板的残影测试方法中测试画面TP的画面示意图。在本实施例中，在测试画面TP中，第一图案的灰阶为0，第二图案的灰阶为255。在其它一些实施例中，第一图案、第二图案分别可以取其它不同的灰阶。

在步骤S140中，在待测显示面板上切换为显示第二中灰阶画面，第二中灰阶画面的灰阶与第一中灰阶画面的灰阶相等。图5是本发明第一实施例提供的显示面板的残影测试方法中第二中灰阶画面MP2的画面示意图。在本实施例中，第二中灰阶画面MP2的灰阶与第一灰阶画面MP1的灰阶相等，均为128。

需要说明的是，前述在待测显示面板上显示的第一中灰阶画面MP1、测试画面TP、第二中灰阶画面MP2均为输入待测显示面板的参数画面，即这些画面均为理想画面。将待测显示面板切换为显示第二中灰阶画面MP2，在一定时长内，待测显示面板显示的实际影像可能并非单纯理想的第二中灰阶画面MP2，还存在测试画面TP的残影。

在步骤S150中，在待测显示面板显示第二中灰阶画面的状态下，采集待测显示面板的实际影像中各区块的实际亮度。图6是本发明第一实施例提供的显示面板的残影测试方法中实际影像AP的影像示意图。其中在一定时长内，实际影像AP中，主要显示第二中灰阶画面MP2，至少部分区块存在测试画面TP的残影。

此外，在步骤S150中，根据每个区块与该区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数。各区块的实际亮度可以通过亮度采集装置采集获取，从而将各区块的亮度信息量化。之后，根据每个区块与相邻区块之间的亮度关系，获得的每个区块对应的第一残影参数也均为量化参数。本文中，术语“残影参数”指与残影水平相关的参考数值，某区块或某显示面板的残影参数能够反映对应时刻下该区块或该显示面板的残影水平。

在步骤S160中，根据多个区块的第一残影参数获得待测显示面板的第二残影参数。由于第一残影参数为量化参数，根据其获得的第二残影参数也为量化参数。

在步骤S170中，根据第二残影参数获得残影测试结果。

根据本发明实施例的显示面板的残影测试方法，在显示具有棋盘格团的测试画面TP之前，先在待测显示面板上显示第一中灰阶画面MP1，使得显示测试画面之前各区块的显示灰阶均一，避免多余因素对测试结果造成不良影响，提高残影测试的准确性和可靠性。在待测显示面板显示第二中灰阶画面MP2的状态下，根据每个区块与相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数，之后根据第一残影参数获得第二残影参数以及根据第二残影参数得到残影测试结果。在上述过程中，由区块的亮度信息最终得到量化的残影测试结果，从而提高残影测试结果的客观性，避免不同人、不同环境对残影水平判定的主观影响。

图7是本发明第二实施例提供的显示面板的残影测试方法的流程框图，该实施例提供的显示面板的残影测试方法包括步骤S210至步骤S290。

在步骤S210中，将待测显示面板的显示界面划分为阵列排布的多个区块。在一些实施例，每个区块可以是多边形，例如本实施例中每个区块为矩形。本实施例中，将待测显示面板的显示界面划分为8×8个区块，即阵列排列为8行和8列的区块。在其它实施例中，根据不同的测试需求，可以将显示截面划分为其它数量的区块。

在步骤S220中，获取待测显示面板显示第一中灰阶画面时每个区块的初始亮度。

在步骤S230中，在待测显示面板上显示第一中灰阶画面，第一中灰阶画面的灰阶介于待测显示面板的最高灰阶和最低灰阶之间。在本实施例中，待测显示面板例如可以显示256阶的灰阶，其中待测显示面板的最高灰阶为255，最低灰阶为0。在本实施例中，第一中灰阶画面的灰阶例如是128，即最高灰阶与最低灰阶的中间值灰阶。在其它一些实施例中，第一中灰阶画面MP1的灰阶可以是48等其它中段灰阶。

在步骤S240中，在待测显示面板上切换为显示测试画面，在测试画面中，每个区块显示第一图案或第二图案，第一图案的灰阶与第二图案的灰阶不同，第一图案和第二图案在测试画面中呈棋盘式分布。在本实施例中，在测试画面中，第一图案的灰阶为0，第二图案的灰阶为255。在其它一些实施例中，第一图案、第二图案分别可以取其它不同的灰阶。

在步骤S250中，在待测显示面板上切换为显示第二中灰阶画面，第二中灰阶画面的灰阶与第一中灰阶画面的灰阶相等。在本实施例中，第二中灰阶画面的灰阶与第一灰阶画面的灰阶相等，均为128。

在步骤S260中，在待测显示面板显示第二中灰阶画面的状态下，采集待测显示面板的实际影像中各区块的实际亮度。其中实际影像中，在一定时长内，主要显示第二中灰阶画面，至少部分区块存在测试画面的残影。此时采集的各区块的实际亮度即实际影像中各区块的亮度。

此外，在步骤S260中，根据每个区块与该区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数。各区块的实际亮度可以通过亮度采集装置采集获取，从而将各区块的亮度信息量化。之后，根据每个区块与相邻区块之间的亮度关系，获得的每个区块对应的第一残影参数也均为量化参数。

在一些实施例中，根据每个区块与该区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数包括：根据每个区块的初始亮度、实际亮度以及该区块的相邻区块的初始亮度、实际亮度获得每个区块对应的第一残影参数。

在一些实施例中，与每个区块相邻的区块的数量为至少两个，此时，根据每个区块与该区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数包括：获取每个区块的至少两个残影子参数，其中，每个残影子参数根据区块的初始亮度、实际亮度与对应一个相邻区块的初始亮度、实际亮度获得；然后根据区块的至少两个残影子参数获得区块对应的第一残影参数。

例如，显示面板的显示界面为矩形，具有四个角部、四个边部以及由四个角部和四个边部共同围绕的内部区域。本实施例中每个区块为矩形。本实施例中，将待测显示面板的显示界面划分为8×8个区块，即阵列排列为8行和8列的区块。其中，位于角部的每个区块具有两个相邻的区块，位于角部的每个区块具有与该两个相邻的区块对应的两个残影子参数。位于边部的每个区块具有三个相邻的区块，位于边部的每个区块具有与该三个相邻的区块对应的三个残影子参数。位于内部区域的每个区块具有四个相邻的区块，位于内部区域的每个区块具有与该四个相邻的区块对应的四个残影子参数。

在一些实施例中，根据区块的至少两个残影子参数获得区块对应的第一残影参数包括：将区块的至少两个残影子参数中的数值最大者作为区块对应的第一残影参数。以位于内部区域的其中一个区块为例，其包括四个残影子参数，其中，将四个残影子参数中数值最大者作为该区块对应的第一残影参数。在其它一些实施例中，也可以采用其它方式根据区块的至少两个残影子参数获得区块对应的第一残影参数，例如将区块的至少两个残影子参数取均值作为区块对应的第一残影参数。

在上述步骤S260中，获取每个区块的至少两个残影子参数包括：根据以下式子获取区块的各残影子参数：

式(1)中，sIS为残影子参数；L(0)_n为区块的初始亮度；L(t)_n为区块的实际亮度；L(0)_m为区块的对应一个相邻区块的初始亮度；L(t)_m为区块的对应一个相邻区块的实际亮度。

每个区块可以包括中心区域以及围绕于中心区域外周的边缘区域。

在对显示面板进行残影测试时，对于单个区块，区块的中心区域的残影消失速率与边缘区域的消失速率可能不同。在一些实施例中，可以针对每个区块的中心区域的亮度进行检测，以使得残影测试结果反映显示面板上各区块中心区域的残影水平。在一些实施例中，可以针对每个区块的边缘区域的亮度进行检测，以使得残影测试结果反映显示面板上各区块边缘区域的残影水平。当然可以理解的是，在一些实施例中，可以分别针对每个区块的中心区域、边缘区域的亮度进行检测，从而得到与中心区域关联的残影测试结果和与边缘区域关联的残影测试结果，从而能同时反映显示面板上各区块中心区域的残影水平和边缘区域的残影水平。

以下将分别对针对每个区块的中心区域的亮度进行检测的实施方式、针对每个区块的边缘区域的亮度进行检测的实施方式进行说明。

图8是本发明第二实施例提供的显示面板的残影测试方法中待测显示面板的实际影像的局部示意图，其中示出区块SA_i,j以及与区块SA_i,j相邻的区块SA_i-1,j、区块SA_i,j-1、区块SA_i+1,j、区块SA_i,j+1。如前所述，待测显示面板的显示界面划分为阵列排布的多个区块，区块SA_i,j指位置上处于第i行、第j列的区块，其中i为正整数、j为正整数。其它区块SA_i-1,j、区块SA_i,j-1、区块SA_i+1,j、区块SA_i,j+1的位置依次类推。

每个区块包括中心区域以及围绕于中心区域外周的边缘区域。以区块SA_i,j为例，区块SA_i,j包括中心区域SAC_i,j以及围绕于中心区域外周的边缘区域SAE_i,j。

在获取每个区块的至少两个残影子参数的步骤中，区块的初始亮度、实际亮度取自区块的中心区域的亮度，对应一个相邻区块的初始亮度、实际亮度取自对应一个相邻区块的中心区域的亮度。

例如，获取区块SA_i,j对应的第一残影参数IS1(i,j)时，首先获取区块SA_i,j的残影子参数sIS(i-1,j)、sIS(i,j-1)、sIS(i+1,j)、sIS(i,j+1)，其中残影子参数sIS(i-1,j)为区块SA_i,j关联SA_i-1,j的残影子参数，残影子参数sIS(i,j-1)为区块SA_i,j关联SA_i,j-1的残影子参数，其它残影子参数以此类推。

在获得残影子参数sIS(i-1,j)时，区块SA_i,j的初始亮度、实际亮度取自区块SA_i,j的中心区域SAC_i,j的亮度，对应一个相邻区块SA_i-1,j的初始亮度、实际亮度取自对应一个相邻区块SA_i-1,j的中心区域SAC _i-1,j的亮度。将上述各值代入前述式(1)，能够得到相应的残影子参数sIS(i-1,j)：

其中，L(0)_i,j为区块SA_i,j的中心区域SAC_i,j的初始亮度；L(t)_i,j为区块SA_i,j的中心区域SAC_i,j的实际亮度；L(0)_i-1,j为区块SA_i-1,j的中心区域SAC_i-1,j的初始亮度；L(t)_i-1,j为区块SA_i-1,j的中心区域SAC_i-1,j的实际亮度。

类似地，能够得到相应的残影子参数sIS(i,j-1)：

其中，L(0)_i,j为区块SA_i,j的中心区域SAC_i,j的初始亮度；L(t)_i,j为区块SA_i,j的中心区域SAC_i,j的实际亮度；L(0)_i,j-1为区块SA_i,j-1的中心区域SAC_i,j-1的初始亮度；L(t)_i,j-1为区块SA_i,j-1的中心区域SAC_i,j-1的实际亮度。

类似地，能够得到相应的残影子参数sIS(i+1,j)：

其中，L(0)_i,j为区块SA_i,j的中心区域SAC_i,j的初始亮度；L(t)_i,j为区块SA_i,j的中心区域SAC_i,j的实际亮度；L(0)_i+1,j为区块SA_i+1,j的中心区域SAC_i+1,j的初始亮度；L(t)_i+1,j为区块SA_i+1,j的中心区域SAC_i+1,j的实际亮度。

类似地，能够得到相应的残影子参数sIS(i,j+1)：

其中，L(0)_i,j为区块SA_i,j的中心区域SAC_i,j的初始亮度；L(t)_i,j为区块SA_i,j的中心区域SAC_i,j的实际亮度；L(0)_i,j+1为区块SA_i,j+1的中心区域SAC_i,j+1的初始亮度；L(t)i_,j+1为区块SA_i,j+1的中心区域SAC_i,j+1的实际亮度。

获取区块SA_i,j的残影子参数sIS(i-1,j)、sIS(i,j-1)、sIS(i+1,j)、sIS(i,j+1)之后，将区块SA_i,j的残影子参数sIS(i-1,j)、sIS(i,j-1)、sIS(i+1,j)、sIS(i,j+1)中的数值最大者作为区块SA_i,j对应的第一残影参数IS1(i,j)，即：

IS1(i,j)＝Max(sIS(i-1,j),sIS(i,j-1),sIS(i+1,j),sIS(i,j+1))

至此，得到区块SA_i,j对应的第一残影参数IS1(i,j)，其它区块对应的第一残影参数可以同理得到。

上述第二实施例以针对每个区块的中心区域的亮度进行检测进行了说明，以下将通过替代的第三实施例针对每个区块的边缘区域的亮度进行检测进行说明。

图9是本发明替代的第三实施例提供的显示面板的残影测试方法中待测显示面板的实际影像的局部示意图，其中示出区块SA_i,j以及与区块SA_i,j相邻的区块SA_i-1,j、区块SA_i,j-1、区块SA_i+1,j、区块SA_i,j+1。如前所述，待测显示面板的显示界面划分为阵列排布的多个区块，区块SA_i,j指位置上处于第i行、第j列的区块，其中i为正整数、j为正整数。其它区块SA_i-1,j、区块SA_i,j-1、区块SA_i+1,j、区块SA_i,j+1的位置依次类推。

本实施例中每个区块为矩形，包括四条边。以区块SA_i,j为例，区块SA_i,j包括中心区域SAC_i,j以及围绕于中心区域外周的边缘区域，边缘区域包括与区块的多条边一一对应的多个子边缘区SAEA_i,j、SAEB_i,j、SAEC_i,j、SAED_i,j，其中每个子边缘区与区块的对应一条边邻接且同向延伸。其它区块以此类推。区块SA_i,j的子边缘区SAEA_i,j与区块SA_i-1,j的子边缘区SAEC_i-1,j相邻设置，区块SA_i,j的子边缘区SAEB_i,j与区块SA_i,j-1的子边缘区SAED_i,j-1相邻设置，区块SA_i,j的子边缘区SAEC_i,j与区块SA_i+1,j的子边缘区SAEA_i+1,j相邻设置，区块SA_i,j的子边缘区SAED_i,j与区块SA_i,j+1的子边缘区SAEB_i,j+1相邻设置。

在获取每个区块的至少两个残影子参数的步骤中，区块的初始亮度、实际亮度取自区块的子边缘区的亮度，对应一个相邻区块的初始亮度、实际亮度取自对应一个相邻区块的子边缘区的亮度，其中区块的子边缘区与对应一个相邻区块的子边缘区对应相邻。

例如，获取区块SA_i,j对应的第一残影参数IS1(i,j)时，首先获取区块SA_i,j的残影子参数sIS(i-1,j)、sIS(i,j-1)、sIS(i+1,j)、sIS(i,j+1)，其中残影子参数sIS(i-1,j)为区块SA_i,j关联SA_i-1,j的残影子参数，残影子参数sIS(i,j-1)为区块SA_i,j关联SA_i,j-1的残影子参数，其它残影子参数以此类推。

在获得残影子参数sIS(i-1,j)时，区块SA_i,j的初始亮度、实际亮度取自区块SA_i,j的子边缘区SAEA_i,j的亮度，对应一个相邻区块SA_i-1,j的初始亮度、实际亮度取自对应一个相邻区块SA_i-1,j的子边缘区SAEC_i-1,j的亮度。将上述各值代入前述式(1)，能够得到相应的残影子参数sIS(i-1,j)：

其中，L(0)A_i,j为区块SA_i,j的子边缘区SAEA_i,j的初始亮度；L(t)A_i,j为区块SA_i,j的子边缘区SAEA_i,j的实际亮度；L(0)C_i-1,j为区块SA_i-1,j的子边缘区SAEC_i-1,j的初始亮度；L(t)C_i-1,j为区块SA_i-1,j的子边缘区SAEC_i-1,j的实际亮度。

类似地，能够得到相应的残影子参数sIS(i,j-1)：

其中，L(0)B_i,j为区块SA_i,j的子边缘区SAEB_i,j的初始亮度；L(t)B_i,j为区块SA_i,j的子边缘区SAEB_i,j的实际亮度；L(0)D_i,j-1为区块SA_i,j-1的子边缘区SAED_i,j-1的初始亮度；L(t)D_i,j-1为区块SA_i,j-1的子边缘区SAED_i,j-1的实际亮度。

类似地，能够得到相应的残影子参数sIS(i+1,j)：

其中，L(0)C_i,j为区块SA_i,j的子边缘区SAEC_i,j的初始亮度；L(t)C_i,j为区块SA_i,j的子边缘区SAEC_i,j的实际亮度；L(0)A_i+1,j为区块SA_i+1,j的子边缘区SAEA_i+1,j的初始亮度；L(t)A_i+1,j为区块SA_i+1,j的子边缘区SAEA_i+1,j的实际亮度。

类似地，能够得到相应的残影子参数sIS(i,j+1)：

其中，L(0)D_i,j为区块SA_i,j的子边缘区SAED_i,j的初始亮度；L(t)D_i,j为区块SA_i,j的子边缘区SAED_i,j的实际亮度；L(0)B_i,j+1为区块SA_i,j+1的子边缘区SAEB_i,j+1的初始亮度；L(t)B_i,j+1为区块SA_i,j+1的子边缘区SAEB_i,j+1的实际亮度。

获取区块SA_i,j的残影子参数sIS(i-1,j)、sIS(i,j-1)、sIS(i+1,j)、sIS(i,j+1)之后，将区块SA_i,j的残影子参数sIS(i-1,j)、sIS(i,j-1)、sIS(i+1,j)、sIS(i,j+1)中的数值最大者作为区块SA_i,j对应的第一残影参数IS1(i,j)，即：

IS1(i,j)＝Max(sIS(i-1,j),sIS(i,j-1),sIS(i+1,j),sIS(i,j+1))

至此，得到区块SA_i,j对应的第一残影参数IS1(i,j)，其它区块对应的第一残影参数可以同理得到。

请继续参考图7，在步骤S270中，根据多个区块的第一残影参数获得待测显示面板的第二残影参数。

在一些实施例中，根据多个区块的第一残影参数获得待测显示面板的第二残影参数包括：将多个区块的第一残影参数中的数值最大者作为待测显示面板的第二残影参数。在其它一些实施例中，也可以采用其它方式根据多个区块的第一残影参数获得待测显示面板的第二残影参数，例如将多个区块的第一残影参数取均值作为区块对应的第一残影参数。

由于第一残影参数为量化参数，根据其获得的第二残影参数也为量化参数。

在步骤S280中，根据第二残影参数获得残影测试结果。

在一些实施例中，根据第二残影参数获得残影测试结果包括：从在待测显示面板上切换为显示第二中灰阶画面开始计时，持续获得待测显示面板在各时刻所对应的第二残影参数；根据待测显示面板在各时刻所对应的第二残影参数得到残影曲线，并作为残影测试结果。在残影曲线中，横坐标为第二残影参数，纵坐标为时刻。此时，根据残影曲线能够对待测显示面板的残影水平进行判断。

在一些实施例中，根据第二残影参数获得残影测试结果包括：从在待测显示面板上切换为显示第二中灰阶画面开始计时，持续获得待测显示面板的第二残影参数并与预设阈值比对，直至第二残影参数降低至预设阈值；将降低至预设阈值的第二残影参数对应的时刻作为残影测试结果。

在一个示例中，预设阈值为1.6×0.004，该预设阈值大致对应残影轻微可见。持续获得待测显示面板的第二残影参数，当待测显示面板的第二残影参数降低至1.6×0.004时，将该第二残影参数对应的时刻作为残影测试结果输出，根据该时刻信息能够对待测显示面板的残影水平进行判断，其中该时刻的值越小，待测显示面板的残影消除速率越快。上述预设阈值可以根据对残影消除严格性的高低进行调整。在另外一个示例中，预设阈值为1.3×0.004，该预设阈值大致对应残影完全消失。

根据本发明实施例的显示面板的残影测试方法，在显示具有棋盘格团的测试画面之前，先在待测显示面板上显示第一中灰阶画面，使得显示测试画面之前各区块的显示灰阶均一，避免多余因素对测试结果造成不良影响，提高残影测试的准确性和可靠性。在待测显示面板显示第二中灰阶画面的状态下，根据每个区块与该区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数，之后根据第一残影参数获得第二残影参数以及根据第二残影参数得到残影测试结果。在上述过程中，由区块的亮度信息最终得到量化的残影测试结果，从而提高残影测试结果的客观性，避免不同人、不同环境对残影水平判定的主观影响。

在一些实施例中，可以针对每个区块的中心区域的亮度进行检测，以使得残影测试结果反映显示面板上各区块中心区域的残影水平。在一些实施例中，可以针对每个区块的边缘区域的亮度进行检测，以使得残影测试结果反映显示面板上各区块边缘区域的残影水平。在一些实施例中，可以分别针对每个区块的中心区域、边缘区域的亮度进行检测，从而得到与中心区域关联的残影测试结果和与边缘区域关联的残影测试结果，从而能同时反映显示面板上各区块中心区域的残影水平和边缘区域的残影水平。根据本发明实施例的显示面板的残影测试方法，即使区块的中心区域的残影消失速率与边缘区域的消失速率可能不同，残影测试结果也能准确反映中心区域和/或边缘区域的残影水平。

本发明实施例还提供一种显示面板的残影测试装置，图10是本发明一种实施例提供的显示面板的残影测试装置的结构框图。

该残影测试装置100包括分区模块110、画面控制模块120、亮度获取模块130、计算模块140以及结果获取模块150。

分区模块110与待测显示面板900耦合，用于将待测显示面板900的显示界面划分为阵列排布的多个区块。

画面控制模块120，与分区模块110以及待测显示面板900耦合，用于控制待测显示面板900显示第一中灰阶画面、显示测试画面、或第二中灰阶画面，其中，第一中灰阶画面的灰阶介于待测显示面板900的最高灰阶和最低灰阶之间，在测试画面中，每个区块显示第一图案或第二图案，第一图案的灰阶与第二图案的灰阶不同，第一图案和第二图案在测试画面中呈棋盘式分布，第二中灰阶画面的灰阶与第一中灰阶画面的灰阶相等。

亮度获取模块130，能够在待测显示面板900显示第二中灰阶画面的状态下，采集待测显示面板900的实际影像中各区块的实际亮度。亮度获取模块130可以设置在待测显示面板900的显示界面出光侧。

计算模块140与分区模块110以及亮度获取模块130耦合，用于在待测显示面板900显示第二中灰阶画面的状态下，根据每个区块与该区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数，以及根据多个区块的第一残影参数获得待测显示面板900的第二残影参数。在一些实施例中，也可以采集待测显示面板900显示第一中灰阶画面时每个区块的初始亮度，根据每个区块的初始亮度、实际亮度以及该区块的相邻区块的初始亮度、实际亮度获得每个区块对应的所述第一残影参数。

结果获取模块150，与计算模块140耦合，用于根据第二残影参数获得残影测试结果。

根据本发明实施例的显示面板的残影测试装置，画面控制模块120控制待测显示面板900显示第一中灰阶画面、显示测试画面、或第二中灰阶画面。其中，在显示具有棋盘格团的测试画面之前，先在待测显示面板上显示第一中灰阶画面，使得显示测试画面之前各区块的显示灰阶均一，避免多余因素对测试结果造成不良影响，提高残影测试的准确性和可靠性。在待测显示面板显示第二中灰阶画面的状态下，计算模块140能够根据每个区块与该区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数，之后根据第一残影参数获得第二残影参数，结果获取模块150根据第二残影参数得到残影测试结果。在上述过程中，由区块的亮度信息最终得到量化的残影测试结果，从而提高残影测试结果的客观性，避免不同人、不同环境对残影水平判定的主观影响。

依照本发明如上文所述的实施例，这些实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然，根据以上描述，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (10)

1.一种显示面板的残影测试方法，其特征在于，包括：

将待测显示面板的显示界面划分为阵列排布的多个区块；

在所述待测显示面板上显示第一中灰阶画面，所述第一中灰阶画面的灰阶介于所述待测显示面板的最高灰阶和最低灰阶之间；

在所述待测显示面板上切换为显示测试画面，在所述测试画面中，每个所述区块显示第一图案或第二图案，所述第一图案的灰阶与所述第二图案的灰阶不同，所述第一图案和第二图案在所述测试画面中呈棋盘式分布；

在所述待测显示面板上切换为显示第二中灰阶画面，所述第二中灰阶画面的灰阶与所述第一中灰阶画面的灰阶相等；

在所述待测显示面板显示所述第二中灰阶画面的状态下，采集所述待测显示面板的实际影像中各所述区块的实际亮度，根据每个所述区块与所述区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数；

根据所述多个区块的所述第一残影参数获得所述待测显示面板的第二残影参数；以及

根据所述第二残影参数获得残影测试结果。

2.根据权利要求1所述的显示面板的残影测试方法，其特征在于，还包括：

获取所述待测显示面板显示所述第一中灰阶画面时每个区块的初始亮度；

所述根据每个所述区块与所述区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数包括：

根据每个所述区块的所述初始亮度、所述实际亮度以及所述区块的相邻区块的所述初始亮度、所述实际亮度获得每个区块对应的所述第一残影参数。

3.根据权利要求2所述的显示面板的残影测试方法，其特征在于，与每个所述区块相邻的所述区块的数量为至少两个，所述根据每个所述区块与所述区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数包括：

获取每个所述区块的至少两个残影子参数，其中，每个所述残影子参数根据所述区块的所述初始亮度、所述实际亮度与对应一个所述相邻区块的所述初始亮度、所述实际亮度获得；

根据所述区块的所述至少两个残影子参数获得所述区块对应的所述第一残影参数；

优选地，所述根据所述区块的所述至少两个残影子参数获得所述区块对应的所述第一残影参数包括：将所述区块的所述至少两个残影子参数中的数值最大者作为所述区块对应的所述第一残影参数。

4.根据权利要求3所述的显示面板的残影测试方法，其特征在于，所述获取每个所述区块的至少两个残影子参数包括：

根据以下式子获取所述区块的各所述残影子参数：

其中，sIS为所述残影子参数；

L(0)_n为所述区块的所述初始亮度；

L(t)_n为所述区块的所述实际亮度；

L(0)_m为所述区块的对应一个所述相邻区块的所述初始亮度；

L(t)_m为所述区块的对应一个所述相邻区块的所述实际亮度。

5.根据权利要求3所述的显示面板的残影测试方法，其特征在于，每个所述区块包括中心区域以及围绕于所述中心区域外周的边缘区域，

在所述获取每个所述区块的至少两个残影子参数的步骤中，所述区块的所述初始亮度、所述实际亮度取自所述区块的中心区域的亮度，对应一个所述相邻区块的所述初始亮度、所述实际亮度取自对应一个所述相邻区块的中心区域的亮度。

6.根据权利要求3所述的显示面板的残影测试方法，其特征在于，每个所述区块为多边形，每个所述区块包括中心区域以及围绕于所述中心区域外周的边缘区域，所述边缘区域包括与所述区块的多条边一一对应的多个子边缘区，其中每个所述子边缘区与所述区块的对应一条边邻接且同向延伸，

在所述获取每个所述区块的至少两个残影子参数的步骤中，所述区块的所述初始亮度、所述实际亮度取自所述区块的子边缘区的亮度，对应一个所述相邻区块的所述初始亮度、所述实际亮度取自对应一个所述相邻区块的子边缘区的亮度，其中所述区块的子边缘区与对应一个所述相邻区块的子边缘区相邻。

7.根据权利要求1所述的显示面板的残影测试方法，其特征在于，所述根据所述多个区块的所述第一残影参数获得所述待测显示面板的第二残影参数包括：将所述多个区块的所述第一残影参数中的数值最大者作为所述待测显示面板的所述第二残影参数。

8.根据权利要求1所述的显示面板的残影测试方法，其特征在于，所述根据所述第二残影参数获得残影测试结果包括：

从在所述待测显示面板上切换为显示所述第二中灰阶画面开始计时，持续获得所述待测显示面板在各时刻所对应的所述第二残影参数；

根据所述待测显示面板在各时刻所对应的所述第二残影参数得到残影曲线，并作为所述残影测试结果。

9.根据权利要求1所述的显示面板的残影测试方法，其特征在于，所述根据所述第二残影参数获得残影测试结果包括：

从在所述待测显示面板上切换为显示所述第二中灰阶画面开始计时，持续获得所述待测显示面板的所述第二残影参数并与预设阈值比对，直至所述第二残影参数降低至所述预设阈值；

将降低至所述预设阈值的所述第二残影参数对应的时刻作为所述残影测试结果。

10.一种显示面板的残影测试装置，其特征在于，包括：

分区模块，与待测显示面板耦合，用于将所述待测显示面板的显示界面划分为阵列排布的多个区块；

画面控制模块，与所述分区模块以及所述待测显示面板耦合，用于控制所述待测显示面板显示第一中灰阶画面、显示测试画面、或第二中灰阶画面，其中，所述第一中灰阶画面的灰阶介于所述待测显示面板的最高灰阶和最低灰阶之间，在所述测试画面中，每个所述区块显示第一图案或第二图案，所述第一图案的灰阶与所述第二图案的灰阶不同，所述第一图案和第二图案在所述测试画面中呈棋盘式分布，所述第二中灰阶画面的灰阶与所述第一中灰阶画面的灰阶相等；

亮度获取模块，能够在所述待测显示面板显示所述第二中灰阶画面的状态下，采集所述待测显示面板的实际影像中各所述区块的实际亮度；

计算模块，与所述分区模块以及所述亮度获取模块耦合，用于根据每个所述区块与所述区块的相邻区块之间的亮度关系获得每个区块对应的第一残影参数，以及根据所述多个区块的所述第一残影参数获得所述待测显示面板的第二残影参数；以及

结果获取模块，与所述计算模块耦合，用于根据所述第二残影参数获得残影测试结果。

Images