CN107132233A - 显示面板中不良坐标位置的核验方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提出一种显示面板中不良坐标位置的核验方法及系统,其中,该方法包括:获取待检测显示面板的不良坐标位置;根据待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置;在模拟显示面板中显示模拟坐标位置以将待检测显示面板的不良坐标位置投影至模拟显示面板之上。该实施例的方法将显示面板的坐标位置准确投射至模拟显示面板之上,方便了相关人员根据模型显示面板上的坐标位置进行复判,精确标定了不良在显示面板上的坐标位置,进而可提高维修不良的显示面板的效率。
Description
技术领域
本发明涉及显示设备检测技术领域,特别涉及一种显示面板中不良坐标位置的核验方法及系统。
背景技术
目前,在显示面板在生产过程中,由于各种不可控因素,会出现一些有不良的显示面板,会给显示面板生产带来损失。但这些有不良的显示面板并不是所有都会报废,其中某些特定的点、线等不良是可以通过维修手段来修善不良的。
在维修不良的显示面板的过程中,需要精确标定不良在显示面板上的具体坐标位置,目前,可利用信号发生器测量方式确定显示面板中不良的坐标位置,然后,通过人工复判的方式对显示面板的不良的坐标位置进行复判,或者,通过人工测量标定方式。
其中,人工测量标定方式检测人员通过测量设备例如尺子来测量显示面板中不良的坐标位置,这种标定坐标方式缓慢,生成效率低,且标定的坐标位置容易受人为因素影响而坐标位置存在误差,从而影响了维修不良的显示面板的成功率。
其中,利用信号发生器测量的方式是通过信号发生器产生的十字光标与显示面板不良相重合,从信号发生器的十字光标的位置来获得显示面板不良的坐标位置。这种方式需要信号发生器能够获得十字光标的位置,这就要求测量方式是探针与显示面板的信号接线是一对一的对应。如果显示面板的信号接线有短接,则在第一次检测完后,需要用激光器切割掉信号线短接的部分,再把有可维修不良的面板进行再次人工检测来上传坐标,这样相当于多进行了一次检测,降低了生产效率。并且对于中小尺寸的面板,信号接线间的间距较小,用探针与信号接线一对一的连接方式技术难度较大。
相关技术中的人工复判方式为在复判工位暗室中安装激光投影仪,然后,利用所获得的显示面板的不良坐标数据直接在复判面板表面进行激光投影,标示出不良实际位置。然而,上述复判方式至少存在以下问题:(1)因激光投影距离与方向定位,极易出现投影位置与实际不良位置有较大偏差,反而干扰作业员复判操作;(2)因成盒检测工艺设备中前偏光玻璃板的必要存在,实际投影出的光点反射和散射非常强烈,几乎不能实际观察到有效投影光点。(3)该方法仅能对点不良进行标示,对其他类型的不良无法对作业员进行有效提示,存在一定的局限性。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术问题。
为此,本发明的第一个目的在于提出一种显示面板中不良坐标位置的核验方法,将显示面板的不良坐标位置准确投射至模拟显示面板之上,方便了相关人员根据模型显示面板上的坐标位置进行复判,精确标定了不良在显示面板上的坐标位置,进而可提高维修不良的显示面板的效率。
本发明的第二个目的在于提出一种显示面板中不良坐标位置的核验系统。
为达上述目的,根据本发明第一方面实施例提出了一种显示面板中不良坐标位置的核验方法,包括以下步骤:获取待检测显示面板的不良坐标位置;根据所述待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置;在所述模拟显示面板中显示所述模拟坐标位置以将所述待检测显示面板的不良坐标位置投影至所述模拟显示面板之上。
优选地,所述获取待检测显示面板的不良坐标位置具体包括:控制所述待检测显示面板显示检测画面;对所述待检测显示面板进行拍照以获取对应的显示图像;对所述显示图像进行分析以获取不良坐标位置。
优选地,所述根据所述待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置具体包括:获取所述待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率;获取所述模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值;根据所述不良坐标位置、所述待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率,以及所述模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值生成所述模拟显示面板的模拟坐标位置。
优选地,在所述对所述待检测显示面板进行拍照以获取对应的显示图像之后,还包括:根据所述显示图像检测所述待检测显示面板的不良类型代码;在所述模拟显示面板中标记所述不良类型代码。
优选地,所述获取待检测显示面板的不良坐标位置具体包括:读取所述待检测显示面板的标识;根据所述待检测显示面板的标识从服务器读取对应的不良坐标位置。
为达上述目的,本发明第二方面实施例提出了一种显示面板中不良坐标位置的核验系统,包括:检测装置,用于获取待检测显示面板的不良坐标位置;模拟显示面板;以及控制装置,用于根据所述待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置,并在所述模拟显示面板中显示所述模拟坐标位置以将所述待检测显示面板的不良坐标位置投影至所述模拟显示面板之上。
优选地,所述检测装置包括:控制模块,用于控制所述待检测显示面板显示检测画面;图像获取模块,用于对所述待检测显示面板进行拍照以获取对应的显示图像;分析模块,用于对所述显示图像进行分析以获取不良坐标位置。
优选地,所述控制装置包括:第一获取模块,用于获取所述待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率;第二获取模块,用于获取所述模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值;生成模块,用于根据所述不良坐标位置、所述待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率,以及所述模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值生成所述模拟显示面板的模拟坐标位置。
优选地,所述检测装置还包括:检测模块,用于根据所述显示图像检测所述待检测显示面板的不良类型代码;所述控制装置还包括:标记模块,用于在所述模拟显示面板中标记所述不良类型代码。
优选地,还包括:读取装置,用于读取所述待检测显示面板的标识;服务器,用于存储所述检测装置发送的不良坐标位置,其中,所述控制装置根据所述待检测显示面板的标识从所述服务器读取对应的不良坐标位置。
本发明实施例的显示面板中不良坐标位置的核验方法及系统,获取待检测显示面板的不良坐标位置,根据待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置,以及在模拟显示面板中显示模拟坐标位置以将待检测显示面板的不良坐标位置投影至模拟显示面板之上,由此,将显示面板的不良坐标位置准确投射至模拟显示面板之上,方便了相关人员根据模型显示面板上的坐标位置进行复判,精确标定了不良在显示面板上的坐标位置,进而可提高维修不良的显示面板的效率。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1为根据本发明一个实施例的显示面板中不良坐标位置的核验方法的流程图;
图2为根据待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置的细化流程图;
图3为根据本发明一个具体实施例的显示面板中不良坐标位置的核验方法的流程图;
图4a为包含纵向贯穿线的模拟显示面板的示例图;
图4b为包含横向贯穿线的模拟显示面板的示例图;
图4c为包含纵向贯穿线的模拟显示面板的示例图;
图4d为包含横向未贯穿线的模拟显示面板的示例图;
图4e为横纵交叉贯穿线的模拟显示面板的示例图;
图5为在模拟显示面板距离左边71.6mm处显示出纵向的线不良的示例图;
图6为在模拟显示面板分别距离上边缘处18.3mm、74.1mm、118.6mm处显示出三条横向的线不良的示例图;
图7为在模拟显示面板(87.8,31.4)处显示出点不良的示例图;
图8为根据本发明一个实施例的显示面板中不良坐标位置的核验系统的结构示意图;
图9为根据本发明另一个实施例的显示面板中不良坐标位置的核验系统的结构示意图;
图10为根据本发明又一个实施例的显示面板中不良坐标位置的核验系统的结构示意图;
图11为根据本发明再一个实施例的显示面板中不良坐标位置的核验系统的结构示意图;
图12为根据本发明另一个实施例的显示面板中不良坐标位置的核验系统的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例,实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。
下面参考附图描述根据本发明实施例的显示面板中不良坐标位置的核验方法及系统。
图1为根据本发明一个实施例的显示面板中不良坐标位置的核验方法的流程图。
如图1所示,根据本发明实施例的显示面板中不良坐标位置的核验方法,包括以下步骤。
S11,获取待检测显示面板的不良坐标位置。
在本发明的一个实施例中,在需要对待检测显示面板进行核验时,可通过多种方式获取待检测显示面板的不良坐标位置,可以根据实际应用需要进行选择,本实施例对此不作限制,为了更加清楚的说明获取待检测显示面板的不良坐标位置的过程,举例说明如下:
方式一,可控制待检测显示面板显示检测画面,然后,对待检测显示面板进行拍照以获取对应的显示图像,以及对显示图像进行分析以获取不良坐标位置。
具体地,在获得待检测显示面板后,可对待检测显示面板上电,并控制待检测显示面板显示预设的检测画面,然后,通过图像采集装置例如像素镜头对待检测显示面板进行拍照,以获取待检测显示面板对应的显示图像,然后,通过对显示图像中各个像素的灰阶值进行分析,以确定出待检测显示面板中的不良坐标位置。
其中,需要说明的是,可通过现有技术对显示图像进行分析以获取不良坐标位置,此处不再赘述。
方式二,可读取待检测显示面板的标识,然后,根据待检测显示面板的标识从服务器读取对应的不良坐标位置。
具体地,在需要对待检测显示面板进行核验时,可通过读取装置读取待检测显示面板的标识,然后,将所读取的待检测显示面板的标识发送给服务器,对应的服务器根据待检测显示面板的标识获取待检测显示面板的不良坐标位置,并返回待检测显示面板的不良坐标位置。
其中,待检测显示面板的标识用于唯一标识待检测显示面板,每个待检测显示面板对应的标识均不相同。
S12,根据待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置。
在本发明的一个实施例中,根据待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置的过程,如图2所示,可以包括:
S21,获取待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率。
S22,获取模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值。
S23,根据不良坐标位置、待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率,以及模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值生成模拟显示面板的模拟坐标位置。
假设用(x,y)表示不良坐标位置,(x′,y′)表示模拟坐标位置,V和H分别表示横向分辨率和纵向分辨率,a和b表示模拟显示面板的横向长度值和纵向长度值。不良坐标位置和和模拟坐标位置之间的关系如下公式所示:
S13,在模拟显示面板中显示模拟坐标位置以将待检测显示面板的不良坐标位置投影至模拟显示面板之上。
本发明实施例的显示面板中不良坐标位置的核验方法,获取待检测显示面板的不良坐标位置,根据待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置,以及在模拟显示面板中显示模拟坐标位置以将待检测显示面板的不良坐标位置投影至模拟显示面板之上,由此,将显示面板的不良坐标位置准确投射至模拟显示面板之上,方便了相关人员根据模型显示面板上的坐标位置进行复判,精确标定了不良在显示面板上的坐标位置,进而可提高维修不良的显示面板的效率。
基于上述实施例的基础上,为了提示相关人员准确选择检测显示面板的不良名称,在本发明的一个实施例中,在获取待检测显示面板的显示图像后,还可以根据显示图像检测待检测显示面板的不良类型代码,以及在模拟显示面板中标记不良类型代码。由此,使得相关人员可根据模拟显示面板中的标记选择待检测显示面板的不良名称,有效提示了相关人员,进而可提高相关人员的标定效率。
其中,不良类型可以包括但不限于点、线和Mura(云纹)。
其中,线不良类型可以包括纵向贯穿、横向贯穿、纵向或者横向未贯穿、横向与纵向交叉贯穿等具体的线不良。
举例而言,对于不良类型是点或Mura,模拟显示面板中可以用不同颜色的圆圈标记点或Mura不良类型,对于不良类型是线,模拟显示面板可以用纵向贯穿线、横向贯穿线、纵向或者横向未贯穿线、横向与纵向交叉贯穿线。
其中,需要理解的是,模拟显示面板中纵向或者横向未贯穿线的起点与终点是根据待检测显示面板的纵向或者横向未贯穿线的起点与终点转换而来的。
其中,需要说明的是,不同不良类型所使用的不良类型代码不同,例如,不良类型为点、线和Mura,可通过不良类型代码1表示不良类型点,可通过不良类型代码2表示不良类型线,可通过不良类型代码3表示不良类型Mura。
其中,需要理解的是,在获取待检测显示面板的不良类型代码后,可通过解析不良类型代码确定待检测显示面板的不良类型。
举例而言,假设不良类型代码1表示不良类型点,不良类型代码2表示不良类型线,不良类型代码3表示不良类型Mura,如果获取待检测显示面板的不良类型代码为2,此时,可确定待检测显示面板的不良类型为线不良。
图3为根据本发明一个具体实施例的显示面板中不良坐标位置的核验方法的流程图。
如图3所示,根据本发明实施例的显示面板中不良坐标位置的核验方法,包括以下步骤。
S31,检测装置控制待检测显示面板显示检测画面。
具体地,在检测装置获取待检测显示面后,检测装置可对待检测显示面板上电,并控制待检测显示面板显示预设的检测画面。
S32,检测装置对待检测显示面板进行拍照以获取对应的显示图像。
在检测装置控制待检测显示面板显示预设的检测画面后,检测装置可通过图像采集装置例如像素镜头对待检测显示面板进行拍照,以获取对应的显示图像。
S33,检测装置对显示图像进行分析以获取不良坐标位置。
作为一种示例性的实施方式,在检测装置获取待检测显示面板对应的显示图像(不良相貌原始图像)后,检测装置可通过以左上角为坐标原点的图像分析软件对显示图像进行分析,以通过显示图像的分析结果确定出待检测显示面板的不良坐标位置信息。
在本发明的一个实施例中,在检测装置获取待检测显示面板对应的显示图像(不良相貌原始图像)后,检测装置根据显示图像检测待检测显示面板的不良类型代码。
S34,检测装置通过对待检测显示面板的不良坐标位置进行分析,以生成待检测显示面板的判级信息。
其中,待检测显示面板的判级信息可以包括但不限于待检测显示面板的等级、不良类型代码和不良坐标位置等信息。其中,待检测显示面板的等级是根据出货客户端的要求以及根据不良的程度进行区分的。其中,客户要求不同等级也有所不同。例如,待测显示面板的等级可以包括P等级、S等级、Q等级和N等级,其中,P等级、S等级、Q等级和N等级表示待检测显示面板的等级依次降低。
S35,检测装置将待检测显示面板的判级信息上传至服务器,以使服务器保存待检测显示面板的判级信息。
S36,控制装置读取待检测显示面板的标识。
S37,控制装置根据待检测显示面板的标识从服务器中读取待检测显示面板的判级信息。
其中,判级信息中包含待检测显示面板的等级、不良类型代码和不良坐标等信息。
S38,控制装置根据待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置。
在本发明的一个实施例中,在获取待检测显示面板的不良坐标和不良类型代码后,还可以根据不良类型代码和不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置。
作为一种示例性的实施方式,在获取待检测显示面板的不良坐标和不良类型代码后,可根据不良类型代码和不良坐标位置,按照预先设置的转换规则,生成模拟显示面板的模拟坐标位置。
在控制装置获取待检测显示面板的判级信息后,可分析判级信息中的不良类型代码和不良坐标位置的特征确定待检测显示面板的不良类型以及不良的坐标位置。
作为一种示例性的实施方式,在获取待检测显示面板的判级信息,如果根据不良类型代码确定不良类型为点,则根据不良坐标位置、待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率,以及模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值生成模拟显示面板的模拟坐标位置。
如果根据不良类型代码确定不良类型为Mura,则根据不良坐标位置、待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率,以及模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值生成模拟显示面板的模拟坐标位置。
如果根据不良类型代码确定不良类型为线不良,则根据不良坐标位置的特征确定线不良的具体类型,下面分别对确定线不良的具体分类的过程进行描述:
(1)纵向贯穿的线不良
如果分析确定不良坐标位置中坐标的第二个数值为1,则确定待检测显示面板的不良为纵向贯穿的线不良,然后,根据不良坐标位置中的X轴上的数值、待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率,以及模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值生成模拟显示面板的模拟坐标位置中X轴上的数值了,并在模拟显示面板中对应的X轴上的相应位置上以纵向贯穿线标示。
其中,模拟显示面板上的X位置上,以纵向贯穿线标示,坐标显示(X,1)的示例图,如图4a所示。
(2)横向贯穿的线不良
如果分析确定不良坐标位置中坐标的第一个数值为1,则确定待检测显示面板的不良为横向贯穿的线不良,然后,根据不良坐标位置中的Y轴上的数值、待检测显示面板的横向分辨率和横向分辨率,以及模拟显示面板的横向长度值和横向宽度值生成模拟显示面板的模拟坐标位置中Y轴上的数值了,并在模拟显示面板中对应的Y轴上的相应位置上以横向贯穿线标示。
其中,在模拟显示面板上的Y位置上,以横向贯穿线标示,坐标显示(1,Y)的示例图,如图4b所示。
(3)纵向未贯穿的线不良
如果确定待检测显示面板的不良坐标位置有两个,且这两个不良坐标位置中X轴上的坐标数值相同,Y轴上的坐标取值不同,则确定待检测显示面板的不良为纵向未贯穿的线不良,然后,根据不良坐标位置、待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率,以及模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值生成模拟显示面板的模拟坐标位置。假设获取模拟显示面板的模拟坐标位置为(X,Y1)和(X,Y2),在模拟显示面板的X位置上以纵向未贯穿线标示。其中,纵向未贯穿线的起点坐标(X,Y1),终点坐标(X,Y2),如图4c所示。
(4)横向未贯穿的线不良
如果确定待检测显示面板的不良坐标位置有两个,且这两个不良坐标位置中Y轴上的坐标数值相同,X轴上的坐标取值不同,则确定待检测显示面板的不良为横向未贯穿的线不良,然后,根据不良坐标位置、待检测显示面板的横向分辨率和横向分辨率,以及模拟显示面板的横向长度值和横向宽度值生成模拟显示面板的模拟坐标位置。假设获取模拟显示面板的模拟坐标位置为(X1,Y)和(X2,Y),在模拟显示面板的Y位置上以横向未贯穿线标示。其中,横向未贯穿线的起点坐标(X1,Y),终点坐标(X2,Y),如图4d所示。
(5)横纵交叉贯穿的线不良
如果确定待检测显示面板的不良坐标位置有两个,且这两个不良坐标位置中有一个不良坐标位置中坐标的第一个数值为1,且另一个不良坐标位置中坐标的第二个数值为1,或者,或者有一个不良坐标位置中坐标的第二个数值为1,且另一个不良坐标位置中坐标的第二个数值为1,则确定待检测显示面板的不良为横纵交叉贯穿的线不良。然后,根据不良坐标位置、待检测显示面板的横向分辨率和横向分辨率,以及模拟显示面板的横向长度值和横向宽度值生成模拟显示面板的模拟坐标位置。假设获取模拟显示面板的模拟坐标位置为(X,1)和(1,Y),在模拟显示面板的Y位置上以横向贯穿线标示,并在模拟显示面板的X位置上以纵向贯穿线标示。其中,模拟显示面板中显示的横纵交叉贯穿的线不良的示例图,如图4e所示。
举例而言,当一张在第372列像素处有亮线不良的32寸高清显示面板进入到检测装置进行点亮并判定时,检测装置中的像素镜头可对显示面板的各个检测画面进行拍照,检测判定结束后生成面板不良相貌原始图片,然后,通过分析原始图片判定显示面板有一条纵向贯穿亮线并标定坐标为(372,1),即不良坐标位置为(372,1),并将线不良对应的不良类型代码以及不良坐标位置上传至服务器。在该显示面板进入人工复判时,控制装置可根据显示面板的标识从服务器中获取显示面板的判级信息,根据不良类型代码可以知道是线不良,以及根据不良坐标位置的第二个坐标是“1”,根据模拟规则为纵向线不良。假设32寸高清显示面板的分辨率为1366×768,利用不良坐标变换出不良在263×148大小的模拟显示面板上的位置是距离左边缘71.6mm。在模拟显示面板距离左边71.6mm处显示出纵向的线不良(如图5所示)。在作业员对该显示面板进行复判时,通过模拟显示面板的提示,在显示面板对应的位置上发现了一条纵向的线不良。作业员判定等级和不良名称后,点击模拟显示面板上纵向的线,控制装置根据作业员点击的线不良,生成检测装置判定的坐标(372,1),即,在模拟显示面板上显示(372,1)。
其中,需要说明的是,在实际应用中,图5中所示的纵向贯穿的线是有颜色的。
又例如,当一张在第1082行像素处有亮线不良的55寸超高清显示面板进入到检测装置进行点亮并判定时,检测装置中的像素镜头会对显示面板的各个检测画面进行拍照,检测判定结束后生成面板不良相貌原始图片,假设根据不良相貌原始图片分析出三条横向亮线并标定坐标分别为(1,267)、(1,1082)、(1,1731),将线不良对应的不良类型代码以及不良坐标位置上传至服务器,以使服务器保存该显示面板的不良类型代码以及不良坐标位置。在该显示面板需要复判时,控制装置根据显示面板的标识从服务器中获取该显示面板的不良类型代码以及不良坐标位置,根据不良代码可以知道是线不良,通过分析可以确定三个不良坐标位置中,每个不良坐标位置中坐标的第一个数值均是“1”,根据模拟规则确定不良为横向线不良。55寸超高清显示面板的分辨率为3840×2160,利用不良坐标变换出不良在263×148大小的模拟显示面板上的位置是距离上边缘18.3mm、74.1mm、118.6mm。在模拟显示面板分别距离上边缘处18.3mm、74.1mm、118.6mm处显示出三条横向的线不良(如图6所示),在作业员对该显示面板复判时,通过模拟显示面板的提示,在显示面板上只发现了一条横向的线不良。作业员根据实际显示面板上不良判定等级和不良名称后,点击模拟显示面板上与真实不良位置相对应的横向线,控制模块就能根据作业员点击的线不良,生成检测装置判定的坐标(1082,1)。
其中,需要说明的是,在实际应用中,图6中所示的三条横向贯穿的线是有颜色的。
又例如,在一张在像素(456,163)处有点不良的32寸高清显示面板进入到检测装置进行点亮并判定时,检测装置中的像素镜头会对显示面板的各个检测画面进行拍照,检测判定结束后生成面板不良相貌原始图片,通过分析原始图片判定显示面板点不良并标定坐标为(456,163),然后,检测装置将点不良对应的不良类型代码以及不良坐标位置上传至服务器。当该显示面板进入人工复判时,控制装置根据该显示面板的标识从服务器中获取该显示面板的判级信息,根据不良代码可以知道是点不良。假设32寸高清显示面板的分辨率为1366×768,利用不良坐标变换出不良在263×148大小的模拟显示面板上的位置是(87.8,31.4)。在模拟显示面板(87.8,31.4)处显示出点不良(如图7所示),作业员在对该显示面板复判时,通过模拟显示面板的提示,在显示面板对应的位置上发现了一个点不良。作业员选择不良名称后,点击模拟显示面板上的点不良,控制模块能根据作业员点击的点不良,生成检测装置判定的坐标(456,163)。
S39,控制装置在模拟显示面板中显示模拟坐标位置以及不良代码类型对应的标记。
其中,需要理解的是,在模拟显示面板中显示不良类型代码的标记后,在作业员进行待检测显示面板复判时,作业员可根据该标记的提示来选择不良名称,控制模块接收作业员选择的不良名称,并根据作业员的点击操作生成检测装置判定的不良坐标,即,在模拟显示面板中显示待检测面板中的不良坐标位置信息。
其中,需要说明的是,若作业员在选择不良名称后,控制模块接收到作业员的多次点击操作,控制模块可根据点击操作将不良名称与显示待检测面板中的多个不良坐标位置对应。
本发明实施例的显示面板中不良坐标位置的核验方法,获取待检测显示面板的不良坐标位置,根据待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置,以及在模拟显示面板中显示模拟坐标位置以将待检测显示面板的不良坐标位置投影至模拟显示面板之上,由此,将显示面板的不良坐标位置准确投射至模拟显示面板之上,方便了相关人员根据模型显示面板上的坐标位置进行复判,精确标定了不良在显示面板上的坐标位置,进而可提高维修不良的显示面板的效率。
为了实现上述实施例,本发明还提出一种显示面板中不良坐标位置的核验系统。
图8为根据本发明一个实施例的显示面板中不良坐标位置的核验系统的结构示意图。
如图8所示,根据本发明实施例的显示面板中不良坐标位置的核验系统,包括检测装置100、模拟显示面板200和控制装置300,其中:
检测装置100用于获取待检测显示面板的不良坐标位置。
控制装置300用于根据待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置,并在模拟显示面板200中显示模拟坐标位置以将待检测显示面板的不良坐标位置投影至模拟显示面板之上。
在本发明的一个实施例中,在图8所示的基础上,如图9所示,该检测装置100可以包括控制模块110、图像获取模块120和分析模块130,其中:
控制模块110用于控制待检测显示面板显示检测画面。
图像获取模块120用于对待检测显示面板进行拍照以获取对应的显示图像。
分析模块130用于对显示图像进行分析以获取不良坐标位置。
在本发明的一个实施例中,在图8所示的基础上,如图10所示,控制装置300可以包括第一获取模块310、第二获取模块320和生成模块330,其中:
第一获取模块310用于获取待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率。
第二获取模块320用于获取模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值。
生成模块330用于根据不良坐标位置、待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率,以及模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值生成模拟显示面板的模拟坐标位置。
假设用(x,y)表示不良坐标位置,(x′,y′)表示模拟坐标位置,V和H分别表示横向分辨率和纵向分辨率,a和b表示模拟显示面板的横向长度值和纵向长度值。不良坐标位置和和模拟坐标位置之间的关系如下公式所示:
在本发明的一个实施例中,在图9所示的基础上,如图11所示,该检测装置100还可以包括检测模块140,该检测模块140用于根据显示图像检测待检测显示面板的不良类型代码。
如图11所示,该控制装置300还可以包括标记模块340,该标记模块340用于在模拟显示面板中标记不良类型代码。
其中,不良类型可以包括但不限于点、线和Mura(云纹)。
其中,线不良类型可以包括纵向贯穿、横向贯穿、纵向或者横向未贯穿、横向与纵向交叉贯穿等具体的线不良。
举例而言,对于不良类型是点或Mura,模拟显示面板中可以用不同颜色的圆圈标记点或Mura不良类型,对于不良类型是线,模拟显示面板可以用纵向贯穿线、横向贯穿线、纵向或者横向未贯穿线、横向与纵向交叉贯穿线。
其中,需要理解的是,模拟显示面板中纵向或者横向未贯穿线的起点与终点是根据待检测显示面板的纵向或者横向未贯穿线的起点与终点转换而来的。
其中,需要说明的是,不同不良类型所使用的不良类型代码不同,例如,不良类型为点、线和Mura,可通过不良类型代码1表示不良类型点,可通过不良类型代码2表示不良类型线,可通过不良类型代码3表示不良类型Mura。
其中,需要理解的是,在控制装置300获取待检测显示面板的不良类型代码后,控制装置300可通过解析不良类型代码确定待检测显示面板的不良类型。举例而言,假设不良类型代码1表示不良类型点,不良类型代码2表示不良类型线,不良类型代码3表示不良类型Mura,如果获取待检测显示面板的不良类型代码为2,此时,可确定待检测显示面板的不良类型为线不良。
在本发明的一个实施例中,在获取待检测显示面板的不良坐标和不良类型代码后,控制装置300还可以根据不良类型代码和不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置。
作为一种示例性的实施方式,在获取待检测显示面板的不良坐标和不良类型代码后,控制装置300可根据不良类型代码和不良坐标位置,按照预先设置的转换规则,生成模拟显示面板的模拟坐标位置。
其中,需要说明的是,根据不良类型代码和不良坐标位置,按照预先设置的转换规则,生成模拟显示面板的模拟坐标位置的具体过程,可参见上述显示面板中不良坐标位置的核验方法实施例的相关描述,此处不再赘述。
在本发明的一个实施例中,如图8所示的基础上,如图12所示,该系统还可以包括读取装置400和服务器500,其中:
读取装置400用于读取待检测显示面板的标识。
服务器500用于存储检测装置发送的不良坐标位置,其中,控制装置300根据待检测显示面板的标识从服务器500读取对应的不良坐标位置。
其中,需要说明的是,前述对显示面板中不良坐标位置的核验方法的解释说明也适用于该实施例的显示面板中不良坐标位置的核验系统,此处不再赘述。
本发明实施例的显示面板中不良坐标位置的核验系统,获取待检测显示面板的不良坐标位置,根据待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置,以及在模拟显示面板中显示模拟坐标位置以将待检测显示面板的不良坐标位置投影至模拟显示面板之上,由此,将显示面板的不良坐标位置准确投射至模拟显示面板之上,方便了相关人员根据模型显示面板上的坐标位置进行复判,精确标定了不良在显示面板上的坐标位置,进而可提高维修不良的显示面板的效率。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为,表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分,并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现,其中可以不按所示出或讨论的顺序,包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序,来执行功能,这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤,例如,可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表,可以具体实现在任何计算机可读介质中,以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用,或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言,"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下:具有一个或多个布线的电连接部(电子装置),便携式计算机盘盒(磁装置),随机存取存储器(RAM),只读存储器(ROM),可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器),光纤装置,以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外,计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质,因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描,接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序,然后将其存储在计算机存储器中。
应当理解,本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中,多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如,如果用硬件来实现,和在另一实施方式中一样,可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现:具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路,具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路,可编程门阵列(PGA),现场可编程门阵列(FPGA)等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,该程序在执行时,包括方法实施例的步骤之一或其组合。
此外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本发明的限制,本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
Claims (10)
1.一种显示面板中不良坐标位置的核验方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取待检测显示面板的不良坐标位置;
根据所述待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置;
在所述模拟显示面板中显示所述模拟坐标位置以将所述待检测显示面板的不良坐标位置投影至所述模拟显示面板之上。
2.如权利要求1所述的显示面板中不良坐标位置的核验方法,其特征在于,所述获取待检测显示面板的不良坐标位置具体包括:
控制所述待检测显示面板显示检测画面;
对所述待检测显示面板进行拍照以获取对应的显示图像;
对所述显示图像进行分析以获取不良坐标位置。
3.如权利要求1所述的显示面板中不良坐标位置的核验方法,其特征在于,所述根据所述待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置具体包括:
获取所述待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率;
获取所述模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值;
根据所述不良坐标位置、所述待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率,以及所述模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值生成所述模拟显示面板的模拟坐标位置。
4.如权利要求2所述的显示面板中不良坐标位置的核验方法,其特征在于,在所述对所述待检测显示面板进行拍照以获取对应的显示图像之后,还包括:
根据所述显示图像检测所述待检测显示面板的不良类型代码;
在所述模拟显示面板中标记所述不良类型代码。
5.如权利要求1所述的显示面板中不良坐标位置的核验方法,其特征在于,所述获取待检测显示面板的不良坐标位置具体包括:
读取所述待检测显示面板的标识;
根据所述待检测显示面板的标识从服务器读取对应的不良坐标位置。
6.一种显示面板中不良坐标位置的核验系统,其特征在于,包括:
检测装置,用于获取待检测显示面板的不良坐标位置;
模拟显示面板;以及
控制装置,用于根据所述待检测显示面板的不良坐标位置生成模拟显示面板的模拟坐标位置,并在所述模拟显示面板中显示所述模拟坐标位置以将所述待检测显示面板的不良坐标位置投影至所述模拟显示面板之上。
7.如权利要求6所述的显示面板中不良坐标位置的核验系统,其特征在于,所述检测装置包括:
控制模块,用于控制所述待检测显示面板显示检测画面;
图像获取模块,用于对所述待检测显示面板进行拍照以获取对应的显示图像;
分析模块,用于对所述显示图像进行分析以获取不良坐标位置。
8.如权利要求6所述的显示面板中不良坐标位置的核验系统,其特征在于,所述控制装置包括:
第一获取模块,用于获取所述待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率;
第二获取模块,用于获取所述模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值;
生成模块,用于根据所述不良坐标位置、所述待检测显示面板的横向分辨率和纵向分辨率,以及所述模拟显示面板的横向长度值和纵向宽度值生成所述模拟显示面板的模拟坐标位置。
9.如权利要求7所述的显示面板中不良坐标位置的核验系统,其特征在于,所述检测装置还包括:
检测模块,用于根据所述显示图像检测所述待检测显示面板的不良类型代码;
所述控制装置还包括:
标记模块,用于在所述模拟显示面板中标记所述不良类型代码。
10.如权利要求6所述的显示面板中不良坐标位置的核验系统,其特征在于,还包括:
读取装置,用于读取所述待检测显示面板的标识;
服务器,用于存储所述检测装置发送的不良坐标位置,其中,所述控制装置根据所述待检测显示面板的标识从所述服务器读取对应的不良坐标位置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publication Number | Publication Date |
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CN107132233A true CN107132233A (zh) | 2017-09-05 |
CN107132233B CN107132233B (zh) | 2020-06-12 |
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---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
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