CN110319782A - 投影装置、齿隙检测系统及其方法 - Google Patents

Abstract

一种投影装置，包括：镜头模块、马达模块、定位模块与控制器。镜头模块中的齿轮结构与定位片分别环设于镜筒的外部的相对侧，齿轮结构与定位片以镜筒的光轴为转动轴，并且当齿轮结构转动时，镜筒内的光学镜组相应地沿着光轴移动，定位片也相对于齿轮结构而转动。马达模块的传动齿轮啮合于齿轮结构以带动齿轮结构转动。定位模块配置于定位片旁边，用于测量定位片的转动以产生定位信号。控制器电连接马达模块与定位模块，控制器控制马达模块以驱动传动齿轮，且接收定位信号，根据定位信号计算传动齿轮与齿轮结构之间的齿隙。一种齿隙检测系统及其方法亦被提供。本发明可随时计算齿轮系统当下的齿隙，也能检测出不同的齿轮转动方向所产生的齿隙。

Description

投影装置、齿隙检测系统及其方法

技术领域

本发明是有关于一种齿隙检测技术，且特别是有关于一种具有齿隙检测系统的投影装置、齿隙检测系统及其方法。

背景技术

利用齿轮来带动转动是现今广泛使用的传动技术，尤其是在机械手臂控制、投影装置等技术中，会使用步进马达来带动整个齿轮系统以控制元件位移。举例来说，投影装置常会使用步进马达来控制齿轮系统以执行光圈控制或是镜头对焦等等。

一般的齿轮系统中，相啮合的齿轮彼此之间的齿间与齿厚必须保留空隙，这样齿轮在转动时才不会卡死，此空隙称之为齿隙或背隙(Backlash)。在齿轮转动时，齿隙会造成齿轮转动时带动元件位移与预设的位置不同，产生位置偏差，现有技术是利用出厂时齿轮的齿间与齿厚尺寸计算齿隙或是齿轮系统组装后，以精密量测仪器量测齿隙来校正元件的位置偏差，然而，后者会使得生产过程中需多一道量测工序，而且齿轮在改变转动方向时也可能产生不同的齿隙，此外，齿轮在长期运转下会有磨耗，造成齿隙的变化，使得上述的校正方法失准，进而让齿轮系统无法精准的控制元件的移动。

以投影装置为例，若是镜头自动对焦时，镜头元件的实际位置与理想位置稍有偏差，会导致对焦不准，画面不清晰的问题，因此精准又方便的齿隙检测方法在要求精准控位的步进马达的应用里是十分重要的课题。

“背景技术”段落只是用来帮助了解本发明内容，因此在“背景技术”段落所揭露的内容可能包含一些没有构成本领域技术人员所知道的已知技术。在“背景技术”段落所揭露的内容，不代表该内容或者本发明一个或多个实施例所要解决的问题，在本发明申请前已被本领域技术人员所知晓或认知。

发明内容

本发明的实施例提供一种投影装置、齿隙检测系统及其方法，具有结构简单、量测方便的优点，可以随时计算齿轮系统当下的齿隙，也能检测出不同的齿轮转动方向所产生的齿隙。

本发明的其他目的和优点可以从本发明所揭露的技术特征中得到进一步的了解。

为达上述之一或部份或全部目的或是其他目的，本发明的一实施例提出一种投影装置，包括：镜头模块、马达模块、定位模块与控制器。镜头模块包括镜筒、定位片、齿轮结构与光学镜组，其中齿轮结构与定位片分别环设于镜筒的外部的相对侧，齿轮与定位片以镜筒的光轴为转动轴，光学镜组配置于镜筒内，并且当齿轮结构转动时，光学镜组相应地沿着镜筒的光轴移动，定位片也相对于齿轮结构而转动。马达模块包括传动齿轮，其中传动齿轮啮合于齿轮结构以带动齿轮结构转动。定位模块配置于定位片旁边，用于测量定位片的转动以产生定位信号。控制器电连接马达模块与定位模块，控制器控制马达模块以驱动传动齿轮，且接收定位信号，根据定位信号计算传动齿轮与齿轮结构之间的齿隙。

本发明的一实施例提出一种齿隙检测系统，包括：齿轮结构、定位片、马达模块、定位模块与控制器。马达模块包括传动齿轮，其中所述传动齿轮啮合于所述齿轮结构以带动所述齿轮结构转动。定位片表面具有多个遮挡片，对应于所述齿轮结构而配置且随所述齿轮结构的转动而移动或转动。定位模块配置于所述定位片旁边，用以测量所述定位片的转动或移动以产生定位信号。控制器电连接所述马达模块与所述定位模块，所述控制器控制所述马达模块以驱动所述传动齿轮，且接收所述定位信号，根据所述定位信号计算所述传动齿轮与所述齿轮结构之间的齿隙。

本发明的一实施例提出一种齿隙检测方法，用于齿隙检测系统，齿隙检测系统包括齿轮结构、与齿轮啮合的传动齿轮、与齿轮结构对应配置且具有多个遮挡片的定位片以及配置于定位片旁的定位模块。上述的齿隙检测方法包括以下步骤：齿轮结构被传动齿轮带动以沿第一方向转动；定位片随齿轮结构的转动而移动或转动；通过定位模块测量定位片的转动或移动以产生定位信号；比对定位信号的准位/水平与参考阀值以判断定位信号是处在第一状态或第二状态；当判断定位信号的状态改变时，控制传动齿轮以使齿轮结构的转动方向从第一方向改成第二方向，且开始进行计数；当定位信号的状态再度改变时，停止计数并根据目前的计数结果产生对应于第二方向的齿隙。

基于上述，本发明的实施例中提供一种投影装置、齿隙检测系统及其方法，其架构简单，可与原本的齿轮系统架构结合，不需要额外使用精密量测仪器来检测齿隙，并且可以随时计算当下的齿隙值，即时进行齿隙校正，即使是齿轮结构与传动齿轮已使用一段时间后，甚至产生耗损现象，仍可检测出目前的齿隙，并且可以计算转动方向改变后的齿隙，大幅提升定位精准度。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。

附图说明

图1是依照本发明的一实施例的一种投影装置的示意图。

图2是依照本发明一实施例的部分投影装置的示意图。

图3是依照本发明的一实施例的一种定位信号的检测状况示意图。

图4A至图4C是依照本发明的一实施例的传动齿轮与齿轮结构改变转动方向的状况示意图。

图5是依照本发明的一实施例的齿轮结构沿固定方向转动时定位信号对时间的变化示意图。

图6是依照本发明的一实施例的齿隙检测过程中定位信号的变化示意图。

图7是依照本发明的一实施例的齿隙检测方法的步骤流程图。

具体实施方式

有关本发明的前述及其他技术内容、特点与功效，在以下配合参考附图的一优选实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。以下实施例中所提到的方向用语，例如：上、下、左、右、前或后等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用来说明并非用来限制本发明。

图1是依照本发明的一实施例的一种投影装置的示意图，图2是依照本发明一实施例的部分投影装置的示意图。请参考图1至图2，投影装置100包括镜头模块110、马达模块120、定位模块130与控制器140。投影装置100通过镜头模块110投射画面IM。

镜头模块110包括定位片112、齿轮结构114、镜筒116与光学镜组118，光学镜组118具有单片或复数个镜片，但不以此为限制。光学镜组118配置于镜筒116内，齿轮结构114与定位片112分别环设于镜筒116的外部相对侧，并以镜筒116的光轴(optical axis)OA为转动轴。马达模块120包括传动齿轮122与马达124。控制器140则电连接马达模块120与定位模块130，控制器140用于控制马达模块120的马达124转动，以驱动传动齿轮122。

传动齿轮122啮合于齿轮结构114以带动齿轮结构114转动。当齿轮结构114转动时，光学镜组118相应地沿着镜筒116的光轴OA移动，定位片112也会相对于齿轮结构114以同方向转动(例如逆时针转动)。定位模块130配置于定位片112旁边，用于测量定位片112的转动以产生定位信号PS。控制器140接收定位信号PS，并根据定位信号PS计算传动齿轮122与齿轮结构114之间的齿隙。

因此，在另一方面来说，本实施例中的投影装置100可视为包括一种齿隙检测系统200，齿隙检测系统200包括齿轮结构114、定位片112、马达模块120、传动齿轮122、定位模块130与控制器140。

具体来说，齿轮结构114例如是齿轮环或齿条，具有多个齿片1142，定位片112例如是定位环，表面上具有多个凸起的遮挡片1122。齿轮结构114与定位片112设在镜筒116上，因此齿轮结构114转动时会对应地带动定位片112转动。在本实施例中，齿片1142与遮挡片1122的形状、数目、大小比例仅为示意，不用以限制本发明，此外，多个遮挡片1122彼此的形状、宽度可以不完全相同，多个遮挡片1122之间的间距也可以不完全相同，本领域的技术人员可依据实际需求作适当设计。

马达(电机(motor))124例如是步进马达，而控制器140例如中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)、微处理器(Microprocessor)或者是特殊应用集成电路(Application Specific Integrated Circuits，ASIC)、可程式化逻辑装置(ProgrammableLogic Device，PLD)等硬件装置。

图3是依照本发明的一实施例的一种定位信号的检测状况示意图。定位模块130例如是光遮断装置(Photointerrupter)，定位模块130具有两端，其中一端会发出光线132，另一端接收光线132，当遮挡片1122通过两端之间时，光线132被遮挡片1122遮蔽，因此定位模块130产生对应变化的定位信号PS。在图3的实施例中，光线132的发射路径方向为垂直纸面方向，定位片112的其中一个遮挡片1122从左到右穿过定位模块130的光线132的路径。在时间点t1，上述的遮挡片1122还未遇到光线132，定位信号PS处在低准位状态，定位信号PS的准位可以是代表电压准位或电流准位，但不以此为限。在时间点t2，遮挡片1122开始接触光线132，定位信号PS的准位开始变化，在时间点t3，遮挡片1122遮挡部分的光线132，定位信号PS的准位升高，在时间点t4，遮挡片1122完全遮蔽光线132，定位信号PS处在高准位状态。在此，定位信号PS在低准位状态与高准位状态之间的状态变化称之为转态，时间点t2到时间点t4的定位信号PS的准位变化称为信号转态边缘区段PSB。控制器140接收定位信号PS，并且根据定位信号PS的准位变化判断镜头模块110是否有被马达模块120带动。

特别说明的是，在本实施例中，定位片112的多个遮挡片1122的宽度与间距会至少大于齿片1142以及传动齿轮122的齿片的齿厚与齿间的1.5倍，以使得由定位片112造成的两次转态之间的期间，齿轮结构114已移动足够的齿数。

图4A至图4C是依照本发明的一实施例的传动齿轮与齿轮结构改变转动方向的状况示意图。传动齿轮122具有多个齿片1222，其中一个齿片1222啮合于齿轮结构114其中相邻的两个齿片1142之间，以带动齿轮结构114转动，齿片1222啮合于两个齿片1142之间的空隙称为齿隙。在其他的实施例中，也可以是齿轮结构114的一个齿片1142啮合于传动齿轮122的其中两个齿片1222之间。

在图4A中，传动齿轮122以顺时针方向D2转动以带动齿轮结构114往逆时针方向D1转动，齿片1222与齿片1142存在接触点A与齿隙d1。在图4B中，传动齿轮122改变转动方向，往逆时针方向D1转动，齿片1222离开接触点A后，尚未接触到齿轮结构114的另一个齿片1142，这段停滞时期称之为空转，此时，齿轮结构114不会被传动齿轮122带动，因此定位片112与光学镜组118自然也不会被带动。接下来，在图4C中，传动齿轮122接触到另一个齿片1142，产生接触点B以及齿隙d2，传动齿轮122才能带动齿轮结构114往顺时针方向D2转动。

图5是依照本发明的一实施例的齿轮结构沿固定方向转动时定位信号对时间的变化示意图。控制器140可以比对定位信号PS的准位与参考阀值(Threshold)以判断定位信号PS是处在高准位状态(以下亦称第一状态)或低准位状态(以下亦称第二状态)。参考阀值可以是一个值或是多个值，可以是固定预设值或可调整的阀值，本发明对此并不限制。

在本实施例中，参考阀值例如包括第一阀值Vref1与第二阀值Vref2，且第一阀值Vref1大于第二阀值Vref2。举例来说，第一阀值Vref1例如是2.2V(伏特)，第二阀值Vref2是1.8V(伏特)。当定位信号PS的电压准位高于第一阀值Vref1时，控制器140判断定位信号PS处于第一状态，且当定位信号PS的准位低于第二阀值Vref2时，控制器140判断定位信号PS处于第二状态。

随着齿轮结构114沿逆时针方向持续转动，因此定位片112沿固定方向转动，每一片遮挡片1122会先后通过定位模块130中光线132的路径，定位信号PS对应地发生转态，而遮挡片1122的宽度与间距会决定定位信号PS的频宽与转态的间隔时间。

以下将进一步说明本实施例的齿隙检测过程的具体实施方式。

图6是依照本发明的一实施例的齿隙检测过程中定位信号的变化示意图。一开始，控制器140控制马达124驱动传动齿轮122往顺时针方向D2转动，以带动齿轮结构114往逆时针方向D1转动，并即时接收定位信号PS，如时间点t5之前所示。控制器140还包括计数器144，当在时间点t5，控制器140判断定位信号PS转态时(从第二状态变成第一状态)，亦即某一遮挡片1122遮蔽光线132，计数器144开始进行计数，且控制器140控制马达模块120的传动齿轮122以使齿轮结构114的转动方向从逆时针方向D1改成顺时针方向D2，之后，在时间点t6，当控制器140判断定位信号PS从第一状态又变回第二状态时，计数器144停止计数，控制器140根据目前的计数结果(时间点t5至时间点t6之间的计数)产生对应于顺时针方向D2的齿隙d2。

在检测出顺时针方向D2的齿隙d2后，齿隙检测系统200还可以检测出逆时针方向D1的齿隙d1，以下说明如何接着检测不同转动方向的齿隙。

在时间点t6，计数器144重新开始计时，控制器140控制传动齿轮122以使齿轮结构114的转动方向从顺时针方向D2又改回逆时针方向D1。

在时间点t7，当齿轮结构114沿逆时针方向D1转动时，控制器140判断定位信号PS的状态从第二状态转为第一状态时，计数器144停止计数。控制器140根据目前的计数结果(时间点t6至时间点t7之间的计数)产生对应于逆时间方向D1的齿隙d1。

至此，齿隙检测系统200已针对某一遮挡片1122计算出一组齿隙量测结果，包括逆时针方向D1的齿隙d1与顺时针方向D2的齿隙d2。在时间点t7后，齿轮结构114继续沿逆时针方向D1转动，则定位片112的下一个遮挡片1122会开始通过定位模块130，如图5所显示，因此控制器140可计算下一组对应逆时针方向D1与顺时针方向D2的齿隙。

详细来说，控制器140在取得一组齿隙后，可进一步判断是否已经计算所有遮挡片1122所造成的转态，或判断是否取得足够多的齿隙量测次数，若否的后，持续计算下一组的齿隙，若是的话，控制器140计算所得到的多组齿隙的平均值，并将此平均值作为传动齿轮122与齿轮结构114之间的平均齿隙。在本实施例中，控制器可以针对每一个遮挡片1122取得至少一组齿隙，并以所有遮挡片1122的齿隙量测结果的平均值作为传动齿轮122与齿轮结构114之间的平均齿隙。

在另一实施例中，本实施例的齿隙检测系统可应用于具有齿轮结构啮合齿轮结构的装置等等，不限于投影装置。定位片112不限于环状，可以是条状或其他形状，此外，定位片112与齿轮结构114之间也不限于配置于镜筒116上，或配置在共同基底元件上，定位片112与齿轮结构114也可以透过其他齿轮或传动机构耦接，只要定位片112对应于齿轮结构114配置，使得定位片112可以被齿轮结构114带动进而产生对应的转动或移动，而定位模块130量测定位片112的移动或转动来产生定位信号PS。本领域的技术人员可以由上述说明与所属技术领域的公知常识获致足够的教示、建议，以依据实际使用情形作适当调整。

图7是依照本发明的一实施例的齿隙检测方法的步骤流程图。本实施例的齿隙检测方法可用于图1与图2的齿隙检测系统200，以下即搭配图1与图2的各种元件来说明本方法的详细步骤。

从步骤S710开始进行齿隙检测步骤，在步骤S720中，齿轮结构114被传动齿轮122带动以沿第一方向(例如是逆时针方向)转动，并且定位片112随齿轮结构114的转动而移动或转动。在步骤S730中，定位模块130测量定位片112的转动或移动以产生定位信号PS，接着，在步骤S740中，控制器140可以比对定位信号PS的准位与参考阀值(例如第一阀值Vref1与第二阀值Vref2)以判断定位信号PS目前是处在第一状态或第二状态以及状态是否发生改变。若定位信号PS的状态没有变化，回到步骤S720，齿轮结构114继续沿第一方向转动。若定位信号PS的状态改变，则执行步骤S750，控制器140的计数器144开始计数，并且在步骤S760中，控制器140控制传动齿轮122以使齿轮结构114的转动方向从第一方向改成第二方向(例如是顺时针方向)。

在步骤S770中，控制器140持续接收定位信号PS并判断定位信号PS的状态是否发生改变。若状态没有变化，回到步骤S760，齿轮结构114继续沿第二方向转动。若判断定位信号PS的状态再度改变时，则执行步骤S780，计数器144停止计数并且控制器140根据目前的计数结果产生对应于第二方向的齿隙。

齿隙检测系统200若要进一步检测第一方向的齿隙，可继续执行步骤S790，计数器144归零后重新开始计数，在步骤S7100中，控制器140控制传动齿轮122以使齿轮结构114的转动方向从第二方向改回第一方向。

需说明的是，本发明并不限定步骤S750与步骤S760、步骤S790与步骤S7100，此两组步骤的实施先后顺序，步骤S750与步骤S760以及步骤S790与步骤S7100也可以同时实施，或是顺序交换。

在步骤S7110中，控制器140判断定位信号PS的状态是否又发生改变。若状态没有变化，回到步骤S7100。当判断定位信号PS又改变状态时，则执行步骤S7120，计数器144停止计数并控制器140根据目前的计数结果产生对应于第一方向的齿隙。

齿隙检测系统200执行步骤S710至步骤S7120可计算出一组包括第一方向与第二方向的齿隙，接着，在步骤S7120后，齿轮结构114继续沿第一方向转动，则定位片112的下一个遮挡片1122可能会开始通过定位模块130，使得定位信号PS再度发生转态，因此控制器140可计算下一组第一方向与第二方向的齿隙，在步骤S7130中，控制器140可进一步判断是否已经计算所有遮挡片1122所造成的转态，若否的后，回到步骤S720，持续计算下一组齿隙，若是的话则进行步骤S7140，控制器140计算针对多个遮挡片1122所得到的多组齿隙的平均值，并将此平均值作为传动齿轮122与齿轮结构114之间的平均齿隙。

关于图7实施例的齿隙检测方法的详细步骤及具体实施方式可以由上述图1至图6的说明与所属技术领域的公知常识获致足够的教示、建议与实施说明，因此不再赘述。

综上所述，本发明的示范实施例中提供一种投影装置、齿隙检测系统及其方法。通过传动齿轮啮合于齿轮以带动齿轮转动，而定位片对应齿轮配置，定位片也会对应齿轮转动而发生移动或转动，定位模块配在于定位片旁边，检测定位片的移动或转动来产生定位信号，控制器接收定位信号，并判断定位信号是否发生转态，当发生转态时，控制器改变齿轮的转动方向，并开始计数，当定位信号又发生转态时，停止计数，控制器根据两次转态之间的空转时期的计数结果计算传动齿轮与齿轮之间的齿隙。藉此，本实施例的投影装置、齿隙检测系统及其方法的架构简单，可以计算不同转动方向的齿隙，并且可随时计算当下的齿隙值，即时进行齿隙校正，进而提升精准度。

以上所述，仅为本发明的优选实施例而已，当不能以此限定本发明实施的范围，即大凡依本发明权利要求书及说明书所作的简单的等效变化与修改，皆仍属本发明专利涵盖的范围内。另外本发明的任一实施例或权利要求不须达成本发明所揭露的全部目的或优点或特点。此外，摘要部分和发明名称仅是用来辅助专利文件检索之用，并非用来限制本发明的权利范围。此外，本说明书或权利要求书中提及的“第一”、“第二”等用语仅用以命名元件(element)的名称或区别不同实施例或范围，而并非用来限制元件数量上的上限或下限。

附图标记

100：投影装置

200：齿隙检测系统

110：镜头模块

112：定位片

1122：遮挡片

114：齿轮结构

1142、1222：齿片

116：镜筒

118：光学镜组

120：马达模块

122：传动齿轮

124：马达

130：定位模块

132：光线

140：控制器

144：计数器

A、B：接触点

d1、d2：齿隙

D1：逆时针方向

D2：顺时针方向

IM：画面

OA：光轴

PS：定位信号

PSB：信号转态边缘区段

t1、t2、t3、t4、t5、t6、t7：时间点

Vref1：第一阀值

Vref2：第二阀值

S710～S7140：齿隙检测方法的步骤

Claims (21)

1.一种投影装置，其特征在于，所述投影装置包括：

镜头模块，包括：镜筒、定位片、齿轮结构与光学镜组，其中所述齿轮结构与所述定位片分别环设于所述镜筒的外部的相对侧，以所述镜筒的光轴为转动轴，所述光学镜组配置于所述镜筒内，其中当所述齿轮结构转动时，所述光学镜组相应地沿着所述镜筒的所述光轴移动，所述定位片也相对于所述齿轮结构而转动；

马达模块，包括传动齿轮，其中所述传动齿轮啮合于所述齿轮结构以带动所述齿轮结构转动；

定位模块，配置于所述定位片旁边，用于测量所述定位片的转动以产生定位信号；以及

控制器，电连接所述马达模块与所述定位模块，所述控制器控制所述马达模块以驱动所述传动齿轮，且接收所述定位信号，根据所述定位信号计算所述传动齿轮与所述齿轮结构之间的齿隙。

2.如权利要求1所述的投影装置，其中，所述控制器比对所述定位信号的准位与参考阀值以判断所述定位信号是处在第一状态或第二状态；以及

当所述齿轮结构沿第一方向转动，所述控制器接收所述定位信号，并判断所述定位信号的状态改变时，所述控制器控制所述马达模块的所述传动齿轮以使所述齿轮结构的转动方向从所述第一方向改成第二方向，且所述控制器开始进行计数。

3.如权利要求2所述的投影装置，其中，所述参考阀值包括第一阀值与第二阀值，且所述第一阀值大于所述第二阀值；以及

当所述定位信号的准位高于所述第一阀值时，所述控制器判断所述定位信号处于所述第一状态，且当所述定位信号的准位低于所述第二阀值时，所述控制器判断所述定位信号处于所述第二状态。

4.如权利要求2所述的投影装置，其中，当所述控制器判断所述定位信号的状态再度改变时，所述控制器停止计数并根据目前的计数结果产生对应于所述第二方向的所述齿隙。

5.如权利要求4所述的投影装置，其中，所述控制器控制所述马达模块以使所述齿轮结构的转动方向从所述第二方向改成所述第一方向，且重新开始计数。

6.如权利要求5所述的投影装置，其中，当所述齿轮结构的转动方向改成所述第一方向后，所述控制器判断所述定位信号的状态改变时，所述控制器停止计数并根据目前的计数结果产生对应于所述第一方向的所述齿隙。

7.如权利要求1所述的投影装置，其中，所述定位片具有多个遮挡片，所述控制器针对每一个所述遮挡片取得至少一组所述齿隙，并以所述多个遮挡片的齿隙平均值作为所述传动齿轮与所述齿轮结构之间的平均齿隙。

8.如权利要求1所述的投影装置，其中，其中所述齿轮结构与所述传动齿轮的其中之一具有多个第一齿片，所述齿轮结构与所述传动齿轮的其中另一具有多个第二齿片，所述齿隙是指所述多个第一齿片的其中一个啮合于所述多个第二齿片的相邻其中两个之间的空隙。

9.如权利要求8所述的投影装置，其中，所述多个遮挡片的宽度不完全相同，所述多个遮挡片之间的间距也不完全相同。

10.如权利要求1所述的投影装置，其中，所述定位模块包括光遮断装置。

11.一种齿隙检测系统，包括：

齿轮结构；

马达模块，包括传动齿轮，其中所述传动齿轮啮合于所述齿轮结构以带动所述齿轮结构转动；

定位片，表面具有多个遮挡片，对应于所述齿轮结构而配置且随所述齿轮结构的转动而移动或转动；

定位模块，配置于所述定位片旁边，用于测量所述定位片的转动或移动以产生定位信号；以及

控制器，电连接所述马达模块与所述定位模块，所述控制器控制所述马达模块以驱动所述传动齿轮，且接收所述定位信号，根据所述定位信号计算所述传动齿轮与所述齿轮结构之间的齿隙。

12.如权利要求11所述的齿隙检测系统，其中，所述控制器比对所述定位信号的准位与参考阀值以判断所述定位信号是处在第一状态或第二状态；以及

当所述齿轮结构沿第一方向转动，且所述控制器接收所述定位信号，并判断所述定位信号的状态改变时，所述控制器控制所述马达模块的所述传动齿轮以使所述齿轮结构的转动方向从所述第一方向改成第二方向，且所述控制器开始进行计数。

13.如权利要求12所述的齿隙检测系统，其中，所述参考阀值包括第一阀值与第二阀值，且所述第一阀值大于所述第二阀值；以及

当所述定位信号的准位高于所述第一阀值时，所述控制器判断所述定位信号处于所述第一状态，且当所述定位信号的准位低于所述第二阀值时，所述控制器判断所述定位信号处于所述第二状态。

14.如权利要求12所述的齿隙检测系统，其中，当所述控制器判断所述定位信号的状态再度改变时，所述控制器停止计数并根据目前的计数结果产生对应于所述第二方向的所述齿隙。

15.如权利要求14所述的齿隙检测系统，其中，所述控制器控制所述马达模块以使所述齿轮结构的转动方向从所述第二方向改成所述第一方向，且重新开始计数。

16.如权利要求15所述的齿隙检测系统，其中，当所述齿轮结构的转动方向改成所述第一方向后，所述控制器判断所述定位信号的状态改变时，所述控制器停止计数并根据目前的计数结果产生对应于所述第一方向的所述齿隙。

17.如权利要求11所述的齿隙检测系统，其中，所述控制器针对每一个所述遮挡片取得至少一组所述齿隙，并以所述多个遮挡片的齿隙平均值作为所述传动齿轮与所述齿轮结构之间的平均齿隙。

18.如权利要求11所述的齿隙检测系统，其中，所述齿轮结构与所述传动齿轮的其中之一具有多个第一齿片，所述齿轮结构与所述传动齿轮的其中另一具有多个第二齿片，所述齿隙是指所述多个第一齿片的其中一个啮合于所述多个第二齿片的相邻其中两个之间的空隙。

19.如权利要求11所述的齿隙检测系统，其中，所述定位模块包括光遮断装置。

20.一种齿隙检测方法，用于齿隙检测系统，其特征在于所述齿隙检测系统包括齿轮结构、与所述齿轮结构啮合的传动齿轮、与所述齿轮结构对应配置且具有多个遮挡片的定位片以及配置于所述定位片旁的定位模块，所述方法包括：

所述齿轮结构被所述传动齿轮带动以沿第一方向转动，且所述定位片随所述齿轮结构的转动而移动或转动；

通过所述定位模块测量所述定位片的转动或移动以产生定位信号；

比对所述定位信号的准位与参考阀值以判断所述定位信号是处在第一状态或第二状态；

当判断所述定位信号的状态改变时，控制所述传动齿轮以使所述齿轮结构的转动方向从所述第一方向改成第二方向，且开始进行计数；以及

当所述定位信号的状态再度改变时，停止计数并根据目前的计数结果产生对应于所述第二方向的所述齿隙。

21.如权利要求20所述的检测方法，其中当所述定位信号的状态再度改变时，停止计数并根据目前的计数结果产生对应于所述第二方向的所述齿隙的步骤还包括：

使所述齿轮结构的转动方向从所述第二方向改成所述第一方向，且重新开始计数；以及

当所述齿轮结构的转动方向改成所述第一方向后，判断所述定位信号的状态改变时，停止计数并根据目前的计数结果产生对应于所述第一方向的所述齿隙。