CN110160752B - 一种光源测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种光源测试装置，包括：快切载体；其中，快切载体的承载面包括光学透镜连接点和光源吸附导电连接点；快切载体内还包括磁性吸附结构；待测试光学透镜通过光学胶粘附在光学透镜连接点；光学胶在预设光照下粘附失效；磁性吸附结构将待测试光源的电极磁性吸附在光源吸附导电连接点上。本发明提供的光源测试装置，在光学方案调整时可以实现光源和光学透镜的快速切换，降低验证成本、缩短验证周期，此外，切换下来的光源没有损坏，还可以重复使用。

Description

一种光源测试装置
技术领域
本发明实施例涉及测试技术领域，尤其涉及一种光源测试装置。
背景技术
传统的背光方案调整需要制作背板腔体手板，且需要蚀刻背光方案对应的PCB基板，通过表面组装技术或手动固化方式将光源LED和光学透镜LENS固定到对应的PCB基板上，当原有的光源搭配不能满足设计要求时，需要重新蚀刻新的PCB基板，固化新的光源LED和光学透镜LENS搭配测试，以上验证方式重复多次，才能最终锁定光学方案。按照以上的验证方式，每个光学方案至少需要调整3次，每次都需要定制新的背光方案背板腔体手板的费用为1000元、刻蚀PCB基板及固定光源LED和光学透镜LENS的费用为800元～1000元，制作周期为5天～7天。由以上数据可以算出每套成熟的背光方案锁定至少需要的周期为15天～21天，方案调整的样品费用为3400元～4000元。因此，传统的背光方案验证方式存在成本高、耗时长等弊端。
发明内容
本发明提供了一种光源测试装置，实现了光学方案调整时光源和光学透镜的快速切换，降低了光学方案的验证成本、缩短了验证周期。
第一方面，一种光源测试装置，该光源测试装置包括：快切载体；
其中，所述快切载体的承载面包括光学透镜连接点和光源吸附导电连接点；
所述快切载体内还包括磁性吸附结构；
待测试光学透镜通过光学胶粘附在所述光学透镜连接点；所述光学胶在预设光照或加热条件下粘附失效；所述磁性吸附结构将待测试光源的电极磁性吸附在所述光源吸附导电连接点上。
可选的，所述光源测试装置还包括滑轨，所述快切载体位于所述滑轨上，且与所述滑轨电连接；所述滑轨与外部供电载体导轨电连接；所述滑轨卡合设置在所述外部供电载体导轨上，且沿所述外部供电载体导轨滑动。
可选的，所述快切载体包括第一电路，所述滑轨包括第二电路，所述第一电路分别与所述光源吸附导电连接点以及所述第二电路电连接。
可选的，所述第一电路在与所述第二电路连接的一端设置有第一焊盘；所述第二电路在与所述第一电路连接的一端设置有第二焊盘；所述第一焊盘和所述第二焊盘磁性吸附且电连接。
可选的，所述滑轨还包括弹簧触点，所述外部供电载体导轨中设置有第三电路，所述滑轨通过所述弹簧触点和所述第三电路电连接。
可选的，所述快切载体的承载面还设置有反射层；所述反射层设置有镂空结构，所述镂空结构露出光学透镜连接点和光源吸附导电连接点。
可选的，所述快切载体还包括金属衬垫，所述金属衬垫位于所述光源吸附导电连接点与所述快切载体的承载面之间；所述光源吸附导电连接点通过所述金属衬垫与所述第一电路电连接。
可选的，所述金属衬垫为铜箔。
可选的，所述快切载体包括绝缘层和磁性基板；所述绝缘层设置于所述金属衬垫和所述磁性基板之间，所述磁性基板复用为所述磁性吸附结构。
可选的，所述快切载体包括绝缘主体，所述磁性吸附结构设置在所述绝缘主体内。
本发明提供的光源测试装置包括快切载体，快切载体上设置有光学透镜连接点和光源吸附导电连接点，快切载体内还包括磁性吸附结构，待测试的光学透镜头通过光学胶粘附在光学透镜连接点，待测试光源的电极通过磁性吸附结构与光源吸附导电连接点连接，待一次光学方案测试完成后，通过光照或者加热的方式使光学胶失效，实现待测试光学透镜切换，待测试光源由于采用磁性结构，可以方便的实现切换，实现了光学方案调整时待测试光源和待测试光学透镜的快速切换，且下一个光学方案测试时，不需要重新刻蚀PCB版，且切换下来的光源和光学透镜可重复使用，降低了光学方案的验证成本、缩短了验证周期。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种光学测试装置的示意图；
图2是本发明实施例提供的快切载体的承载面示意图；
图3为本发明实施例提供的一种快切载体的结构示意图；
图4为本发明实施例提供的另一种快切载体的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
图1为本发明实施提供的一种光源测试装置的示意图，图2为本发明实施例提供的快切载体的承载面示意图，如图1及图2所示，该光源测试装置包括：快切载体101；
其中，快切载体101的承载面包括光学透镜连接点102和光源吸附导电连接点103；
快切载体101内还包括磁性吸附结构；
待测试光学透镜104通过光学胶粘附在光学透镜连接点102；光学胶在预设光照或者加热条件下粘附失效；磁性吸附结构将待测试光源105的电极磁性吸附在光源吸附导电连接点103上。
需要说明的是光源吸附导电连接点103分为正极吸附导电连接点110和负极吸附导电连接点111，正极吸附导电连接点110和负极吸附导电连接点111分别与待测试光源105的正电极和负电极通过快切载体101内的磁性吸附结构(图1中未示出)对应吸附电连接。光学透镜连接点102设置在快切载体101承接面上，光学透镜连接点102的位置与待测试光学透镜104的固定脚的位置对应设置。
本发明实施例通过光学胶实现待测试光学透镜和光学透镜连接点的连接，该光学胶预设光照或加热条件下失效，附着力明显下降，易剥离，从而实现光学透镜的快速切换，快切载体内设置有磁性吸附结构，用来使待测试光源的电极和光源吸附导电连接点实现磁性吸附电连接，磁性吸附的连接方式灵活方便，待一次测试完成后，容易快速切换下一个测试光源，且不会对测试光源造成损坏，更换下来的光源可以重复利用。且光学透镜连接点和光源吸附导电连接点的固定位置易调整，可以兼容多种光学透镜和多种光源，大大方便了该光学测试装置的应用范围。
可选的，继续参见图1，光源测试装置还包括滑轨106，快切载体101位于滑轨106上，且与滑轨106电连接；滑轨106与外部供电载体导轨电连接；滑轨106卡合设置在外部供电载体导轨上，且沿外部供电载体导轨滑动。
本发明实施例提供的光源测试装置还包括设置在快切载体101下方的滑轨106，滑轨106和快切载体101和外部供电载体导轨(图1中未示出)均电连接，使得快切载体101和外部供电载体导轨之间形成导电通路，进而利用外部供电载体导轨为设置在快切载体101上的待测试光源进行供电。此外滑轨106还可以沿着外部供电载体导轨滑动，从而实现待测试光源105沿外部供电载体导轨方向的间距调整，因此该光学测试装置不仅兼容多种光源及光学透镜，还可以实现待测试光源105之间间距的调整，使得该光学测试装置能实现多种光学方案的模拟，应用范围更广。
可选的，继续参见图1，快切载体101包括第一电路107，滑轨106包括第二电路108，第一电路107分别与光源吸附导电连接点103以及第二电路108电连接。
快切载体101和滑轨106通过第一电路107和第二电路108实现电连接，第一电路107和光源吸附导电连接点103之间电连接，进而实现对待测试光源105的供电。
可选的，第一电路107在与第二电路108连接的一端设置有第一焊盘；第二电路108在与第一电路107连接的一端设置有第二焊盘；第一焊盘和第二焊盘磁性吸附且电连接。
继续参见图1，圆圈处即为第一焊盘和第二焊盘所在的位置，第一焊盘设置在快切载体101远离光学透镜连接点102和光源吸附导电连接点103的一侧，第二焊盘设置在靠近快切载体101的一侧，第一焊盘和第二焊盘形状互补，第一焊盘和第二焊盘由于快切载体101中的磁性吸附结构吸附在一起，进而实现电连接。
可选的，滑轨106还包括弹簧触点109，外部供电载体导轨中设置有第三电路，滑轨106通过弹簧触点109和第三电路电连接。
滑轨106上设置的弹簧触点109具有伸缩性，便于滑轨106和外部供电载体导轨的对接和位置调整，此外通过弹簧触点109和第三电路直接接触实现电连接，由于弹簧的伸缩作用可以使得连接更牢固，避免虚接情况的发生，确保了供电通路的正常使用。
可选的，继续参见图2，快切载体101的承载面还设置有反射层；反射层设置有镂空结构，镂空结构露出光学透镜连接点102和光源吸附导电连接点103。
快切载体101的承载面上设置反射层(图中未示出)，可以提高快切载体101承载面的对待测试光源105发出的光的反射率，从而提高光线利用率，改善光学方案的出光效果。示例性的该反射层可以为一层高反白色油墨。
可选的，快切载体101还包括金属衬垫，金属衬垫位于光源吸附导电连接点103与快切载体101的承载面之间；光源吸附导电连接点103通过金属衬垫与第一电路107电连接。
金属衬垫起到了连接光源吸附导电连接点103和第一电路107的作用，第一电路107通过金属衬垫与光源吸附导电连接点电103连接与第一电路107直接与光源吸附导电连接点103电连接相比，金属衬垫与光源吸附导电连接点103的接触面更大，从而使得接触更稳定可靠，此外金属衬垫还可以对电路起到良好的散热作用。金属衬垫分为两部分设置，这两部分别与光源吸附导电连接点103的正极吸附导电连接点110和负极吸附导电连接点111对应相连，此外两部分之间互不连接，防止正极吸附导电连接点110和负极吸附导电连接点111短路。
可选的，金属衬垫为铜箔。
可选的，快切载体101包括绝缘层和磁性基板；绝缘层设置于金属衬垫和磁性基板之间，磁性基板复用为磁性吸附结构。
图3为本发明实施例提供的一种快切载体的结构示意图，如图3所示，金属衬垫201和磁性基板203之间设置有绝缘层202，绝缘层202是为了防止金属衬垫201和磁性基板203间电连接，从而使得电路发生短路。此外磁性基板203既起到了支撑的作用，也起到了磁性吸附结构的作用实现了对待测试光源105电极的吸附和第二焊盘的磁性吸附电连接作用，图3中加粗的部分103为光源吸附导电连接点所在的位置，204为第一焊盘，反射层205设置在金属衬垫201远离磁性基板203的表面，光学透镜连接点102贯穿反射层205、金属衬垫201，设置在绝缘层202上。此外由于图1中已经对第一电路107的位置进行了标注，所以图3中忽略了第一电路107。
可选的，快切载体101包括绝缘主体，磁性吸附结构设置在绝缘主体内。
示例性的快切载体101由绝缘主体和设置在绝缘主体内的磁性吸附结构组成，图4为本发明实施例提供另一种快切载体的结构示意图，如图4所示，磁性吸附结构302分别分布在靠近光源吸附导电连接点103和靠近第一焊盘204的位置附近，图中仅示例性的给出了磁性吸附结构302的分布位置和数量，但并不构成对本发明实施例的限定，实际使用时可以根据具体需求，合理安排磁性吸附结构302的分布和数量，只要能满足对待测试光源105电极和第二焊盘的磁性吸附即可，此外由于图1中已经对第一电路107的位置进行了标注，所以图3中忽略了第一电路107。
本发明实施例提供的光学测试装置，通过预设光照或加热可以失效的光学胶实现待测试光学透镜和光学透镜连接点的连接，当需要切换光学透镜时只需要采取措施使光学胶失效即可完成切换，而待测试光源和光源吸附导电连接点之间通过磁性吸附实现电连接，当需要切换光源时，只需要将吸附的待测试光源拿下里，即可完成切换，方便快捷，切换下来的光源没有损坏可以继续重复使用，这种光学测试装置降低了光学方案的验证成本、缩短了验证周期。此外，该光学测试装置包括滑轨，滑轨可以沿着外部供电载体导轨滑动，从而实现待测试光源沿外部供电载体导轨方向的间距调整，使得该光源测试装置能实现多种光学方案的模拟，应用范围更广泛。此外快切载体承载面的表面设置有一层发射层，可以提高快切载体承载面表面的反射率，从而提高待测试光源光线的利用率，改善待测试光源的出光效果。另外，快切载体承载面上的光学透镜连接点和光源吸附导电连接点的连接位置易调整，能实现多种光源和光学透镜的在快切载体上的兼容性。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (8)

1.一种光源测试装置，其特征在于，包括：快切载体；
其中，所述快切载体的承载面包括光学透镜连接点和光源吸附导电连接点，所述光学透镜连接点和所述光源吸附导电连接点的固定位置可调整；
所述快切载体内还包括磁性吸附结构；
待测试光学透镜通过光学胶粘附在所述光学透镜连接点；所述光学胶在预设光照或加热条件下粘附失效；所述磁性吸附结构将待测试光源的电极磁性吸附在所述光源吸附导电连接点上；
所述快切载体包括第一电路，所述第一电路与所述光源吸附导电连接点电连接，所述快切载体还包括金属衬垫，所述金属衬垫位于所述光源吸附导电连接点与所述快切载体的承载面之间；所述光源吸附导电连接点通过所述金属衬垫与所述第一电路电连接；
所述快切载体的承载面还设置有反射层；所述反射层设置有镂空结构，所述镂空结构露出光学透镜连接点和光源吸附导电连接点。
2.根据权利要求1所述的光源测试装置，其特征在于，还包括滑轨，所述快切载体位于所述滑轨上，且与所述滑轨电连接；所述滑轨与外部供电载体导轨电连接；所述滑轨卡合设置在所述外部供电载体导轨上，且沿所述外部供电载体导轨滑动。
3.根据权利要求2所述的光源测试装置，其特征在于，所述滑轨包括第二电路，所述第一电路与所述第二电路电连接。
4.根据权利要求3所述的光源测试装置，其特征在于，所述第一电路在与所述第二电路连接的一端设置有第一焊盘；所述第二电路在与所述第一电路连接的一端设置有第二焊盘；所述第一焊盘和所述第二焊盘磁性吸附且电连接。
5.根据权利要求2所述的光源测试装置，其特征在于，所述滑轨还包括弹簧触点，所述外部供电载体导轨中设置有第三电路，所述滑轨通过所述弹簧触点和所述第三电路电连接。
6.根据权利要求1所述的光源测试装置，其特征在于，所述金属衬垫为铜箔。
7.根据权利要求1所述的光源测试装置，其特征在于，所述快切载体包括绝缘层和磁性基板；所述绝缘层设置于所述金属衬垫和所述磁性基板之间，所述磁性基板复用为所述磁性吸附结构。
8.根据权利要求1所述的光源测试装置，其特征在于，所述快切载体包括绝缘主体，所述磁性吸附结构设置在所述绝缘主体内。
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Denomination of invention: A light source testing device

Effective date of registration: 20221101

Granted publication date: 20220419

Pledgee: Jiangsu Kunshan Rural Commercial Bank Co.,Ltd.

Pledgor: JIANGSU ECHOM SCIENCE & TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Registration number: Y2022320010635