CN108735135A - 显示装置残影的测试方法 - Google Patents

Abstract

一种显示装置残影的测试方法，包括：在t1～t2时间内，控制第一测试区域显示第一画面，控制第二测试区域显示第二画面，在t2～t3时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面；分别采集t1～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t1～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)；根据C(t)＝Y2(t)‑K*L1(t)，计算出在t1～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。由于Y2(t)和KL1(t)之差恰好去除了噪音，C(t)的值为去除噪音后的值，使得残影的测试结果不受噪音的影响。

Description

显示装置残影的测试方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示装置残影的测试方法。

背景技术

为了提高显示装置的性能和质量，在生产过程中，需要对显示装置的分辨率、亮度、对比度、色域、响应时间、残像等级等性能指标进行检测和评定。其中，残像是指影像残留。具体地，当显示装置长时间驱动特定静止画面后，其中的薄膜晶体管受到应力(biasstress)影响或者其中的发光二极管亮度的衰减，造成显示装置发光亮度会发生改变，如此，会导致显示面板显示图像时出现差异，如当显示画面切换至下一个画面时，显示面板上会残留上一个画面的图像，从而造成影响残留的现象，即出现残影。残影会严重影响显示器的画面品质。

现有技术可以通过人眼或测试设备对显示装置的残影进行测试。在用测试设备对显示装置的残影进行测试时，由于电源噪音的影响，亮度的变化存在一定的波动，导致测试的亮度被噪音掩盖，数据分析的难度增加，容易导致误判。

发明内容

基于此，有必要针对在对显示装置的残影进行测试时，由于电源噪音的影响，亮度的变化存在一定的波动，导致测试的亮度被噪音掩盖，数据分析的难度增加，容易导致误判的技术问题，提供一种显示装置残影的测试方法。

一种显示装置残影的测试方法，其中，所述显示装置的显示区域至少包括第一测试区域和第二测试区域，所述显示装置残影的测试方法包括：

控制显示步骤：在t1～t2时间内，控制所述第一测试区域显示第一画面，控制所述第二测试区域显示第二画面，在t2～t3时间内，控制所述第一测试区域和所述第二测试区域均显示第一画面；

数据采集步骤：分别采集t1～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t1～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，所述测试参数与亮度呈线性关系；

计算结果步骤：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t1～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。

在其中一个实施例中，所述测试参数Y2为亮度L2，K＝1。

在其中一个实施例中，所述测试参数Y2为电流I2，

在其中一个实施例中，在控制显示步骤中，在t1～t2时间内之前，还包括：

在t0～t1时间内，控制所述第一测试区域和所述第二测试区域均显示第一画面；

数据采集步骤为：采集t0～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t0～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，所述测试参数与亮度呈线性关系；

计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t0～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。

在其中一个实施例中，所述测试参数Y2为电流，

在其中一个实施例中，计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)+KB，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t1～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。

在其中一个实施例中，在控制显示步骤中，在t2～t3时间之后，还包括：

在t3～t4时间内，控制第一测试区域显示第一画面，控制第二测试区域显示第三画面，在t4～t5时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面；

数据采集步骤为：采集t0～t5时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t0～t5时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，所述测试参数Y2与亮度呈线性关系；

计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t0～t5时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。

在其中一个实施例中，所述第一画面为灰色画面，所述第二画面为黑色画面或白色画面。

在其中一个实施例中，所述第一画面为灰色画面，所述第二画面为黑色画面，所述第三画面为白色画面。

在其中一个实施例中，所述第一画面为灰色画面，所述第二画面为白色画面，所述第三画面为黑色画面。

上述显示装置残影的测试方法，在t1～t2以及t2～t3时间内，使第一测试区域一直显示第一画面，使第二测试区域从显示第二画面到显示第一画面，这样，第一测试区域作为包含噪音的基准区域，第二测试区域作为包含噪音的被测试区域，根据测量的第一测试区域及第二测试区域从第二画面恢复到第一画面的亮度L1及测试参数Y2随时间变化的变化值，即可知道残影参数C随时间变化的变化值，从而得出显示装置残影的严重程度，而由于在t1～t2以及t2～t3时间内，第一测试区域和第二测试区域在任一时刻所包含的噪音相同，根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，计算出在t1～t3时间内的C(t)的值，由于Y2(t)和KL1(t)均包含相同的噪音，Y2(t)和KL1(t)之差恰好去除了噪音，使得最终C(t)的值为去除噪音后的值，使得残影的测试结果不受噪音的影响。

附图说明

图1为一个实施例中显示装置残影的测试方法的步骤图；

图2为另一个实施例中显示装置残影的测试方法的步骤图；

图3为另一个实施例中显示装置残影的测试方法的步骤图；

图4为另一个实施例中显示装置残影的测试方法的步骤图；

图5为一个实施例中显示装置的结构示意图；

图6为图1所示实施例中残影参数随时间的变化关系图；

图7为图1所示实施例中残影参数随时间的变化关系图；

图8为图1所示实施例中残影参数随时间的变化关系图；

图9为图1所示实施例中残影参数随时间的变化关系图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

例如，本发明一实施例公开一种显示装置残影的测试方法，其中，所述显示装置的显示区域至少包括第一测试区域和第二测试区域，所述显示装置残影的测试方法包括：控制显示步骤：在t1～t2时间内，控制所述第一测试区域显示第一画面，控制所述第二测试区域显示第二画面，在t2～t3时间内，控制所述第一测试区域和所述第二测试区域均显示第一画面；数据采集步骤：分别采集t1～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t1～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，所述测试参数Y2与亮度L1呈线性关系；计算结果步骤：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t1～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。其中，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，可以理解，K可以为所述第二测试区域显示第一画面时间内的某一时刻测试参数Y2与亮度L1的比值，也可以为所述第二测试区域显示第一画面时间内的某一时间段测试参数Y2与亮度L1的比值的平均值。

例如，根据残影参数C随时间的变化值C(t)做出绘图图像可以分析出残影的严重程度以及残影的时间，从而判断出残影的等级。

上述显示装置残影的测试方法，在t1～t2以及t2～t3时间内，使第一测试区域一直显示第一画面，使第二测试区域从显示第二画面到显示第一画面，这样，第一测试区域作为包含噪音的基准区域，第二测试区域作为包含噪音的被测试区域，根据测量的第一测试区域及第二测试区域从第二画面恢复到第一画面的亮度L1及测试参数Y2随时间变化的变化值，即可知道残影参数C随时间变化的变化值，从而得出显示装置残影的严重程度，而由于在t1～t2以及t2～t3时间内，第一测试区域和第二测试区域在任一时刻所包含的噪音相同，根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，计算出在t1～t3时间内的C(t)的值，由于Y2(t)和KL1(t)均包含相同的噪音，Y2(t)和KL1(t)之差恰好去除了噪音，使得最终C(t)的值为去除噪音后的值，使得残影的测试结果不受噪音的影响。

为了更便于了解本发明，又一个例子是，如图1所示，其为一个实施例中显示装置残影的测试方法的步骤图。其中，显示装置的显示区域至少包括第一测试区域和第二测试区域。例如，如图5所示，显示装置包括显示面板，显示面板包括显示区域100和非显示区域200，其中，显示装置的显示区域100包括第一测试区域110和第二测试区域120，该显示装置残影的测试方法具体包括：

S120、控制显示步骤：在t1～t2时间内，控制第一测试区域显示第一画面，控制第二测试区域显示第二画面，在t2～t3时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面。

需要说明的是，在测试的过程中，需使t2～t3之间的时间大于第二测试区域残影完全消失的时间。这样，才能完整的测试整个残影的消失过程，以获得准确的显示装置的残影的严重程度的结果。

在t1～t3时间内，使第一测试区域持续显示第一画面，以作为包含噪音的参考区域，而使第二测试区域从显示第二画面切换到显示第一画面，在显示第二画面切换到显示第一画面的过程中，在一定时间内，显示面板上会残留第二画面的图像，出现残影，以作为包含噪音的残影测试区域。

为了更有利于对残影进行观察，例如，第一画面为灰色画面，第二画面为黑色画面。又例如，第一画面为灰色画面，第二画面为白色画面。由于黑色图像或白色图像与灰色之间的反差比较大，这样，更有利于对显示装置出现的残影进行观察。

S140、数据采集步骤：分别采集t1～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t1～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，测试参数Y2与亮度L1呈线性关系。

具体地，用第一亮度计采集t1～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)。例如，测试参数Y2为亮度L2，此时，Y2(t)＝L2(t)，采集t1～t3时间内第二测试区域的亮度L2随时间的变化值L2(t)，具体地，用第二亮度计采集t1～t3时间内第二测试区域的亮度L2随时间的变化值L2(t)。又例如，测试参数Y2为电流I2，此时，Y2(t)＝I2(t)，采集t1～t3时间内第二测试区域的电流I2随时间的变化值I2(t)，具体地，用电流计采集t1～t3时间内第二测试区域的电流I2随时间的变化值I2(t)。由于电流计较为方便测试整个显示面板的电流值，而整个显示面板的电流值也即为第二测试区域的电流值，例如，用电流计采集t1～t3时间内第二测试区域的电流I2随时间的变化值I2(t)包括：用电流计采集t1～t3时间内显示面板的电流I2随时间的变化值I2(t)。

由于第一测试区域与第二测试区域在任意时刻受到的电源等外界噪音的影响相同，因此采集的第一测试区域的亮度L1和第二测试区域的测试参数Y2均包含了相同的噪音，即采集的第一测试区域和第二测试区域的数据均为受相同的噪音影响后的结果。

残影的严重程度一般根据测试的亮度结果来体现，同理也可根据与亮度呈线性关系的任意测试参数来体现，因此，可以采集亮度数据，也可以采集与亮度呈线性关系的测试参数数据。

需要说明的是，控制显示步骤和数据采集步骤为同时进行的，即控制第一测试区域和第二测试区域显示预设画面时，对第一测试区域和第二测试区域进行实时的数据采集。

S160、计算结果步骤：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t1～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。由于当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，实际K也为常数，且K*L1(t)的结果也转化为表示测试参数(例如亮度或电流)随时间的变化值，因此，根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，能够计算出在t1～t3时间内的C(t)的值，C(t)的值实际上也表示测试参数(例如亮度或电流)随时间的变化值。而由于Y2(t)和KL1(t)均包含噪音，Y2(t)和KL1(t)之差中的噪音影响相互抵消，去除了噪音，使得残影参数C随时间的变化值C(t)的值不受噪音的影响，因此根据C(t)的值，即可知道第二测试区域从第二画面恢复到第一画面残影的严重程度。例如，根据残影参数C随时间的变化值C(t)做出绘图图像可以分析出残影的严重程度以及残影的时间，从而判断出残影的等级。例如，如图6所示，其为本实施例中残影参数随时间的变化关系图。

为了更方便计算在t1～t3时间内的残影参数C随时间的变化值C(t)，例如，测试参数Y2为亮度L2，此时，K＝1，Y2(t)＝L2(t)，L2(t)为第二测试区域的亮度随时间的变化值。这样，L1(t)为第一测试区域包含噪音的亮度L1随时间的变化值，Y2(t)为第二测试区域包含噪音的亮度L2随时间的变化值，C(t)则为去除噪音后的亮度Lc随时间的变化值。根据C(t)来分析残影情况，降低了亮度分析的难度，使得残影情况的分析结果更准确。

为了更方便第二测试区域测试参数Y2的采集，例如，测试参数Y2为电流I2，此时，K为电流I2与亮度L1之间的比值。由于测量电流比测量亮度更加方便，将电流作为测试参数，更方便第二测试区域测试参数的测试。

例如，即K为t2～t3时间内第一测试区域与第二测试区域均显示第一画面时，第二测试区域测得的电流值与第一测试区域测试的亮度值的比值的均值。

为了更加准确的获得残影参数C的测试结果，例如，t2～t3时间包括t2～tx时间和tx～t3时间，其中，tx为t2～t3时间内，测试参数Y2不再发生改变的任一时间点，即tx为t2～t3时间内邻近t3时间点时测试参数Y2变化平缓或不变化时的任一时间点，此时第二测试区域显示第一画面且残影消失，K为tx～t3时间内第一测试区域与第二测试区域均显示第一画面时，第二测试区域测得的电流值与第一测试区域测试的亮度值的比值的均值。由于tx～t3时间内残影消失，因此根据这一阶段的数据获得的K值更加准确，从而更加准确的获得残影参数C的测试结果。

为了更加准确的获得残影参数C的测试结果，例如，如图2所示，在控制显示步骤中，在t1～t2时间内之前，还包括：在t0～t1时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面。

即，S220、控制显示步骤为：在t0～t1时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面，在t1～t2时间内，控制第一测试区域显示第一画面，控制第二测试区域显示第二画面，在t2～t3时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面。

S240、数据采集步骤为：采集t0～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t0～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，测试参数Y2与亮度L1呈线性关系。

S260、计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t0～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。

由于在t0～t1时间内，第二测试区域也显示第一画面，与t2～t3时间内第二测试区域显示第一画面相同，因此出现残影阶段的t2～t3的C(t)可以与t0～t1时间内未出现残影阶段的C(t)进行对比，即可将t0～t1时间内的C(t)作为基准，来分析残影情况。例如，根据残影参数C随时间的变化值C(t)做出绘图图像可以分析出残影的严重程度以及残影的时间，从而判断出残影的等级。例如，如图7所示，其为本实施例中残影参数随时间的变化关系图。

具体地，用第一亮度计采集t0～t1时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)。例如，测试参数Y2为亮度L2，此时，Y2(t)＝L2(t)，采集t0～t1时间内第二测试区域的亮度L2随时间的变化值L2(t)，具体地，用第二亮度计采集t0～t1时间内第二测试区域的亮度L2随时间的变化值L2(t)。又例如，测试参数Y2为电流I2，此时，Y2(t)＝I2(t)，采集t0～t1时间内第二测试区域的电流I2随时间的变化值I2(t)，具体地，用电流计采集t0～t1时间内第二测试区域的电流I2随时间的变化值I2(t)。由于电流计较为方便测试整个显示面板的电流值，而整个显示面板的电流值也即为第二测试区域的电流值，例如，用电流计采集t0～t1时间内第二测试区域的电流I2随时间的变化值I2(t)包括：用电流计采集t0～t1时间内显示面板的电流I2随时间的变化值I2(t)。

为了进一步提高测试结果的准确性，例如，当测试参数Y2为电流I2时，即K为t0～t1时间内第一测试区域与第二测试区域均显示第一画面时，第二测试区域测得的电流值与第一测试区域测试的亮度值的比值的均值。由于在t0～t1时间内，第二测试区域处于未出现残影阶段，第二测试区域测得的电流值未受残影的影响，这样，所求得的K值更加准确的表示电流与亮度之间的线性关系。

为了使残影参数可以表示第二测试区域的测试参数，使残影参数可以表示第二测试区域的结果，以更加直观的表示第二测试区域残影数据的变化值，例如，显示装置残影的测试方法中，计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)+KB，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t1～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。

由于，Y2(t)-K*L1(t)的结果中不仅抵消了噪音，同时使测试参数的结果中抵消掉了第一测试区域大小的亮度，通过使C(t)的最终结果补偿一个第一测试区域大小的亮度，使最终的残影参数可以表示第二测试区域的测试参数，使残影参数可以表示第二测试区域的结果，从而更加直观的表示第二测试区域残影数据的变化值。

为了进一步提高残影测试分析结果的准确性，例如，如图3所示，在控制显示步骤中，在t2～t3时间之后，还包括：在t3～t4时间内，控制第一测试区域显示第一画面，控制第二测试区域显示第三画面，在t4～t5时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面。

即，S320、控制显示步骤为：在t0～t1时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面，在t1～t2时间内，控制第一测试区域显示第一画面，控制第二测试区域显示第二画面，在t2～t3时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面，在t3～t4时间内，控制第一测试区域显示第一画面，控制第二测试区域显示第三画面，在t4～t5时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面。

S340、数据采集步骤为：采集t0～t5时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t0～t5时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，测试参数Y2与亮度L1呈线性关系。

S360、计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t0～t5时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。

由于t3～t4时间内及t4～t5时间内使第二测试区域从显示第三画面切换到显示第一画面，在显示第三画面切换到显示第一画面的过程中，在一定时间内，显示面板上会残留第三画面的图像，出现残影，因此，相当于增加了一次残影情况的测试，且第一次测试的是从第二画面切换到第一画面的过程中出现的残影，第二次测试的是从第三画面切换到第一画面的过程中出现的残影，通过分析两次不同画面切换过程中出现的残影，进一步提高残影测试分析结果的准确性。例如，根据残影参数C随时间的变化值C(t)做出绘图图像可以分析出残影的严重程度以及残影的时间，从而判断出残影的等级。例如，如图8所示，其为本实施例中残影参数C随时间的变化关系图。

为了进一步提高残影测试分析结果的准确性，例如，如图4所示，在控制显示步骤中，在t1～t2时间内之前，还包括：在t0～t1时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面；在t2～t3时间之后，还包括：在t3～t4时间内，控制第一测试区域显示第一画面，控制第二测试区域显示第三画面，在t4～t5时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面。

即，S420、控制显示步骤为：在t0～t1时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面，在t1～t2时间内，控制第一测试区域显示第一画面，控制第二测试区域显示第二画面，在t2～t3时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面，在t3～t4时间内，控制第一测试区域显示第一画面，控制第二测试区域显示第三画面，在t4～t5时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面。

S440、数据采集步骤为：采集t0～t5时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t0～t5时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，测试参数Y2与亮度L1呈线性关系；

S460、计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，K为测试参数与亮度的比值，计算出在t0～t5时间内的去除噪音后的残影参数随时间的变化值C(t)的值。

例如，根据残影参数C随时间的变化值C(t)做出绘图图像可以分析出残影的严重程度以及残影的时间，从而判断出残影的等级。例如，如图9所示，其为本实施例中残影参数随时间的变化关系图。

为了更有利于对残影进行观察，例如，第一画面为灰色画面，第二画面为黑色画面，第三画面为白色画面。又例如，第一画面为灰色画面，第二画面为白色画面，第三画面为黑色画面。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种显示装置残影的测试方法，其中，所述显示装置的显示区域至少包括第一测试区域和第二测试区域，其特征在于，所述显示装置残影的测试方法包括：

控制显示步骤：在t1～t2时间内，控制所述第一测试区域显示第一画面，控制所述第二测试区域显示第二画面，在t2～t3时间内，控制所述第一测试区域和所述第二测试区域均显示第一画面；

数据采集步骤：分别采集t1～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t1～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，所述测试参数与亮度呈线性关系；

计算结果步骤：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t1～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。

2.根据权利要求1所述的显示装置残影的测试方法，其特征在于，所述测试参数Y2为亮度L2，K＝1。

3.根据权利要求1所述的显示装置残影的测试方法，其特征在于，所述测试参数Y2为电流I2，

4.根据权利要求1所述的显示装置残影的测试方法，其特征在于，在控制显示步骤中，在t1～t2时间内之前，还包括：

在t0～t1时间内，控制所述第一测试区域和所述第二测试区域均显示第一画面；

数据采集步骤为：采集t0～t3时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t0～t3时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，所述测试参数与亮度呈线性关系；

计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t0～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。

5.根据权利要求4所述的显示装置残影的测试方法，其特征在于，所述测试参数Y2为电流，

6.根据权利要求4所述的显示装置残影的测试方法，其特征在于，计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)+KB，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t1～t3时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。

7.根据权利要求1所述的显示装置残影的测试方法，其特征在于，在控制显示步骤中，在t2～t3时间之后，还包括：

在t3～t4时间内，控制第一测试区域显示第一画面，控制第二测试区域显示第三画面，在t4～t5时间内，控制第一测试区域和第二测试区域均显示第一画面；

数据采集步骤为：采集t0～t5时间内第一测试区域的亮度L1随时间的变化值L1(t)、t0～t5时间内第二测试区域的测试参数Y2随时间的变化值Y2(t)，其中，所述测试参数Y2与亮度呈线性关系；

计算结果步骤为：根据C(t)＝Y2(t)-K*L1(t)，其中，当测试参数Y2为亮度L2时，K＝1，当测试参数Y2不为亮度L2时，K为所述第二测试区域显示第一画面时间内的测试参数Y2与亮度L1的比值，计算出在t0～t5时间内的去除噪音后的残影参数C随时间的变化值C(t)的值。

8.根据权利要求1所述的显示装置残影的测试方法，其特征在于，所述第一画面为灰色画面，所述第二画面为黑色画面或白色画面。

9.根据权利要求7所述的显示装置残影的测试方法，其特征在于，所述第一画面为灰色画面，所述第二画面为黑色画面，所述第三画面为白色画面。

10.根据权利要求7所述的显示装置残影的测试方法，其特征在于，所述第一画面为灰色画面，所述第二画面为白色画面，所述第三画面为黑色画面。