CN110987493A - 设备异常检测方法、装置、存储介质及电子设备 - Google Patents
设备异常检测方法、装置、存储介质及电子设备 Download PDFInfo
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Abstract
本申请实施例提供了一种设备异常检测方法、装置、存储介质及电子设备。本申请实施例在当设备组处于工作状态时，获取所述设备组在预设时段内生产的每一产品的产品标识和目标参数，所述设备组包括多个设备；根据所述产品标识对所述目标参数进行分组；基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。通过该方案可以提高设备异常检测的及时性，从而避免出现重大损失流出或产生，影响后续生产。
Description
技术领域
本申请涉及故障检测领域，尤其涉及一种设备异常检测方法、装置、存储介质及电子设备。
背景技术
在显示面板的制造过程中，其制程非常多，使用的设备也非常多。如果设备的各部件随着时间老化，将对所生产的产品造成很大的影响。为了保证产品的质量，通常需要对产品的质量进行检测，由此判断设备的健康状况。
然而，目前对产品质量的检测都是基于人工实现的，当出现缺陷的显示面板较多时，人工难以及时进行处理。由于处理不及时，可能会导致出现重大损失流出或产生，并影响后续生产。
发明内容
本申请实施例提供了一种设备异常检测方法、装置、存储介质及电子设备，可以提高设备异常检测的及时性。
第一方面，本申请实施例提供了一种设备异常检测方法，包括：
当设备组处于工作状态时，获取所述设备组在预设时段内生产的每一产品的产品标识和目标参数，所述设备组包括多个设备；
根据所述产品标识对所述目标参数进行分组；
基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
在本申请实施例提供的设备异常检测方法中，所述基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果，包括：
基于预设参数、预设管理图类型以及每一组的目标参数生成相应的管理图；
根据所述管理图判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
在本申请实施例提供的设备异常检测方法中，所述预设参数包括上控制限值、下控制限值和中心线值，所述基于预设参数、预设管理图类型以及每一组的目标参数生成相应的管理图，包括：
根据所述上控制限值、所述下控制限值和所述中心线值生成上控制限、下控制限和中心线；
根据处理后的每一组的目标参数生成相应的样本点；
根据所述上控制限、下控制限、中心线以及所述样本点生成相应的管理图。
在本申请实施例提供的设备异常检测方法中，所述根据所述管理图判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果，包括：
根据所述管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
在本申请实施例提供的设备异常检测方法中，根据所述管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果，包括：
当所述管理图的样本点中有至少一个样本点处于所述上控制限或下控制限之外时，所述判断结果为所述管理图对应的设备出现异常。
在本申请实施例提供的设备异常检测方法中，根据所述管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果，包括：
当所述管理图的样本点中有连续预设数量的样本点出现在所述中心线的一侧时，所述判断结果为所述管理图对应的设备出现异常。
第二方面，本申请实施例提供了一种设备异常检测装置，包括：
获取单元，用于当设备组处于工作状态时，获取所述设备组在预设时段内生产的每一产品的产品标识和目标参数，所述设备组包括多个设备；
分组单元，用于根据所述产品标识对所述目标参数进行分组；
判断单元，用于基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
在本申请实施例提供的设备异常检测装置中，所述判断单元包括：
绘图子单元，用于基于预设参数、预设管理图类型以及每一组的目标参数生成相应的管理图；
判断子单元，用于根据所述管理图判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
第三方面，本申请实施例提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的设备异常检测方法的步骤。
第四方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述的设备异常检测方法的步骤。
本申请实施例在当设备组处于工作状态时，获取所述设备组在预设时段内生产的每一产品的产品标识和目标参数，所述设备组包括多个设备；根据所述产品标识对所述目标参数进行分组；基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。通过该方案可以提高设备异常检测的及时性，从而避免出现重大损失流出或产生，影响后续生产。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的设备异常检测方法的流程示意图。
图2是本申请实施例提供的管理图示例。
图3是本申请实施例提供的管理图规则及潜在问题。
图4是本申请实施例提供的设备异常检测方法的另一流程示意图。
图5是本申请实施例提供的设备异常检测装置的结构示意图。
图6是本申请实施例提供的设备异常检测装置的另一结构示意图。
图7是本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请实施例提供了一种设备异常检测方法、装置、存储介质及电子设备，以下将分别进行详细说明。
在本实施例中，将从设备异常检测装置的角度进行描述，该设备异常检测装置具体可以集成在电子设备中，比如笔记本电脑等。
请参阅图1，图1是本申请实施例提供的设备异常检测方法的流程示意图。该设备异常检测方法的具体流程可以如下：
101、当设备组处于工作状态时，获取所述设备组在预设时段内生产的每一产品的产品标识和目标参数，所述设备组包括多个设备。
其中，该设备可以为任意制程设备。比如显示面板制程设备、半导体制程设备或印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)制程设备等。
其中，该目标参数可以是产品的测量参数，比如薄膜的厚度、线宽、显示面板的像素、尺寸、缺陷坐标等。
需要说明的是，在实际应用中，一个设备异常检测装置通常只是负责一种目标参数的检测。其中，一个设备异常检测装置可以对应多个设备。
可以理解的是，产品的产品标识可以为该产品的产品编号。该产品标识可以对应该产品的生产设备。
其中，该预设时段可以根据实际情况进行设定。比如，5小时、10小时、15小时、24小时等。
在一些实施例中，该产品的产品标识和目标参数可以通过一产品检测设备获取，比如可以通过拍照获取该产品的图像信息，再根据图像信息确定该产品的产品标识和目标参数。该产品检测设备再将获取的产品标识和目标参数发送至一存储系统中，比如分布式文件系统(Distributed File System，DFS)。当达到预设时段时，该设备异常检测装置可以从该存储系统中获取所需的产品标识和目标参数。
102、根据所述产品标识对所述目标参数进行分组。
具体的，可以根据该产品标识识别出与该产品对应的生产设备，并将生产自同一设备的产品的目标参数分为一组。以便后续可以准确确定出现异常的设备。
103、基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
具体的，可以基于预设参数、预设管理图类型以及每一组的目标参数生成相应的管理图；根据所述管理图判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
其中，该管理图可以为统计过程控制(Statistical Process Contro，SPC)管理图。
其中，该预设参数可以是该SPC管理图的上控制限值、下控制限值和中心线值。该SPC管理图的上控制限值、下控制限值和中心线值通过一段时间的采样之后，经过计算得到。
其中，该预设管理图类型可以包括均值-极差(Xbar-R)管理图、均值-标准差(Xbar-S)管理图、中位数-极差(X-MR)管理图、单值-移动极差(X-R)管理图、不合格品率(P)管理图、不合格品数(np)管理图、单位缺陷数管理图(c)管理图、缺陷数(u)管理图。
在具体实施过程中，一个设备异常检测装置通常会预设一种SPC管理图类型，不同的SPC管理图类型对数据的处理方式是不相同的。例如，当SPC管理图类型为Xbar-R管理图时，可以对目标参数进行平均和Range的处理，处理后的目标参数可以结合预设参数生成相应的SPC管理图。也即，步骤“基于预设参数、预设管理图类型以及每一组的目标参数生成相应的管理图”可以包括：
根据所述预设管理图类型对所述每一组的目标参数进行相应的处理；
根据所述预设参数和处理后的每一组的目标参数生成相应的管理图。
需要说明的是，生成SPC管理图的关键在于上控制限、下控制限、中心线和样本点。在一些实施例中，步骤“根据所述预设参数和处理后的每一组的目标参数生成相应的管理图”可以包括：
根据所述上控制限值、所述下控制限值和所述中心线值生成上控制限、下控制限和中心线；
根据处理后的每一组的目标参数生成相应的样本点；
根据所述上控制限、下控制限、中心线以及所述样本点生成相应的管理图。
具体的，可以根据上控制限值、下控制限值和中心线值在坐标轴上绘制对应的上控制限、下控制限和中心线；然后，再将处理后的目标参数按照预设规则绘制在坐标轴上，形成样本点；最后，将多个样本点连接，形成SPC管理图，根据该SPC管理图中样本点的分布可以确定其对应设备的潜在问题。具体可以参阅图2，图2中的标记20为样本点。
需要说明的是，该预设规则可以是将处理后的目标参数按照目标参数获取时间的先后顺序进行排列，也可以根据目标参数对应产品的产品标识按照从小到大的顺序排列。可以理解的是，每一组目标参数分别对应一个SPC管理图。
由上，步骤“根据所述管理图判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果”可以包括：
根据所述SPC管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
需要说明的是，根据该SPC管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常具体可以参照尼尔森规则。如图3所示，图3示出了SPC管理图的八大判异规则的具体描述、图表示例以及潜在问题。其中，控制限包括上控制限和下控制限。UCL为上控制限，LCL为下控制限，CL为中心线。A区为中心线的1倍标准差，B区为中心线的2倍标准差，C区为中心线的3倍标准差。
需要说明的是，在实际生产过程中，考虑到每个生产或测量工序的特殊需求，规则也可以根据需要进行调整，比如规则2连续9点落在中心线的同一侧，根据需要也可以调整为连续K点落在中心线的同一侧，再比如规则3连续6点递增或递减，根据需要同样也可以调整为连续K点递增或递减。以下不再赘述。
因此，根据根据该SPC管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常的方式有多种，比如“当所述管理图的样本点中有至少一个样本点处于所述上控制限或下控制限之外时，确定所述管理图对应的设备出现异常”，再比如“当所述管理图的样本点中有连续预设数量的样本点出现在所述中心线的一侧时，确定所述管理图对应的设备出现异常”等。具体可以参阅图3，在此不再一一赘述。
具体的，如图3中规则1对应的图表示例，在此图标中有1个样本点超出控制限，此时图标中此两个点标红，超出控制限的原因可能是人员操作、设备故障、原料不合格、检验方法或标准编号或计算、测量错误等等，针对此异常点发送相应的判断结果及预警信息给到制造执行系统(Manufacturing Execution System，MES)，MES系统再发送到设备模块控制系统(Block Control System，BC)，由BC系统直接对相应的设备发送停机指令或拦截指令。可以防止异常生产的产品流入后续制程，从而避免出现重大损失流出或产生，影响后续生产。
需要说明的是，判断结果及预警信息不止可以发送给MES系统，也可以根据工厂的实际需要，为方便相关技术人员查看，也可通过电子邮件等方式将判断结果及预警信息发送给对应人员，对应人员可以根据工厂自身需要进行相应的设备及产品处置。
在一些实施例中，为了避免出现误判，还可以在将判断结果及警示信息发送至MES的过程之间加入一异常确定设备，通过该异常确定设备对该异常进行再次确认。若确定该异常存在，则将判断结果及警示信息发送至MES；若确定该异常不存在，则取消发送判断结果及警示信息。
由上，本申请实施例在当设备组处于工作状态时，获取所述设备组在预设时段内生产的每一产品的产品标识和目标参数，所述设备组包括多个设备；根据所述产品标识对所述目标参数进行分组；基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。通过该方案可以提高设备异常检测的及时性，从而避免出现重大损失流出或产生，影响后续生产。
上述实施例所描述的方法，以下将举例作进一步详细说明。在本实施例中，将以该设备异常检测装置具体集成在电子设备中为例进行说明，且本实施例中的设备为面板制造设备，产品为显示面板，具体参照以下说明。
如图4所示，图4是本申请实施例提供的设备异常检测方法的另一流程示意图。该设备异常检测方法的具体流程可以如下：
201、电子设备在当面板制造设备组处于工作状态时，获取面板制造设备组在预设时段内生产的每一显示面板的产品标识和目标参数，所述面板制造设备组包括多个面板制造设备。
其中，该目标参数可以是显示面板的像素、尺寸、缺陷坐标等参数。
需要说明的是，在实际应用中，一个设备异常检测装置通常只是负责一种目标参数的检测。其中，一个设备异常检测装置可以对应多个面板制造设备。
202、电子设备根据显示面板的产品标识对目标参数进行分组。
具体的，可以根据该产品标识识别出与该产品对应的面板制造设备，并将生产自同一面板制造设备的产品的目标参数分为一组。以便后续可以准确确定出现异常的面板制造设备。
203、电子设备根据上控制限值、下控制限值和中心线值生成上控制限、下控制限和中心线，根据所述每一组的目标参数生成相应的样本点，根据上控制限、下控制限、中心线以及样本点生成相应的管理图。
其中，该预设管理图类型可以包括均值-极差(Xbar-R)管理图、均值-标准差(Xbar-S)管理图、中位数-极差(X-MR)管理图、单值-移动极差(X-R)管理图、不合格品率(P)管理图、不合格品数(np)管理图、单位缺陷数管理图(c)管理图、缺陷数(u)管理图。
在具体实施过程中，一个设备异常检测装置通常会预设一种SPC管理图类型，不同的SPC管理图类型对数据的处理方式是不相同的。例如，当SPC管理图类型为Xbar-R管理图时，可以对目标参数进行平均和Range的处理，处理后的目标参数可以结合预设参数生成相应的SPC管理图。
具体的，可以根据上控制限值、下控制限值和中心线值在坐标轴上绘制对应的上控制限、下控制限和中心线；然后，再将处理后的目标参数按照预设规则绘制在坐标轴上，形成样本点；最后，将多个样本点连接，形成SPC管理图。
需要说明的是，该预设规则可以是将处理后的目标参数按照目标参数获取时间的先后顺序进行排列，也可以根据目标参数对应产品的产品标识按照从小到大的顺序排列。可以理解的是，每一组目标参数分别对应一个SPC管理图。
204、电子设备根据管理图中样本点的分布判断对应的面板制造设备是否出现异常，并生成判断结果。
需要说明的是，根据该SPC管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常具体可以参照尼尔森规则。具体可以如图3所示。
需要说明的是，在实际生产过程中，考虑到每个生产或测量工序的特殊需求，规则也可以根据需要进行调整，比如规则2连续9点落在中心线的同一侧，根据需要也可以调整为连续K点落在中心线的同一侧，再比如规则3连续6点递增或递减，根据需要同样也可以调整为连续K点递增或递减。以下不再赘述。
由上，本申请实施例通过当电子设备在当面板制造设备组处于工作状态时，获取面板制造设备组在预设时段内生产的每一显示面板的产品标识和目标参数，所述面板制造设备组包括多个面板制造设备；电子设备根据显示面板的产品标识对目标参数进行分组；电子设备根据上控制限值、下控制限值和中心线值生成上控制限、下控制限和中心线，根据每一组的目标参数生成相应的样本点，根据上控制限、下控制限、中心线以及样本点生成相应的管理图；电子设备根据管理图中样本点的分布判断对应的面板制造设备是否出现异常，并生成判断结果。通过该方案可以提高设备异常检测的及时性，从而避免出现重大损失流出或产生，影响后续生产。
为便于更好的实施本申请实施例提供的设备异常检测方法，本申请实施例还提供一种基于上述设备异常检测方法的装置。其中名词的含义与上述设备异常检测方法中相同，具体实现细节可以参考方法实施例中的说明。
请参阅图5，图5是本申请实施例提供的设备异常检测装置的结构示意图，其中该设备异常检测装置可以包括获取单元301、分组单元302和判断单元303。具体如下：
获取单元301，用于当设备组处于工作状态时，获取所述设备组在预设时段内生产的每一产品的产品标识和目标参数，所述设备组包括多个设备.
分组单元302，用于根据所述产品标识对所述目标参数进行分组。
判断单元303，用于基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
在一些实施例中，请参阅图6，该判断单元303可以包括绘图子单元3031和判断子单元3032。其中：
绘图子单元3031，用于基于预设参数、预设管理图类型以及每一组的目标参数生成相应的管理图；
判断子单元3032，用于根据所述管理图判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
在一些实施例中，预设参数包括上控制限值、下控制限值和中心线值，绘图子单元3031可以用于：
根据所述上控制限值、所述下控制限值和所述中心线值生成上控制限、下控制限和中心线；
根据所述每一组的目标参数生成相应的样本点；
根据所述上控制限、下控制限、中心线以及所述样本点生成相应的管理图。
在一些实施例中，判断子单元3032可以用于：
根据所述管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
在一些实施例中，判断子单元3032可以用于：
当所述管理图的样本点中有至少一个样本点处于所述上控制限或下控制限之外时，判断所述管理图对应的设备出现异常。
在一些实施例中，判断子单元3032可以用于：
当所述管理图的样本点中有连续预设数量的样本点出现在所述中心线的一侧时，判断所述管理图对应的设备出现异常。
需要说明的是，上述实施例提供的设备异常检测装置在进行设备异常检测时，仅以上述各功能模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成，即将设备的内部结构划分成不同的功能模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述实施例提供的设备异常检测装置与设备异常检测方法属于同一构思，其具体实现过程详见方法实施例，此处不再赘述。
本申请实施例提供的设备异常检测装置可以通过获取单元301当设备组处于工作状态时，获取所述设备组在预设时段内生产的每一产品的产品标识和目标参数，所述设备组包括多个设备；由分组单元302根据所述产品标识对所述目标参数进行分组；由判断单元303基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。通过该方案可以提高设备异常检测的及时性，从而避免出现重大损失流出或产生，影响后续生产。
本申请还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现方法实施例提供的设备异常检测方法。
本申请又一实施例中还提供了一种电子设备，如图7所示，该电子设备400可以包括处理器401和存储器402，其中，处理器401和存储器402电性连接。
处理器401是电子设备400的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子设备的各个部分，通过运行或加载存储在存储器402内的应用程序，以及调用存储在存储器402内的数据，执行电子设备400的各种功能和处理数据，从而对电子设备400进行整体监控。
存储器402可用于存储应用程序和数据。存储器402存储的应用程序中包含有可执行代码。应用程序可以组成各种功能模块。存储器402可主要包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序(比如声音播放功能、图像播放功能等)等。此外，存储器402可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。
在本实施例中，电子设备400中的处理器401会按照如下的步骤，将一个或一个以上的应用程序的进程对应的指令加载到存储器402中，并由处理器401来运行存储在存储器402中的应用程序，从而实现各种功能：
当设备组处于工作状态时，获取所述设备组在预设时段内生产的每一产品的产品标识和目标参数，所述设备组包括多个设备；
根据所述产品标识对所述目标参数进行分组；
基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
在一些实施例中，在基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果时，处理器401可以用于：
基于预设参数、预设管理图类型以及每一组的目标参数生成相应的管理图；
根据所述管理图判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
在一些实施例中，所述预设参数包括上控制限值、下控制限值和中心线值。
在一些实施例中，在基于预设参数、预设管理图类型以及每一组的目标参数生成相应的管理图时，处理器401可以用于：
根据所述上控制限值、所述下控制限值和所述中心线值生成上控制限、下控制限和中心线；
根据处理后的每一组的目标参数生成相应的样本点；
根据所述上控制限、下控制限、中心线以及所述样本点生成相应的管理图。
在一些实施例中，在根据所述管理图判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果时，处理器401可以用于：
根据所述管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
在一些实施例中，在根据所述管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果时，处理器401可以用于：
当所述管理图的样本点中有至少一个样本点处于所述上控制限或下控制限之外时，确定所述管理图对应的设备出现异常，并生成判断结果。
在一些实施例中，在根据所述管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果时，处理器401可以用于：
当所述管理图的样本点中有连续预设数量的样本点出现在所述中心线的一侧时，确定所述管理图对应的设备出现异常，并生成判断结果。
由上可知，本申请实施例提供的电子设备400通过当设备组处于工作状态时，获取所述设备组在预设时段内生产的每一产品的产品标识和目标参数，所述设备组包括多个设备；根据所述产品标识对所述目标参数进行分组；基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。通过该方案可以提高设备异常检测的及时性，从而避免出现重大损失流出或产生，影响后续生产。
本申请实施例还提供一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，所述计算机执行上述任一实施例所述的设备异常检测方法。
需要说明的是，本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于计算机可读存储介质中，如存储在终端的存储器中，并被该终端内的至少一个处理器执行，在执行过程中可包括如应用程序启动方法的实施例的流程。其中，存储介质可以包括：只读存储器(ROM，ReadOnly Memory)、随机存取记忆体(RAM，Random Access Memory)、磁盘或光盘等。
在以上的说明中，本申请的具体实施例将参考由一部或多部计算机所执行的步骤及符号来说明，除非另有述明。因此，这些步骤及操作将有数次提到由计算机执行，本文所指的计算机执行包括了由代表了以一结构化型式中的数据的电子信号的计算机处理单元的操作。此操作转换该数据或将其维持在该计算机的内存系统中的位置处，其可重新配置或另外以本领域测试人员所熟知的方式来改变该计算机的运作。该数据所维持的数据结构为该内存的实体位置，其具有由该数据格式所定义的特定特性。但是，本申请原理以上述文字来说明，其并不代表为一种限制，本领域测试人员将可了解到以下所述的多种步骤及操作亦可实施在硬件当中。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
以上对本申请实施例所提供的一种设备异常检测方法、装置、存储介质及电子设备进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。
Claims (10)
1.一种设备异常检测方法，其特征在于，包括：
当设备组处于工作状态时，获取所述设备组在预设时段内生产的每一产品的产品标识和目标参数，所述设备组包括多个设备；
根据所述产品标识对所述目标参数进行分组；
基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
2.如权利要求1所述的设备异常检测方法，其特征在于，所述基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果，包括：
基于预设参数、预设管理图类型以及每一组的目标参数生成相应的管理图；
根据所述管理图判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
3.如权利要求2所述的设备异常检测方法，其特征在于，所述预设参数包括上控制限值、下控制限值和中心线值，所述基于预设参数、预设管理图类型以及每一组的目标参数生成相应的管理图，包括：
根据所述上控制限值、所述下控制限值和所述中心线值生成上控制限、下控制限和中心线；
根据所述每一组的目标参数生成相应的样本点；
根据所述上控制限、下控制限、中心线以及所述样本点生成相应的管理图。
4.如权利要求3所述的设备异常检测方法，其特征在于，所述根据所述管理图判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果，包括：
根据所述管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
5.如权利要求4所述的设备异常检测方法，其特征在于，所述根据所述管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果，包括：
当所述管理图的样本点中有至少一个样本点处于所述上控制限或下控制限之外时，所述判断结果为所述管理图对应的设备出现异常。
6.如权利要求4所述的设备异常检测方法，其特征在于，所述根据所述管理图中样本点的分布判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果，包括：
当所述管理图的样本点中有连续预设数量的样本点出现在所述中心线的一侧时，所述判断结果为所述管理图对应的设备出现异常。
7.一种设备异常检测装置，其特征在于，包括：
获取单元，用于当设备组处于工作状态时，获取所述设备组在预设时段内生产的每一产品的产品标识和目标参数，所述设备组包括多个设备；
分组单元，用于根据所述产品标识对所述目标参数进行分组；
判断单元，用于基于预设参数和每一组的目标参数判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
8.如权利要求7所述的异常检测装置，其特征在于，所述判断单元包括：
绘图子单元，用于基于预设参数、预设管理图类型以及每一组的目标参数生成相应的管理图；
判断子单元，用于根据所述管理图判断对应的设备是否出现异常，并生成判断结果。
9.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述方法的步骤。
10.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7任一项所述方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201911111471.9A CN110987493A (zh) | 2019-11-14 | 2019-11-14 | 设备异常检测方法、装置、存储介质及电子设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201911111471.9A CN110987493A (zh) | 2019-11-14 | 2019-11-14 | 设备异常检测方法、装置、存储介质及电子设备 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN110987493A true CN110987493A (zh) | 2020-04-10 |
Family
ID=70084259
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201911111471.9A Pending CN110987493A (zh) | 2019-11-14 | 2019-11-14 | 设备异常检测方法、装置、存储介质及电子设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN110987493A (zh) |
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|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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