CN113176678A - 屏幕残影的测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及屏幕显示技术领域，尤其涉及一种屏幕残影的测试方法,包括如下步骤：步骤S1：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128；步骤S2：第一次测试并记录屏幕整体亮度值LVAP；步骤S3：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为N；步骤S4：将屏幕上的像素点的灰度值由全部设置为N切换至全部设置为128；步骤S5：在暗室中对屏幕进行mura检测；步骤S6：第二次测试并记录屏幕整体亮度值LVBP；步骤S7：计算亮度差值比ABS(LVAP‑LVBP)/LVAP；步骤S8：将亮度差值比与2％进行比较，当亮度差值比小于等于2％，则该屏幕无残影；当亮度差值比大于2％，则该屏幕存在残影。
Description
【技术领域】
本发明涉及屏幕显示技术领域，尤其涉及一种屏幕残影的测试方法。
【背景技术】
当显示屏在显示一个画面上停留较长时间，显示屏内液晶中的带电粒子会吸附在上下玻璃两端形成内建电场，画面切换之后，这些带电粒子在没有立刻释放出，使得液晶分子没有立刻转到相应的角度会产生残影现象，另外由于像素电极在设计阶段由于设计不良使得液晶分子在画面切换时也会因排列错乱而产生残影现象。
残影现象的产生会影响用户对屏幕的观感，当用户在观看屏幕上的一个画面后，该画面的影像未及时消失，导致与后一画面相重叠，较大地降低了用户的体验感。现有的测试方法依赖测试员主观判断，且屏幕区块划分存在局限性。
因此，现有技术存在不足，需要改进。
【发明内容】
为克服上述的技术问题，本发明提供了一种屏幕残影的测试方法。
本发明解决技术问题的方案是提供一种屏幕残影的测试方法，包括如下步骤：
步骤S1：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128；
步骤S2：第一次测试并记录屏幕整体亮度值LVAP；
步骤S3：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为N；
步骤S4：将屏幕上的像素点的灰度值由全部设置为N切换至全部设置为128；
步骤S5：在暗室中对屏幕进行mura检测；
步骤S6：第二次测试并记录屏幕整体亮度值LVBP；
步骤S7：计算亮度差值比ABS(LVAP-LVBP)/LVAP；
步骤S8：将亮度差值比与2％进行比较，当亮度差值比小于等于2％，则该屏幕无残影；当亮度差值比大于2％，则该屏幕存在残影。
优选地，所述步骤S1还包括如下步骤：
步骤S11：保持像素点在128灰度值的时间为5分钟。
优选地，所述步骤S3还包括如下步骤：
步骤S31：保持像素点在N灰度值的时间为60分钟。
优选地，所述步骤S4还包括如下步骤：
步骤S41：在像素点的灰度值由全部设置为N切换至全部设置为128后，保持3分钟。
优选地，所述N的取值为0。
优选地，所述N的取值为255。
相对于现有技术，本发明的屏幕残影的测试方法具有如下优点：
相对于现有技术，本发明的屏幕残影的测试方法具有如下优点：
通过对显示屏屏幕进行残影测试，可确定出屏幕是否会产生残影现象，有利于在显示屏出厂前对显示屏是否会产生残影做检测，有利于从源头解决显示屏存在残影的问题，以便工作人员进行维修或剔除有残影不合格的产品，降低次品流入市场导致企业声誉下降的可能性，使无残影的产品进入市场，利于提升企业的声誉，利于增加消费者二次购买或推荐他人购买的可能性。
【附图说明】
图1是本发明屏幕残影的测试方法的具体流程示意图。
【具体实施方式】
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施实例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用于解释本发明，并不用于限定本发明。
请参阅图1,本发明提供一种屏幕残影的测试方法,包括如下步骤:
步骤S1:将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128。
可以理解，像素点的灰度值也可设置为64或32，具体可根据实际进行选取。
优选地，步骤S1还包括如下步骤：
步骤S11：保持像素点在128灰度值的时间为5分钟。
如果在步骤S1将灰度值设置为128之后立刻进行步骤S2，会使得步骤S2的测试结果存在较大的误差，因为显示器背光亮度在短时间内无法稳定，所以屏幕上的像素点在短时间内无法全部达到128，而通过在将屏幕上的像素点的灰度值设置为128后静置5分钟，时间较长，使得屏幕上所有的像素点的灰度值均接近128或为128，可有效降低下一步骤测试而出现误差的可能性。
步骤S2：第一次测试并记录屏幕整体亮度值LVAP。
通过面测设备对显示屏的屏幕在灰度值设置为128及设置时间为5分钟的状态下进行第一次整体亮度测试并记录此次测量的屏幕整体亮度值LVAP。可以理解，此次测量的屏幕整体亮度值LVAP为标准数据，其与下述步骤S5第二次测试的屏幕整体亮度值之间的关系决定了屏幕是否存在残影。
步骤S3：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为N。
将屏幕上的像素点的灰度值从128调至N。如果屏幕存在残影，在后续灰度值从N调回至128时，亮度值相较于灰度值原始为128时存在较大差异；若无残影，亮度值的差异会较小甚至无残影。
优选地，步骤S3还包括如下步骤：
步骤S31：保持像素点在N灰度值的时间为60分钟。
通过静置60分钟，时间较长，足以使屏幕上的像素点的灰度值全部为N或较为精确地趋近N，降低后续因屏幕上像素点灰度值不足N而产生的测量误差。
步骤S4：将屏幕上的像素点的灰度值由全部设置为N切换至全部设置为128。
由于第一次测试时的灰度值设置为128，为了验证屏幕是否存在残影现象，选取第二次测试时的灰度值与第一次测试时的灰度值一致的情形，便于将两者进行比较。
优选地，步骤S4还包括如下步骤：
步骤S41：在像素点的灰度值由全部设置为N切换至全部设置为128后，保持3分钟。
通过静置3分钟，避免了切换灰度值后立即进行亮度测试而造成的误差，进而影响测试结果。而存在残影现象的屏幕，会在静置3分钟后因存在部分带点粒子未散去，导致屏幕的亮度与静置5分钟后的灰度值在128时的屏幕的亮度存在较大的亮度差。
步骤S5：在暗室中对屏幕进行mura检测；
步骤S6：第二次测试并记录屏幕整体亮度值LVBP；
步骤S7：计算亮度差值比ABS(LVAP-LVBP)/LVAP。
用面测设备对屏幕的亮度进行第二次测试及记录屏幕整体亮度值LVBP；计算出屏幕在两次调置灰度值128时亮度的亮度差值比，通过亮度差值比来确定屏幕是否存在残影现象，通过数据确定屏幕是否存在残影，相较于工作人员用眼直接目测是否存在残影现象，更可靠，可批量操作而不会产生疲劳，也降低了因工作人员用眼过度而导致目测结果不准确的可能性。
步骤S8：将亮度比值与2％进行比较，当亮度比值小于等于 2％，则该屏幕无残影；当亮度比值大于2％，则该屏幕存在残影。
将亮度差值比与2％比较，当亮度差值比大于等于2％时，即认定该显示器的屏幕存在残影，此时可将该显示器进行维修或做报废处理，以避免存在残影的次品显示器流入市场对企业造成的声誉损害及消费者造成的观看体验下降的问题；当亮度的比值小于2％，则认定屏幕不存在残影现象。可以理解，也可选取1.5％、 1.75％或2.25％来与亮度差值比进行比较，只要满足选取的数值为可被工作人员肉眼察觉到的色差的比值即可。
优选地，本发明的灰度值N的取值为0及255，即在灰度值为全黑时进行一次屏幕残影的测试与在灰度值为全白是进行一次屏幕残影的测试，当两次测试中分别计算的亮度比值至少有一次大于2％时，即认定该显示器的屏幕存在残影。
相对于现有技术，本发明的屏幕残影的测试方法具有如下优点：
相对于现有技术，本发明的屏幕残影的测试方法具有如下优点：
通过对显示屏屏幕进行残影测试，可确定出屏幕是否会产生残影现象，有利于在显示屏出厂前对显示屏是否会产生残影做检测，有利于从源头解决显示屏存在残影的问题，以便工作人员进行维修或剔除有残影不合格的产品，降低次品流入市场导致企业声誉下降的可能性，使无残影的产品进入市场，利于提升企业的声誉，利于增加消费者二次购买或推荐他人购买的可能性。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的构思之内所作的任何修改，等同替换和改进等均应包含在本发明的专利保护范围内。
Claims (6)
1.一种屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述屏幕残影的测试方法包括如下步骤：
步骤S1：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128；
步骤S2：第一次测试并记录屏幕整体亮度值LVAP；
步骤S3：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为N；
步骤S4：将屏幕上的像素点的灰度值由全部设置为N切换至全部设置为128；
步骤S5：在暗室中对屏幕进行mura检测；
步骤S6：第二次测试并记录屏幕整体亮度值LVBP；
步骤S7：计算亮度差值比ABS(LVAP-LVBP)/LVAP；
步骤S8：将亮度差值比与2％进行比较，当亮度差值比小于等于2％，则该屏幕无残影；当亮度差值比大于2％，则该屏幕存在残影。
2.如权利要求1所述的屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述步骤S1还包括如下步骤：
步骤S11：保持像素点在128灰度值的时间为5分钟。
3.如权利要求1所述的屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述步骤S3还包括如下步骤：
步骤S31：保持像素点在N灰度值的时间为60分钟。
4.如权利要求1所述的屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述步骤S4还包括如下步骤：
步骤S41：在像素点的灰度值由全部设置为N切换至全部设置为128后，保持3分钟。
5.如权利要求1所述的屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述N的取值为0。
6.如权利要求1所述的屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述N的取值为255。
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