KR100551589B1 - 액정표시장치의 잔상측정 방법 - Google Patents

액정표시장치의 잔상측정 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 TFT-LCD의 액정 표시장치의 디스플레이 화면에 나타나는 잔상의 유무 및 잔상의 정도를 측정하는 잔상 측정방법으로써, 액정 디스플레이에 풀-화이트를 표시하여 측정한 풀-화이트의 휘도값과 풀-블랙을 표시하여 측정한 풀-블랙의 휘도값을 통하여 그레이 스케일을 구성하고, 상기 그레이 스케일을 이용하여 액정 디스플레이에 표시된 풀-화이트의 시간에 따른 휘도 변화율을 측정함으로써 잔상의 유무 및 잔상의 정도를 정량화 할 수 있는 보다 향상된 잔상측정방법을 제공한다.

Description

액정표시장치의 잔상측정 방법{Method of image sticking measurement of liquid crystal display}
도 1은 액정패널의 일부분의 단면을 도시한 단면도
도 2는 액정패널의 일부분을 등가회로로 도시한 평면 회로도
도 3은 액정패널의 한 화소부를 등가회로로 도시한 회로도
도 4a, 4b는 각각 박막트랜지스터에 인가되는 전압과 배향막을 포함하는 액정셀에 인가되는 전압을 도시한 그래프
도 5는 본 발명에 따른 액정디스플레이 화면에 지정된 13포인트를 도시한 도면
도 6은 본 발명에 따른 액정표시장치의 잔상의 측정방법 및 잔상의 정량화 방법을 순서대로 도시한 순서도
도 7은 본 발명에 따른 잔상의 측정방법을 통하여 잔상을 측정한 결과를 그래프로 도시한 도면
도 8은 본 발명에 따른 잔상의 측정방법을 통하여 잔상을 측정한 결과를 그래프로 도시한 도면
본 발명은 화상 표시장치에 관한 것으로, 더 상세하게는 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor : TFT)를 포함하는 액정표시장치(Liquid Crystal Display device: LCD)의 액정 디스플레이 화면에서 나타나는 잔상의 유무 및 잔상의 정도를 측정하는 잔상측정방법에 관한 것이다.
최근 정보화 사회로 시대가 급진전함에 따라 대량의 정보를 처리하고 이를 표시하는 디스플레이(display)분야가 발전하고 있으며, 특히 박형화, 경량화, 저 소비전력화 등의 시대상에 부응하기 위해 평판표시장치(flat panel display)의 필요성이 대두되었다.
이에 따라 색 재현성이 우수하고 박형인 박막트랜지스터형 액정표시소자(Thin film transistor-liquid crystal display; 이하 TFT-LCD라 한다)가 개발되었고, 특히 현재에는 전술한 바 있는 박막 트랜지스터와 상기 박막 트랜지스터에 연결된 화소전극이 행렬 방식으로 배열된 능동행렬 액정표시장치(Active Matrix LCD : AM-LCD)가 해상도 및 동영상 구현능력이 우수하여 가장 주목받고 있다.
상기 능동행렬 액정표시장치를 구성하는 기본적인 부품인 액정패널의 구조를, 이러한 액정패널의 일부분의 단면을 도시한 도 1을 참고하여 설명한다.
액정패널(20)은 여러 종류의 소자들을 포함하는 두 장의 기판이 서로 대응되 게 위치하고, 이러한 두 장의 기판 사이에 액정층(10)이 끼워진 형태로 구성된다.
상기 액정패널(20)을 구성하는 두 장의 기판은 색상을 표현하는 컬러필터를 포함하는 컬러필터기판(5)과 스위칭회로인 박막트랜지스터를 포함하는 어레이기판(15)으로 구분된다.
컬러필터기판(5)에는 색을 구현할 수 있는 컬러필터(2)와 액정층(10)에 전압을 인가하는 한쪽 전극의 역할을 하는 공통전극(4) 및 액정층(10)의 액정들을 배향할 수 있는 배향막(6)등이 형성되어 있다.
또한 어레이기판(15)은 스위칭 역할을 하는 박막트랜지스터(K)와 화소부(P)로 구분되는데 이때, 화소부(P)는 박막트랜지스터(K)로부터 신호를 인가받고 액정층으로 전압을 인가하는 다른 한쪽의 전극역할을 하는 화소전극(14)과 이러한 화소전극(14)에 인가된 신호전압을 일정시간 유지시켜주는 저장캐패시터(16: storage capacitor)등으로 구성되며, 액정층(10)의 액정들을 일정 방향으로 배향할 수 있는 배향막(6)을 더욱 포함하고 있다.
상술한 컬러필터기판(5)과 어레이기판(15)의 사이에 위치한 상기 액정층(10)과, 기판의 가장자리에는 접착력 있는 실런트(12: Sealant)를 형성한다.
상술한 액정패널은 가장 일반적인 방식으로, 컬러필터 기판과 어레이기판이 서로 다른 공정을 통해 제작되고 이들이 합착되는 방식을 사용한다.
또한 상기 액정표시장치는 백라이트(19)를 더욱 포함하고 있는데 상기 백라이트는 광원(18)과 상기 광원으로 부터 나온 광을 상기 액정 패널에 골고루 조사하기 위한 다수의 판(17)을 더욱 포함하고 있다.
액정표시장치의 디스플레이 방법은 액정분자의 광학적 이방성과 분극성질을 이용하는데, 이는 액정분자의 구조가 가늘고 길며, 적절한 전압을 액정층에 인가함으로써 액정분자의 배열 방향을 임의로 조절하여 액정의 분자배열을 변화시키고, 백라이트로부터 발생되는 빛을 조사하여 액정분자가 가지고 있는 광학적 이방성에 의하여 편광된 빛을 임의로 변조함으로써 원하는 화상정보를 표현한다.
상술한 TFT-LCD의 구동원리와 디스플레이 방법을, 액정패널을 등가회로로 나타낸 도 2를 통하여 보다 상세히 설명한다.
TFT-LCD는 액정패널(20)과 이 액정패널(20)을 구동하기 위한 외부 구동회로(30, 40)로 구성된다.
액정패널(20)은 수평방향으로 배열된 복수개의 게이트라인(32)과 수직방향으로 배열된 복수개의 데이터라인(42)이 교차하여 매트릭스구조를 이루고, 이러한 게이트라인(32) 및 데이스라인(42)의 교차점에 박막트랜지스터(K)가 위치하며, 상기 박막트랜지스터(K)와 전기적으로 연결되는, 화소전압(Vgt)이 인가되는 화소전극이 매트릭스구조 내에 위치한다.
박막트랜지스터(K)는 금속으로 이루어진 게이트전극(G)과 소스전극(S) 및 드레인전극(D) 및 반도체층이 적층되어 구성되며 게이트전극(G)은 게이트라인(32)과, 소스전극(S)은 데이터라인(42)과, 드레인전극(D)은 화소전압(Vgt)이 인가되는 화소전극과 각각 전기적으로 연결된다.
이때, 화소전압(Vgt)이 인가되는 화소전극과 이와 전기적으로 대응되는 공통 전압(Vcom)이 인가되는 공통전극 사이에는 캐패시터로 표현되는 액정셀(Clc)과 바람직하게는 액정셀(Clc)에 병렬 연결된 저장캐패시터(Cst)가 위치한다.
또한 외부구동회로(30, 40)는 수직방향의 데이터라인(42)에 영상신호를 인가하는 데이터입력장치(40)와 수평방향의 게이트라인(32)에 전기적 펄스를 주사(scan) 방식으로 인가하는 게이트주사입력장치(30)로 이루어진다.
TFT-LCD는 게이트라인(32)에 선택적인 게이트펄스(selective gate pulse)전압이 인가됨으로써 구동되는데, 화질의 개선을 위하여 이러한 게이트 펄스 전압의 인가 방식은 게이트주사입력장치(30)에 의해서 한번에 한 라인씩 전압을 인가하고 연속적으로 다음 인접한 게이트라인으로 이동하여 인가하는 선순차 구동방식을 사용하고, 모든 게이트라인에 게이트펄스전압이 인가되면 한 프레임(frame)이 완성된다.
즉, 게이트펄스전압이 i 번째 게이트라인(Gi)에 인가되면 게이트펄스전압이 인가된 게이트라인(Gi)에 연결된 모든 TFT가 동시에 턴-온(turn-on)되고, 이러한 턴-온 된 TFT가 데이터라인을, i번째의 게이트라인에 전기적으로 연결된 액정셀 및 저장캐패시터에 접속시킴으로써 데이터입력장치(40)로부터 인가되는 데이터 영상신호가 액정셀 및 저장 캐패시터에 축적된다.
따라서 이러한 액정셀에 축적된 데이터영상신호의 전압에 따라 액정셀 내의 액정분자는 재배열되고 광학적 이방성에 의하여 원하는 영상을 디스플레이 하게 된다.
이후 게이트 펄스 전압이 다음의 Gi+1 게이트라인으로 이동하여 인가되면 Gi 번째의 게이트라인에 연결된 TFT들은 모두 off 상태로 되고 이때 Gi 번째 게이트라인과 전기적으로 연결된 저장캐패시터와 액정셀에 축적된 전압은 다음 프레임에서 다시 TFT가 턴-온 될 때까지 유지된다.
상술한 바와 같은 선순차 방식으로 구동되는 TFT-LCD는 이를 이루는 소자들의 고유 특성에 기인한 몇 가지 결함을 가지고 있는데 이중 하나는 잔상(image sticking or residual image)현상이다.
잔상이란 특정한 정지화상을 장시간 구동시킨 후 다른 화상을 나타내고자 할 때 이전의 화상 패턴이 남아 있음으로 인해 화질을 저하시키는 경우를 말하는데, 이러한 잔상의 원인은 액정셀에 발생하는 잔류 직류전압(residual DC voltage, 이하 R-DC라 한다.)과 상기 액정셀과 연접한 배향막이 전기적 스트레스에 약한 적응력을 가지는 전기적 특성이 상호 작용하여 나타난다.
상술한 잔상의 원인중 액정셀에서 발생하는 잔류 직류전압을 액정패널의 하나의 화소부를 등가회로로 도시한 도 3과 박막트랜지스터에 인가되는 전압을 그래프로 도시한 도 4a 및 상기 박막트랜지스터를 통해서 배향막을 포함하는 액정셀에 인가되는 전압을 도시한 도 4b를 통하여 상세히 설명한다.
일반적으로 액정분자는 직류전압에 의해 쉽게 열화되고 액정분자의 배열방향에 따라 액정셀의 유전율이 달라지는 유전적 이방성(dielectric anisotrophy)을 갖기 때문에 일반적으로 교류전압을 사용하여 구동한다.
그러나 TFT-LCD의 구동방식으로 선순차 구동방식을 사용할 경우 상술한 바와 같이 임의의 어떤 프레임에서 박막트랜지스터의 소스전극(S)으로 입력된 영상신호전압(도 4a의 Vd)은 박막트랜지스터를 턴-온(turn-on) 하기 위한 게이트펄스전압(도 4a의 Vg)이 인가된 때부터 액정셀과 저장캐패시터에 축적되고, 이 축적된 전압은 반드시 다음 프레임까지 유지하고 있어야 하는데, 이때 도 3에 도시한 바와 같이 박막트랜지스터의 게이트전극(G)과 소스전극(S)의 겹침에 의하여 발생하는 기생캐패시터(Cgs)에 의하여 일정량만큼 방전된다.
상술한 일정량만큼 방전되는 전압(도 4b의ΔV)에 의하여 직류전압이 오프-셋(off-set) 되어 액정셀에 인가되고, 이러한 기생캐패시터(Cgs)에 의해 오프-셋 되어 발생하는 직류전압을 제어하기 위하여 일반적으로 저장캐패시터(Cst)를 액정셀(Clc)에 병렬연결하지만 이러한 저장캐패시터(Cst)로 오프-셋된 직류전압을 완전히 제어할 수는 없고, 일정정도의 직류전압(ΔV)은 반드시 오프-셋되어 액정셀(Clc)에 인가되게 된다.
액정셀(Clc)에 직류전압이 인가되면 도 3의 원내의 도면과 같이, 액정층의 불순물은 이온화되어 양이온 불순물(52)은 음의 극성을 가진 배향막(51)에 적층되고, 음이온 불순물(53)은 양의 극성을 가진 배향막(54)에 적층되어 시간이 지남에 따라 배향막에 흡착되므로, 액정분자들(55)은 배향막에 흡착된 이온 때문에 자체적으로 직류전압을 보유하게 되는데, 이를 잔류 직류전압이라 한다.
이때 상술한 배향막을 포함하는 액정셀에 발생하는 잔류 직류전압은 배향막 의 전기적 특성과 더불어 잔상을 일으키는 중요한 원인이 되는데, 이러한 잔류 직류전압은 액정셀 내의 액정분자들의 광학적 매개 변수인 프리틸트 각(pretilt angle)을 변화시켜 분자의 배열방향을 변화시키게 되므로 외부에서 인가된 변화된 신호 전압에 액정분자들은 민감하게 반응하지 못하고 따라서 동일 화상을 장시간 표시할 경우 표시화면이 바뀌어도 누적된 전하에 의하여 초기 화면의 흔적이 남게 된다.
또한, 배향막이란 액정을 일정한 방향으로 배향하는 역할을 하는 폴리이미드(polyimide)의 고분자 박막으로 액정층의 상하부에 연접하여 위치하며, 이러한 배향막의 표면은 액정분자들을 일정한 방향으로 배향하기 위해서 러빙(rubbing)공정을 통해 형성된다.
이때, 앞서 설명한 배향막의 상태에 따라 액정분자들은 전기장 등의 외력에 대한 응답도 달라지는데, 배향막의 표면에 가해지는 러빙 상태 및 재질과 두께 등의 작은 차이에도 전기적으로 민감한 반응을 보여 전하가 트랩(trap)되는 등의 불량이 발생하게 되고 따라서 액정분자들의 배향방향을 올바로 제어하지 못하여 이 또한 잔상의 원인이 된다.
특히, 근래에 들어 제조수율의 감소 및 배향특성의 향상과 제조비용절감 등의 필요성에 따라 배향막을 이루는 폴리이미드에 각각 다른 유기물을 포함하는 다양한 배향막이 개발되고 있어 배향막의 전기적 특성 또한 매우 상이하다.
앞서 제시한 잔상의 두가지 원인은 편의상 구분하여 설명하였지만, 잔류 직류전압에 의한 잔상과 배향막의 전기적 특성에 의한 잔상현상은 일반적으로 정확히 구분되지 않고, 배향막의 종류에 따라서 이에 연접한 액정셀에서 발생하는 잔류직류전압이 차이나는 등의 상호 연관성을 가지고 잔상현상을 일으킨다.
더욱이 잔상의 원인으로써 상술한 두 가지 원인 이외에도 TFT-LCD는 이를 구성하는 공정에서 순수소자를 이용한 많은 미세공정을 포함하고, 각각의 구성소자의 상태나 공정과정에서 발생하는 작은 변화에도 민감하게 반응을 보이는 복잡한 장치이므로 잔상현상에 직접적 또는 간접적으로 영향을 미칠 수 있는 것들은 매우 다양하다.
상기 잔상현상은 장시간 상기 TFT-LCD를 사용할 경우 화질을 저하시켜 사용자의 눈을 쉽게 피로하게 하고 해상도를 저하시키는 등의 문제점을 발생시키게 되므로 상기 잔상의 유무 및 잔상의 정도를 측정하는 것은 상기 TFT-LCD의 제조 및 검사공정에서 중요한 공정중 하나인데 상기 잔상의 유무 및 잔상의 정도를 측정하는 방법으로는 일반적으로 간접적인 측정방법과 직접적 측정방법이 있다.
상기 간접적인 측정방법은 상기 TFT-LCD에서 잔상을 발생시킬 수 있는 소자의 특성도를 측정하여 간접적으로 잔상의 유무 및 잔상의 정도를 측정하는 방법으로, 잔류 직류전압에 의한 잔상을 측정하기 위해서 상기 액정셀에서 발생하는 잔류 직류전압의 양을 측정하는 잔류직류전압 측정법(R-DC측정법)이나 전압보전율측정법(VHR측정법: Voltage Holding Ratio 측정법) 등이 있으나 상술한 배향막이 갖는 전기적 특성에 의한 잔상을 측정하는 방법은 일반적으로 알려진 바가 없고, 또한 잔류직류전압 측정법 및 전압보전율 측정법 등은 모두 잔상의 원인이 되는 액정셀에 발생하는 잔류 DC전압을 측정하여 간접적으로 잔상의 유무 및 정 도를 파악하는 방법이므로 여러가지 원인에 의하여 발생하는 잔상현상을 종합적이고 정확하게 측정하는 방법이 될 수 없는 문제점을 가지고 있다.
또한 상기 잔상의 유무 및 잔상의 정도를 직접적으로 측정하는 방법으로는 일반적으로 육안을 사용하여, 액정 표시장치의 디스플레이된 화면을 관찰하면서 잔상의 유무 및 잔상의 정도를 측정하는 방법이 있다. 이러한 육안을 이용한 직접적 잔상측정 방법은 밝은 것보다는 어두운 곳에서 더 민감한 특성을 나타내는 성질을 가지고 있어 이를 보정하는 과정을 더욱 포함하는 시인성 등을 사용하기도 하지만, 이러한 방법 역시 실제 액정디스플레이에서 발생하는 잔상과 ±2% 정도의 오차율을 가지고 있고, 육안을 이용하므로 잔상의 정도를 정량화 할 수 없는 문제점을 더욱 포함하고 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위하여 안출한 액정 디스플레이 화면의 잔상 측정방법으로써, 여러가지 원인에 의하여 발생하는 잔상을 종합적으로 정확하게 측정 할 수 있는 직접적 잔상 측정방법을 제공하고, 또한 상기 잔상현상을 정량화 할 수 있는 잔상 측정 정량화 방법을 제공한다.
본 발명은 상술한 목적을 달성하기 위하여 액정 패널 및 백라이트를 구비하는 단계와; 상기 백라이트로부터 상기 액정패널에 배면광을 조사하는 단계와; 상기 배면광이 조사된 액정패널의 액정디스플레이 화면에 제 1 풀-화이트(full white)상태를 표시하는 단계와; 상기 제 1 풀-화이트 상태를 상기 액정 디스플레이 화면의 다수의 지점에서 휘도값을 측정하여 풀-화이트의 휘도 평균값을 구하는 단계와; 상기 액정 디스플레이 화면에 풀-블랙(full black)상태를 표시하는 단계와; 상기 풀-블랙 상태를 상기 액정 디스플레이 화면의 다수의 지점에서 휘도값을 측정하여 풀-블랙의 휘도 평균값을 구하는 단계와; 상기 풀-화이트 및 풀-블랙의 휘도 평균값을 통하여 그레이 스케일을 구성하는 단계와; 상기 풀-블랙 상태가 표시된 액정 디스플레이 화면에 제 1 풀-화이트를 표시할 때와 동일한 전압을 상기 액정 패널에 인가하여 상기 액정 디스플레이 화면에 제 2 풀-화이트 상태를 표시하는 단계와; 상기 제 2 풀-화이트 상태를 시간에 따라 액정 디스플레이 화면의 다수의 지정된 지점에서 상기 그레이 스케일을 사용하여 휘도의 변화를 측정하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 잔상측정방법을 제공한다.
특히 상기 각각의 단계에서 상기 휘도를 측정하는 액정 디스플레이 화면의 다수의 지정된 지점은 상기 액정 디스플레이의 13포인트인 것을 특징으로 한다.
특히 상기 액정 디스플레이에 표시된 제 1 풀-화이트를 표시하는 백라이트의 휘도값(L1)을 측정하는 단계와; 상기 풀-블랙 상태를 표시하는 상기 백라이트의 휘도값(L2)을 측정하는 단계와; 상기 측정된 두 개의 백라이트의 휘도값(L1, L2)이 서로 다를 경우 이를 보정하여 백라이트의 고유 휘도값(L)을 구하는 단계를 더욱 포함하는 것을 특징으로 하며 또한 상기 백라이트의 고유 휘도값(L)과 상기 제 1 풀-화이트의 평균 휘도값으로 투과율을 결정하는 단계를 더욱 포함하는 것을 특징 으로 한다.
또한 상기 제 2 풀-화이트의 휘도값 중에서 가장 어두운 휘도값과 가장 밝은 휘도값을 통하여 휘도변화율(
Figure 112004004577438-pat00001
)를 구하는 단계를 더욱 포함하고; 상기 휘도변화율과 상기 투과율의 차이로 잔상을 측정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의한 액정표시장치의 잔상 정량화 방법은 백라이트를 조사하여 액정패널의 액정디스플레이 화면에 제 1 풀-화이트(full white)상태를 표시하는 단계와; 상기 제 1 풀-화이트 상태를 상기 액정 디스플레이 화면의 다수의 지점에서 휘도값을 측정하여 풀-화이트의 휘도 평균값을 구하는 단계와; 상기 풀-화이트 상태를 표시하는 백라이트의 제 1 휘도값(L1)을 측정하는 단계와; 상기 액정 디스플레이 화면에 풀-블랙(full black)상태를 표시하는 단계와; 상기 풀-블랙 상태를 상기 액정 디스플레이 화면의 다수의 지점에서 휘도값을 측정하여 풀-블랙의 휘도 평균값을 구하는 단계와; 상기 풀-블랙 상태를 표시하는 백라이트의 제 2 휘도값(L2)을 측정하는 단계와; 상기 풀-화이트 및 풀-블랙의 휘도 평균값을 이용하여 64단계의 그레이 스케일을 구성하는 단계와; 상기 풀-블랙 상태가 표시된 액정 디스플레이 화면에 제 1 풀-화이트를 표시할 때와 동일한 전압을 상기 액정 패널에 인가하여 상기 액정 디스플레이 화면에 제 2 풀-화이트 상태를 표시하는 단계와; 상기 제 2 풀-화이트 상태를 시간에 따라 액정 디스플레이 화면의 다수의 지정된 지점에서 상기 64단계의 그레이 스케일을 사용하여 휘도의 변화를 측정하여 가장 밝은 휘도값과 가장 어두운 휘도값을 구하는 단계와; 상기 가장 밝은 휘도값과 가장 어두운 휘도값을 이용하여 휘도변화율(
Figure 112004004577438-pat00018
)을 구하는 단계와; 상기 풀-화이트 상태의 휘도 평균값과 상기 풀-화이트 상태를 표시하는 백라이트의 휘도값(L1)을 이용하여 투과율을 구하는 단계와; 상기 휘도변화율(
Figure 112004004577438-pat00019
)과 투과율을 이용하여 수식화하여 계산하는 단계를 포함한다.
이때, 상기 측정된 두 개의 백라이트의 제1, 제2 휘도값(L1, L2)이 서로 다를 경우 이를 보정하여 백라이트의 고유 휘도값(L)을 구하는 단계를 더욱 포함한다.
또한, 상기 휘도 변화율(
Figure 112004004577438-pat00020
)은
Figure 112004004577438-pat00021
로 표시되며, Maxwhite는 가장 밝은 휘도값이며, Minwhite는 가장 어두운 휘도값을 나타낸다.
또한, 상기 투과율은
Figure 112004004577438-pat00022
로 표시되며, 액정디스플레이의 휘도는 풀-화이트 상태의 휘도값을, 백라이트의 휘도는 풀-화이트 상태의 휘도값 또는 보정된 고유 휘도값을 나타낸다.
이하 본 발명에 따른 액정표시장치의 잔상의 측정 방법을 좀더 상세히 설명한다.
본 발명은 잔상의 유무 및 잔상의 정도를 측정하기 위하여 액정 디스플레이의 휘도를 이용하는 것을 특징으로 하는데, 이러한 액정디스플레이의 휘도 (luminance)란 액정 디스플레이 화면에 표시된 상태가 밝게 빛나는 정도를 나타내는 것으로 정확한 단위는 없지만, 일반적으로 밝기의 단위인 nit, cd/m2등의 단위를 사용하여 나타내기도 한다.
이러한 액정 디스플레이의 휘도는 광원으로 사용되는 백라이트의 휘도와 밀접한 관계를 가지게 되고 이들의 관계는 투과율로 정의되는데, 즉 증폭기를 통하여 구해지는 백라이트의 휘도값과 액정 디스플레이 화면에 표시된 화상의 휘도의 비를 백분율로 표시함으로써 구해지는 투과율은
Figure 112000021985818-pat00002
과 같다.
이때, 백라이트에서 조사되는 빛은 액정 디스플레이 화면까지 도달되는 과정에서, 액정 셀의 두께 분포와 각종 소자의 투과 분포 및 컬러필터의 두께 분포등에 의하여 영향을 받게 되는데, 이로 인하여 하나의 액정 디스플레이 화면 전체에 동일한 밝기를 갖는 화상을 표시해도 위치에 따라 각각의 휘도가 달라지게 되고, 때 문에 액정 디스플레이 화면상에 지정된 다수개의 포인트에서 측정한 휘도를 평균하여 구해지는 휘도의 평균값을 액정 디스플레이 화면의 휘도로 정의 한다.
즉, 액정 디스플레이의 휘도란 액정 디스플레이상에 표시된 화면의 휘도값을 평균한 휘도 평균값을 의미하게 되고, 이러한 휘도의 평균값을 구하기 위해서 본 발명에서는 도 5에 도시한 바와 같이, 액정 디스플레이(70) 화면에서, 이후 액정 표시장치의 모듈이 완성되면 이에 의하여 가려지게 되는 액정 디스플레이의 가장자리에 10mm 정도를 일부 포함한 13포인트(point)를 지정하여 관측하는 방법을 사용한다.
또한, 본 발명에서는 액정 디스플레이 화면의 휘도를 보다 정확하게 측정하기 위하여 가장 밝은 휘도와 가장 어두운 휘도 이외의 다른 휘도 상태를 표시한 그레이 스케일(gray scale)을 이용하는데, 액정에 인가되는 전압의 세기를 조절하거나, 전압 펄스의 폭을 조절하는 방법 등을 사용하여 디스플레이 화면을 통하여 가장 밝게 표시되는 상태 즉, 풀-화이트(full white)상태를 그레이 스케일의 63그레이(gray 63)로 정의하고, 가장 어두운 상태 즉, 풀-블랙(full black) 상태를 그레이 스케일의 0그레이(gray 0)로 정의하여 상기 63그레이와 0그레이 이외의 다른 액정 디스플레이 상태를 단계를 나누어 구분하여 이를 순서대로 나열한 64그레이 레벨을 가지고 있는 그레이 스케일을 사용한다.
본 발명은 상술한 그레이 스케일을 사용하여 액정 디스플레이 화면에 표시된 휘도의 변화를 통하여 잔상 현상의 유무를 측정하는 방법을 제공한다.
이하 본 발명에 따른 액정디스플레이의 잔상측정방법을 순서대로 나열한 순 서도인 도 6를 참조하여 설명한다.
본 발명에 따른 잔상측정 방법은 먼저 백라이트를 구동하여 액정패널에 배면광을 조사한다.(100)
이후 배면광을 조사받는 액정 디스플레이 화면에 풀 -화이트 상태를 표시한 후, 이를 일정시간 이상 유지하는데(110) 이와 같이 디스플레이 화면에 표시된 풀-화이트 상태를 일정시간 이상 유지하는 이유는 휘도가 충분히 안정되는 시간을 확보하여 후술하는 과정에서 구성되는 그레이 스케일에 신뢰성을 높이기 위한 것으로, 최소한 30분 이상을 유지하며 바람직하게는 두 시간 정도를 유지한다.
이후 일정시간 유지된 풀-화이트 상태를 표시한 디스플레이 화면에 상술한 다수개의 지정된 측정 포인트, 바람직하게는 상술한 13포인트 지점의 휘도를 측정하고(120), 각각의 지점에서 측정된 휘도값을 평균하여 풀-화이트의 휘도의 평균값 구한다.(130)
이때 액정패널에 광을 인가하는 배면광의 역할을 하는 백라이트의 휘도값(L1)을 측정한다.(140)
이어서 상술한 휘도값(L1)을 갖는 백라이트를 배면광으로 하는 액정 디스플레이 화면에 가장 어두운 휘도인 풀-블랙 상태를 표시하고, 휘도 안정을 위해 바람직하게는 두시간 이상 유지한다.(150)
이후 상술한 바와 같이 일정시간 유지된 풀-블랙 상태의 디스플레이 화면에 바람직하게는 지정된 13포인트의 휘도를 측정하여 휘도값을 측정한 후(160), 측정된 각각의 휘도값을 평균하여 풀-블랙 상태의 휘도 평균값을 구하고(170), 이와 동 시에 백라이트의 휘도값(L2)을 다시 측정하여(180), 이전의 과정에서 측정한 백라이트의 휘도값 (L1)과 다를 경우 이를 보정하는 과정을 더욱 포함하여 백라이트의 고유 휘도값(L)을 구한다.(190)
상술한 백라이트의 휘도값을 보정하는 과정은 후술하는 그레이 스케일에 신뢰성을 높이기 위한 것으로 풀-화이트를 표시한 초기 백라이트의 휘도값이 나중에 측정한 풀-블랙을 표시한 백라이트의 휘도값보다 높을 경우 그만큼 초기 백라이트의 휘도값을 낮추어주고, 이와 반대의 경우 초기에 측정된 풀-화이트의 휘도값을 그만큼 높여주는 방법으로 이를 보정할 수 있다.
이후 상술한 과정에서 구해진 풀-화이트의 휘도 평균값과 풀-블랙의 휘도 평균값을 통하여 상술한 바와 같이 본 발명에 따른 잔상측정방법에서 바람직하게는 가장 어두운 상태인 풀-블랙을 그레이 스케일 0으로 지정하고, 가장 밝은 상태인 풀-화이트 상태를 그레이 스케일 63으로 지정하여 그 이외의 상태를 구분하여 일정간격으로 배열한 64그레이 레벨을 가지고 있는 그레이 스케일을 구성한다.(200)
이후, 앞서 설명한 풀-블랙을 표시하고 일정시간 유지한 상기 액정 디스플레이 화면에 이전의 과정에서 풀-화이트 상태를 표시할 때의 전압 펄스 폭 및 전압의 크기와 동일한 전압을 액정패널에 인가하여 다시 풀-화이트 상태를 표시하고(210), 이러한 풀-화이트 상태를 표시한 직후 부터 시간에 경과에 따른 휘도의 변화를 측정한다.(220)
본 발명에 따른 잔상의 측정방법에 있어서 가장 핵심적인 풀-화이트 상태의 시간에 따른 휘도의 변화율을 측정하는 방법을 상세히 설명하면, 먼저 풀-화이트의 시간에 따른 휘도의 변화를 정확하게 측정하기 위하여 상술한 과정(200)에서 구성된 64그레이 레벨을 가지고 있는 그레이 스케일을 이용하여, 액정 디스플레이의 지정된 다수개의 휘도 측정 포인트 바람직하게는 13포인트에서의 휘도의 변화를 연속적으로 측정하면서, 각 지점에서 측정된 휘도값을 평균한 휘도의 평균값이 상술한 그레이 스케일의 두 단계에 해당되는 변화를 나타낼 때 각 지정된 지점의 휘도를 측정한다.
이때 액정 디스플레이 화면에 표시된 풀-화이트 상태의 휘도 변화를 상술한그레이 스케일의 두 단계를 기준으로 측정하는 이유는 측정 능률을 높이기 위한 것으로 즉, 지정된 지점 바람직하게는 13포인트 위치에서 측정한 휘도의 평균값이 그레이 스케일의 한 단계의 변화에 해당될 때마다 각 지정된 지점의 휘도를 측정하는 경우, 전체 잔상측정과정이 지나치게 복잡해 지게 되고, 세 단계 이상의 변화로 측정할 경우 정확한 측정이 어려워 지므로 본 발명에서 바람직하게는 그레이 스케일의 두 단계를 기준으로 측정한다.
이때, 상기 풀-화이트 상태의 휘도의 변화는 이전 화면인 풀-블랙 상태를 표시했던 화면의 흔적이 액정 디스플레이 상에 표시되는 풀-블랙 상태의 잔상에 의하여 발생하게 되므로 풀-화이트 상태의 휘도 변화는 잔상현상과 비례관계를 가지게 되므로, 이러한 풀-화이트 상태의 휘도의 변화가 있으면 액정 디스플레이 화면에 잔상현상이 발생함을 알 수 있고, 이러한 휘도의 변화가 클수록 액정 디스플레이 화면에 나타나는 잔상현상이 심하게 나타난다는 것을 알 수 있다.
또한 상기 다시 표시된 풀-화이트의 상태를 표시한 후 120분 정도가 지나게 되면 이러한 풀-화이트의 휘도가 다시 안정이 되는데, 이때 다시 풀-블랙을 표시하여 상기 풀-블랙을 표시한 직후 부터 이러한 풀-블랙 상태의 휘도의 변화를 측정할수 있고 이를 통하여 본 발명에 의한 잔상측정에 더욱 신뢰도를 높일수 있다.
또한 본 발명에서는 상술한 과정을 통하여 풀-화이트 상태의 휘도의 변화를 측정하고 이를 정량화하여 잔상현상을 정량화하는 방법을 제공하는데 이를 상세히 설명한다.
본 발명에 따른 액정 표시장치의 잔상의 정량화 방법은 액정패널의 투과율과액정 디스플레이에 표시된 풀-화이트의 휘도의 변화율을 이용하여 측정한다.
먼저 액정패널의 투과율이란 앞서 설명한 바와 같이, 액정 디스플레이 화면의 풀-화이트 상태의 평균값과 백라이트의 휘도값을 비교한 값을 백분율로 표시한 값인데, 상기 액정디스플레이에 표시되고 일정시간 유지된 풀-화이트 상태에서 측정한 풀-화이트의 휘도의 평균값을 구하는 과정(130)에서 얻어지는 풀-화이트의 평균값과 백라이트의 고유 휘도값을 구하는 과정(190)에서 얻어지는 백라이트의 휘도값을 통해서 액정 디스플레이의 투과율을 결정하게 된다.(230)
즉, 투과율(%)= (풀-화이트의 휘도평균값/백라이트의 고유 휘도값)×100
과 같이 액정 디스플레이의 투과율을 구할수 있고, 이러한 액정 표시장치의 투과율은 액정 디스플레이의 고유 특성을 나타낸다.
또한 액정 디스플레이의 휘도변화율은, 액정 디스플레이에 풀-화이트 상태를 표시하고(210), 상기 액정 디스플레이에 풀-화이트를 표시한 직후부터 상기 액정 디스플레이 화면에 지정된 다수개의 포인트, 바람직하게는 13포인트 위치에서 휘도를 연속적으로 측정하는 과정에서 구할 수 있는데, 즉 액정 디스플레이의 화면에 지정된 다수개의 포인트 바람직하게는 13포인트 위치에서 연속적으로 측정된 각각의 휘도값을 평균한 휘도의 평균값이 상기 그레이 스케일의 두단계의 변화에 해당될 때, 액정 디스플레이 화면의 13포인트 지점에서 측정된 가장 어두운 휘도와 가장 밝은 휘도의 비를 통하여 구할 수 있다.
즉, 풀-화이트의 휘도의 변화율은 풀-화이트를 표시한 직후부터, 휘도의 평균값이 그레이 스케일의 두 단계만큼 변화할 때, 상기 액정 표시화면의 13포인트의 측정 지점에서 관찰된 풀-화이트의 가장 어두운 휘도값(Minwhite)과 상기 풀-화이트의 가장 밝은 휘도값(Maxwhite)의 비로 나타내고,
휘도 변화율
Figure 112000021985818-pat00003
과 같다.(240)
상술한 과정을 통하여 구해지는 액정 디스플레이의 고유 특성인 투과율과 잔상 현상의 정도를 나타내는 휘도의 변화율을 통하여, 액정 디스플레이에서 발생하게 되는 잔상을 정량화한 값 y는
Figure 112000021985818-pat00004
과 같고,
이때, 상기 y 값의 좌측
Figure 112000021985818-pat00005
은 투과율을, 우측
Figure 112000021985818-pat00006
은 휘도 변화율을 각각 의미한다.(250)
상술한 잔상을 정량화 한 값 y는 액정 디스플레이의 고유 특성인 투과율에서 잔상의 정도를 나타내는 휘도 변화율을 뺀 값이 되므로 잔상의 정량화 값 y 의 변화와 잔상의 정도는 비례관계에 있게 되고, 따라서 본 발명에 따른 액정 디스플에이의 잔상의 정량화 값 y가 시간에 따라 변화하지 않으면 액정 디스플레이에 잔상현상이 발생하지 않게 되고, 이러한 잔상의 정량화 값 y 가 시간에 따라 크게 변화하면 잔상의 정도는 심하게 된다.
본 발명에 따른 잔상의 측정방법을 통하여 실제 액정 디스플레이의 잔상을 측정한 결과를 각각 도 7과 도 8에 도시하였다.
도 7은 일반적인 액정 디스플레이에서 노트북 컴퓨터용 백 라이트를 사용한 액정 디스플레이의 잔상현상을 본 발명에 따른 휘도변화율을 통한 잔상측정방법을 사용하여 측정한 것으로, 굵은 실선의 부분은 풀-화이트를 표시한 직후부터 휘도 변화율을 측정하여 도시한 그래프이고, 이러한 풀-화이트 상태를 120분 이상 표시하여 상기 풀-화이트의 휘도가 안정화된 후, 풀-블랙을 표시하여 휘도의 변화율을 측정한 결과를 굵은 점선으로 도시하였다.
또한 도 8은 일반적인 액정 디스플레이에서 모니터용 백 라이트를 사용한 액정 디스플레이의 잔상현상을 본 발명에 따른 휘도변화율을 통한 잔상측정방법을 사용하여 측정한 것으로, 굵은 실선의 부분은 공통전극에 4.06V의 전압을 인가하여 표시한 화면의 휘도 변화율을 측정한 그래프이다.
이때 각각의 디스플레이에 표시된 휘도를 밝기 단위로 표시할 경우 67Cd/m2 와 95.3Cd/m2 에 해당한다.
상기 각각의 도면, 즉 액정표시장치의 디스플레이 화면에서 나타나는 잔상현상을 본 발명에 따른 휘도변화율을 사용하여 측정한 결과를 도시한 도 7과 도 8을 참조하면, 일반적인 방법인 시인성을 이용한 잔상측정방법에 의한 측정결과(도면에 일점쇄선으로 표시)보다 정확하게 잔상을 측정할 수 있음을 확인할 수 있다.
본 발명에 따른 상기 잔상 측정 방법은 액정 디스플레이에 표시된 화상을 통하여 잔상을 직접적으로 측정하는 방법이므로 다양한 원인에 의하여 발생할 수 있는 모든 잔상을 정확히 측정하고 정량화할 수 있는 잇점을 가지고 있고, 이러한 잔상을 측정하는데 있어서 측정 오차범위를 육안을 이용한 측정방법의 ±2%보다 개선 시킬 수 있어 보다 정확한 잔상현상의 유무를 측정할 수 있다.
또한 본 발명에 따른 휘도변화율과 투과율을 통한 잔상의 정량화 값을 사용하여 잔상 현상을 측정하면 잔상의 유무를 정확히 측정할 수 있음은 물론 잔상의 정도를 정량화할 수 있는 잇점이 있다.

Claims (9)

  1. 액정 패널 및 백라이트를 구비하는 단계와;
    상기 백라이트로부터 상기 액정패널에 배면광을 조사하는 단계와;
    상기 배면광이 조사된 액정패널의 액정디스플레이 화면에 제 1 풀-화이트(full white)상태를 표시하는 단계와;
    상기 제 1 풀-화이트 상태를 상기 액정 디스플레이 화면의 다수의 지정된 지점에서 휘도값을 측정하여 풀-화이트의 휘도 평균값을 구하는 단계와;
    상기 액정 디스플레이 화면에 풀-블랙(full black)상태를 표시하는 단계와;
    상기 풀-블랙 상태를 상기 액정 디스플레이 화면의 다수의 지정된 지점에서 휘도값을 측정하여 풀-블랙의 휘도 평균값을 구하는 단계와;
    상기 풀-화이트 및 풀-블랙의 휘도 평균값을 통하여 그레이 스케일을 구성하는 단계와;
    상기 풀-블랙 상태가 표시된 액정 디스플레이 화면에 제 1 풀-화이트를 표시할 때와 동일한 전압을 상기 액정 패널에 인가하여 상기 액정 디스플레이 화면에 제 2 풀-화이트 상태를 표시하는 단계와;
    상기 제 2 풀-화이트 상태를 시간에 따라 상기 액정 디스플레이 화면의 다수의 지정된 지점에서 상기 그레이 스케일을 사용하여 휘도의 변화를 측정하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 잔상측정방법.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 액정 디스플레이 화면의 다수의 지정된 지점은 13포인트인 액정표시장치의 잔상측정방법.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 액정 디스플레이에 표시된 제 1 풀-화이트를 표시하는 백라이트의 휘도값(L1)을 측정하는 단계와;
    상기 풀-블랙 상태를 표시하는 상기 백라이트의 휘도값(L2)을 측정하는 단계와;
    상기 측정된 두 개의 백라이트의 휘도값(L1, L2)이 서로 다를 경우 이를 보정하여 백라이트의 고유 휘도값(L)을 구하는 단계
    를 더욱 포함하는 액정표시장치의 잔상측정방법.
  4. 청구항 1항 내지는 청구항 3항 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 백라이트의 고유 휘도값(L)과 상기 제 1 풀-화이트의 평균 휘도값으로 투과율을 결정하는 단계를 더욱 포함하는 액정표시장치의 잔상측정방법.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 제 2 풀-화이트의 휘도값 중에서 가장 어두운 휘도값과 가장 밝은 휘도값을 통하여 휘도변화율(
    Figure 112000021985818-pat00007
    )를 구하는 단계를 더욱 포함하고;
    상기 휘도변화율과 상기 투과율의 차이로 잔상을 측정하는 액정표시장치의 잔상측정방법.
  6. 백라이트를 조사하여 액정패널의 액정디스플레이 화면에 제 1 풀-화이트(full white)상태를 표시하는 단계와;
    상기 제 1 풀-화이트 상태를 상기 액정 디스플레이 화면의 다수의 지점에서 휘도값을 측정하여 풀-화이트의 휘도 평균값을 구하는 단계와;
    상기 풀-화이트 상태를 표시하는 백라이트의 제 1 휘도값(L1)을 측정하는 단계와;
    상기 액정 디스플레이 화면에 풀-블랙(full black)상태를 표시하는 단계와;
    상기 풀-블랙 상태를 상기 액정 디스플레이 화면의 다수의 지점에서 휘도값을 측정하여 풀-블랙의 휘도 평균값을 구하는 단계와;
    상기 풀-블랙 상태를 표시하는 백라이트의 제 2 휘도값(L2)을 측정하는 단계와;
    상기 풀-화이트 및 풀-블랙의 휘도 평균값을 이용하여 64단계의 그레이 스케일을 구성하는 단계와;
    상기 풀-블랙 상태가 표시된 액정 디스플레이 화면에 제 1 풀-화이트를 표시할 때와 동일한 전압을 상기 액정 패널에 인가하여 상기 액정 디스플레이 화면에 제 2 풀-화이트 상태를 표시하는 단계와;
    상기 제 2 풀-화이트 상태를 시간에 따라 액정 디스플레이 화면의 다수의 지정된 지점에서 상기 64단계의 그레이 스케일을 사용하여 휘도의 변화를 측정하여 가장 밝은 휘도값과 가장 어두운 휘도값을 구하는 단계와;
    상기 가장 밝은 휘도값과 가장 어두운 휘도값을 이용하여 휘도변화율(
    Figure 112004004577438-pat00023
    )을 구하는 단계와;
    상기 풀-화이트 상태의 휘도 평균값과 상기 풀-화이트 상태를 표시하는 백라이트의 휘도값(L1)을 이용하여 투과율을 구하는 단계와;
    상기 휘도변화율(
    Figure 112004004577438-pat00024
    )과 투과율을 이용하여 수식화하여 계산하는 단계
    를 포함하는 액정표시장치의 잔상 정량화 방법.
  7. 청구항 6에 있어서,
    상기 측정된 두 개의 백라이트의 제1, 제2 휘도값(L1, L2)이 서로 다를 경우 이를 보정하여 백라이트의 고유 휘도값(L)을 구하는 단계
    를 더욱 포함하는 액정표시장치의 잔상 정량화 방법.
  8. 청구항 6에 있어서,
    상기 휘도 변화율(
    Figure 112004004577438-pat00025
    )은
    Figure 112004004577438-pat00026
    로 표시되며, Maxwhite는 가장 밝은 휘도값이며, Minwhite는 가장 어두운 휘도값인 액정표시장치의 잔상 정량화 방법.
  9. 청구항 6 또는 청구항 7 중 어느 하나에 있어서,
    상기 투과율은
    Figure 112004004577438-pat00027
    로 표시되며, 액정디스플레이의 휘도는 풀-화이트 상태의 휘도값을, 백라이트의 휘도는 풀-화이트 상태의 휘도값 또는 보정된 고유 휘도값인 액정표시장치의 잔상 정량화 방법.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108847201A (zh) * 2018-07-10 2018-11-20 京东方科技集团股份有限公司 一种亮度处理方法、装置、计算机设备及可读存储介质

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7064740B2 (en) 2001-11-09 2006-06-20 Sharp Laboratories Of America, Inc. Backlit display with improved dynamic range
KR100422295B1 (ko) * 2002-05-18 2004-03-11 엘지.필립스 엘시디 주식회사 디스플레이 장치의 화질 분석 방법 및 시스템
CN1312512C (zh) * 2003-03-31 2007-04-25 东芝松下显示技术有限公司 显示装置
TWI223713B (en) * 2003-03-31 2004-11-11 Toppoly Optoelectronics Corp Method and system for testing driver circuits of AMOLED
US7164284B2 (en) * 2003-12-18 2007-01-16 Sharp Laboratories Of America, Inc. Dynamic gamma for a liquid crystal display
US7602369B2 (en) 2004-05-04 2009-10-13 Sharp Laboratories Of America, Inc. Liquid crystal display with colored backlight
US7777714B2 (en) 2004-05-04 2010-08-17 Sharp Laboratories Of America, Inc. Liquid crystal display with adaptive width
US7872631B2 (en) 2004-05-04 2011-01-18 Sharp Laboratories Of America, Inc. Liquid crystal display with temporal black point
US8395577B2 (en) 2004-05-04 2013-03-12 Sharp Laboratories Of America, Inc. Liquid crystal display with illumination control
US7023451B2 (en) * 2004-06-14 2006-04-04 Sharp Laboratories Of America, Inc. System for reducing crosstalk
US7898519B2 (en) 2005-02-17 2011-03-01 Sharp Laboratories Of America, Inc. Method for overdriving a backlit display
US8050511B2 (en) 2004-11-16 2011-11-01 Sharp Laboratories Of America, Inc. High dynamic range images from low dynamic range images
US8050512B2 (en) * 2004-11-16 2011-11-01 Sharp Laboratories Of America, Inc. High dynamic range images from low dynamic range images
KR101144185B1 (ko) 2005-06-29 2012-05-10 삼성전자주식회사 액정 표시 장치의 화질 검사 장치 및 방법
US9143657B2 (en) 2006-01-24 2015-09-22 Sharp Laboratories Of America, Inc. Color enhancement technique using skin color detection
US8121401B2 (en) 2006-01-24 2012-02-21 Sharp Labortories of America, Inc. Method for reducing enhancement of artifacts and noise in image color enhancement
US8941580B2 (en) 2006-11-30 2015-01-27 Sharp Laboratories Of America, Inc. Liquid crystal display with area adaptive backlight
TWI387952B (zh) * 2007-06-08 2013-03-01 Chunghwa Picture Tubes Ltd 檢測顯示器的燒付現象的方法
CN101325021B (zh) * 2007-06-15 2010-06-09 中华映管股份有限公司 检测显示器的烧附现象的方法
TWI366393B (en) * 2007-10-12 2012-06-11 Taiwan Tft Lcd Ass Method and apparatus of measuring image-sticking of a display device
CN104091555B (zh) * 2014-06-20 2016-06-08 京东方科技集团股份有限公司 一种显示器残像等级的评价方法及其装置
CN106201414B (zh) * 2016-06-28 2019-05-17 Oppo广东移动通信有限公司 控制方法、控制装置及电子装置
CN111341233B (zh) * 2020-04-09 2022-03-22 昆山国显光电有限公司 显示面板残影检测方法以及检测装置
CN114624008B (zh) * 2022-03-07 2023-12-15 Oppo广东移动通信有限公司 拖影测试方法、装置及系统、计算机设备和可读存储介质

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09101816A (ja) * 1995-10-06 1997-04-15 Sony Corp 評価装置及び評価方法
JPH09274163A (ja) * 1996-04-04 1997-10-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶パネルの検査方法
KR20010053779A (ko) * 1999-12-01 2001-07-02 윤종용 배향 불량 검사방법

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3487361B2 (ja) * 1994-04-11 2004-01-19 富士写真フイルム株式会社 フイルムスキャナの露出制御装置並びに画像信号処理方法及びガンマ補正方法
US5561459A (en) * 1994-09-30 1996-10-01 Apple Computer, Inc. Automatic profile generation for a self-calibrating color display
JP3213496B2 (ja) * 1994-11-30 2001-10-02 シャープ株式会社 照明装置
US5767935A (en) * 1995-08-31 1998-06-16 Sumitomo Chemical Company, Limited Light control sheet and liquid crystal display device comprising the same
US6100030A (en) * 1997-01-10 2000-08-08 Pioneer Hi-Bred International, Inc. Use of selective DNA fragment amplification products for hybridization-based genetic fingerprinting, marker assisted selection, and high-throughput screening
US6483906B1 (en) * 1999-01-22 2002-11-19 Pointset Corporation Method and apparatus for setting programmable features of an appliance
US6281820B1 (en) * 1999-07-12 2001-08-28 Pointset Corporation Methods and apparatus for transferring data from a display screen
KR100743421B1 (ko) * 1999-12-28 2007-07-30 군제 가부시키가이샤 편광판
JP3736671B2 (ja) * 2000-05-24 2006-01-18 パイオニア株式会社 プラズマディスプレイパネルの駆動方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09101816A (ja) * 1995-10-06 1997-04-15 Sony Corp 評価装置及び評価方法
JPH09274163A (ja) * 1996-04-04 1997-10-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶パネルの検査方法
KR20010053779A (ko) * 1999-12-01 2001-07-02 윤종용 배향 불량 검사방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108847201A (zh) * 2018-07-10 2018-11-20 京东方科技集团股份有限公司 一种亮度处理方法、装置、计算机设备及可读存储介质
CN108847201B (zh) * 2018-07-10 2020-06-05 京东方科技集团股份有限公司 一种亮度处理方法、装置、计算机设备及可读存储介质

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Publication number Publication date
US6791520B2 (en) 2004-09-14
KR20020030645A (ko) 2002-04-25
US20020067325A1 (en) 2002-06-06

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