CN109307814B - 一种电容可靠性测试电路 - Google Patents

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Abstract

一种电容可靠性测试电路，它包括电源模块、1个或多个测试模块，每个测试模块均包括第一电阻、第二电阻、保险丝、第一亮灯模块和第二亮灯模块，保险丝的一端与一待测电容的一端电连接，待测电容的另一端与电源模块的正极电连接，保险丝的另一端与电源模块的负极电连接，保险丝与待测电容的连接处与第一电阻的一端电连接，第一电阻的另一端与第一亮灯模块的阳极电连接，第一亮灯模块的阴极与电源模块的负极电连接，第二电阻的一端与电源模块的正极电连接，第二电阻的另一端与第二亮灯模块的阳极电连接，第二亮灯模块的阴极与电源模块的负极电连接。该电容可靠性测试电路无需在成品整机上验证，成本低廉、效率较高。

Description

一种电容可靠性测试电路
技术领域
本发明涉及电子元件可靠性测试技术领域，具体涉及一种电容可靠性测试电路。
背景技术
任何电子产品，为了规避可靠性问题，在上市前都要做一系列可靠性测试。作为电子料电容也不例外，电容作为单个部件物料，必须在通电工作状态下才能检验是否有可靠性问题。传统的方法都是将待测电容通过SMT(Surface Mount Technology)表面贴装技术贴装到终端整机产品上才能验证可靠性问题，为了检验一个小小的电子料，却要投料成品整机验证，不仅成本太高，而且效率非常低下。
发明内容
本发明要解决的技术问题是：提供一种无需在成品整机上验证，从而使得成本低廉、效率较高的电容可靠性测试电路。
本发明的技术解决方案是：一种电容可靠性测试电路，其特征在于：它包括电源模块、以及与电源模块电连接的1个或多个测试模块，所述每个测试模块均包括第一电阻、第二电阻、保险丝、第一亮灯模块和第二亮灯模块，所述保险丝的一端与一待测电容的一端电连接，所述待测电容的另一端与电源模块的正极电连接，所述保险丝的另一端与电源模块的负极电连接，所述保险丝与待测电容的连接处与第一电阻的一端电连接，所述第一电阻的另一端与第一亮灯模块的阳极电连接，所述第一亮灯模块的阴极与电源模块的负极电连接，所述第二电阻的一端与电源模块的正极电连接，所述第二电阻的另一端与第二亮灯模块的阳极电连接，所述第二亮灯模块的阴极与电源模块的负极电连接。
本发明电容可靠性测试电路的工作原理如下：
正常情况下，电流通过第二电阻，把第二亮灯模块点亮，形成一个电压来老化待测电容；当可靠性老化测试过程中待测电容短路了，电流会通过保险丝形成回路，第一亮灯模块和第二亮灯模块都会熄灭；然后保险丝继续导通下去，基于保险丝的特性，会烧断保险丝所在的支路，这样电流就会通过第一电阻将第一亮灯模块点亮；因此只要某一测试模块的第一亮灯模块点亮，即可明显识别相应的待测电容在可靠性老化测试过程中失效了。
采用上述结构后，本发明具有以下优点：
本发明电容可靠性测试电路利用待测电容失效后会导通的原理，只要利用几个成本低廉的元器件即可对待测电容进行测试，即使通过增加测试模块的数量一次性测试多个待测电容，也不会使测试电路太过复杂，并且该测试电路可重复使用，无需在成品整机上进行验证，不仅成本低廉，而且效率较高，尤其在同时对多个待测电容进行检测时尤为明显。
作为优选，所述第一亮灯模块和第二亮灯模块的灯光颜色不同。通过不同的灯光设置可更快速显著地区分待测电容是正常状况还是失效状况。
作为优选，所述第一亮灯模块和第二亮灯模块均包括若干串联的LED灯。该设置可使亮灯模块发光效果更好，更醒目。
作为优选，所述第一亮灯模块的LED灯的数量和/或排布形状与第二亮灯模块不同。该设置可更快速显著地区分待测电容是正常状况还是失效状况。
作为优选，所述测试模块设置2-10个。合理数量的测试模块，在提高测试效率的同时，不会过多增加成本。
附图说明：
图1为本发明电容可靠性测试电路的电路图；
图中：1-电源模块，2-测试模块，3-第一电阻，4-第二电阻，5-第一亮灯模块，6-第二亮灯模块，7-保险丝，8-待测电容，9-LED灯。
具体实施方式
下面结合附图，并结合实施例对本发明做进一步的说明。
实施例：
一种电容可靠性测试电路，它包括电源模块1、以及与电源模块1电连接的1个或多个测试模块2，所述每个测试模块2均包括第一电阻3、第二电阻4、保险丝7、第一亮灯模块5和第二亮灯模块6，所述保险丝7的一端与一待测电容8的一端电连接，所述待测电容8的另一端与电源模块1的正极电连接，待测电容8可通过压接装置与电路板上的焊点压合而实现与电源模块1和保险丝7的电连接，压接装置采用现有技术即可，在电子元件测试时广泛使用，这里不再赘述，所述保险丝7的另一端与电源模块1的负极电连接，所述保险丝7与待测电容8的连接处与第一电阻3的一端电连接，所述第一电阻3的另一端与第一亮灯模块5的阳极电连接，所述第一亮灯模块5的阴极与电源模块1的负极电连接，所述第二电阻4的一端与电源模块1的正极电连接，所述第二电阻4的另一端与第二亮灯模块6的阳极电连接，所述第二亮灯模块6的阴极与电源模块1的负极电连接；所述第一亮灯模块5和第二亮灯模块6的灯光颜色不同；所述第一亮灯模块5和第二亮灯模块6均包括若干串联的LED灯9，若干个是指两个及两个以上；所述第一亮灯模块5的LED灯9的数量和/或排布形状与第二亮灯模块6不同；所述测试模块2设置2-10个。
本发明电容可靠性测试电路利用待测电容8失效后会导通的原理，只要利用几个成本低廉的元器件即可对待测电容8进行测试，即使通过增加测试模块2的数量一次性测试多个待测电容8，也不会使测试电路太过复杂，并且该测试电路可重复使用，无需在成品整机上进行验证，不仅成本低廉，而且效率较高，尤其在同时对多个待测电容8进行检测时尤为明显。
本发明电容可靠性测试电路工作原理如下：
正常情况下，电流通过第二电阻4，把第二亮灯模块6点亮，形成一个电压来老化待测电容8；当可靠性老化测试过程中待测电容8短路了，电流会通过保险丝7形成回路，第一亮灯模块5和第二亮灯模块6都会熄灭；然后保险丝7继续导通下去，基于保险丝7的特性，会烧断保险丝7所在的支路，这样电流就会通过第一电阻3将第一亮灯模块5点亮；因此只要某一测试模块2的第一亮灯模块5点亮，即可明显识别相应的待测电容8在可靠性老化测试过程中失效了。

Claims (3)

1.一种电容可靠性测试电路，其特征在于：它包括电源模块（1）、以及与电源模块（1）电连接的1个或多个测试模块（2），所述每个测试模块（2）均包括第一电阻（3）、第二电阻（4）、保险丝（7）、第一亮灯模块（5）和第二亮灯模块（6），所述保险丝（7）的一端与一待测电容（8）的一端电连接，所述待测电容（8）的另一端与电源模块（1）的正极电连接，所述保险丝（7）的另一端与电源模块（1）的负极电连接，所述保险丝（7）与待测电容（8）的连接处与第一电阻（3）的一端电连接，所述第一电阻（3）的另一端与第一亮灯模块（5）的阳极电连接，所述第一亮灯模块（5）的阴极与电源模块（1）的负极电连接，所述第二电阻（4）的一端与电源模块（1）的正极电连接，所述第二电阻（4）的另一端与第二亮灯模块（6）的阳极电连接，所述第二亮灯模块（6）的阴极与电源模块（1）的负极电连接；
所述第一亮灯模块（5）和第二亮灯模块（6）的灯光颜色不同；
所述第一亮灯模块（5）和第二亮灯模块（6）均包括若干串联的LED灯（9）。
2.根据权利要求1所述的一种电容可靠性测试电路，其特征在于：所述第一亮灯模块（5）的LED灯（9）的数量和/或排布形状与第二亮灯模块（6）不同。
3.根据权利要求1所述的一种电容可靠性测试电路，其特征在于：所述测试模块（2）设置2-10个。
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