CN109817691B - 显示面板及显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种显示面板及显示装置，涉及显示技术领域，包括：弯折区和非弯折区；衬底基板；设置在衬底基板上的多条栅极线和多条数据线，栅极线和数据线在衬底基板的正投影交叠；设置在衬底基板上的至少一条检测信号线，检测信号线位于栅极线远离衬底基板的一侧，在垂直于衬底基板的方向，栅极线与检测信号线之间由至少一层绝缘层隔离；在弯折区，在垂直于衬底基板的方向，检测信号线与栅极线之间的至少部分绝缘层为有机膜层。通过在衬底基板上设置检测信号线，并用有机膜层代替弯折区的部分无机膜层，减小弯折区对应绝缘层的介电系数并减小其弹性模量，从而有利于减小检测信号线产生的寄生电容，并有利于提升显示面板的弯折能力。

Description

显示面板及显示装置

技术领域

本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及一种显示面板及显示装置。

背景技术

随着科学技术的发展，人们对显示面板的要求越来越多样化，由于低温多晶硅(LTPS)和氧化物半导体(IGZO)阵列结构特性而产生寄生电容，导致电流速率较低，影响电路性能，因此，未来将使用LTPO(Low Temperature Polycrystalline Oxide,低温多晶氧化物)基板技术做大尺寸OLED折叠屏。

目前使用的基板技术中，当需要探测显示面板中某一节点的电压或电流时，通常会引入检测信号线，检测信号线通常与数据线同层设置，如此导致检测信号线与扫描线之间产生的寄生电容较大，使检测信号线对节点电流或电压的探测受到很大的影响，影响探测结果的准确性。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种显示面板及显示装置，在衬底基板上设置检测信号线，栅极线和检测信号线通过绝缘层隔离，在弯折区，检测信号线与栅极线之间的至少部分绝缘层为有机膜层，从而有利于降低检测信号线与栅极线之间的寄生电容，并有利于提升显示面板及显示装置的弯折性能。

第一方面，本申请提供一种显示面板，其特征在于，包括：

弯折区和非弯折区；

衬底基板；

设置在所述衬底基板上的多条栅极线和多条数据线，所述栅极线和所述数据线在所述衬底基板的正投影交叠；

设置在所述衬底基板上的至少一条检测信号线，所述检测信号线位于所述栅极线远离所述衬底基板的一侧，在垂直于所述衬底基板的方向，所述栅极线与所述检测信号线之间由至少一层绝缘层隔离；

在所述弯折区，在垂直于所述衬底基板的方向，所述检测信号线与所述栅极线之间的至少部分绝缘层为有机膜层。

第二方面，本申请提供一种显示装置，包括显示面板，该显示面板为本申请所提供的显示面板。

与现有技术相比，本申请提供的显示面板及显示装置，至少实现了如下的有益效果：

本申请所提供的显示面板及显示装置，在衬底基板上设置检测信号线，栅极线和检测信号线通过绝缘层隔离，在弯折区，检测信号线与栅极线之间的至少部分绝缘层为有机膜层，由于有机膜层的介电系数较小，而电容的大小与绝缘层的介电系数成正比，因而有机膜层的引入有利于减小检测信号线与栅极线之间产生的寄生电容，进而减小寄生电容对检测信号线检测结果的影响，因而有利于提升检测信号线对电压或电流探测结果的准确性；同时，由于有机膜层的弹性模量较小，弹性模量越小，刚度越小，越易弯折，因而在弯折区引入有机膜层还有利于提升显示面板及显示装置在弯折区的弯折性能。

当然，实施本申请的任一产品必不特定需要同时达到以上所述的所有技术效果。

通过以下参照附图对本申请的示例性实施例的详细描述，本申请的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本申请的实施例，并且连同其说明一起用于解释本申请的原理。

图1所示为现有技术中一种显示面板的截面图；

图2所示为本申请实施例所提供的显示面板的一种俯视图；

图3所示为本申请实施例所提供的显示面板的一种AA’截面图；

图4所示为本申请实施例所提供的显示面板的另一种AA’截面图；

图5所示为本申请实施例所提供的显示面板的一种俯视图；

图6所示为本申请实施例所提供的检测信号线的一种检测电路图；

图7所示为本申请实施例所提供的显示面板的另一种AA’截面图；

图8所示为本申请实施例所提供的显示面板的另一种AA’截面图；

图9所示为本申请实施例所提供的显示装置的一种结构图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

图1所示为现有技术中一种显示面板300的截面图，包括衬底基板301、绝缘层302、数据线320和扫描线330，当需要探测显示面板300中某一节点的电压或电流时，通常会引入检测信号线310，检测信号线310与数据线320同层设置，如此导致检测信号线310与扫描线330之间产生的寄生电容较大，使检测信号线310对节点电流或电压的探测受到很大的影响，影响探测结果的准确性。

有鉴于此，本申请提供了一种显示面板及显示装置，在衬底基板上设置检测信号线，栅极线和检测信号线通过绝缘层隔离，在弯折区，检测信号线与栅极线之间的至少部分绝缘层为有机膜层，从而有利于降低检测信号线与栅极线之间的寄生电容，并有利于提升显示面板及显示装置的弯折性能。

以下结合附图和具体实施例进行详细说明。

图2所示为本申请实施例所提供的显示面板100的一种俯视图，图3所示为本申请实施例所提供的显示面板100的一种AA’截面图，请参见图2和图3，该显示面板100，包括弯折区50、非弯折区60、衬底基板10；设置在衬底基板10上的多条栅极线101和多条数据线102，栅极线101和数据线102在衬底基板10的正投影交叠；设置在衬底基板10上的至少一条检测信号线103，检测信号线103位于栅极线101远离衬底基板10的一侧，在垂直于衬底基板10的方向，栅极线101与检测信号线103之间由至少一层绝缘层20隔离；在弯折区50，在垂直于衬底基板10的方向，检测信号线103与栅极线101之间的至少部分绝缘层20为有机膜层30。

具体地，请继续参见图2和图3，本申请实施例所提供的显示面板100包括弯折区50、非弯折区60和衬底基板10，以及设置在衬底基板10上的栅极线101、数据线102和检测信号线103，栅极线101和数据线102在衬底基板10的正投影交叠，检测信号线103在栅极线101远离衬底基板10的一侧，栅极线101和检测信号线103之间通过绝缘层20隔离，例如图3所示实施例中的检测信号线与栅极线之间设置有四层绝缘层，分别是绝缘层21、22、23和24，在弯折区50，将绝缘层21、22和23替换为了有机膜层30。通过公式C＝εs/d(C为电容，ε为介电系数，d为检测信号线103与下方走线之间的距离)可知，电容的大小与绝缘层20的介电系数成正比，由于有机膜的介电系数小于无机膜的介电系数，因此，通过用有机膜层30代替弯折区50的部分无机膜层，可以大大减小检测信号线103产生的寄生电容，进而减小寄生电容对检测信号线103检测结果的影响，因而有利于提升检测信号线103对电压或电流探测结果的准确性；同时，由于有机膜层30的弹性模量较小，弹性模量越小，刚度越小，越易弯折，因而在弯折区50引入有机膜层30还有利于提升显示面板的弯折性能。

需要说明的是，图3所示实施例中仅示出了将绝缘层21、22和23替换为了有机膜层30的情形，在本申请的一些其他实施例中，还可将绝缘层21、22、23和24中的至少一层设置为有机膜层均可，本申请对此不进行具体限定。此外，图2仅示意性地给出了显示面板100上栅极线101、数据线102和检测信号线103的一种相对位置关系图，并不代表实际的尺寸和数量，而且检测信号线103还可采用其他的排布形式，本申请对此不进行具体限定。此外，图3仅示意性地给出了显示面板100中的一种膜层对应关系，并不代表实际的膜层结构。

可选地，请继续参见图3，本申请实施例所提供的显示面板100，在垂直于衬底基板10的方向，还包括设置在栅极线101与数据线102之间的电容金属线104，检测信号线103位于电容金属线104远离衬底基板10的一侧；在弯折区50，在垂直于衬底基板10的方向，检测信号线103与电容金属线104之间的绝缘层20为有机膜层30。通常，在显示面板上，相邻的两条栅极线101和相邻的两条数据线102交叉限定一个子像素，每个子像素中包括一个存储电容C1，请参见图3，每个子像素中的存储电容C1均是连接到电源线的，可选地，相邻两个子像素中的存储电容C1可通过电容金属线104电连接，从而使得每个存储电容C1所获得的电源信号更加均一。需要说明的是，在像素空间允许的条件下，通常避免电容金属线104和位于其靠近衬底基板一侧的栅极线101发生交叠，以避免二者之间产生较大的寄生电容。

具体地，图3示出了栅极线101，数据线102、检测信号线103和电容金属线104的一种相对位置关系，其中，在垂直于衬底基板10的方向上，栅极线101位于电容金属线104下方，数据线102和检测信号线103分别位于电容金属线104的上方，检测信号线103会分别与电容金属线104和栅极线101之间形成寄生电容，影响电路性能，由于有机膜的介电系数小于无机膜的介电系数，而电容的大小与绝缘层20的介电系数成正比，因此，通过用有机膜层30代替弯折区50域中检测信号线103与电容金属线104之间的无机膜层，可以大大减小检测信号线103与下方走线之间产生的寄生电容，进而减小寄生电容对检测信号线103检测结果的影响，因而有利于提升检测信号线103对电压或电流探测结果的准确性；同时，由于有机膜层30的弹性模量较小，弹性模量越小，刚度越小，越易弯折，因而在弯折区50引入有机膜层30还有利于提升显示面板100的弯折性能。

可选地，在非弯折区60，在垂直于衬底基板10的方向，检测信号线103与栅极线101之间的至少部分绝缘层20为有机膜层30。具体地，由于有机膜的介电系数小于无机膜的介电系数，因此，用有机膜层30替换检测信号线103与栅极线101之间的一部分无机膜层，相当于减小了介电系数，因此可以进一步减小检测信号线103与下方走线之间的寄生电容，进而减小寄生电容对检测信号线103检测结果的影响，因而有利于提升检测信号线103对电压或电流探测结果的准确性。

可选地，请继续参见图3，检测信号线103与数据线102同层设置。具体地，将检测信号线103与数据线102设在同一层，并用有机膜层30代替检测信号线103与栅极线101之间的无机膜层，可以减小绝缘层20的介电系数，从而减小检测信号线103与下方走线之间的寄生电容，进而减小寄生电容对检测信号线103检测结果的影响，因而有利于提升检测信号线103对电压或电流探测结果的准确性。此外，将检测信号线103与数据线102设在同一层时，无需为检测信号线103单独设置新的膜层结构，因而有利于简化生产流程、降低生产成本。

可选地，请参见图4，图4所示为本申请实施例所提供的显示面板100的另一种AA’截面图，检测信号线103位于数据线102远离栅极线101的一侧。具体地，在垂直于衬底基板10的方向上，将检测信号线103设置在数据线102的上方，即可增加检测信号线103与下方走线之间的距离，根据公式C＝εs/d(C为电容，ε为介电系数，d为检测信号线103与下方走线之间的距离)可知，电容的大小与检测信号线103与下方走线之间的距离d呈反比，因此增加检测信号线103与下方走线之间的距离d，有利于进一步减小检测信号线103与下方走线之间产生的寄生电容，进而减小寄生电容对检测信号线103检测结果的影响，因而有利于提升检测信号线103对电压或电流探测结果的准确性。此外，由于数据线102和检测信号线103不在同一层，为检测信号线103单独设置了膜层结构，该膜层空间较大，因此可以适当增加检测信号线103的宽度，从而有利于降低走线阻抗，进而有利于减小显示面板上从靠近控制芯片的一侧到远离控制芯片的一侧的压降，有利于提升显示面板的显示均匀性。

可选地，请继续参见图4，本申请实施例所提供的显示面板100还包括发光功能层40，发光功能层40位于数据线102远离栅极线101的一侧，检测信号线103位于发光功能层40与数据线102之间。通常，发光功能层40包括阳极层41、发光材料层42和阴极层43，将检测信号线103置于发光功能层40与数据线之间时，检测信号线103不会占用发光功能层40的空间，例如不会占用阳极层41的空间，因而在降低显示面板寄生电容、提升抗弯折性能的同时，还不会对显示面板的正常显示造成影响。

可选地，请继续参见图4，检测信号线103与数据线102之间由绝缘层20隔离，在垂直于衬底基板10的方向，检测信号线103与数据线102之间的绝缘层20为有机膜层30。具体地，在检测信号线103与数据线102之间通过绝缘层20隔离，将该部分绝缘层20设置为有机膜层30，根据公式C＝εs/d(C为电容，ε为介电系数，d为检测信号线103与下方走线之间的距离)可知，电容的大小与绝缘层20的介电系数ε成正比，由于有机膜的介电系数大概为3-3.5，约为无机膜介电系数的一半，因此，检测信号线103与数据线102之间的绝缘层均为有机膜层30时，相当于弯折区50和非弯折区60都是有机膜层，有利于进一步降低整体的寄生电容，进而减小寄生电容对检测信号线103检测结果的影响，因而有利于进一步提升检测信号线103对电压或电流探测结果的准确性。

可选地，请继续参见图2，，检测信号线103和数据线102在衬底基板10的正投影不交叠。具体地，为了避免检测信号线103与数据线102之间形成串扰，检测信号线103需避让数据线102，因此，检测信号线103尽量不和数据线102形成上下结构，也即检测信号线103和数据线102在衬底基板10的正投影不交叠。

可选地，请继续参见图2，检测信号线103与数据线102的延伸方向相同。具体地，栅极线101沿第一方向排列，第二方向延伸，数据线102沿第二方向排列，第一方向延伸，为了避免检测信号线103与数据线102之间形成串扰，要使检测信号线103和数据线102在衬底基板10的正投影不交叠，因此，可以使检测信号线103的延伸方向与数据线102的延伸方向相同，即检测信号线103向第一方向延伸，如此，即可避免检测信号线103和数据线102在衬底基板10的正投影交叠，从而避免检测信号线103与数据线102之间形成串扰，进而避免对电路性能造成影响。

可选地，图5所示为本申请实施例所提供的显示面板的一种俯视图，该实施例体现了有机膜层在显示面板上的一种分布示意图，本申请实施例所提供的显示面板为一种柔性显示面板，能够沿着其弯折轴进行弯折，当显示面板100的弯折轴的延伸方向为第一方向、且检测信号线103的延伸方向也为第一方向时，本申请至少在弯折区对应的位置，将检测信号线103靠近衬底基板的一侧的至少部分绝缘层设置为有机膜层30，由于有机膜层30具备弹性模量小的特点，从而使得柔性显示面板更易弯折；同时，有机膜层30还具备介电系数小的特点，从而还有利于降低检测信号线103余栅极线101之间的寄生电容。当显示面板100的弯折轴的延伸方向为第二方向、检测信号线103的延伸方向为第一方向时，在弯折区，本申请还可将相邻像素单元行之间的区域中的至少部分绝缘层设置为有机膜层30，例如使有机膜层30在衬底基板所在平面的正投影与栅极线101交叠，以使得柔性显示面板更易弯折。当然，在本申请的一些其他实施例中，还可同时将相邻像素单元行之间的区域以及相邻像素单元列之间的区域中的至少部分绝缘层均设置为有机膜层30，如此，在使得柔性显示面板更加易于弯折的同时，还使得显示面板100的整体膜层结构更加统一，在生产上更容易实现。

可选地，有机膜层30的介电系数为ε，3≤ε≤3.5。具体地，一般情况下，有机膜层30的介电系数为3≤ε≤3.5，而无机膜层的介电系数ε大概为7(例如当无机膜层包括SiN时)，由于电容的大小与介电系数成正比，因此，采用介电系数较小的有机膜层30，可以有效减小检测信号线103与下方走线之间的寄生电容，进而减小寄生电容对检测信号线103检测结果的影响，因而有利于提升检测信号线103对电压或电流探测结果的准确性。

可选地，图6所示为本申请实施例所提供的检测信号线103的一种检测电路图，图7所示为本申请实施例所提供的显示面板100的另一种AA’截面图，图8所示为本申请实施例所提供的显示面板100的另一种AA’截面图，请参见图2-图8，显示面板100还包括设置在衬底基板10上的多个像素单元120，各像素单元120包括驱动薄膜晶体管105和第一开关薄膜晶体管106，驱动薄膜晶体管105和第一开关薄膜晶体管106中的至少一者为氧化物薄膜晶体管，或者，驱动薄膜晶体管105和第一开关薄膜晶体管106中的至少一者为低温多晶硅薄膜晶体管。具体地，显示面板100还包括多个像素单元120，各个像素单元120包括驱动薄膜晶体管105和第一开关薄膜晶体管106，驱动薄膜晶体管105和第一开关薄膜晶体管106可以为氧化物薄膜晶体管或者低温多晶硅薄膜晶体管，例如，本申请中驱动薄膜晶体管105为低温多晶硅薄膜晶体管，第一开关薄膜晶体管为氧化物薄膜晶体管，且第一薄膜晶体管106可以为顶栅结构，例如请参见图3和图4，也可以为底栅结构，例如请参见图7和图8，采用低温多晶硅薄膜晶体管时，有利于节约显示面板的生产成本；采用氧化物薄膜晶体管时，电子迁移率高，使得显示面板的画质更加清晰，本申请可根据实际情况选取薄膜晶体管的类型，本申请对此不进行具体限定。

可选地，请继续参见图6，本申请实施例所提供的显示面板100还包括至少一个第二开关薄膜晶体管109，第二开关薄膜晶体管的栅极110接收开关控制信号，第二开关薄膜晶体管109的第一极111与检测信号线103电连接，第二开关薄膜晶体管109的第二极112与像素单元中的待检测点113电连接。需要说明的是，此处的待检测点113可以为像素任一节点，图6仅示意性地给出了一个待检测点(即发光器件D1的阳极)的情形，在本申请的一些其他实施例中，待检测点还可体现在显示面板上的其他位置，本申请对此不进行具体限定。当待检测点113位于图6所示位置时，本申请可通过检测信号线103检测发光器件D1的阳极的电压或电流信号，理想情况下，在一帧时间内，显示面板上各发光器件D1的阳极的电压或电流应该是相同的，本申请通过检测信号线103的检测，可获知各发光器件D1的阳极的电压或电流情况，若不同或存在较大差异，可通过软件对发光器件D1的阳极的电压或电流进行调节，以使得显示面板上各发光器件D1的发光亮度更加均匀。

基于同一发明构思，本申请还提供一种显示装置200，请参见图9，图9所示为本申请实施例所提供的显示装置200的一种结构图，该显示装置200包括显示面板100，该显示面板为本申请上述任一实施例所提供的显示面板100。需要说明的是，本申请实施例所提供的显示装置200的实施例可参见上述显示面板100的实施例，重复之处不再赘述。本申请所提供的显示装置200可以为：手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。

通过上述实施例可知，本发明提供的显示面板及显示装置，至少实现了如下的有益效果：

本申请所提供的显示面板及显示装置，在衬底基板上设置检测信号线，栅极线和检测信号线通过绝缘层隔离，在弯折区，检测信号线与栅极线之间的至少部分绝缘层为有机膜层，由于有机膜的介电系数较小，而电容的大小与绝缘层的介电系数成正比，因而有机膜层的引入有利于减小检测信号线与栅极线之间产生的寄生电容，进而减小寄生电容对检测信号线检测结果的影响，因而有利于提升检测信号线对电压或电流探测结果的准确性；同时，由于有机膜层的弹性模量较小，弹性模量越小，刚度越小，越易弯折，因而在弯折区引入有机膜层还有利于提升显示面板及显示装置在弯折区的弯折性能。

虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。

Claims (13)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

弯折区和非弯折区；

衬底基板；

设置在所述衬底基板上的多条栅极线和多条数据线，所述栅极线和所述数据线在所述衬底基板的正投影交叠；

设置在所述衬底基板上的至少一条检测信号线，所述检测信号线位于所述栅极线远离所述衬底基板的一侧，在垂直于所述衬底基板的方向，所述栅极线与所述检测信号线之间由至少一层绝缘层隔离；

在垂直于所述衬底基板的方向，还包括设置在所述栅极线与所述数据线之间的电容金属线，所述检测信号线位于所述电容金属线远离所述衬底基板的一侧；在所述弯折区中，所述电容金属线在所述衬底基板上的正投影和所述栅极线在所述衬底基板上的正投影不交叠；

在所述弯折区，在垂直于所述衬底基板的方向，所述检测信号线与所述栅极线之间的至少部分绝缘层为有机膜层。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，在所述弯折区，在垂直于所述衬底基板的方向，所述检测信号线与所述电容金属线之间的绝缘层为有机膜层。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，在所述非弯折区，在垂直于所述衬底基板的方向，所述检测信号线与所述栅极线之间的至少部分绝缘层为有机膜层。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测信号线与所述数据线同层设置。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测信号线位于所述数据线远离所述栅极线的一侧。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，还包括发光功能层，所述发光功能层位于所述数据线远离所述栅极线的一侧，所述检测信号线位于所述发光功能层与所述数据线之间。

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述检测信号线与所述数据线之间由绝缘层隔离，在垂直于所述衬底基板的方向，所述检测信号线与所述数据线之间的绝缘层为有机膜层。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述检测信号线和所述数据线在所述衬底基板的正投影不交叠。

9.根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述检测信号线与所述数据线的延伸方向相同。

10.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述有机膜层的介电系数为ε，3≤ε≤3.5。

11.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，还包括设置在所述衬底基板上的多个像素单元，各所述像素单元包括驱动薄膜晶体管和第一开关薄膜晶体管，所述驱动薄膜晶体管和所述第一开关薄膜晶体管中的至少一者为氧化物薄膜晶体管，或者，所述驱动薄膜晶体管和所述第一开关薄膜晶体管中的至少一者为低温多晶硅薄膜晶体管。

12.根据权利要求11所述的显示面板，其特征在于，还包括至少一个第二开关薄膜晶体管，所述第二开关薄膜晶体管的栅极接收开关控制信号，所述第二开关薄膜晶体管的第一极与所述检测信号线电连接，所述第二开关薄膜晶体管的第二极与所述像素单元中的待检测点电连接。

13.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1至12之任一所述的显示面板。

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