CN111060294B - 一种荧光显微物镜综合测试平台 - Google Patents

一种荧光显微物镜综合测试平台 Download PDF

Info

Publication number
CN111060294B
CN111060294B CN201911425206.8A CN201911425206A CN111060294B CN 111060294 B CN111060294 B CN 111060294B CN 201911425206 A CN201911425206 A CN 201911425206A CN 111060294 B CN111060294 B CN 111060294B
Authority
CN
China
Prior art keywords
reticle
lens
sliding
fluorescence microscope
bottom plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201911425206.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111060294A (zh
Inventor
张斌
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Maolai Nanjing Instrument Co ltd
Original Assignee
Maolai Nanjing Instrument Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Maolai Nanjing Instrument Co ltd filed Critical Maolai Nanjing Instrument Co ltd
Priority to CN201911425206.8A priority Critical patent/CN111060294B/zh
Publication of CN111060294A publication Critical patent/CN111060294A/zh
Priority to US17/616,172 priority patent/US11959821B2/en
Priority to PCT/CN2020/091355 priority patent/WO2021135048A1/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111060294B publication Critical patent/CN111060294B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/02Testing optical properties
    • G01M11/0207Details of measuring devices

Abstract

本发明公开了一种荧光显微物镜综合测试平台,包括底板,所述底板上设有水平调节装置和竖直固定机构;所述水平调节装置包括依次叠放的二维平移台和二维倾斜台;二维倾斜台上设置有分划板;所述竖直固定机构包括背板支架,所述背板支架固定连接在底座上;所述背板支架上分别固定设有光学检测装置和竖直方向的导向滑动装置;所述导向滑动装置上设置有可沿导向滑动装置滑动的滑动支架,被测物镜固定在滑动支架上。

Description

一种荧光显微物镜综合测试平台
技术领域
本发明涉及一种荧光显微物镜综合测试平台,属于光学检测领域。
背景技术
荧光显微镜是观察免疫荧光细胞化学的基本工具。它是由光源、滤板系统和光学系统等主要部件组成。是利用一定波长的光激发标本发射荧光,通过物镜和目镜系统放大以观察标本的荧光图像。荧光显微镜在观察标本时需要有水层和盖玻片,我们在制作目标组件时,可以将分化板上贴上设计过的等效盖玻片,模拟物镜实际使用时的水层和盖玻片,这样可以重复使用,大大降低了成本。
基于荧光显微物镜的综合检测平台,可以更换相关模块,并且可以实现主动装调功能。我们之前装调荧光显微物镜,一般都是在偏心仪上面调整镜片的偏心,再用星点板来控制相关像差。检测设备包含传函仪,干涉仪,光具座等。这些设备与方法效率低下,装调测试困难、设备昂贵,而且不能真实反映显微物镜的综合成像能量。
发明内容
发明目的:本发明所要解决的技术问题是提供一种荧光显微物镜综合测试平台,该平台能够可视化的,快速的协助装调镜头的偏心,具有精度高,速度快,适用范围广等优点。
为了达到上述目的,本发明所采用的技术方案是:
一种荧光显微物镜综合测试平台,包括底板,所述底板上设有水平调节装置和竖直固定机构;所述水平调节装置包括依次叠放的二维平移台和二维倾斜台;二维倾斜台上设置有分划板;所述竖直固定机构包括背板支架,所述背板支架固定连接在底座上;所述背板支架上分别固定设有光学检测装置和竖直方向的导向滑动装置;所述导向滑动装置上设置有可沿导向滑动装置滑动的滑动支架,被测物镜固定在滑动支架上。
其中,所述光学检测装置包括依次连接并共轴的相机、镜筒和半透镜;还包括光源,所述光源通过半反镜与所述半透镜的侧面连接;所述被测物镜和分划板在相机和镜筒的轴线上;所述光源发出的光经半反镜90度反射后再由半透镜进行部分90度反射,反射后的光通过被测物镜后照射到分划板上,由分划板反射回的光部分从半透镜透射,再经过镜筒后由照相机接收最终成像。
其中,所述分划板上贴有等效玻璃盖片,模拟物镜实际使用时的水层和盖玻片。
其中,所述导向滑动装置包括导轨、可沿导轨移动的滑块以及用于调整滑块移动的旋钮螺杆;所述滑块与滑动支架固定连接。
其中,所述底板包含可调节水平高度的支撑脚。
有益效果:本发明采用光学检测装置对被检测物镜进行的成像质量进行检测,通过相机可实时获取检测结果,检测效率高;通过二维平移台和二维倾斜台精确调整分划板水平度,保证了测量效果。分划板上贴上设计过的等效盖玻片,模拟物镜实际使用时的水层,这样可以重复使用,大大降低了成本,通过导向滑动装置对被测物镜进行轴向移动,可检测不同位置成像效果,为后续相关指标计算提供丰富的测量数据。
附图说明
图1为本发明荧光显微物镜综合测试平台的结构示意图;
图2为本发明荧光显微物镜综合测试平台的光路图;
图3为本发明荧光显微物镜综合测试平台的导向滑动装置结构示意图。
具体实施方式
下面结合说明书附图对本发明作进一步的说明。
如图1~3所示,本发明荧光显微物镜综合测试平台,包括底板1,底板1的四个角上分别设有支撑脚11,支撑脚11通过螺纹与底板1连接,可调节伸入底板1的深度,从而实现底板1整体的水平调节。
底板1上设有水平调节装置和竖直固定机构。其中,水平调节装置包括依次叠放的二维平移台2和二维倾斜台3。二维平移台2可以进行水平方向的二维移动。二维倾斜台3可以实现竖直方向的倾斜调整。二维倾斜台3上设置有分划板4。通过二维平移台 2和二维倾斜台3的调整,可以实现分划板4的水平和倾斜调整,满足测试需求。分划板4上贴有等效玻璃盖片,可以模拟物镜实际使用时的水层和盖玻片。这样,每次对待测物镜5进行测试时可重复使用分划板4,不需要进行重新制作。
竖直固定机构包括背板支架6。背板支架6固定连接在底座1上。背板6支架上分别固定设有光学检测装置和竖直方向的导向滑动装置7。导向滑动装置7上设置有可沿导向滑动装置7滑动的滑动支架8,被测物镜5固定在滑动支架8上。在测试时,通过导向滑动装置7控制被测物镜5在检测光轴上的移动。
光学检测装置包括依次连接并共轴的相机81、镜筒82和半透镜83。还包括光源84。光源84通过半反镜85与半透镜83的侧面连接。被测物镜5和分划板4在相机81和镜筒82的轴线上。
对被测物镜5进行测量过程如下:
光源84发出的光经半反镜85进行90度反射后再由半透镜83进行部分90度反射。反射后的光通过被测物镜5后照射到分划板4上,由分划板4反射回的光部分从半透镜 83透射,再经过镜筒82后由照相机81接收最终成像。成像结果可进一步处理后完成被测物镜5的参数测量。
导向滑动装置7包括导轨71、可沿导轨移动的滑块72以及用于调整滑块移动的旋钮螺杆73,滑块72与滑动支架8固定连接。导轨71的两条轨道通过横梁74连接。旋钮螺杆73与横梁74以及滑块72通过螺纹连接。手动旋转旋钮螺杆73可驱动滑块72 沿导轨71移动,实现对被测物镜5不同位置的测量。

Claims (2)

1.一种荧光显微物镜综合测试平台,其特征在于:包括底板,所述底板上设有水平调节装置和竖直固定机构;所述水平调节装置包括依次叠放的二维平移台和二维倾斜台;二维倾斜台上设置有分划板;所述竖直固定机构包括背板支架,所述背板支架固定连接在底座上;所述背板支架上分别固定设有光学检测装置和竖直方向的导向滑动装置;所述导向滑动装置上设置有可沿导向滑动装置滑动的滑动支架,被测物镜固定在滑动支架上;所述光学检测装置包括依次连接并共轴的相机、镜筒和半透镜;还包括光源,所述光源通过半反镜与半透镜的侧面连接;所述被测物镜和分划板在相机和镜筒的轴线上;所述光源发出的光经半反镜90度反射后再由半透镜进行部分90度反射,反射后的光通过被测物镜后照射到分划板上,由分划板反射回的光部分从半透镜透射,再经过镜筒后由照相机接收最终成像;所述分划板上贴有等效玻璃盖片,模拟物镜实际使用时的水层和盖玻片;导向滑动装置包括导轨、可沿导轨移动的滑块以及用于调整滑块移动的旋钮螺杆,滑块与滑动支架固定连接;导轨的两条轨道通过横梁连接;旋钮螺杆与横梁以及滑块通过螺纹连接,手动旋转旋钮螺杆驱动滑块沿导轨移动,实现对被测物镜不同位置的测量。
2.根据权利要求1所述的荧光显微物镜综合测试平台,其特征在于:所述底板包含可调节水平高度的支撑脚。
CN201911425206.8A 2019-12-31 2019-12-31 一种荧光显微物镜综合测试平台 Active CN111060294B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911425206.8A CN111060294B (zh) 2019-12-31 2019-12-31 一种荧光显微物镜综合测试平台
US17/616,172 US11959821B2 (en) 2019-12-31 2020-05-20 Comprehensive test platform for fluorescence microscope objective lenses
PCT/CN2020/091355 WO2021135048A1 (zh) 2019-12-31 2020-05-20 一种荧光显微物镜综合测试平台

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911425206.8A CN111060294B (zh) 2019-12-31 2019-12-31 一种荧光显微物镜综合测试平台

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111060294A CN111060294A (zh) 2020-04-24
CN111060294B true CN111060294B (zh) 2022-04-12

Family

ID=70306192

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201911425206.8A Active CN111060294B (zh) 2019-12-31 2019-12-31 一种荧光显微物镜综合测试平台

Country Status (3)

Country Link
US (1) US11959821B2 (zh)
CN (1) CN111060294B (zh)
WO (1) WO2021135048A1 (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111060294B (zh) * 2019-12-31 2022-04-12 茂莱(南京)仪器有限公司 一种荧光显微物镜综合测试平台
CN111562219A (zh) * 2020-05-22 2020-08-21 哈尔滨理工大学 一种测量钢板表面微观形貌的光切显微镜
CN113916508B (zh) * 2021-10-11 2024-01-26 上海千映智能科技有限公司 一种小型镜头检测装置及其检测方法
CN117031720B (zh) * 2023-09-28 2023-12-29 微纳动力(北京)科技有限责任公司 一种自动化集成光学装置及系统

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60257052A (ja) * 1984-06-01 1985-12-18 Hitachi Ltd 電子顕微鏡
JPS612035A (ja) * 1984-06-15 1986-01-08 Ricoh Co Ltd シリンダ−レンズの偏心測定方法
CN1084967A (zh) * 1992-09-30 1994-04-06 上海市测试技术研究所 颗粒粒径的直接测量方法和测量装置
JP3590916B2 (ja) * 1995-12-28 2004-11-17 株式会社ニコン 位置決め方法
JP3372728B2 (ja) * 1995-10-18 2003-02-04 キヤノン株式会社 面位置検出装置
US7095032B2 (en) * 1998-03-20 2006-08-22 Montagu Jean I Focusing of microscopes and reading of microarrays
JP2001297960A (ja) * 2000-04-11 2001-10-26 Nikon Corp ステージ装置および露光装置
JP4191923B2 (ja) * 2001-11-02 2008-12-03 株式会社東芝 露光方法および露光装置
JP4360064B2 (ja) * 2002-06-10 2009-11-11 株式会社ニコン ステージ装置および露光装置
JP2004165218A (ja) * 2002-11-08 2004-06-10 Canon Inc 露光装置
JP2007521494A (ja) * 2003-12-04 2007-08-02 ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティー オブ カリフォルニア 分子相互作用の検出
JP4943946B2 (ja) * 2007-06-04 2012-05-30 富士フイルム株式会社 偏芯量測定装置
JP5293250B2 (ja) * 2009-02-17 2013-09-18 株式会社ニコン 面位置検出装置及び露光装置
EP2673642B1 (en) * 2011-02-11 2018-12-26 FZMB GmbH Forschungszentrum für Medizintechnik und Biotechnologie Process for detecting cells from a sample
CN202109892U (zh) * 2011-06-01 2012-01-11 苏州市仁信精密量仪有限公司 一种用于检测分划板组件中心对正度的检测仪
CN103733048B (zh) * 2011-08-12 2015-11-25 国立大学法人广岛大学 石棉检测方法
US9129715B2 (en) * 2012-09-05 2015-09-08 SVXR, Inc. High speed x-ray inspection microscope
CN103323441B (zh) * 2013-06-14 2016-03-09 中南林业科技大学 一种快速、高效观察山茶属植物花粉管的荧光显微方法
CN104849249A (zh) * 2015-04-30 2015-08-19 昆明理工大学 一种利用荧光显微镜测定土壤中噬菌体丰度的优化方法
CN204679384U (zh) * 2015-05-06 2015-09-30 上海梭伦信息科技有限公司 一种用于视频光学接触角测量仪的校准工具
CN105738182A (zh) * 2016-02-25 2016-07-06 河南中医学院 一种用于植物显微结构观察的荧光染色方法
US10302419B2 (en) * 2016-06-29 2019-05-28 Nikon Corporation System and method for a displacement measurement
CN107063638B (zh) * 2017-05-24 2024-03-08 茂莱(南京)仪器有限公司 一种基于模组化高精度显微镜系统的测试装置
CN207472217U (zh) * 2017-10-09 2018-06-08 茂莱(南京)仪器有限公司 一种零件平行度检测仪
CN207472539U (zh) * 2017-10-09 2018-06-08 茂莱(南京)仪器有限公司 一种物镜像质与焦深的检测装置
CN208847452U (zh) * 2018-08-30 2019-05-10 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 光学镜头的间距偏心和波前像差一体化测量装置
CN109282971B (zh) * 2018-11-05 2021-05-28 茂莱(南京)仪器有限公司 微透镜中心仪
CN109682578A (zh) * 2019-01-24 2019-04-26 宁波舜宇仪器有限公司 镜片定心装置及自动定心设备
CN209624000U (zh) * 2019-02-20 2019-11-12 苏州鼎实医疗科技有限公司 一种用于免疫荧光分析仪的偏心距检测装置
CN110425976A (zh) * 2019-08-30 2019-11-08 江苏集萃微纳自动化系统与装备技术研究所有限公司 一种自动化显微镜检测装置及检测系统
CN111060294B (zh) * 2019-12-31 2022-04-12 茂莱(南京)仪器有限公司 一种荧光显微物镜综合测试平台

Also Published As

Publication number Publication date
CN111060294A (zh) 2020-04-24
US11959821B2 (en) 2024-04-16
WO2021135048A1 (zh) 2021-07-08
US20220341811A1 (en) 2022-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN111060294B (zh) 一种荧光显微物镜综合测试平台
CN101733561B (zh) 激光修调薄膜电阻中快速精确调整焦面的方法
JP2011047898A (ja) X線分析装置及びx線分析方法
KR20070116721A (ko) 편심량 측정 방법
CN106959292A (zh) 用于带材缺陷检测快速确定精准成像方案的系统
WO2022161123A1 (zh) 激光测距方法、对焦方法、激光测距系统、对焦系统及自动对焦分析装置
CN110823531B (zh) 一种数字化光具座
CN107121333A (zh) 一种整体‑局部相结合的试样变形测量装置及方法
CN109540474B (zh) 后置分光瞳激光差动共焦焦距测量方法与装置
WO2017219448A1 (zh) 检测装置及检测方法
US11774233B2 (en) Method and system for measuring geometric parameters of through holes
CN108152294A (zh) 一种超光滑镜片疵病检测装置及其方法
WO2024051008A1 (zh) 一种超快大尺寸扫描系统及方法
CN112595493A (zh) 一种激光损伤阈值和非线性吸收的共靶面测量装置和方法
CN109341518B (zh) Oct探测装置及微雕设备
CN218213600U (zh) 一种超快大尺寸扫描系统
CN115178859A (zh) 一种带有视觉定位机构的激光打标机
CN112082577B (zh) 一种水准仪望远镜调焦运行误差检定装置
CN105241393B (zh) 高精度便携式光学表面三维形貌在线检测仪
CN114112322A (zh) 一种基于差分共焦的显微镜焦点偏移测量方法
CN210952694U (zh) 一种一键式二维影像测量仪
CN210376144U (zh) 一种双波段的荧光自动检测仪
CN207675139U (zh) 一键式3d轮廓测量仪
CN205748294U (zh) 一种用于激光加工的样品距离检测装置
CN114485476B (zh) 一种晶圆测量设备、系统及方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant