CN109576783A - 一种用于高质量氮化铝晶体生长的原料预处理方法 - Google Patents
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Abstract
一种用于高质量氮化铝晶体生长的原料预处理方法,包括以下步骤:(1)将AlN粉末原料置于烧料坩埚内,烧料坩埚置于AlN晶体生长设备中,密封生长设备;(2)生长设备抽真空后通入高纯氮气,在氮气氛围下烧结,降至室温,得到AlN原料烧结体;(3)粉碎成AlN粉末颗粒;(4)将AlN粉末颗粒置于生长坩埚内,生长坩埚置于AlN晶体生长设备中,密封生长设备;(5)生长设备抽真空后通入高纯氮气,在氮气氛围下烧结,降至室温,得到AlN高纯多晶原料烧结体。该方法有效降低AlN原料中的杂质,在增加AlN原料粒径的同时,使AlN颗粒之间存在大的间隙,提高了AlN的气相传输能力,获得了缩聚均匀的AlN烧结体,满足高质量AlN晶体生长的原料要求。
Description
技术领域
本发明涉及一种适用于物理气相传输法(PVT)生长氮化铝(AlN)晶体的原料预处理方法,该方法可以得到适合生长高质量AlN晶体的高纯多晶原料,属于人工晶体生长技术领域。
背景技术
AlN晶体是一种非常重要的第三代半导体材料,具有直接带隙和超宽的禁带宽度(6.2eV),同时具有高热导率、高临界击穿电场、高载流子迁移速率、强抗辐射能力等特性,因此AlN作为重要的紫外发光材料,广泛应用于紫外/深紫外发光二极管、紫外激光二极管以及紫外探测器等领域。因此AlN晶体材料的研究和应用成为了目前全球半导体研究的前沿和热点。
目前,物理气相传输法(PVT)是生长AlN晶体最常用的方法,该方法的基本过程:AlN原料在高温区升华成气相物质,控制生长室的温度梯度,气相物质在温度梯度的驱动下,从原料表面传输到低温区的籽晶上结晶生长出AlN晶体。其中,AlN原料是生长出高质量AlN晶体的关键技术难点之一。
一方面目前商业化的AlN原料常含有氧、碳、钙、硅、铁等杂质,这些杂质的存在,严重影响了AlN晶体的成核和晶体质量,同时降低了AlN晶体的热导率。另一方面商业化的AlN粉末原料的粒径小,一次烧结后的原料烧结体内基本无间隙,影响AlN的气相输运,大大降低了AlN晶体的生长速率。
中国专利文献CN103643295A公开了一种气相法生长AlN晶体用原料的制备方法。该方法首先将钨坩埚和坩埚盖浸泡于王水中,然后向钨坩埚中加入AlN粉料,再放入钨网加热炉中,升温至1800-2050℃,将粉料烧制成致密烧结体。该方法为一次烧结,烧结出的原料烧结体内基本无间隙,严重影响AlN的气相输运,大大降低了AlN晶体的生长速率;再次填料烧结后,烧结体缩聚不均匀,不利于AlN晶体生长。
发明内容
本发明针对商业化的AlN粉末原料纯度低,粒径小以及原料颗粒之间的间隙不适合PVT法生长高质量AlN晶体的问题,提供一种简单高效的用于PVT法生长高质量AlN晶体生长的原料预处理方法。
本发明用于高质量氮化铝(AlN)晶体生长的原料预处理方法,包括以下步骤:
(1)将AlN粉末原料置于烧料坩埚内,烧料坩埚置于AlN晶体生长设备中,密封生长设备;
(2)生长设备抽真空后通入高纯氮气,在0.5-0.8mbar的氮气氛围下,1500-1800℃烧结5-8小时,缓慢降至室温,得到AlN原料烧结体;
(3)将AlN原料烧结体粉碎,得到AlN粉末颗粒;
(4)将AlN粉末颗粒置于生长坩埚内,生长坩埚置于AlN晶体生长设备中,密封生长设备;
(5)生长设备抽真空后通入高纯氮气,在≥1.0mbar的氮气氛围下,2000-2250℃烧结10-30小时,缓慢降至室温,得到AlN高纯多晶原料烧结体。
所述步骤(1)中AlN粉末原料的粒径为1-10μm。
所述步骤(1)中烧料坩埚为氮化硼坩埚、钨坩埚或碳化钽坩埚。
所述步骤(1)和(4)中烧料坩埚和生长坩埚进行清洗,除去表面的污染物。可以先使用加热的丙酮溶液清洗,随后使用乙醇溶液清洗。
所述步骤(2)和(5)中抽真空的真空值≤10-3Pa。
所述步骤(2)和(5)中高纯氮气的纯度≥99.999%。
所述步骤(2)中1500-1800℃烧结5-8小时,具体是:先以8-10℃/分钟升温至1200℃,保温1-2小时,然后以3-5℃/分钟升温至1500-1800℃,保温5-8小时。
所述步骤(2)中缓慢降温的降温速率为50-100℃/小时。
所述步骤(3)中得到AlN粉末颗粒的粒径为0.5-2.0mm。
所述步骤(4)中生长坩埚为钨坩埚和碳化钽坩埚。
所述步骤(5)中2000-2250℃烧结10-30小时,具体是:先以8-10℃/分钟升温至1800℃,然后以3-5℃/分钟升温至2000-2250℃,保温10-30分钟。
所述步骤(5)中缓慢降温至室温,具体是:以30-50℃/小时的降温速率降至1600-1800℃,随后以50-100℃/小时降至室温。
AlN粉末原料预处理的应用:将上述预处理后的淡黄色AlN高纯多晶原料烧结体置于原生长坩埚内,放入PVT生长炉中生长高质量的AlN晶体。
本发明将AlN粉末原料进行两次不同温度和压力的烧结,且第一次烧结后将AlN原料烧结体置于粉碎机中粉碎,得到粒径为0.5-2.0mm AlN粉末颗粒,然后将AlN粉末颗粒置于生长坩埚内在≥1.0mbar的氮气氛围下进行高温烧结,在增加AlN原料粒径的同时,由于原料烧结体经过粉碎的作用,AlN颗粒之间存在大的间隙,大大提高了AlN的气相传输能力,获得了粒径变大,原料颗粒之间存在间隙、缩聚均匀的高纯AlN多晶原料烧结体,该烧结体适合PVT法高速率生长高质量AlN单晶。
本发明的方法不仅可以显著降低AlN原料中的杂质含量,还对一次烧结原料烧结体进行了粉碎,并进行了二次烧结,获得了原料粒径大、原料颗粒之间间隙大的AlN多晶原料烧结体,再次填料后,依然可以得到缩聚均匀的AlN多晶原料烧结体,该烧结体适合PVT法高速率生长高质量AlN晶体。
附图说明
图1本发明中使用的AlN晶体生长设备示意图,
图2本发明实施案例1获得的淡黄色AlN高纯多晶原料烧结体照片。
图3本发明实施案例1获得的AlN高纯多晶原料SEM图。
图中:1.红外测温仪;2.石墨保温材料;3.AlN晶体;4.中频感应线圈;5.坩埚;6.AlN原料。
具体实施方式
实施例1
(1)先对烧料坩埚(氮化硼坩埚、钨坩埚或碳化钽坩埚)和生长坩埚(钨坩埚或碳化钽坩埚)进行清洗,除去表面的污染物。可以先使用加热的丙酮溶液清洗,随后使用乙醇溶液清洗。
(2)将平均粒径为2μm的AlN粉末原料置于烧料坩埚内,烧料坩埚置于AlN晶体生长设备中,密封设备。AlN晶体生长设备为现有常规设备,如图1所示,包括中频感应线圈4、石墨保温材料2和红外测温仪1,AlN粉末原料6置于烧料坩埚5内,通过中频感应线圈4加热生长AlN晶体3。
(3)使用真空系统,将生长设备抽真空,真空度不大于10-3Pa,然后通入高纯氮气(纯度≥99.999%),在0.8mbar的氮气氛围下,先以10℃/min的速率升温至1200℃,保温1h,然后以4℃/min的速率升温至1800℃,保温5h,随后缓慢降温至室温,其中降温速率约为80℃/h,得到白色的AlN原料烧结体;
(4)将烧结后的AlN原料烧结体置于粉碎机中粉碎,得到粒径约0.8mm的AlN粉末颗粒;
(5)将AlN粉末颗粒置于生长坩埚内,钨坩埚置于AlN晶体生长设备中,密封设备;
(6)使用真空系统,将设备抽真空,真空度不大于10-3Pa,然后通入高纯氮气,在1.5mbar的氮气氛围下,先以10℃/min升温至1800℃,然后以4℃/min升温至2100℃,保温15h,随后缓慢降温至室温,其中降温速率为40℃/h降温至1800℃,随后以80℃/h降温至室温,得到淡黄色的AlN高纯多晶原料烧结体。
图2给出了本实施例获得的淡黄色AlN高纯多晶原料烧结体照片。
图3给出了本实施例获得的AlN高纯多晶原料SEM图。
实施例2
本实施例与实施例1的不同之处在于步骤(3)、(4)和(6):
(3)在0.6mbar的氮气氛围下,先以8℃/min升温至1200℃,保温2h,然后以5℃/min升温至1700℃,保温6h,随后缓慢降温至室温,其中降温速率约为100℃/h,得到白色的AlN原料烧结体;
(4)将烧结后的AlN原料烧结体置于粉碎机中粉碎,得到粒径约0.5mm的AlN粉末颗粒;
(6)在1.5mbar的氮气氛围下,先以9℃/min升温至1800℃,然后以5℃/min升温至2100℃,保温15h,随后缓慢降温至室温,其中降温速率为40℃/h降温至1600℃,随后以50℃/h降温至室温,得到淡黄色的AlN高纯多晶原料烧结体。
实施例3
本实施例与实施例1的不同之处在于步骤(2)、(3)、(4)和(6):
(2)将平均粒径为5μm AlN粉末原料置于氮化硼坩埚内;
(3)在0.7mbar的氮气氛围下,先以9℃/min升温至1200℃,保温1.5h,然后以3℃/min升温至1600℃,保温7h,随后缓慢降温至室温,其中降温速率约为50℃/h,得到白色的AlN原料烧结体;
(4)将烧结后的AlN原料烧结体置于粉碎机中粉碎,得到粒径约0.8mm的AlN粉末颗粒;
(6)在1.2mbar的氮气氛围下,先以8℃/min升温至1800℃,然后以3.5℃/min升温至2050℃,保温20h,随后缓慢降温至室温,其中降温速率为50℃/h降温至1800℃,随后以100℃/h降温至室温,得到淡黄色的AlN高纯多晶原料烧结体。
实施例4
本实施例与实施例1的不同之处在于步骤(2)、(3)、(4)和(6):
(2)将平均粒径为8μm AlN粉末原料置于氮化硼坩埚内
(3)在0.5mbar的氮气氛围下,先以10℃/min升温至1200℃,保温2h,然后以4℃/min升温至1500℃,保温8h,随后缓慢降温至室温,其中降温速率约为70℃/h,得到白色的AlN原料烧结体;
(4)将烧结后的AlN原料烧结体置于粉碎机中粉碎,得到粒径约1.5mm的AlN粉末颗粒;
(6)在1mbar的氮气氛围下,先以10℃/min升温至1800℃,然后以3℃/min升温至2000℃,保温30h,随后缓慢降温至室温,其中降温速率为30℃/h降温至1700℃,随后以80℃/h降温至室温,得到淡黄色的AlN高纯多晶原料烧结体。
实施例5
本实施例与实施例1的不同之处在于步骤(2)、(3)、(4)和(6):
(2)将平均粒径为1μm AlN粉末原料置于氮化硼坩埚内
(3)在0.5mbar的氮气氛围下,先以9℃/min升温至1200℃,保温2h,然后以4℃/min升温至1500℃,保温8h,随后缓慢降温至室温,其中降温速率约为90℃/h,得到白色的AlN原料烧结体;
(4)将烧结后的AlN原料烧结体置于粉碎机中粉碎,得到粒径约1mm的AlN粉末颗粒;
(6)使用真空系统,将设备抽真空,然后通入高纯氮气,在1mbar的氮气氛围下,先以10℃/min升温至1800℃,然后以4℃/min升温至2250℃,保温10h,随后缓慢降温至室温,其中降温速率为40℃/h降温至1600℃,随后以70℃/h降温至室温,得到淡黄色的AlN高纯多晶原料烧结体。
实施例6
本实施例与实施例1的不同之处在于步骤(2)、(3)、(4)和(6):
(2)将平均粒径为10μm AlN粉末原料置于氮化硼坩埚内。
(3)在0.5mbar的氮气氛围下,先以9℃/min升温至1200℃,保温2h,然后以4℃/min升温至1700℃,保温8h,随后缓慢降温至室温,其中降温速率约为60℃/h,得到白色的AlN原料烧结体;
(4)将烧结后的AlN原料烧结体置于粉碎机中粉碎,得到粒径约2mm的AlN粉末颗粒;
(6)使用真空系统,将设备抽真空,然后通入高纯氮气,在1mbar的氮气氛围下,先以10℃/min升温至1800℃,然后以4℃/min升温至2200℃,保温12h,随后缓慢降温至室温,其中降温速率为40℃/h降温至1650℃,随后以70℃/h降温至室温,得到淡黄色的AlN高纯多晶原料烧结体。
Claims (10)
1.一种用于高质量氮化铝晶体生长的原料预处理方法,其特征是,包括以下步骤:
(1)将AlN粉末原料置于烧料坩埚内,烧料坩埚置于AlN晶体生长设备中,密封生长设备;
(2)生长设备抽真空后通入高纯氮气,在0.5-0.8mbar的氮气氛围下,1500-1800℃烧结5-8小时,缓慢降至室温,得到AlN原料烧结体;
(3)将AlN原料烧结体粉碎,得到AlN粉末颗粒;
(4)将AlN粉末颗粒置于生长坩埚内,生长坩埚置于AlN晶体生长设备中,密封生长设备;
(5)生长设备抽真空后通入高纯氮气,在≥1.0mbar的氮气氛围下,2000-2250℃烧结10-30小时,缓慢降至室温,得到AlN高纯多晶原料烧结体。
2.根据权利要求1所述的用于高质量氮化铝晶体生长的原料预处理方法,其特征是,所述步骤(1)中AlN粉末原料的粒径为1-10μm。
3.根据权利要求1所述的用于高质量氮化铝晶体生长的原料预处理方法,其特征是,所述步骤(1)和(4)中烧料坩埚和生长坩埚进行清洗,除去表面的污染物。
4.根据权利要求3所述的用于高质量氮化铝晶体生长的原料预处理方法,其特征是,所述清洗是指:先使用加热的丙酮溶液清洗,随后使用乙醇溶液清洗。
5.根据权利要求1所述的用于高质量氮化铝晶体生长的原料预处理方法,其特征是,所述步骤(2)和(5)中抽真空的真空值≤10-3Pa。
6.根据权利要求1所述的用于高质量氮化铝晶体生长的原料预处理方法,其特征是,所述步骤(2)中1500-1800℃烧结5-8小时,具体是:先以8-10℃/分钟升温至1200℃,保温1-2小时,然后以3-5℃/分钟升温至1500-1800℃,保温5-8小时。
7.根据权利要求1所述的用于高质量氮化铝晶体生长的原料预处理方法,其特征是,所述步骤(2)中缓慢降温的降温速率为50-100℃/小时。
8.根据权利要求1所述的用于高质量氮化铝晶体生长的原料预处理方法,其特征是,所述步骤(3)中得到AlN粉末颗粒的粒径为0.5-2.0mm。
9.根据权利要求1所述的用于高质量氮化铝晶体生长的原料预处理方法,其特征是,所述步骤(5)中2000–2250℃烧结10-30小时,具体是:先以8-10℃/分钟升温至1800℃,然后以3-5℃/分钟升温至2000-2250℃,保温10-30分钟。
10.根据权利要求1所述的用于高质量氮化铝晶体生长的原料预处理方法,其特征是,所述步骤(5)中缓慢降温至室温,具体是:以30-50℃/小时的降温速率降至1600-1800℃,随后以50-100℃/小时降至室温。
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20190405 |
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