CN102767806A - 出光模拟治具 - Google Patents
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Abstract
本发明关于一种出光模拟治具,该出光模拟治具包括电源、复数个灯座、基板、导线;电源为该出光模拟治具供电;复数个灯座用以放置发光二极管;基板用以承载该复数个灯座;导线连接该复数个灯座以及该电源与该复数个灯座;其中,该复数个灯座在该基板上可任意变换排布位置,以模拟不同的出光效果。本发明提供的出光模拟治具将发光二极管固定于灯座上,通过改变灯座在基板上的位置关系以及复数个灯座之间不同的串并联连接关系,实现不同的出光效果,具有通用性。
Description
技术领域
本发明关于一种出光模拟治具,特别是有关于一种可灵活模拟多种灯条出光的治具。
背景技术
在背光领域,对光学均匀性的要求比较高,现有技术中,主要是通过表面贴装技术(SMT,Surface Mounted Technology)将发光二极管灯贴或焊在印刷电路板(PCB)上,再通过测量导光板上9处或者13处位置的光学性能,并判断这9处或者13处的光学均匀性。
目前的测量方法在测量前需要将发光二极管灯贴或者焊至印刷电路板形成光条,当需要不同形式的出光效果时,只能更换新的光条,因此不具有通用性。
发明内容
针对上述问题,本发明提供一种出光模拟治具,该出光模拟治具包括:电源、复数个灯座、基板、导线;电源为该出光模拟治具供电;复数个灯座用以放置发光二极管;基板用以承载该复数个灯座;导线连接该复数个灯座以及该电源与该复数个灯座;其中,该复数个灯座在该基板上可任意变换排布位置,以模拟不同的出光效果。
根据上述的出光模拟治具,该灯座包括:两个导电端及绝缘层;两个导电端分别与该发光二极管的正负电极相连;绝缘层设置于该两个导电端下面,用以承载该发光二极管,并使该两个导电端之间绝缘。
根据上述的出光模拟治具,该复数个灯座的绝缘层下方设置有磁铁,该基板为铁材质或磁铁,该复数个灯座吸附于该基板上。
根据上述的出光模拟治具,该复数个灯座的绝缘层下方设置有铁块,该基板为磁铁,该复数个灯座通过该铁块与基板吸附。
根据上述的出光模拟治具,该灯座的该导电端设置有弹簧针,用以固定不同尺寸的发光二极管。
根据上述的出光模拟治具,该弹簧针可导电。
根据上述的出光模拟治具,该基板上设置有刻度,用以精确调整该复数个灯座的位置。
根据上述的出光模拟治具,该导线连接该复数个灯座,可使该复数个灯座串联、并联或者串并联结合。
本发明另提供一种光学测试系统,该光学测试系统包含上述的出光模拟治具,该光学测试系统还包含:导光板及光学分析系统;导光板设置于出光模拟治具上方;光学分析系统设置于导光板上方,用以采集光学信号并进行光学分析。
根据上述的光学测试系统,该光学分析系统包含:光学镜头及电脑主机;光学镜头用以采集光学信号;电脑主机,用以对光学镜头采集的光学信号进行光学分析。
本发明提供的出光模拟治具,将发光二极管固定于灯座上,通过改变灯座在基板上的位置关系,实现不同的出光效果;同时,本发明提供的出光模拟治具通过导线对灯座进行串联、并联或者串并联等不同的连接方式模拟连接方式对出光效果的影响,同样可实现不同的出光效果,综上所述,本发明提供的出光模拟治具可通过改变灯座排布方式及灯座连接方式模拟不同的出光效果,具有通用性。
附图说明
图1为本发明出光模拟治具的示意图;
图2为本发明灯座示意图;
图3为本发明光学测试系统示意图。
具体实施方式
为使对本发明的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解,兹配合实施例详细说明如下。
参见图1和图2,图1为出光模拟治具的示意图,图2为本发明灯座示意图;该出光模拟治具10包括:电源1、复数个灯座2、基板3、导线4;电源1为出光模拟治具10供电;复数个灯座2用以放置发光二极管20;基板3用以承载复数个灯座2;导线4连接复数个灯座2以及电源1与复数个灯座2;其中,复数个灯座2在基板3上可任意变换排布位置,以模拟不同的出光效果。
进一步地,导线4连接上述复数个灯座2,使其能够以串联、并联或者串并联结合的方式进行电性连接,另外,电源1通过导线4连接至复数个灯座2并为设置于灯座2上方的发光二极管20提供电力。通过导线4对复数个灯座2连接,可方便变换复数个灯座2之间的连接关系,模拟不同连接关系时复数个发光二极管20的出光效果,具有通用性。
继续参见图2,灯座2包括两个导电端21及绝缘层22;绝缘层22设置于两个导电端21的下方,使两个导电端21之间绝缘,并与两个导电端21形成容置空间,用以承载发光二极管20;发光二极管20的正负电极分别与两个导电端21连接,通过两个导电端21和导线4与其他发光二极管电性连接,并通过两个导电端21和导线4与电源1相连。
进一步地,灯座2还包括弹簧针24,设置于导电端21上,用以固定不同尺寸的发光二极管20,本发明不限定弹簧针24设置于其中某一个导电端21,例如,亦可在两个导电端21都设置弹簧针24。另外,本发明中弹簧针24可导电,导电端21可通过导电的弹簧针24与发光二极管20的电极电性连接。
进一步地,灯座2还包括基底23,基底23可为磁铁或铁块,当基底23为磁铁时,基板3为铁材质或磁铁,灯座2通过基底23的磁铁吸附于基板3上;当基底23为铁块时,基板3为磁铁,灯座2通过基底23的铁块与基板3吸附。本发明通过磁铁与铁块或者磁铁与磁铁吸附的方式将灯座2固定于基板3上,可方便调整灯座2在基板3上的位置,并可在调整位置后方便地对其固定。
进一步地,基板3上设置有刻度,用以精确调整复数个灯座2的位置,本发明不限定上述刻度的形式,只要能够满足精确调整灯座2的位置即可。例如,上述刻度可为多个同心圆形式,并且在每个圆上设置角度标记,可以以10度或20度为单位设置该角度标记;上述刻度亦可为多个同心设置的矩形形式,在每个矩形的四边设置有以1厘米为单位的距离标记;再例如,上述刻度亦可为多条平行的直线形式,并且在每条直线上以1厘米为单位做距离标记;总而言之,本发明对于基板3上刻度的形式不做任何限定。
参见图3,为本发明光学测试系统示意图,该光学测试系统包含出光模拟治具10、导光板11及光学分析系统12;导光板11设置于出光模拟治具10的上方;光学分析系统12设置于导光板11的上方,用以采集出光模拟治具10通过导光板11的光学信号并进行光学分析。
根据上述的光学测试系统,该光学分析系统12包含:光学镜头13及电脑主机14;光学镜头13用以采集出光模拟治具10通过导光板11的光学信号,一般通过量测导光板11上9点或13点的光学性能来评判不同的发光二极管排布方式及连接关系对出光均匀性的影响;电脑主机14可对光学镜头13采集的光学信号进行光学分析,包括对上述9点或13点的色度和亮度的分析,现以9点为例,并结合常用的判定色度和亮度均匀性的公式进行说明:
其中,X、Y用于判定色度均匀性,分别指“舌形图”中的横坐标和纵坐标,Xmax、Xmin、分别为9点中横坐标的最大值、最小值和平均值,Ymax、Ymin、分别为9点中纵坐标的最大值、最小值和平均值;IV是用于判定亮度均匀性的值,IVmax、IVmin、分别为9点中亮度的最大值、最小值和平均值;一般业界常使用的判定标准为:若色度均匀性满足使用要求时X、Y的值须均小于3.0%,而亮度均匀性满足使用要求时IV的值要小于15.0%。
上述本发明提供的出光模拟治具,将发光二极管固定于灯座上,通过改变灯座在基板上的位置关系,实现不同的出光效果;同时,本发明提供的出光模拟治具通过导线对灯座进行串联、并联或者串并联等不同的连接方式模拟连接方式对出光效果的影响,同样可实现不同的出光效果,综上所述,本发明提供的出光模拟治具可通过改变灯座排布方式及灯座连接方式模拟不同的出光效果,具有通用性。
本发明已由上述相关实施例加以描述,然而上述实施例仅为实施本发明的范例。必需指出的是,已揭露的实施例并未限制本发明的范围,在不脱离本发明的精神和范围内所作的更动与润饰,均属本发明的专利保护范围。
Claims (10)
1.一种出光模拟治具,其特征在于,该出光模拟治具包括:
电源,为该出光模拟治具供电;
复数个灯座,用以放置发光二极管;
基板,用以承载该复数个灯座;及
导线,连接该复数个灯座以及该电源与该复数个灯座;
其中,该复数个灯座在该基板上可任意变换排布位置,以模拟不同的出光效果。
2.根据权利要求1所述的出光模拟治具,其特征在于,该灯座包括:
两个导电端,分别与该发光二极管的正负电极相连;及
绝缘层,设置于该两个导电端下面,用以承载该发光二极管,并使该两个导电端之间绝缘。
3.根据权利要求2所述的出光模拟治具,其特征在于,该复数个灯座的绝缘层下方设置有磁铁,该基板为铁材质或磁铁,该复数个灯座吸附于该基板上。
4.根据权利要求2所述的出光模拟治具,其特征在于,该复数个灯座的绝缘层下方设置有铁块,该基板为磁铁,该复数个灯座通过该铁块与该基板吸附。
5.根据权利要求1所述的出光模拟治具,其特征在于,该灯座的该导电端设置有弹簧针,用以固定不同尺寸的发光二极管。
6.根据权利要求5所述的出光模拟治具,其特征在于,该弹簧针可导电。
7.根据权利要求1所述的出光模拟治具,其特征在于,该基板上设置有刻度,用以精确调整该复数个灯座的位置。
8.根据权利要求1所述的出光模拟治具,其特征在于,该导线连接该复数个灯座,可使该复数个灯座串联、并联或者串并联结合。
9.一种光学测试系统,其特征在于,该光学测试系统包含权利要求1-8任意一项所述的出光模拟治具,该光学测试系统还包含:
导光板,设置于出光模拟治具上方;以及
光学分析系统,设置于该导光板上方,用以采集光学信号并进行光学分析。
10.根据权利要求9所述的光学测试系统,其特征在于,该光学分析系统包含:
光学镜头,用以采集光学信号;及
电脑主机,用以对该光学镜头采集的光学信号进行光学分析。
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PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20121107 |