CN110385599B - 机床 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种机床。机床具有：可动部，其具有保持部或主轴头，保持部用于保持工件；马达，其用于驱动可动部；控制部，其用于控制马达的驱动；多个停止开关，其与控制部并联，在一手动操作下连动地进行开闭，多个电源切断部，其与多个停止开关分别相对应，且串联在马达与电源之间；多个逻辑门电路，多个逻辑门电路分别设在多个停止开关与电源切断部之间，向多个逻辑门电路输入来自所有的停止开关的输出信号，多个逻辑门电路向控制部输出运算结果；及检测部，其能够检测到所有的电源切断部都被切断的状态。只有在检测部检测到所有的电源切断部都被切断的状态下且是在从逻辑门电路输入了动作允许信号时，控制部才会允许电源切断部向连接状态转换。

Description

机床

技术领域

本发明涉及一种用于对工件进行加工的机床。

背景技术

日本特许公开公报第2006－159303号公开了一种机床。机床具有紧急停止开关。在发生紧急情况时，由操作者按下紧急停止开关，使机床停止。在紧急停止开关发生了故障时，无法使机床停止。作为解决该问题的方法，紧急停止开关具有机械式的第一开关和第二开关。在第一开关或第二开关被连接上时，紧急停止开关能进行工作。在欲解除紧急停止开关的紧急停止时，出于安全考虑，在第一开关和第二开关中的某一开关发生了故障的情况下，都无法解除紧急停止开关的紧急停止。

由于第一开关和第二开关为机械式开关，因此，因制造时零部件的尺寸误差会导致第一开关和第二开关进行开启或关闭的时间存在偏差。当开关进行开启或关闭的时间存在偏差时，存在这样的问题：即使在开关未发生故障的情况下也会被判断为开关发生了故障，这样就无法解除紧急停止开关的紧急停止。

发明内容

本发明的目的是，提供一种机床，采用该机床，能够抑制在多个停止开关在不同的时间点输出了多个信号时发生不良。

技术方案1的机床具有：可动部，该可动部具有保持部或主轴头，该保持部用于保持工件；马达，其用于驱动可动部；控制部，其用于控制马达的驱动；多个停止开关，该多个停止开关与控制部并联，该多个停止开关在一手动操作下连动地进行开闭，多个电源切断部，该多个电源切断部与多个停止开关分别相对应，该多个电源切断部串联在马达与电源之间；多个逻辑门电路，该多个逻辑门电路分别设在各多个停止开关与电源切断部之间，向各多个逻辑门电路输入来自所有的停止开关的输出信号，各多个逻辑门电路向控制部输出运算结果；及检测部，其能够检测到所有的电源切断部都被切断的状态。控制部具有第二控制部，只有在检测部检测为所有的电源切断部都被切断的状态下且是在从逻辑门电路输入了动作允许信号时，该第二控制部才会允许电源切断部向连接状态转换。

在各多个停止开关与控制部之间设有逻辑门电路，向逻辑门电路输入来自所有的停止开关的输出信号，并且逻辑门电路向控制部输出运算结果。向控制部输入来自多个停止开关的输出信号的时机是同时的。即使多个停止开关在不同的时间点输出多个信号，也不会发生不良。只有在检测为所有的电源切断部都被切断且从逻辑门电路输入了动作允许信号时，才会允许电源切断部向连接状态转换。

技术方案2的机床的电源切断部由继电器构成，在控制部检测到至少一个继电器的连接且从至少一个逻辑门电路输入了继电器的连接信号时，控制部检测为继电器异常。

设置与多个停止开关分别相对应且串联在马达与电源之间的多个继电器。在控制部检测为至少一个继电器被切断且从所有的逻辑门电路输入了驱动信号时，控制部检测为继电器异常。

技术方案3的机床具有多个常闭开关，该多个常闭开关串联在控制部与电源之间，且与多个继电器分别相对应。多个常闭开关基于多个逻辑门电路的运算结果来进行开闭，多个继电器的各继电器在与该继电器相对应的常闭开关断开时闭合，在与该继电器相对应的常闭开关闭合时断开，控制部基于经由多个常闭开关输入过来的信号来对是至少一个继电器的连接还是所有的继电器的切断进行检测。

在控制部与电源之间串联有与多个继电器分别相对应的多个常闭开关。多个继电器的各继电器在与该继电器相对应的常闭开关断开时闭合，在与该继电器相对应的常闭开关闭合时断开。控制部基于经由多个常闭开关输入过来的信号来对是至少一个继电器连接还是所有的继电器都被切断进行检测。

附图说明

图1是表示机床的立体图。

图2是表示各马达、紧急停止开关和控制装置的框图。

图3是表示第一停止开关的输出信号、第二停止开关的输出信号、第一逻辑门电路的输出信号、第二逻辑门电路的输出信号、第一FET的输出信号和第二FET的输出信号以及从检测用布线向第一运算电路和第二运算电路的输入信号的时序图。

图4是表示比较例的各马达、紧急停止开关和控制装置的框图。

图5是表示比较例的第一停止开关的输出信号、第二停止开关的输出信号、第一FET的输出信号和第二FET的输出信号以及从检测用布线向第一运算电路和第二运算电路的输入信号的时序图。

图6是表示变更例的各马达、紧急停止开关和控制装置的框图。

具体实施方式

下面，基于附图，说明本发明的实施方式的机床。如图1所示，机床100具有沿前后方向延伸的、呈矩形的基座1。工件保持部3设在基座1的上部中靠前侧的位置。工件保持部3能够绕沿左右方向延伸的A轴和沿上下方向延伸的C轴旋转。工件保持部3具有A轴马达3a和C轴马达3b。A轴马达3a绕A轴旋转，C轴马达3b绕C轴旋转。支承座2设在基座1的上部中靠后侧的位置，由支承座2支承立柱4。

Y轴方向移动机构10设在支承座2的上部，其用于使移动板16沿前后方向移动。Y轴方向移动机构10具有Y轴马达13等。Y轴马达13能够使移动板16沿前后方向移动。

X轴方向移动机构20设在移动板16的上表面，其用于使立柱4沿左右方向移动。X轴方向移动机构20具有X轴马达(省略图示)等。X轴马达23能够使立柱4沿左右方向移动。

Z轴方向移动机构30设在立柱4的前表面，其用于使主轴头5沿上下方向移动。Z轴方向移动机构30具有Z轴马达33等。Z轴马达33能够使主轴头5沿上下方向移动。

主轴51沿上下方向延伸，且设在主轴头5内。主轴51绕自身的轴线旋转。主轴马达6设在主轴头5的上端部。能够在主轴51的下端部装配刀具。主轴51能够在主轴马达6的旋转的带动下进行旋转，从而带动刀具旋转。旋转状态下的刀具能够对工件保持部3所保持的工件进行加工。

机床100具有能够对刀具进行调换的换刀装置(省略图示)。换刀装置能够使刀库(省略图示)中收容的刀具与主轴51上装配的刀具互换。

如图2所示，机床100具有控制装置50(控制部)和紧急停止开关60。控制装置50能够控制主轴马达6、X轴马达、Y轴马达13、Z轴马达33、A轴马达3a和C轴马达3b这些马达的驱动。下面，用马达M来代表性地称呼上述各马达。

控制装置50具有基板50a。在基板50a设有第一运算电路51a和第二运算电路51b。第一运算电路51a和第二运算电路51b例如具有逻辑电路或处理器。紧急停止开关60为机械式开关，其借助连接器50b与基板50a相连接。紧急停止开关60具有第一停止开关61和第二停止开关62。

第一停止开关61的一端借助连接器50b与FET52a的源极52a3相连接。FET52a的漏极52a2与电源80相连接。FET52a的栅极52a1与第一运算电路51a相连接。第一运算电路51a通过向栅极52a1输出信号，来控制FET52a的驱动。

第二停止开关62的一端与FET52b的源极52b3相连接。FET52b的漏极52b2与电源80相连接。FET52b的栅极52b1与第二运算电路51b相连接。第二运算电路51b通过向栅极52b1输出信号，来控制FET52b的驱动。

第一停止开关61的另一端借助连接器50b与第一逻辑门电路53a的输入相连接。第二停止开关62的另一端借助连接器50b与第二逻辑门电路53b的输入相连接。第二停止开关62的另一端与第一逻辑门电路53a的输入相连接。第一停止开关61的另一端与第二逻辑门电路53b的输入相连接。第一逻辑门电路53a的输出与第一运算电路51a相连接，第二逻辑门电路53b的输出与第二运算电路51b相连接。

第一运算电路51a与第一FET54a的栅极54a1相连接。第一FET54a的漏极54a2与电源80相连接。第一FET54a的源极54a3借助连接器50d与第一电磁元件55a相连接。第一电磁元件55a接地。在从后述的检测用布线58输入High(高电平)信号且从第一逻辑门电路53a输入High信号时，第一运算电路51a向第一FET54a的栅极54a1输出High信号即ON信号。

第二运算电路51b与第二FET54b的栅极54b1相连接。第二FET54b的漏极54b2与电源80相连接。第二FET54b的源极54b3借助连接器50d与第二电磁元件55b相连接。第二电磁元件55b接地。在从后述的检测用布线58输入High信号且从第二逻辑门电路53b输入High信号时，第二运算电路51b向第二FET54b的栅极54b1输出High信号即ON信号。

第二FET54b和第二电磁元件55b所在的电路是与第一FET54a和第一电磁元件55a相独立的系统的电路。第一运算电路51a通过向栅极54a1输出信号，来控制第一FET54a的驱动，进而控制第一电磁元件55a的动作。第二运算电路51b通过向栅极54b1输出信号，来控制第二FET54b的驱动，进而控制第二电磁元件55b的动作。

电源80借助连接器50d与第二常闭开关56b的一端相连接。第二常闭开关56b的另一端与第一常闭开关56a的一端相连接。第一常闭开关56a和第二常闭开关56b串联起来。第一常闭开关56a的另一端借助连接器50c和检测用布线58与第一运算电路51a和第二运算电路51b相连接。在第一常闭开关56a和第二常闭开关56b这两者都闭合时，向第一运算电路51a和第二运算电路51b输入High信号。由第一运算电路51a、第二运算电路51b、检测用布线58、连接器50c、连接器50d和电源80一起构成了检测部。

第一常闭开关56a与第一电磁元件55a相对应，第二常闭开关56b与第二电磁元件55b相对应。第一常闭开关56a根据第一电磁元件55a的动作进行开闭。第二常闭开关56b根据第二电磁元件55b的动作进行开闭。

马达M为三相交流马达，其借助第一继电器57a和第二继电器57b与三相交流电源81相连接。第一继电器57a和第二继电器57b串联在马达M与三相交流电源81之间。第二继电器57b配置在第一继电器57a与三相交流电源81之间。第一继电器57a与马达M相连接。

第一常闭开关56a与第一继电器57a机械连结。在第一常闭开关56a闭合时，第一继电器57a断开。在第一常闭开关56a断开时，第一继电器57a闭合。第二常闭开关56b与第二继电器57b机械连结。在第二常闭开关56b闭合时，第二继电器57b断开。在第二常闭开关56b断开时，第二继电器57b闭合。

第一运算电路51a适当地向FET52a的栅极52a1输出ON信号。第二运算电路51b适当地向FET52b的栅极52b1输出ON信号。向栅极52a1输入ON信号时，FET52a的漏极52a2与源极52a3之间被导通，并由源极52a3输出High信号。向栅极52b1输入ON信号时，FET52b的漏极52b2与源极52b3之间被导通，并由源极52b3输出High信号。

在操作者按下紧急停止开关60时，第一停止开关61和第二停止开关62都断开，源极52a3与第一逻辑门电路53a、第二逻辑门电路53b之间被切断，源极52b3与第一逻辑门电路53a、第二逻辑门电路53b之间被切断。没有向第一逻辑门电路53a和第二逻辑门电路53b输入High信号。只有在从第一停止开关61和第二停止开关62这两者都输入了High信号时，第一逻辑门电路53a和第二逻辑门电路53b才会输出High信号，除此以外的情况下，第一逻辑门电路53a和第二逻辑门电路53b输出的都是Low(低电平)信号。

第一逻辑门电路53a向第一运算电路51a输出Low信号，第二逻辑门电路53b向第二运算电路51b输出Low信号。在从第一逻辑门电路53a输入了Low信号时，第一运算电路51a向第一FET54a的栅极54a1输出OFF信号，在从第二逻辑门电路53b输入了Low信号时，第二运算电路51b向第二FET54b的栅极54b1输出OFF信号。第一FET54a的漏极54a2与源极54a3之间未被导通，第二FET54b的漏极54b2与源极54b3之间未被导通，因此，第一电磁元件55a和第二电磁元件55b都不工作。因此，第一常闭开关56a和第二常闭开关56b都闭合，第一继电器57a和第二继电器57b都断开，马达M与三相交流电源81之间被切断，马达M无法进行驱动。

在第一常闭开关56a和第二常闭开关56b都闭合时，从电源80经由连接器50c和检测用布线58向第一运算电路51a和第二运算电路51b输入High信号，第一运算电路51a和第二运算电路51b检测到第一继电器57a和第二继电器57b断开。

在操作者解除了紧急停止开关60的紧急停止时，即，在停止被解除时，第一停止开关61和第二停止开关62都闭合，源极52a3与第一逻辑门电路53a之间被连接上，源极52b3与第二逻辑门电路53b之间被连接上。向第一逻辑门电路53a第二逻辑门电路53b输入High信号。

在第一停止开关61和第二停止开关62闭合的时机存在偏差时，会于不同的时机，从第一停止开关61和第二停止开关62这两者向第一逻辑门电路53a和第二逻辑门电路53b输入High信号。在从第一停止开关61和第二停止开关62这两者都输入了High信号的时间点，第一逻辑门电路53a和第二逻辑门电路53b才会输出High信号。即，第一逻辑门电路53a和第二逻辑门电路53b同时向第一运算电路51a和第二运算电路51b输出High信号。

在同时从第一逻辑门电路53a和第二逻辑门电路53b输入了High信号时，第一运算电路51a和第二运算电路51b同时向第一FET54a的栅极54a1和第二FET54b的栅极54b1输出ON信号。因此，第一FET54a的漏极54a2与源极54a3之间、第二FET54b的漏极54b2与源极54b3之间同时被导通，因此，第一电磁元件55a和第二电磁元件55b同时工作。当第一电磁元件55a和第二电磁元件55b都工作时，第一常闭开关56a和第二常闭开关56b同时断开，第一继电器57a和第二继电器57b同时闭合。因此，马达M与三相交流电源81之间被连接上，马达M能进行驱动。

在第一常闭开关56a和第二常闭开关56b都断开时，经由连接器50c和检测用布线58，同时向第一运算电路51a和第二运算电路51b输入Low信号，第一运算电路51a和第二运算电路51b检测到第一继电器57a和第二继电器57b闭合。

如图3所示，S61表示第一停止开关61的输出信号，S62表示第二停止开关62的输出信号，S53a表示第一逻辑门电路53a的输出信号，S53b表示第二逻辑门电路53b的输出信号，S54a表示第一FET54a的输出信号，S54b表示第二FET54b的输出信号，S58表示从检测用布线58向第一运算电路51a和第二运算电路51b的输入信号。H表示High信号，L表示Low信号。

图3表示的是下述状态：从未按下紧急停止开关60的状态开始，将紧急停止开关60按下一次，之后，在时间点T1解除了紧急停止开关60的紧急停止。在时间点T1解除了紧急停止开关60的紧急停止的情况下，第一停止开关61和第二停止开关62闭合的时间点也存在偏差。具体地讲，在第一停止开关61于时间点T1闭合之后，第二停止开关62在时间点T2才闭合。在时间点T1至时间点T2之间的期间里，第一逻辑门电路53a向第一运算电路51a输出Low信号，第二逻辑门电路53b向第二运算电路51b输出Low信号。在时间点T1至时间点T2之间的期间里，检测用布线58向第一运算电路51a和第二运算电路51b输入High信号。但由于第一逻辑门电路53a和第二逻辑门电路53b输出的是Low信号，因此，第一运算电路51a向第一FET54a的栅极54a1输出Low信号即OFF信号，第二运算电路51b向第二FET54b的栅极54b1输出Low信号即OFF信号。第一FET54a的漏极54a2与源极54a3之间未被导通，第二FET54b的漏极54b2与源极54b3之间未被导通。

因此，第一电磁元件55a和第二电磁元件55b都不工作，第一常闭开关56a和第二常闭开关56b都闭合，第一继电器57a和第二继电器57b都断开。因此，马达M与三相交流电源81之间未连接上，马达M无法进行驱动。

在时间点T2及其之后，第一逻辑门电路53a向第一运算电路51a输出High信号，第二逻辑门电路53b向第二运算电路51b输出High信号。检测用布线58向第一运算电路51a和第二运算电路51b输入High信号。因此，第一运算电路51a向第一FET54a的栅极54a1输出High信号即ON信号，第二运算电路51b向第二FET54b的栅极54b1输出High信号即ON信号。第一FET54a的漏极54a2与源极54a3之间被导通，第二FET54b的漏极54b2与源极54b3之间被导通。因此，第一电磁元件55a和第二电磁元件55b都工作，第一常闭开关56a和第二常闭开关56b都断开，第一继电器57a和第二继电器57b都闭合。马达M与三相交流电源81之间被连接上，马达M能进行驱动。

为了进行比较，对不具有第一逻辑门电路53a和第二逻辑门电路53b的控制装置(参照图4)进行说明。比较例的各马达、紧急停止开关、控制装置中，除了不具有第一逻辑门电路53a和第二逻辑门电路53b之外，其他结构均与图2中的实施方式的各马达、紧急停止开关、控制装置的结构相同，因此省略对其详细的说明。

图5表示的是与图3中的情况同样地在时间点T1解除了紧急停止开关60的紧急停止时的状态。在时间点T1解除了紧急停止开关60的紧急停止的情况下，第一停止开关61和第二停止开关62闭合的时间点也存在偏差。具体地讲，在第一停止开关61于时间点T1闭合之后，第二停止开关62在时间点T2才闭合。在时间点T1，从检测用布线58向第一运算电路51a输入High信号，并从第一停止开关61输入High信号。因此，第一运算电路51a向第一FET54a的栅极54a1输出High信号即ON信号，第一FET54a的漏极54a2与源极54a3之间被导通。因此，第一电磁元件55a工作，第一常闭开关56a断开，第一继电器57a闭合。在时间点T1，从第二停止开关62向第二运算电路51b输入Low信号。因此，第二电磁元件55b不工作，第二常闭开关56b闭合，第二继电器57b断开。马达M与三相交流电源81之间未连接上，马达M无法进行驱动。

由于第一常闭开关56a在时间点T1断开，因此，在时间点T2，从检测用布线58向第二运算电路51b输入Low信号，并从第二停止开关62输入High信号。由于从检测用布线58输入Low信号，因此，第二运算电路51b向第二FET54b的栅极54b1输出Low信号即OFF信号。第二电磁元件55b不工作，第二常闭开关56b闭合，第二继电器57b断开。因此，在时间点T2，马达M与三相交流电源81之间也未连接上，马达M无法进行驱动。

第一运算电路51a和第二运算电路51b检测到第一常闭开关56a和第二常闭开关56b断开时，判定为第一继电器57a和第二继电器57b已被正常连接上。如图5所示，即使从第二停止开关62输入High信号，但在从检测用布线58输入Low信号的情况下，第一运算电路51a和第二运算电路51b仍会判定为第一继电器57a或第二继电器57b中的至少一者未正常闭合，例如发生了熔断，并继续使马达M停止。

即，比较例中会产生这样的问题：在第一停止开关61和第二停止开关62闭合的时间点存在偏差的情况下，即使第一停止开关61和第二停止开关62这两者都闭合，第一运算电路51a和第二运算电路51b也会判定为第一继电器57a或第二继电器57b发生了不良，马达M仍然无法进行驱动。实施方式的第一逻辑门电路53a和第二逻辑门电路53b能够同时输出信号，因此，即使第一停止开关61和第二停止开关62闭合的时间点存在偏差，马达M也能进行驱动。实施方式中不会发生上述问题。

实施方式中，在第一继电器57a或第二继电器57b发生了熔断的情况下，即使从第一逻辑门电路53a和第二逻辑门电路53b输入High信号，也仍然从检测用布线58输入Low信号。因此，在第一继电器57a或第二继电器57b发生了异常时，第一运算电路51a和第二运算电路51b能够判定出该异常，马达M无法进行驱动。

实施方式的机床中，在各停止开关61、停止开关62这些多个停止开关与第一运算电路51a、第二运算电路51b之间分别设有逻辑门电路53a、逻辑门电路53b，向逻辑门电路53a、逻辑门电路53b输入来自停止开关61、停止开关62这些所有的停止开关的输出信号，并且逻辑门电路53a、逻辑门电路53b向第一运算电路51a和第二运算电路51b输出运算结果。该输出信号的输入时机是同时的。只有在检测为继电器57a、继电器57b这些所有的继电器都被切断，且从逻辑门电路53a、逻辑门电路53b输入了High信号即动作允许信号时，才会允许继电器57a和继电器57b都转换到连接状态。因此，即使停止开关61、停止开关62这些多个停止开关在不同的时间点输出多个信号，也不会发生不良。

设置与停止开关61、停止开关62这些多个停止开关分别相对应，且串联在马达M与三相交流电源81之间的继电器57a、继电器57b这些多个继电器。在第一运算电路51a和第二运算电路51b检测为继电器57a、继电器57b这些所有的继电器都被切断且从逻辑门电路53a、逻辑门电路53b中的至少一个逻辑门电路输入了驱动信号时，第一运算电路51a和第二运算电路51b检测到继电器57a、继电器57b存在异常。

在第一运算电路51a与三相交流电源81之间、第二运算电路51b与三相交流电源81之间串联有与继电器57a、继电器57b这些多个继电器分别相对应的常闭开关56a、常闭开关56b这些多个常闭开关。继电器57a、继电器57b这些多个继电器分别在常闭开关56a、常闭开关56b断开时闭合，在常闭开关56a、常闭开关56b闭合时断开。第一运算电路51a和第二运算电路51b基于经由常闭开关56a、常闭开关56b这些多个常闭开关输入过来的信号对是继电器57a、继电器57b中的至少一个继电器连接还是继电器57a、继电器57b这些所有的继电器都被切断进行检测。

实施方式的机床的主轴头5能够沿上下方向、前后方向和左右方向移动，工件保持部3能够绕A轴和C轴旋转。也可以是，主轴头5仅能沿上下方向移动，工件保持部3具有能沿左右方向和前后方向移动的工作台。

对于停止开关、继电器、常闭开关而言，不限定为停止开关61、停止开关62，继电器57a、继电器57b，常闭开关56a、常闭开关56b这样分别有两个的情况，也可以是三个以上。

变更例

变更例中使用半导体开关，来代替电磁元件55a、电磁元件55b、常闭开关56a、常闭开关56b、继电器57a和继电器57b。

控制装置50具有门电路71。门电路71是用于控制向马达M供给的电力的控制电路。马达M与三相交流电源81借助门电路71来连接。第一FET54a的漏极54a2借助发光二极管72a与电源80相连接。发光二极管72a使电流从电源80流向漏极54a2。第二FET54b的漏极54b2借助发光二极管72b与电源80相连接。发光二极管72b使电流从电源80流向漏极54b2。第一FET54a的源极54a3和第二FET54b的源极54b3都接地。

控制装置50具有第一光电晶体管73a、第二光电晶体管73b、发光二极管74a、发光二极管74b和CPU76。发光二极管72a能够向第一光电晶体管73a的基极照射光。发光二极管72b能够向第二光电晶体管73b的基极照射光。第一光电晶体管73a和第二光电晶体管73b它们的集电极与电源80相连接。第一光电晶体管73a的发射极借助布线76a与CPU76相连接，该发射极的输出信号向CPU76输入。第一光电晶体管73a的发射极与发光二极管74a相连接，发光二极管74a与CPU76相连接。发光二极管74a使电流从第一光电晶体管73a流向CPU76。

第二光电晶体管73b的发射极借助布线76b与CPU76相连接，该发射极的输出信号向CPU76输入。第二光电晶体管73b的发射极与发光二极管74b相连接，发光二极管74b与CPU76相连接。发光二极管74b使电流从第二光电晶体管73b流向CPU。

控制装置50具有光电晶体管75a和光电晶体管75b。发光二极管74a能够向光电晶体管75a的基极照射光。发光二极管74b能够向光电晶体管75b的基极照射光。光电晶体管75a、光电晶体管75b这两者的集电极与电源80相连接。光电晶体管75a、光电晶体管75b这两者的发射极与门电路71相连接。

在第一停止开关61和第二停止开关62都闭合时，即，在第一FET54a和第二FET54b都进行驱动时，发光二极管72a向第一光电晶体管73a的基极照射光，发光二极管72b向第二光电晶体管73b的基极照射光。因此，第一光电晶体管73a和第二光电晶体管73b被驱动。当光电晶体管73a和光电晶体管73b这两者都被驱动时，发光二极管74a和发光二极管74b发光，从光电晶体管75a和光电晶体管75b这两者向门电路71输入信号。门电路71基于该信号，使电力从三相交流电源81向马达M供给，从而，马达M能进行驱动。第一光电晶体管73a和第二光电晶体管73b所输出的信号向CPU76输入。

在第一停止开关61和第二停止开关62都未闭合时，即，在第一FET54a和第二FET54b都未进行驱动时，光没有照射到第一光电晶体管73a和第二光电晶体管73b它们的基极。因此，第一光电晶体管73a和第二光电晶体管73b都未被驱动，发光二极管74a和发光二极管74b这两者也都不发光，光电晶体管75a和光电晶体管75b这两者都未被驱动。由于光电晶体管75a和光电晶体管75b这两者都未被驱动，因此，门电路71没有从三相交流电源81向马达M供给电力，从而，马达M无法进行驱动。

CPU76与FET77的栅极相连接。FET77的源极接地。FET77的漏极借助发光二极管78与电源80相连接。发光二极管78使电流从电源80流向FET77的漏极。控制装置50具有光电晶体管79。发光二极管78能够向光电晶体管79的基极照射光，从而，光电晶体管79能驱动。光电晶体管79的发射极与检测用布线58相连接。

在从第一光电晶体管73a的发射极和第二光电晶体管73b的发射极经由布线76a、布线76b向CPU76输入了信号时，即，在第一停止开关61和第二停止开关62都闭合时，CPU76向FET77的栅极输出Low信号。FET77未进行驱动，并从检测用布线58向第一运算电路51a和第二运算电路51b输入Low信号。

在未从第一光电晶体管73a的发射极和第二光电晶体管73b的发射极经由布线76a、布线76b向CPU76输入信号时，即，在第一停止开关61和第二停止开关62都断开时，CPU76向FET77的栅极输出High信号。FET77进行驱动，并从检测用布线58向第一运算电路51a和第二运算电路51b输入High信号。变更例能够发挥与实施方式同样的作用效果。

Claims (3)

1.一种机床，该机床具有：可动部，该可动部具有保持部(3)或主轴头(5)，该保持部用于保持工件；马达(M)，其用于驱动所述可动部；控制部(50)，其用于控制所述马达的驱动；及多个停止开关(61、62)，该多个停止开关与所述控制部并联，该多个停止开关在一手动操作下连动地进行开闭，

该机床的特征在于，

该机床具有：

多个电源切断部，该多个电源切断部与所述多个停止开关分别相对应，该多个电源切断部串联在所述马达与电源之间；

多个逻辑门电路，该多个逻辑门电路分别设在各所述多个停止开关与所述电源切断部之间，向各所述多个逻辑门电路输入来自所有的停止开关的输出信号，各所述多个逻辑门电路向所述控制部输出运算结果；及

检测部，其能够检测到所有的电源切断部都被切断的状态，

所述控制部具有第二控制部，只有在所述检测部检测为所有的电源切断部都被切断的状态下且是在从所述多个逻辑门电路输入了动作允许信号时，该第二控制部才会允许所述电源切断部向连接状态转换，所述动作允许信号从所述多个逻辑门电路同时向所述控制部输入。

2.根据权利要求1所述的机床，其特征在于，

所述电源切断部由继电器(57a、57b)构成，

在所述控制部检测到至少一个所述继电器的连接且从至少一个所述逻辑门电路输入了所述继电器的连接信号时，所述控制部检测为所述继电器异常。

3.根据权利要求2所述的机床，其特征在于，

该机床具有多个常闭开关(56a、56b)，该多个常闭开关串联在所述控制部与所述电源之间，且与多个所述继电器分别相对应，

所述多个常闭开关基于所述多个逻辑门电路的运算结果来进行开闭，

多个所述继电器的各继电器在与该继电器相对应的所述常闭开关断开时闭合，在与该继电器相对应的所述常闭开关闭合时断开，

所述控制部基于经由所述多个常闭开关输入过来的信号来对是至少一个所述继电器连接还是所有的继电器都被切断进行检测。

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