KR20080107779A - 표시장치의 잔상측정장치와 잔상측정방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 표시장치의 잔상측정장치와 잔상측정방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 표시장치의 잔상측정방법은 표시패널을 마련하는 단계와, 제1계조를 가지는 제1부분과 제1부분과 이격되어 있으며 제1계조와 다른 제2계조를 가지는 제2부분과 제1부분 및 제2부분을 감싸며 지속적으로 계조가 변화하는 제3부분을 포함하는 테스트패턴을 표시패널에 표시하는 단계와, 테스트패턴을 유지하는 단계와, 표시패널 전체에 걸쳐서 동일한 계조를 가지며 순차적으로 계조가 변화하는 검출패턴을 표시패널에 표시하면서 표시패널의 잔상을 측정하는 단계를 포함한다. 이에 의하여 잔상측정 시 판단의 기준이 되는 계조를 알 수 있는 표시장치의 제조방법이 제공된다.

Description

표시장치의 잔상측정장치와 잔상측정방법{APPARATUS FOR DETERMINING RESIDUAL IMAGE OF DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING RESIDUAL IMAGE OF DISPLAY DEVICE}

도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 잔상측정장치를 나타낸 블록도이고,

도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 잔상측정방법의 순서도이고,

도 3a는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 잔상측정방법에서 액정패널에 표시된 테스트패턴을 도시한 도면이고,

도 3b는 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 잔상측정방법에서 액정패널에 표시된 검출패턴을 도시한 도면이고,

도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 표시장치의 잔상측정방법에서 액정패널에 표시된 테스트패턴을 도시한 도면이고,

도 5는 본 발명의 제3실시예에 따른 표시장치의 잔상측정방법에서 액정패널에 표시된 테스트패턴을 도시한 도면이다.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *

1 : 잔상측정장치 2 : 액정패널

10 : 저장부 20 : 신호부

30 : 제어부 100 : 테스트패턴

110 : 제1부분 120 : 제2부분

130 : 제3부분 140 : 제4부분

141 : 제1서브부분 142 : 제2서브부분

200 : 검출패턴

본 발명은 표시장치의 잔상측정장치와 잔상측정방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 액정표시장치의 잔상측정장치와 잔상측정방법에 관한 것이다.

최근 종래의 브라운관을 대신하여 액정표시장치(liquid crystal display device, LCD), 플라즈마디스플레이패널(plasma display panel, PDP), 유기전계발광장치(organic light emitting diode, OLED) 등의 평판표시장치가 많이 개발되고 있다.

이 중 액정표시장치는 박막트랜지스터가 형성되어 있는 제1기판과, 제1기판과 대향하는 제2기판과, 제1기판과 대향하는 제2기판과, 제1기판과 제2기판 사이에 위치하는 액정을 가지는 액정패널을 포함한다.

액정패널은 비발광소자이기 때문에 액정패널 후방에는 액정패널에 빛을 공급하기 위한 광원이 위치한다. 광원에서 액정패널로 공급된 빛은 액정층이 가지는 액정분자의 배열 상태에 따라 투과량이 조절된다.

액정분자의 배열 상태는 액정분자에 인가되는 전압에 따라서 달라지며, 액정분자에 인가되는 전압은 액정패널에 인가되는 신호의 계조에 따라서 달라진다.

한편, 액정표시장치에서 동일한 계조의 정지화면을 장시간 구동시킨 후 계조가 변화하는 다른 화면을 나타낼 경우, 이전의 정지화면에서 장시간 인가된 전압이 잔류하여 액정분자에 새롭게 인가되는 전압에 간섭을 주게 되어 액정분자가 원하지 않는 배열 상태를 갖게 됨으로써, 액정표시장치의 화질이 저하되는 경우가 있다. 이를 잔상이라 한다.

기존에 이런 잔상을 최소화하기 위해서, 액정패널을 제조한 후, 잔상을 측정하여 잔상이 나타나는 계조에 대한 신호를 변경하는 공정을 하였다.

잔상을 측정할 시, 각각 동일한 계조를 갖고 있는 부분들을 포함하는 테스트패턴을 액정패널에 장시간 표시한 후, 액정패널 전체에 걸쳐서 순차적으로 계조가 변화하는 검출패턴을 액정패널에 표시하여 잔상이 나타나는 여부를 측정하였다.

그런데, 검출패턴을 이용한 잔상측정 시, 테스트패턴 전체가 잔상측정 대상이므로, 기준이 되는 부분이 없이 각 부분들의 상대적인 변화에 의해서 잔상이 인지된다. 즉 잔상측정 시 판단의 기준이 되는 계조를 알 수 없는 문제가 있다.

따라서, 본 발명의 목적은 잔상측정 시 판단의 기준이 되는 계조를 알 수 있는 표시장치의 잔상측정장치와 잔상측정방법을 제공하는 것이다.

상기 본 발명의 목적은 표시패널을 마련하는 단계와, 제1계조를 가지는 제1 부분과 제1부분과 이격되어 있으며 제1계조와 다른 제2계조를 가지는 제2부분과 제1부분 및 제2부분을 감싸며 지속적으로 계조가 변화하는 제3부분을 포함하는 테스트패턴을 표시패널에 표시하는 단계와, 테스트패턴을 유지하는 단계와, 표시패널 전체에 걸쳐서 동일한 계조를 가지며 순차적으로 계조가 변화하는 검출패턴을 표시패널에 표시하면서 표시패널의 잔상을 측정하는 단계를 포함하는 표시장치의 잔상측정방법에 의하여 달성될 수 있다.

테스트패턴을 상기 표시패널에 표시하는 단계에서, 테스트패턴은 제3부분이 감싸고 있는 제4부분을 더 포함하며, 제4부분은 제1계조를 가지는 제1서브부분과, 제1서브부분과 접하며 제2계조를 가지는 제2서브부분을 포함할 수 있다.

표시패널은 실질적으로 사각형이며, 제1서브부분과 제2서브부분이 접하는 변은 표시패널의 4변 중 적어도 하나와 나란할 수 있다.

제1서브부분 및 제2서브부분 중 어느 하나는 다른 하나를 감싸고 있을 수 있다.

제1부분 및 제2부분은 각각 복수로 마련되며, 행렬형태로 배치되어 있을 수 있다.

상기 본 발명의 목적은 제1계조를 가지는 제1부분과 제1부분과 이격되어 있으며 제1계조와 다른 제2계조를 가지는 제2부분과 제1부분 및 제2부분을 감싸며 지속적으로 계조가 변화하는 제3부분을 포함하는 테스트패턴과 표시패널 전체에 걸쳐서 동일한 계조를 가지며 순차적으로 계조가 변화하는 검출패턴을 저장하고 있는 저장부와, 저장부의 테스트패턴 및 검출패턴이 표시패널에 선택적으로 적용되도록 표시패널에 계조신호를 인가하는 신호부와, 표시패널에 일정시간 동안 테스트패턴을 적용한 후, 표시패널에 검출패턴을 적용하도록 신호부를 제어하는 제어부를 포함하는 표시장치의 잔상측정장치에 의하여 달성될 수 있다.

이하, 첨부도면을 참조하여 본 발명에 대하여 설명한다.

이하, 표시장치로서 액정표시장치를 예로 들어서 설명하나, 이에 한정되지 않고, 유기전계발광장치 등의 다른 표시장치에도 해당될 수 있다.

이하, 도 1을 참조하여, 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 잔상측정장치에 대하여 설명한다.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 잔상측정장치(1)는 저장부(10), 신호부(20) 및 제어부(30)를 포함한다.

저장부(10)는 액정표시장치의 잔상측정방법에서 사용되는 복수의 패턴을 저장하고 있으며, ROM(read only memory)를 주로 사용한다.

패턴은 액정표시장치의 액정패널(3)에 표시되는 테스트패턴(100)과 검출패턴(200)을 포함한다. 테스트패턴(100)과 검출패턴(200)에 대하여는 후술한다.

신호부(20)는 저장부(10)의 테스트패턴(100) 및 검출패턴(200)이 액정패널(3)에 선택적으로 적용되도록 제어부(30)로부터 계조신호 등을 포함한 제어신호를 수신하여 액정패널(3)에 계조신호를 인가한다.

제어부(30)는 액정패널(3)이 일정시간 동안 테스트패턴(100)을 적용한 후 검출패턴(200)을 적용하도록 신호부(20)를 제어한다.

이하, 도 2 내지 도 3b를 참조하여 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 잔상측정방법에 대하여 설명한다.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 다른 표시장치의 잔상측정방법은 액정패널을 마련하는 단계(S100), 테스트패턴을 액정패널에 표시하는 단계(S200), 테스트패턴을 유지하는 단계(S300), 검출패턴을 액정패널에 표시하면서 액정패널의 잔상을 측정하는 단계(S400)를 포함한다.

우선, 액정패널(3)을 마련한다(S100).

공지의 방법을 이용하여 액정패널(3)을 마련한다. 액정패널(3)은 게이트구동부 및 데이터구동부가 있거나 혹은 없을 수 있다.

다음, 도 3a에 도시된 바와 같이, 테스트패턴(100)을 액정패널(3)에 표시한다(S200).

실질적으로 사각형인 액정패널(3)에 표시하는 테스트패턴(100)은 제1부분(110), 제2부분(120), 제3부분(130) 및 제4부분(140)을 포함한다.

제1부분(110)은 흰색을 나타내는 제1계조를 가지고 있다.

본 발명의 제1실시예에 있어서 고계조는 흰색을 나타내며, 저계조는 검정색을 나타낸다.

계조란 흰색부터 검은색 사이에서 빛의 투과율에 따라 정의된 임의의 값을 말한다.

제2부분(120)은 검은색을 나타내는 제2계조를 가지고 있다.

제1부분(110) 및 제2부분(120)은 각각 복수로 마련되며, 행렬 형태로 배치되어 있다.

제3부분(130)은 제1부분(110) 및 제2부분(120)을 감싸고 있으며, 지속적으로 계조가 변화한다.

제3부분(130)은 제1부분(110) 및 제2부분(120)과는 달리 정해진 일정한 계조를 지니고 있지 않으며, 동화상 등이 될 수 있다.

제4부분(140)은 제1부분(110) 및 제2부분(120)과 같이 제3부분(130)이 감싸고 있으며, 제1부분(110)과 동일한 제1계조를 가지는 제1서브부분(141)과, 제2부분(120)과 동일한 제2계조를 가지는 제2서브부분(142)을 포함한다.

제1서브부분(141)과 제2서브부분(142)은 서로 접하고 있으며, 각각 제1서브부분(141)과 제2서브부분(142)이 접하는 변의 연장방향인 제1방향을 따라 복수 개로 마련된다.

제1서브부분(141) 및 제2서브부분(142)이 접하는 변은 실질적으로 사각형인 액정패널(3)의 4변 중 적어도 하나와 나란하게 위치하고 있다.

다음, 액정패널(3)에 표시된 테스트패턴(100)을 장시간 유지한다(S300).

단기적으로는 대략 10시간 정도 유지할 수 있으며, 장기적으로 대략 500시간 정도 유지할 수 있다.

다음, 도 3b에 도시된 바와 같이, 검출패턴(200)을 액정패널(3)에 표시하면서 액정패널(3)의 잔상을 측정한다(S400).

검출패턴(200)은 액정패널(3) 전체에 걸쳐서 동일한 계조를 가지며, 순차적으로 계조가 변화한다.

예를 들어 액정패널(3)에서 총 256계조를 사용할 경우, 검출패턴(200)은 0계 조부터 255계조까지 계조가 순차적으로 변화한다. 다른 실시예에서 검출패턴(200)은 정해진 계조 순으로 계조가 변화할 수 있다.

이렇게 계조를 순차적으로 변화시키면서, 액정패널(3)에 나타나는 잔상을 측정한다.

한편, 잔상이란, 액정패널에서 동일한 계조의 정지화면을 장시간 구동시킨 후 계조가 변화하는 다른 화면을 나타낼 경우, 이전의 정지화면에서 장시간 인가된 전압이 잔류하여 액정패널에 포함된 액정분자에 새롭게 인가되는 전압에 간섭을 주게 되어 액정분자가 원하지 않는 배열 상태를 갖게 됨으로써, 화질이 저하되는 경우를 말한다.

잔상 측정은 작업자가 육안으로 수행할 수도 있으며, 검출패턴(200)의 계조와 연동하는 촬영장비 및 분석장비 등을 이용하여 측정할 수 있다.

이상 설명한 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 잔상측정방법에 따른 효과를 도3a 및 도 3b를 참조하여 설명한다.

액정패널(3)에 포함된 액정분자의 배열 상태는 액정분자에 인가되는 전압에 따라서 달라지며, 액정분자에 인가되는 전압은 액정패널에 인가되는 신호의 계조에 따라서 달라진다. 액정분자의 배열 상태에 따라서 액정패널(3)에 공급된 광의 투과율이 조절된다.

기존에 잔상을 최소화하기 위해서, 액정패널을 제조한 후, 잔상을 측정하여 잔상이 나타나는 계조에 대한 신호를 변경하는 공정을 하였다.

잔상을 측정할 시, 각각 동일한 계조를 갖고 있는 부분들을 포함하는 테스트 패턴을 액정패널에 장시간 표시한 후, 액정패널 전체에 걸쳐서 순차적으로 계조가 변화하는 검출패턴을 액정패널에 표시하여 잔상이 나타나는 여부를 측정하였다.

그런데, 검출패턴에서 잔상이 나타날 시, 테스트패턴 전체가 잔상측정 대상이므로, 기준이 되는 부분이 없이 각 부분들의 상대적인 변화에 의해서 잔상이 인지되어서 기준이 되는 계조를 알 수 없는 문제가 있었다.

그러나 본 발명의 제1실시예에 따른 표시장치의 잔상측정방법에 의하면, 액정패널(3)에 표시된 테스트패턴(100)이 포함하고 있는 제3부분(130)은 지속적으로 계조가 변화하는 부분이므로 테스트패턴(100)을 장시간 유지한 후에 액정패널(3)에 검출패턴(200)을 표시하여도 잔상이 발생하지 않는 부분이다.

액정패널(3)에 검출패턴(200)을 적용할 시, 제1부분(110), 제2부분(120) 및 제4부분(140)에 잔상이 발생할 경우, 잔상이 발생하지 않는 부분인 제3부분(130)을 기준으로 하여 기준이 되는 계조를 알 수 있다.

또한, 전체가 동일한 계조인 제1부분(110) 및 제2부분(120)과, 기준이 되는 제3부분(130)을 비교하여 면잔상 측정을 보다 자세히 확인할 수 있다.

또한, 서로 다른 계조가 접하고 있는 제4부분(140)과, 기준이 되는 제3부분(130)을 비교하여 선잔상 측정을 보다 자세히 확인할 수 있다.

이에 의하여 기준이 되는 계조를 알 수 있는 표시장치의 잔상측정장치와 잔상측정방법이 제공된다.

이하, 도 4를 참조하여 본 발명의 제 2실시예에 따른 표시장치의 잔상측정방법을 설명하고, 도 5를 참조하여 본 발명의 제3실시예에 따른 표시장치의 잔상측정 방법을 설명한다.

이하, 제1실시예와 구별되는 특징적인 부분만 발췌하여 설명하며, 설명이 생략된 부분은 제1실시예 및 공지의 기술에 따른다. 그리고, 본 발명의 제2실시예 및 제3실시예에서는 설명의 편의를 위하여 동일한 구성요소에 대하여는 동일한 참조번호를 사용하여 설명한다.

도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 표시장치의 작상측정방법에 사용되는 테스트패턴(100)의 제4부분(140)은 검은색측을 나타내는 제2계조를 가지고 있는 제2서브부분(142)이 흰색측을 나타내는 제1계조를 가지고 있는 제1서브부분(141)을 감싸고 있다. 다른 실시예에서, 제1서브부분(141)이 제2서브부분(142)을 감싸고 있을 수 있다.

테스트패턴(100)의 제1부분(110), 제2부분(120) 및 제4부분(140)은 각각 복수 개로 마련되어 있으며, 행렬형태로 배치되어 있다.

이에 의하여, 제1부분(110)과 제2부분(120)과 제4부분(140)을 기준이 되는 제3부분(130)과 비교하여 선잔상 및 면잔상의 측정을 보다 자세히 확인할 수 있다.

도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제3실시예에 따른 표시장치의 잔상측정방법에 사용되는 테스트패턴(100)은 제1부분(110), 제2부분(120) 및 제3부분(130)을 포함하고 있다.

제1부분(110) 및 제2부분(120)은 각각 복수 개로 마련되어 있으며, 행렬형태로 배치되어 있다.

이에 의하여, 제1부분(110) 및 제2부분(120)을 기준이 되는 제3부분(130)과 비교하여 면잔상의 측정을 보다 자세히 확인할 수 있다.

비록 본 발명의 실시예가 도시되고 설명되었지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 당업자라면 본 발명의 원칙이나 정신에서 벗어나지 않으면서 본 실시예를 변형할 수 있음을 알 수 있을 것이다. 본 발명의 범위는 첨부된 청구항과 그 균등물에 의해 정해질 것이다.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 잔상측정 시 판단의 기준이 되는 계조를 알 수 있는 표시장치의 잔상측정장치와 잔상측정방법이 제공된다.

Claims (6)

1. 표시장치의 잔상측정방법에 있어서,

   표시패널을 마련하는 단계와;

   제1계조를 가지는 제1부분과,

   상기 제1부분과 이격되어 있으며, 상기 제1계조와 다른 제2계조를 가지는 제2부분과,

   상기 제1부분 및 상기 제2부분을 감싸며, 지속적으로 계조가 변화하는 제3부분을 포함하는 테스트패턴을 상기 표시패널에 표시하는 단계와;

   상기 테스트패턴을 유지하는 단계와;

   상기 표시패널 전체에 걸쳐서 동일한 계조를 가지며 순차적으로 계조가 변화하는 검출패턴을 상기 표시패널에 표시하면서, 상기 표시패널의 잔상을 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 잔상측정방법.
2. 제1항에 있어서,

   상기 테스트패턴을 상기 표시패널에 표시하는 단계에서,

   상기 테스트패턴은 상기 제3부분이 감싸고 있는 제4부분을 더 포함하며,

   상기 제4부분은 상기 제1계조를 가지는 제1서브부분과, 상기 제1서브부분과 접하며 상기 제2계조를 가지는 제2서브부분을 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 잔상측정방법.
3. 제2항에 있어서,

   상기 표시패널은 실질적으로 사각형이며,

   상기 제1서브부분과 상기 제2서브부분이 접하는 변은 상기 표시패널의 4변 중 적어도 하나와 나란한 것을 특징으로 하는 표시장치의 잔상측정방법.
4. 제2항에 있어서,

   상기 제1서브부분 및 상기 제2서브부분 중 어느 하나는 다른 하나를 감싸고 있는 것을 특징으로 하는 표시장치의 잔상측정방법.
5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,

   상기 제1부분 및 상기 제2부분은 각각 복수로 마련되며, 행렬형태로 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 표시장치의 잔상측정방법.
6. 표시패널을 포함하는 표시장치의 잔상측정장치에 있어서,

   제1계조를 가지는 제1부분과 상기 제1부분과 이격되어 있으며 상기 제1계조와 다른 제2계조를 가지는 제2부분과 상기 제1부분 및 상기 제2부분을 감싸며 지속적으로 계조가 변화하는 제3부분을 포함하는 테스트패턴과, 상기 표시패널 전체에 걸쳐서 동일한 계조를 가지며 순차적으로 계조가 변화하는 검출패턴을 저장하고 있는 저장부와;

   상기 저장부의 상기 테스트패턴 및 상기 검출패턴이 상기 표시패널에 선택적으로 적용되도록 상기 표시패널에 계조신호를 인가하는 신호부와;

   상기 표시패널에 일정시간 동안 상기 테스트패턴을 적용한 후, 상기 표시패널에 상기 검출패턴을 적용하도록 상기 신호부를 제어하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 잔상측정장치.

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