CN109738358B - 控制光学物质检测设备的方法、装置及光学物质检测设备 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及物质检测技术领域，尤其公开了一种控制光学物质检测设备的方法、装置及光学物质检测设备，所述光学物质检测设备包括发光设备和感光设备，方法包括：当检测到所述光学物质检测设备受到撞击时，采集所述光学物质检测设备在受到撞击时的撞击力和撞击方向；根据预设数据模型，结合所述撞击力和撞击方向，计算所述感光设备的感光位移偏差值；根据所述感光位移偏差值，执行感光修正处理。由此可见，利用本发明方案，可以主动识别光学物质检测设备是否受到撞击，并分别对各种撞击力信息进行处理，可主动提示设备发生了撞击，撞击后若判断为继续工作还可以对光检测的结果做自动修正处理。
Description
技术领域
本发明实施例涉及光学物质检测技术领域，特别是涉及控制光学物质检测设备的方法、装置及光学物质检测设备。
背景技术
当前的光学物质检测设备，其基本原理都是通过发出光，透过物质或者在物质表面发生散射，再收集该光谱，基于收集到的光谱，对该物质进行识别。
本发明的发明人在实现本发明的过程中，发现：光学物质检测设备往往都是比较精密的，在撞击时可能使光路产生偏差，而几微米的偏差就可能会造成收集到的光谱不全，进而造成光谱的无法进行识别。
发明内容
鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的控制光学物质检测设备的方法、装置及光学物质检测设备。
为解决上述技术问题，本发明实施例采用的一个技术方案是：一种控制光学物质检测设备的方法，所述光学物质检测设备包括发光设备和感光设备，其特征在于，包括：当检测到所述光学物质检测设备受到撞击时，采集所述光学物质检测设备在受到撞击时的撞击力和撞击方向；根据预设数据模型，结合所述撞击力和撞击方向，计算所述感光设备的感光位移偏差值；根据所述感光位移偏差值，执行感光修正处理。
可选的，所述执行感光修正处理，包括：当所述感光位移偏差值小于预设最小值时，控制所述光学物质检测设备继续正常工作；当所述感光位移偏差值位于大于或等于预设最小值，且小于或等于预设最大值时，出所述光学物质检测设备需要校准的较准告警信息；当所述感光位移偏差值大于预设光路修正范围的最大值时，控制所述光学物质检测设备停止工作，并且发送出所述光学物质检测设备需要维修的维修告警信息。
可选的，所述感光修正处理，包括：当所述感光位移偏差值位于预设光路修正范围内时，判断先前是否存储有所述感光位移偏差值；若没有，控制光学物质检测设备继续正常工作，并且存储所述感光位移偏差值，并且在所述感光设备在感应到返回光时，根据所述感光位移偏差值修正所述感光设备感应到返回光的光谱位置；若先前存储有所述感光位移偏差值，则输出所述光学物质检测设备需要校准的校准告警信息，并且控制所述光学物质检测设备停止工作；当检测到所述感光设备的感光光路成功较准时，清空所存储的所述感光位移偏差值。
可选的，所述方法还包括：当检测到所述光学物质检测设备处于跌落状态时，判断所述发光设备是否处于输出检测光的状态；若是，控制所述发光设备停止输出检测光。
为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种控制光学物质检测设备的装置，包括：采集模块，用于当检测到所述光学物质检测设备受到撞击时，采集所述光学物质检测设备在受到撞击时的撞击力和撞击方向；计算模块，用于根据预设数据模型，结合所述撞击力和撞击方向，计算感光设备的感光位移偏差值；修正模块，用于根据所述感光位移偏差值，执行感光修正处理。
可选的，所述修正模块具体用于：当所述感光位移偏差值小于预设光路修正范围的最小值时，控制光学物质检测设备继续正常工作；当所述感光位移偏差值大于或等于预设最小值，且小于或等于预设光最大值时，发送出光学物质检测设备需要校准的校准告警信息；当所述感光位移偏差值大于预设最大值时，控制光学物质检测设备停止工作，同时发送出所述光学物质检测设备需要维修的维修告警信息。
可选的，所述修正模块，还用于：当所述感光位移偏差值大于或等于预设最小值时，判断先前是否存储有所述感光位移偏差值；若没有，存储所述感光位移偏差值，并且在所述感光设备在感应到返回光时，根据所述感光位移偏差值修正所述感光设备感应到返回光的光谱位置；若先前存储有所述感光位移偏差值，则输出所述光学物质检测设备需要校准的较准告警信息，并且控制所述光学物质检测设备停止工作；当检测到所述感光设备的感光光路成功较准时，清空所存储的所述感光位移偏差值。
可选的，所述装置还包括：判断模块，用于当检测到所述光学物质检测设备处于跌落状态时，判断所述发光设备是否处于输出检测光的状态，若是，则通过控制模块控制所述发光设备停止输出检测光；所述控制模块，用于控制所述发光设备停止输出检测光。
为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种光学物质检测设备，包括发光设备、感光设备、处理器、存储器、通信接口和通信总线，所述发光设备、感光设备、处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信。
为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种计算机存储介质，存储介质中存储有至少一可执行指令，所述可执行指令使处理器执行上述的控制光学物质检测设备的方法对应的操作。
本发明实施例的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明实施例能够在光学物质检测设备在受到撞击时，计算所述感光设备的感光位移偏差值，并且根据所述感光位移偏差值，执行感光修正处理，有利于避免后续光学物质检测设备在检测物质时，感光设备出现感光偏差，造成感光设备感应的光谱不全，进而影响光学物质检测设备检测物质的准确性。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施例。
附图说明
通过阅读下文优选实施例的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施例的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：
图1是本发明实施例一种控制光学物质检测设备的方法流程图；
图2是本发明另一实施例一种控制光学物质检测设备的方法流程图；
图3是本发明实施例一种控制光学物质检测设备的装置的功能框图；
图4是本发明实施例一种光学物质检测设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
图1为本发明控制光学物质检测设备方法第一实施例的流程图。如图1所示，该方法包括以下步骤：
步骤S101:当检测到所述光学物质检测设备受到撞击时，采集所述光学物质检测设备在受到撞击时的撞击力和撞击方向；
光学物质检测设备是指向被测物质照射检测光，当被测物质遇到检测光之后，其分子会使检测光发生散射或者反射，光学物质检测设备捕获该散射或者反射的光谱，并且根据散射光与检测光之间的频率差确定被测物质的类别的设备。
而检测光是通过光学物质检测设备中的发光设备输出的，捕获该散射或者反射的光谱是通过光学物质检测设备中的感光设备实现的。当光学物质检测设备受到撞击时，例如：从高处跌落撞击地面，或者，受来外物体直接撞击光学物质检测设备时，感光设备或/和发光设备的位置会产生偏移，从而造成反射光或者散射光的光路不会落到发光设备的感光面上，进而造成光学物质检测设备识别物质出现偏差，因此，当光学物质检测设备受到撞击时有必要对光学物质检测设备进行相应的控制处理。
在一些实施例中，为了识别光学物质检测设备是否受到撞击，可以预先在光学物质检测设备中设置传感器，例如加速度传感器、重力传感器、陀螺仪或者地磁传感器等等，通过传感器检测光学物质检测设备是否存在撞击，当存在时，再通过传感器采集到的数据，确定立体三维空间之中三个方向X、Y和Z的撞击力。
步骤S102：根据预设数据模型，结合所述撞击力和撞击方向，计算所述感光设备的感光位移偏差值；
感光位移偏差值是指：在相同测试条件下，测同一种物质时，测出的光谱与光学物质检测设备出厂校准后正确光谱位置的偏差。而返回光包括被测物质在检测光照射时激发的反射光或者散射光。而造成感光位移偏差值得原因可以是光学物质检测设备中某些部件或零件出现位移造成的，例如设备中光路的某个透镜活动或松动造成的。
预设数据模型是指预先建立的撞击力和撞击方向，与，感光位移偏差值的之间的对应关系，而该对应关系可以通过前期多次撞击实验，用各种方式及各种大小的力对已经校准好的光学物质检测设备进行撞击，对比撞击前后检测光谱的位移偏差，来记录光学物质检测设备受到确定方向及力度大小的情况下的感光位移偏差值得到的。
步骤S103：根据所述感光位移偏差值，执行感光修正处理；
在光学物质检测设备受到撞击时，对光学物质检测设备执行感光修正处理，有利于避免光学物质检测设备因感光偏差而造成的物质识别不准确的情况。
在一些实施例中，步骤S103根据所述感光位移偏差值，执行感光修正处理包括：
(1)当所述感光位移偏差值小于预设最小值时，控制所述光学物质检测设备继续正常工作；
当感光设备和发光设备产生微小位置偏移，使得返回光与感光设备的感光面的预设感光区域出现偏差，但是该偏差不影响光学物质检测设备的检测的准确性时，可以忽略该位置偏移，让光学物质检测设备继续工作。而预设最小值为：返回光与感光设备的感光面的预设感光区域之间的偏差不会影响光学物质检测设备的检测的准确性的最大值。
(2)当所述感光位移偏差值大于或者等于预设最小值，并且小于或者等于预设最大值时，发送出所述光学物质检测设备需要校准的较准告警信息；
感光设备的感光面的面积通常会大于返回光的横截面的面积，在感光设备和/或发光设备产生位移时，只要返回光不会落到感光设备的感光面之外，感光设备仍然感应全部返回光，仍然可以执行物质检测，简而言之，感光设备和发光设备的位置允许一定偏移容差，该偏移容差的预设最大值由感光面大小决定。
需要说明的是：上述预设最小值，可以预先根据多次实验测试建立，预设最大值由光学物质检测设备中感光设备中的感光面的最大范围确定。
而较准告警信息可以通过声音、显示进行输出。
(3)当所述感光位移偏差值大于预设最大值时，控制所述光学物质检测设备停止工作，并且发送出所述光学物质检测设备需要维修的维修告警信息。
当所述感光位移偏差值大于预设最大值时，则说明返回光落到感光设备的感光面以外，感光位移偏差值较大无法执行物质检测，仅通过较准的方式无法实现修正，因此，有必要让工作人员对光学物质检测设备进行维修。
维修告警信息也可以通过声音、显示进行输出，在一些实施例中，维修告警信息和较准告警信息可以采用不同的表示方式，例如：采用黄灯代表较准告警信息，采用红灯代表维修告警信息，从而方便工作人员可以通过光学物质检测设备输出的告警信息，即可快速地识别当前光学物质检测设备的情况，并且快速地执行对应的操作。
在一些实施例中，执行感光修正处理还包括：
当所述感光位移偏差值大于或等于预设最小值，并且小于或者等预设最大值时，判断先前是否存储有所述感光位移偏差值；若没有，存储所述感光位移偏差值，并且在所述感光设备在感应到返回光时，根据所述感光位移偏差值修正所述感光设备感应到返回光的光谱位置。
通过存储感光位移偏差值，并且在后续进行光学物质检测时，通过感光位移偏差值修正所感应到返回光的光谱位置，使得光学物质检测设备在受到撞击时仍然可以执行物质检测，不影响物质检测的准确性，避免光学物质检测设备需要停机维修。
进一步的，执行感光修正处理还包括：若先前存储有所述感光位移偏差值，则输出所述光学物质检测设备需要校准的校准告警信息，并且控制所述光学物质检测设备停止工作，当检测到所述感光设备的感光光路成功较准时，清空所存储的所述感光位移偏差值。
当存储有所述感光位移偏差值时，则说明光学物质检测设备先前受到撞击，并且还没有进行较正处理，当再次受到撞击时，在机械结构之中，不适合将两次撞击的结果进行简单的叠加，其原因是：前一次撞击光学物质检测设备时，会改变光学物质检测设备的机械结构，而后一次撞击是撞击改变机械结构的光学物质检测设备，其变化是不可预知性的。因此，直接通知工作人员进行维修更合理。
值得说明的是：本实施例中通过是否存在有感光位移偏差值的方式来表征光学物质检测设备是否处于已较正状态，即：没有存储感光位移偏差值代表已较正光学物质检测设备，存储有感光位移偏差值代表未较正光学物质检测设备。在另一些实施例中，也可以通过其它方式表征是否光学物质检测设备的较正状态，此处不再一一赘述。当然，在一些实施例中，光学物质检测设备在每次执行检测之前，都可以执行较准操作，以使保证光学物质检测设备的检测准确性。
在本发明实施例中，在光学物质检测设备在受到撞击时，计算所述感光设备的感光位移偏差值，并且根据所述感光位移偏差值，执行感光修正处理，有利于避免后续光学物质检测设备在检测物质时，感光设备出现感光偏差，造成感光设备感应的光谱不全，进而影响光学物质检测设备检测物质的准确性。
请参阅图2，图2是本发明另一实施例控制光学物质检测设备的方法的流程图，本实施例与上述实施例不同之处在于，方法还包括：
步骤S104:当检测到所述光学物质检测设备处于跌落状态时，判断所述发光设备是否处于输出检测光的状态,若是，则执行步骤S105，否则控制光学物质检测设备继续工作；
发光设备处于输出检测光是代表光学物质检测设备处于物质检测状态。当光学物质检测设备处于物质检测状态时发光设备所输出的检测光的强度非常高，如果该检测光打到其它物质上有可能出现灼伤其它物质的情况。而当光学物质检测设备处于跌落状态时，发光设备所输出的光的方向呈现不可控的状态，因此，当光学物质检测设备处于跌落状态时，有必要停止输出检测光，避免检测光灼伤其它物质。
可以理解的是：对于光学物质检测设备是否处于跌落状态也可以通过设置于光学物质检测设备上的传感器进行检测，例如：通过加速度检测光学物质检测设备的加速值，并且根据该加速度值确定光学物质检测设备是否处于跌落状态。
步骤S105：控制所述发光设备停止输出检测光。
当然，在一些实施例中，除了控制发光设备停止输出检测光，也可以控制光学物质检测设备的其它部件停止工作。
本发明实施例中，当检测到光学物质检测设备处于跌落状态，并且光学物质检测设备的发光设备输出检测光时，控制发光设备停止输出检测光，以避免光学物质检测设备在跌落的过程，检测光照射到其它方向，灼伤其它物质的情况。
本申请实施例提供了一种非易失性计算机存储介质，所述计算机存储介质存储有至少一可执行指令，该计算机可执行指令可执行上述任意方法实施例中的控制光学物质检测设备的相关步骤。
图3示出了根据本发明实施例一种控制光学物质检测设备的功能框图，该装置包括采集模块301、计算模块302、修正模块303、判断模块304和控制模块305。
采集模块301，用于当检测到所述光学物质检测设备受到撞击时，采集所述光学物质检测设备在受到撞击时的撞击力和撞击方向；
计算模块302，用于根据预设数据模型，结合所述撞击力和撞击方向，计算感光设备的感光位移偏差值；
修正模块303，用于根据所述感光位移偏差值，执行感光修正处理。
在一些实施例中，修正模块303具体用于：当所述感光位移偏差值小于预设光路修正范围的最小值时，控制光学物质检测设备继续正常工作；当所述感光位移偏差值大于或等于预设最小值，且小于或等于预设光最大值时，发送出光学物质检测设备需要校准的校准告警信息；当所述感光位移偏差值大于预设最大值时，控制光学物质检测设备停止工作，同时发送出所述光学物质检测设备需要维修的维修告警信息。
在一些实施例中，修正模块303，还用于：当所述感光位移偏差值大于或等于预设最小值时，判断先前是否存储有所述感光位移偏差值；若没有，存储所述感光位移偏差值，并且在所述感光设备在感应到返回光时，根据所述感光位移偏差值修正所述返回光的光谱位置。
在一些实施例中，修正模块303还用于：若先前存储有所述感光位移偏差值，则输出所述光学物质检测设备需要校准的较准告警信息，并且控制所述光学物质检测设备停止工作；当检测到所述感光设备的感光光路成功较准时，清空所存储的所述感光位移偏差值。
判断模块304：用于当检测到所述光学物质检测设备处于跌落状态时，判断所述发光设备是否处于输出检测光的状态光。
控制模块305：用于若是，控制所述发光设备停止输出检测光。
在本发明实施例中，使用采集模块301采集在光学物质检测设备在受到撞击时的撞击力信息，通过计算模块302计算所述感光设备的感光感光位移偏差值，并且根据所述感光位移偏差值，通过修正模块303执行感光修正处理，有利于避免后续光学物质检测设备在检测物质时，感光设备出现感光偏差，造成感光设备感应的光谱不全，进而影响光学物质检测设备检测物质的准确性。还可以通过判断模块304来判断当检测到光学物质检测设备处于跌落状态时，光学物质检测设备的发光设备输出是否检测光时，若是，则控制发光设备停止输出检测光，以避免光学物质检测设备在跌落的过程，检测光照射到其它方向，灼伤其它物质的情况。
图4示出了根据本发明实施例一种光学物质检测设备的结构示意图。
如图4所示，该光学物质检测设备可以包括：处理器402、发光设备403、感光设备404、存储器405、通信接口407、总线408和程序410。
其中：
处理器402、发光设备403、感光设备404、存储器405通过通信总线408完成相互间的通信。
通信接口407，用于与其它设备比如客户端或其它服务器等的网元通信。
处理器402，用于执行程序410，具体可以执行上述控制光学物质检测设备方法实施例中的相关步骤。
具体地，程序410可以包括程序代码，该程序代码包括计算机操作指令。
处理器402可能是中央处理器CPU，或者是特定集成电路ASIC(ApplicationSpecific Integrated Circuit)，或者是被配置成实施本发明实施例的一个或多个集成电路。计算设备包括的一个或多个处理器，可以是同一类型的处理器，如一个或多个CPU；也可以是不同类型的处理器，如一个或多个CPU以及一个或多个ASIC。
存储器405，用于存放程序410。存储器405可能包含高速RAM存储器，也可能还包括非易失性存储器(non-volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。
程序410具体可以用于使得处理器402执行以下操作：
当检测到所述光学物质检测设备受到撞击时，采集所述光学物质检测设备在受到撞击时的撞击力和撞击方向；根据预设数据模型，结合所述撞击力和撞击方向，计算所述感光设备的感光位移偏差值；根据所述感光位移偏差值，执行感光修正处理。
值得说明的是：光学物质检测设备被撞击，以及光学物质检测设备在受到撞击时的撞击力和撞击方向，均可以通过传感器进行检测，则光学物质检测设备还包括传感器(图未示)。传感器采集到数据之后，发送到处理器进行处理，从确定光学物质检测设备是否给撞击，以及，在受到撞击时撞击力和撞击方向。
在一种可选的方式中，程序410具体可以进一步用于使得处理器402执行以下操作：
执行感光修正处理，包括：当所述感光位移偏差值小于预设最小值时，控制所述光学物质检测设备继续正常工作；当所述感光位移偏差值位于大于或等于预设最小值，且小于或等于预设最大值时，发送出所述光学物质检测设备需要校准的较准告警信息；当所述感光位移偏差值大于预设光路修正范围的最大值时，控制所述光学物质检测设备停止工作，并且发送出所述光学物质检测设备需要维修的维修告警信息。
在一种可选的方式中，程序410具体可以进一步用于使得处理器402执行以下操作：
执行所述感光修正处理，包括：当所述感光位移偏差值位于预设光路修正范围内时，判断先前是否存储有所述感光位移偏差值；若没有，控制光学物质检测设备继续正常工作，并且存储所述感光位移偏差值，并且在所述感光设备在感应到返回光时，根据所述感光位移偏差值修正所感应到返回光的光谱位置。
在一种可选的方式中，程序410具体可以进一步用于使得处理器402执行以下操作：
若先前存储有所述感光位移偏差值，则输出所述光学物质检测设备需要校准的校准告警信息，并且控制所述光学物质检测设备停止工作；当检测到所述感光设备的感光光路成功较准时，清空所存储的所述感光位移偏差值。
在一种可选的方式中，程序410具体可以进一步用于使得处理器402执行以下操作：
当检测到所述光学物质检测设备处于跌落状态时，判断所述发光设备是否处于输出检测光的状态；若是，控制所述发光设备停止输出检测光。
在此提供的算法和显示不与任何特定计算机、虚拟系统或者其它设备固有相关。各种通用系统也可以与基于在此的示教一起使用。根据上面的描述，构造这类系统所要求的结构是显而易见的。此外，本发明也不针对任何特定编程语言。应当明白，可以利用各种编程语言实现在此描述的本发明的内容，并且上面对特定语言所做的描述是为了披露本发明的最佳实施例。
在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。
类似地，应当理解，为了精简本公开并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在上面对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该公开的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如下面的权利要求书所反映的那样，发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此，遵循具体实施例的权利要求书由此明确地并入该具体实施例，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。
本领域那些技术人员可以理解，可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件，以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。
此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此所述的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在下面的权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。
本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的消息弹窗的展示装置中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。
应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的元件或步骤。位于元件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的元件。本发明可以借助于包括有若干不同元件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。
Claims (8)
1.一种控制光学物质检测设备的方法，所述光学物质检测设备包括感光设备，其特征在于，包括：
当检测到所述光学物质检测设备受到撞击时，采集所述光学物质检测设备在受到撞击时的撞击力和撞击方向；
根据预设数据模型，结合所述撞击力和撞击方向，计算所述感光设备的感光位移偏差值；
根据所述感光位移偏差值，执行感光修正处理；
所述光学物质检测设备包括发光设备；所述方法还包括：
当检测到所述光学物质检测设备处于跌落状态时，判断所述发光设备是否处于输出检测光的状态；
若是，控制所述发光设备停止输出检测光。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述执行感光修正处理，包括：
当所述感光位移偏差值小于预设最小值时，控制所述光学物质检测设备继续正常工作；
当所述感光位移偏差值位于大于或等于预设最小值，且小于或等于预设最大值时，发送出所述光学物质检测设备需要校准的较准告警信息；
当所述感光位移偏差值大于预设光路修正范围的最大值时，控制所述光学物质检测设备停止工作，并且发送出所述光学物质检测设备需要维修的维修告警信息。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，包括：
所述感光修正处理，包括：
当所述感光位移偏差值位于预设光路修正范围内时，判断先前是否存储有所述感光位移偏差值；
若没有，控制光学物质检测设备继续正常工作，并且存储所述感光位移偏差值，并且在所述感光设备在感应到返回光时，根据所述感光位移偏差值修正所述感光设备感应到返回光的光谱位置；
若先前存储有所述感光位移偏差值，则输出所述光学物质检测设备需要校准的校准告警信息，并且控制所述光学物质检测设备停止工作；
当检测到所述感光设备的感光光路成功较准时，清空所存储的所述感光位移偏差值。
4.一种控制光学物质检测设备的装置，所述光学物质检测设备包括发光设备和感光设备，其特征在于，包括：
采集模块，用于当检测到所述光学物质检测设备受到撞击时，采集所述光学物质检测设备在受到撞击时的撞击力和撞击方向；
计算模块，用于根据预设数据模型，结合所述撞击力和撞击方向，计算感光设备的感光位移偏差值；
修正模块，用于根据所述感光位移偏差值，执行感光修正处理；
判断模块，用于当检测到所述光学物质检测设备处于跌落状态时，判断所述发光设备是否处于输出检测光的状态，若是，则通过控制模块控制所述发光设备停止输出检测光；
所述控制模块，用于控制所述发光设备停止输出检测光。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述修正模块具体用于：当所述感光位移偏差值小于预设光路修正范围的最小值时，控制光学物质检测设备继续正常工作；
当所述感光位移偏差值大于或等于预设最小值，且小于或等于预设光最大值时，发送出光学物质检测设备需要校准的校准告警信息；
当所述感光位移偏差值大于预设最大值时，控制光学物质检测设备停止工作，同时发送出所述光学物质检测设备需要维修的维修告警信息。
6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，
所述修正模块，还用于：
当所述感光位移偏差值大于或等于预设最小值时，判断先前是否存储有所述感光位移偏差值；
若没有，存储所述感光位移偏差值，并且在所述感光设备在感应到返回光时，根据所述感光位移偏差值修正所述返回光的光谱位置；
若先前存储有所述感光位移偏差值，则输出所述光学物质检测设备需要校准的较准告警信息，并且控制所述光学物质检测设备停止工作；
当检测到所述感光设备的感光光路成功较准时，清空所存储的所述感光位移偏差值。
7.一种光学物质检测设备，其特征在于，包括发光设备、感光设备、处理器、存储器、通信接口和通信总线，所述发光设备、感光设备、处理器、所述存储器和所述通信接口通过所述通信总线完成相互间的通信；
所述存储器用于存放至少一可执行指令，所述可执行指令使所述处理器执行如权利要求1-3中任一项所述控制光学物质检测设备的方法对应的操作。
8.一种计算机存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有至少一可执行指令，所述可执行指令使处理器执行如权利要求1-3中任一项所述的控制光学物质检测设备的方法对应的操作。
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