CN202255835U - 一种光源老化寿命试验系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种光源老化寿命试验系统，包括温控箱、仪表箱和工控机箱，温控箱设置在仪表箱和工控机箱之间，其内部设置装夹被测光源的夹具和采集被测光源的光辐射信号的取样装置。本光源老化寿命试验系统可实现被测光源的光色热电等参数的测量，测量参数齐全，且配置灵活，被测光源的工作条件和数量可调控，可以满足多种不同测量场合的要求，适用范围广，性价比高。

Description

一种光源老化寿命试验系统

【技术领域】

本实用新型属于光辐射测量领域，具体涉及一种光源老化寿命试验系统。 

【背景技术】

近年来，LED等具有长寿命特点的新型光源不断涌现，如何准确评价此类新型光源的寿命特性成为研究的新热点。以最为典型的LED为例，新近发布的国际国内标准一致认为，加速寿命试验是正确评价LED可靠性和寿命的较好解决方案。 

目前对LED等新型光源的加速寿命试验都存在不同的缺陷，实验室阶段的试验，一次试验仅能测量数量较少的光源，不能满足工业产线上大规模的老化筛选、可靠性预测及寿命试验的要求；或者只能提供一种试验环境，灵活性差，不能满足不同测量标准的要求，适用范围窄且兼容性差，性价比低；或者只能监测被测光源的光、热、色、电等的某一种或几种参数，若同时需要测量上述参数，则需要不同的设备，测量复杂且成本高。 

【实用新型内容】

为了克服现有技术中存在的上述缺陷，本发明旨在提供测量参数齐全、适用范围广且成本低的光源寿命试验系统。 

为达到上述目的，本实用新型采用了以下技术方案： 

一种光源老化寿命试验系统，其特征在于，包括温控箱、仪表箱、工控机和工控机箱，所述的温控箱设置在仪表箱和工控机箱之间，所述的工控机设置在工控机箱的内部，所述的工控机与显示屏、键盘、鼠标等配件电连接，所述的显示屏、键盘、鼠标设置于温控箱的侧旁，用以操作和显示试验结果；所述温控箱内部设置装夹被测光源的夹具和采集被测光源的光辐射信号的取样装置。 

仪表箱内设置与取样装置相连接的测量被测光源光信号的测光仪表、为被测光源供电并监控其点亮或熄灭状态的电学仪表、以及监控被测光源温度的温度巡检仪，上述测量仪表均与工控机电连接；所述的仪表箱的数量为一个，测光仪表、电学仪表和温度巡检仪等不同的测量仪表设置在同一个仪表箱中；或者所述的仪表箱的数量为两个或两个以上，测光仪表、电学仪表和温度巡检仪可任意组合设置在不同的仪表箱中。通过将各种测量仪表集成到仪表箱中，单台测量系统即可实现被测光源的光色热电等参数的测量，测量方便且测量参数齐全。 

实际测量时，仅单个温控箱内就可以设置多个被测光源，被测光源被装夹在多路夹具上，且可以进一步通过设置多个温控箱扩展可测光源的数量，电学仪表为各个被测光源供电并监 控其电学参数的多路电源开关控制器；温度巡检仪为多路温度巡检仪，它监控各个被测光源的实时温度，并将温度数据传送至工控机；取样装置将各个被测光源的光信号传至测光仪表；测光仪表测量并分析各个被测光源的光信号，从而实现被测光源光、色、热、电等参数的测量，特别适用于工业生产中批量光源的老化筛选、可靠性预测和寿命试验等领域。 

作为优选，所述的温控箱的数量为两个或两个以上，其中一个温控箱设置在工控机箱和仪表箱之间，其他温控箱独立设置或者设置在两个仪表箱之间。例如：当温控箱的数量为两个时，仪表箱的数量为三个，其中一个温控箱设置在工控机箱和仪表箱之间，另外一个温控箱设置在其他两个仪表箱之间；当温控箱的数量为三个时，仪表箱的数量为三个，第一个温控箱设置在工控机箱和仪表箱之间，第二个温控箱设置在其他两个仪表箱之间，第三个温控箱独立设置；当温控箱的数量为三个时，仪表箱的数量为五个，第一个温控箱设置在工控机箱和仪表箱之间，第二个温控箱设置在其他两个仪表箱之间。 

当温控箱的数量为两个或两个以上时，在实际工作时，不同的温控箱可以设置相同的温控范围，或者不同的温控箱内设置的控制温度不同，这样可以最大限度地满足不同测量场合的要求，扩展性强，适用范围广。不同的温控箱可以实现的温控范围可能不同，一般情况下，光源在进行老化寿命试验时，需要的工作温度条件相同，则多个温控箱内设置的实际工作温度必须一致，才能实现多个光源的同时老化寿命试验，这种方式下，通过增加温控箱的数量，即可增加被测光源的数量；但是，如果需要比较被测光源在不同的工作温度条件下的老化试验情况，通过将不同温控箱内设置的实际控制温度不同，只需进行一次试验即可实现被测光源在不同工作温度条件下的老化寿命试验。 

作为优选，所述仪表箱上还可设置用于指示被测光源老化状态的指示灯，指示灯与电学仪表电连接。指示灯点亮则表示被测光源处于点燃老化状态，反之指示灯熄灭表示被测光源不处于老化状态。 

作为优选，所述的被测光源为LED光源。 

本实用新型通过设置灵活配置温控箱、仪表箱及其内部的测量仪表，实现被测光源的工作条件、数量、测量参数可调控，扩展性强，可以最大限度地满足多种不同测量场合的要求，适用范围广，性价比高；仅单台测量系统即可实现被测光源的光色热电等参数的测量，测量参数齐全。 

【附图说明】

附图1是实施例1的结构示意图； 

附图2是实施例2的结构示意图； 

附图3是实施例3的结构示意图； 

1-温控箱；2-仪表箱；3-工控机；4-工控机箱；5-被测光源；6-取样装置；7-夹具；8-测光仪表；9-电学仪表；9-1-供电电源；9-2-智能控制器；10-温度巡检仪；11-显示屏。 

【具体实施方式】

实施例1 

如图1所示为一种光源老化寿命试验系统的结构示意图。 

本实施例包括温控箱1、仪表箱2、工控机3和工控机箱4，温控箱1设置在工控机箱4和仪表箱2之间，工控机3设置在工控机箱4的内部，工控机3与显示屏11、键盘、鼠标电连接，显示屏11、键盘、鼠标设置于温控箱1的侧旁，用以操作和显示试验结果。 

本实施例中的被测光源5为LED光源，温控箱1内设置装载多个LED的多路夹具7和采集LED的光辐射信号的光纤6；仪表箱2内设置与光纤6相连接的测量LED光信号的光度计8、监控各个LED实时温度的多路温度巡检仪10、电学仪表9，本实施例中电学仪表9包括LED的供电电源9-1、实时监控各个LED供电状态并测量各个LED的电学参数的多路智能控制器9-2；装载多个LED的多路夹具7分别与多路智能控制器9-2和多路温度巡检仪10电连接，多路智能控制器9-2与供电电源9-1电连接；多路智能控制器9-2、光度计8、多路温度巡检仪10均与工控机3电连接。 

实际测量时，多路智能控制器9-2通过控制供电电源9-1实现LED按照一定的时序工作，保证光度计8测量被点亮的LED的光信号；多路智能控制器9-2测量LED电学参数；多路温度巡检仪10监控LED的实时温度；上述光度计8、多路智能控制器9-2、多路温度巡检仪10的测量数据均分别被传送至工控机3，工控机3分析测量结果，从而实现各个LED光、色、热、电等参数的测量。 

实施例2 

如图2所示为一种光源老化寿命试验系统的结构示意图。 

与实施例1不同的是，本实施例包括三个温控箱1(分别记为温控箱1-1，1-2，1-3)、三个仪表箱2(分别记为仪表箱2-1，2-2，2-3)、工控机3和工控机箱4，其中温控箱1-1设置在工控机箱4和仪表箱2-1之间，温控箱1-2设置在仪表箱2-2和2-3之间，温控箱1-3独立设置。 

每个温控箱1内分别设置装载多个被测光源5的多路夹具7和采集LED的光辐射信号的 光纤6；仪表箱2-1内设置光谱仪8和多路智能控制器9-2，仪表箱2-2内设置两台光谱仪8和两台多路智能控制器9-2，仪表箱2-3内设置多路温度巡检仪10和供电电源9-1。 

仪表箱2-1内的光谱仪8与温控箱1-1中的光纤6电连接，多路智能控制器9-2与温控箱1-1中的多路夹具7电连接；仪表箱2-2内的两台光谱仪8分别与温控箱1-2和1-3中的光纤6电连接，多路智能控制器9-2分别与温控箱1-2和1-3中的多路夹具7电连接；温控箱1-1、1-2和1-3中的多路夹具7都分别与多路温度巡检仪10和供电电源9-1电连接；仪表箱2中的光谱仪8、供电电源9-1、多路智能控制器9-2、多路温度巡检仪10均与工控机3电连接。 

实际测量时，仪表箱2-1和2-2中的多路智能控制器9-2都通过控制仪表箱2-3中的供电电源9-1，分别实现温控箱1-1、1-2和1-3中的被测光源5按照一定的时序工作，并测量其内部被测光源5的电学参数；仪表箱2-1和2-2中的光谱仪8分别测量温控箱1-1、1-2和1-3中的被测光源5的光信号，仪表箱2-3中的温度巡检仪10同时监控三个温控箱中各个被测光源5的实时温度，上述光度计8、多路智能控制器9-2、多路温度巡检仪10的测量数据均分别被传送至工控机3，工控机3分析测量结果，从而实现各个LED光、色、热、电等参数的测量。 

实施例3 

如图3所示为一种光源老化寿命试验系统的结构示意图。 

与实施例1不同的是，本实施例包括三个温控箱1(分别记为温控箱1-1，1-2，1-3)、五个仪表箱2(分别记为仪表箱2-1，2-2，2-3，2-4，2-5)、工控机3和工控机箱4，其中温控箱1-1设置在工控机箱4和仪表箱2-1之间，温控箱1-2设置在仪表箱2-2和2-3之间，温控箱1-3设置在仪表箱2-4和2-5之间。 

每个温控箱1内分别设置装载多个被测光源5的多路夹具7和采集LED的光辐射信号的光纤6；仪表箱2-1、2-2和2-3内分别设置光谱仪8和多路智能控制器9-2，仪表箱2-4内设置多路温度巡检仪10和供电电源9-1，仪表箱2-5内不设置任何测量仪表。 

各个仪表箱内的光谱仪8与对应温控箱中的光纤6电连接，多路智能控制器9-2与对应温控箱中的多路夹具7电连接；温控箱1-1、1-2和1-3中的多路夹具7都分别与仪表箱2-4内的多路温度巡检仪10和供电电源9-1电连接；各个仪表箱中的光谱仪8、供电电源9-1、多路智能控制器9-2、多路温度巡检仪10均与工控机3电连接。 

实际测量时，仪表箱2-1、2-2、2-3中的多路智能控制器9-2都通过控制仪表箱2-4中的供电电源9-1，分别实现温控箱1-1、1-2和1-3中的被测光源5按照一定的时序工作，并测量其内 部被测光源5的电学参数；仪表箱2-1、2-2、2-3中的光谱仪8分别测量温控箱1-1、1-2和1-3中的被测光源5的光信号，仪表箱2-4中的温度巡检仪10同时监控三个温控箱中各个被测光源5的实时温度，上述光度计8、多路智能控制器9-2、多路温度巡检仪10的测量数据均分别被传送至工控机3，工控机3分析测量结果，从而实现各个LED光、色、热、电等参数的测量。 

Claims (6)

1.一种光源老化寿命试验系统，其特征在于，包括温控箱(1)、仪表箱(2)、工控机(3)和工控机箱(4)，所述的温控箱(1)设置在仪表箱(2)和工控机箱(4)之间，所述的工控机(3)设置在工控机箱(4)的内部，所述的工控机(3)与显示屏、键盘、鼠标电连接，所述的显示屏、键盘、鼠标设置于温控箱(1)的侧旁，温控箱(1)内设置装夹被测光源(5)的夹具(7)和采集被测光源(5)的光辐射信号的取样装置(6)。

2.如权利要求1所述的一种光源老化寿命试验系统，其特征在于，所述的仪表箱(2)内设置与取样装置(6)相连接的测量被测光源(5)光信号的测光仪表(8)，为被测光源(5)供电并监控其点亮或熄灭状态的电学仪表(9)，以及监控被测光源(5)温度的温度巡检仪(10)，上述测量仪表均与工控机(3)电连接。

3.如权利要求1所述的一种光源老化寿命试验系统，其特征在于，所述的温控箱(1)的数量为两个或两个以上，其中一个温控箱(1)设置在工控机箱(4)和仪表箱(2)之间，其他温控箱(1)独立设置或者设置在两个仪表箱(2)之间。

4.如权利要求1所述的一种光源老化寿命试验系统，其特征在于，所述的温控箱(1)的数量为两个或两个以上，在实际工作时，不同的温控箱(1)内设置的控制温度不同。

5.如权利要求2所述的一种光源老化寿命试验系统，其特征在于，所述的仪表箱(2)的数量为两个或两个以上，测光仪表(8)、电学仪表(9)和温度巡检仪(10)可任意组合设置在不同的仪表箱(2)中。

6.如权利要求2所述的一种光源老化寿命试验系统，其特征在于，仪表箱(2)上设置指示被测光源(5)老化状态的指示灯，所述的指示灯与电学仪表(9)电连接，指示灯点亮表示被测光源(5)处于点燃老化状态，指示灯熄灭表示被测光源(5)不处于老化状态。

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