CN113963645A - 显示面板的残影测试方法及装置 - Google Patents
显示面板的残影测试方法及装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113963645A CN113963645A CN202111314971.XA CN202111314971A CN113963645A CN 113963645 A CN113963645 A CN 113963645A CN 202111314971 A CN202111314971 A CN 202111314971A CN 113963645 A CN113963645 A CN 113963645A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- sub
- display panel
- regions
- region
- parameter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 186
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 65
- 206010047571 Visual impairment Diseases 0.000 claims description 53
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 21
- 241001270131 Agaricus moelleri Species 0.000 description 15
- 230000008569 process Effects 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 7
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
- G09G2320/0257—Reduction of after-image effects
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
- G09G2320/0271—Adjustment of the gradation levels within the range of the gradation scale, e.g. by redistribution or clipping
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
本申请实施例提供了一种显示面板的残影测试方法及装置，显示面板的显示区域包括至少一个测试区，测试区包括多个子区域，方法包括：在显示面板上显示测试画面，在测试画面中，多个子区域中的预设数量的子区域显示对应数量的中级灰阶画面，中级灰阶画面的灰阶介于显示面板的最大灰阶与最小灰阶之间；在显示面板上显示第一灰阶画面，并采集多个子区域的实际亮度；根据多个子区域的实际亮度和预先确定的多个子区域的初始亮度，确定每个子区域对应的第一残影参数；根据多个子区域的第一残影参数，确定显示面板的残影测试结果。本申请实施例能够提高残影测试结果的准确性。
Description
技术领域
本申请属于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的残影测试方法及装置。
背景技术
显示面板的残影现象是指显示面板在显示前一静态画面持续一段时长后，在显示后一画面时仍然出现前一静态画面的影像或轮廓的现象。残影现象严重的显示面板，其显示效果较差。因此，对显示面板的残影水平进行测试，对显示面板质量的评价和生产良率的改善具有重要的意义。
然而，经本申请的发明人发现，现有的显示面板的残影测试方案存在残影测试结果不准确的问题。
发明内容
本申请实施例提供一种显示面板的残影测试方法及装置，能够解决残影测试结果不准确的问题。
第一方面，本申请实施例提供一种显示面板的残影测试方法，显示面板的显示区域包括至少一个测试区，测试区包括多个子区域，方法包括：在显示面板上显示测试画面，在测试画面中，多个子区域中的预设数量的子区域显示对应数量的中级灰阶画面，中级灰阶画面的灰阶介于显示面板的最大灰阶与最小灰阶之间；在显示面板上显示第一灰阶画面，并采集多个子区域的实际亮度；根据多个子区域的实际亮度和预先确定的多个子区域的初始亮度，确定每个子区域对应的第一残影参数；根据多个子区域的第一残影参数，确定显示面板的残影测试结果。
在一些实施例中，中级灰阶画面的数量为多个，其中一个中级灰阶画面的灰阶与第一灰阶画面的灰阶相同。
这样，由于一个子区域显示的中级灰阶画面的灰阶与第一灰阶画面的灰阶相同，所以当切换到显示第一灰阶画面时，该子区域的灰阶不发生变化，因此该子区域可以作为参考区域，利用该子区域的亮度或第一残影参数修正显示面板中其他子区域的亮度或第一残影参数，确保残影测试的稳定性和准确性。
在一些实施例中，中级灰阶画面的数量大于或等于4。
经过大量验证，在中级灰阶画面的数量大于或等于4时，基本可以满足5英寸以上的各个尺寸的显示面板的测试要求，为残影测试提供便利的参考。
在一些实施例中，在测试画面中，至少一个子区域显示白色画面，至少一个子区域显示黑色画面。
这样，由于测试画面中还包括白色画面和黑色画面，而白色画面或黑色画面与中级灰阶画面之间的对比相较于中级灰阶画面彼此之间的对比更加明显，所以更容易进行残影测试。此外，可以使得测试画面中的元素更加丰富，更好的模拟真实的使用场景，更好的体现黑白，黑灰，白灰，灰阶与灰阶交界处所带来的问题，进一步保证残影测试的准确性。
在一些实施例中，在显示面板上显示测试画面之前，方法还包括：在显示面板上显示初始灰阶画面；采集多个子区域的初始亮度。
这样，先在显示面板上显示初始灰阶画面，可以使得显示面板在显示测试画面之前各子区域的显示灰阶均一，避免多余因素对测试结果造成不良影响，提高残影测试的准确性和可靠性。
第二方面，本申请实施例提供了一种显示面板的残影测试装置，显示面板的显示区域包括至少一个测试区，测试区包括多个子区域，装置包括：画面控制模块，用于在显示面板上显示测试画面，在测试画面中，多个子区域中的预设数量的子区域显示对应数量的中级灰阶画面，中级灰阶画面的灰阶介于显示面板的最大灰阶与最小灰阶之间；亮度采集模块，用于在显示面板上显示第一灰阶画面，并采集多个子区域的实际亮度；第一确定模块，用于根据多个子区域的实际亮度和预先确定的多个子区域的初始亮度，确定每个子区域对应的第一残影参数；第二确定模块，用于根据多个子区域的第一残影参数，确定显示面板的残影测试结果。
本申请实施例的显示面板的残影测试方法及装置，显示面板的显示区域包括至少一个测试区，测试区包括多个子区域，方法包括：在显示面板上显示测试画面，在测试画面中，多个子区域中的预设数量的子区域显示对应数量的中级灰阶画面，中级灰阶画面的灰阶介于显示面板的最大灰阶与最小灰阶之间；在显示面板上显示第一灰阶画面，并采集多个子区域的实际亮度；根据多个子区域的实际亮度和预先确定的多个子区域的初始亮度，确定每个子区域对应的第一残影参数；根据多个子区域的第一残影参数，确定显示面板的残影测试结果。本申请实施例的测试画面中增设有预设数量的中级灰阶画面，该预设数量的中级灰阶画面可以使得测试画面中的线条、灰阶等画面元素更加丰富，使得测试画面能够更好的模拟显示面板真实的使用场景，进而通过该测试画面得到的残影测试结果更加接近显示面板实际使用过程中的实际残影结果，提高残影测试结果的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为相关技术使用的棋盘格画面的示意图；
图2为本申请一实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
图3为本申请一实施例提供的一种显示面板的残影测试方法的流程示意图；
图4为本申请一实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；
图5为本申请一实施例提供的又一种显示面板的结构示意图；
图6为本申请一实施例提供的另一种显示面板的残影测试方法的流程示意图；
图7为本申请一实施例提供的显示面板的残影测试方法中步骤S103的流程示意图；
图8为本申请一实施例提供的显示面板的残影测试方法中步骤S104的流程示意图；
图9为本申请一实施例提供的一种显示面板的残影测试装置的结构示意图；
图10为本申请一实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将详细描述本申请的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本申请进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅意在解释本申请，而不是限定本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本申请的示例来提供对本申请更好的理解。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
在阐述本申请实施例所提供的技术方案之前，为了便于对本申请实施例理解，本申请首先对现有技术中存在的问题进行具体说明：
如图1所示，目前显示面板的残影测试所使用的测试画面为黑白棋盘格画面，如5×8棋盘格、8×8棋盘格。然而，经本申请的发明人发现，目前利用黑白棋盘格画面进行残影测试方式，得到的残影评估结果并不准确，并不能较好的反映显示面板在实际使用过程中的残影程度。对此，发明人对于导致上述问题的根因进行了研究和分析，最终发现导致上述问题的根因在于：现有方案的残影评估结果是利用0灰阶(黑色画面)和255灰阶(白色画面)得到的，而显示面板在实际使用过程中通常不会以0灰阶或255灰阶显示，而是一般以中级灰阶画面显示，所以现有方案得到的残影评估结果与显示面板在实际使用过程中的实际残影结果有偏差，并不能较好的反映显示面板在实际使用过程中的残影程度。
鉴于发明人的上述研究发现，本申请实施例提供了一种显示面板的残影测试方法及装置，能够解决相关技术中存在的残影测试结果不准确的技术问题。
本申请实施例的技术构思在于：相较于棋盘格画面，本申请实施例的测试画面中增设有预设数量的中级灰阶画面，该预设数量的中级灰阶画面可以使得测试画面中的线条、灰阶等画面元素更加丰富，使得测试画面能够更好的模拟显示面板真实的使用场景，进而通过该测试画面得到的残影测试结果更加接近显示面板实际使用过程中的实际残影结果，提高残影测试结果的准确性。
下面首先对本申请实施例所提供的显示面板的残影测试方法进行介绍。
如图2所示，可以预先将显示面板20的显示区域划分为至少一个测试区21，每个测试区21包括多个子区域211。需要说明的是，可以将显示面板20的显示区域划分为一个测试区21，也可以将显示面板20的显示区域划分为多个测试区21，本申请实施例对此不作限定。同样地，每个测试区21中的子区域211的数量、面积和形状可以根据实际情况灵活设定，本申请实施例对此不作限定。
如图3所示，本申请实施例提供的显示面板的残影测试方法可以包括以下步骤S101、S102、S103和S104。
S101、在显示面板上显示测试画面，在测试画面中，多个子区域中的预设数量的子区域显示对应数量的中级灰阶画面。
容易理解的是，中级灰阶画面的灰阶介于显示面板的最大灰阶与最小灰阶之间。以最大灰阶为255灰阶、最小灰阶为0灰阶为例，中级灰阶画面的灰阶例如可以介于0灰阶与255灰阶之间，如32灰阶、64灰阶或132灰阶。相较于最大灰阶和最小灰阶，中级灰阶画面的灰阶更加接近显示面板在实际使用场景中的灰阶，由此得到的残影测试结果更加接近显示面板实际使用过程中的实际残影结果，因此可以提高残影测试结果的准确性。
结合图2所示的显示面板20，需要说明的是，在测试区21中，可以是任意数量的子区域211显示中级灰阶画面，具体数量可以根据实际情况灵活设定，本申请实施例对此不作限定。容易理解的是，一个子区域211显示一个中级灰阶画面，即M个子区域211显示M个中级灰阶画面，M为正整数。在本申请实施例中，不同子区域211显示的中级灰阶画面的灰阶可以不同。示例性地，不同中级灰阶画面的灰阶为不同预设比例与灰阶总数量Z的乘积。例如，中级灰阶画面的灰阶可以包括(1/16)*Z、(1/8)*Z、(1/4)*Z或(1/2)*Z。容易理解的是，当显示面板20的灰阶为n比特时，灰阶总数量为2的n次方，n为正整数。例如，当显示面板20的灰阶为8比特时，灰阶总数量为28＝256。
S102、在显示面板上显示第一灰阶画面，并采集多个子区域的实际亮度。
第一灰阶画面的灰阶可以是介于显示面板的最大灰阶与最小灰阶之间的中级灰阶，如48灰阶或128灰阶等，具体可以根据实际情况灵活设定，本申请实施例对此不作限定。
在S102中，在显示面板20上显示第一灰阶画面之后，可以实时或定时采集测试区21中各个子区域211的亮度，为了便于区分初始亮度，此时采集的亮度称作实际亮度。
S103、根据多个子区域的实际亮度和预先确定的多个子区域的初始亮度，确定每个子区域对应的第一残影参数。
在S103中，根据采集的测试区21中的多个子区域211的实际亮度和预先确定的测试区21中的多个子区域211的初始亮度，可以确定出每个子区域211对应的第一残影参数。第一残影参数可以理解为能够客观反映残影程度的参数。
S104、根据多个子区域的第一残影参数，确定显示面板的残影测试结果。
在获得多个子区域211的第一残影参数之后，可以根据多个子区域211的第一残影参数，确定出显示面板的残影测试结果。
上述各步骤S101、S102、S103和S104的具体实现方式将在下文中进行详细描述。
本申请实施例的显示面板的残影测试方法，显示面板的显示区域包括至少一个测试区，测试区包括多个子区域，方法包括：在显示面板上显示测试画面，在测试画面中，多个子区域中的预设数量的子区域显示对应数量的中级灰阶画面，中级灰阶画面的灰阶介于显示面板的最大灰阶与最小灰阶之间；在显示面板上显示第一灰阶画面，并采集多个子区域的实际亮度；根据多个子区域的实际亮度和预先确定的多个子区域的初始亮度，确定每个子区域对应的第一残影参数；根据多个子区域的第一残影参数，确定显示面板的残影测试结果。本申请实施例的测试画面中增设有预设数量的中级灰阶画面，该预设数量的中级灰阶画面可以使得测试画面中的线条、灰阶等画面元素更加丰富，使得测试画面能够更好的模拟显示面板真实的使用场景，进而通过该测试画面得到的残影测试结果更加接近显示面板实际使用过程中的实际残影结果，提高残影测试结果的准确性。
为了便于理解，在介绍各步骤S101、S102、S103和S104的具体实现方式之前，先结合本申请的一些实施例对于测试画面进行介绍。
根据本申请的一些实施例，可选地，测试画面中的中级灰阶画面的数量为多个，并且，其中一个中级灰阶画面的灰阶与第一灰阶画面的灰阶相同。
举例而言，例如测试区21中的M个子区域211显示M个中级灰阶画面，M大于1且为整数。在这M个子区域211中，有一个子区域211显示的中级灰阶画面的灰阶与第一灰阶画面的灰阶相同，如均为48灰阶或128灰阶或其他灰阶。
这样，由于一个子区域211显示的中级灰阶画面的灰阶与第一灰阶画面的灰阶相同，所以当切换到显示第一灰阶画面时，该子区域211的灰阶不发生变化，因此该子区域211可以作为参考区域，利用该子区域211的亮度或第一残影参数修正显示面板中其他子区域的亮度或第一残影参数，确保残影测试的稳定性和准确性。
根据本申请的一些实施例，可选地，测试画面中的中级灰阶画面的数量大于或等于4。
为了便于为残影测试提供便利的参考，本申请的发明人对于测试画面中的中级灰阶画面的数量进行了反复验证，最终经过大量验证后发现，在中级灰阶画面的数量大于或等于4时，基本可以满足5英寸以上的各个尺寸的显示面板的测试要求，从而为其他测试者提供便利的参考。当然，测试画面中的中级灰阶画面的数量可以根据实际情况灵活调整，例如随着显示面板的尺寸的增加，可以增加中级灰阶画面的数量，如5,6,7,8……，本申请实施例对此不作限定。
根据本申请的一些实施例，可选地，如图4所示，在测试画面中，至少一个子区域211显示白色画面，至少一个子区域211显示黑色画面。
需要说明的是，可以是任意位置和/或任意数量的子区域211显示白色画面和黑色画面，本申请实施例对此不作限定。
这样，由于测试画面中还包括白色画面和黑色画面，而白色画面或黑色画面与中级灰阶画面之间的对比相较于中级灰阶画面彼此之间的对比更加明显，所以更容易进行残影测试。此外，还可以使得测试画面中的元素更加丰富，更好的模拟显示面板真实的使用场景，更好的体现黑白，黑灰，白灰，灰阶与灰阶交界处所带来的问题，进一步保证残影测试的准确性。
根据本申请的一些实施例，可选地，如图5所示，测试区21可以包括第一子区域A1、第二子区域B、第三子区域A2和多个第四子区域C1～Cn，n为大于1的整数。第一子区域A1、第二子区域B和第三子区域A2中的第一数量的子区域显示白色画面，第二数量的子区域显示黑色画面，多个第四子区域C1～Cn显示中级灰阶画面。其中，第一数量与第二数量之和为3，第一数量和第二数量中的一个为1，另一个为2。多个第四子区域C1～Cn的数量大于或等于2，可选的数量大于或等于4。
继续参见图5，可选地，多个第四子区域C1～Cn相邻，且多个第四子区域C1～Cn的面积总和与第一子区域A1、第二子区域B和第三子区域A2中的任意一个的面积相同。例如，第一子区域A1、第二子区域B和第三子区域A2的面积均为S，而多个第四子区域C1～Cn的面积总和等于S。以显示面板20的显示区域仅包括一个测试区21为例，第一子区域A1、第二子区域B和第三子区域A2中的每个可以各占整个显示区域的四分之一，多个第四子区域C1～Cn的总和占整个显示区域的四分之一。
可选地，多个第四子区域C1～Cn可以沿第一方向上延伸且沿第二方向依次排布，第一方向与第二方向垂直。第一方向可以为列方向(图5中的Y方向)，也可以为行方向(X方向)。容易理解的是，当第一方向为列方向时，第二方向为行方向；当第一方向为行方向时，第二方向为列方向。在第一方向上，第一子区域A1与多个第四子区域C1～Cn相邻。在第二方向上，第三子区域A2与多个第四子区域C1～Cn中的一个第四子区域C1相邻。第二子区域B在第一方向上与第三子区域A2相邻，第二子区域B在第二方向上与第一子区域A1相邻。第一子区域A1和第三子区域A2均可以显示白色画面，第二子区域B显示黑色画面。
这样，可以在白色画面与多个第四子区域C1～Cn显示的各个中级灰阶画面之间形成交界，有利于检测白色画面与各个中级灰阶画面交界处的残影变化。并且，由于白色画面衰减速度比黑色画面衰减速度快，所以在测试时白色画面与中级灰阶画面之间的对比更明显些，更加容易进行残影测试。
下面结合本申请的一些实施例对于各步骤S101、S102、S103和S104的具体实现方式进行详细说明。
如图6所示，根据本申请的一些实施例，可选地，在S101之前，方法还可以包括以下步骤S001和S002。
S001、在显示面板上显示初始灰阶画面。
需要说明的是，初始灰阶画面的灰阶可以是任意灰阶，具体可以根据实际情况灵活设定，本申请实施例对此不作限定。可选地，初始灰阶画面的灰阶可以与第一灰阶画面的灰阶相同。例如，初始灰阶画面的灰阶可以包括48灰阶或128灰阶。
这样，先在显示面板上显示初始灰阶画面，可以使得显示面板在显示测试画面之前各子区域的显示灰阶均一，避免多余因素对测试结果造成不良影响，提高残影测试的准确性和可靠性。
S002、采集多个子区域的初始亮度。
具体地，可以通过相机等光学采集设备采集测试区21中各个子区域211的亮度，得到各个子区域211的初始亮度，在后续计算第一残影参数时使用。可选地，相机的采集一次图像(亮度)所花费的时间小于1秒，从而可以快速抓拍到残影的变化，保证残影测试的有效性和准确性。相机的采集一次图像所花费的时间至少可以包括控制器向相机发生采集指令到相机接收采集指令并完成图像采集的时间，这段时间中还包含通信延时和相机的曝光时间。可选地，相机摄像头的分辨率大于显示面板20的分辨率，从而保证测试区21中各个子区域211的亮度的采集效果。即，相机摄像头的分辨率大于或等于显示面板20的分辨率的1倍以上。
在S101中，在显示面板20上显示测试画面，在测试画面中，多个子区域211中的预设数量的子区域211显示对应数量的中级灰阶画面。如前所述，在测试区21中，可以是任意数量的子区域211显示中级灰阶画面，如4个子区域(4个第四子区域C1～C4)显示4个中级灰阶画面。示例性地，测试区21例如包括4个第四子区域C1～C4。第四子区域C1显示的中级灰阶画面的灰阶为(1/16)*256＝16灰阶，第四子区域C2显示的中级灰阶画面的灰阶为(1/8)*256＝32灰阶，第四子区域C3显示的中级灰阶画面的灰阶为(1/4)*256＝64灰阶，第四子区域C4显示的中级灰阶画面的灰阶为(1/2)*256＝128灰阶。
以上为S101的具体实现方式，下面介绍S102的具体实现方式。
在S102中，在显示面板20上显示第一灰阶画面，并通过相机等光学采集设备采集测试区21中各个子区域211的亮度，得到测试区21中各个子区域211的实际亮度。
这里，需要说明的是，可以是在显示面板20上切换显示第一灰阶画面的起始时刻采集多个子区域211的实际亮度，也可以是在起始时刻又经过预设时长之后采集多个子区域211的实际亮度，还可以是采集多个时刻的各个子区域211的实际亮度，本申请实施例对此不作限定。
以上为S102的具体实现方式，下面介绍S103的具体实现方式。
如图7所示，根据本申请的一些实施例，可选地，S103、根据多个子区域的实际亮度和预先确定的多个子区域的初始亮度，确定每个子区域对应的第一残影参数，具体可以包括以下步骤S1031和S1032。
S1031、对于任意第i个子区域，获取第i个子区域的至少一个子残影参数。
其中，第i个子区域可以理解为测试区21中的任意子区域，即对于测试区21中的每个子区域211，获取每个子区域211的至少一个子残影参数。每个子残影参数根据第i个子区域的初始亮度、第i个子区域的实际亮度、第j个子区域的初始亮度和第j个子区域的实际亮度确定，第j个子区域为多个子区域中除第i个子区域之外的任意一个子区域，i和j均为正整数。
举例而言，图5中的第四子区域C1的其中一个子残影参数可以根据第四子区域C1的初始亮度、第四子区域C1的实际亮度、第一子区域A1的初始亮度和第一子区域A1的实际亮度确定。
在一些实施例中，可以依据以下表达式确定第i个子区域的子残影参数：
其中，IS表示第i个子区域的子残影参数；L(0)i表示第i个子区域的初始亮度，L(t)i表示第i个子区域的实际亮度，L(0)j表示第j个子区域的初始亮度，L(t)j表示第j个子区域的实际亮度。
例如，通过上述步骤S1031可以得到第一子区域A1的至少一个子残影参数、第二子区域B的至少一个子残影参数、第三子区域A2的至少一个子残影参数以及每个第四子区域Ci的至少一个子残影参数，Ci为C1～Cn中的任意一个。
S1032、根据第i个子区域的至少一个子残影参数，确定第i个子区域对应的第一残影参数。
当第i个子区域只有一个子残影参数时，则将第i个子区域的子残影参数作为第i个子区域对应的第一残影参数。当第i个子区域有多个子残影参数时，则将第i个子区域的多个子残影参数中的数值最大的子残影参数作为第i个子区域对应的第一残影参数。
以上为S103的具体实现方式，下面介绍S104的具体实现方式。
如图8所示，根据本申请的一些实施例，可选地，S104、根据多个子区域的第一残影参数，确定显示面板的残影测试结果，具体可以包括步骤S1041和S1042。
S1041、根据多个子区域的第一残影参数，确定显示面板的第二残影参数。
具体地，由于测试区21包括多个子区域211，而每个子区域211均有一个对应的第一残影参数，所以多个子区域211共有多个第一残影参数。可选地，可以将多个子区域211对应的多个第一残影参数中数值最大的第一残影参数作为显示面板的第二残影参数。
S1042、根据显示面板的第二残影参数，确定显示面板的残影测试结果。
具体地，在显示面板20上切换至显示第一灰阶画面时起至残影消失，会持续一段时间。在这段时间内，可以实时或每个预设时长采集多个子区域211的实际亮度，得到多个时刻的多个子区域211的实际亮度。然后，根据多个时刻的多个子区域211的实际亮度，得到显示面板在多个时刻对应的第二残影参数。最后，根据显示面板在多个时刻对应的第二残影参数，确定显示面板的残影测试结果。
在一些实施例中，可以通过第一方式确定显示面板的残影测试结果，第一方式可以包括：从在显示面板上显示第一灰阶画面开始计时，持续获得显示面板在各时刻对应的第二残影参数；根据显示面板在各时刻对应的第二残影参数得到残影曲线，并将残影曲线作为残影测试结果。
在另一些实施例中，可以通过第二方式确定显示面板的残影测试结果，第二方式可以包括：从在显示面板上显示第一灰阶画面开始计时，持续获得显示面板的第二残影参数并与预设阈值比对，直至第二残影参数降低至预设阈值；将降低至预设阈值的第二残影参数对应的时刻作为残影测试结果。预设阈值的大小可以根据实际情况灵活设定，本申请实施例对此不作限定。
基于上述实施例提供的显示面板的残影测试方法，相应地，本申请还提供了显示面板的残影测试装置的具体实现方式。请参见以下实施例。
如图9所示，本申请实施例提供的显示面板的残影测试装置900包括以下模块：
画面控制模块901，用于在显示面板上显示测试画面，在测试画面中，多个子区域中的预设数量的子区域显示对应数量的中级灰阶画面，中级灰阶画面的灰阶介于显示面板的最大灰阶与最小灰阶之间；
亮度采集模块902，用于在显示面板上显示第一灰阶画面，并采集多个子区域的实际亮度；
第一确定模块903，用于根据多个子区域的实际亮度和预先确定的多个子区域的初始亮度，确定每个子区域对应的第一残影参数；
第二确定模块904，用于根据多个子区域的第一残影参数，确定显示面板的残影测试结果。
本申请实施例的显示面板的残影测试装置，显示面板的显示区域包括至少一个测试区，测试区包括多个子区域，画面控制模块901用于在显示面板上显示测试画面，在测试画面中，多个子区域中的预设数量的子区域显示对应数量的中级灰阶画面，中级灰阶画面的灰阶介于显示面板的最大灰阶与最小灰阶之间；亮度采集模块902用于在显示面板上显示第一灰阶画面，并采集多个子区域的实际亮度；第一确定模块903用于根据多个子区域的实际亮度和预先确定的多个子区域的初始亮度，确定每个子区域对应的第一残影参数；第二确定模块904用于根据多个子区域的第一残影参数，确定显示面板的残影测试结果。本申请实施例的测试画面中增设有预设数量的中级灰阶画面，该预设数量的中级灰阶画面可以使得测试画面中的线条、灰阶等画面元素更加丰富，使得测试画面能够更好的模拟显示面板真实的使用场景，进而通过该测试画面得到的残影测试结果更加接近显示面板实际使用过程中的实际残影结果，提高残影测试结果的准确性。
在一些实施例中，中级灰阶画面的数量为多个，其中一个中级灰阶画面的灰阶与第一灰阶画面的灰阶相同。
在一些实施例中，中级灰阶画面的数量大于或等于4。
在一些实施例中，在测试画面中，至少一个子区域显示白色画面，至少一个子区域显示黑色画面。
在一些实施例中，测试区包括第一子区域、第二子区域、第三子区域和多个第四子区域；第一子区域、第二子区域和第三子区域中的第一数量的子区域显示白色画面，第二数量的子区域显示黑色画面；多个第四子区域显示中级灰阶画面。
在一些实施例中，多个第四子区域的面积总和与第一子区域、第二子区域和第三子区域中的任意一个的面积相同。
在一些实施例中，多个第四子区域沿第一方向上延伸且沿第二方向依次排布，第一方向与第二方向垂直；在第一方向上，第一子区域与多个第四子区域相邻；在第二方向上，第三子区域与多个第四子区域中的一个第四子区域相邻；第一子区域和第三子区域均显示白色画面。
在一些实施例中，显示面板的残影测试装置900还可以包括：初始亮度采集模块，用于在显示面板上显示初始灰阶画面；采集多个子区域的初始亮度。
在一些实施例中，第一确定模块903具体用于对于任意第i个子区域，获取第i个子区域的至少一个子残影参数，每个子残影参数根据第i个子区域的初始亮度、第i个子区域的实际亮度、第j个子区域的初始亮度和第j个子区域的实际亮度确定，第j个子区域为多个子区域中除第i个子区域之外的任意一个子区域，i和j均为正整数；根据第i个子区域的至少一个子残影参数，确定第i个子区域对应的第一残影参数。
在一些实施例中，第一确定模块903具体用于将第i个子区域的至少一个子残影参数中的数值最大的子残影参数作为第i个子区域对应的第一残影参数。
在一些实施例中，第一确定模块903具体用于依据以下表达式确定第i个子区域的子残影参数：
其中，IS表示第i个子区域的子残影参数；L(0)i表示第i个子区域的初始亮度，L(t)i表示第i个子区域的实际亮度，L(0)j表示第j个子区域的初始亮度，L(t)j表示第j个子区域的实际亮度。
在一些实施例中，第二确定模块904具体用于根据多个子区域的第一残影参数，确定显示面板的第二残影参数；根据显示面板的第二残影参数，确定显示面板的残影测试结果。
在一些实施例中，第二确定模块904具体用于将多个子区域对应的多个第一残影参数中数值最大的第一残影参数作为显示面板的第二残影参数。
在一些实施例中，第二确定模块904具体用于通过以下第一方式或者第二方式确定显示面板的残影测试结果；第一方式包括：从在显示面板上显示第一灰阶画面开始计时，持续获得显示面板在各时刻对应的第二残影参数；根据显示面板在各时刻对应的第二残影参数得到残影曲线，并将残影曲线作为残影测试结果；第二方式包括：从在显示面板上显示第一灰阶画面开始计时，持续获得显示面板的第二残影参数并与预设阈值比对，直至第二残影参数降低至预设阈值；将降低至预设阈值的第二残影参数对应的时刻作为残影测试结果。
图9所示装置中的各个模块/单元具有实现上述方法实施例中各个步骤的功能，并能达到其相应的技术效果，为简洁描述，在此不再赘述。
基于上述实施例提供的显示面板的残影测试方法，相应地，本申请还提供了电子设备的具体实现方式。请参见以下实施例。
图10示出了本申请实施例提供的电子设备的硬件结构示意图。
电子设备可以包括处理器1001以及存储有计算机程序指令的存储器1002。
具体地，上述处理器1001可以包括中央处理器(Central Processing Unit，CPU)，或者特定集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)，或者可以被配置成实施本申请实施例的一个或多个集成电路。
存储器1002可以包括用于数据或指令的大容量存储器。举例来说而非限制，存储器1002可包括硬盘驱动器(Hard Disk Drive，HDD)、软盘驱动器、闪存、光盘、磁光盘、磁带或通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)驱动器或者两个或更多个以上这些的组合。在一个示例中，存储器1002可以包括可移除或不可移除(或固定)的介质，或者存储器1002是非易失性固态存储器。存储器1002可在综合网关容灾设备的内部或外部。
在一个示例中，存储器1002可以是只读存储器(Read Only Memory，ROM)。在一个示例中，该ROM可以是掩模编程的ROM、可编程ROM(PROM)、可擦除PROM(EPROM)、电可擦除PROM(EEPROM)、电可改写ROM(EAROM)或闪存或者两个或更多个以上这些的组合。
存储器1002可以包括只读存储器(ROM)，随机存取存储器(RAM)，磁盘存储介质设备，光存储介质设备，闪存设备，电气、光学或其他物理/有形的存储器存储设备。因此，通常，存储器包括一个或多个编码有包括计算机可执行指令的软件的有形(非暂态)计算机可读存储介质(例如，存储器设备)，并且当该软件被执行(例如，由一个或多个处理器)时，其可操作来执行参考根据本申请的一方面的方法所描述的操作。
处理器1001通过读取并执行存储器1002中存储的计算机程序指令，以实现上述方法实施例中的方法/步骤S101至S104，并达到图3所示实例执行其方法/步骤达到的相应技术效果，为简洁描述在此不再赘述。
在一个示例中，电子设备还可包括通信接口1003和总线1010。其中，如图10所示，处理器1001、存储器1002、通信接口1003通过总线1010连接并完成相互间的通信。
通信接口1003，主要用于实现本申请实施例中各模块、装置、单元和/或设备之间的通信。
总线1010包括硬件、软件或两者，将电子设备的部件彼此耦接在一起。举例来说而非限制，总线可包括加速图形端口(Accelerated Graphics Port，AGP)或其他图形总线、增强工业标准架构(Extended Industry Standard Architecture，EISA)总线、前端总线(Front Side Bus，FSB)、超传输(Hyper Transport，HT)互连、工业标准架构(IndustryStandard Architecture，ISA)总线、无限带宽互连、低引脚数(LPC)总线、存储器总线、微信道架构(MCA)总线、外围组件互连(PCI)总线、PCI-Express(PCI-X)总线、串行高级技术附件(SATA)总线、视频电子标准协会局部(VLB)总线或其他合适的总线或者两个或更多个以上这些的组合。在合适的情况下，总线1010可包括一个或多个总线。尽管本申请实施例描述和示出了特定的总线，但本申请考虑任何合适的总线或互连。
另外，结合上述实施例中的显示面板的残影测试方法，本申请实施例可提供一种计算机可读存储介质来实现。该计算机可读存储介质上存储有计算机程序指令；该计算机程序指令被处理器执行时实现上述实施例中的任意一种显示面板的残影测试方法。计算机可读存储介质的示例包括非暂态计算机可读存储介质，如电子电路、半导体存储器设备、ROM、随机存取存储器、闪存、可擦除ROM(EROM)、软盘、CD-ROM、光盘、硬盘。
需要明确的是，本申请并不局限于上文所描述并在图中示出的特定配置和处理。为了简明起见，这里省略了对已知方法的详细描述。在上述实施例中，描述和示出了若干具体的步骤作为示例。但是，本申请的方法过程并不限于所描述和示出的具体步骤，本领域的技术人员可以在领会本申请的精神后，作出各种改变、修改和添加，或者改变步骤之间的顺序。
以上所述的结构框图中所示的功能块可以实现为硬件、软件、固件或者它们的组合。当以硬件方式实现时，其可以例如是电子电路、专用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit，ASIC)、适当的固件、插件、功能卡等等。当以软件方式实现时，本申请的元素是被用于执行所需任务的程序或者代码段。程序或者代码段可以存储在机器可读介质中，或者通过载波中携带的数据信号在传输介质或者通信链路上传送。“机器可读介质”可以包括能够存储或传输信息的任何介质。机器可读介质的例子包括电子电路、半导体存储器设备、ROM、闪存、可擦除ROM(EROM)、软盘、CD-ROM、光盘、硬盘、光纤介质、射频(RadioFrequency，RF)链路，等等。代码段可以经由诸如因特网、内联网等的计算机网络被下载。
还需要说明的是，本申请中提及的示例性实施例，基于一系列的步骤或者装置描述一些方法或系统。但是，本申请不局限于上述步骤的顺序，也就是说，可以按照实施例中提及的顺序执行步骤，也可以不同于实施例中的顺序，或者若干步骤同时执行。
上面参考根据本申请的实施例的方法、装置(系统)和计算机程序产品的流程图和/或框图描述了本申请的各方面。应当理解，流程图和/或框图中的每个方框以及流程图和/或框图中各方框的组合可以由计算机程序指令实现。这些计算机程序指令可被提供给通用计算机、专用计算机、或其它可编程数据处理装置的处理器，以产生一种机器，使得经由计算机或其它可编程数据处理装置的处理器执行的这些指令使能对流程图和/或框图的一个或多个方框中指定的功能/动作的实现。这种处理器可以是但不限于是通用处理器、专用处理器、特殊应用处理器或者现场可编程逻辑电路。还可理解，框图和/或流程图中的每个方框以及框图和/或流程图中的方框的组合，也可以由执行指定的功能或动作的专用硬件来实现，或可由专用硬件和计算机指令的组合来实现。
以上所述，仅为本申请的具体实施方式，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的系统、模块和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。应理解，本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种显示面板的残影测试方法，其特征在于，所述显示面板的显示区域包括至少一个测试区，所述测试区包括多个子区域，所述方法包括：
在所述显示面板上显示测试画面，在所述测试画面中，多个所述子区域中的预设数量的子区域显示对应数量的中级灰阶画面，所述中级灰阶画面的灰阶介于所述显示面板的最大灰阶与最小灰阶之间；
在所述显示面板上显示第一灰阶画面，并采集多个所述子区域的实际亮度；
根据多个所述子区域的实际亮度和预先确定的多个所述子区域的初始亮度，确定每个所述子区域对应的第一残影参数；
根据多个所述子区域的第一残影参数，确定所述显示面板的残影测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述中级灰阶画面的数量为多个，其中一个所述中级灰阶画面的灰阶与所述第一灰阶画面的灰阶相同；
优选地，所述中级灰阶画面的数量大于或等于4。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述测试画面中，至少一个所述子区域显示白色画面，至少一个所述子区域显示黑色画面。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试区包括第一子区域、第二子区域、第三子区域和多个第四子区域；
所述第一子区域、所述第二子区域和所述第三子区域中的第一数量的子区域显示白色画面，第二数量的子区域显示黑色画面；多个所述第四子区域显示所述中级灰阶画面；
优选地，多个所述第四子区域的面积总和与所述第一子区域、所述第二子区域和所述第三子区域中的任意一个的面积相同；
优选地，多个所述第四子区域沿第一方向上延伸且沿第二方向依次排布，所述第一方向与所述第二方向垂直；在所述第一方向上，所述第一子区域与多个所述第四子区域相邻；在所述第二方向上，所述第三子区域与多个所述第四子区域中的一个所述第四子区域相邻；所述第一子区域和所述第三子区域均显示白色画面。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述显示面板上显示测试画面之前，所述方法还包括：
在所述显示面板上显示初始灰阶画面；
采集多个所述子区域的初始亮度。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据多个所述子区域的实际亮度和预先确定的多个所述子区域的初始亮度，确定每个所述子区域对应的第一残影参数，具体包括：
对于任意第i个子区域，获取所述第i个子区域的至少一个子残影参数，每个所述子残影参数根据所述第i个子区域的初始亮度、所述第i个子区域的实际亮度、第j个子区域的初始亮度和所述第j个子区域的实际亮度确定，所述第j个子区域为多个所述子区域中除所述第i个子区域之外的任意一个所述子区域，i和j均为正整数；
根据所述第i个子区域的至少一个子残影参数，确定所述第i个子区域对应的所述第一残影参数；
优选地，所述根据所述第i个子区域的至少一个子残影参数，确定所述第i个子区域对应的所述第一残影参数包括：将所述第i个子区域的至少一个子残影参数中的数值最大的所述子残影参数作为第i个子区域对应的所述第一残影参数。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述每个所述子残影参数根据所述第i个子区域的初始亮度、所述第i个子区域的实际亮度、第j个子区域的初始亮度和所述第j个子区域的实际亮度确定至少一个，具体包括：
依据以下表达式确定所述第i个子区域的至少一个子残影参数：
其中，IS表示所述第i个子区域的子残影参数；L(0)i表示所述第i个子区域的初始亮度，L(t)i表示所述第i个子区域的实际亮度，L(0)j表示第j个子区域的初始亮度，L(t)j表示所述第j个子区域的实际亮度。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据多个所述子区域的第一残影参数，确定所述显示面板的残影测试结果，具体包括：
根据多个所述子区域的第一残影参数，确定所述显示面板的第二残影参数；
根据所述显示面板的第二残影参数，确定所述显示面板的残影测试结果；
优选地，根据多个所述子区域的第一残影参数，确定所述显示面板的第二残影参数包括：将多个所述子区域对应的多个所述第一残影参数中数值最大的所述第一残影参数作为所述显示面板的第二残影参数。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据所述显示面板的第二残影参数，确定所述显示面板的残影测试结果，具体包括：
通过以下第一方式或者第二方式确定所述显示面板的残影测试结果；
所述第一方式包括：从在所述显示面板上显示第一灰阶画面开始计时，持续获得所述显示面板在各时刻对应的所述第二残影参数；根据所述显示面板在各时刻对应的所述第二残影参数得到残影曲线，并将所述残影曲线作为所述残影测试结果；
所述第二方式包括：从在所述显示面板上显示第一灰阶画面开始计时，持续获得所述显示面板的所述第二残影参数并与预设阈值比对，直至所述第二残影参数降低至所述预设阈值；将降低至所述预设阈值的所述第二残影参数对应的时刻作为所述残影测试结果。
10.一种显示面板的残影测试装置，其特征在于，所述显示面板的显示区域包括至少一个测试区，所述测试区包括多个子区域，所述装置包括：
画面控制模块，用于在所述显示面板上显示测试画面，在所述测试画面中，多个所述子区域中的预设数量的子区域显示对应数量的中级灰阶画面，所述中级灰阶画面的灰阶介于所述显示面板的最大灰阶与最小灰阶之间；
亮度采集模块，用于在所述显示面板上显示第一灰阶画面，并采集多个所述子区域的实际亮度；
第一确定模块，用于根据多个所述子区域的实际亮度和预先确定的多个所述子区域的初始亮度，确定每个所述子区域对应的第一残影参数；
第二确定模块，用于根据多个所述子区域的第一残影参数，确定所述显示面板的残影测试结果。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111314971.XA CN113963645B (zh) | 2021-11-08 | 2021-11-08 | 显示面板的残影测试方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111314971.XA CN113963645B (zh) | 2021-11-08 | 2021-11-08 | 显示面板的残影测试方法及装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN113963645A true CN113963645A (zh) | 2022-01-21 |
| CN113963645B CN113963645B (zh) | 2023-12-19 |
Family
ID=79469769
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202111314971.XA Active CN113963645B (zh) | 2021-11-08 | 2021-11-08 | 显示面板的残影测试方法及装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN113963645B (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114442346A (zh) * | 2022-01-25 | 2022-05-06 | 苏州华星光电技术有限公司 | 显示面板的残影计算方法、装置、存储介质及终端设备 |
| CN114459738A (zh) * | 2022-01-25 | 2022-05-10 | Tcl华星光电技术有限公司 | 显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011118361A (ja) * | 2009-10-28 | 2011-06-16 | Nanao Corp | 補正方法、表示装置及びコンピュータプログラム |
| CN103165057A (zh) * | 2013-03-12 | 2013-06-19 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 一种确定显示器残像等级的方法及装置 |
| JP2016180897A (ja) * | 2015-03-24 | 2016-10-13 | セイコーエプソン株式会社 | 電気泳動表示装置の駆動方法、電気泳動表示装置、及び電子機器 |
| KR20170135555A (ko) * | 2016-05-31 | 2017-12-08 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정 표시 장치의 잔상 개선 방법 |
| CN109979385A (zh) * | 2019-05-15 | 2019-07-05 | 昆山国显光电有限公司 | 显示面板的显示驱动方法、显示驱动装置及显示装置 |
| CN110033726A (zh) * | 2019-05-14 | 2019-07-19 | 昆山国显光电有限公司 | 一种显示面板的测试方法 |
| CN111397856A (zh) * | 2020-03-30 | 2020-07-10 | 昆山国显光电有限公司 | 显示面板的残影测试方法、残影测试装置 |
| CN111757097A (zh) * | 2020-06-29 | 2020-10-09 | 歌尔光学科技有限公司 | 检测方法、检测装置及计算机可读存储介质 |
-
2021
- 2021-11-08 CN CN202111314971.XA patent/CN113963645B/zh active Active
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011118361A (ja) * | 2009-10-28 | 2011-06-16 | Nanao Corp | 補正方法、表示装置及びコンピュータプログラム |
| CN103165057A (zh) * | 2013-03-12 | 2013-06-19 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 一种确定显示器残像等级的方法及装置 |
| JP2016180897A (ja) * | 2015-03-24 | 2016-10-13 | セイコーエプソン株式会社 | 電気泳動表示装置の駆動方法、電気泳動表示装置、及び電子機器 |
| KR20170135555A (ko) * | 2016-05-31 | 2017-12-08 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정 표시 장치의 잔상 개선 방법 |
| CN110033726A (zh) * | 2019-05-14 | 2019-07-19 | 昆山国显光电有限公司 | 一种显示面板的测试方法 |
| CN109979385A (zh) * | 2019-05-15 | 2019-07-05 | 昆山国显光电有限公司 | 显示面板的显示驱动方法、显示驱动装置及显示装置 |
| CN111397856A (zh) * | 2020-03-30 | 2020-07-10 | 昆山国显光电有限公司 | 显示面板的残影测试方法、残影测试装置 |
| CN111757097A (zh) * | 2020-06-29 | 2020-10-09 | 歌尔光学科技有限公司 | 检测方法、检测装置及计算机可读存储介质 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 张昕、吴佩雯、肖书、陈琦、邱天、符晓、宁洪龙: "显示驱动芯片原理及发展现状", 液晶与显示, vol. 35, no. 11, pages 1156 - 1167 * |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114442346A (zh) * | 2022-01-25 | 2022-05-06 | 苏州华星光电技术有限公司 | 显示面板的残影计算方法、装置、存储介质及终端设备 |
| CN114459738A (zh) * | 2022-01-25 | 2022-05-10 | Tcl华星光电技术有限公司 | 显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质 |
| CN114442346B (zh) * | 2022-01-25 | 2024-01-12 | 苏州华星光电技术有限公司 | 显示面板的残影计算方法、装置、存储介质及终端设备 |
| CN114459738B (zh) * | 2022-01-25 | 2024-02-02 | Tcl华星光电技术有限公司 | 显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN113963645B (zh) | 2023-12-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN113963645A (zh) | 显示面板的残影测试方法及装置 | |
| US9390475B2 (en) | Backlight detection method and device | |
| CN101398999B (zh) | 显示设备测试装置及方法 | |
| US20190200008A1 (en) | Method and device for testing screen fluency of terminal, and terminal device | |
| US11158053B2 (en) | Image processing method, apparatus and device, and image display method | |
| US11107237B2 (en) | Image foreground detection apparatus and method and electronic device | |
| JP6191517B2 (ja) | 検出装置、検出プログラム、及び検出方法 | |
| CN113299216B (zh) | Gamma调试方法、装置、设备及存储介质 | |
| CN114267316B (zh) | 伽马调试方法、电子设备及计算机可读存储介质 | |
| JP4980486B1 (ja) | 動き画像領域判定装置またはその方法 | |
| JP4659793B2 (ja) | 画像処理装置及び画像処理方法 | |
| CN110376218B (zh) | 显示面板残影检测方法及装置 | |
| EP3840381A1 (en) | Method and device for detecting video scene change, and video acquisition device | |
| CN114882843A (zh) | 显示面板的亮度补偿方法、装置及计算机可读存储介质 | |
| CN114071132B (zh) | 一种信息延时的检测方法、装置、设备及可读存储介质 | |
| US11715425B2 (en) | Display method, display device, display system and storage medium | |
| CN113838428B (zh) | 墨水屏的刷新方法及终端设备 | |
| CN114203090A (zh) | Gamma调试方法、装置及存储介质 | |
| CN108776146B (zh) | 丝印线条的检测方法及装置 | |
| CN112785953B (zh) | 显示面板的寿命测试方法、装置及设备 | |
| JP2017164068A (ja) | 判定装置、分析装置、算出装置、判定方法、分析方法、算出方法、判定プログラム、分析プログラムおよび算出プログラム | |
| US9578315B2 (en) | Method and system for judging in a 3D imaging environment | |
| JP5542981B1 (ja) | 画像処理装置、フレームレートコントロール処理判定装置またはその方法 | |
| TWI843045B (zh) | 影像處理與檢測方法、電腦裝置及儲存介質 | |
| CN114862965A (zh) | 条纹标板中条纹宽度的计算方法、装置、设备及介质 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |