CN102466787A - 发光二极管阵列检测治具 - Google Patents

Abstract

一种发光二极管阵列检测治具，用以通过电源供应单元对待测电路板上的发光二极管阵列进行检测，其至少包括：检测座，具有一测试台及立设于该测试台且对应各发光二极管的正负极接脚端的多对正负极探针，各该探针分别电性连接该电源供应单元以形成供电回路；载板，设于该检测座上并可相对该测试台活动升降，该载板具有供放置该待测电路板的定位部、及对应各探针的多个通孔；及压制件，设于该检测座上，用以压制该待测电路板，并驱动该载板下降，令各该对正负极探针通过通孔而接触导通对应的各该正负极接脚端，以通过各该对正负极探针间与该电源供应单元所形成的供电回路使各该发光二极管获得供电而点亮。

Description

发光二极管阵列检测治具

技术领域

本发明涉及一种发光二极管发光检测治具，特别是涉及一种对待测电路板的发光二极管阵列的各发光二极管进行发光检测的发光二极管阵列检测治具。

背景技术

如电脑装置、网络设备或家电装置等的电子产品，为易于使用者获知该电子产品的运行状态以便于使用者的控制，该电子产品上会设置多个发光二极管(LED)，而该多个发光二极管(LED)是设置于单体的LED阵列上，通过各该LED的点亮、熄灭或闪烁动作来供使用者判别该电子产品的运行状态。因此，在前述电子产品量产或出货前，一般会对该电子产品的电路板上的LED阵列进行检测，由此即早自该LED阵列上筛选出损坏的LED，并更换LED阵列，以确保LED阵列的品质。

常见用以对电路板上的LED阵列进行检测的方式，如图1所示，待测电路板1设有用以与测试装置2的主机20连接的插座12，而该主机20安装有LED测试软件(未图示)，通过该插座12接收该测试软件所下达的检测指令。此外，在检测前，检测人员必须将电源供应器3的插头30插接于该待测电路板1的电源插座13上，从而使该待测电路板1获得供电而得以进行后续的检测作业；接着，该待测电路板1的控制芯片10，例如微处理器，在其获得供电下即可依据该插座12所接收到的检测指令对LED阵列11上各LED(110、111、112及113)进行发光控制，且该测试装置2也会依据LED测试软件在显示屏幕21上显示使用者操作介面(未图示)，以供检测人员依据该使用者操作介面进行检测作业，即依序控制该LED阵列11上各LED(110、111、112及113)的发光，以找出无法发光或其发光亮度不足的LED，以即早更换品质不良的LED阵列11。

然而，由于前述LED阵列检测作业，需依据LED测试软件所提供的操作流程，逐一对各该LED进行检测，此举除耗费时间外，在检测到品质不良的单颗LED后，亦需更换另一个LED阵列，且还要对更换的LED阵列再次进行相同的检测作业，此亦是相当耗费人力成本。

发明内容

鉴于上述现有技术的缺点，本发明的一目的是提一种发光二极管阵列检测治具，以解决现有技术中检测待测电路板的发光二极管阵列耗时以及耗人力的问题。

为达到上述目的及其他相关目的，本发明提供一种发光二极管阵列检测治具，用以通过电源供应单元对待测电路板上的发光二极管阵列进行检测，其至少包括：检测座，具有一测试台及立设于该测试台且对应该发光二极管阵列的各发光二极管的正负极接脚端的多对正负极探针，该检测座用以收容该电源供应单元，各该对正负极探针的末端分别用以电性连接该电源供应单元，以使各该对正负极探针间形成供电回路；载板，设于该检测座上并可相对该测试台活动升降，该载板具有供放置该待测电路板的定位部、及对应各该对正负极探针的多个通孔；以及压制件，设于该检测座上，用以压制该待测电路板，并驱动该载板下降，令各该对正负极探针通过通孔而接触导通对应的各该正负极接脚端，以通过各该对正负极探针间与该电源供应单元所形成的供电回路使各该发光二极管获得供电而点亮。

前述本发明的发光二极管阵列检测治具，该检测座一端设有立架，该立架上设有一用以控制该压制件移动的驱动单元，该驱动单元包括：固定件，固定于该立架上，其具有第一轴接端以及相对于该第一轴接端且设有通管的第一固定端；把手，具有弯折部、自该弯折部两端分别延伸的支点端及握持端，该支点端轴接于该第一轴接端；操作杆，具有穿设于该通管的第二轴接端及与该第二轴接端对应且与该压制件的一端面连接的第二固定端；以及连动件，其一端与该把手的弯折部轴接，而另一端与穿设于该通管的该第二轴接端轴接。

前述本发明的发光二极管阵列检测治具，该检测座还具有一控制开关，用以开启或关闭各该对正负极探针间与该电源供应单元所形成的供电回路，以在该控制开关开启各供电回路时，使各该发光二极管获得供电而点亮，并在该控制开关关闭各该供电回路时，切断各该发光二极管的供电而熄灭。

如上所述，本发明的发光二极管阵列检测治具相比于现有发光二极管阵列检测作业而言，因直接将形成供电回路的多对正负极探针分别与发光二极管阵列的各发光二极管的正负极接脚端连接，故可一次性对该发光二极管阵列的各发光二极管完成发光检测，所以大大缩减检测时间，而提高检测工作效率。

附图说明

图1为一般用以对电路板上的发光二极管阵列进行检测作业所需的系统架构示意图。

图2为本发明的发光二极管阵列检测治具的外观立体图。

图3A为具有发光二极管阵列的待测电路板与本发明的发光二极管阵列检测治具的载板、压制件以及测试台配置关系的切面分解图。

图3B为图3A在压制件压制放置有待测电路板的载板的局部构件的放大切面图。

图4为本发明的发光二极管阵列检测治具的载板上设有灯罩的一实施例外观图。

主要元件符号说明：

1，6 待测电路板

10 控制芯片

11 LED阵列

110，111，112，113 LED

12 插座

13 电源插座

2 测试装置

20 主机

21 显示屏幕

3 电源供应器

30 插头

4 发光二极管阵列检测治具

41 检测座

411 测试台

42，42’ 载板

421 凹槽

422 通孔

423 灯罩

430 正极探针

431 负极探针

44 压制件

442 顶针

443 立架

4431 限位开槽

47 载板滑杆

48 复位弹簧

49 压制件滑杆

50 驱动单元

504 固定件

5041 第一轴接端

5042 第一固定端

505 把手

5051 弯折部

5052 握持端

5053 支点端

506 连动件

507 操作杆

5071 第二轴接端

5072 第二固定端

508 通管

509 螺丝

51 电源供应单元

52 控制开关

60 发光二极管阵列

61 发光二极管

610 正极接脚端

611 负极接脚端。

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本发明的技术内容，本领域技术人员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明也可通过其他不同的具体实例加以施行或应用，本说明书中的各项细节也可基于不同观点与应用，在不背离本发明的精神下进行各种修饰与变更。

再者，以下附图均为简化的示意图式，而仅以示意方式说明本发明的基本构想，遂图中仅显示与本发明有关的元件而非按照实际实施时的元件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各元件的型态、数量及比例可为一种随意的变更。

如图2所示者为本发明的发光二极管阵列检测治具的外观立体图。如图所示，本发明的发光二极管阵列检测治具4用以通过电源供应单元51对待测电路板上的发光二极管阵列进行检测，以快速找出该发光二极管阵列中无法发光或发光亮度不足的发光二极管。

该发光二极管阵列检测治具4至少包括：检测座41、载板42、压制件44、多个载板滑杆47、多个复位弹簧48、多个压制件滑杆49以及驱动单元50。

该多个复位弹簧48设置于该检测座41一表面的测试台411上，该测试台411上垂直设置有该多个载板滑杆47及压制件滑杆49。再者，该测试台411亦立设有对应该发光二极管阵列的各发光二极管的正负极接脚端的多对正负极探针(430以及431)，而该载板42相应于该测试台411的多对正负极探针(430以及431)的位置上设有通孔422。

该检测座41例如为箱体结构，其内部收容有电源供应单元51，其提供有用以驱动待测电路板上的发光二极管阵列各发光二极管发光用的电源，且该电源供应单元51与多对正负极探针(430及431)的一末端(未图示)电性连接，以使各该多对正负极探针(430及431)间分别形成供电回路，前末端即埋设于检测座41内。

该载板42用以承载待测电路板(未图示)，可在该载板42上设置有用以收容该待测电路板的定位部，在本实施例中，该定位部以凹槽421为例(请参考图3A)，该载板42通过载板滑杆47而可滑动地设置于该测试台411上，使得该载板42能通过该多个载板滑杆相对于该测试台411活动升降，并可通过该复位弹簧48使该载板42悬于该测试台411上并提供弹性恢复力予该载板42。而该载板滑杆47可穿设于该复位弹簧48轴向弹动的位置处。

该检测座41上还设置有立架443，该立架443上设有该驱动单元50，该压制件44通过压制件滑杆49可滑动地设置于该测试台411上。该压制件44朝向该载板42的表面上设置有多个顶针442，以在该压制件44下压而夹持放置于该载板42上的待测电路板时，通过该多个顶针442夹固放置于该载板42上该待测电路板，进而达到更稳定夹固该待测电路板的效果。

该驱动单元50具有固定件504、把手505、操作杆507、及连动件506。该固定件504固定于该立架443上，该固定件504的第一轴接端5041轴接于把手505，且该固定件504的第一固定端5042相对于该第一轴接端5041且设有通管508；该把手505具有弯折部5051、自该弯折部5051两端分别延伸的支点端5053及握持端5052，该支点端5053轴接于该第一轴接端5041；该操作杆507具有穿设于该通管508的第二轴接端5071及与该第二轴接端5071对应且与压制件44的一端面连接的第二固定端5072，第二轴接端5071朝向该把手505而活动自如地穿设于该通管508；该连动件的一端与该把手505的弯折部5051轴接，且另一端与穿设该通管508的该第二轴接端5071轴接。该把手505大致呈V型，该把手505的握持端5052用以供测试人员握持以控制压制件44可相对于该测试台111活动升降。

此外，该立架443具有限位开槽4431，可通过螺丝509将固定件504锁固于该限位开槽4431上，且通过纵向设置于该立架443上的限位开槽4431，而可选择性地调整该固定件504锁固于该立架443上的高度。

在对待测电路板上的发光二极管阵列进行检测作业时，操作该把手505以接近测试台411方向拉动后，连动件506将顺着把手505的弯折部5051接近测试台411方向移动，以导引该操作杆507朝测试台411方向移动，进而使该压制件44朝测试台411接近并推抵载板42，该载板42被推抵而压缩复位弹簧48，并使设于测试台411上的多对正负极探针(430及431)凸出于该载板42的通孔422，以分别接触该待测电路板上的发光二极管阵列的各发光二极管的正负极接脚端，并通过各对该正极及负极探针(430及431)间与该电源供应单元51所形成的供电回路，以使各该发光二极管获得供电而点亮，进而可检测出各该发光二极管是否发光或其发光亮度是否充足。

相反的，将该把手505远离测试台411方向操作后，连动件506将顺着把手505的弯折部5051背向测试台411方向移动，以导引该操作杆507朝把手505方向移动，即向上拉起操作杆507，进而使该压制件44远离测试台411移动，此时，因该载板42不再被压制件44推抵，使载板42通过复位弹簧48的弹力悬空支持于该测试台411上，进而使放置于该载板42上的待测电路板上的发光二极管阵列的各发光二极管的正负极接脚端离开正负极探针(430及431)。

为更详细说明本发明发光二极管阵列检测治具中的载板42、压制件44以及测试台411间的动作关系以及检测操作原理，以下请一并参阅图3A及图3B，其中，图3A为待测电路板6与本发明的发光二极管阵列检测治具的载板42、压制件44以及测试台411的切面分解图，而图3B为图3A在压制件44压制放置有该待测电路板6的载板42的局部构件的放大切面图。如图所示，而在压制件44受到该驱动单元50的操作杆507的压制后，压制件44以及载板42可相对该测试台411下降。该载板42上的多个通孔422分别与多对正负极探针(430及431)个别对应，以在操作杆507依据把手505动作而使该压制件44朝测试台411接近，载板42被压制件44压制，使该载板42趋向该测试台411下降时，各多对正负极探针(430及431)则通过该通孔422自该凹槽421底部探出，进而接触到放置在该凹槽421上的待测电路板6的发光二极管阵列60的各发光二极管61的正极接脚端610以及负极接脚端611，以通过各该对正负极探针(430及431)间与该电源供应单元51所形成的供电回路，使各该发光二极管61获得供电而点亮。

为便于检测人员识别各该发光二极管61的发光亮度是否符合出货品质需求，该检测座41的测试台411还设置有一用以供比对用的良品样品以及不良品样品(未图示)，该良品样品作为比对发光二极管阵列的各发光二极管发光亮度为正常的比对物，该不良品样品作为比对发光二极管阵列的各发光二极管发光亮度为不正常的比对物。

此外，本发明的发光二极管阵列检测治具的载板上可设有用以遮盖待测电路板的发光二极管阵列的灯罩，如图4所示，载板42’与灯罩423一体成型，通过该灯罩423可使发光二极管阵列模拟为其装设于产品机壳般的发光状态。除图4所示的连接方式外，灯罩也可以枢接方式设置于该载板上。

请再参照图4，该发光二极管阵列检测治具4的检测座41上还包括控制开关52，用以开启或关闭各该对正负极探针(430及431)与该电源供应单元51的供电回路，以在该控制开关52开启各该对正负极探针(430及431)与该电源供应单元51的供电回路时，使各该发光二极管61获得供电而点亮，并在该控制开关52关闭各该对正负极探针(430及431)间与该电源供应单元51的供电回路时，切断各该发光二极管61的供电而熄灭。

综上所述，本发明的发光二极管阵列检测治具在发光二极管检测作业中，是将具有发光二极管阵列的待测电路板置在一具有用以供测试台的多个该正负极探针凸出的洞孔的载板上，且相对于该载板供多个该正负极探针凸出的表面的端侧设有一压制件，通过该压制件以牢固承载于载板上的待测电路板，由此可以一次操作性地对该发光二极管阵列上各发光二极管完成发光检测处理，故可有效缩短检测的时间，并减少人力成本。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何本领域技术人员均可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰与改变。因此，举凡本领域技术人员在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由权利要求书的范围所涵盖。

Claims (10)

1.一种发光二极管阵列检测治具，用以通过电源供应单元对待测电路板上的发光二极管阵列进行检测，其特征在于，包括：

检测座，设有一测试台、及立设于该测试台且对应该发光二极管阵列的各发光二极管的正负极接脚端的多对正负极探针，该检测座用以收容该电源供应单元，各该对正负极探针的末端分别用以电性连接该电源供应单元，以使各该对正负极探针间形成供电回路；

载板，设于该检测座上并可相对该测试台活动升降，该载板具有供放置该待测电路板的定位部、及对应各该对正负极探针的多个通孔；以及

压制件，设于该检测座上，用以压制该待测电路板并驱动该载板下降，令各该对正负极探针通过通孔而接触导通对应的各该正负极接脚端，以通过各该对正负极探针间与该电源供应单元所形成的供电回路使各该发光二极管获得供电而点亮。

2.根据权利要求1所述的发光二极管阵列检测治具，其特征在于，该载板上设有用以遮盖该待测电路板的发光二极管阵列的灯罩。

3.根据权利要求2所述的发光二极管阵列检测治具，其特征在于，该灯罩以枢接方式设置于该载板上。

4.根据权利要求1所述的发光二极管阵列检测治具，其特征在于，还包括垂直设置于该测试台的多个载板滑杆，该多个载板滑杆穿设于该载板上使得该载板能通过该多个载板滑杆相对于该测试台活动升降。

5.根据权利要求1所述的发光二极管阵列检测治具，其特征在于，该载板还具有多个复位弹簧，用以将该载板悬空支持于测试台上并提供弹性恢复力予该载板。

6.根据权利要求1所述的发光二极管阵列检测治具，其特征在于，该压制件朝向该载板的表面上设置有多个顶针，从而在该压制件压制该待测电路板时，通过该多个顶针以夹固放置于该载板上的待测电路板。

7.根据权利要求1所述的发光二极管阵列检测治具，其特征在于，该检测座一端设有立架，该立架上设有一用以控制该压制件移动的驱动单元，该驱动单元包括：

固定件，固定于该立架上，其具有第一轴接端以及相对于该第一轴接端且设有通管的第一固定端；

把手，具有弯折部、自该弯折部两端分别延伸的支点端及握持端，该支点端轴接于该第一轴接端；

操作杆，具有穿设于该通管的第二轴接端及与该第二轴接端对应且与该压制件的一端面连接的第二固定端；以及

连动件，其一端与该把手的弯折部轴接，而另一端与穿设于该通管的该第二轴接端轴接。

8.根据权利要求1所述的发光二极管阵列检测治具，其特征在于，该检测座还具有一控制开关，用以开启或关闭各该对正负极探针间与该电源供应单元所形成的供电回路，以在该控制开关开启各该供电回路时，使各该发光二极管获得供电而点亮，并在该控制开关关闭各该供电回路时，切断各该发光二极管的供电而熄灭。

9.根据权利要求1所述的发光二极管阵列检测治具，其特征在于，该载板的该定位部为一凹槽，该通孔形成于该凹槽中。

10.根据权利要求1所述的发光二极管阵列检测治具，其特征在于，该检测座还具有一用以供比对用的良品样品以及不良品样品，该良品样品作为比对发光二极管阵列的各发光二极管发光亮度为正常的比对物，该不良品样品作为比对发光二极管阵列的各发光二极管发光亮度为不正常的比对物。

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