CN111065883A - 眼镜框形状测定装置及眼镜框形状测定程序 - Google Patents

Abstract

一种眼镜框形状测定装置，对眼镜框架的形状进行测定，具备：投光光学系统，具有光源，从光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；受光光学系统，通过检测器接收由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈的槽照射且由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光束的反射光束；取得单元，基于由检测器接收到的反射光束，取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状；变更单元，变更反射光束的受光位置；以及控制单元，控制变更单元而以使检测器接收镜圈的槽的反射光束的方式变更反射光束的受光位置。

Description

眼镜框形状测定装置及眼镜框形状测定程序

技术领域

本公开涉及用于得到眼镜框架的形状的眼镜框形状测定装置及控制眼镜框形状测定装置的眼镜框形状测定程序。

背景技术

已知一种眼镜框形状测定装置，该眼镜框形状测定装置通过向眼镜框架的镜圈插入测定件，并使测定件按压于镜圈而使其移动，从而对镜圈的轮廓进行追踪来测定镜圈的形状(例如，参照专利文献1)。基于由该眼镜框形状测定装置得到的镜圈的测定结果(追踪数据)，得到用于将眼镜透镜嵌入镜圈的形状(目标形状)。并且，基于形状决定眼镜透镜的轮廓形状，通过眼镜透镜加工装置加工透镜的周缘。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2015-007536号公报

发明内容

然而，为了将加工后的透镜良好地放入到眼镜框架，认为镜圈的形状和加工后的透镜的轮廓形状越近越优选。然而，在使用测定件的镜圈形状的测定中，虽然容易进行按压测定件的位置处的测定(例如，镜圈的底的部分的测定)，但难以得到镜圈的槽的截面形状。

因此，发明人对具备如下结构的眼镜框形状测定装置进行了研究：朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光，接收由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光的反射光，并基于反射光取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状的结构。然而，在使用这样的眼镜框形状测定装置的情况下，根据眼镜框架的形状，有时难以在检测器的规定的位置良好地接收镜圈的槽的反射光束，难以取得镜圈的槽的截面形状。

鉴于上述现有技术，本公开的技术课题在于提供能够良好地取得各种形状的眼镜框架中的镜圈的截面形状的眼镜框形状测定装置及眼镜框形状测定程序。

为了解决上述课题，本公开的特征在于具备以下的结构。

(1)本发明的第一方式的眼镜框形状测定装置是测定眼镜框架的形状的眼镜框形状测定装置，其特征在于，具备：投光光学系统，具有光源，从所述光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；受光光学系统，具有检测器，通过所述检测器接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射的所述测定光束的反射光束；取得单元，基于由所述检测器接收到的所述反射光束，取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状；变更单元，变更所述反射光束的受光位置；以及控制单元，控制所述变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的槽的所述反射光束的方式变更所述反射光束的受光位置。

(2)本公开的第一方式的眼镜框形状测定程序是在对眼镜框架的形状进行测定的眼镜框形状测定装置中执行的眼镜框形状测定程序，所述眼镜框形状测定装置具备：投光光学系统，具有光源，从所述光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；受光光学系统，具有检测器，通过所述检测器接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射的所述测定光束的反射光束；以及取得单元，基于由所述检测器接收到的所述反射光束，取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状，所述眼镜框形状测定程序的特征在于，所述眼镜框形状测定程序通过由所述眼镜框形状测定装置的处理器执行而使所述眼镜框形状测定装置执行如下控制步骤：控制对所述反射光束的受光位置进行变更的变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的所述反射光束的方式变更所述镜圈的槽的所述反射光束的受光位置。

附图说明

图1是眼镜框形状测定装置的外观概略图。

图2是保持有眼镜框架的状态下的框架保持单元的俯视图。

图3示出从上方观察移动单元的立体图。

图4示出从下方观察移动单元的立体图。

图5示出Z移动单元和Y移动单元的俯视立体图。

图6是对旋转单元进行说明的图。

图7是示出眼镜框架测定光学系统的概略结构图。

图8是涉及眼镜框形状测定装置的控制框图。

图9A是对控制旋转单元而以不同的矢径角来取得镜圈的截面形状的情况的一例进行说明的图。

图9B是对以不同的矢径角来取得镜圈的截面形状的情况的一例进行说明的图。

图10是示出以使测定光束照射到眼镜框架的镜圈的槽的方式使保持单元移动之前的受光结果的图。

图11是示出以使测定光束照射到眼镜框架的镜圈的槽的方式使保持单元移动之后的受光结果的图。

图12是对针对截面图像的亮度分布的取得进行说明的图。

图13是对用于使截面图像移动到规定的位置的控制进行说明的图。

图14是对从镜圈的槽的截面图像取得的参数进行说明的图。

具体实施方式

以下，基于附图对本实施方式进行说明。图1～图14是说明本实施方式的眼镜框形状测定装置的结构的图。此外，在本实施方式中，将眼镜框形状测定装置1的纵深方向(配置眼镜时的眼镜框架的上下方向)设为Y方向，将与纵深方向垂直(配置眼镜时的眼镜框架的左右方向)的平面上的水平方向(左右方向)设为X方向，将铅垂方向(配置眼镜时的眼镜框架的前后方向)设为Z方向来进行说明。此外，按照以下的<>分类的项目能够独立或关联地利用。

此外，在本公开中，并不限定于本实施方式所记载的装置。例如，将进行下述实施方式的功能的终端控制软件(程序)经由网络或各种存储介质等提供给系统或装置。并且，系统或装置的控制装置(例如CPU等)也能够读取并执行程序。

此外，在本实施方式中的眼镜框形状测定装置1中，以眼镜框架F的镜圈部分成为下方向且眼镜框架F的镜腿部分成为上方向的状态配置。即，在眼镜框形状测定装置1配置有眼镜框架F的情况下，眼镜框架F的左右镜圈FL、FR成为下方向，眼镜框架F的左右的镜腿FTL、FTR成为上方向。当然，在本实施方式的眼镜框形状测定装置1中，以眼镜框架F的镜圈部分成为下方向且眼镜框架F的镜腿部分成为上方向的状态配置的结构为例进行说明，但并不限定于此。例如，也可以是以眼镜框架F的镜圈部分成为上方向且眼镜框架F的镜腿部分成为下方向的状态配置的结构。另外，例如，在眼镜框形状测定装置1配置有眼镜框架F的情况下，也可以是以眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的上端成为下方向且眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的下端成为上方向的方式配置的结构。另外，例如，在眼镜框形状测定装置1配置有眼镜框架F的情况下，也可以是以眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的上端成为上方向且眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的下端成为下方向的结构。

<概要>

对本公开的实施方式的眼镜框形状测定装置(例如眼镜框形状测定装置1)的概要进行说明。例如，本实施方式的眼镜框形状测定装置测定眼镜框架的形状。例如，眼镜框形状测定装置具备投光光学系统(例如，投光光学系统30a)。例如，眼镜框形状测定装置具备受光光学系统(例如，受光光学系统30b)。例如，眼镜框形状测定装置具备取得单元(例如，控制部50)。

例如，投光光学系统具有光源(例如，光源31)。例如，投光光学系统从光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束。此外，例如，光源可以使用至少一个以上的光源。例如，也可以使用一个光源。另外，例如也可以使用多个光源。

例如，受光光学系统具有检测器(例如检测器37)。例如，受光光学系统通过检测器接收由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈的槽照射并由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光束的反射光束。此外，例如，检测器可以使用至少一个以上的检测器。例如，也可以使用一个检测器。另外，例如也可以使用多个检测器。

例如，取得单元对由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光束的反射光束进行处理，基于由检测器接收到的测定光束的反射光束，取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。

例如，在本实施方式中，眼镜框形状测定装置具备：投光光学系统，从光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；受光光学系统，通过检测器接收由投光光学系统朝向眼镜框架的所述镜圈照射并由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光束的反射光束；以及取得单元，对反射光束进行处理，取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。由此，例如，能够容易且高精度地取得眼镜框架的镜圈的截面形状。另外，例如，由于是基于测定光束的测定，因此能够迅速地进行测定。

例如，在本实施方式中，眼镜框形状测定装置具备变更反射光束的受光位置的变更单元(例如，移动单元210、旋转单元260)。另外，例如，眼镜框形状测定单元具备控制单元(例如，控制部50)，该控制单元控制变更单元来变更反射光束的受光位置，以使检测器接收镜圈的槽的反射光束。由此，例如，由于检测器接收反射光束，因此即使在测定各种形状的眼镜框架的情况下，也能够良好地取得各种形状的眼镜框架中的镜圈的槽的截面形状。即，本公开的眼镜框形状测定装置在眼镜框架中的镜圈的槽的截面形状的取得中能够应对各种形状的眼镜框架。

<投光光学系统>

例如，投光光学系统可以具有光学部件。在该情况下，例如，也可以使从光源射出的测定光束经由各光学部件朝向眼镜框架的镜圈的槽照射。例如，作为光学部件，可以使用透镜、反射镜、光圈等中的至少任一个。例如，通过使用光圈，能够加深焦点深度。当然，作为光学部件，并不限定于所述光学部件，也可以使用不同的光学部件。

此外，例如，投光光学系统只要是将从光源射出的测定光束朝向眼镜框架的镜圈的槽照射的结构即可。例如，也可以是至少具有光源的结构。另外，例如，作为投光光学系统，也可以是从光源射出的测定光束经由与光学部件不同的部件而朝向眼镜框架的镜圈的槽照射的结构。

例如，由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈的槽照射的测定光束也可以照射点状的测定光束。另外，例如，由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈的槽照射的测定光束也可以是具有宽度的测定光束(例如狭缝状的测定光束)。在该情况下，例如，投光光学系统也可以将来自光源的测定光束朝向眼镜框架的镜圈的槽照射，在镜圈的槽上形成光断面。例如，受光光学系统也可以利用检测器接收通过光断面的镜圈的槽处的反射(例如散射、正反射等)而取得的镜圈的槽的反射光束(例如，散射光、正反射光等)。

例如，在照射具有宽度的测定光束的情况下，也可以使用射出狭缝状的光束的光源。例如，也可以使用点光源。在该情况下，例如，也可以通过排列配置多个点光源，照射具有宽度的测定光束。另外，例如，也可以通过对从点光源照射的点状的光束进行扫描，从而照射具有宽度的测定光束。另外，例如，也可以通过使从点光源照射的点状的测定光束由光学部件扩散，从而照射具有宽度的测定光束。当然，例如，作为光源，也可以使用与所述光源不同的各种种类的光源，照射具有宽度的测定光束。

<受光光学系统>

例如，受光光学系统可以具有光学部件。在该情况下，例如，也可以使由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光束的反射光束经由各光学部件而在检测器被接收。例如，作为光学部件，可以使用透镜、反射镜、光圈等中的至少任一个。当然，作为光学部件，并不限定于所述光学部件，也可以使用不同的光学部件。

此外，例如，受光光学系统只要是由检测器接收由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光束的反射光束的结构即可。例如，也可以是至少具有检测器的结构。另外，例如，作为受光光学系统，也可以是经由与光学部件不同的部件利用检测器接收由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光束的反射光束的结构。

<取得单元>

例如，取得单元对由眼镜框架的镜圈的槽反射的测定光束的反射光束进行处理，取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。例如，取得单元也可以根据检测器中的反射光束的受光位置取得截面形状。例如，截面形状也可以是图像(图像数据)。即，截面形状也可以是截面图像。另外，例如，截面形状也可以是信号(信号数据)。即，截面形状也可以是截面形状的信号数据。

例如，作为截面形状，可以列举二维截面形状、三维截面形状等。例如，二维截面形状是通过向一个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光束并接收其反射光束而取得的截面形状。例如，在本实施方式中，二维截面形状是将镜圈的槽沿与眼镜框架的矢径方向(在本实施方式中为XY方向)垂直的方向(在本实施方式中为Z方向)切断的面的形状。此外，例如，二维截面形状也可以通过使测定光束沿着横切位置(在本实施方式中为Z方向)扫描来取得。另外，例如，三维截面形状是通过按各矢径角来取得二维截面形状而取得的截面形状。例如，三维截面形状也可以通过在眼镜框架的矢径平面方向(在本实施方式中为XY平面方向)上扫描用于取得二维截面形状的测定光束而取得。

此外，例如，在取得截面形状时，在截面形状的一部分缺损的情况下，也可以根据缺损的位置的周边的位置(例如，相邻的位置)处的反射光束的受光结果，对缺损部分进行插补。另外，例如，在取得截面形状时，在截面形状的一部分缺损的情况下，也可以通过对截面形状进行近似来对缺损部分进行插补。另外，例如，在取得截面形状时，在截面形状的一部分缺损的情况下，也可以以取得缺损部分的方式进行截面形状的再取得。

例如，对于二维截面形状，也可以取得眼镜框架的镜圈的整周(在各矢径角位置形成有镜圈的所有部分)中的至少一个部位(一个矢径角的位置)处的镜圈的槽的二维截面形状。在该情况下，例如，也可以在眼镜框架的镜圈的整周上取得二维截面形状。另外，在该情况下，例如，也可以在眼镜框架的镜圈的整周上，在多个位置(例如，眼镜框架的左端、右端、上端、下端等)取得二维截面形状。另外，在该情况下，例如，也可以在眼镜框架的镜圈的整周上，在一个矢径角的位置取得二维截面形状。

例如，在取得三维截面形状的情况下，也可以取得眼镜框架的镜圈的整周(在各矢径角位置形成有镜圈的所有部分)中的至少一部分区域中的镜圈的槽的三维截面形状。在该情况下，例如，三维截面形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周上取得。另外，在该情况下，例如，三维截面形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周上在多个区域(例如，眼镜框架的左端区域、右端区域、上端区域、下端区域等)取得。另外，在该情况下，例如，三维截面形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周上在一部分区域取得。此外，在不对眼镜框架的镜圈的整周取得三维截面形状的情况下，在想要取得眼镜框架的镜圈的整周的三维截面形状的情况下，也可以基于取得二维截面形状的部分的二维截面形状(三维截面形状)进行插补，由此取得眼镜框架的镜圈的整周的三维截面形状。

<变更单元>

例如，变更单元也可以具有变更测定光束相对于眼镜框架的镜圈的槽的照射位置的第一变更单元(例如，移动单元210、旋转单元260)。例如，第一变更单元由控制单元控制。由此，能够向眼镜框架中的任意的镜圈的槽的位置照射测定光，能够取得任意位置的镜圈的槽的截面形状。

例如，第一变更单元也可以是变更测定光束的照射位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置的结构。例如，第一变更单元也可以是变更测定光束的照射位置和眼镜框架的镜圈的槽的位置中的至少一方的位置的结构。在该情况下，例如，第一变更单元也可以是相对于测定光束的照射位置变更眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构。即，第一变更单元也可以是相对于测定光束的照射位置变更眼镜框架的位置的结构。另外，在该情况下，例如，第一变更单元也可以是相对于眼镜框架的镜圈的槽的位置变更测定光束的照射位置的结构。另外，在该情况下，例如，第一变更单元也可以是变更眼镜框架的镜圈的槽的位置和测定光束的照射位置双方的结构。

例如，作为第一变更单元变更测定光束的照射位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置的结构，也可以是变更投光光学系统与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置的结构。例如，投光光学系统的位置也可以是投光光学系统的光轴(例如，光轴L1)的位置。即，例如，也可以是第一变更单元通过变更投光光学系统的光轴的位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置来变更测定光束的照射位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置的结构。

例如，作为变更投光光学系统的位置(例如，投光光学系统的光轴的位置)与眼镜框架的镜圈的槽的位置的相对位置的结构，也可以是变更投光光学系统的位置和眼镜框架的镜圈的槽的位置中的至少一方的位置的结构。在该情况下，例如，作为变更投光光学系统的位置和眼镜框架的镜圈的槽的位置中的至少一方的位置的结构，也可以是相对于投光光学系统的位置变更眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构。另外，在该情况下，例如，作为变更投光光学系统的位置和眼镜框架的镜圈的槽的位置中的至少一方的位置的结构，也可以是相对于眼镜框架的镜圈的槽的位置来变更投光光学系统的位置的结构。另外，在该情况下，例如，作为变更投光光学系统的位置和眼镜框架的镜圈的槽的位置中的至少一方的位置的结构，也可以是变更投光光学系统的位置和眼镜框架的镜圈的槽的位置双方的位置的结构。

此外，例如，作为变更投光光学系统的位置的结构，也可以是变更投光光学系统所包含的至少任意一个部件(例如光源、光学部件、其他部件等)的位置的结构。即，例如，第一变更单元也可以是通过变更投光光学系统的至少一部分(一部分部件)的位置来变更投光光学系统相对于眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构。在该情况下，例如，控制单元也可以通过控制第一变更单元，变更投光光学系统的至少一部分的位置，变更测定光束相对于眼镜框架的镜圈的槽的照射位置。

例如，眼镜框形状测定装置的第一变更单元是使投光光学系统的至少一部分移动的第一变更单元，控制单元通过控制第一变更单元，使投光光学系统的至少一部分相对于眼镜框架的镜圈的槽移动，变更测定光束相对于眼镜框架的镜圈的槽的照射位置。由此，能够向眼镜框架中的任意的镜圈的槽的位置照射测定光束，能够取得任意位置的镜圈的槽的截面形状。

例如，作为使投光光学系统的至少一部分的位置变更的结构，也可以是具有驱动源(例如，马达)并使投光光学系统的至少一部分的位置沿X方向移动的X方向驱动单元。例如，作为使投光光学系统的至少一部分的位置变更的结构，也可以是具有驱动源(例如，马达)并使投光光学系统的至少一部分的位置沿Y方向移动的Y方向驱动单元。例如，作为使投光光学系统的至少一部分的位置变更的结构，也可以是具有驱动源(例如，马达)并使投光光学系统的至少一部分的位置沿Z方向移动的Z方向驱动单元。例如，作为使投光光学系统的至少一部分的位置变更的结构，也可以是具有驱动源(例如，马达)并使投光光学系统的至少一部分的位置旋转的旋转驱动单元(例如，旋转单元260)。另外，例如，作为变更投光光学系统的至少一部分的位置的结构，也可以是X方向驱动单元、Y方向驱动单元、Z方向驱动单元、旋转驱动单元中的至少任一个。当然，作为变更投光光学系统的至少一部分的位置的结构，并不限定于所述驱动单元，也可以是在与所述方向不同的方向上在投光光学系统的至少一部分的位置使用驱动单元的结构。

另外，例如，作为使投光光学系统的至少一部分的位置变更的结构，也可以是具有光扫描器且对光扫描器进行扫描的扫描单元。在该情况下，例如，可以通过变更光扫描器的角度来变更测定光束的照射位置。即，例如，也可以通过变更光扫描器的位置来变更测定光束的照射位置。

例如，作为使眼镜框架的镜圈的槽的位置变更的结构，也可以是具有驱动源(例如，马达)并使眼镜框架沿X方向移动的X方向驱动单元。另外，例如，作为使眼镜框架的镜圈的槽的位置变更的结构，也可以是具有驱动源(例如，马达)并使眼镜框架沿Y方向移动的Y方向驱动单元。另外，例如，作为使眼镜框架的镜圈的槽的位置变更的结构，也可以是具有驱动源(例如，马达)并使眼镜框架沿Z方向移动的Z方向驱动单元。另外，例如，作为使眼镜框架的镜圈的槽的位置变更的结构，也可以是具有驱动源(例如，马达)并使眼镜框架旋转的旋转驱动单元。另外，例如，作为改变眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构，也可以是X方向驱动单元、Y方向驱动单元、Z方向驱动单元、旋转驱动单元中的至少任一个。当然，作为变更眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构，并不限定于所述驱动单元，也可以是在与所述方向不同的方向上使用驱动单元的结构。

例如，变更单元也可以具有变更受光光学系统的反射光束的受光位置的第二变更单元(例如，移动单元210、旋转单元260)。例如，第二变更单元由控制单元控制。由此，例如能够将受光位置变更为能够良好地取得镜圈的槽的截面形状的位置，能够更高精度地取得眼镜框架的镜圈的截面形状。

例如，第二变更单元也可以是通过变更受光光学系统的位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置来变更受光光学系统的反射光束的受光位置的结构。例如，受光光学系统的位置也可以是受光光学系统的光轴(例如，光轴L2)的位置。即，例如，也可以是第二变更单元通过变更受光光学系统的光轴的位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置来变更测定光束的照射位置与眼镜框架的镜圈的槽的相对位置的结构。

例如，第二变更单元也可以是变更受光光学系统的位置和眼镜框架的镜圈的槽的位置中的至少一方的位置的结构。在该情况下，例如，第二变更单元也可以是相对于受光光学系统的位置来变更眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构。即，第二变更单元也可以是相对于受光光学系统的位置来变更眼镜框架的位置的结构。另外，在该情况下，例如，第二变更单元也可以是相对于眼镜框架的镜圈的槽的位置来变更受光光学系统的位置的结构。另外，在该情况下，例如，第二变更单元也可以是变更眼镜框架的镜圈的槽的位置和受光光学系统的位置双方的结构。

此外，例如，作为变更受光光学系统的位置的结构，也可以是变更受光光学系统所包含的至少任意一个部件(例如检测器、光学部件、其他部件等)的位置的结构。即，例如，第二变更单元也可以是通过变更受光光学系统的至少一部分(一部分部件)的位置来变更受光光学系统相对于眼镜框架的镜圈的槽的位置的结构。在该情况下，例如，控制单元也可以通过控制第二变更单元，从而变更受光光学系统的至少一部分的位置，变更受光光学系统的反射光束的受光位置。

例如，作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构，也可以是具有驱动源(例如，马达)并使受光光学系统的至少一部分的位置沿X方向移动的X方向驱动单元。例如，作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构，也可以是具有驱动源(例如，马达)并使受光光学系统的至少一部分的位置沿Y方向移动的Y方向驱动单元。例如，作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构，也可以是具有驱动源(例如，马达)并使受光光学系统的至少一部分的位置沿Z方向移动的Z方向驱动单元。例如，作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构，也可以是具有驱动源(例如，马达)并使受光光学系统的至少一部分的位置旋转的旋转驱动单元。另外，例如，作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构，也可以是X方向驱动单元、Y方向驱动单元、Z方向驱动单元、旋转驱动单元中的至少任一个。当然，作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构，并不限定于所述驱动单元，也可以是在与所述方向不同的方向上在受光光学系统的至少一部分的位置使用驱动单元的结构。

另外，例如，作为使受光光学系统的至少一部分的位置变更的结构，也可以是具有光扫描器并对光扫描器进行扫描的扫描单元。在该情况下，例如，也可以通过变更光扫描器的角度来变更受光光学系统的反射光束的受光位置。即，例如，也可以通过变更光扫描器的位置来变更受光光学系统的反射光束的受光位置。

例如，作为使眼镜框架的镜圈的槽的位置变更的结构，能够使用与上述记载的第一变更单元的结构相同的结构。

此外，例如，第一变更单元和第二变更单元的控制也可以分别在不同的定时被控制。另外，例如，第一变更单元和第二变更单元的控制也可以被一体地控制。此外，例如，第一变更单元的结构和第二变更单元的结构也可以兼用至少一部分的部件。

<反射光束的受光位置变更>

在本实施方式中，例如，控制单元控制变更单元来变更反射光束的受光位置，以使检测器接收镜圈的槽的反射光束。例如，控制单元也可以控制变更单元，在检测器的检测面上变更受光位置。在该情况下，例如，控制单元也可以控制变更单元，在检测器的检测面上向上下方向和左右方向中的至少任一方向变更受光位置。

例如，作为变更反射光束的受光位置以使检测器接收镜圈的槽的反射光束的结构，也可以使用由检测器检测出的反射光束。在该情况下，例如，控制单元也可以基于由检测器接收到的反射光束，控制变更单元来变更反射光束的受光位置。由此，例如，能够变更基于接收到的反射光束的反射光束的受光位置，因此能够以更高精度地接收镜圈的反射光束的方式进行变更。由此，能够容易地取得良好的截面形状。

另外，例如，作为变更反射光束的受光位置以使检测器接收镜圈的槽的反射光束的结构，也可以使用利用按压于镜圈的测定件测定出的测定结果。在该情况下，例如，在眼镜框形状测定装置中，也可以设置测定光学系统，所述测定光学系统在眼镜框架的镜圈插入测定件，并使测定件按压于镜圈并使其移动，由此对镜圈的轮廓进行追踪而对镜圈的形状进行测定。当然，也可以使用设置于与眼镜框形状测定装置不同的装置的测定光学系统来测定镜圈的形状。在该情况下，也可以由眼镜框形状测定装置接收由不同的装置取得的测定结果。例如，控制单元也可以根据由测定光学系统测定出的测定结果，确定眼镜框架的某个部位的位置，并基于确定出的位置，控制变更单元来变更反射光束的受光位置。

另外，例如，作为变更反射光束的受光位置以使检测器接收镜圈的槽的反射光束的结构，也可以使用预先设定的镜圈信息。在该情况下，例如，控制单元也可以基于预先设定的镜圈信息，变更反射光束的受光位置，以使检测器接收镜圈的槽的反射光束。例如，控制单元也可以根据预先设定的镜圈信息来推定镜圈的位置，变更反射光束的受光位置。例如，预先设定的镜圈信息只要是与进行测定的镜圈的至少一部分相关的信息即可。在该情况下，例如，预先设定的镜圈信息可以是进行测定的眼镜框架的设计数据(表示镜圈的构造的数据)、眼镜框架的镜片形状、眼镜框架的翘曲角度、眼镜框架的前倾角度等中的至少任一个。

此外，例如，镜圈信息也可以通过眼镜框形状测定装置从其他装置接收镜圈信息来取得。另外，例如，镜圈信息也可以是由检查者输入镜圈信息并通过眼镜框形状测定装置接收所输入的镜圈信息而取得的结构。在该情况下，例如也可以由检查者从存储于存储器的镜圈信息中选择期望的镜圈信息并输入镜圈信息。另外，在该情况下，例如也可以由检查员将相对于眼镜框形状测定装置能够装卸的存储器与眼镜框形状测定装置连接，由此从存储器发送镜圈信息，输入镜圈信息。

例如，作为基于反射光束来控制变更单元而变更反射光束的受光位置的结构，也可以基于检测器是否接收到镜圈的槽的反射光束来变更反射光束的受光位置。在该情况下，例如，控制单元也可以基于检测器是否接收到镜圈的槽的反射光束，控制变更单元来变更反射光束的受光位置以使检测器接收镜圈的槽的反射光束。

例如，作为基于是否接收到反射光束来进行变更单元的控制的结构，控制单元也可以通过检测是否检测到规定的亮度等级，控制变更单元来变更反射光束的受光位置，以使检测器接收镜圈的槽的反射光束。即，在能够由检测器接收到反射光束的情况下，检测出基于反射光束的规定的亮度水平，因此通过检测是否检测到规定的亮度水平，能够确认检测器是否接收到镜圈的槽的反射光束。此外，在该情况下，例如，控制单元也可以在未检测出规定的亮度等级的情况下，以检测出规定的亮度等级的方式控制变更单元来变更反射光束的受光位置。

另外，例如，作为基于是否接收到反射光束来进行变更单元的控制的结构，控制单元也可以在由检测器接收到的反射光的亮度水平未达到容许水平(例如，规定的阈值)的情况下，控制变更单元来变更反射光束的受光位置，以使亮度水平满足容许水平。在该情况下，例如，也可以设置判定单元，该判定单元判定由检测器检测出的由检测器接收到的反射光的亮度水平是否满足容许水平。此外，例如，所述容许水平也可以是预先设定的容许水平。例如，也可以预先通过模拟或实验等设定判定为检测器接收到镜圈的槽的反射光束的容许水平。

例如，作为基于反射光束来控制变更单元而变更反射光束的受光位置的结构，也可以基于反射光束的受光位置来变更反射光束的受光位置。在该情况下，例如，眼镜框形状测定装置也可以具备取得反射光束的受光位置的位置取得单元(例如，控制部50)。例如，控制单元也可以基于由位置取得单元取得的反射光束的受光位置，控制变更单元来变更反射光束的受光位置。由此，例如，能够变更基于受光位置的反射光束的受光位置，因此能够更容易且高精度地取得良好的截面形状。

例如，作为反射光束的受光位置，位置取得单元也可以使用基于镜圈的至少任意部位的反射光束的受光位置。在该情况下，例如，位置取得单元取得镜圈的至少某个部位的反射光束的受光位置。例如，控制单元基于由位置取得单元取得的镜圈的至少某个部位的受光位置，控制变更单元来变更镜圈的槽的反射光束的受光位置。由此，能够基于镜圈的特定部位的反射光束来进行受光位置的变更，因此能够以更高精度地接收镜圈的反射光束的方式进行变更。由此，能够更容易地取得良好的截面形状。

例如，镜圈的至少任一个部位也可以是镜圈的肩、镜圈的槽、镜圈的外部表面部分(镜圈的外形部)中的至少任一个。在该情况下，例如位置取得单元也可以取得来自镜圈的肩、镜圈的槽、镜圈的外部表面部分中的至少任一部分的反射光束的受光位置。例如，控制单元基于由位置取得单元取得的镜圈的肩、镜圈的槽、镜圈的外部表面部分中的至少任一个的受光位置，控制变更单元来变更镜圈的槽的反射光束的受光位置。此外，例如镜圈的肩也可以是镜圈的前表面的肩和镜圈的后表面的肩中的至少任一个。例如，镜圈的槽可以是镜圈的槽的斜面和镜圈的槽的底中的至少任一个。此外，例如，镜圈的槽的斜面也可以是镜圈的槽的前斜面和镜圈的槽的后斜面中的任一个。

例如，反射光束的受光位置也可以根据反射光束的信号来检测。在该情况下，例如，位置取得单元也可以根据反射光束的信号来检测反射光束的受光位置。例如，控制单元也可以基于从反射光束的信号检测出的反射光束的受光位置，控制变更单元来变更镜圈的槽的反射光束的受光位置。

另外，例如，反射光束的受光位置也可以从反射光束的信号取得截面图像，根据截面图像进行检测。在该情况下，例如，取得单元也可以基于由检测器接收到的反射光束，取得眼镜框架的镜圈的槽的截面图像作为截面形状。例如，位置取得单元也可以通过解析截面图像来取得截面图像的位置，取得反射光束的受光位置。例如，控制单元也可以基于由位置取得单元取得的截面图像的位置，控制变更单元来变更镜圈的槽的反射光束的受光位置。由此，例如，能够变更使用截面图像的反射光束的受光位置，因此反射光束的受光位置的确定变得更容易。由此，能够更容易地取得良好的截面形状。

例如，作为控制单元基于受光位置来控制变更单元而变更反射光束的受光位置的结构，控制单元也可以控制变更单元来变更反射光束的受光位置以在检测器的规定位置接收镜圈的槽的反射光束。由此，例如，由于在检测器的规定位置接收反射光束，因此能够使反射光束位于任意的位置，因此能够更良好地取得截面形状。

例如，规定的位置也可以是检测器的受光区域的某一区域(例如，检测器的受光区域中的中心区域等)。在该情况下，例如，控制单元控制变更单元，以使在受光区域内接收镜圈的槽的反射光束。另外，例如，规定的位置也可以是检测器的特定位置(例如，检测器的中心位置)。

此外，例如，在基于截面图像的位置来控制变更单元而变更镜圈的槽的反射光束的受光位置的情况下，控制单元也可以基于显示单元(例如显示器3)的显示画面上的截面图像的位置来控制变更单元。例如，也可以取得显示单元的显示画面中的截面图像的位置，控制变更单元以使截面图像收纳在显示画面内。另外，例如，控制单元也可以控制变更单元，以便取得显示单元的显示画面上的截面图像的位置，并将截面图像配置在显示画面的特定位置。

例如，作为变更反射光束的受光位置以在规定的位置接收镜圈的槽的反射光束的结构，也可以使用规定的位置与受光位置之间的偏离信息。在该情况下，例如，控制单元也可以取得规定的位置与受光位置之间的偏离信息，基于偏离信息，控制变更单元来变更镜圈的槽的反射光束的受光位置。由此，能够进行基于偏离信息的受光位置的变更，因此能够容易且高精度地在规定的位置接收镜圈的反射光束。

例如，作为变更反射光束的受光位置以在规定的位置接收镜圈的槽的反射光束的结构，也可以以规定的位置与受光位置的坐标位置一致的方式进行变更。在该情况下，例如，控制单元也可以控制变更单元来变更镜圈的槽的反射光束的受光位置，以使规定的位置与受光位置坐标位置一致。

此外，例如在变更反射光束的受光位置以使检测器接收镜圈的槽的反射光束的情况下，反射光束的受光位置的变更也可以在测定开始前实施。另外，例如，在变更反射光束的受光位置以使检测器接收镜圈的槽的反射光束的情况下，反射光束的受光位置的变更也可以在测定开始后实施。此外，反射光束的受光位置的变更也可以在眼镜框架中的至少一个以上的测定位置实施。在该情况下，例如，也可以进行变更反射光束的受光位置的处理，以遍及眼镜框架的整周地在检测器接收镜圈的槽的反射光束。作为一例，控制单元也可以实时地进行变更反射光束的受光位置的处理，以使检测器接收镜圈的槽的反射光束。另外，在该情况下，例如也可以在一定的定时进行变更反射光束的受光位置的处理，以使在检测器接收镜圈的槽的反射光束。例如，一定的定时可以是每个规定的矢径角、每个经过时间等中的某一个。

例如，在测定开始前实施反射光束的受光位置的变更以使检测器接收镜圈的槽的反射光束的情况下，控制单元也可以在测定开始前，实施用于变更反射光束的受光位置的预测定。例如，取得单元也可以在由控制单元控制变更单元而变更了反射光束的受光位置之后，基于由检测器接收到的反射光束，取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。

在该情况下，例如，也可以预先在眼镜框架中的至少一个以上的测定位置处进行照射测定光束并接收其反射光束的预测定。例如，控制单元也可以在预测定中基于由检测器接收到的反射光束，控制变更单元来变更反射光束的受光位置，以使检测器接收镜圈的槽的反射光束。另外，在该情况下，例如，也可以预先在眼镜框架中的至少一个以上的测定位置处，将测定件按压于镜圈并使其移动，由此对镜圈的轮廓进行追踪，进行测定镜圈的形状的预测定。例如，控制单元也可以在预测定中，基于测定出的镜圈的形状，控制变更单元来变更反射光束的受光位置以使检测器接收镜圈的槽的反射光束。另外，在该情况下，例如，也可以预先在眼镜框架中的至少一个以上的测定位置处进行测定眼镜框架的外形(外观)的预测定。例如，控制单元在预测定中拍摄眼镜框架，根据拍摄到的眼镜框架图像来检测镜圈的位置。例如，控制单元也可以基于检测到的镜圈的位置，控制变更单元来变更反射光束的受光位置，以使检测器接收镜圈的槽的反射光束。

例如，取得单元在变更反射光束的受光位置之后，开始测定，基于在测定开始后由检测器接收到的反射光束，取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。此外，在预测定中，也可以以与正式测定同样的测定位置(点数)进行测定。在该情况下，例如，控制单元也可以根据预测定的结果，预先对检测器中未良好地接收镜圈的槽的反射光束的测定位置进行检测，在正式测定时，在检测器未良好地接收镜圈的槽的反射光束的测定位置，控制变更单元来变更反射光束的受光位置。作为一例，例如，控制单元也可以根据预测定的结果，预先对在检测器未良好地接收镜圈的槽的反射光束的测定位置进行检测，在正式测定时，在检测器未良好地接收镜圈的槽的反射光束的测定位置，控制变更单元来变更反射光束的受光位置。另外，作为一例，例如，控制单元也可以在根据预测定的结果而在检测器良好地接收镜圈的槽的反射光束的测定位置，在正式测定时也控制变更单元来变更反射光束的受光位置，以使检测器更良好地接收镜圈的槽的反射光束。

另外，例如，在测定开始后实施反射光束的受光位置的变更以使检测器接收镜圈的槽的反射光束的情况下，控制单元也可以在开始眼镜框架的测定之后，控制变更单元来变更反射光束的受光位置以使检测器接收镜圈的槽的反射光束。在该情况下，例如，控制单元也可以在开始眼镜框架的测定(正式测定)之后，基于通过测定而取得的反射光束，变更反射光束的受光位置。

例如，控制单元也可以在正式测定中，在进行反射光束的受光位置的变更的情况下，基于在至少一个以上的测定位置由检测器接收到的反射光束，控制变更单元来变更反射光束的受光位置，以使检测器接收镜圈的槽的反射光束。在该情况下，例如，也可以基于由检测器接收到的反射光束，变更在检测器未良好地接收镜圈的槽的反射光束的测定位置处的反射光束的受光位置，也可以在正式测定的全部测定位置进行变更反射光束的受光位置的控制。

作为一例，例如，控制单元也可以在正式测定时，在检测器未良好地接收镜圈的槽的反射光束的测定位置，控制变更单元来变更反射光束的受光位置。另外，作为一例，例如，控制单元也可以在正式测定中，在检测器良好地接收镜圈的槽的反射光束的测定位置，控制变更单元来变更反射光束的受光位置，以使检测器更良好地接收镜圈的槽的反射光束。

此外，例如，在正式测定中，也可以在被检测为在检测器未良好地接收镜圈的槽的反射光束的测定位置的测定位置，在变更受光位置之后，再次进行测定，将受光位置的变更前的测定结果置换为受光位置的变更后的测定结果。在该情况下，例如，也可以在正式测定中，在被检测为检测器未良好地接收镜圈的槽的反射光束的测定位置的测定位置，在变更受光位置以使检测器良好地接收镜圈的槽的反射光束后，完成再次测定，之后转移到下一测定位置的测定。即，控制单元也可以构成为，实时地在至少一个以上的测定位置，一边变更受光位置以使检测器良好地接收镜圈的槽的反射光束，一边进行正式测定。即，例如，控制单元也可以在眼镜框架的测定中，控制变更单元，实时地变更反射光束的受光位置，以使检测器接收镜圈的槽的所述反射光束。另外，在该情况下，例如，控制单元也可以在正式测定完成后，在正式测定中被检测为检测器未良好地接收镜圈的槽的反射光束的测定位置的测定位置，变更受光位置以使检测器良好地接收镜圈的槽的反射光束，之后进行再测定。

此外，作为控制单元变更反射光束的受光位置以使检测器接收镜圈的槽的反射光束的定时，并不限定于所述定时。例如，也可以在与上述不同的定时进行变更反射光束的受光位置的控制。作为一例，在变更反射光束的受光位置以使检测器接收镜圈的槽的反射光束的情况下，控制单元也可以在开始测定前及开始测定后的双方，进行变更反射光束的受光位置的控制，以使检测器接收镜圈的槽的反射光束。

<眼镜框架的形状取得>

例如，眼镜框形状测定装置也可以取得眼镜框架的形状(形状数据)。在该情况下，例如，眼镜框形状测定装置也可以具备解析单元(例如，控制部50)。例如，控制单元也可以控制第一变更单元，对眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光束。例如，取得单元也可以分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状。例如，解析单元也可以根据眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状分别检测眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的底，并基于检测到的检测结果来取得眼镜框架的形状。

例如，眼镜框架的形状也可以是二维形状(二维形状数据)。例如，二维形状由眼镜框架的矢径方向(XY方向)的数据表示。另外，例如，眼镜框架的形状也可以是三维形状(三维形状数据)。例如，三维形状用眼镜框架的矢径方向(XY方向)及与矢径方向垂直的方向(Z方向)的数据来表示。此外，例如，在取得二维形状的情况下，解析单元也可以从三维形状检测XY方向的镜圈的槽的位置而取得二维形状。在该情况下，例如，二维形状也可以通过将三维形状投影到XY平面来取得。

例如，眼镜框形状测定装置的控制单元控制第一变更单元，对眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光束。取得单元分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状。眼镜框形状测定装置具备解析单元，该解析单元根据眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状分别检测眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的底，并基于检测出的检测结果来取得眼镜框架的形状。由此，如以往那样，根据眼镜框架，能够抑制测定件从透镜框的槽脱落而无法测定，能够容易且高精度地对各种形状的眼镜框架取得眼镜框架的形状。

例如，眼镜框架的形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周(在各矢径角位置形成有镜圈的所有部分)内的至少一部分区域中取得。在该情况下，例如，眼镜框架的形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周上取得。另外，在该情况下，例如，眼镜框架的形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周上在多个区域(例如，眼镜框架的左端区域、右端区域、上端区域、下端区域等)取得。另外，在该情况下，例如，眼镜框架的形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周上在一部分区域取得。此外，在不对眼镜框架的镜圈的整周取得眼镜框架的形状的情况下，在想要取得眼镜框架的镜圈的整周的眼镜框架的形状的情况下，也可以根据取得眼镜框架的形状的部分的形状来进行插补，由此取得眼镜框架的镜圈的整周的形状。

<三维截面形状取得>

例如，眼镜框形状测定装置也可以取得三维截面形状。例如，控制单元控制第一变更单元，对眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光束。例如，取得单元也可以通过分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状来取得三维截面形状。

例如，在本实施方式中，眼镜框形状测定装置的控制单元控制第一变更单元，对眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光束。取得单元分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状，取得三维截面形状。由此，能够容易且高精度地取得眼镜框架的三维截面形状。

此外，例如，本公开的眼镜框形状测定装置也可以基于变更反射光束的受光位置以使检测器接收镜圈的槽的反射光束时的变更信息，取得三维截面形状。在该情况下，例如，取得单元也可以分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状，基于取得多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状时的由控制单元控制的变更单元的变更信息，使截面形状对位而取得镜圈的槽的三维截面形状。由此，例如，能够确认根据变更信息取得截面形状时的测定条件，因此能够容易地进行多个矢径角位置的镜圈的截面形状间的对位。由此，能够取得良好的三维形状。

例如，变更信息也可以是投光光学系统和受光光学系统中的至少一方、矢径角、受光位置等信息。即，例如，变更信息只要是与反射光束的受光位置的变更相关的信息即可。例如，作为投光光学系统的信息，也可以是光源的位置信息。另外，例如，作为受光光学系统的信息，也可以是检测器的位置信息。

此外，例如，在本公开的眼镜框形状测定装置中，可以是取得单元、控制单元、位置取得单元中的至少任一个兼用的结构。另外，例如也可以是另行分别设置取得单元、控制单元、位置取得单元的结构。

<透镜加工>

例如，也可以将由眼镜框形状测定装置取得的眼镜框架的镜圈的槽的截面形状用于透镜的加工。例如，对透镜的周缘进行加工的透镜加工装置(例如透镜加工装置300)取得由眼镜框形状测定装置取得的眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。

例如，眼镜框形状测定装置也可以具有发送单元，通过发送单元向透镜加工装置发送眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。在该情况下，例如，透镜加工装置也可以具有接收单元，接收从眼镜框形状测定装置发送来的眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。

此外，例如，也可以是在透镜加工装置具备眼镜框形状测定装置的结构。另外，例如透镜加工装置和眼镜框形状测定装置也可以分别为不同的装置。在该情况下，也可以通过有线和无线中的至少任一方将眼镜框架的镜圈的槽的截面形状从眼镜框形状测定装置发送到透镜加工装置。

例如，透镜加工装置也可以具备加工控制单元(例如，控制部310)。例如，加工控制单元也可以基于由眼镜框形状测定装置取得的眼镜框架的镜圈的槽的截面形状来加工透镜的周缘。例如，加工控制单元也可以控制保持透镜的透镜保持单元及加工件，基于眼镜框架的镜圈的槽的截面形状来加工透镜的周缘。

例如，在本实施方式中，透镜加工装置具备加工控制单元，该加工控制单元基于眼镜框架的镜圈的槽的截面形状对透镜的周缘进行加工。由此，在将加工后的透镜良好地放入到眼镜框架时，成为镜圈的槽的形状和加工后的透镜的轮廓形状接近的形状，因此能够良好地进行放入。

<实施例>

参照附图对本公开的典型的实施例之一进行说明。图1是眼镜框形状测定装置的外观概略图。例如，图2是保持有眼镜框架的状态的框架保持单元的俯视图。例如，在本实施例中，眼镜框形状测定装置1具备框保持单元10和测定单元20。例如，框架保持单元10将眼镜框架F保持在所期望的状态。例如，测定单元20用于向保持于框架保持单元10的眼镜框架F的镜圈(例如，左侧镜圈FL、右侧镜圈FRs)的槽照射测定光束，并接收其反射光束，由此取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状。例如，测定单元20配置在框架保持单元10之下。

例如，在眼镜框形状测定装置1的框体的前侧配置有具有开始测定用的开关等的开关部4。例如，在眼镜框形状测定装置1的框体的后侧配置有触摸面板式的显示器3。例如，在透镜的周缘加工时，通过面板部3输入透镜相对于镜片数据的布局数据、透镜的加工条件等。例如，由眼镜框形状测定装置1得到的取得结果(镜圈的槽的截面形状、眼镜框架形状等)以及显示器3所输入的数据被发送到透镜加工装置。此外，眼镜框形状测定装置1也可以是与日本特开2000-314617号公报等相同的、组装于透镜加工装置的结构。

<框架保持单元>

例如，在框架保持单元10的下侧具备测定单元20。例如，在保持部基座101上载置有用于水平地保持眼镜框架F的前滑块102和后滑块103。此外，例如，水平也可以是大致水平。例如，前滑块102和后滑块103被配置为能够以其中心线CL为中心在两个轨道111上相向地滑动，并且通过弹簧113始终被向朝向两者的中心线CL的方向拉伸。

例如，在前滑块102上，分别在两处配置有用于从其厚度方向夹紧眼镜框架F的镜圈的夹紧销130a、130b。例如，在后滑块103上，在两个部位分别配置有用于从其厚度方向夹紧眼镜框架F的镜圈的夹紧销131a、131b。另外，例如，在测定模板时，前滑块102及后滑块103开放，公知的模板保持夹具配置在规定的安装位置140来进行使用。该框架保持单元10的结构例如能够使用日本特开2000-314617号公报等所记载的公知的结构。

例如，眼镜框架F的眼镜佩戴时的镜圈的下侧位于前滑块102侧，镜圈的上侧位于后滑块103侧。例如，通过位于左右镜圈各自的下侧及上侧的夹紧销，眼镜框架F被保持为规定的测定状态。

此外，在本实施例中，作为限制镜圈的前后方向的位置的结构，举出所述夹紧销130a、130b及夹紧销131a、131b的结构为例进行了说明，但并不限定于此。也可以使用公知的机构。例如，作为固定左右镜圈的前后方向的机构，也可以是将具有V字状的槽的抵接部件(限制部件)分别设置为左右镜圈用的结构。

<测定单元>

以下，对测定单元20的结构进行说明。例如，测定单元20具备眼镜框架测定光学系统30。例如，眼镜框架测定光学系统30由投光光学系统30a和受光光学系统30b构成。例如，投光光学系统30a及受光光学系统30b用于取得眼镜框架的形状及眼镜框架的镜圈的槽的截面形状(详情后述)。

例如，测定单元20具备保持投光光学系统30a和受光光学系统30b的保持单元25。例如，测定单元20具备使保持单元25沿XYZ方向移动的移动单元210(例如，参照图3～图5)。另外，例如，测定单元20具备以旋转轴L0为中心使保持单元25旋转的旋转单元260(例如，参照图6)。此外，例如，在本实施例中，XY方向与由框架保持单元10保持的眼镜框架F的测定平面(镜圈的矢径方向)平行，Z方向是与测定平面垂直的方向。

<移动单元>

以下，对移动单元210进行说明。例如，图3～图5是说明移动单元210的结构的图。例如，图3示出从上方观察移动单元210的立体图。例如，图4示出从下方观察移动单元210的立体图。例如，图5示出Z移动单元220和Y移动单元230的俯视立体图(将X移动单元240和基座部211拆下后的状态的立体图)。

例如，移动单元210大致具备Z移动单元(Z方向驱动单元)220、Y移动单元(Y方向驱动单元)230、X移动单元(X方向驱动单元)240。例如，Z移动单元(Z方向驱动单元)220使保持单元25沿Z方向移动。例如，Y移动单元230保持保持单元25及Z移动单元220，使其向Y方向移动。例如，X移动单元240使保持单元25与Z移动单元220及Y移动单元230一起沿X方向移动。

例如，X移动单元240大致如下构成。例如，X移动单元240在具有沿水平方向(XY方向)伸展的方形状的框的基座部211的下方，具备沿X方向延伸的导轨241。例如，Y移动单元230的Y基座230a以能够沿着导轨241在X方向上移动的方式安装。例如，在基座部211安装有马达(驱动源)245。例如，在马达245的旋转轴上安装有沿X方向延伸的进给丝杠242。例如，固定于Y基座230a的螺母部246与进给丝杠242螺合。由此，当马达245旋转时，Y基座230a在X方向上移动。此外，例如，为了能够测定眼镜框架的左右透镜框，X移动单元240的X方向的移动范围也可以具有使搭载有保持单元25的Y基座230a能够移动到眼镜框架的左右宽度以上的长度。

例如，Y移动单元230大致如下构成。例如，在Y基座230a上安装有沿Y方向延伸的导轨231。例如，Z基座220a被安装成能够沿着导轨231在Y方向上移动。例如，在Y基座230a上，以能够旋转的方式安装有Y移动用的马达(驱动源)235和沿Y方向延伸的进给丝杠232。例如，马达235的旋转经由齿轮等旋转传递机构传递给进给丝杠232。例如，在进给丝杠232上螺合有安装于Z基座220a的螺母227。根据这些结构，当马达235旋转时，Z基座220a沿Y方向移动。

例如，由X移动单元240及Y移动单元230构成XY移动单元。例如，使保持单元25在XY方向上移动的范围大于能够测定的镜圈的矢径。另外，例如，保持单元25的XY方向的移动位置根据由后述的控制部50驱动马达245及235的脉冲数来检测，对保持单元25的XY方向的位置进行检测的第一XY位置检测单元由马达245、235及控制部50构成。例如，作为保持单元25的XY位置检测单元，除了通过马达245及235的脉冲控制进行检测之外，也可以是使用安装于马达245及235各自的旋转轴的编码器等传感器的结构。

例如，Z移动单元220大致如下构成。例如，在Z基座220a上形成有沿Z方向延伸的导轨221，安装有保持单元25的移动基座250a沿着该导轨221被保持为能够在Z方向上移动。例如，在Z基座220a上安装有Z移动用的脉冲马达225，并且以能够旋转的方式安装有沿Z方向延伸的进给丝杠(省略图示)。例如，与安装于保持单元25的基座250a的螺母螺合。例如，马达225的旋转经由齿轮等旋转传递机构传递给进给丝杠222，通过进给丝杠222的旋转使保持单元25沿Z方向移动。保持单元25的Z方向的移动位置根据由后述的控制部50驱动马达225的脉冲数来检测，检测保持单元25的Z方向的位置的Z位置检测单元由马达225及控制部50构成。例如，作为保持单元25的Z位置检测单元，除了通过马达225的脉冲控制进行检测之外，也可以是使用安装于马达225的旋转轴的编码器等传感器的结构。

此外，以上那样的X方向、Y方向以及Z方向的各移动机构不限于实施例，能够采用公知的机构。例如，也可以代替使保持单元25直线移动，而采用相对于旋转基座的中心以圆弧起动进行移动的结构(例如，参照日本特开2006-350264号公报等)。

<旋转单元>

接着，对旋转单元260进行说明。例如，图6是对旋转单元260进行说明的图。

例如，在保持单元25设置有开口部26。例如，开口部26使来自投光光学系统30a的测定光束通过，并且使被眼镜框架F反射的反射光束通过。例如，也可以在开口部26设置覆盖开口部26的透明面板。例如，开口部26将来自投光光学系统30a的测定光束从保持单元25的内部朝向外部射出。即，来自投光光学系统30a的测定光束通过开口部26朝向眼镜框架F的镜圈的槽照射。例如，开口部26使被眼镜框架F的镜圈的槽反射的反射光束从保持单元25的外部朝向保持单元25的内部的受光光学系统30b通过。即，被眼镜框架F的镜圈的槽反射的反射光束通过开口部26而被受光光学系统30b接收。

例如，旋转单元260以在Z方向上延伸的旋转轴LO为中心使保持单元25旋转，从而变更开口部26朝向的XY方向。例如，旋转单元260具备旋转基座261。例如，保持单元25安装于旋转基座261。例如，旋转基座261被保持为能够以在Z方向上延伸的旋转轴LO为中心旋转。例如，在旋转基座261的下部的外周形成有大径齿轮262。例如，旋转单元260具有安装板252。例如，在安装板252上安装有马达(驱动源)265。例如，小齿轮266固定于马达265的旋转轴，小齿轮266的旋转经由以能够旋转的方式设置于安装板252的齿轮263传递至大径齿轮262。因此，通过马达265的旋转，旋转基座261绕旋转轴LO的轴旋转。例如，马达265的旋转由一体地安装于马达265的编码器(传感器)265a检测，根据编码器265a的输出来检测旋转基座261(即，保持单元25)的旋转角。旋转基座261的旋转的原点位置由省略图示的原点位置传感器检测。此外，以上那样的旋转单元260的各移动机构不限于实施例，能够采用公知的机构。

此外，在本实施例中，旋转单元260的旋转轴LO设定为通过后述的投光光学系统30a的光源31的轴。即，旋转单元260以投光光学系统30a的光源31为中心旋转。当然，旋转单元260的旋转轴也可以将不同的位置作为旋转轴。例如，也可以将旋转单元260的旋转轴LO设定为通过后述的受光光学系统30b的检测器37的轴。

<眼镜框架测定光学系统>

接着，对保持单元25所保持的眼镜框架测定光学系统30进行说明。例如，图7是示出眼镜框架测定光学系统30的概略结构图。例如，眼镜框架测定光学系统30用于取得眼镜框架F。例如，在本实施例中，眼镜框架测定光学系统30用于取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状。另外，例如，在本实施例中，眼镜框架测定光学系统30用于测定眼镜框架F的形状。

例如，在本实施例中，眼镜框架测定光学系统30配置在保持单元25的内部。例如，眼镜框架测定光学系统30由投光光学系统30a和受光光学系统30b构成。例如，投光光学系统30a具有光源，从光源朝向眼镜框架F的镜圈的槽照射测定光束。例如，受光光学系统30b具有检测器，并通过检测器接收由投光光学系统30a朝向眼镜框架F的镜圈的槽照射并由眼镜框架F的镜圈的槽反射的测定光束的反射光束。

例如，在本实施例中，眼镜框架测定光学系统30是基于莎姆定律的原理(scheimpflug principle)来取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状的结构。例如，投光光学系统30a向眼镜框架的镜圈的槽照射狭缝光。例如，受光光学系统30b具有相对于照射狭缝光的光轴L1倾斜的光轴L2，具备基于莎姆定律的原理配置的透镜和检测器。当然，眼镜框架测定光学系统30也可以不使用基于莎姆定律的原理的光学系统，而使用不同结构的光学系统。眼镜框架测定光学系统30只要是取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状的光学系统即可。

此外，在实施例中，以投光光学系统30a和受光光学系统30b一体地移动的结构为例进行了说明，但并不限定于此。例如，也可以是在X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220以及旋转单元260中的至少任一个驱动单元中另外分别移动投光光学系统30a和受光光学系统30b的结构。

<投光光学系统>

例如，投光光学系统30a具备光源31、透镜32以及狭缝板33。例如，从光源31射出的测定光束通过透镜32聚光而对狭缝板33进行照明。例如，对狭缝板33进行照明的测定光束成为被狭缝板33限制成细的狭缝状的测定光束，照射到眼镜框架F的镜圈的槽FA。即，例如，狭缝光照射到眼镜框架F的镜圈的槽FA。由此，眼镜框架F的镜圈的槽FA以被狭缝光光切断的形式被照明。

<受光光学系统>

例如，受光光学系统30b具备透镜36和检测器(例如受光元件)37。例如，受光光学系统30b是相对于眼镜框架F的镜圈的槽FA从斜向取得截面形状的结构。例如，受光光学系统30b是基于莎姆定律的原理取得眼镜框架F的镜圈的槽FA的截面形状的结构。

例如，透镜36将通过镜圈的槽FA处的反射而取得的镜圈的槽FA的反射光束(例如，镜圈的槽FA的散射光、镜圈的槽FA的正反射光等)引导至检测器37。例如，检测器37具有配置在与眼镜框架F的镜圈的槽FA大致共轭的位置的受光面。例如，受光光学系统30b具有相对于投光光学系统30a的投光光轴L1倾斜的摄像光轴L2，具有基于莎姆定律的原理配置的透镜36和检测器37。受光光学系统30b配置成其光轴(摄像光轴)L2与投光光学系统30a的光轴L1以规定的角度相交。例如，通过投光光学系统30a向眼镜框架F的镜圈的槽FA照射的光断面、包括眼镜框架F的镜圈的槽FA的透镜系统(眼镜框架F的镜圈的槽FA及透镜36)与检测器37的受光面(受光位置)以莎姆定律的关系配置。

<控制单元>

图8是与眼镜框形状测定装置1相关的控制框图。在控制部50连接有非易失性存储器(存储单元)52、显示器3、开关部4等。

例如，控制部50具备CPU(处理器)、RAM、ROM等。控制部50的CPU负责各部分(例如，光源31、检测器37、编码器265a)以及各单元的驱动单元(例如，框架保持单元100的驱动源、各马达225、235、245、265)等装置整体的控制。另外，例如，控制部50作为进行各种运算(例如，基于来自各传感器的输出信号等进行眼镜框架的形状的运算等)的运算单元(解析单元)发挥功能。RAM暂时存储各种信息。在控制部50的ROM中存储有用于控制装置整体的动作的各种程序、初始值等。此外，控制部50也可以由多个控制部(即，多个处理器)构成。非易失性存储器(存储单元)52是即使切断电源的供给也能够保持存储内容的非易失性的存储介质。例如，能够将硬盘驱动器、闪速ROM、以能够装卸的方式安装于眼镜框形状测定装置1的USB存储器等用作非易失性存储器(存储器)52。

例如，控制部50与对透镜的周缘进行加工的透镜加工装置300连接。例如，由眼镜框形状测定装置1取得的各种数据被发送到透镜加工装置300的控制部310。透镜加工装置300的控制部310基于接收到的各种数据控制透镜加工装置300的各部分及各单元的驱动单元，进行透镜的加工。当然，透镜加工装置300和眼镜框形状测定装置1也可以是一体构成的装置。

例如，在本实施例中，显示器3使用触摸面板式的显示器。即，在本实施例中，显示器3是触摸面板，因此显示器3作为操作部(操作单元)发挥功能。在该情况下，控制部50通过显示器3所具有的触摸面板功能接收输入信号，控制显示器3的图形以及信息的显示等。当然，也可以构成为在眼镜框形状测定装置1另行设置操作部。在该情况下，例如，操作部例如使用鼠标、操纵杆、键盘、触摸面板等中的至少任一个即可。当然，也可以是使用显示器60和操作部双方来操作眼镜框形状测定装置1的结构。此外，在本实施例中，以显示器60作为操作部而发挥功能并且另外具备开关部(操作部)4的结构为例进行说明。

<控制动作>

对具有以上那样的结构的装置的动作进行说明。例如，操作者使镜架保持单元10保持眼镜框架F。例如，操作者使镜框保持单元10保持眼镜框架F，以使眼镜框架F的左右镜圈FL、FR成为下方向且眼镜框架F的左右的镜腿FTL、FTR成为上方向。

例如，当眼镜框架F被保持于框架保持单元10时，操作者操作开关部4，开始测定。例如，当输出测定开始的触发信号时，控制部50通过驱动X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220以及旋转单元260中的至少任一个，使保持单元25(投光光学系统30a以及受光光学系统30b)移动来开始眼镜框架F的镜圈的测定。例如，在本实施例中，镜圈的测定从右镜圈FR开始测定。当然，也可以是从左镜圈FL开始测定的结构。

例如，控制部50通过使保持单元25移动，对眼镜框架测定光学系统30(投光光学系统30a及受光光学系统30b)测定眼镜框架的镜圈轮廓，由此取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。此外，在本实施例中，投光光学系统30a以及受光光学系统30b在维持莎姆定律的关系的状态下相对于眼镜框架F移动。即，通过使眼镜框架测定光学系统30以相对于眼镜框架F的镜圈的槽成为一定的位置关系的方式移动，能够取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状。

例如，当输出测定开始的触发信号时，控制部50控制移动单元210(X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220中的至少一个)以及旋转单元260的驱动，使放置于退避位置的保持单元25移动至测定开始的初始位置。此外，例如，测定开始的初始位置被设定在保持单元25位于右镜圈FR的下端侧的夹紧销130a、130b与夹紧销131a、131b的中央位置。当然，测定开始的初始位置能够设定在任意的位置。

例如，当保持单元25移动至测定开始的初始位置时，控制部50使光源31点亮。并且，在光源31点亮的同时，控制部50为了向眼镜框架F的规定位置的镜圈的槽照射测定光束，控制移动单元210及旋转单元260中的至少任一个的驱动。

例如，在本实施例中，在设定取得镜圈的槽的截面形状的位置的情况下，控制部50控制旋转单元260，设定取得位置。图9A是对控制旋转单元260而以不同的矢径角来取得镜圈的截面形状的情况进行说明的图。图9A和图9B以不同的矢径角来取得镜圈的截面形状。

例如，控制部50控制旋转单元260，使投光光学系统30a的光轴L1在XY平面上旋转，使投光光学系统30a的光轴L1沿镜圈的周向移动。即，控制部50控制X旋转单元260，变更取得镜圈的槽的截面形状的矢径角。例如，通过控制旋转单元260，将投光光学系统30a的照射位置T1变更为投光光学系统30a的照射位置T2。

例如，在本实施例中，设定取得镜圈的槽的截面形状的位置，在变更测定光束相对于镜圈的槽的照射位置的情况下，控制移动单元210(X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220中的至少任一个)，以使测定光束照射于镜圈的槽的方式变更测定光束的照射位置。

此外，在本实施例中，也可以同时实施取得镜圈的槽的截面形状的位置的设定和测定光束相对于镜圈的槽的照射位置的变更。另外，例如，取得镜圈的槽的截面形状的位置的设定不仅可以使用旋转单元260，也可以使用X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220中的至少任一个。另外，取得镜圈的槽的截面形状的位置的设定也可以通过X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220中的至少任一个来进行。另外，例如，测定光束相对于镜圈的槽的照射位置的变更可以是不仅使用X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220中的至少任一个也使用旋转单元260的结构。另外，例如，测定光束相对于镜圈的槽的照射位置的变更也可以是仅使用旋转单元260的结构。

例如，通过光源31的点亮，眼镜框架F的镜圈的槽被狭缝光进行光切断。来自被狭缝光进行光切断的眼镜框架F的镜圈的槽的反射光束朝向受光光学系统30b，被检测器37接收。例如，控制部50基于由检测器37接收到的反射光束，取得眼镜框架的镜圈的槽的二维截面形状。此外，在本实施例中，作为截面形状，取得截面图像。当然，截面形状也可以是作为信号而取得的结构。

在此，根据眼镜框架F的形状，有时难以在检测器37良好地接收镜圈的槽的反射光束而良好地取得镜圈的槽的截面形状(在本实施例中为截面图像)。例如，在眼镜框架F的镜圈的槽未照射测定光束的情况下，难以取得截面形状。另外，例如，在由眼镜框架F的镜圈的槽接收测定光束的反射光束的位置不良好的情况下，难以取得截面形状。

因此，控制部50在检测器37未良好地接收镜圈的槽的反射光束的情况下，变更反射光束的受光位置，以使检测器37接收镜圈的槽的反射光束。以下，对用于变更反射光束的受光位置以使检测器37接收镜圈的槽的反射光束的控制进行说明。此外，作为在检测器37未良好地接收镜圈的槽的反射光束的状态的例子，可列举未显示镜圈的槽的截面图像的状态、仅显示镜圈的槽的截面图像的一部分的状态、显示镜圈的槽的截面图像但未显示于所设定的规定的位置的状态等。

例如，作为在检测器37未良好地接收镜圈的槽的反射光束的状态，可列举镜圈的截面图像在深度方向(图13的纸面上的上下方向)和左右方向(图13的纸面上的左右方向)的至少任一方向上无法良好地显示的情况。此外，在本实施例中，以截面图像未在深度方向上良好地显示的情况为例进行说明。

例如，图10是示出在检测器37无法接收镜圈的槽的反射光束的状态的图。例如，图11是示出检测器37能够接收镜圈的槽的反射光束的状态的图。

例如，在图10中，投光光学系统30a的照射位置T3不位于镜圈的槽。因此，无法接收来自眼镜框架F的镜圈的槽的反射光束。例如，在未接收到反射光束的状态下，在控制部50取得截面图像的情况下，在表示取得结果的图像40上不显示截面图像。另一方面，在图11中，投光光学系统30a的照射位置T4位于镜圈的槽。另外，检测器37位于能够接收来自眼镜框架F的镜圈的槽的反射光束的位置。例如，在能够接收到反射光束的状态下，在控制部50取得截面图像的情况下，在表示取得结果的图像40上显示截面图像41。

例如，在本实施例中，当输出测定开始的触发信号时，控制部50使保持单元25移动至测定开始的初始位置。例如，在保持单元25移动到初始位置之后，控制部50使光源31点亮。此时，如图10所示，在未显示截面图像41的情况下，控制部50控制移动单元210。例如，控制部50对移动单元210进行控制，以对所取得的图像40进行解析，在无法检测到截面图像41的情况下，检测出截面图像41。由此，如图11所示，例如，在图像40上显示截面图像41。

例如，控制部50通过检测亮度值的变化，能够检测截面图像。例如，在取得截面图像41的情况下，检测出一定的亮度值。即，反射光束能够由检测器检测，因此亮度值上升。图12是对亮度值的检测进行说明的图。例如，控制部50对所取得的截面图像41按照扫描线S1、扫描线S2、扫描线S3、…扫描线Sn的顺序进行亮度值的检测，得到亮度分布。即，控制部50通过检测亮度值，能够从图像40上提取镜圈的截面图像41。

此外，例如，控制部50也可以控制移动单元210，以使镜圈的截面图像41显示于规定的位置。即，例如，控制部50通过控制移动单元210的移动，变更检测器37上的、镜圈的槽的反射光束的受光位置。通过变更受光位置，从而变更图像40上的截面图像41的位置。

此外，在以下的说明中，以使截面图像41沿深度方向(图13的纸面上的上下方向)移动的情况为例进行说明。即，例如，以控制部50变更检测器37上的镜圈的槽的反射光束的受光位置以使截面图像41在图像40的上下方向上移动的情况为例进行说明。此外，作为截面图像41的移动方向，并不限定于所述结构。例如，也可以是使截面图像41在左右方向(图13的纸面上的左右方向)上移动的结构。即，例如，也可以是控制部50变更检测器37上的镜圈的槽的反射光束的受光位置以使截面图像41在图像40的左右方向上移动的结构。

例如，在本实施例中，控制部50控制移动单元210，以使镜圈的截面图像41显示于规定的位置。图13是说明用于使截面图像41移动到规定的位置的控制的图。例如，控制部50在显示有截面图像41的情况下，检测截面图像41与规定的位置B的深度方向(图像40的上下方向)上的偏离信息。例如，控制部50基于检测到的偏离信息来控制移动单元210。例如，控制部50也可以在检测出的偏离信息比规定的阈值(规定的容许范围)大的情况下，控制移动单元210，使检测出的偏离信息成为规定的阈值以下。

例如，在控制移动单元210以使截面图像41中的镜圈的规定的部位(例如镜圈的肩、镜圈的槽斜面、镜圈的槽的底、镜圈外形部等中的至少任一个部位)显示于规定的位置B的情况下，控制部50检测截面图像41中的镜圈的规定的部位与规定的位置B的深度方向上的偏离信息。在以下的说明中，例如，以控制部50控制移动单元210以使截面图像41中的镜圈的槽的底43显示于规定的位置B的情况为例进行说明。

此外，例如，规定的位置B例如也可以是深度方向上的图像40的中心位置(检测器37的中心位置)。当然，规定的位置B不限于中心位置，能够任意地设定。例如，也可以是图像40的图像区域(显示区域)的上方、下方等。此外，在本实施例中，检测器37的受光区域与图像40的图像区域一致，位置关系对应。当然，检测器37的受光区域与图像40的图像区域也可以不同。

此外，例如，规定的阈值也可以是预先设定的阈值。例如，也可以预先通过模拟或实验等设定截面图像位于规定的位置的阈值。

如图13所示，在本实施例中，例如，控制部50检测截面图像41中的镜圈的槽的底43与规定的位置B的偏离信息。例如，控制部50从图像40检测镜圈的槽的底43的位置(检测器37中的镜圈的槽的底43的反射光束的受光位置)。例如，控制部50对所取得的图像40如上述那样设定深度方向的扫描线，得到该扫描线上的亮度分布。例如，控制部50根据亮度分布检测镜圈的槽的底43。例如，控制部50设定多条扫描线，取得各扫描线的亮度分布。例如，控制部50根据各扫描线上的亮度分布检测深度方向上的亮度值成为最大值(以下，省略为最大亮度值)的位置，将该位置设定为峰值位置。例如，控制部50在分别检测出各扫描线上的峰值位置之后，在深度方向上，将在最下方检测出的峰值位置检测为镜圈的槽的底43的位置。此外，检测镜圈的槽的底43的方法并不限定于上述方法。也可以通过各种方法来检测镜圈的槽的底43。

例如，控制部50对检测出的镜圈的槽的底43的位置、规定的位置B、偏离信息(在本实施例中，例如偏离量ΔD)进行检测。此外，在本实施例中，规定的位置(基准位置)B是截面图像的深度方向上的中心位置，与显示器3上的显示区域(图像40的图像区域)的中央位置对应。

例如，若检测出偏离量ΔD，则控制部50判定检测出的偏离量ΔD是否比规定的阈值大，并基于该判定结果来控制移动单元210。即，基于偏离量ΔD，控制移动单元210，变更检测器37中的来自镜圈的槽的底43的反射光束的受光位置。例如，在检测出的偏离量ΔD比规定的阈值大的情况下，控制部50使移动单元210移动，以使偏离量ΔD变少。

更详细而言，例如，控制部50通过控制移动单元210中的X移动单元240和Y移动单元230中的至少一个，使截面图像41沿深度方向移动。当然，控制部50也可以在沿深度方向的移动中，进一步控制Z移动单元220。作为一例，例如，在照射位置T4处，在进行镜圈的测定的情况下，控制Y移动单元230，使眼镜框架测定光学系统30向接近照射位置T4(接近镜圈)的方向(图11的纸面上的上方向)移动，由此使所取得的截面图像41向上方(图11的纸面上的图像40的上方)移动。另一方面，例如，在照射位置T4处，在进行镜圈的测定的情况下，控制Y移动单元230，使眼镜框架测定光学系统30向远离照射位置T4(远离镜圈)的方向(图11的纸面上的下方向)移动，由此使所取得的截面图像41向下方向(图11的纸面上的图像40的下方向)移动。当然，除了Y移动单元230的控制之外，还可以控制X移动单元240。

另外，作为一例，例如在照射位置T2(参照图9B)中，在进行镜圈的测定的情况下，控制X移动单元240，使眼镜框架测定光学系统30向接近照射位置T2(接近镜圈)的方向(图9B的纸面上的右方向)移动，由此使所取得的截面图像41向上方(图11的纸面上的图像40的上方)移动。另一方面，例如，在照射位置T2，在进行镜圈的测定的情况下，控制X移动单元240，使眼镜框架测定光学系统30向远离照射位置T2(远离镜圈)的方向(图9B的纸面上的左方向)移动，由此使所取得的截面图像41向下方向(图11的纸面上的图像40的下方向)移动。当然，除了X移动单元240的控制之外，还可以控制Y移动单元230。

此外，作为一例，例如也可以在测定照射位置T2的镜圈与照射位置T4的镜圈之间的镜圈的情况下，例如进行X移动单元240与Y移动单元230的控制，控制截面图像41的深度方向的移动。在该情况下，例如，通过控制X移动单元240以及Y移动单元230，使眼镜框架测定光学系统30向接近镜圈的方向移动，由此使所取得的截面图像41向上方(图11的纸面上的图像40的上方)移动。另外，在该情况下，例如，通过控制X移动单元240以及Y移动单元230，使眼镜框架测定光学系统30向远离镜圈的方向移动，由此使所取得的截面图像41向下方向(图11的纸面上的图像40的下方)移动。

此外，在本实施例中，以使截面图像41沿深度方向移动的情况为例，但并不限定于此。例如，也可以使截面图像41在左右方向(图13的纸面上的左右方向)上移动。在该情况下，例如，控制部50通过控制移动单元210中的Z移动单元220，使截面图像41在左右方向上移动。当然，控制部50也可以在向左右方向的移动中，进一步控制X移动单元240和Y移动单元230中的至少任一个。作为一例，例如，在照射位置T4处，在进行镜圈的测定的情况下，控制Z移动单元220来进行控制，使眼镜框架测定光学系统30向从照射位置T4下降的方向(与图11的纸面垂直的方向上的里侧)移动，由此使所取得的截面图像41向右方向(图11的纸面上的图像40的右方向)移动。另一方面，例如，在照射位置T4处，在进行镜圈的测定的情况下，控制Z移动单元220，使眼镜框架测定光学系统30向从照射位置T4上升的方向(与图11的纸面垂直的方向上的近前方向)移动，由此使所取得的截面图像41向左方(图11的纸面上的图像40的左方)移动。

通过上述那样的控制，变更图像40上的截面图像41的显示位置。此外，在检测出的偏离量ΔD为规定的阈值以下的情况下，控制部50不使移动单元210移动。如以上那样，能够在规定的位置显示镜圈的槽的底的截面图像。例如，控制部50在完成检测器37中的受光位置的变更的控制之后，取得镜圈的槽的截面图像。

如上所述，在本实施例中，眼镜框形状测定装置具备变更反射光束的受光位置的变更单元和控制变更单元来变更反射光束的受光位置以使检测器接收镜圈的槽的反射光束的控制单元。由此，例如，由于在检测器接收反射光束，因此即使在测定各种形状的眼镜框架的情况下，也能够良好地取得各种形状的眼镜框架中的镜圈的槽的截面形状。即，本公开的眼镜框形状测定装置在眼镜框架中的镜圈的槽的截面形状的取得中能够应对各种形状的眼镜框架。

另外，例如，控制单元也可以基于由检测器接收到的反射光束，控制变更单元来变更反射光束的所述受光位置。由此，例如，能够变更基于接收到的反射光束的反射光束的受光位置，因此能够以更高精度地接收镜圈的反射光束的方式进行变更。由此，能够容易地取得良好的截面形状。

另外，例如，眼镜框形状测定装置也可以具备取得反射光束的受光位置的位置取得单元。另外，例如，控制单元也可以基于由位置取得单元取得的反射光束的受光位置，控制变更单元来变更反射光束的所述受光位置。由此，例如，能够变更基于受光位置的反射光束的受光位置，因此能够更容易且高精度地取得良好的截面形状。

另外，例如，位置取得单元也可以取得镜圈的至少某个部位的反射光束的受光位置。另外，例如，控制单元也可以基于由位置取得单元取得的镜圈的至少某个部位的受光位置，控制变更单元来变更镜圈的槽的反射光束的受光位置。由此，能够基于镜圈的特定部位的反射光束进行受光位置的变更，因此能够以更高精度地接收镜圈的反射光束的方式进行变更。由此，能够更容易地取得良好的截面形状。

另外，例如，取得单元也可以基于由检测器接收到的反射光束，取得眼镜框架的镜圈的槽的截面图像作为截面形状。另外，例如，位置取得单元也可以通过解析截面图像来取得截面图像的位置，从而取得反射光束的受光位置。另外，例如，控制单元也可以基于由位置取得单元取得的截面图像的位置，控制变更单元来变更镜圈的槽的反射光束的受光位置。由此，例如，能够变更使用截面图像的反射光束的受光位置，因此，反射光束的受光位置的确定变得更容易。由此，能够更容易地取得良好的截面形状。

另外，例如，控制单元也可以对变更单元进行控制来变更反射光束的受光位置，以便在检测器的规定的位置接收镜圈的槽的反射光束。由此，例如，由于在检测器的规定的位置接收反射光束，因此能够使反射光束位于任意的位置，因此能够更良好地取得截面形状。

另外，例如，控制单元取得规定的位置与受光位置之间的偏离信息，基于偏离信息，控制变更单元来变更镜圈的槽的反射光束的受光位置。由此，能够进行基于偏离信息的受光位置的变更，因此能够容易且高精度地在规定的位置接收镜圈的反射光束。

例如，如上所述，控制部50在取得初始位置的截面图像时，变更取得镜圈的槽的截面图像的位置，依次取得各矢径角位置的镜圈的槽的截面图像。例如，控制部50控制旋转单元260，一边以旋转轴(在本实施例中通过光源31的轴)LO为中心变更矢径角，一边变更取得镜圈的槽的截面图像的位置。由此，取得镜圈的截面图像的位置在镜圈的周向上移动。

例如，每当变更取得镜圈的截面图像的位置时，控制部50控制移动单元210，以使检测器37良好地接收镜圈的槽的反射光束。例如，每当取得镜圈的截面图像的位置在镜圈的周向上变更时，控制部50控制移动单元210，使截面图像41中的镜圈的槽的底43显示在规定的位置B。

此外，使检测器37良好地接收镜圈的槽的反射光束的控制也可以以规定的间隔实施。例如，控制部50也可以构成为，在至少一个以上的测定位置(在本实施例中为截面图像的取得位置)，一边变更受光位置，以使检测器良好地接收镜圈的槽的反射光束，一边进行镜圈的槽的测定。例如，在本实施例中，以在截面图像的各取得位置实施使检测器37良好地接收镜圈的槽的反射光束的控制的情况为例进行说明。

例如，控制部50在截面图像的各取得位置(各测定位置)，控制移动单元210以使检测器37良好地接收镜圈的槽的反射光束，然后取得镜圈的槽的截面图像，将取得的截面图像分别存储于存储器52。另外，根据马达225的脉冲数、马达235的脉冲数、马达245的脉冲数、编码器265a的检测结果中的至少任一个来运算各截面图像的取得位置，并存储于存储器52。即，通过取得马达225的脉冲数、马达235的脉冲数、马达245的脉冲数、编码器265a的检测结果中的至少任一个，能够确定取得镜圈的截面图像的位置。这样，例如，控制部50能够取得取得了镜圈的槽的断层图像的位置(取得位置信息)。例如，取得位置信息能够在取得镜圈的槽的三维截面图像、眼镜框架的形状等时使用。

这样，例如，取得单元也可以分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状，基于取得多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状时的由控制单元控制的变更单元的变更信息，使截面形状对位而取得镜圈的槽的三维截面形状。由此，例如，能够确认从变更信息取得截面形状时的测定条件，因此能够容易地进行多个矢径角位置的镜圈的截面形状官的对位。由此，能够取得良好的三维形状。

例如，控制部50通过对取得的截面图像进行解析处理，能够取得与镜圈的槽相关的各种参数。图13是对从镜圈的槽的截面图像取得的参数进行说明的图。例如，控制部50通过图像处理取得截面图像的亮度分布，从而能够取得镜圈的槽的参数。例如，作为镜圈的槽的参数，控制部50能够得到到镜圈的槽的底为止的距离K1、镜圈的槽的左右的斜面角度θ1、θ2、镜圈的槽的左右的斜面长度K2、K3、左右的镜圈肩的长度K4、K5等。

例如，控制部50通过遍及镜圈的整周地反复进行所述控制，能够取得镜圈的整周上的镜圈的槽的截面图像。例如，若镜圈整周上的镜圈的槽的截面图像的取得完成，则控制部50调出存储于存储器52的镜圈整周的截面图像及其取得位置信息，进行运算处理，取得三维截面图像。例如，控制部50将所取得的三维截面图像存储于存储器52。此外，在本实施例中，以镜圈整周上的截面图像的取得完成之后取得三维截面图像的结构为例进行了说明，但并不限定于此。也可以构成为，每当在镜圈的槽的截面图像的各取得位置取得截面图像时，进行运算处理。

此外，例如，控制部50能够从所取得的截面图像取得眼镜框架的形状(形状数据)。例如，控制部50根据眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面图像分别检测眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的底，并基于检测到的检测结果，取得眼镜框架的形状。

例如，如上所述，控制部50通过图像处理取得截面图像的亮度分布，由此检测镜圈的槽的底的位置。如图12所示，例如，控制部50对所取得的截面图像按照扫描线S1、扫描线S2、扫描线S3、…扫描线Sn的顺序进行亮度值的检测，得到亮度分布。例如，控制部50也可以在所得到的亮度分布中将在最下侧的位置进行亮度值的检测的位置检测为镜圈的槽的底。

例如，控制部50分别对按各矢径角取得的截面图像进行处理，分别检测图像上的镜圈的槽的底的位置。例如，控制部50根据根据截面图像检测出的图像上的镜圈的槽的底的位置和取得该截面图像的取得位置信息，取得镜圈的槽的底的位置信息。例如，控制部50从在各矢径角位置分别取得的截面图像检测图像上的镜圈的槽的底的位置，根据检测出的图像上的镜圈的槽的底的位置和取得该截面图像的取得位置信息，分别取得各矢径角的镜圈的槽的底的位置信息。由此，例如，控制部50取得眼镜框架F的三维形状(rn、zn、θn)(n＝1、2、3、…、N)。例如，眼镜框架Fn的三维形状可以遍及镜圈的整周而取得，也可以在镜圈的整周中的一部分区域中取得。如上所述，能够取得眼镜框架F的形状。

此外，在本实施例中，以通过按各矢径角来取得镜圈的槽的底的位置信息来取得眼镜框架的三维形状的结构为例进行了说明，但并不限定于此。例如，在取得眼镜框架的三维形状时，对于在各矢径角未取得镜圈的槽的底的位置信息的位置，也可以基于周边的矢径角位置的镜圈的槽的底的位置信息进行插补，由此取得镜圈的槽的底的位置信息。另外，例如，在取得眼镜框架的三维形状时，也可以在各矢径角位置，对于未取得镜圈的槽的底的位置信息的位置，根据周边的矢径角位置的镜圈的槽的底的位置信息的近似的结果进行插补。

例如，当右镜圈FR的测定结束时，控制部50控制X移动单元240的驱动，使保持单元25移动到左镜圈FL的测定用的规定位置。与上述测定控制同样地，取得右镜圈FR的截面形状的取得和眼镜框架的形状。右镜圈FR及左镜圈FL的截面图像和形状存储于存储器52。

此外，例如，也可以基于所取得的眼镜框架的三维形状来取得各种参数。例如，也可以从眼镜框架的三维形状取得二维形状。例如，二维形状可以通过将三维形状投影到眼镜框架F的正面方向的XY平面上的形状来取得。此外，以从三维形状取得二维形状的结构为例进行了说明，但并不限定于此。在基于各矢径角位置的镜圈的截面图像来取得镜圈的槽的底的位置信息时，也可以通过仅检测XY平面上的镜圈的槽的底的位置信息来取得。

如以上那样，由眼镜框形状测定装置1取得的镜圈的槽的截面形状、眼镜框架的形状等由控制部50发送到透镜加工装置300。例如，透镜加工装置300的控制部310接收由眼镜框形状测定装置1取得的镜圈的槽的截面形状、眼镜框架的形状等。

例如，作为透镜加工装置300，具备将透镜保持于透镜卡盘轴而旋转的透镜旋转单元和使安装于加工件旋转轴的加工件旋转的加工件旋转单元。例如，在透镜加工装置300中，透镜加工装置的控制部310基于由眼镜框形状测定装置1取得的取得信息(例如眼镜框架的镜圈的槽的截面形状、眼镜框架的形状等)，控制透镜旋转单元和加工件旋转单元，进行透镜的周缘加工。此外，作为透镜加工装置的控制部310，可以是兼用作眼镜框形状测定装置1的控制部的结构，也可以是另行设置用于进行透镜加工装置的各种控制的控制部310的结构。

例如，在本实施例中，眼镜框形状测定装置具备：投光光学系统，所述投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈从光源照射测定光束；受光光学系统，所述受光光学系统由检测器接收由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈照射并由眼镜框架的镜圈反射的测定光束的反射光束；以及取得单元，所述取得单元基于由检测器接收到的反射光束来取得眼镜框架的镜圈的截面形状。由此，例如，能够容易且高精度地取得眼镜框架的镜圈的截面形状。另外，例如，由于是基于测定光束的测定，因此能够迅速地进行测定。

另外，例如，在本实施例中，眼镜框形状测定装置具备变更测定光束相对于眼镜框架的镜圈的槽的照射位置的第一变更单元和控制第一变更单元的第一控制单元。由此，能够向眼镜框架中的任意的镜圈的槽的位置照射测定光束，能够取得任意位置的镜圈的槽的截面形状。

另外，例如，在本实施例中，在眼镜框形状测定装置中，第一变更单元是使投光光学系统的至少一部分的位置移动的变更单元，第一控制单元通过控制第一变更单元，使投光光学系统的至少一部分的位置相对于眼镜框架的镜圈的槽进行变更，变更测定光束相对于眼镜框架的镜圈的槽的照射位置。由此，能够向眼镜框架中的任意的镜圈的槽的位置照射测定光束，能够取得任意位置的镜圈的槽的截面形状。

另外，例如，在本实施例中，眼镜框形状测定装置具备变更受光光学系统的反射光束的受光位置的第二变更单元和控制第二变更单元的第二控制单元。由此，能够在能够良好地取得镜圈的槽的截面形状的位置变更受光位置，能够更高精度地取得眼镜框架的镜圈的截面形状。

另外，例如，在本实施例中，在眼镜框形状测定装置中，第一控制单元控制第一变更单元，对眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光束。取得单元分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状。眼镜框形状测定装置具备解析单元，所述解析单元根据眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状分别检测眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的底，并基于检测出的检测结果来取得眼镜框架的形状。由此，如以往那样，根据眼镜框架，能够抑制测定件从透镜框的槽脱落而无法测定的情况，能够容易且高精度地对各种形状的眼镜框架取得眼镜框架的形状。

另外，例如，在本实施例中，在眼镜框形状测定装置中，第一控制单元控制第一变更单元，对眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽照射测定光束。取得单元分别取得眼镜框架的多个矢径角位置的镜圈的槽的截面形状，取得三维截面形状。由此，能够容易且高精度地取得眼镜框架的三维截面形状。

另外，例如，在本实施例中，透镜加工装置具备加工控制单元，该加工控制单元基于眼镜框架的镜圈的槽的截面形状对透镜的周缘进行加工。由此，在将加工后的透镜良好地放入眼镜框架时，成为镜圈的槽的形状和加工后的透镜的轮廓形状接近的形状，因此能够良好地进行放入。

此外，在本实施例中，截面形状和眼镜框架的形状中的至少任一个可以显示在显示器3上。当然，也可以显示在透镜加工装置300的未图示的显示器上。例如，截面形状和眼镜框架的形状也可以在显示器3上在不同的画面上显示。在该情况下，也可以通过切换画面来切换显示截面形状和眼镜框架的形状。另外，例如，截面形状和眼镜框架的形状也可以显示在同一画面上。在该情况下，例如，截面形状和眼镜框架的形状也可以排列配置在同一画面上。此时，例如，在眼镜框架的形状中，也可以进行表示能够识别截面形状的取得位置那样的截面形状的取得位置的显示。另外，在该情况下，例如也可以重叠显示截面形状和眼镜框架的形状。在进行重叠显示的情况下，也可以基于截面形状的取得位置信息和镜圈槽的截面形状的取得位置，使截面形状与眼镜框架的形状对位。

标号说明

1 眼镜框形状测定装置

3 显示器

4 开关部

10 框架保持单元

20 测定单元

25 保持单元

30 眼镜框架测定光学系统

30a 投光光学系统

30b 受光光学系统

31 光源

37 检测器

50 控制部

52 存储器

210 移动单元

220 Z移动单元

230 Y移动单元

240 X移动单元

260 旋转单元

300 透镜加工装置

310 控制部

Claims (13)

1.一种眼镜框形状测定装置，对眼镜框架的形状进行测定，其特征在于，具备：

投光光学系统，具有光源，从所述光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；

受光光学系统，具有检测器，通过所述检测器接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射的所述测定光束的反射光束；

取得单元，基于由所述检测器接收到的所述反射光束，取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状；

变更单元，变更所述反射光束的受光位置；以及

控制单元，控制所述变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的槽的所述反射光束的方式变更所述反射光束的受光位置。

2.根据权利要求1所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，

所述控制单元基于由所述检测器接收到的所述反射光束，控制所述变更单元来变更所述反射光束的所述受光位置。

3.根据权利要求2所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，

所述眼镜框形状测定装置具备取得所述反射光束的所述受光位置的位置取得单元，

所述控制单元基于由所述位置取得单元取得的所述反射光束的所述受光位置，控制所述变更单元来变更所述反射光束的所述受光位置。

4.根据权利要求3所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，

所述位置取得单元取得所述镜圈的至少某个部位的所述反射光束的所述受光位置，

所述控制单元基于由所述位置取得单元取得的所述镜圈的至少某个部位的所述受光位置，控制所述变更单元来变更所述镜圈的槽的所述反射光束的所述受光位置。

5.根据权利要求3或4所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，

所述取得单元基于由所述检测器接收到的所述反射光束，取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面图像作为所述截面形状，

所述位置取得单元解析所述截面图像来取得所述截面图像的位置，从而取得所述反射光束的所述受光位置，

所述控制单元基于由所述位置取得单元取得的所述截面图像的位置，控制所述变更单元来变更所述镜圈的槽的所述反射光束的受光位置。

6.根据权利要求2～5中任一项所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，

所述控制单元控制所述变更单元而以在所述检测器的规定的位置接收所述镜圈的槽的所述反射光束的方式变更所述反射光束的所述受光位置。

7.根据权利要求6所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，

所述控制单元取得所述规定的位置与所述受光位置之间的偏离信息，并基于所述偏离信息，控制所述变更单元来变更所述镜圈的槽的所述反射光束的受光位置。

8.根据权利要求1～7中任一项所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，

所述变更单元具有第一变更单元，该第一变更单元变更所述测定光束相对于所述眼镜框架的所述镜圈的槽的照射位置。

9.根据权利要求1～8中任一项所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，

所述变更单元具有第二变更单元，该第二变更单元对所述受光光学系统接收所述反射光束的受光位置进行变更。

10.根据权利要求1～9中任一项所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，

所述取得单元分别取得所述眼镜框架的多个矢径角位置的所述镜圈的槽的截面形状，并基于取得多个矢径角位置的所述镜圈的槽的截面形状时的由所述控制单元控制的所述变更单元的变更信息，对所述截面形状进行对位而取得所述镜圈的槽的三维截面形状。

11.根据权利要求1～10中任一项所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，

所述控制单元在开始所述眼镜框架的测定之后，控制所述变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的槽的所述反射光束的方式变更所述反射光束的受光位置。

12.根据权利要求11所述的眼镜框形状测定装置，其特征在于，

所述控制单元在所述眼镜框架的测定中，控制所述变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的槽的所述反射光束的方式实时地变更所述反射光束的受光位置。

13.一种眼镜框形状测定程序，是在对眼镜框架的形状进行测定的眼镜框形状测定装置中执行的眼镜框形状测定程序，所述眼镜框形状测定装置具备：

投光光学系统，具有光源，从所述光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束；

受光光学系统，具有检测器，通过所述检测器接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射的所述测定光束的反射光束；以及

取得单元，基于由所述检测器接收到的所述反射光束，取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状，

所述眼镜框形状测定程序的特征在于，

所述眼镜框形状测定程序通过由所述眼镜框形状测定装置的处理器执行而使所述眼镜框形状测定装置执行如下控制步骤：控制对所述反射光束的受光位置进行变更的变更单元而以使所述检测器接收所述镜圈的所述反射光束的方式变更所述镜圈的槽的所述反射光束的受光位置。

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