CN114459738B - 显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN114459738B
CN114459738B CN202210086743.XA CN202210086743A CN114459738B CN 114459738 B CN114459738 B CN 114459738B CN 202210086743 A CN202210086743 A CN 202210086743A CN 114459738 B CN114459738 B CN 114459738B
Authority
CN
China
Prior art keywords
display panel
pixel
display
analyzed
test image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202210086743.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN114459738A (zh
Inventor
方松
张晶
邵海兵
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TCL Huaxing Photoelectric Technology Co Ltd
Original Assignee
TCL Huaxing Photoelectric Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TCL Huaxing Photoelectric Technology Co Ltd filed Critical TCL Huaxing Photoelectric Technology Co Ltd
Priority to CN202210086743.XA priority Critical patent/CN114459738B/zh
Publication of CN114459738A publication Critical patent/CN114459738A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN114459738B publication Critical patent/CN114459738B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02—Testing optical properties
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T5/00—Image enhancement or restoration
    • G06T5/70—Denoising; Smoothing
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

本申请公开了一种显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取待分析显示面板预设灰阶下的测试图像；确定所述测试图像中任一预设大小的扫描区域内亮度最大的目标像素点；根据所述测试图像确定所述目标像素点的显示参数；根据所述显示参数分析所述显示面板的显示质量。本申请实施例使用同一测量标准及方式测量分析不同灰阶下或者不同待分析显示面板的显示质量，更加有效和方便地评价一块显示面板的显示质量。

Description

显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质
技术领域
本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
目前Mini/MicroLED被视为是新一代显示技术，在新型显示领域应用广泛，而麻点(可用变异系数表征)是一个用于评价显示画面质量的重要参数，特别是产品在低灰阶下的情况。其中，在一定区域内色彩值相同的多个像素点中，有某些像素点显示出的亮度与其他像素点显示出的亮度相差明显，局部区域内有的像素点很亮，有的不够亮，因此看起来是点状亮暗不均，称之为麻点。由于Mini/MicroLED Panel在不同驱动电路、不同的RGBW灰阶下，所表现的麻点情况不一。因此，如何对显示面板的麻点进行分析评价是亟待解决的问题。
发明内容
本申请实施例提供一种显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质，使用同一测量标准及方式测量分析不同灰阶下或者不同待分析显示面板的显示质量，更加有效和方便地评价一块显示面板的显示质量。
第一方面，本申请实施例提供一种显示面板分析方法，包括：
获取待分析显示面板预设灰阶下的测试图像；
确定所述测试图像中任一预设大小的扫描区域内亮度最大的目标像素点；
根据所述测试图像确定所述目标像素点的显示参数；
根据所述显示参数分析所述待分析显示面板的显示质量。
在一些实施例中，所述获取待分析显示面板预设灰阶下的测试图像，包括：
获取待分析显示面板预设灰阶下的初始图像；
对所述初始图像进行高通滤波去噪得到所述测试图像。
在一些实施例中，所述获取待分析显示面板预设灰阶下的初始图像，包括：
获取所述待分析显示面板的像素间距；
根据所述像素间距确定所述初始图像中相邻像素点之间的像素点间隔数量；
在预设灰阶下根据所述像素点间隔数量控制所述待分析显示面板显示，得到所述初始图像。
在一些实施例中，所述在预设灰阶下根据所述像素点间隔数量控制所述待分析显示面板显示，得到所述初始图像，包括：
若所述像素点间隔数量为零，则在预设灰阶下控制所述待分析显示面板所有像素点点亮，得到所述初始图像。
在一些实施例中，所述在预设灰阶下根据所述像素点间隔数量控制所述待分析显示面板显示，得到所述初始图像，包括：
若所述像素点间隔数量非零，则在预设灰阶下控制所述待分析显示面板的第一像素点点亮，得到预设数量的所述初始图像，相邻的所述第一像素点之间相隔像素点间隔数量的像素点，所述预设数量与所述像素点间隔数量关联。
在一些实施例中，所述确定所述测试图像中任一预设大小的扫描区域内亮度最大的目标像素点，包括：
通过所述预设大小的扫描框逐行逐列扫描所述测试图像的像素点；
获取所述扫描框对应的每一扫描区域内亮度最大的目标像素点。
在一些实施例中，所述目标像素点为扫描区域内亮度极大值对应的像素点，所述根据所述测试图像确定所述目标像素点的显示参数，包括：
根据所述测试图像确定以所述亮度极大值的点为中心预设区域内各个点的亮度信息；
根据所述亮度信息确定所述目标像素点的显示参数。
第二方面，本申请提供一种显示面板分析装置，包括：
信息获取模块，用于获取待分析显示面板预设灰阶下的测试图像；
像素点分析模块，与所述信息获取模块通讯连接，用于确定所述测试图像中任一预设大小的扫描区域内亮度最大的目标像素点；
参数分析模块，与所述像素点分析模块通讯连接，用于根据所述测试图像确定所述目标像素点的显示参数；
面板分析模块，与所述参数分析模块通讯连接，用于根据所述显示参数分析所述待分析显示面板的显示质量。
在一些实施例中，信息获取模块还用于获取待分析显示面板预设灰阶下的初始图像；对所述初始图像进行高通滤波去噪得到所述测试图像。
在一些实施例中，信息获取模块还用于获取所述待分析显示面板的像素间距；根据所述像素间距确定所述初始图像中相邻像素点之间的像素点间隔数量；在预设灰阶下根据所述像素点间隔数量控制所述待分析显示面板显示，得到所述初始图像。
在一些实施例中，信息获取模块还用于若所述像素点间隔数量为零，则在预设灰阶下控制所述待分析显示面板所有像素点点亮，得到所述初始图像。
在一些实施例中，信息获取模块还用于若所述像素点间隔数量非零，则在预设灰阶下控制所述待分析显示面板的第一像素点点亮，得到预设数量的所述初始图像，相邻的所述第一像素点之间相隔像素点间隔数量的像素点，所述预设数量与所述像素点间隔数量关联。
在一些实施例中，像素点分析模块还用于通过所述预设大小的扫描框逐行逐列扫描所述测试图像的像素点；获取所述扫描框对应的每一扫描区域内亮度最大的目标像素点。
在一些实施例中，参数分析模块还用于根据所述测试图像确定以所述亮度极大值的点为中心预设区域内各个点的亮度信息；根据所述亮度信息确定所述目标像素点的显示参数。
第三方面，本申请提供一种电子设备，所述电子设备包括处理器、存储器以及存储于所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序以实现任一项所述的显示面板分析方法中的步骤。
第四方面，本申请提供一种存储介质，所述存储介质中存储若干指令，所述指令用于供控制器执行以实现任一项所述的方法。
本申请实施例提供的显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质，获取待分析显示面板的测试图像以获取待分析显示面板的整面显示信息，通过图像处理算法识别单个目标像素点，计算每个目标像素点的显示参数，最后统计其分布情况，可以较完整的评估整个待分析显示面板的均一性。
附图说明
下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
图1是本申请实施例中显示面板分析方法的流程示意图；
图2是本申请实施例中测量实验平台的示意图；
图3是本申请实施例中待分析显示面板像素点全部点亮的初始图像的示意图；
图4是本申请实施例中待分析显示面板的测试图像的示意图；
图5是本申请实施例中待分析显示面板像素点间隔数量为1点亮的面板示意图；
图6是本申请实施例中待分析显示面板像素点间隔数量为1点亮的初始图像的示意图；
图7是本申请实施例中待分析显示面板像素点间隔数量为3点亮的面板示意图；
图8是本申请实施例中包含若干目标像素点的图像示意图；
图9是本申请实施例中所有的目标像素点的显示参数分布图；
图10是本申请实施例中显示面板分析装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。
请参阅图1，本申请实施例提供一种显示面板分析方法，该方法包括步骤S101～S104，具体如下：
S101，获取待分析显示面板预设灰阶下的测试图像。
具体地，由于Mini/MicroLED显示面板在不同驱动电路、不同的RGBW灰阶下，所表现的麻点情况不一，为了更加有效和方便地评价一块显示面板的显示质量，对显示面板的麻点按照统一标准进行测量分析。
按照图2所示搭建测量实验平台，测量过程中保持测量设备镜头与待分析显示面板垂直，待分析显示面板与实验台平面垂直。测量过程如下：(1)安装三脚架，固定测量设备例如SR5000设备到适合高度及位置，待分析显示面板垂直于地面放置且与测量设备镜头垂直，间距约40cm(可以根据测量设备的测量精度要求进行设置)；(2)若测量设备为SR5000，则打开SR5000配套测量软件，选择“Live View”，将点亮的待分析显示面板置于视野中央，调节镜头焦距，放大图像确认“聚焦”完成；(3)选择“Auto”方式确认聚焦状态是否OK，若无法聚焦，选择“Manual”方式，手动更改曝光时间直到OK为止；(4)选择“Recipe Seting”完成相关设置，添加“Add from Live View”，依次选择所需的测量区域，开始测量；(5)SR5000面量测系统可一次获取整面的亮度信息，测量完成保存.hsm源文件和.csv测量数据文件。需要说明的是，测试在标准暗室内完成，Mini/MicroLED显示面板点亮无明显亮暗线/点、区块mura等缺陷，可在不同灰阶下正常点亮切换RGBW画面。
在不同驱动电路、不同的RGBW灰阶下，所表现的麻点情况不一，因此确定每次测试的预设灰阶，然后在预设灰阶下点亮待分析显示面板获取相应的测试图像。其中，预设灰阶根据测试需求进行设置，本实施例不作具体限定。此外，可以多次选择不同的预设灰阶进行测量。
在一个实施例中，本步骤包括：S201，获取待分析显示面板预设灰阶下的初始图像；S202，对所述初始图像进行高通滤波去噪得到所述测试图像。
具体地，在预设灰阶下点亮待分析显示面板获取相应的初始图像，但是如图3所示，初始图像中存在一些背景噪声，像素点的边界不清晰，因此需要对初始图像预处理例如高通滤波去噪得到如图4所示的测试图像。
在一个实施例中，步骤S201，获取待分析显示面板预设灰阶下的初始图像包括：S301，获取所述待分析显示面板的像素间距；S302，根据所述像素间距确定所述初始图像中相邻像素点之间的像素点间隔数量；S303，在预设灰阶下根据所述像素点间隔数量控制所述待分析显示面板显示，得到所述初始图像。
具体地，由于测量设备的解析度以及精度有限的限制，对于比较小的像素间距的Mini/MicroLED待分析显示面板无法直接实现单像素亮度的测量，即当待分析显示面板所有的像素点均点亮时，无法很好地区分分割相邻的像素点，因此可以采取隔点测量法来解决测量解析度受限的问题。
获取待分析显示面板实际的像素间距，基于测量设备解析度、精度的限制，以及测量结果精度的需求，不同的像素间距对应不同的测量方式，例如可以预先设置映射表，在映射表中像素间距与像素点间隔数量相对应，进一步地，在映射表中像素间距与像素点间隔数量的对应关系之间还可以添加其它的影响因素，例如显示面板类型、测量设备类型等，本实施例不作具体限定。
根据像素间距确定初始图像中相邻像素点之间的像素点间隔数量，像素点间隔数量是确定点亮待分析显示面板时，点亮的相邻像素点之间没有点亮的像素点的数量。如图5所示，点亮的相邻像素点之间间隔一个像素点，对应的像素点间隔数量为1。在预设灰阶下根据像素点间隔数量控制待分析显示面板显示，得到初始图像。
在一个实施例中，步骤S303，在预设灰阶下根据所述像素点间隔数量控制所述待分析显示面板显示，得到所述初始图像包括：S401，若所述像素点间隔数量为零，则在预设灰阶下控制所述待分析显示面板所有像素点点亮，得到所述初始图像。
具体地，如果像素点间隔数量为零，也就是所有的像素点都点亮，相邻的点亮的像素点之间没有间隔未点亮的像素点则在预设灰阶下控制待分析显示面板所有的像素点均点亮，从而得到对应的初始图像。
在一个实施例中，步骤S303，在预设灰阶下根据所述像素点间隔数量控制所述待分析显示面板显示，得到所述初始图像包括：S501，若所述像素点间隔数量非零，则在预设灰阶下控制所述待分析显示面板的第一像素点点亮，得到预设数量的所述初始图像，相邻的所述第一像素点之间相隔像素点间隔数量的像素点，所述预设数量与所述像素点间隔数量关联。
具体地，如果像素点间隔数量不为零，则在预设灰阶下控制待分析显示面板的第一像素点点亮，相邻的第一像素点之间相隔像素点间隔数量的像素点，其中由于点亮的方式有多种，对应的第一像素点有多种类型，因此对应得到预设数量的初始图像，预设数量与像素点间隔数量相关。
例如，像素点间隔数量为1，点亮如图5所示的圆点对应的像素点，进而得到如图6所示的初始图像，图6所示对应点亮的为第一像素点，但是如果需要分析所有的像素点，则还需要获取三幅初始图像，其一是将图5所示的圆点沿行移动一个像素点的距离，列的方向不调整；其二是将图5所示的圆点沿列移动一个像素点的距离，行的方向不调整；其三是将图5所示的圆点沿列移动一个像素点的距离，再沿行移动一个像素点的距离，也就是说像素点间隔数量为1时有4种点亮方式，此外，像素点间隔数量为1输出初始图像时分别输出R、G、B及W的单色画面，因此当像素点间隔数量为1时，对应需要获取16幅单色画面的初始图像。此外，同理可输出不同隔点像素的初始图像，例如，点亮图7所示的圆点对应的像素点为隔3点像素的其中一幅初始图像，本实施例在此不一一赘述。
本实施例中通过隔点点亮LED，使各像素间隔点亮，这样就可实现不同灰阶下更小像素间距的测量，解决测量解析度受限的问题。
S102，确定所述测试图像中任一预设大小的扫描区域内亮度最大的目标像素点。
具体地，由于待分析显示面板的显示区域较大，需要对其划分之后在分别进行分析。首先确定测试图像中任意一个预设大小的扫描区域，确定该扫描区域内亮度极大值也就是亮度最大的像素点，将其作为该扫描区域内的目标像素点，目标像素点用于评价待分析显示面板的显示质量。此外，扫描区域大小的设置基于对待分析显示面板的显示质量分析精度要求，可以根据需要进行设置，本实施例不作具体限定。
在一个实施例中，本步骤包括：S601，通过所述预设大小的扫描框逐行逐列扫描所述测试图像的像素点；S602，获取所述扫描框对应的每一扫描区域内亮度最大的目标像素点。
具体地，设置预设大小的扫描框，扫描框所在测试图像上对应的区域即为扫描区域。通过预设大小的扫描框逐行逐列扫描测试图像的像素点，每移动一次扫描框则得到一个新的扫描区域，因此同时获取扫描框对应的每一扫描区域内亮度最大的目标像素点。
例如，设置预设大小的扫描框，例如5*5的矩阵，从测试图像的左上角一次逐行逐列扫描测试图像的像素点，当扫描框在测试图像的左上角时，获取此时5*5的扫描区域内亮度最大的目标像素点记为A，然后将扫描框沿行移动一个像素点的距离得到新的5*5的扫描区域，再次获取新的5*5的扫描区域内亮度最大的目标像素点，如果不是A点则将新的5*5的扫描区域内亮度最大的目标像素点记为B，如果仍然是A点则再次移动扫描框重复上述动作，以此类推，通过5*5的扫描框遍历测试图像上的所有的像素点，获取到所有的目标像素点。
需要说明的是，扫描框的预设大小与最终分析结果的精度相关，扫描框越小，精度越高，但是需要分析的数据越多，扫描框越大，精度越低，但是能够更加快速聚焦表现突出的点，扫描框的预设大小根据需求进行设置，还可以是通过算法函数实现，本实施例不作具体限定。
S103，根据所述测试图像确定所述目标像素点的显示参数。
具体地，根据测试图像中目标像素点的数据确定其对应的显示参数，其中显示参数包括但不限于亮度信息、色度信息、波长信息等，本实施例不作具体限定。
在一个实施例中，本步骤包括：S701，根据所述测试图像确定以所述亮度极大值的点为中心预设区域内各个点的亮度信息；S702，根据所述亮度信息确定所述目标像素点的显示参数。
具体地，当显示参数中包含亮度信息时，由于光线会发散，且像素点之间无法做到间隙为0，因此每个像素点点亮时一定范围之内都会有亮度，这个范围内包含若干个点，直接将这个范围内亮度最大的点对应的亮度值定义为目标像素点的亮度可能导致误差较大，因此需要结合亮度最大的点以及周围若干点综合确定目标像素点的亮度，如图8所示，为根据本实施例的方法得到的最终的包含若干目标像素点的图像。其它的显示参数的确定方式与亮度类似，在此不一一赘述。
目标像素点为扫描区域内亮度极大值对应的像素点，根据测试图像确定以亮度极大值对应的点为中心预设区域内各个点的亮度信息，然后根据所获取的所有点的亮度信息确定目标像素点的显示参数。其中，可以中心预设区域内各个点的亮度之和作为目标像素点的亮度，例如以亮度极大值对应的点为中心，计算九点亮度值之和，以该亮度值为此处目标像素点的单像素亮度，然后计算目标像素点的亮度均值、标准差和变异系数，其中变异系数＝标准差/均值，用来表征不同显示面板的麻点情况。亮度均值Lv(MN)为Lv(MN)＝(Lv1+Lv2+…+Lvn)/n，n为预设区域内包含的点的数量，Lvi为第i个点的亮度值，1≤i≤n，标准差Lv(SD)为变异系数Lv(C.V)为/>
需要说明的是，获取的以亮度极大值对应的点为中心预设区域内各个点的亮度信息，其中的预设区域根据自身的需要自由设置，例如上述举例中的预设区域包含以亮度极大值对应的点为中心的九点，也可以选择16点、25点等，本实施例不作具体限定，但是需要确保预设区域不要将相邻的像素点包含在内。
S104，根据所述显示参数分析所述待分析显示面板的显示质量。
具体地，通过上述步骤确定测试图像中若干个目标像素点的显示参数，基于所有的目标像素点的显示参数分析显示面板的显示质量，如图9所示，统计所有的目标像素点的显示参数绘制对应的分布图。此外，如果多个待分析显示面板相互之间需要对显示质量进行对比分析，则不同的待分析显示面板的测试图像扫描区域即扫描框的预设大小需要设置为同一大小，以便在同一测量标准下进行测量分析。
本实施例中获取待分析显示面板的测试图像以获取待分析显示面板的整面显示信息，通过图像处理算法识别单个目标像素点，计算每个目标像素点的显示参数，最后统计其分布情况，可以较完整的评估整个待分析显示面板的均一性。此外，使用同一测量标准及方式测量分析不同灰阶下或者不同待分析显示面板的显示质量，更加有效和方便地评价一块显示面板的显示质量。
为了更好实施本申请实施例中的显示面板分析方法，在显示面板分析方法基础之上，本申请实施例中还提供一种显示面板分析装置，如图10所示，显示面板分析装置100包括：
信息获取模块110，用于获取待分析显示面板预设灰阶下的测试图像；
像素点分析模块120，与所述信息获取模块110通讯连接，用于确定所述测试图像中任一预设大小的扫描区域内亮度最大的目标像素点；
参数分析模块130，与所述像素点分析模块120通讯连接，用于根据所述测试图像确定所述目标像素点的显示参数；
面板分析模块140，与所述参数分析模块130通讯连接，用于根据所述显示参数分析所述显示面板的显示质量。
在本申请一些实施例中，信息获取模块110还用于获取待分析显示面板预设灰阶下的初始图像；对所述初始图像进行高通滤波去噪得到所述测试图像。
在本申请一些实施例中，信息获取模块110还用于获取所述待分析显示面板的像素间距；根据所述像素间距确定所述初始图像中相邻像素点之间的像素点间隔数量；在预设灰阶下根据所述像素点间隔数量控制所述待分析显示面板显示，得到所述初始图像。
在本申请一些实施例中，信息获取模块110还用于若所述像素点间隔数量为零，则在预设灰阶下控制所述待分析显示面板所有像素点点亮，得到所述初始图像。
在本申请一些实施例中，信息获取模块110还用于若所述像素点间隔数量非零，则在预设灰阶下控制所述待分析显示面板的第一像素点点亮，得到预设数量的所述初始图像，相邻的所述第一像素点之间相隔像素点间隔数量的像素点，所述预设数量与所述像素点间隔数量关联。
在本申请一些实施例中，像素点分析模块120还用于通过所述预设大小的扫描框逐行逐列扫描所述测试图像的像素点；获取所述扫描框对应的每一扫描区域内亮度最大的目标像素点。
在本申请一些实施例中，参数分析模块130还用于根据所述测试图像确定以所述亮度极大值的点为中心预设区域内各个点的亮度信息；根据所述亮度信息确定所述目标像素点的显示参数。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
在本申请一些实施例中，提供了一种电子设备，包括一个或多个处理器；存储器；以及一个或多个应用程序，其中一个或多个应用程序被存储于存储器中，并配置为由处理器执行上述显示面板分析方法的步骤。此处显示面板分析方法的步骤可以是上述各个实施例的显示面板分析方法中的步骤。
在本申请一些实施例中，提供了一种存储介质，存储介质中存储若干指令，指令用于供控制器执行上述各个实施例的显示面板分析方法。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上对本申请实施例所提供的一种显示面板分析方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (8)

1.一种显示面板分析方法，其特征在于，包括：
获取待分析显示面板预设灰阶下的测试图像；具体包括：获取所述待分析显示面板的像素间距；根据所述像素间距确定所述初始图像中相邻像素点之间的像素点间隔数量；在预设灰阶下根据所述像素点间隔数量控制所述待分析显示面板显示，得到所述初始图像；对所述初始图像进行高通滤波去噪得到所述测试图像；
确定所述测试图像中任一预设大小的扫描区域内亮度最大的目标像素点；
根据所述测试图像确定所述目标像素点的显示参数；
根据所述显示参数分析所述待分析显示面板的显示质量。
2.如权利要求1所述的显示面板分析方法，其特征在于，所述在预设灰阶下根据所述像素点间隔数量控制所述待分析显示面板显示，得到所述初始图像，包括：
若所述像素点间隔数量为零，则在预设灰阶下控制所述待分析显示面板所有像素点点亮，得到所述初始图像。
3.如权利要求1所述的显示面板分析方法，其特征在于，所述在预设灰阶下根据所述像素点间隔数量控制所述待分析显示面板显示，得到所述初始图像，包括：
若所述像素点间隔数量非零，则在预设灰阶下控制所述待分析显示面板的第一像素点点亮，得到预设数量的所述初始图像，相邻的所述第一像素点之间相隔像素点间隔数量的像素点，所述预设数量与所述像素点间隔数量关联。
4.如权利要求1所述的显示面板分析方法，其特征在于，所述确定所述测试图像中任一预设大小的扫描区域内亮度最大的目标像素点，包括：
通过所述预设大小的扫描框逐行逐列扫描所述测试图像的像素点；
获取所述扫描框对应的每一扫描区域内亮度最大的目标像素点。
5.如权利要求1所述的显示面板分析方法，其特征在于，所述目标像素点为扫描区域内亮度极大值对应的像素点，所述根据所述测试图像确定所述目标像素点的显示参数，包括：
根据所述测试图像确定以所述亮度极大值的点为中心预设区域内各个点的亮度信息；
根据所述亮度信息确定所述目标像素点的显示参数。
6.一种显示面板分析装置，其特征在于，包括：
信息获取模块，用于获取待分析显示面板预设灰阶下的测试图像；具体包括：获取所述待分析显示面板的像素间距；根据所述像素间距确定所述初始图像中相邻像素点之间的像素点间隔数量；在预设灰阶下根据所述像素点间隔数量控制所述待分析显示面板显示，得到所述初始图像；对所述初始图像进行高通滤波去噪得到所述测试图像；
像素点分析模块，与所述信息获取模块通讯连接，用于确定所述测试图像中任一预设大小的扫描区域内亮度最大的目标像素点；
参数分析模块，与所述像素点分析模块通讯连接，用于根据所述测试图像确定所述目标像素点的显示参数；
面板分析模块，与所述参数分析模块通讯连接，用于根据所述显示参数分析所述待分析显示面板的显示质量。
7.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器、存储器以及存储于所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序以实现权利要求1至5中任一项所述的显示面板分析方法中的步骤。
8.一种存储介质，所述存储介质中存储若干指令，其特征在于，所述指令用于供控制器执行以实现如权利要求1至5任一项所述的方法。
CN202210086743.XA 2022-01-25 2022-01-25 显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质 Active CN114459738B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210086743.XA CN114459738B (zh) 2022-01-25 2022-01-25 显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202210086743.XA CN114459738B (zh) 2022-01-25 2022-01-25 显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN114459738A CN114459738A (zh) 2022-05-10
CN114459738B true CN114459738B (zh) 2024-02-02

Family

ID=81411490

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202210086743.XA Active CN114459738B (zh) 2022-01-25 2022-01-25 显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114459738B (zh)

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0979946A (ja) * 1995-09-18 1997-03-28 Sanyo Electric Co Ltd 表示装置の検査装置
JP2014224735A (ja) * 2013-05-16 2014-12-04 旭硝子株式会社 透明基体のぎらつきを評価する方法
CN105241638A (zh) * 2015-09-09 2016-01-13 重庆平伟光电科技有限公司 基于视觉的led模块亮度均匀性快速检测方法
CN109949266A (zh) * 2017-12-15 2019-06-28 三星显示有限公司 用于识别显示器中的斑点的系统和方法
CN113390611A (zh) * 2021-05-27 2021-09-14 北京兆维科技开发有限公司 一种屏幕缺陷的检测方法
CN113850795A (zh) * 2021-09-30 2021-12-28 联想(北京)有限公司 一种测试触发方法、待测试设备和计算机可读存储介质
CN113963645A (zh) * 2021-11-08 2022-01-21 合肥维信诺科技有限公司 显示面板的残影测试方法及装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0979946A (ja) * 1995-09-18 1997-03-28 Sanyo Electric Co Ltd 表示装置の検査装置
JP2014224735A (ja) * 2013-05-16 2014-12-04 旭硝子株式会社 透明基体のぎらつきを評価する方法
CN105241638A (zh) * 2015-09-09 2016-01-13 重庆平伟光电科技有限公司 基于视觉的led模块亮度均匀性快速检测方法
CN109949266A (zh) * 2017-12-15 2019-06-28 三星显示有限公司 用于识别显示器中的斑点的系统和方法
CN113390611A (zh) * 2021-05-27 2021-09-14 北京兆维科技开发有限公司 一种屏幕缺陷的检测方法
CN113850795A (zh) * 2021-09-30 2021-12-28 联想(北京)有限公司 一种测试触发方法、待测试设备和计算机可读存储介质
CN113963645A (zh) * 2021-11-08 2022-01-21 合肥维信诺科技有限公司 显示面板的残影测试方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN114459738A (zh) 2022-05-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100189178B1 (ko) 패널 화질 검사 장치 및 화질 보정 방법
US9135851B2 (en) Methods and systems for measuring and correcting electronic visual displays
WO2019210705A1 (en) Circuit and method for adjusting display brightness level, and display apparatus
KR101640118B1 (ko) 표시 디바이스의 표시 불균일 검출 방법 및 그 장치
JP2011196685A (ja) 欠陥検出装置、欠陥修復装置、表示パネル、表示装置、欠陥検出方法、プログラム
KR102542503B1 (ko) 표시 패널 검사 장치 및 그 구동 방법
CN113724652B (zh) OLED显示面板Mura的补偿方法、装置及可读介质
CN108986170B (zh) 一种适用于现场工况的线阵相机平场校正方法
CN111402827A (zh) 一种lcd拼接屏校正方法、装置和系统及控制系统
US10656406B2 (en) Image processing device, imaging device, microscope system, image processing method, and computer-readable recording medium
CN111066062B (zh) 使用分数像素测量电子视觉显示器的方法和系统
CN114459738B (zh) 显示面板分析方法、装置、电子设备及存储介质
JP2003167530A (ja) ディスプレイ画面検査方法およびディスプレイ画面検査装置
JP4652301B2 (ja) カラー表示板の画質検査方法および画質検査装置
JP4308575B2 (ja) 平面表示パネルの検査装置
JPH0943292A (ja) パネル画質検査装置及びその画質補正方法
CN114745538A (zh) 一种显示屏视角和相机暗角联合校正方法及装置
CN112951170A (zh) 显示面板的显示控制方法及制备方法、显示装置
US7330580B2 (en) System and method for inspecting an LCD panel
CN116777910B (zh) 显示屏子像素亮度提取精度评估方法、系统及电子设备
CN114689509A (zh) 载片台平整度的调节方法及其装置
CN112782082B (zh) 一种用于线扫描成像的定标装置和方法
US20230194915A1 (en) Method of detecting defective pixels in electronic displays
US20180210186A1 (en) Image processing apparatus, image processing system, microscope system, image processing method and computer-readable recording medium
CN117524142A (zh) 亮度校正方法、亮度校正装置及计算机可读介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant