CN109978864A - 显示面板检测系统、方法、装置以及存储介质 - Google Patents

显示面板检测系统、方法、装置以及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN109978864A
CN109978864A CN201910240544.8A CN201910240544A CN109978864A CN 109978864 A CN109978864 A CN 109978864A CN 201910240544 A CN201910240544 A CN 201910240544A CN 109978864 A CN109978864 A CN 109978864A
Authority
CN
China
Prior art keywords
display panel
value
pixel
image
measured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910240544.8A
Other languages
English (en)
Inventor
赵文勤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HKC Co Ltd
Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
HKC Co Ltd
Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HKC Co Ltd, Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical HKC Co Ltd
Priority to CN201910240544.8A priority Critical patent/CN109978864A/zh
Publication of CN109978864A publication Critical patent/CN109978864A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • G06T7/0006Industrial image inspection using a design-rule based approach
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/90Determination of colour characteristics
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108Industrial image inspection
    • G06T2207/30121CRT, LCD or plasma display

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Controls And Circuits For Display Device (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

本发明涉及一种显示面板检测系统,包括图像获取单元以及处理单元。图像获取单元用于获取待测显示面板显示测试画面时的图像,并将图像发送至处理单元。处理单元用于对图像进行处理,根据处理结果判断显示面板的像素点是否正常显示。本发明提供的显示面板检测系统,通过获取显示面板在显示不同测试画面时的图像,对应所得图像进行分析,并与预设值进行比对,能够从中检测出不良面板,从而实现产线检测自动化,降低了人工成本,提高了生产效率。

Description

显示面板检测系统、方法、装置以及存储介质
技术领域
本发明涉及显示领域,尤其涉及一种显示面板检测系统、方法、装置以及存储介质。
背景技术
在显示面板生产过程中,显示面板通过质量检测后方可出厂。质量检测其中一项为对显示面板的像素点是否正常显示的检测。目前该项检测还是依靠人工检测,质检人员采用目视的方式对显示面板进行检查,这种人工检测的方式效率低,不但制约了面板生产效率的提高,还间接提高了面板生产成本。
发明内容
基于此,有必要针对上述面板人工检测效率低的技术问题,提出一种显示面板检测系统、方法、装置以及存储介质。
本发明实施例提供一种显示面板检测系统,包括图像获取单元以及处理单元,
图像获取单元用于获取待测显示面板显示测试画面时的图像,并将图像发送至处理单元;
处理单元用于对图像进行处理,根据处理结果判断显示面板的像素点是否正常显示。
在其中一个实施例中,处理单元还用于控制待测面板显示测试画面。
本发明实施例还提供一种显示面板检测方法,包括以下步骤:
获取待测显示面板显示测试画面时的图像;
对图像进行处理,根据处理结果判断显示面板的像素点是否正常显示。
在其中一个实施例中,对图像进行处理,根据处理结果判断显示面板的像素点是否正常显示的过程,包括步骤:
获取图像中与待测显示面板每个像素点对应的色度值、饱和度值以及明度值;
比对每个像素点对应的色度值与对应的色度预设范围值、对应的饱和度值与对应的饱和度预设范围值、对应的明度值与对应的明度预设范围值,根据比对结果判断像素点是否正常显示。
在其中一个实施例中,根据比对结果判断像素点是否正常显示的过程,包括步骤:
若像素点对应的色度值在对应的色度值预设范围内、并且对应的饱和度值在对应的饱和度预设范围值内以及对应的明度值在对应的明度预设范围值的范围内,则像素点显示正常。
在其中一个实施例中,显示面板检测方法还包括步骤:
若像素点对应的色度值超出对应的色度预设范围值、或者对应的饱和度值超出对应的饱和度预设范围值、或者对应的明度值超出对应的明度预设范围值,则判定像素点显示异常。
在其中一个实施例中,对判定显示异常的像素点,还包括步骤:
以坐标形式标示判定显示异常的像素点。
在其中一个实施例中,图像包括待测显示面板显示不同测试画面时的多个图像。
本发明还提供一种显示面板的检测装置,包括:
图像获取模块,用于获取待测显示面板显示测试画面时的图像,
处理模块,用于对图像进行处理,根据处理结果判断显示面板的像素点是否正常显示。
本发明实施例还提供一种存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述任一项方法实施例中的步骤。
上述显示面板的检测系统,通过获取显示面板在显示不同测试画面时的图像,对应所得图像进行分析,并与预设值进行比对,能够从中检测出不良面板,从而实现产线检测自动化,降低了人工成本,提高了生产效率。
附图说明
图1为本发明一个实施例显示面板检测系统的结构框图;
图2为本发明另一个实施例显示面板检测系统的结构框图;
图3为本发明另一个实施例显示面板检测系统的结构框图;
图4为本发明一个实施例显示面板检测方法的步骤框图;
图5为本发明另一个实施例显示面板检测方法的步骤框图。
具体实施方式
为了更好地理解本发明的目的、技术方案以及技术效果,以下结合附图和实施例对本发明进行进一步讲解说明。同时声明,以下所描述的实施例仅用于解释本发明,并不用于限定本发明。
如图1所示,本发明实施例提供一种显示面板检测系统,包括图像获取单元1和处理单元2。
其中,图像获取单元1用于获取待测显示面板3显示测试画面时的图像。图像获取单元1为能够获取待测显示面板3的图像的任意设备。比如相机或者有摄像功能的手机、平板等。图像获取单元1用于获取待测显示面板3显示测试画面时的图像。其中,显示面板是能够显示影像或图像的显示单元,比如液晶显示面板、OLED(Organic Light-EmittingDiode,有机发光半导体)显示面板或者等离子显示面板等。显示面板设有用于显示图像的若干个像素点。测试画面是对待测显示面板3进行检测时,待测显示面板3播放的特定画面。比如,能够检测待测显示面板3对光的三原色还原程度的纯红色画面、纯蓝色画面以及纯绿色画面;再比如能够检测待测显示面板3是否有坏点的纯黑色画面以及纯白色画面等,还可以是其他用于检测显示面板其他显示性能的测试画面,比如,可以是包含特定的文字、符号或图形的画面,在此不再赘述。图像获取单元1获取显示区的图像,可以对待测显示面板3整体进行图像采集,也可以分区域对待测显示面板3的局部像素进行图像采集。可以采集一张图像,也可以采集多张图像。即,图像采集的区域、图像采集的数量以及图像采集对应的测试画面可以根据检测需求自由组合,只要采集的图像信息能够满足测试需求即可。比如,图像获取单元1获取的图像可以是包含待测显示面板3各个像素点图像信息的一张图片;也可以是一组图片,该组中每张图片包含一个或者多个像素点的图像信息,所有图片所包含的图像信息的集合至少包含待测显示面板3所有像素点的图像信息。再比如,图像还可以包括待测显示面板3显示不同测试画面时的一组图像,以得到较为全面的待测显示面板3的每个像素点的信息。再比如,可以设置待测显示面板3显示多个不同的测试画面,分别获取待测显示面板3显示不同测试画面的图像。
图像获取单元1将获取的图像发送至处理单元2。处理单元2是具有数据处理能力的任意数据处理装置,比如单片机、电脑等。处理单元2对图像进行处理,得到图像的信息,根据图像的信息判断显示面板的像素点是否正常显示。其中,图像的信息可以是每个像素点在对应图像中的光学信息,比如可以是每个像素点在对应图像中的红色阶值、绿色阶值以及蓝色阶值,也可以是每个像素点在对应图像中的色度值、饱和度值以及明度值等。判断像素点是否显示正常,可以将图像的信息与预设值作比对,根据比对结果进行判断。其中,预设值是用于判断像素点是否正常显示的参考值,每个不同的图像信息都有对应的预设值。比如,若获取的图像信息是红色阶值,则有对应的红色阶预设值;若获取的图像信息是色度值,则有对应的色度预设值。其他不同图像信息值对应的预设值也相似,在此不再赘述。需要说明的是,与图像信息对应的预设值可以是单一数值,也可以是范围值。比如,以红色阶值对应的预设值为例,该预设值可以是一个数值,预设值是单一数值时,将红色阶值与该预设值比较,判断红色阶值是否与该预设值相等进而判定像素点的显示情况;该预设值也可以是范围值,当预设值是范围值时,将红色阶值与该预设值的范围比较,判断红色阶值是否在该预设值所指示的范围内,根据判断结果判定像素点的显示情况。其他类型的图像信息对应的预设值也类似,在此不再赘述。判断显示面板是否合格,可以依据检测的要求设置不同的判断标准。比如,可以设置为当至少一个类型的图像信息值与对应的预设值不符时,则判定为不良。也可以设置为当所有类型的图像信息值均与对应的预设值不符,则判定为不良。当然,也可以设置某个或某些特定类型的图像信息与预设值不符时判定为不良。
本发明实施例的显示面板的检测系统,通过获取显示面板在显示不同测试画面时的图像,对应所得图像进行分析,并与预设值进行比对,能够从中检测出不良面板,从而实现产线检测自动化,降低了人工成本,提高了生产效率。
如图2所示,在其中一个实施例中,处理单元2还用于控制待测显示面板3显示测试画面。处理单元2除了对图像信息进行处理,还具备对待测显示面板3进行显示控制的功能。处理单元2对待测显示面板3进行显示控制,可以提高系统各组成部分的配合度,提高检测效率。可选地,处理单元2还可以用于控制图像采集单元对待测显示面板3进行图像采集。
在其中一个实施例中,如图3所示,显示面板检测系统还可以包括控制单元4,控制单元4用于控制待测显示面板3显示测试画面。其中,控制单元4为能够向待测显示面板3输出显示控制信号,以显示测试画面的任意设备。比如可以是图像信号发生装置,也可以是计算机设备或者其他能够输出图像信号的设备。控制单元4对待测显示面板3进行点亮以使待测面板显示测试画面,而不必采用系统外的设备对待测面板进行显示控制,降低了检测的复杂度和操作难度。
在其中一个实施例中,测试画面有多个,比如测试画面包括纯红色画面、纯蓝色画面以及纯绿色画面。可选地,还可以包括纯白色画面和纯黑色画面。图像获取单元1可以获取多个图像,多个图像与多个测试画面一一对应,即对待测显示面板3显示的每个测试画面都对应获取一个图像,共获取多个图像。比如,当待测显示面板3显示纯红色画面时,图像获取单元1获取待测显示面板3显示纯红色的一个图像;当待测显示面板3显示纯绿色画面时,图像获取单元1获取待测显示面板3显示纯绿色的一个图像。待测显示面板3显示其他测试画面时的情况也类似,不一而足,在此不再赘述。通过对待测显示面板3显示不同画面时进行图像采集,分析多个图像的信息,可以提高检测的准确性。
在其中一个实施例中,待测显示面板3包括液晶显示面板和有机发光半导体显示面板。可选地,若待测显示面板3是液晶显示面板时,显示面板检测系统还可以包括背光源,背光源用于为液晶显示面板提供背光,以使液晶面板显示可见图像。背光源设置在液晶面板的背部。
如图4所示,本发明实施例还提供一种显示面板的检测方法,包括以下步骤:
步骤S10,获取待测显示面板3显示测试画面时的图像。
其中,待测显示面板3可以是液晶显示面板,也可以是有机发光半导体显示面板。测试画面是对待测显示面板3进行检测时,待测显示面板3播放的特定画面。比如,能够检测待测显示面板3对光的三原色还原程度的纯红色画面、纯蓝色画面以及纯绿色画面;再比如能够检测待测显示面板3是否有坏点的纯黑色画面以及纯白色画面等,还有其他用于检测显示面板其他显示性能的测试画面,比如,可以是特定的文字、符号和图形,在此不再赘述。
图像的获取方式有多种,可以是获取待测显示面板3的整体图像,也可以分区域获取待测显示面板3的局部图像,比如,获取待测显示面板3的中心区域,或者边缘区域的图像。当然,也可以对待测显示面板3多个局部区域进行图像采集得到多个图像,以使各个图像的集合包含待测显示面板3所需检测的所有像素点图像信息。还可以对所需检测的像素点进行单独的图像采集得到多个图像,所有图像的集合包含所需检测的所有像素点的图像信息。可选地,对同一个测试画面,可以采集一张或多张图像。图像采集区域、图像采集数量以及图像采集对应的测试画面可以根据检测需求自由组合,只要采集的图像信息能够满足测试需求即可。比如,对待测显示面板3的整体采集图像时,可以采集一张,也可以采集多张。若测试画面有多个,对同一个测试画面,也可以对待测显示面板3整体采集一张或者多张图像。再比如,对显示区的局部采集图像时,可以对该局部采集一个或者多个测试画面对应的图像。
步骤S20,对图像进行处理,根据处理结果判断显示面板的像素点是否正常显示。
其中,对图像进行处理,获得处理结果。处理结果是图像中对应待测显示面板3所需检测的各个像素点的光学信息,可以是基于三原色空间模型的色阶值,也可以是基于HSV(Hue,Saturation,Value)颜色空间模型的色度值、饱和度值以及明度值。当然,如果图像是基于其他颜色空间模型呈现,也可以是其他颜色空间模型的相关参数。
判断显示面板的像素点是否显示正常,可以将图像信息与预设值比对,根据比对结果进行判断。预设值是用于判断显示面板像素点是否正常显示的参考值,可以是单一的具体数值,也可以是范围值。可选地,若通过色阶值对待测显示面板3进行检测,则获取显示面板图像的红色阶值、绿色阶值以及蓝色阶值,根据各个色阶值与预设值的比对结果判断显示面板的像素点是否显示正常。以红色阶值为例,红色阶值对应的预设值,可以是一个数值,将红色阶值与该预设值比较,判断红色阶值是否与该预设值相等进而判定显示面板的像素点是否正常显示;该预设值也可以是范围值,将红色阶值于该预设值的范围比较,判断红色阶值是否在该预设值所指示的范围内,进而判定显示面板的像素点是否正常显示。其他类型的图像信息对应的预设值也类似,在此不再赘述。判断显示面板的像素点是否正常显示,可以依据实际检测要求设置相应的判断标准。比如,可以设置为当至少一个类型的图像信息值与对应的预设值不符时,判定为不良。也可以设置为当所有类型的图像信息值均与对应的预设值不符时,判定为不良。当然,也可以设置某个或某些特定类型的图像信息与预设值不符时判定为不良。
本实施例提供的显示面板检测方法,通过对待测显示面板3进行图像采集,对采集所得的图像进行分析,并与预设值进行比对,从而能够检测出不良显示面板。本方法操作简单,能够提高检测效率,提高检测自动化程度。
在其中一个实施例中,如图5所示,对图像进行处理,根据图像的信息判断显示面板的像素点是否正常显示的过程,包括步骤:
步骤S210,获取图像中与待测显示面板3每个像素点对应的色度值、饱和度值以及明度值。
其中,色度、饱和度和明度是HSV颜色空间模型中用于表示颜色的三个基本参数。色度是颜色的基本属性,色度值指示颜色所处的光谱的位置,决定该颜色是哪种颜色。饱和度指示颜色的深浅程度。明度指示颜色的明亮程度。获取图像的色度值、饱和度值以及明度值,也有多种方式,由所获取图像的呈现形式决定。比如,若图像直接基于HSV颜色空间模型呈现,则直接获取显示面板每个像素点对应的色度值、饱和度值以及明度值即可。若图像是基于其他颜色空间模型呈现的,则需要根据不同的颜色空间模型对其相关参数进行数值转换,以获得对应的色度值、饱和度值以及明度值。比如,若图像是基于RGB(Red,Green,Blue)颜色空间模型呈现的,则获取RGB颜色空间模型用于表示颜色的红色阶值,即R值、绿色阶值,即G值、蓝色阶值,即B值,根据R值、G值和B值进行转换,获得相应的色度值、饱和度值以及明度值。具体依据以下表达式进行转换:
Cmax=max(R,G,B)
Cmin=min(R,G,B)
D=Cmax-Cmin
色度值转换:
饱和度值转换:
明度值转换:
V=Cmax
其中,R为红色阶值,G为绿色阶值,B为蓝色阶值,H为色度值,S为饱和度值,V为明度值。
可选地,若是图像以其他颜色空间模型呈现,比如Lab颜色空间模型,则根据具体的颜色空间模型进行转换处理,以获取相应的色度值、饱和度值以及明度值。不同空间模型之间基本参数的转换,是本领域技术人员知晓的,在此不再赘述。
步骤S220,比对每个像素点对应的色度值与对应的色度预设范围值、对应的饱和度值和对应的饱和度范围值、对应的明度值与对应的明度范围值,根据比对结果判断显示面板的像素点是否正常显示。
其中,预设范围值可以是具有上限值和下限值的数据范围,也可以是只有上限值或者只有下限值的数据范围。预设范围值的设置也可以有多种方式,可选地,可以根据设计目标的理论值确定预设范围值,也可以根据检测标准确定预设范围值。当然还也可以通过统计确定预设范围值,比如先通过人工检验出一定样品数量的良品显示面板,对每一片良品显示面板进行图像采集,并存储对应的色度值、饱和度值以及明度值的数据,以这些数据所涵盖的范围作为预设范围值,即将这些数据的最大值作为预设范围值的上限值,这些数据的最小值作为预设范围值的下限值。可选地,基于这种统计方法确定的预设范围值,还可以对大量数据取平均值作为预设值,这时预设值是单一的数值。
从图像信息中得到每个像素点的色度值,即待测显示面板3的每个像素点都分别对应一个色度值,同时,这些色度值对应色度预设范围值。同样地,每个像素点对应一个饱和度值,这些饱和度值对应饱和度预设范围值。同样地,每个像素点还对应一个明度值,这些明度值对应明度预设范围值。色度预设范围值用于判断色度值是否正常,饱和度预设范围值用于判断饱和度值是否正常,明度预设范围值用于判断明度值是否正常。可选地,可以根据实际检测要求设置像素点是否正常显示的判定为,对一个像素点,当其色度值、饱和度值以及明度值均在对应的预设范围值的范围内时,判定该像素点显示正常。可选地,也可以根据实际检测要求,设置像素点是否正常显示的判定为,对一个像素点,当其色度值、饱和度值以及明度值中至少有一个在对应的预设范围值的范围内,则判定该像素点显示正常。本发明实施例通过对色调、饱和度和明度值对显示面板的像素点进行检测,由于HSV颜色空间模型是根据颜色的直观性建立的颜色空间模型,能够非常直观的表达色彩的明暗,色调,以及鲜艳程度,因此相比其他颜色空间模型更方便进行颜色之间的对比。
在其中一个实施例中,将每个所述像素点的色度值与对应的色度预设范围值作比对、将每个所述像素点的饱和度值与对应的饱和度预设范围值作比对、以及将每个像素点的所述明度值与对应的明度预设范围值作对比,判断显示面板的像素点是否正常显示的过程,包括步骤:
步骤S221,若像素点对应的色度值在对应的色度值预设范围内、并且对应的饱和度值在对应的饱和度预设范围值内,以及对应的明度值在对应的明度预设范围值的范围内,则该像素点显示正常。
其中,色度值、饱和度值以及明度值分别有对应的预设范围值。即色度值对应色度预设范围值,饱和度值对应饱和度预设范围值,明度值对应明度预设范围值。当一个像素点的色度值在对应的色度预设范围值的范围内,同时其饱和度值在对应的饱和度预设范围值的范围内,以及其明度值也在对应的明度预设范围值的范围内时,则该像素点显示正常。可选地,若待测显示面板3的每个像素点均显示正常,则判定显示面板合格。
可选地,预设值的设定方法为人工检验出一定数量良品显示面板样品,对每一片良品显示面板样品进行图像采集,获取其色度值、饱和度值以及明度值,并对各值进行存储。以色度值为例进行说明,对每一片良品显示面板样品进行图像采集,获取良品显示面板每一个像素点图像的色度值并进行存储,像素的色度值与该像素点在显示面板上的位置相对应。比如,本实施例显示面板的像素点是以行列矩阵排列,因此第k片良品显示面板样品的色度值按以下矩阵方式存储:
其中,H表示色度值,n为显示面板像素点的行数,m为显示面板像素点的列数,因此,将面板上的像素点以坐标形式标记,色度值与像素点的坐标相对应,从而得到与像素点位置对应的色度值信息。而一个像素点的色度预设值范围的上限值和下限值由以下表达式得到:
H_L=min(H1,H2,Hk...Hx),H_H=max(H1,H2,Hk...Hx)
其中,H_L为色度值的下限值,H_H为色度值的上限值,x为良品显示面板样品的数量,以此得到用于判定显示面板是否为良品的色度值预设值范围。比如,要确定像素点Hnm的色度值范围,即要确定坐标为(n,m)的像素点的色度值范围,可以选取x片良品显示面板,对x片良品显示面板进行图像采集,再对每片良品显示面板坐标为(n,m)的像素点的色度进行存储,得到x个色度值数据,从中选取最小值作为色度预设值范围的下限,选取最大值作为色度预设值范围的上限,即可得到像素点Hnm对应的预设值范围。确定其他像素点的预设值范围也类似,不再赘述。对待测显示面板3采集图像,提取待测显示面板3每个像素点图像的色度值,待测面板的像素点的色度值在对应预设值范围内则待测显示面板3为良品,否则为不良品。
可选地,饱和度值的预设范围值设置方法以及明度的预设范围值设置方法也与上述色度值的设置方法相同。
在其中一个实施例中,显示面板的检测方法还包括步骤:
步骤S300,若像素点对应的色度值超出对应的色度预设范围值、或者对应的饱和度值超出对应的饱和度预设范围值、或者对应的明度值超出对应的明度预设范围值,则判定该像素点显示异常。
其中,对于一个像素点,其色度值有对应的色度预设值范围,其饱和度值有对应的饱和度预设值范围,其明度值有对应的明度预设值范围。若一个像素点图像的色度值超出色度预设值范围,则判定该像素点显示异常,即该像素点为不良像素点;同样地,若一个像素点图像的饱和度值超出饱和度预设值范围,则该像素点为不良像素点;若一个像素点图像的明度值超出明度预设值范围,则该像素点为不良像素点。
可选地,检测出不良像素点后,标出不良像素点。标出不良像素点的方式也有多种。可选地,可以对获取的图像进行处理,在图像中以不同颜色标出不良像素点。也可以对待测显示面板3所有像素以行列矩阵的形式进行坐标标记,标出不良像素点对应的坐标,即以坐标输出的形式指示不良像素点的位置。坐标输出的形式可以有多种,比如可以直接在所获取的图像上列出不良像素点的坐标,也可以通过打印机打印出不良像素点对应的坐标,还可以通过外接显示装置显示不良像素点的坐标,只要输出的形式能够指示不良像素点的位置即可。本发明实施例能够对待测显示面板3进行自动检测,检测到不良品时,能够自动标出显示面板不良位置,以便质检人员查找不良像素点以及分析不良品不良原因,提高了检验效率。
在其中一个实施例中,获取的图像包括待测显示面板3显示不同测试画面时的多个图像。
其中,测试画面有多个,是指当待测显示面板3显示不同画面时,可以对应每个画面获取一个或多个图像。比如,当待测显示面板3显示第一测试画面时,可以获取显示面板此时的一个图像,也可以获取待测显示面板3显示第一测试画面时的多个图像。再获取显示面板显示第二测试画面时的一个或者多个图像。这样,能够采集多个图像,对多个图像进行综合处理,根据处理结果判定显示面板的像素点是否正常显示。本发明实施例对同一个待测显示面板3显示不同测试画面时的多个图像进行采集,再对采集到的多个图像进行处理,根据处理结果判断待测显示面板3的像素点是否正常显示,能够提高检测的准确性,降低只对单一测试画面采集图像进行检测时可能出现误判的情况。
本发明实施例还提供一种显示面板检测装置,包括:
图像获取模块,用于获取待测显示面板3显示测试画面时的图像,
处理模块,用于对图像进行处理,根据处理结果判断显示面板的像素点是否正常显示。
以上各模块的功能分别对应于显示面板检测方法实施例的各个步骤,在此不再重复赘述。
本发明实施例还提供一种存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的步骤。本领域普通技术人员可以理解实现上述显示面板检测方法实施例中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成的,程序可存储于一种计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory:ROM)或随机存储记忆体(Random Access Memory:RAM)等。上述计算机可读存储介质用于存储本发明实施例所提供的显示面板检测方法的程序(指令),其中执行该程序可以执行本发明实施例所提供的显示面板检测方法的步骤,具备执行方法相应有益效果。可参照上述方法实施例中的描述,此处不再进行赘述。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种显示面板检测系统,其特征在于,包括图像获取单元以及处理单元,
所述图像获取单元用于获取待测显示面板显示测试画面时的图像,并将所述图像发送至所述处理单元;
所述处理单元用于对所述图像进行处理,根据处理结果判断所述显示面板的像素点是否正常显示。
2.根据权利要求1所述的显示面板检测系统,其特征在于,所述处理单元还用于控制所述待测面板显示所述测试画面。
3.一种显示面板检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取待测显示面板显示测试画面时的图像;
对所述图像进行处理,根据处理结果判断所述显示面板的像素点是否正常显示。
4.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述对所述图像进行处理,根据处理结果判断所述显示面板的像素点是否正常显示的过程,包括步骤:
获取所述图像中与所述待测显示面板每个像素点对应的色度值、饱和度值以及明度值;
比对每个所述像素点对应的所述色度值与对应的色度预设范围值、对应的所述饱和度值与对应的饱和度预设范围值、对应的明度值与对应的明度预设范围值,根据比对结果判断所述像素点是否正常显示。
5.根据权利要求4所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述根据比对结果判断所述像素点是否正常显示的过程,包括步骤:
若所述像素点对应的色度值在对应的所述色度值预设范围内、并且对应的饱和度值在对应的所述饱和度预设范围值内以及对应的明度值在对应的所述明度预设范围值的范围内,则所述像素点显示正常。
6.根据权利要求5所述的显示面板的检测方法,其特征在于,还包括步骤:
若所述像素点对应的色度值超出对应的色度预设范围值、或者对应的饱和度值超出对应的饱和度预设范围值、或者对应的明度值超出对应的明度预设范围值,则判定所述像素点显示异常。
7.根据权利要求6所述的显示面板的检测方法,其特征在于,对判定显示异常的所述像素点,还包括步骤:
以坐标形式标示判定显示异常的所述像素点。
8.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述图像包括所述待测显示面板显示不同测试画面时的多个图像。
9.一种显示面板的检测装置,其特征在于,包括:
图像获取模块,用于获取待测显示面板显示测试画面时的图像,
处理模块,用于对所述图像进行处理,根据处理结果判断所述显示面板的像素点是否正常显示。
10.一种存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求3至8中任一项所述方法的步骤。
CN201910240544.8A 2019-03-28 2019-03-28 显示面板检测系统、方法、装置以及存储介质 Pending CN109978864A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910240544.8A CN109978864A (zh) 2019-03-28 2019-03-28 显示面板检测系统、方法、装置以及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910240544.8A CN109978864A (zh) 2019-03-28 2019-03-28 显示面板检测系统、方法、装置以及存储介质

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109978864A true CN109978864A (zh) 2019-07-05

Family

ID=67081117

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910240544.8A Pending CN109978864A (zh) 2019-03-28 2019-03-28 显示面板检测系统、方法、装置以及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109978864A (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111953962A (zh) * 2020-07-13 2020-11-17 西安万像电子科技有限公司 监控方法及系统
CN111968557A (zh) * 2020-09-03 2020-11-20 广州视源电子科技股份有限公司 背光模组的补偿方法和补偿系统
CN112595496A (zh) * 2020-12-31 2021-04-02 深圳惠牛科技有限公司 近眼显示设备的不良检测方法、装置、设备及存储介质
CN113496661A (zh) * 2020-03-18 2021-10-12 西安诺瓦星云科技股份有限公司 Led显示控制系统检测方法、装置及系统
CN113758680A (zh) * 2020-06-04 2021-12-07 和硕联合科技股份有限公司 发光元件检测装置
US11972548B2 (en) 2020-12-03 2024-04-30 Boe Technology Group Co., Ltd. Computer-implemented method for defect analysis, apparatus for defect analysis, computer-program product, and intelligent defect analysis system

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103024434A (zh) * 2012-12-20 2013-04-03 广州视源电子科技股份有限公司 一种基于图像匹配的自动测试系统
CN203232220U (zh) * 2013-04-24 2013-10-09 合肥京东方光电科技有限公司 一种液晶面板检测设备
CN104679462A (zh) * 2013-11-27 2015-06-03 英业达科技有限公司 屏幕检测系统及其方法
CN104952402A (zh) * 2014-03-27 2015-09-30 株式会社日本显示器 显示装置以及显示装置的驱动方法
CN105788500A (zh) * 2016-05-20 2016-07-20 京东方科技集团股份有限公司 一种不良子像素的定位方法、装置
CN107132233A (zh) * 2017-05-25 2017-09-05 京东方科技集团股份有限公司 显示面板中不良坐标位置的核验方法及系统
CN108230975A (zh) * 2018-02-27 2018-06-29 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板和显示面板的检测方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103024434A (zh) * 2012-12-20 2013-04-03 广州视源电子科技股份有限公司 一种基于图像匹配的自动测试系统
CN203232220U (zh) * 2013-04-24 2013-10-09 合肥京东方光电科技有限公司 一种液晶面板检测设备
CN104679462A (zh) * 2013-11-27 2015-06-03 英业达科技有限公司 屏幕检测系统及其方法
CN104952402A (zh) * 2014-03-27 2015-09-30 株式会社日本显示器 显示装置以及显示装置的驱动方法
CN105788500A (zh) * 2016-05-20 2016-07-20 京东方科技集团股份有限公司 一种不良子像素的定位方法、装置
CN107132233A (zh) * 2017-05-25 2017-09-05 京东方科技集团股份有限公司 显示面板中不良坐标位置的核验方法及系统
CN108230975A (zh) * 2018-02-27 2018-06-29 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板和显示面板的检测方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113496661A (zh) * 2020-03-18 2021-10-12 西安诺瓦星云科技股份有限公司 Led显示控制系统检测方法、装置及系统
CN113758680A (zh) * 2020-06-04 2021-12-07 和硕联合科技股份有限公司 发光元件检测装置
CN111953962A (zh) * 2020-07-13 2020-11-17 西安万像电子科技有限公司 监控方法及系统
CN111968557A (zh) * 2020-09-03 2020-11-20 广州视源电子科技股份有限公司 背光模组的补偿方法和补偿系统
US11972548B2 (en) 2020-12-03 2024-04-30 Boe Technology Group Co., Ltd. Computer-implemented method for defect analysis, apparatus for defect analysis, computer-program product, and intelligent defect analysis system
CN112595496A (zh) * 2020-12-31 2021-04-02 深圳惠牛科技有限公司 近眼显示设备的不良检测方法、装置、设备及存储介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109978864A (zh) 显示面板检测系统、方法、装置以及存储介质
CN100392367C (zh) 测量色度坐标的系统
CN106920496A (zh) 显示面板的检测方法和检测装置
JP3620946B2 (ja) スキャッタグラムの表示方法および粒子計測装置
KR20030089785A (ko) 디스플레이 장치의 화질 분석 방법 및 시스템
CN104464685B (zh) 调整显示装置的灰阶过渡和色彩的方法及装置
CN107221288B (zh) 灰阶电压调节装置及方法、显示驱动装置及显示装置
CN109471276A (zh) 一种液晶屏色偏缺陷检测方法及装置
US11647174B2 (en) Method for testing crosstalk of screen
CN106770274A (zh) 作物的生理表征检测方法、可携带式检测装置与检测系统
CN109445134A (zh) 一种自动量测液晶显示模组光学数据的系统及方法
CN106226033A (zh) 检测透光基板透过率的方法及装置
CN114255232B (zh) Led显示屏显示缺陷检测方法、电子设备及装置
CN114613315A (zh) 一种伽马曲线学习方法及led显示控制器
CN105679263B (zh) 用于拼接显示装置显示颜色的方法及系统
CN102044225A (zh) 液晶显示器及其驱动方法
CN102053393B (zh) 一种液晶模块的测试装置及其测试方法
CN106713904A (zh) 一种vga接口测试方法、装置及系统
CN113012607A (zh) 显示模块检测方法、装置和系统
CN116386498A (zh) 一种量化评估数据集构造方法、装置及设备
CN101178422B (zh) 字符型发光器件检测方法
CN103996364B (zh) 显示设备色彩表现的测试方法及系统
CN107450205A (zh) 一种lcm屏测试方法及其装置
CN101571449A (zh) 屏幕色阶测试装置及方法
CN110321907A (zh) 一种数据处理顺序的确定方法、显示装置及其显示方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20190705