CN112577443B - 眼镜框形状测定装置及镜片加工装置 - Google Patents

Abstract

一种眼镜框形状测定装置及镜片加工装置，容易地良好地取得眼镜框架中的镜圈的形状信息。一种眼镜框形状测定装置，测定眼镜框架的形状，其中，具备：光学式测定单元；测定件单元；保持单元，保持光学式测定单元和测定件单元；变更部，通过使保持单元相对于眼镜框架移动而使光学式测定单元和测定件单元相对于眼镜框架一体地移动，变更相对于眼镜框架的镜圈的槽的测定位置；及控制部，控制眼镜框形状测定装置的动作，控制部控制变更部的动作来进行眼镜框架的镜圈的槽的测定，基于由第一检测器检测到的检测结果来取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状，基于由第二检测器检测的检测结果来取得眼镜框架的镜圈的形状。

Description

眼镜框形状测定装置及镜片加工装置

技术领域

本公开涉及用于得到眼镜框架的形状的眼镜框形状测定装置及用于使用眼镜框形状测定装置来进行镜片的周缘的加工的镜片加工装置。

背景技术

已知有通过向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束且检测由槽反射出的反射光束来测定眼镜框架的镜圈的槽的形状的眼镜框形状测定装置(例如，参照专利文献1)。基于由这些眼镜框形状测定装置得到的镜圈的测定结果(追踪数据)来得到用于将眼镜镜片向镜圈嵌入的形状(目标形状)。然后，基于形状来决定眼镜镜片的轮廓形状，由眼镜镜片加工装置加工镜片的周缘。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特表2001-519025号公报

发明内容

发明所要解决的课题

为了将加工后的镜片良好地装入眼镜框架，认为镜圈的形状与加工后的镜片的轮廓形状越接近则越好。然而，在如上所述的装置的光学的测定中，由于“因测定光束相对于眼镜框架的镜圈的槽的入射角度的变化的影响而在来自镜圈的槽的反射光束中产生歪斜”“根据眼镜框架中的测定位置，无法向镜圈的槽良好地照射测定光束，无法良好地检测反射光束”“根据眼镜框架的种类，由镜圈的槽反射的反射光束的光量弱，无法良好地检测反射光束”等各种原因，有时难以取得良好的测定结果。

本公开鉴于上述以往技术，技术课题在于，提供能够容易地良好地取得眼镜框架中的镜圈的形状信息的眼镜框形状测定装置及镜片加工装置。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题，本公开的特征在于具备以下这样的结构。

方案1.一种眼镜框形状测定装置，测定眼镜框架的形状，具备：

光学式测定单元，具有投光光学系统和受光光学系统，所述投光光学系统从光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束，所述受光光学系统利用第一检测器来接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射出的所述测定光束的反射光束；

测定件单元，具有向所述眼镜框架的所述镜圈的槽抵靠的测定件和检测所述测定件的位置的第二检测器；

保持单元，保持所述光学式测定单元和所述测定件单元；

变更部，通过使所述保持单元相对于所述眼镜框架移动而使所述光学式测定单元和所述测定件单元相对于所述眼镜框架一体地移动，变更相对于所述眼镜框架的所述镜圈的槽的测定位置；及

控制部，控制所述眼镜框形状测定装置的动作，

所述控制部控制所述变更部的动作来进行所述眼镜框架的所述镜圈的槽的测定，

所述控制部基于由所述第一检测器检测到的检测结果来取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状，

所述控制部基于由所述第二检测器检测到的检测结果来取得所述眼镜框架的所述镜圈的形状。

方案2.根据方案1所述的眼镜框形状测定装置，

具备使所述测定件能够相对于所述保持单元移动的移动部，

所述光学式测定单元连结于所述测定件单元，通过所述测定件相对于所述保持单元移动，所述光学式测定单元与所述测定件一起相对于所述保持单元一体地移动。

方案3.根据方案1所述的眼镜框形状测定装置，

将所述测定件单元和所述光学式测定单元配置成由所述光学式测定单元对所述镜圈的槽进行测定的测定位置即第一测定位置与由所述测定件单元对所述镜圈的槽进行测定的测定位置即第二测定位置不同。

方案4.根据方案3所述的眼镜框形状测定装置，

将所述测定件单元和所述光学式测定单元配置成所述第一测定位置与所述第二测定位置相邻。

方案5.根据方案3所述的眼镜框形状测定装置，

所述光学式测定单元的所述第一测定位置是在测定进行方向上比所述测定件单元的所述第二测定位置在先的测定位置。

方案6.根据方案1所述的眼镜框形状测定装置，

所述光学式测定单元中的所述投光光学系统的光轴相对于从所述测定件朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽的测定位置的测定轴在矢径平面上倾斜而配置。

方案7.根据方案1所述的眼镜框形状测定装置，

所述控制部基于与所述光学式测定单元的测定位置相关的第一位置信息和与所述测定件的测定位置相关的第二位置信息，将通过对于所述眼镜框架的所述镜圈的槽而测定测定位置相同的测定位置而取得的所述镜圈的槽的所述截面形状与所述镜圈的形状建立对应。

方案8.一种镜片加工装置，加工镜片的周缘，其中，

具备加工控制部，该加工控制部基于由方案1～7中任一项所述的眼镜框形状测定装置取得的所述眼镜框架的所述镜圈的槽的所述截面形状和所述镜圈的形状来加工镜片的周缘。

附图说明

图1是眼镜框形状测定装置的外观简图。

图2是保持有眼镜框架的状态的框架保持单元的俯视图。

图3示出了从上方观察移动单元时的立体图。

图4示出了移动单元的从下方观察时的立体图。

图5示出了Z移动单元和Y移动单元的俯视立体图。

图6是用于对光学式测定单元、旋转单元、测定件单元进行说明的图。

图7是关于光学式测定单元的光学系统进行示出的概略结构图。

图8示出从上方观察光学式测定单元和测定件单元时的图。

图9是与眼镜框形状测定装置相关的控制框图。

图10是示出光学式测定单元及测定件单元向初始位置移动前的状态的图。

图11是示出光学式测定单元及测定件单元向初始位置移动后移动到测定开始位置的状态的图。

图12是对相对于截面图像的辉度分布的取得进行说明的图。

图13是对从镜圈的槽的截面图像取得的参数进行说明的图。

标号说明

1 眼镜框形状测定装置

3 显示器

4 开关部

10 框架保持单元

20 测定单元

25 保持单元

30 光学式测定单元

30a 投光光学系统

30b 受光光学系统

31 光源

37 检测器

50 控制部

52 存储器

60 测定件单元

61 测定件

62 测定件轴

210 移动单元

220 Z移动单元

230 Y移动单元

240 X移动单元

260 旋转单元

300 镜片加工装置

310 控制部

具体实施方式

以下，基于附图对本实施方式进行说明。图1～图13是对本实施方式的眼镜框形状测定装置(例如，眼镜框形状测定装置1)的结构进行说明的图。需要说明的是，在本实施方式中，将眼镜框形状测定装置的进深方向(配置有眼镜时的眼镜框架的上下方向)设为Y方向，将与进深方向垂直(配置有眼镜时的眼镜框架的左右方向)的平面上的水平方向(左右方向)设为X方向，将铅垂方向(配置有眼镜时的眼镜框架的前后方向)设为Z方向来说明。需要说明的是，利用以下的<>分类出的项目能够独立或相关联地利用。

需要说明的是，在本实施方式中的眼镜框形状测定装置中，以眼镜框架F的镜圈部分成为下方向且眼镜框架F的镜腿部分成为上方向的状态配置。即，在眼镜框形状测定装置配置了眼镜框架F的情况下，眼镜框架F的左右镜圈FL、FR成为下方向，眼镜框架F的左右的镜腿FTL、FTR成为上方向。当然，在本实施方式的眼镜框形状测定装置中，虽然以眼镜框架F的镜圈部分成为下方向且眼镜框架F的镜腿部分成为上方向的状态配置的结构为例来进行说明，但不限定于此。例如，也可以是以眼镜框架F的镜圈部分成为上方向且眼镜框架F的镜腿部分成为下方向的状态配置的结构。另外，例如，还可以是以在眼镜框形状测定装置配置了眼镜框架F的情况下眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的上端成为下方向且眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的下端成为上方向的方式配置的结构。另外，例如，还可以是以在眼镜框形状测定装置配置了眼镜框架F的情况下眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的上端成为上方向且眼镜框架F的左右镜圈FL、FR的下端成为下方向的方式配置的结构。

<概要>

对本公开的实施方式的眼镜框形状测定装置(例如，眼镜框形状测定装置1)的概要进行说明。例如，眼镜框形状测定装置测定眼镜框架的形状。例如，眼镜框形状测定装置具备光学式测定单元(例如，光学式测定单元30)。例如，光学式测定单元以非接触式光学地测定眼镜框架的镜圈的槽的镜圈形状。例如，眼镜框形状测定装置具备测定件单元(例如，测定件单元60)。例如，测定件单元通过使测定件(例如，测定件61)与眼镜框架的槽接触而(以接触式)测定眼镜框架的镜圈的槽的镜圈形状。

例如，光学式测定单元具备投光光学系统(例如，投光光学系统30a)和受光光学系统(例如，受光光学系统30b)。例如，投光光学系统具有光源(例如，光源31)。例如，投光光学系统从光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束。需要说明的是，例如，光源可以使用至少1个以上的光源。例如，可以使用1个光源。另外，例如，也可以使用多个光源。例如，受光光学系统具有第一检测器(例如，检测器37)。例如，受光光学系统利用第一检测器来接收由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈的槽照射且由眼镜框架的镜圈的槽反射出的测定光束的反射光束。需要说明的是，例如，第一检测器可以使用至少1个以上的检测器。例如，可以使用1个检测器。另外，例如，也可以使用多个检测器。

例如，投光光学系统和受光光学系统只要是能够取得截面形状的位置关系即可，能够分别配置于任意的位置。例如，可以是投光光学系统和受光光学系统双方集中配置于测定件单元(例如，测定件等)的单侧。另外，例如，例如，也可以是，投光光学系统和受光光学系统双方夹着测定件单元而分开配置于两侧(例如，将投光光学系统配置于测定件单元的左侧，将受光光学系统配置于测定件单元的右侧)。当然，还可以在与上述不同的位置配置投光光学系统和受光光学系统。例如，还可以将投光光学系统和受光光学系统配置于测定件单元的上侧，还可以配置于下侧。当然，还可以配置于将上述的任一配置位置组合而成的位置(例如，左上侧、右上侧、左下侧、右下侧等)。

例如，测定件单元具备测定件。例如，测定件向眼镜框架的镜圈的槽抵靠。例如，测定件单元具备第二检测器(例如，电动机225、电动机235、电动机245、编码器265a、编码器286、编码器288)。例如，第二检测器检测测定件的位置。例如，第二检测器可以使用至少1个以上的检测器。例如，可以使用1个检测器。另外，例如，也可以使用多个检测器。

例如，眼镜框形状测定装置具备保持光学式测定单元和测定件单元的保持单元(例如，保持单元25)。

例如，眼镜框形状测定装置具备变更部(例如，移动单元210、旋转单元260)。例如，变更部通过使保持单元相对于眼镜框架移动而使光学式测定单元和测定件单元相对于眼镜框架一体地移动，变更相对于眼镜框架的镜圈的槽的测定位置。

例如，眼镜框形状测定装置具备控制部(例如，控制部50)。例如，控制部控制眼镜框形状测定装置的动作。例如，控制部可以利用1个控制单元来控制眼镜框形状测定装置的动作。另外，例如，控制部也可以具有多个控制单元，利用多个控制单元来控制眼镜框形状测定装置的动作。

例如，控制部控制变更部的动作而进行眼镜框架的镜圈的槽的测定。另外，例如，控制部基于由第一检测器检测到的检测结果来取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。另外，例如，控制部基于由第二检测器检测到的检测结果来取得眼镜框架的镜圈的形状。

如上所述，例如，在本实施方式中，眼镜框形状测定装置具备：光学式测定单元，具有投光光学系统和受光光学系统，投光光学系统从光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束，受光光学系统利用第一检测器来接收由投光光学系统朝向眼镜框架的镜圈的槽照射且由眼镜框架的镜圈的槽反射出的测定光束的反射光束；及测定件单元，具有测定件和第二检测器，测定件向眼镜框架的镜圈的槽抵靠，第二检测器检测测定件的位置。另外，例如，在本实施方式中，眼镜框形状测定装置具备：保持单元，保持光学式测定单元和测定件单元；变更部，通过使保持单元相对于眼镜框架移动而使光学式测定单元和测定件单元相对于眼镜框架一体地移动，变更相对于眼镜框架的镜圈的槽的测定位置；及控制部，控制眼镜框形状测定装置的动作。另外，在本实施方式中，在眼镜框形状测定装置中，控制部控制变更部的动作而进行眼镜框架的所述镜圈的槽的测定，基于由第一检测器检测到的检测结果来取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状，基于由第二检测器检测到的检测结果来取得眼镜框架的镜圈的形状。通过这样的结构，例如，与分别设置保持测定件单元的保持单元和保持光学式测定单元的保持单元且使得能够相对于眼镜框架分别移动的结构相比，能够通过1个保持单元的移动而使光学式测定单元和测定件单元相对于眼镜框架一体地移动，因此不需要多余的结构、复杂的控制。由此，能够以容易的结构实施光学式测定单元和测定件单元的测定。另外，由于能够取得由测定件单元测定的测定结果和由光学式测定单元测定的测定结果这双方的测定结果，所以能够将各测定结果组合而取得更良好的镜圈的形状信息。

例如，光学式测定单元和测定件单元在分别进行测定时，可以在同一定时下进行测定。另外，例如，光学式测定单元和测定件单元也可以在不同的定时下进行测定。另外，例如，光学式测定单元和测定件单元还可以将同一定时下的测定和不同的定时下的测定组合而进行测定。

例如，眼镜框形状测定装置可以具备使测定件能够相对于保持单元移动的移动部(例如，旋转单元260)。另外，例如，眼镜框形状测定装置也可以具备使光学式测定单元能够相对于保持单元移动的移动部。需要说明的是，例如，作为使测定件能够相对于保持单元移动的移动部，只要是能够使测定件单元中的至少测定件移动的结构即可。例如，也可以除了测定件之外也使第二检测器能够相对于保持单元移动。

如上所述，例如，可以是，眼镜框形状测定装置具备使测定件能够相对于保持单元移动的移动部，对测定件单元连结光学式测定单元，通过测定件相对于保持单元移动而光学式测定单元与测定件一起相对于保持单元一体地移动。这样，例如，通过对测定件连结光学式测定单元，与测定件单元及光学式测定单元能够相对于保持单元分别移动的结构相比，不需要多余的结构、复杂的控制，能够使眼镜框形状测定装置成为更容易的结构的装置。另外，通过对测定件连结光学式测定单元，与测定件单元和光学式测定单元能够相对于保持单元分别移动的结构相比，能够省空间化，因此能够抑制眼镜框架的测定时的测定件单元和光学式测定单元干涉而难以进行测定。

另外，例如，在光学式测定单元的情况下，由于相对于镜圈的槽以非接触方式进行测定，所以有时难以进行光学式测定单元相对于镜圈的槽的对位。通过上述的结构，例如，由于光学式测定单元能够与以沿着镜圈的槽的状态进行移动的测定件的移动一体地移动，所以光学式测定单元相对于镜圈的槽的对位变得容易，能够良好地进行测定。

例如，作为对测定件单元连结光学式测定单元的结构，可以对测定件部分连结光学式测定单元。另外，例如，作为对测定件单元连结光学式测定单元的结构，也可以与支承测定件的测定件轴(例如，测定件轴62)连结。当然，例如，作为对测定件单元连结光学式测定单元的结构，不限定于上述结构。例如，作为对测定件单元连结光学式测定单元的结构，只要是以伴随于测定件相对于保持单元移动而光学式测定单元能够与测定件一起相对于保持单元一体地移动的方式连结的结构即可。

需要说明的是，例如，使测定件能够相对于保持单元移动的移动部和使光学式测定单元能够相对于保持单元移动的移动部可以设为移动部中的至少一部分结构兼用的结构。另外，例如，使测定件能够相对于保持单元移动的移动部和使光学式测定单元能够相对于保持单元移动的移动部也可以设为另外分别设置的结构。在该情况下，由于测定件和光学式单元能够相对于保持单元分别移动，所以能够进行更细致的控制。

例如，光学式测定单元和测定件单元可以设为能够测定同一测定位置的结构。即，例如，光学式测定单元和测定件单元可以设为能够对同一测定位置在同一定时下实施光学式测定单元的测定和测定件单元的测定。

另外，例如，光学式测定单元和测定件单元也可以设为能够测定不同的测定位置的结构。即，例如，光学式测定单元和测定件单元可以设为能够对不同的测定位置在同一定时下实施光学式测定单元的测定和测定件单元的测定。在该情况下，例如，可以将测定件单元和光学式测定单元配置成能够对第一测定位置和第二测定位置不同的测定位置进行测定，其中，第一测定位置是由光学式测定单元对镜圈的槽进行测定的测定位置，第二测定位置是由测定件单元对镜圈的槽进行测定的测定位置。通过这样的结构，光学式测定单元和测定件单元在同一定时下测定不同的测定位置。例如，在测定件单元及光学式测定单元同时测定同一测定位置的结构的情况下，光学式测定单元的测定光束有时会被测定件遮挡，因此有时难以进行光学式测定单元的测定。根据本公开的结构，由于测定件单元及光学式测定单元能够测定不同的测定位置，所以能够抑制测定件对测定光束的遮挡而良好地进行测定。

需要说明的是，例如，作为能够测定不同的测定位置的结构，可以设为能够测定相邻的位置的结构。在该情况下，例如，可以将测定件单元和光学式测定单元配置成对第一测定位置(例如，第一测定位置T)和第二测定位置(例如，第二测定位置S)相邻的测定位置进行测定，其中，第一测定位置是由光学式测定单元对镜圈的槽进行测定的测定位置，第二测定位置是由测定件单元对镜圈的槽进行测定的测定位置。通过这样的结构，例如，光学式测定单元和测定件单元能够测定更近的(相邻的)测定位置。例如，在光学式测定单元与测定件单元之间的测定位置大幅偏离的情况下，有时难以进行测定。作为一例，例如，在光学式测定单元和测定件单元的一方来到了眼镜框架的弯曲部分(例如，鼻侧部分、耳侧部分等)时，另一方有时位于眼镜框架的上部或下部，无法进行测定，有时难以进行测定。根据本公开的结构，由于光学式测定单元的测定位置和测定件单元的测定位置能够测定更近的(相邻的)测定位置，所以能够抑制测定难以进行(例如，因测定光束在XYZ方向上偏离而不向镜圈槽良好地照射测定光束等)的情况，良好地进行测定。

另外，例如，在光学式测定单元与测定件单元之间的测定位置大幅偏离的情况下，有时难以取得良好的测定。作为一例，例如，存在镜圈的槽的角度因眼镜框架的位置而不同的部位，例如，有时，因光学式测定单元和测定件单元的一方的测定位置处的镜圈的槽的角度和另一方的测定位置处的镜圈的槽的角度不同，光学式测定单元的测定光束无法向镜圈的槽良好地照射，难以取得良好的测定结果。根据本公开的结构，由于光学式测定单元的测定位置和测定件单元的测定位置能够测定更近的(相邻的)测定位置，所以能够将光学式测定单元的测定光束向镜圈的槽良好地照射，能够取得良好的测定结果。

另外，例如，在光学式测定单元与测定件单元之间的测定位置大幅偏离的情况下，有时难以将由光学式测定单元和测定件单元的各自取得的测定结果建立对应。作为一例，根据眼镜框架的类型，存在具有镜圈的槽局部倾斜的结构的眼镜框架，在测定这样的眼镜框架的情况下，有时一方测定镜圈的槽倾斜的位置，另一方测定镜圈的槽未倾斜的位置，有时难以掌握正在测定眼镜框架中的那个镜圈的槽。因而，在由光学式测定单元和测定件单元双方取得了测定结果的情况下，难以掌握双方的测定结果的关系性，有时难以建立对应。根据本公开的结构，由于光学式测定单元的测定位置和测定件单元的测定位置能够测定更近的(相邻的)测定位置，所以能够取得大致同一测定位置处的测定结果，容易掌握双方的测定结果的关系性。因而，能够将由光学式测定单元和测定件单元取得的各自的测定结果良好地建立对应。

当然，例如，作为能够测定不同的测定位置的结构，不限定于相邻的位置。例如，作为能够测定不同的测定位置的结构，也可以设为能够测定远离的位置的结构。

例如，光学式测定单元和测定件单元在能够测定不同的测定位置的结构的情况下，可以设为在测定进行方向上光学式测定单元的测定比测定件单元的测定先实施的结构。在该情况下，例如可以设为，光学式测定单元的第一测定位置是在测定进行方向上比测定件单元的第二测定位置在先的测定位置。通过这样的结构，例如，预先从光学式测定单元的测定结果取得由测定件测定的测定位置的信息，因此在对完成了光学式测定单元的测定的测定位置进行测定件单元的测定的情况下，容易基于光学式测定单元的测定结果来调整测定件相对于眼镜框架的位置。由此，能够抑制测定件从眼镜框架的槽脱落、在测定件未向镜圈的槽准确地插入的状态下进行测定等。

需要说明的是，例如，由于在光学式测定单元的测定中能够取得镜圈的槽的截面形状，所以镜圈的槽的状态(例如，槽的倾斜、槽的深度等)容易掌握。因而，与基于测定件单元的测定结果来调整光学式测定单元的位置的结构相比，容易更良好地进行相对于眼镜框架的位置调整。

另外，例如，在光学式测定单元和测定件单元能够测定不同的测定位置的结构的情况下，也可以设为在测定进行方向上测定件单元的测定比光学式测定单元的测定先实施的结构。在该情况下，例如可以设为，测定件单元的第二测定位置是在测定进行方向上比光学式测定单元的第一测定位置在先的测定位置。

需要说明的是，例如可以设为，光学式测定单元中的投光光学系统的光轴(例如，光轴L1)相对于从测定件朝向眼镜框架的镜圈的槽的测定位置的测定轴(例如，测定轴L3)在矢径平面(XY平面)上倾斜而配置。即，例如可以设为，光学式测定单元中的投光光学系统的光轴相对于从测定件朝向眼镜框架的镜圈的槽的测定位置的测定轴在矢径平面上以规定的倾斜角度(例如，倾斜角度β)倾斜而配置。在该情况下，例如，投光光学系统可以以使投光光学系统中的测定光束朝向眼镜框架的镜圈的槽照射的光轴和从测定件朝向眼镜框架的镜圈的槽的测定位置的测定轴在矢径平面上所成的角成为锐角的方式配置。通过这样的结构，例如，容易将测定件单元的测定位置和光学式测定单元的测定位置设定为相邻的位置或同一位置。另外，例如，与以使测定件单元的测定轴和光学式测定单元中的投光光学系统的光轴平行的方式配置的结构相比，容易将测定件单元的测定位置和光学式测定单元的测定位置设定为相邻的位置。

例如，控制部可以基于与光学式测定单元的测定位置相关的第一位置信息和与测定件的测定位置相关的第二位置信息，将通过测定位置对眼镜框架的镜圈的槽测定同一测定位置而取得的镜圈的槽的截面形状和镜圈的形状建立对应。即，可以将光学式测定单元的测定结果和测定件单元的测定结果基于第一位置信息和第二位置信息而建立对应。通过这样的结构，例如，能够容易地将由测定件单元测定的测定结果和由光学式测定单元测定的测定结果建立对应，能够取得更良好的镜圈的形状信息。

例如，作为第一位置信息和第二位置信息，可以是测定位置间的偏离信息(例如，偏离量ΔD)。在该情况下，例如，作为第一位置信息和第二位置信息，可以预先取得光学式测定单元的测定位置与测定件的测定位置之间的测定位置的偏离信息(第一位置信息与第二位置信息的偏离量)。另外，例如，作为第一位置信息和第二位置信息，也可以基于在测定时检测到的第一位置信息和第二位置信息而取得测定位置间的偏离信息。

另外，例如，作为第一位置信息和第二位置信息，可以是测定位置的位置坐标。在该情况下，例如，作为第一位置信息和第二位置信息，可以取得表示在测定时检测到的光学式测定单元的测定位置的第一位置坐标和表示测定件单元的测定位置的第二位置坐标。

例如，控制部可以通过将由光学式测定单元取得的镜圈的槽的截面形状与由测定件单元测定出的镜圈的形状建立对应而取得统合镜圈形状数据。例如，通过取得统合镜圈形状数据，能够取得与镜圈相关的更详细的信息，因此能够进行基于镜圈的详细的信息的镜片的加工，能够将镜片加工成能够将镜片相对于眼镜框架更良好地嵌入的形状。

需要说明的是，在本公开中，以眼镜框形状测定装置具备保持光学式测定单元和测定件单元的保持单元的结构为例，但不限定于此。例如，也可以是分别设置保持测定件单元的保持单元和保持光学式测定单元的保持单元且使得能够相对于眼镜框架分别移动的结构。在该情况下，例如，眼镜框形状测定装置可以具备保持测定件单元的第一保持单元和保持光学式测定单元的第二保持单元，具备通过使第一保持单元和第二保持单元相对于眼镜框架分别移动而分别变更光学式测定单元和测定件单元相对于眼镜框架的镜圈的槽的测定位置的变更部。而且，也可以具备使测定件能够相对于第一保持单元移动的第一移动部和使光学式测定单元能够相对于第二保持单元移动的第二移动部。

以下，对各结构更详细地进行说明。

<投光光学系统>

例如，光学式测定单元中的投光光学系统可以具有光学构件。在该情况下，例如，可以是，从光源出射后的测定光束经由各光学构件而朝向眼镜框架的镜圈的槽照射。例如，作为光学构件，可以使用透镜、反射镜、光圈等中的至少任一者。例如，通过使用光圈，能够加深焦点深度。当然，作为光学构件，不限定于上述光学构件，也可以使用不同的光学构件。

需要说明的是，例如，投光光学系统只要是从光源出射后的测定光束朝向眼镜框架的镜圈的槽照射的结构即可。例如，可以是至少具有光源的结构。另外，例如，作为投光光学系统，也可以是经由与光学构件不同的构件而从光源出射后的测定光束朝向眼镜框架的镜圈的槽照射的结构。

例如，通过投光光学系统，朝向眼镜框架的镜圈的槽照射的测定光束可以照射点状的测定光束。另外，例如，通过投光光学系统，朝向眼镜框架的镜圈的槽照射的测定光束也可以是具有宽度的测定光束(例如，缝隙状的测定光束)。在该情况下，例如，投光光学系统可以将来自光源的测定光束朝向眼镜框架的镜圈的槽照射，在镜圈的槽上形成光切断面。例如，受光光学系统可以利用检测器来接收通过光切断面的镜圈的槽处的反射(例如，散射、正反射等)而取得的镜圈的槽的反射光束(例如，散射光、正反射光等)。

例如，在照射具有宽度的测定光束的情况下，可以使用出射缝隙状的光束的光源。例如，可以使用点光源。在该情况下，例如，可以通过将点光源并列配置多个而照射具有宽度的测定光束。另外，例如，也可以通过扫描从点光源照射出的点状的光束而照射具有宽度的测定光束。另外，例如，也可以通过利用光学构件使从点光源照射出的点状的测定光束扩散而照射具有宽度的测定光束。当然，例如，作为光源，也可以使用与上述光源不同的各种种类的光源来照射具有宽度的测定光束。

<受光光学系统>

例如，光学式测定单元中的受光光学系统可以具有光学构件。在该情况下，例如，可以是，由眼镜框架的镜圈的槽反射出的测定光束的反射光束经由各光学构件而由第一检测器接收。例如，作为光学构件，可以使用透镜、反射镜、光圈等中的至少任一者。当然，作为光学构件，不限定于上述光学构件，也可以使用不同的光学构件。

需要说明的是，例如，受光光学系统只要是由眼镜框架的镜圈的槽反射出的测定光束的反射光束由检测器接收的结构即可。例如，受光光学系统可以是至少具有第一检测器的结构。另外，例如，作为受光光学系统，也可以是经由与光学构件不同的构件而由眼镜框架的镜圈的槽反射出的测定光束的反射光束由第一检测器接收的结构。

需要说明的是，例如，在本实施方式中，受光光学系统的拍摄光轴(例如，拍摄光轴L2)可以是相对于投光光学系统的光轴在Z方向上以规定的倾斜角度(例如，倾斜角度α)向下方倾斜的结构。另外，例如，在本实施方式中，受光光学系统的拍摄光轴也可以是相对于投光光学系统的光轴在矢径平面(XY平面)上以规定的倾斜角度(例如，倾斜角度θ)倾斜的结构。

<测定件单元>

例如，测定件单元具有与眼镜框架的镜圈的槽抵靠的测定件和检测测定件的位置的第二检测器。需要说明的是，例如，第二检测器只要是能够检测测定件单元的位置的结构即可。即，例如，第二检测器只要是能够检测测定件进行了移动的情况下的测定件的位置的结构即可。在该情况下，例如，只要是能够检测在X方向、Y方向、Z方向、旋转方向(旋转)及倾斜方向(倾斜)中的至少任一方向上进行了移动的情况下的测定件的位置的结构即可。

<变更部>

例如，变更部通过使保持单元相对于眼镜框架移动而使光学式测定单元和测定件单元相对于眼镜框架一体地移动，变更相对于眼镜框架的镜圈的槽的测定位置。例如，作为变更部，可以是具有驱动源(例如，电动机)且使保持单元的位置在X方向上移动的X方向变更部。例如，作为使保持单元的位置移动的结构，可以是具有驱动源(例如，电动机)且使保持单元的位置在Y方向上移动的Y方向变更部。

例如，作为使保持单元的位置移动的结构，也可以是具有驱动源(例如，电动机)且使保持单元的位置在Z方向上移动的Z方向变更部。例如，作为使保持单元的位置移动的结构，也可以是具有驱动源(例如，电动机)且使保持单元的位置旋转的旋转变更部(例如，旋转单元260)。例如，作为使保持单元的位置移动的结构，也可以是具有驱动源(例如，电动机)且使保持单元的倾斜角度变更的倾斜角度变更部。

另外，例如，作为使保持单元的位置移动的结构，可以是X方向变更部、Y方向变更部、Z方向变更部、旋转变更部及倾斜角度变更部中的至少任一者。当然，作为使保持单元的位置移动的结构，不限定于上述变更部，也可以是使用使保持单元的位置在与上述方向不同的方向上移动的变更部的结构。

<控制部>

例如，控制部对由眼镜框架的镜圈的槽反射出的测定光束的反射光束进行处理，取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。例如，控制部可以从第一检测器中的反射光束的受光位置取得截面形状。例如，截面形状可以是图像(图像数据)。即，截面形状可以是截面图像。另外，例如，截面形状也可以是信号(信号数据)。即，截面形状也可以是截面形状的信号数据。

例如，作为截面形状，可举出二维截面形状、三维截面形状等。例如，二维截面形状是通过向1个矢径角下的镜圈的槽照射测定光束且接收其反射光束而取得的截面形状。例如，在本实施方式中，二维截面形状是将镜圈的槽在与眼镜框架的矢径方向(在本实施方式中是XY方向)垂直的方向(在本实施方式中是Z方向)上切断而得到的面的形状。需要说明的是，例如，二维截面形状可以通过使测定光束沿着横穿位置(在本实施方式中是Z方向)扫描而取得。另外，例如，三维截面形状是通过针对各矢径角取得二维截面形状而取得的截面形状。例如，三维截面形状可以通过使用于取得二维截面形状的测定光束在眼镜框架的矢径平面方向(在本实施方式中是XY平面方向)上扫描而取得。

需要说明的是，例如，在取得了截面形状时截面形状的一部分缺损的情况下，可以根据缺损的位置的周边的位置(例如，相邻的位置)处的反射光束的受光结果来对缺损部分进行插补。另外，例如，在取得了截面形状时截面形状的一部分缺损的情况下，也可以通过对截面形状进行近似来对缺损部分进行插补。另外，例如，在取得了截面形状时截面形状的一部分缺损的情况下，也可以以取得缺损部分的方式进行截面形状的再取得。

例如，关于二维截面形状，可以取得眼镜框架的镜圈的整周(在各矢径角下形成有镜圈的全部部分)中的至少1个部位(1个矢径角的位置)处的镜圈的槽的二维截面形状。在该情况下，例如，二维截面形状可以在眼镜框架的镜圈的整周取得。另外，在该情况下，例如，二维截面形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周在多个位置(例如，眼镜框架的左端、右端、上端、下端等)处取得。另外，在该情况下，例如，二维截面形状还可以在眼镜框架的镜圈的整周在1个矢径角的位置处取得。

例如，在取得三维截面形状的情况下，可以取得眼镜框架的镜圈的整周(在各矢径角下形成有镜圈的全部部分)中的至少一部分区域中的镜圈的槽的三维截面形状。在该情况下，例如，三维截面形状可以在眼镜框架的镜圈的整周取得。另外，在该情况下，例如，三维截面形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周在多个区域(例如，眼镜框架的左端区域、右端区域、上端区域、下端区域等)中取得。另外，在该情况下，例如，三维截面形状还可以在眼镜框架的镜圈的整周在一部分区域中取得。需要说明的是，在未相对于眼镜框架的镜圈的整周取得三维截面形状的情况且想要取得眼镜框架的镜圈的整周的三维截面形状的情况下，可以通过基于取得了二维截面形状的部分的二维截面形状(三维截面形状)进行插补来取得眼镜框架的镜圈的整周的三维截面形状。

例如，控制部可以基于取得的镜圈的截面形状来取得眼镜框架的镜圈的形状(形状数据)。在该情况下，例如，控制部可以根据眼镜框架的多个矢径角下的镜圈的槽的截面形状来分别检测眼镜框架的多个矢径角下的镜圈的槽的底，基于检测到的检测结果来取得眼镜框架的镜圈的形状(例如，目标镜片形状、周长等)。

例如，控制部基于由第二检测器检测到的检测结果来取得眼镜框架的镜圈的形状(镜圈的形状数据)。例如，作为镜圈的形状，可以是镜圈的目标镜片形状(目标镜片形状数据)。另外，例如，作为镜圈的形状，也可以是基于镜圈的目标镜片形状而算出的镜圈的周长(周长数据)。例如，由测定件测定的镜圈的形状(镜圈的目标镜片形状)可以是镜圈的三维目标镜片形状(三维目标镜片形状数据)，也可以是镜圈的二维目标镜片形状(二维目标镜片形状数据)。另外，例如，由测定件测定的镜圈的目标镜片形状只要是基于镜圈的内形形状的形状即可。

例如，在本实施方式中，镜圈的三维目标镜片形状通过使测定件在镜圈的槽中在眼镜框架的周向上移动而进行测定来取得。例如，通过依次测定眼镜框架的各矢径角下的镜圈的槽的三维位置(XYZ的位置)来取得镜圈的三维目标镜片形状。需要说明的是，例如，控制部可以基于镜圈的三维目标镜片形状而算出镜圈的周长(镜圈的周向的距离)作为镜圈的形状。

例如，在本实施方式中，镜圈的二维目标镜片形状通过使测定件在镜圈的槽中在眼镜框架的周向上移动而进行测定来取得。例如，通过依次测定眼镜框架的各矢径角下的镜圈的槽的二维位置(XY的位置)来取得镜圈的二维目标镜片形状。需要说明的是，例如，控制部可以基于镜圈的二维目标镜片形状而算出镜圈的周长作为镜圈的形状。

需要说明的是，例如，控制部也可以基于镜圈的三维目标镜片形状来取得二维目标镜片形状。在该情况下，例如，可以通过将镜圈的三维目标镜片形状向二维平面(XY平面)投影而取得镜圈的二维目标镜片形状。

需要说明的是，例如，在取得了目标镜片形状(例如，二维目标镜片形状、三维目标镜片形状)时目标镜片形状的一部分缺损的情况下，可以根据缺损的位置的周边的位置(例如，相邻的位置)处的测定结果来对缺损部分进行插补。另外，例如，在取得了目标镜片形状时目标镜片形状的一部分缺损的情况下，也可以以取得缺损部分的方式进行目标镜片形状的再取得。

例如，关于镜圈的三维目标镜片形状，可以取得眼镜框架的镜圈的整周(在各矢径角下形成有镜圈的全部部分)中的至少1个部位(1个矢径角的位置)处的镜圈的三维目标镜片形状。在该情况下，例如，镜圈的三维目标镜片形状可以在眼镜框架的镜圈的整周取得。另外，在该情况下，例如，镜圈的三维目标镜片形状也可以在眼镜框架的镜圈的整周在多个位置(例如，眼镜框架的左端、右端、上端、下端等)处取得。另外，在该情况下，例如，镜圈的三维目标镜片形状还可以在眼镜框架的镜圈的整周在1个矢径角的位置处取得。需要说明的是，关于取得镜圈的二维目标镜片形状的情况，也与上述的镜圈的三维目标镜片形状的取得同样，可以取得至少1个部位(1个矢径角的位置)处的镜圈的三维目标镜片形状。

例如，控制部可以通过将由光学式测定单元取得的镜圈的槽的截面形状与由测定件单元测定出的镜圈的形状建立对应来取得统合镜圈形状数据。例如，作为统合镜圈形状数据，只要是通过对由光学式测定单元取得的镜圈的槽的截面形状和由测定件单元测定出的镜圈的形状进行统合(组合)处理而新取得的数据即可。作为一例，例如，作为统合镜圈形状数据，可以是镜圈的截面形状和镜圈的周长组合而成的数据。

例如，关于镜圈的周长，相对于由光学式测定单元测定的镜圈的周长，由测定件以接触式测定出的镜圈周长能够取得精度更高的结果。另外，例如，关于目标镜片形状也能说与镜圈周长同样的话。另一方面，在测定件单元的测定中，难以测定镜圈的截面形状，但能够利用光学式测定单元容易地取得截面形状。因而，通过将由测定件单元取得的镜圈的形状和由光学式测定单元测定出的镜圈的槽的截面形状组合，能够得到更良好的数据。也就是说，由于在光学式测定单元和测定件单元中能够分别取得对不足的部分进行补充的数据，所以能够实现更良好的加工。

需要说明的是，在本实施方式中，可以在受光光学系统的拍摄光轴相对于投光光学系统的光轴在Z方向上以倾斜角度α向下方倾斜的情况下，修正镜圈的槽的截面形状。另外，在本实施方式中，也可以在受光光学系统的拍摄光轴相对于投光光学系统的光轴在XY平面上以倾斜角度θ倾斜而配置的情况下，修正镜圈的槽的截面形状。另外，例如，在本实施方式中，还可以在光学式测定单元中的投光光学系统的光轴相对于从测定件朝向眼镜框架的镜圈的槽的测定位置的测定轴在矢径平面上(XY平面上)以倾斜角度β倾斜而配置的情况下，修正镜圈的槽的截面形状。也就是说，在具有如上所述的任一倾斜结构的情况下，例如，控制部可以基于倾斜角度α、倾斜角度θ及倾斜角度θ中的至少任一个倾斜角度来修正镜圈的槽的截面形状。作为一例，控制部可以通过利用了倾斜角度α、倾斜角度θ及倾斜角度θ中的至少任一个倾斜角度的三角函数来修正眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。当然，控制部也可以通过基于倾斜角度α、倾斜角度θ及倾斜角度θ中的至少任一个倾斜角度的与三角函数不同的运算来修正眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。通过这样基于倾斜角度修正镜圈的槽的截面形状，能够取得修正了因倾斜角度的影响而产生的截面形状的歪斜的截面形状，能够高精度地取得镜圈的槽的截面形状。

<移动部>

例如，移动部能够使测定件能够相对于保持单元在任意的方向上移动。例如，移动部可以使测定件能够相对于保持单元在X方向、Y方向、Z方向、旋转方向(旋转)及倾斜方向(倾斜)中的至少任一方向上移动。需要说明的是，例如，测定件能够相对于保持单元在旋转方向上移动的结构表示测定件能够以规定的旋转轴(例如，旋转轴LO)为旋转中心进行旋转的结构。另外，例如，测定件能够相对于保持单元在倾斜方向上移动的结构表示测定件能够相对于保持单元倾斜的结构。

另外，例如，移动部能够使光学式测定单元能够相对于保持单元在任意的方向上移动。例如，移动部可以使光学式测定单元能够相对于保持单元在X方向、Y方向、Z方向、旋转方向(旋转)及倾斜方向(倾斜)中的至少任一方向上移动。需要说明的是，例如，光学式测定单元能够相对于保持单元在旋转方向上移动的结构表示光学式测定单元能够以规定的旋转轴(例如，旋转轴LO)为旋转中心进行旋转的结构。另外，例如，使光学式测定单元能够相对于保持单元在倾斜方向上移动的结构表示光学式测定单元能够相对于保持单元倾斜的结构。

例如，使测定件能够相对于保持单元移动的移动部和使光学式测定单元能够相对于保持单元移动的移动部可以设为兼用的结构。在该情况下，例如，可以是以下结构：对测定件连结光学式测定单元，通过测定件相对于保持单元移动而光学式测定单元与测定件一起相对于保持单元一体地移动。即，可以是以下结构：通过移动部，测定件能够相对于保持单元移动，由此，光学式测定单元能够与测定件一起相对于保持单元一体地移动。

<镜片加工>

例如，可以将由眼镜框形状测定装置取得的眼镜框架的镜圈的槽的截面形状和镜圈的形状在镜片的加工中使用。当然，也可以使用基于截面形状和镜圈的形状而取得的统合镜圈形状数据。例如，加工镜片的周缘的镜片加工装置(例如，镜片加工装置300)取得由眼镜框形状测定装置中的光学式测定单元取得的眼镜框架的镜圈的槽的截面形状和由眼镜框形状测定装置中的测定件单元取得的镜圈的形状。

例如，眼镜框形状测定装置可以具有发送部，利用发送部将眼镜框架的镜圈的槽的截面形状和镜圈的形状朝向镜片加工装置发送。在该情况下，例如，镜片加工装置可以具有接收部，接收从眼镜框形状测定装置发送出的眼镜框架的镜圈的槽的截面形状和镜圈的形状。

需要说明的是，例如，可以是在镜片加工装置设置有眼镜框形状测定装置的结构。另外，例如，也可以是，镜片加工装置和眼镜框形状测定装置另外分别是不同装置。在该情况下，可以是，通过有线和无线中的至少任一个，眼镜框架的镜圈的槽的截面形状和镜圈的形状从眼镜框形状测定装置向镜片加工装置发送。

例如，镜片加工装置可以具备加工控制部(例如，控制部310)。例如，加工控制部可以基于由眼镜框形状测定装置取得的眼镜框架的镜圈的槽的截面形状和镜圈的形状来加工镜片的周缘。例如，加工控制部可以控制保持镜片的镜片保持部及加工件，基于眼镜框架的镜圈的槽的截面形状和镜圈的形状来加工镜片的周缘。

例如，在本实施方式中，镜片加工装置具备基于眼镜框架的镜圈的槽的截面形状和镜圈的形状来加工镜片的周缘的加工控制部。由此，在将加工后的镜片良好地装入眼镜框架时，镜圈的槽的形状和加工后的镜片的轮廓形状成为接近的形状，因此能够良好地进行装框。

<实施例>

参照附图对本公开的典型的实施例之一进行说明。图1是眼镜框形状测定装置的外观简图。例如，图2是保持有眼镜框架的状态的框架保持单元的俯视图。例如，在本实施例中，眼镜框形状测定装置1具备框架保持单元10和测定单元20。例如，框架保持单元10将眼镜框架F保持为期望的状态。例如，测定单元20用于通过朝向保持于框架保持单元10的眼镜框架F的镜圈(例如，左侧镜圈FL、右侧镜圈FRs)的槽照射测定光束并接收其反射光束而取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状。另外，例如，测定单元20通过对保持于框架保持单元10的眼镜框架F的镜圈(例如，左侧镜圈FL、右侧镜圈FRs)的槽插入测定件并检测测定件的移动来测定镜圈的形状。例如，测定单元20配置于框架保持单元10的下方。

例如，在眼镜框形状测定装置1的壳体的前侧配置有具有测定开始用的开关等的开关部4。例如，在眼镜框形状测定装置1的壳体的后侧配置有触摸面板式的显示器3。例如，在镜片的周缘加工时，利用面板部3输入相对于目标镜片形状数据的镜片的布局数据、镜片的加工条件等。例如，由眼镜框形状测定装置1得到的取得结果(镜圈的槽的截面形状、眼镜框架形状等)及在显示器3中输入的数据向镜片加工装置发送。需要说明的是，眼镜框形状测定装置1可以与日本特开2000-314617号公报等同样，设为向镜片加工装置并入的结构。

<框架保持单元>

例如，在框架保持单元10的下侧设置有测定单元20。例如，在保持部基体101上载置有用于将眼镜框架F保持为水平的前滑块102和后滑块103。需要说明的是，例如，水平也可以是大致水平。例如，前滑块102和后滑块103以能够以其中心线CL为中心在2个轨道111上对向而滑动的方式配置，由弹簧113始终向朝向两者的中心线CL的方向拉拽。

例如，在前滑块102上，用于将眼镜框架F的镜圈从其厚度方向夹紧的夹紧销130a、130b分别配置于2处。例如，在后滑块103上，用于将眼镜框架F的镜圈从其厚度方向夹紧的夹紧销131a、131b分别配置于2处。另外，例如，在测定模板时，前滑块102及后滑块103被开放，周知的模板保持夹具配置于规定的安装位置140而使用。该框架保持单元10的结构例如能够使用日本特开2000-314617号公报等所记载的周知的结构。

例如，在眼镜框架F中，眼镜佩戴时的镜圈的下侧位于前滑块102侧，镜圈的上侧位于后滑块103侧。例如，眼镜框架F由位于左右的镜圈各自的下侧及上侧的夹紧销保持为规定的测定状态。

需要说明的是，在本实施例中，作为限制镜圈的前后方向的位置的结构，以上述夹紧销130a、130b及夹紧销131a、131b的结构为例进行了说明，但不限定于此。也可以使用周知的机构。例如，作为将左右镜圈的前后方向固定的机构，也可以是将具有V字状的槽的抵接构件(限制构件)分别设置为左右镜圈用的结构。

<测定单元>

以下，对测定单元20的结构进行说明。例如，测定单元20具备光学式测定单元30。例如，光学式测定单元30由投光光学系统30a和受光光学系统30b构成。例如，投光光学系统30a及受光光学系统30b用于取得眼镜框架的形状及眼镜框架的镜圈的槽的截面形状(详情后述)。另外，例如，测定单元20具备测定件单元60。例如，测定件单元具备测定件61。例如，测定件单元60用于取得眼镜框架的镜圈的形状(例如，镜圈的目标镜片形状)(详情后述)。在本实施例中，对测定件单元60中的测定件61连接有光学式测定单元30。

例如，测定单元20具备保持光学式测定单元30(投光光学系统30a和受光光学系统30b)和测定件单元60的保持单元25。例如，测定单元20具备使保持单元25在XYZ方向上移动的移动单元210(例如，参照图3～图5)。另外，例如，测定单元20具备以旋转轴L0为中心使保持单元25旋转的旋转单元260(例如，参照图6)。需要说明的是，例如，在本实施例中，XY方向与由框架保持单元10保持的眼镜框架F的测定平面(镜圈的矢径方向)平行，Z方向是与测定平面垂直的方向。

<移动单元>

以下，对移动单元210进行说明。例如，图3～图5是说明移动单元210的结构的图。例如，图3示出了从上方观察移动单元210时的立体图。例如，图4示出了移动单元210的从下方观察时的立体图。例如，图5示出了Z移动单元220和Y移动单元230的俯视立体图(拆卸了X移动单元240和基体部211的状态的立体图)。

例如，移动单元210大致区分而具备Z移动单元(Z方向变更部)220、Y移动单元(Y方向变更部)230及X移动单元(X方向变更部)240。例如，Z移动单元(Z方向变更部)220使保持单元25在Z方向上移动。例如，Y移动单元230保持保持单元25及Z移动单元220，使其向Y方向移动。例如，X移动单元240使保持单元25与Z移动单元220及Y移动单元230一起在X方向上移动。

例如，X移动单元240概略地如以下这样构成。例如，X移动单元240在具有在水平方向(XY方向)上伸展的方形状的框的基体部211的下方具备在X方向上延伸的导轨241。例如，Y移动单元230的Y基体230a以能够沿着导轨241在X方向上移动的方式安装。例如，在基体部211安装有电动机(驱动源)245。例如，在电动机245的旋转轴安装有在X方向上延伸的滚珠丝杠242。例如，固定于Y基体230a的螺母部246与滚珠丝杠242螺合。由此，若电动机245旋转，则Y基体230a在X方向上移动。需要说明的是，例如，X移动单元240的X方向的移动范围可以为了能够测定眼镜框架的左右的镜片框而具有能够使搭载保持单元25的Y基体230a移动眼镜框架的左右宽度以上的长度。

例如，Y移动单元230概略地如以下这样构成。例如，在Y基体230a安装有在Y方向上延伸的导轨231。例如，Z基体220a以能够沿着导轨231在Y方向上移动的方式安装。例如，在Y基体230a以能够旋转的方式安装有Y移动用的电动机(驱动源)235和在Y方向上延伸的滚珠丝杠232。例如，电动机235的旋转经由齿轮等旋转传递机构而向滚珠丝杠232传递。例如，在滚珠丝杠232上螺合有安装于Z基体220a的螺母227。通过这些结构，若电动机235旋转，则Z基体220a在Y方向上移动。

例如，由X移动单元240及Y移动单元230构成XY移动单元。例如，使保持单元25在XY方向上移动的范围被设为比能够测定的镜圈的矢径大。另外，例如，保持单元25的XY方向的移动位置通过由后述的控制部50驱动电动机245及电动机235的脉冲数来检知，检知保持单元25的XY方向的位置的第一XY位置检知单元由电动机245、235及控制部50构成。例如，作为保持单元25的XY位置检知单元，除了利用电动机245及电动机235的脉冲控制来检知之外，也可以是使用在电动机245及235各自的旋转轴安装的编码器等传感器的结构。

例如，Z移动单元220概略地如以下这样构成。例如，在Z基体220a形成有在Z方向上延伸的导轨221，安装有保持单元25的移动基体250a以能够沿着该导轨221在Z方向上移动的方式被保持。例如，在Z基体220a安装有Z移动用的脉冲电动机225，并且以能够旋转的方式安装有在Z方向上延伸的滚珠丝杠(省略图示)。例如，与安装于保持单元25的基体250a的螺母螺合。例如，电动机225的旋转经由齿轮等旋转传递机构而向滚珠丝杠传递，通过滚珠丝杠的旋转而保持单元25在Z方向上移动。保持单元25的Z方向的移动位置通过由后述的控制部50驱动电动机225的脉冲数来检知，检知保持单元25的Z方向的位置的Z位置检知单元由电动机225及控制部50构成。例如，作为保持单元25的Z位置检知单元，除了利用电动机225的脉冲控制来检知之外，也可以是使用在电动机225的旋转轴安装的编码器等传感器的结构。

需要说明的是，以上这样的X方向、Y方向及Z方向的各移动机构不限于实施例，能够采用周知的机构。例如，也可以取代使保持单元25直线移动而设为使其相对于旋转基体的中心以圆弧轨道移动的结构(例如，参照日本特开2006-350264号公报等)。

<光学式测定单元、测定件单元、旋转单元>

接着，对光学式测定单元30、旋转单元260、测定件单元60进行说明。例如，图6是对光学式测定单元30、旋转单元260、测定件单元60进行说明的图。

例如，测定件单元60具备测定件61、测定件轴62。例如，测定件61安装于测定件轴62。例如，保持单元25具有使测定件轴62绕着在Z方向上延伸的旋转轴LO的轴旋转的旋转单元260。例如，旋转单元260具有安装有测定件轴62的旋转基体261和使旋转基体261以旋转轴LO为中心进行旋转的电动机(驱动源)265。

例如，旋转基体261将测定件轴62以能够向测定件61的顶端方向移动(能够倾斜)的方式保持。即，测定件轴62被保持为相对于保持单元25能够向测定件61的顶端方向移动(能够倾斜)。另外，例如，旋转基体261将测定件轴62保持为能够在Z方向上移动。即，测定件轴62被保持为相对于保持单元25能够在Z方向上移动。例如，测定件61的顶端方向的位置及测定件轴62的中心位置由作为检知器的编码器286检知。测定件61的Z方向的位置及测定件轴62的Z方向的位置由作为检测器的编码器288检知。需要说明的是，保持单元25具备用于施加将测定件61的顶端向镜圈(右镜圈RIR和左镜圈RIL)的槽抵靠的测定压的未图示的测定压施加机构。需要说明的是，例如，关于测定件单元60的结构，能够使用日本特开2013-68488号公报等所记载的周知的结构。

例如，在测定件单元60中的测定件轴62上连结有光学式测定单元30。例如，通过测定件轴62移动，配合测定件轴62的动作而连结于测定件轴62的光学式测定单元30一体地移动。例如，光学式测定单元30能够配合测定件轴62的移动而向测定件61的顶端方向移动(能够倾斜)，并且能够在Z方向上移动。即，光学式测定单元30被保持为能够相对于保持单元25向测定件61的顶端方向移动(能够倾斜)，并且被保持为能够在Z方向上移动。在该情况下，例如，光学式测定单元30的位置与测定件61及测定件轴62的位置的检测同样地由作为检测器的编码器286、编码器288检知。另外，通过测定件轴62绕着旋转轴LO的轴旋转，光学式测定单元30绕着旋转轴LO的轴旋转。

例如，光学式测定单元30具有罩38。例如，在罩38的内部收纳有投光光学系统30a及受光光学系统30b。例如，在罩38设置有开口部39。例如，开口部39使来自投光光学系统30a的测定光束通过，并且使由眼镜框架F反射出的反射光束通过。例如，在开口部39也可以设置有覆盖开口部39的透明面板。例如，开口部39将从投光光学系统30a照射的测定光束从罩38的内部朝向外部出射。即，来自投光光学系统30a的测定光束通过开口部39而朝向眼镜框架F的镜圈的槽照射。例如，开口部39使由眼镜框架F的镜圈的槽反射出的反射光束从罩38的外部朝向罩38的内部的受光光学系统30b通过。即，由眼镜框架F的镜圈的槽反射出的反射光束通过开口部39而由受光光学系统30b接收。例如，旋转单元260通过使测定件轴62以在Z方向上延伸的旋转轴LO为中心进行旋转来变更开口部39朝向的XY方向。

例如，在旋转基体261的下部的外周形成有大径齿轮262。例如，旋转单元260具有安装板252。例如，在安装板252安装有电动机265。例如，在电动机265的旋转轴固定有小齿轮266，小齿轮266的旋转经由以能够旋转的方式设置于安装板252的齿轮263而向大径齿轮262传递。因此，通过电动机265的旋转，旋转基体261绕着旋转轴LO的轴旋转。例如，电动机265的旋转由一体地安装于电动机265的编码器(传感器)265a检测，根据编码器265a的输出来检知旋转基体261(即，测定件轴62、光学式测定单元30)的旋转角。旋转基体261的旋转的原点位置由省略图示的原点位置传感器检知。需要说明的是，以上这样的旋转单元260的各移动机构不限于实施例，能够采用周知的机构。

接着，对光学式测定单元30的详情进行说明。例如，图7是关于光学式测定单元30的光学系统示出的概略结构图。需要说明的是，例如，图7示出了从侧方(图6中的C方向)观察光学式测定单元30时的图。例如，光学式测定单元30用于取得眼镜框架F。例如，在本实施例中，光学式测定单元30用于取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状。另外，例如，在本实施例中，光学式测定单元30用于取得眼镜框架F的形状。例如，光学式测定单元30具备投光光学系统30a和受光光学系统30b。例如，投光光学系统30a和受光光学系统30b配置于罩38的内部。

例如，在本实施例中，光学式测定单元30成为了基于沙伊姆弗勒(Scheimpflug)的原理来取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状的结构。例如，投光光学系统30a向眼镜框架的镜圈的槽照射缝隙光。例如，受光光学系统30b具有相对于照射缝隙光的光轴L1倾斜的拍摄光轴L2，具备基于沙伊姆弗勒的原理而配置的透镜和检测器。当然，光学式测定单元30也可以不是使用基于沙伊姆弗勒的原理的光学系统而是使用不同的结构的光学系统。光学式测定单元30只要是取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状的光学系统即可。

例如，投光光学系统30a具备光源31、透镜32、缝隙板33及透镜34。例如，从光源31出射后的测定光束由透镜32会聚而对缝隙板33进行照明。例如，对缝隙板33进行照明后的测定光束成为由缝隙板33限制成细的缝隙状的测定光束，经由透镜34而向眼镜框架F的镜圈的槽FA照射。即，例如，缝隙光向眼镜框架F的镜圈的槽FA照射。由此，眼镜框架F的镜圈的槽FA以由缝隙光进行光切断的形式被照明。

例如，受光光学系统30b具备透镜36和检测器(例如，受光元件)37。例如，受光光学系统30b在Z方向上配置于投光光学系统30a的下方。即，例如，受光光学系统30b以受光光学系统30b的光轴(拍摄光轴)L2相对于投光光学系统30a的光轴L1在Z方向上以倾斜角度α向下方倾斜的方式配置。例如，受光光学系统30b从下方检测通过镜圈的槽FA处的反射而取得的镜圈的槽FA的反射光束。例如，受光光学系统30b成为了相对于眼镜框架F的镜圈的槽FA从倾斜方向取得截面形状的结构。例如，受光光学系统30b成为了基于沙伊姆弗勒的原理来取得眼镜框架F的镜圈的槽FA的截面形状的结构。

例如，透镜36将通过镜圈的槽FA处的反射而取得的镜圈的槽FA的反射光束(例如，镜圈的槽FA的散射光、镜圈的槽FA的正反射光等)向检测器37引导。例如，检测器37具有在与眼镜框架F的镜圈的槽FA大致共轭的位置配置的受光面。例如，受光光学系统30b具有相对于投光光学系统30a的投光光轴L1向下方倾斜的拍摄光轴L2，具有基于沙伊姆弗勒的原理而配置的透镜36和检测器37。受光光学系统30b以使拍摄光轴L2与投光光学系统30a的光轴L1以规定的角度相交的方式配置。例如，由投光光学系统30a向眼镜框架F的镜圈的槽FA照射的光截面、包括眼镜框架F的镜圈的槽FA的透镜系统(眼镜框架F的镜圈的槽FA及透镜36)及检测器37的受光面(受光位置)在沙伊姆弗勒的关系下配置。

需要说明的是，在本实施例中，以投光光学系统30a和受光光学系统30b一体地配置于测定件轴62的单侧的结构为例，但不限定于此。例如，投光光学系统30a和受光光学系统30b能够配置于任意的位置。作为一例，例如，可以设为夹着测定件轴62而在测定件轴62的双方分开配置投光光学系统30a和受光光学系统30b的结构。若设为这样的结构，则能够利用测定件轴62的双方的空间来配置投光光学系统30a和受光光学系统30b，难以产生浪费的空间。

<光学式测定单元与测定件单元的测定位置关系>

接着，对光学式测定单元30的测定位置与测定件单元60的测定位置的关系进行说明。图8示出从上方(图6中的B方向)观察光学式测定单元30和测定件单元60时的图。

例如，如图8所示，在本实施例中，以对由光学式测定单元30测定的第一测定位置T和由测定件单元60测定的第二测定位置S不同的测定位置进行测定的方式配置光学式测定单元30和测定件单元60。另外，在本实施例中，以对第一测定位置T和第二测定位置S相邻的测定位置进行测定的方式配置测定单元和光学式测定单元。在本实施例中，第一测定位置T和第二测定位置S的测定位置偏离了偏离量ΔD。

需要说明的是，例如，在本实施例中，为了使第一测定位置T和第二测定位置S能够测定更近的位置，光学式测定单元30中的投光光学系统30a的光轴L1相对于从测定件61朝向眼镜框架的镜圈的槽的测定位置的测定轴L3在矢径平面上(XY平面上)上以倾斜角度β倾斜而配置。

另外，例如，在本实施例中，以能够检测由投光光学系统30a的缝隙光进行光切断后的切断面的方式，光学式测定单元30中的受光光学系统30b的拍摄光轴L2相对于投光光学系统30a的光轴L1在矢径平面上(XY平面上)以倾斜角度θ倾斜而配置。即，在本实施例中，受光光学系统30b的拍摄光轴L2相对于投光光学系统30a的光轴L1在Z方向上以倾斜角度α向下方倾斜且在XY平面上以倾斜角度θ倾斜而配置。

另外，例如，光学式测定单元30的第一测定位置T成为了在测定进行方向E(参照后述的图11)上比测定件单元60的第二测定位置S在先的测定位置。即，在本实施例中，由光学式测定单元30测定后，进行测定件单元60的测定。

<控制部>

图9是与眼镜框形状测定装置1相关的控制框图。在控制部50上连接有非易失性存储器(存储部)52、显示器3、开关部4等。

例如，控制部50具备CPU(处理器)、RAM、ROM等。控制部50的CPU掌管各部分(例如，光源31、检测器37、编码器265a、编码器286、编码器288)及各单元的驱动部(例如，框架保持单元10的驱动源、各电动机225、235、245、265)等装置整体的控制。另外，例如，控制部50作为进行各种运算(例如，基于来自各传感器的输出信号等进行眼镜框架的形状的运算等)的运算部(解析部)发挥功能。RAM暂时存储各种信息。在控制部50的ROM中存储有用于控制装置整体的动作的各种程序、初始值等。需要说明的是，控制部50也可以由多个控制部(也就是说，多个处理器)构成。非易失性存储器(存储部)52是即使电源的供给被切断也能够保持存储内容的非暂时性的存储介质。例如，能够使用硬盘驱动器、快闪ROM、以能够装卸的方式向眼镜框形状测定装置1装配的USB存储器等作为非易失性存储器(存储器)52。

例如，控制部50与加工晶片的周缘的镜片加工装置300连接。例如，由眼镜框形状测定装置1取得的各种数据向镜片加工装置300的控制部310发送。镜片加工装置300的控制部310基于接收到的各种数据来控制镜片加工装置300的各部及各单元的驱动部，进行镜片的加工。当然，镜片加工装置300和眼镜框形状测定装置1也可以是一体地构成的装置。

例如，在本实施例中，显示器3使用触摸面板式的显示器。即，在本实施例中，由于显示器3是触摸面板，所以显示器3作为操作部(操作单元)发挥功能。在该情况下，控制部50通过显示器3所具有的触摸面板功能而接收输入信号，控制显示器3的图形及信息的显示等。当然，也可以设为在眼镜框形状测定装置1另外设置操作部的结构。在该情况下，例如，操作部例如使用鼠标、控制杆、键盘、触摸面板等中的至少任一者即可。当然，也可以设为使用显示器60和操作部双方来操作眼镜框形状测定装置1的结构。需要说明的是，在本实施例中，以显示器60作为操作部发挥功能并且另外设置有开关部(操作部)4的结构为例进行说明。

<控制动作>

说明具有以上这样的结构的装置的动作。例如，操作者使框架保持单元10保持眼镜框架F。例如，操作者以使眼镜框架F的左右镜圈FL、FR成为下方向且眼镜框架F的左右的镜腿FTL、FTR成为上方向的方式，使框架保持单元10保持眼镜框架F。

例如，当由框架保持单元10保持眼镜框架F后，操作者操作开关部4而使测定开始。例如，当测定开始的触发器信号被输出后，控制部50通过驱动X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220及旋转单元260中的至少任一者来使保持单元25移动而开始眼镜框架F的镜圈的测定。例如，在本实施例中，镜圈的测定从右镜圈FR起开始测定。当然，也可以是从左镜圈FL起开始测定的结构。

例如，控制部50通过使保持单元25移动而使光学式测定单元30(投光光学系统30a及受光光学系统30b)及测定件单元60移动，测定眼镜框架的镜圈轮廓。由此，取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状及镜圈的形状(在本实施例中是镜圈的目标镜片形状及周长)。需要说明的是，在本实施例中，投光光学系统30a及受光光学系统30b以维持了沙伊姆弗勒的关系的状态相对于眼镜框架F移动。即，通过使光学式测定单元30相对于眼镜框架F的镜圈的槽以成为固定的位置关系的方式移动，能够取得眼镜框架F的镜圈的槽的截面形状。

图10是示出光学式测定单元30及测定件单元60向初始位置移动前的状态的图。图11是示出光学式测定单元30及测定件单元60向初始位置移动后移动到测定开始位置的状态的图。需要说明的是，在图10、图11中，为了方便而关于受光光学系统30b省略。

例如，当测定开始的触发器信号被输出后，控制部50控制移动单元210(X移动单元240、Y移动单元230、Z移动单元220的至少任一者)及旋转单元260的驱动，使放置于退避位置的保持单元25移动至初始位置。在本实施例中，分别设定有光学式测定单元30的初始位置SR1和测定件单元60的初始位置SR2。需要说明的是，在本实施例中，为了测定件单元60的测定位置S成为从光学式测定单元30的测定位置T偏离了偏离量ΔD的位置(参照图8)，光学式测定单元30的初始位置SR1和测定件单元60的初始位置SR2分别被设定为在X方向上离开了偏离量ΔD的位置。需要说明的是，在本实施例中，例如，光学式测定单元30中的测定开始的初始位置SR1被设定为右镜圈FR的上端侧的夹紧销131a、131b的中央位置。即，以使光学式测定单元30的第一测定位置T位于上述的中央位置的方式进行控制。需要说明的是，此时，测定件单元60的测定开始的初始位置SR2被设定为从上述中央位置向与测定的进行方向相反的方向偏离了偏离量ΔD的位置。当然，初始位置能够设定为任意的位置。

例如，在本实施例中，通过使测定件单元60的测定件61的第二测定位置S位于初始位置SR1，光学式测定单元30的第一测定位置T也位于初始位置SR1。即，通过测定件单元60的测定件61的第二测定位置S向初始位置SR2移动，光学式测定单元30也移动，因此光学式测定单元30的第一测定位置T位于初始位置SR1。当然，向初始位置移动的方向不限定于上述方法。

例如，控制部50控制移动单元210及旋转单元260的至少任一者的驱动，使测定件61的第二测定位置S位于初始位置SR1。例如，控制部50在初始位置SR2下以使测定件61的顶端成为镜圈的上侧的方式使旋转单元260旋转。如图11所示，例如，控制部50以当测定件61的第二测定位置S向初始位置SR1的移动完成后测定件61与镜圈的槽接触的方式使保持单元25向镜圈侧移动。由此，测定件61的顶端向镜圈的槽插入，测定件61从初始位置SR2向测定开始位置S1移动。

例如，控制部50当测定件61的第二测定位置S从初始位置SR2向测定开始位置S1移动且光学式测定单元30的第一测定位置T从初始位置SR1向测定开始位置T1移动后，点亮光源31。例如，通过光源31的点亮，眼镜框架F的镜圈的槽由缝隙光进行光切断。来自由缝隙光进行光切断后的眼镜框架F的镜圈的槽的反射光束朝向受光光学系统30b，由检测器37接收。例如，控制部50基于由检测器37接收到的反射光束来取得眼镜框架的镜圈的槽的二维截面形状。需要说明的是，在本实施例中，作为截面形状，取得截面图像。当然，截面形状也可以是作为信号而取得的结构。

例如，控制部50使测定件61的顶端沿着镜圈的槽FA移动。此时，控制部50通过使电动机265驱动而使旋转基体261每次以旋转角(矢径角)旋转，使测定件轴62及测定件61绕着旋转轴LO的轴旋转。测定件61追随镜圈的槽的变化而在X方向、Y方向及Z方向上移动。在本实施例中，追踪时的测定件61的X方向及Y方向的位置由编码器286检知，追踪时的测定件61的Z方向的位置由编码器288检知。需要说明的是，在本实施例中，在测定进行方向E上使测定件61的顶端沿着镜圈的槽FA移动。

例如，控制部50针对旋转基体261的每个旋转角(矢径角)，得到从基准位置到镜圈的槽FA为止的矢径长。例如，在本实施例中，旋转基体261的旋转角被设定为每0.36度。另外，例如，在本实施例中，基准位置被设定为旋转轴LO的位置。例如，旋转基体261的某旋转角(θn)下的矢径长(rn)基于测定件轴282的回旋角和从回旋中心到测定件61的顶端为止的距离(这是已知的)而运算。另外，例如，控制部50根据电动机225的脉冲数、电动机235的脉冲数、电动机245的脉冲数、编码器265a的检测结果、编码器286的检测结果及编码器288的检测结果中的至少任一者来运算镜圈的槽的位置，并向存储器52存储。例如，控制部50针对旋转基体261的每个旋转角，得到X方向、Y方向及Z方向上的镜圈的槽的位置。

例如，通过使旋转基体261旋转1圈，取得镜圈的槽的三维目标镜片形状数据(xn、yn、zn)(n＝1，2，3，···，N)。需要说明的是，在本实施例中，这样的三维目标镜片形状数据由三维的正交坐标表示。三维目标镜片形状数据可以被适当变换成将X方向及Y方向的位置利用旋转角θn及矢径长rn而以二维的极坐标表示并且将Z方向的位置以Z坐标表示(rn、zn、θn)(n＝1、2、3，···，N)。例如，控制部50将如上述那样取得的镜圈的槽的三维目标镜片形状数据作为测定件单元60的测定结果而向存储器52存储。需要说明的是，例如，控制部50也可以通过省略三维目标镜片形状数据的Z坐标而设为二维目标镜片形状数据。例如，控制部50取得将三维目标镜片形状数据中的每个旋转角θn的XY坐标接合而设为了二维的二维目标镜片形状数据，并向存储器52存储。

另外，另一方面，伴随于测定件61的移动，光学式测定单元30相对于镜圈的槽的测定光束的照射位置被变更。在本实施例中，测定件61对镜圈的槽FA的测定和光学式测定单元30对镜圈的槽的测定并列进行。例如，伴随于测定件61的移动，光学式测定单元30对镜圈的槽的截面图像的测定位置被变更。例如，通过沿着测定件61的镜圈的槽FA的移动，依次测定各矢径角下的镜圈的槽的截面图像。即，取得镜圈的截面图像的位置在镜圈的周向上移动。

例如，控制部50在截面图像的各取得位置(各测定位置)处取得镜圈的槽的截面图像，使取得的截面图像分别向存储器52存储。另外，将各截面图像的取得位置根据电动机225的脉冲数、电动机235的脉冲数、电动机245的脉冲数、编码器265a的检测结果、编码器286的检测结果及编码器288的检测结果中的至少任一者来运算，并向存储器52存储。即，通过取得电动机225的脉冲数、电动机235的脉冲数、电动机245的脉冲数、编码器265a的检测结果、编码器286的检测结果及编码器288的检测结果中的至少任一者，能够确定取得了镜圈的截面图像的位置。这样，例如，控制部50能够取得取得了镜圈的槽的断层图像的位置(取得位置信息)。例如，取得位置信息能够在取得镜圈的槽的三维截面图像、眼镜框架的形状等时使用。

例如，控制部50通过遍及镜圈的整周反复进行上述控制，能够取得镜圈的整周的镜圈的槽的截面图像。例如，当镜圈整周的镜圈的槽的截面图像的取得完成后，控制部50调出存储于存储器52的镜圈整周的截面图像及其取得位置信息，进行运算处理而取得三维截面图像。例如，控制部50使取得的三维截面图像向存储器52存储。需要说明的是，在本实施例中，以在镜圈整周的截面图像的取得完成后取得三维截面图像的结构为例进行了说明，但不限定于此。也可以是每当在镜圈的槽的截面图像的各取得位置处取得了截面图像时进行运算处理的结构。

需要说明的是，在本实施例中，受光光学系统30b的拍摄光轴L2相对于投光光学系统30a的光轴L1在Z方向上以倾斜角度α向下方倾斜且在XY平面上以倾斜角度θ倾斜而配置。另外，例如，在本实施例中，光学式测定单元30中的投光光学系统30a的光轴L1相对于从测定件61朝向眼镜框架的镜圈的槽的测定位置的测定轴L3在矢径平面上(XY平面上)以倾斜角度β倾斜而配置。在如上述这样构成的情况下，例如，控制部50可以基于倾斜角度α、倾斜角度θ及倾斜角度θ中的至少任一个倾斜角度来修正镜圈的槽的截面形状。作为一例，控制部50可以通过利用了倾斜角度α、倾斜角度θ及倾斜角度θ中的至少任一个倾斜角度的三角函数来修正眼镜框架的镜圈的槽的截面形状。通过这样基于倾斜角度修正镜圈的槽的截面形状，能够取得修正了因倾斜角度的影响而产生的截面形状的歪斜的截面形状，能够高精度地取得镜圈的槽的截面形状。

需要说明的是，例如，控制部50可以在镜圈的槽的反射光束未被检测器37良好地接收而未良好地取得截面图像的情况下，以使镜圈的槽的反射光束由检测器37接收的方式变更反射光束的受光位置。例如，控制部50可以以检测截面图像的方式使光学式测定单元30的位置移动。

需要说明的是，例如，在使测定件61的顶端沿着镜圈的槽FA移动时，可以基于由光学式测定单元30取得的测定结果(例如，截面图像)一边调整测定件61的位置一边使其移动。即，由于光学式测定单元30对镜圈的槽的测定比测定件61的测定先进行测定，所以能够基于先取得的测定结果而以使测定件61不从镜圈的槽脱落的方式进行预测控制。在该情况下，例如，控制部50可以对由光学式测定单元30取得的截面图像进行图像处理，检测镜圈的槽的底，基于检测到的镜圈的槽的底的位置，以使测定件61向镜圈槽的底的位置插入的方式使测定件61的位置移动。

例如，控制部50当右镜圈FR(或左镜圈FL)的测定结束后，控制X移动单元240的驱动，使保持单元25向另一方的镜圈的测定用的规定位置移动。与上述的测定控制同样地进行另一方的镜圈的测定。右镜圈FR及左镜圈FL的测定结果向存储器52存储。

例如，控制部50当测定件单元60对镜圈的槽的三维目标镜片形状数据的取得和光学式测定单元对三维截面图像的取得完成后，可以通过将三维目标镜片形状数据与三维截面图像建立对应来取得统合镜圈形状数据。例如，控制部50在进行建立对应处理时，可以基于第一测定位置T与第二测定位置S的偏离量ΔD，考虑测定位置的偏移而进行建立对应处理。由此，能够将三维目标镜片形状数据与三维截面图像容易地建立对应。例如，控制部80当取得统合镜圈形状数据后，使统合镜圈形状数据向存储器52存储。

如以上这样，由眼镜框形状测定装置1取得的镜圈的槽的统合镜圈形状数据等由控制部50向镜片加工装置300发送。例如，镜片加工装置300的控制部310接收由眼镜框形状测定装置1取得的镜圈的槽的统合镜圈形状数据等。

例如，作为镜片加工装置300，具备将镜片保持于镜片卡盘轴并旋转的镜片旋转部和使安装于加工件旋转轴的加工件旋转的加工件旋转部。例如，在镜片加工装置300中，镜片加工装置的控制部310基于由眼镜框形状测定装置1取得的取得信息(例如，眼镜框架的镜圈的槽的统合镜圈形状数据等)来控制镜片旋转部和加工件旋转部，进行镜片的周缘加工。需要说明的是，作为镜片加工装置的控制部310，可以是眼镜框形状测定装置1的控制部兼用的结构，也可以是另外设置用于进行镜片加工装置的各种控制的控制部310的结构。

需要说明的是，在本实施例中，统合镜圈形状数据也可以显示于显示器3上。当然，也可以显示于镜片加工装置300的未图示的显示器。在该情况下，例如可以是，统合镜圈形状数据中包含的三维目标镜片形状数据和三维截面图像重叠显示。

如以上这样，例如，本实施例中的眼镜框形状测定装置具备：保持单元，保持光学式测定单元和测定件单元；变更部，通过使保持单元相对于眼镜框架移动而使光学式测定单元和测定件单元相对于眼镜框架一体地移动，变更相对于眼镜框架的镜圈的槽的测定位置；及控制部，控制眼镜框形状测定装置的动作。另外，控制部控制变更部的动作而进行眼镜框架的镜圈的槽的测定，基于由第一检测器检测到的检测结果来取得眼镜框架的镜圈的槽的截面形状，基于由第二检测器检测到的检测结果来取得眼镜框架的镜圈的形状。通过这样的结构，例如与分别设置保持测定件单元的保持单元和保持光学式测定单元的保持单元且使得能够相对于眼镜框架分别移动的结构相比，能够通过1个保持单元的移动而使光学式测定单元和测定件单元相对于眼镜框架一体地移动，因此不需要多余的结构、复杂的控制。由此，能够以容易的结构实施光学式测定单元和测定件单元的测定。另外，由于能够取得由测定件单元测定的测定结果和由光学式测定单元测定的测定结果这双方的测定结果，所以能够将各测定结果组合而取得更良好的镜圈的形状信息。

另外，例如，在本实施例中，眼镜框形状测定装置具备使测定件能够相对于保持单元移动的移动部。在该情况下，例如，对测定件单元连结所述光学式测定单元，通过测定件相对于保持单元移动，光学式测定单元与测定件一起相对于保持单元一体地移动。这样，例如，通过对测定件单元连结光学式测定单元，与测定件单元及光学式测定单元能够相对于保持单元分别移动的结构相比，不需要多余的结构、复杂的控制，能够使眼镜框形状测定装置成为更容易的结构的装置。另外，通过对测定件连结光学式测定单元，与测定件单元和光学式测定单元能够相对于保持单元分别移动的结构相比，能够省空间化，因此能够抑制眼镜框架的测定时的测定件单元和光学式测定单元干涉而难以测定。

另外，例如，在光学式测定单元的情况下，由于对镜圈的槽以非接触的方式进行测定，所以有时难以进行光学式测定单元相对于镜圈的槽的对位。通过上述的结构，例如，光学式测定单元能够与以沿着镜圈的槽的状态进行移动的测定件的移动一体地移动，因此光学式测定单元相对于镜圈的槽的对位变得容易，能够良好地进行测定。

另外，在本实施例中，例如，以能够对光学式测定单元对镜圈的槽的测定位置即第一测定位置和测定件单元对镜圈的槽的测定位置即第二测定位置不同的测定位置进行测定的方式配置测定单元和光学式测定单元。通过这样的结构，光学式测定单元和测定件单元在同一定时下测定不同的测定位置。例如，在测定件单元及光学式测定单元同时测定同一测定位置的结构的情况下，光学式测定单元的测定光束有时会被测定件遮挡，因此有时难以进行光学式测定单元的测定。根据本公开的结构，由于测定件单元及光学式测定单元能够测定不同的测定位置，所以能够抑制测定件对测定光束的遮挡，良好地进行测定。

另外，在本实施例中，以对光学式测定单元对镜圈的槽的测定位置即第一测定位置和测定件单元对镜圈的槽的测定位置即第二测定位置相邻的测定位置进行测定的方式配置测定单元和光学式测定单元。通过这样的结构，例如，光学式测定单元和测定件单元能够测定更近的(相邻的)测定位置。例如，在光学式测定单元与测定件单元之间的测定位置大幅偏离的情况下，有时难以进行测定。作为一例，例如，在光学式测定单元和测定件单元中的一方来到了眼镜框架的弯曲部分(例如，鼻侧部分、耳侧部分等)时，另一方有时位于眼镜框架的上部或下部，无法进行测定，有时难以进行测定。根据本公开的结构，由于光学式测定单元的测定位置和测定件单元的测定位置测定更近的(相邻的)测定位置，所以能够抑制测定难以进行，良好地进行测定。

另外，例如，在光学式测定单元与测定件单元之间的测定位置大幅偏离的情况下，有时难以将由光学式测定单元和测定件单元的各自取得的测定结果建立对应。作为一例，根据眼镜框架的类型，存在具有镜圈的槽局部倾斜的结构的眼镜框架，在测定这样的眼镜框架的情况下，有时一方测定镜圈的槽倾斜的位置且另一方测定镜圈的槽未倾斜的位置，有时难以掌握正在测定眼镜框架中的哪个镜圈的槽。因而，在由光学式测定单元和测定件单元双方取得了测定结果的情况下，难以掌握双方的测定结果的关系性，有时难以建立对应。根据本公开的结构，由于光学式测定单元的测定位置和测定件单元的测定位置能够测定更近的(相邻的)测定位置，所以能够取得大致同一测定位置处的测定结果，容易掌握双方的测定结果的关系性。因而，能够将由光学式测定单元和测定件单元取得的各自的测定结果良好地建立对应。

另外，例如，在本实施例中，光学式测定单元的第一测定位置是在测定进行方向上比测定件单元的第二测定位置在先的测定位置。通过这样的结构，例如预先从光学式测定单元的测定结果取得由测定件测定的测定位置的信息，因此在对完成了光学式测定单元的测定的测定位置进行测定件单元的测定的情况下，容易基于光学式测定单元的测定结果来调整测定件相对于眼镜框架的位置。由此，能够抑制测定件从眼镜框架的槽脱落、在测定件未向镜圈的槽准确地插入的状态下进行测定等。

需要说明的是，例如，由于在光学式测定单元的测定中能够取得镜圈的槽的截面形状，所以容易掌握镜圈的槽的状态(例如，槽的倾斜、槽的深度等)。因而，与基于测定件单元的测定结果来调整光学式测定单元的位置的结构相比，容易更良好地进行相对于眼镜框架的位置调整。

另外，例如，在本实施例中，光学式测定单元中的投光光学系统的光轴相对于从测定件朝向眼镜框架的镜圈的槽的测定位置的测定轴在矢径平面上倾斜而配置。通过这样的结构，例如，容易将测定件单元的测定位置和光学式测定单元的测定位置容易地设定为相邻的位置或同一位置。另外，例如，与以使测定件单元的测定轴和光学式测定单元中的投光光学系统的光轴平行的方式配置的结构相比，容易将测定件单元的测定位置和光学式测定单元的测定位置设定为相邻的位置。

另外，例如，在本实施例中，控制部基于与光学式测定单元的测定位置相关的第一位置信息和与测定件的测定位置相关的第二位置信息，将通过测定位置对眼镜框架的镜圈的槽测定同一测定位置而取得的镜圈的槽的截面形状和镜圈的形状建立对应。通过这样的结构，例如，能够将由测定件单元测定的测定结果和由光学式测定单元测定的测定结果容易地建立对应，能够取得更良好的镜圈的形状信息。

另外，例如，在本实施例中，镜片加工装置具备基于眼镜框架的镜圈的槽的截面形状来加工镜片的周缘的加工控制部。由此，在将加工后的镜片良好地装入眼镜框架时，镜圈的槽的形状和加工后的镜片的轮廓形状成为接近的形状，因此能够良好地进行装框。

<变容例>

需要说明的是，例如，控制部50也可以通过对取得的截面图像进行解析处理来取得与镜圈的槽相关的各种参数。图12是对截面图像40的辉度分布的取得进行说明的图。图13是对从镜圈的槽的截面图像取得的参数进行说明的图。例如，控制部50通过利用图像处理取得截面图像40的辉度分布，能够取得镜圈的槽41的参数。例如，控制部50对取得的截面图像40按照扫描线S1、扫描线S2、扫描线S3、···扫描线Sn的顺序进行辉度值的检测，得到辉度分布。例如，通过取得辉度分布，能够检测镜圈的槽的形状。例如，控制部50能够得到直到镜圈的槽41的底为止的距离K1、镜圈的槽41的左右的斜面角度θ1、θ2、镜圈的槽41的左右的斜面长度K2、K3、左右的镜圈肩的长度K4、K5等作为镜圈的槽41的参数。

需要说明的是，例如，控制部50能够从取得的截面图像取得眼镜框架的镜圈的形状数据(在本实施例中是目标镜片形状数据)。例如，控制部50从眼镜框架的多个矢径角下的镜圈的槽41的截面图像40分别检测眼镜框架的多个矢径角下的镜圈的槽41的底，基于检测到的检测结果来取得眼镜框架的镜圈的形状。

例如，如上所述，控制部50通过利用图像处理取得截面图像的辉度分布来检测镜圈的槽41的底的位置。如图12所示，例如，控制部50对取得的截面图像40按照扫描线S1、扫描线S2、扫描线S3、···扫描线Sn的顺序进行辉度值的检测，得到辉度分布。例如，控制部50也可以在得到的辉度分布中，将在最下侧的位置处进行了辉度值的检测的位置检测为镜圈的槽41的底。

例如，控制部50对在各矢径角下取得的截面图像分别进行处理，分别检测图像上的镜圈的槽的底的位置。例如，控制部50根据从截面图像检测到的图像上的镜圈的槽的底的位置和取得了该截面图像的取得位置信息而取得镜圈的槽的底的位置信息。例如，控制部50从在各矢径角下分别取得的截面图像检测图像上的镜圈的槽的底的位置，根据检测到的图像上的镜圈的槽的底的位置和取得了该截面图像的取得位置信息而分别取得各矢径角的镜圈的槽的底的位置信息。由此，例如，控制部50取得眼镜框架F的三维目标镜片形状数据(rn、zn、θn)(n＝1，2，3，···，N)。例如，眼镜框架Fn的三维目标镜片形状数据可以遍及镜圈的整周而取得，也可以在镜圈的整周中的一部分区域中取得。如以上这样，能够取得眼镜框架F的形状。

需要说明的是，例如，也可以基于取得的眼镜框架的三维目标镜片形状数据来取得各种参数。例如，也可以从眼镜框架的三维目标镜片形状数据取得二维目标镜片形状数据。例如，二维目标镜片形状数据能够通过设为将三维目标镜片形状数据向眼镜框架F的正面方向的XY平面投影而得到的形状来取得。需要说明的是，二维目标镜片形状数据虽然以从三维目标镜片形状数据取得的结构为例，但不限定于此。在基于各矢径角下的镜圈的截面图像来取得镜圈的槽的底的位置信息时，也可以通过仅检测XY平面上的镜圈的槽的底的位置信息而取得。

需要说明的是，在本实施例中，以通过针对各矢径角取得镜圈的槽的底的位置信息而取得眼镜框架的三维目标镜片形状数据的结构为例进行了说明，但不限定于此。例如，在取得眼镜框架的三维目标镜片形状数据时，关于在各矢径角下未取得镜圈的槽的底的位置信息的位置，也可以通过基于周边的矢径角下的镜圈的槽的底的位置信息进行插补而取得镜圈的槽的底的位置信息。另外，例如，在取得眼镜框架的三维目标镜片形状数据时，关于在各矢径角下未取得镜圈的槽的底的位置信息的位置，也可以根据周边的矢径角下的镜圈的槽的底的位置信息的近似的结果来进行插补。

Claims (8)

1.一种眼镜框形状测定装置，测定眼镜框架的形状，具备：

光学式测定单元，具有投光光学系统和受光光学系统，所述投光光学系统从光源朝向眼镜框架的镜圈的槽照射测定光束，所述受光光学系统利用第一检测器来接收由所述投光光学系统朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽照射且由所述眼镜框架的所述镜圈的槽反射出的所述测定光束的反射光束；

测定件单元，具有向所述眼镜框架的所述镜圈的槽抵靠的测定件和检测所述测定件的位置的第二检测器；

保持单元，保持所述光学式测定单元和所述测定件单元；

变更部，通过使所述保持单元相对于所述眼镜框架移动而使所述光学式测定单元和所述测定件单元相对于所述眼镜框架一体地移动，变更相对于所述眼镜框架的所述镜圈的槽的测定位置；及

控制部，控制所述眼镜框形状测定装置的动作，

所述控制部控制所述变更部的动作来进行所述眼镜框架的所述镜圈的槽的测定，

所述控制部基于由所述第一检测器检测到的检测结果来取得所述眼镜框架的所述镜圈的槽的截面形状，

所述控制部基于由所述第二检测器检测到的检测结果来取得所述眼镜框架的所述镜圈的形状。

2.根据权利要求1所述的眼镜框形状测定装置，

具备使所述测定件能够相对于所述保持单元移动的移动部，

所述光学式测定单元连结于所述测定件单元，通过所述测定件相对于所述保持单元移动，所述光学式测定单元与所述测定件一起相对于所述保持单元一体地移动。

3.根据权利要求1所述的眼镜框形状测定装置，

将所述测定件单元和所述光学式测定单元配置成由所述光学式测定单元对所述镜圈的槽进行测定的测定位置即第一测定位置与由所述测定件单元对所述镜圈的槽进行测定的测定位置即第二测定位置不同。

4.根据权利要求3所述的眼镜框形状测定装置，

将所述测定件单元和所述光学式测定单元配置成所述第一测定位置与所述第二测定位置相邻。

5.根据权利要求3所述的眼镜框形状测定装置，

所述光学式测定单元的所述第一测定位置是在测定进行方向上比所述测定件单元的所述第二测定位置在先的测定位置。

6.根据权利要求1所述的眼镜框形状测定装置，

所述光学式测定单元中的所述投光光学系统的光轴相对于从所述测定件朝向所述眼镜框架的所述镜圈的槽的测定位置的测定轴在矢径平面上倾斜而配置。

7.根据权利要求1所述的眼镜框形状测定装置，

所述控制部基于与所述光学式测定单元的测定位置相关的第一位置信息和与所述测定件的测定位置相关的第二位置信息，将通过对于所述眼镜框架的所述镜圈的槽而测定测定位置相同的测定位置而取得的所述镜圈的槽的所述截面形状与所述镜圈的形状建立对应。

8.一种镜片加工装置，加工镜片的周缘，其中，

具备加工控制部，该加工控制部基于由权利要求1～7中任一项所述的眼镜框形状测定装置取得的所述眼镜框架的所述镜圈的槽的所述截面形状和所述镜圈的形状来加工镜片的周缘。

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