CN104076297A - 一种led灯老化测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种LED灯老化测试装置,用于电连接外界电源和引脚式LED灯,以模拟所述引脚式LED灯的老化过程,所述LED灯老化测试装置包括箱体、及均设于所述箱体上的电位器、正极连接器、多个LED灯插孔和负极连接器,所述负极连接器与所述LED灯插孔对应设置;所述正极连接器用于连接所述电源的正极与所述电位器的第一端,所述电位器的第二端依次串联多个所述LED灯插孔和一个所述负极连接器,所述负极连接器用于电连接所述电源的负极。采用该LED灯老化测试装置,结构简单,成本低廉,可同时对多颗LED灯进行老化测试,效率高。
Description
技术领域
本发明涉及照明领域,尤其涉及一种LED灯老化测试装置。
背景技术
引脚式LED作为一种指示灯,因其节能环保、成本低、发射光在空气中穿透力强等特点,在各个行业应用非常广泛。在LED灯发光工作时,由于荧光粉、芯片及其他因素导致LED灯发光效率降低,此现象为LED灯的老化。
现有LED灯老化测试装置为,人工连接电源至LED灯的正负极上,保持LED灯恒流通电。该种装置每次只能测试一个LED灯,测试效率低。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于,提供一种LED灯老化测试装置,可提高测试效率。
为了解决上述技术问题,本发明实施例提供了一种LED灯老化测试装置,用于电连接外界电源和引脚式LED灯,以模拟所述引脚式LED灯的老化过程,所述LED灯老化测试装置包括箱体、及均设于所述箱体上的电位器、正极连接器、多个LED灯插孔和负极连接器,所述负极连接器与所述LED灯插孔对应设置;
所述正极连接器用于连接所述电源的正极与所述电位器的第一端,所述电位器的第二端依次串联多个所述LED灯插孔和一个所述负极连接器,所述负极连接器用于电连接所述电源的负极。
其中,所述箱体包括相邻的第一侧面和第二侧面;所述第一侧面开设容置所述电位器的卡槽、容置所述正极连接器的滑槽及容置所述LED灯引脚的多个所述LED灯插孔;所述第二侧面开设用于容置所述电源正极的正极接线孔,和多个容置所述负极连接器的负极通孔。
其中,所述电位器适配固定于所述卡槽内,所述电位器的第一端电连接至所述正极连接器,所述电位器的第二端电连接至所述LED灯插孔。
其中,所述正极连接器适配设于所述滑槽内,且包括按扣、压线金属块及弹性件;
所述按扣呈长条块状,且滑动设置于所述滑槽中,所述按扣包括滑动方向上相对的第一端和第二端,所述第一端位于所述滑槽外,所述第二端位于所述滑槽内,所述按扣开设与所述正极接线孔相对应配合的连接孔,所述连接孔与所述正极接线孔相互平行;
所述压线金属块固定于所述正极接线孔边缘且抵靠于所述连接孔的孔壁,所述压线金属块与所述电位器的第一端电连接;
所述弹性件设于所述滑槽内并与所述按扣连接。
其中,所述弹性件的两端分别抵靠于所述按扣的第二端端面及所述滑槽的槽底面,所述滑槽的槽底面与第二端端面相对设置。
其中,所述弹性件为压簧,压缩设置在所述滑槽内。
其中,多个LED灯插孔依次串联,所述LED灯插孔用于对应连接LED灯的正负极引脚,以对LED灯进行恒流通电老化测试。
其中,多个所述负极连接器均适配固定于对应的所述负极通孔内,且电连接至对应的所述LED灯的负极插孔。
其中,所述负极连接器为负极接线柱,所述负极接线柱适配固定于对应的所述负极通孔内。
其中,所述电连接包括导线连接。
本发明实施例的所述LED灯老化测试装置,结构简单,成本低廉,可同时对多颗LED灯进行老化测试,效率高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例的LED灯老化测试装置结构示意图;
图2是本发明实施例的LED灯老化测试装置电路连接框图;
图3是本发明实施例的正极连接器的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
下面参考附图对本发明的实施例进行描述。参见图1,为本发明中一种LED灯老化测试装置100的结构示意图。
一种LED灯老化测试装置100,用于电连接外界电源(图中未标示)和引脚式LED灯,以模拟引脚式LED灯(图中未标示)的老化过程,包括箱体1、及均设于箱体1上的电位器2、正极连接器3、多个LED灯插孔4和负极接线柱5。
箱体1呈中空长条状,包括相邻的第一侧面和第二侧面。第一侧面面开设容置电位器2的卡槽(图中未标示)、容置正极连接器3的滑槽11及容置LED灯引脚的多个LED灯插孔4。第二侧面开设用于容置电源正极的正极接线孔31,和多个容置负极接线柱5的负极通孔(图中未标示)。
电位器2适配固定于卡槽内,电位器2的第一端电连接至正极连接器3,电位器2的第二端电连接至LED灯插孔4。
参见图2和图3,正极连接器3适配设于滑槽11内,且用于连接电源的正极与电位器2的第一端,电位器2的第二端依次串联多个LED灯插孔4和一个负极接线柱5,负极接线柱5电连接至电源的负极。
正极连接器3包括按扣32、压线金属块33及压簧34。
按扣32呈长方体块状,滑动设置于滑槽11中。按扣32包括滑动方向上相对的第一端321和第二端322,第一端321位于滑槽11外,第二端322位于滑槽11内,以便于手动操作滑动按扣32。按扣32开设与正极接线孔31相对应配合的连接孔323,正极接线孔31与连接孔323的相互平行且垂直于按扣32的滑动方向。
压线金属块33固定于正极接线孔31边缘且抵靠于连接孔323的孔壁,压线金属块33与电位器2的第一端电连接;
压簧34设置在滑槽11内并与按扣32连接,用于限制正极接线孔31与连接孔323对应连通。具体地,压簧34的两端分别抵靠于按扣32的第二端322端面及滑槽11的槽底面,槽底面与第二端322端面相对设置,以便于装配连接。在其他实施方式中,压簧34可采用扭簧等其他形式的弹性件,以给按扣32提供弹力。
按压按扣32的第一端321使按扣32向滑槽11内滑动,压簧34压缩,连接孔323与正极接线孔31连通,将电源正极的导线贯穿插入正极接线孔31及连接孔323。松开按扣32,在压簧34弹力作用下将正极接线孔31与连接孔323错位,导线压紧在正极接线孔31与压线金属块33之间,从而可将导线夹持固定。压线金属块33与电源正极的导线接触电连接,进而可使得导线与电位器2电连接。同时,利用压线金属块33可以防止按扣32从滑槽11中脱出。利用该正极连接器3可便于LED灯老化测试装置100与电源正极导线的连接。
多个LED灯插孔4依次串联,LED灯插孔4用于对应连接LED灯的正负极引脚,以对LED灯进行恒流通电老化测试。
多个负极接线柱5均适配固定于对应的负极通孔内,且电连接至对应的LED灯的负极插孔。负极接线柱5可采用导线或其他负极连接器,以电连接LED灯插孔4与电源的负极。
本实施方式中,电连接均为导线连接。在其他实施方式中,电连接还还可为导电体连接或其他电性连接方式。
本发明实施例中,同时插入多颗LED灯至LED灯插孔4中,连接电源正极于正极接线孔31,按扣32卡紧以连接电源的正极与正极连接器3,连接电源负极于末端LED灯对应的负极接线柱5上。而后接通电源,调节电位器2使之达到LED灯老化测试所需电流,保持流经引脚式LED灯的电流恒定预设时间,从而模拟进行LED灯的老化测试,进而测试其光衰特性。
本发明实施例的LED灯老化测试装置100,结构简单,成本低廉,可同时对多颗LED灯进行老化测试,效率高。
以上所述的实施方式,并不构成对该技术方案保护范围的限定。任何在上述实施方式的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等,均应包含在该技术方案的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种LED灯老化测试装置,用于电连接外界电源和引脚式LED灯,以模拟所述引脚式LED灯的老化过程,其特征在于,所述LED灯老化测试装置包括箱体、及均设于所述箱体上的电位器、正极连接器、多个LED灯插孔和负极连接器,所述负极连接器与所述LED灯插孔对应设置;
所述正极连接器用于连接所述电源的正极与所述电位器的第一端,所述电位器的第二端依次串联多个所述LED灯插孔和一个所述负极连接器,所述负极连接器用于电连接所述电源的负极。
2.如权利要求1所述的LED灯老化测试装置,其特征在于,所述箱体包括相邻的第一侧面和第二侧面;所述第一侧面开设容置所述电位器的卡槽、容置所述正极连接器的滑槽及容置所述LED灯引脚的多个所述LED灯插孔;所述第二侧面开设用于容置所述电源正极的正极接线孔,和多个容置所述负极连接器的负极通孔。
3.如权利要求2所述的LED灯老化测试装置,其特征在于,所述电位器适配固定于所述卡槽内,所述电位器的第一端电连接至所述正极连接器,所述电位器的第二端电连接至所述LED灯插孔。
4.如权利要求2所述的LED灯老化测试装置,其特征在于,所述正极连接器适配设于所述滑槽内,且包括按扣、压线金属块及弹性件;
所述按扣呈长条块状,且滑动设置于所述滑槽中,所述按扣包括滑动方向上相对的第一端和第二端,所述第一端位于所述滑槽外,所述第二端位于所述滑槽内,所述按扣开设与所述正极接线孔相对应配合的连接孔,所述连接孔与所述正极接线孔相互平行;
所述压线金属块固定于所述正极接线孔边缘且抵靠于所述连接孔的孔壁,所述压线金属块与所述电位器的第一端电连接;
所述弹性件设于所述滑槽内并与所述按扣连接。
5.如权利要求4所述的LED灯老化测试装置,其特征在于,所述弹性件的两端分别抵靠于所述按扣的第二端端面及所述滑槽的槽底面,所述滑槽的槽底面与第二端端面相对设置。
6.如权利要求5所述的LED灯老化测试装置,其特征在于,所述弹性件为压簧,压缩设置在所述滑槽内。
7.如权利要求2所述的LED灯老化测试装置,其特征在于,多个LED灯插孔依次串联,所述LED灯插孔用于对应连接LED灯的正负极引脚,以对LED灯进行恒流通电老化测试。
8.如权利要求5所述的LED灯老化测试装置,其特征在于,多个所述负极连接器均适配固定于对应的所述负极通孔内,且电连接至对应的所述LED灯的负极插孔。
9.如权利要求2所述的LED灯老化测试装置,所述负极连接器为负极接线柱,所述负极接线柱适配固定于对应的所述负极通孔内。
10.如权利要求1所述的LED灯老化测试装置,所述电连接包括导线连接。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN104076297A true CN104076297A (zh) | 2014-10-01 |
CN104076297B CN104076297B (zh) | 2017-03-01 |
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