CN109547024B - 多信号的检测方法和检测控制装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种多信号的检测方法和检测控制装置，通过检测控制装置生成指示信号和控制信号；其中，指示信号用于控制信号采样单元对多种模拟信号进行检测；控制信号用于控制信号采样单元同一时刻选择多种模拟信号中的一种模拟信号进行检测；检测控制装置向信号采样单元发送指示信号和控制信号；检测控制装置接收信号采样单元分时发送的多种模拟信号的采样值。由于控制信号控制信号采样单元同一时刻选择多种模拟信号中的一种进行检测，因此可实现分时对多种模拟信号进行检测，进而使得检测控制装置可分时接收到信号采样单元发送的多种模拟信号的采样值，实现了单个SAR_ADC能对多种信号进行检测。

Description

多信号的检测方法和检测控制装置

技术领域

本发明涉及电子电路技术领域，尤其涉及一种多信号的检测方法和检测控制装置。

背景技术

在数字音频功放芯片的发展中，需要对芯片的供电电池电压和芯片的温度等信号检测。目前，对芯片的供电电池电压和芯片的温度等多种模拟信号，通常采用逐次逼近式模拟数字转换器(英文名称：Successive Approximation Register_Analog to DigitalConverter，英文简称：SAR_ADC)进行检测。

具体的，SAR_ADC在每一次模数转换过程中，通过遍历所有的量化值并将其转化为模拟值，将输入的模拟信号与其逐一比较，最终得到要输出的数字信号。SAR_ADC因其设计简单、转换速率适中、面积较小而得到广泛应用。

但是，SAR_ADC只能对一种模拟信号进行检测，若需要检测多种模拟信号，则需多个SAR_ADC才可实现检测。而多个SAR_ADC占用面积过大，在许多芯片中并不适用。

发明内容

基于上述现有技术的不足，本申请提出了一种多信号检测方法和检测控制装置，以实现单个SAR_ADC能对多种信号进行检测。

为解决上述问题，现提出的方案如下：

本发明的第一方面公开了一种多信号的检测方法，包括：

检测控制装置生成指示信号和控制信号；其中，所述指示信号用于控制信号采样单元对多种模拟信号进行检测；所述控制信号用于控制所述信号采样单元同一时刻选择所述多种模拟信号中的一种模拟信号进行检测；

所述检测控制装置向所述信号采样单元发送所述指示信号和所述控制信号；

所述检测控制装置接收所述信号采样单元分时发送的所述多种模拟信号的采样值。

可选地，在上述多信号的检测方法中，所述检测控制装置接收所述信号采样单元分时发送的所述多种模拟信号的采样值之后，还包括：

所述检测控制装置对接收的模拟信号的采样值进行平均值计算，得到所述模拟信号的平均检测值。

可选地，在上述多信号的检测方法中，所述检测控制装置生成指示信号，包括：

所述检测控制装置接收时钟信号；

所述检测控制装置对所述时钟信号进行高、低电平信号的计数并分频，得到高、低电平信号的计数结果；

所述检测控制装置依据所述计数结果，生成所述指示信号。

可选地，在上述多信号的检测方法中，所述检测控制装置依据所述计数结果，生成所述指示信号，包括：

所述检测控制装置利用计数结果，确定忙碌时间；

所述检测控制装置利用慢速时钟信号，确定空闲时间；

所述检测控制装置依据忙碌时间和空闲时间，生成所述指示信号；其中，所述指示信号包括空闲区域和忙碌区域，所述指示信号的空闲区域用于控制所述信号采样单元空闲，所述指示信号的忙碌区域用于控制所述信号采样单元工作。

可选地，在上述多信号的检测方法中，所述检测控制装置接收所述信号采样单元分时发送的多种模拟信号的采样值，包括：

所述检测控制装置接收同步指示信号；

所述检测控制装置依据所述同步指示信号，接收所述信号采样单元分时发送的所述多种模拟信号的采样值。

可选地，在上述多信号的检测方法中，所述检测控制装置生成控制信号，包括：

所述检测控制装置生成多种控制信号；其中，每一种控制信号用于控制所述信号采样单元对唯一一种模拟信号进行检测，所述每一种控制信号控制所述信号采样单元进行检测的时刻互不相同。

本发明的第二方面公开了一种检测控制装置，包括：

生成单元，用于生成指示信号及控制信号；其中，所述指示信号用于控制信号采样单元对多种模拟信号进行检测；所述控制信号用于控制所述信号采样单元同一时刻选择所述多种模拟信号中的一种模拟信号进行检测；

发送单元，用于向所述信号采样单元发送所述指示信号及所述控制信号；

接收单元，用于接收所述信号采样单元分时发送的所述多种模拟信号的采样值。

可选地，在上述检测控制装置中，还包括：

计算单元，用于对接收的模拟信号的采样值进行平均值计算，得到所述模拟信号的平均检测值。

可选地，在上述检测控制装置中，所述接收单元执行接收所述信号采样单元分时发送的所述多种模拟信号的采样值时，用于：

接收同步指示信号，并依据所述同步指示信号，接收所述信号采样单元发送的多种模拟信号的采样值。

可选地，在上述检测控制装置中，所述生成单元，包括：

计数单元，用于接收时钟信号，对所述时钟信号进行高、低电平信号的计数并分频，得到高、低电平信号的计数结果；依据所述计数结果，生成所述指示信号；

分时控制单元，用于生成多种控制信号；其中，每一种控制信号用于控制所述信号采样单元对唯一一种模拟信号进行检测，所述每一种控制信号控制所述信号采样单元进行检测的时刻互不相同。

从上述的技术方案可以看出，本申请提供的多信号的检测方法中，检测控制装置生成指示信号和控制信号，指示信号用于控制信号采样单元对多种模拟信号进行检测，控制信号则用于控制信号采样单元同一时刻选择多种模拟信号中的一种进行检测。检测控制装置向信号采样单元发送指示信号及控制信号，接收到信号采样单元分时发送的多种模拟信号的采样值。由于控制信号控制信号采样单元同一时刻选择多种模拟信号中的一种进行检测，因此可实现分时对多种模拟信号进行检测，进而使得检测控制装置可分时接收到信号采样单元发送的多种模拟信号的采样值，实现了单个SAR_ADC能对多种信号进行检测。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例公开的一种多信号的检测方法的流程示意图；

图2是本发明实施例公开的检测控制装置内部的信号关系图；

图3是本发明实施例公开的一种信号采样单元的架构示意图；

图4是本发明实施例公开的信号采样单元内部的信号关系图；

图5是本发明实施例公开的另一种多信号的检测方法的流程示意图；

图6是本发明实施例公开的一种检测控制装置结构示意图；

图7是本发明实施例公开的一种检测控制装置的架构示意图；

图8是本发明实施例公开的另一种检测控制装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参阅图1，本发明实施例公开了一种多信号的检测方法，具体步骤包括：

S101、检测控制装置生成指示信号和控制信号。

其中，指示信号用于控制信号采样单元对多种模拟信号进行检测。控制信号用于控制信号采样单元同一时刻选择多种模拟信号中的一种模拟信号进行检测。

需要说明的是，信号采样单元可以为一种SAR_ADC。其中，指示信号和控制信号为高电平或低电平状态的电平信号。

可选地，本发明的另一实施例中，检测控制装置生成指示信号的一种实施方式，包括：

检测控制装置接收时钟信号，并对时钟信号进行高、低电平信号的计数并分频，得到高、低电平信号的计数结果。检测控制装置再依据计数结果，生成指示信号。

具体的，检测控制装置接收时钟信号，可以循环计下31个时钟信号的高电平、1个时钟信号的低电平，检测控制装置根据计数结果进行逻辑控制，生成指示信号。其中，生成的指示信号的一个周期内包含连续的31个时钟信号的高电平、1个时钟信号的低电平。

可选地，检测控制装置中可通过计数器、分频器等设备，对时钟信号的高、低电平信号进行计数并分频。

通过对时钟信号进行计数分频，可降低时钟信号的频率，调整得到频率合适及高、低电平时间比合适的指示信号。其中，指示信号的高、低电平时间比、循环计数的数值等均可人为进行设定调整。

其中，指示信号用于控制信号采样单元对多种模拟信号进行检测。当指示信号处于高电平状态时，控制信号采样单元对多种模拟信号进行检测。具体地，指示信号处于高电平状态时，可以控制信号采样单元先进行采样建立，接着控制信号采样单元对多种模拟信号进行检测，将模拟信号的采样值转换成10位数据，使信号采样单元输出10位数据的采样值。需要说明的是，采样建立时间、检测转换时间均可人为地进行设定调整。

可选地，本发明另一实施例中，检测控制装置依据计数结果，生成指示信号的一种方式，包括：

检测控制装置利用计数结果，确定忙碌时间。检测控制装置利用慢速时钟信号，确定空闲时间。检测控制装置依据忙碌时间和空闲时间，生成指示信号。

其中，确定忙碌时间以及确定空闲时间的先后顺序不影响本发明实施例的实现。

生成的指示信号包括空闲区域和忙碌区域，指示信号的空闲区域用于控制信号采样单元空闲，指示信号的忙碌区域用于控制信号采样单元工作。

具体的，检测控制装置根据计数结果，生成忙碌信号。检测控制装置根据慢速时钟信号，生成空闲信号。根据忙碌信号和空闲信号生成指示信号。其中，指示信号的空闲周期为慢速时钟信号的周期。

可选地，本发明的另一实施例中，检测控制装置根据慢速时钟信号生成空闲信号一种实施方式，包括：

检测控制装置对慢速时钟信号进行配置，根据配置后的慢速时钟信号，生成空闲信号。根据空闲信号对指示信号进行处理，配置指示信号的空闲周期。其中，指示信号的空闲周期为慢速时钟信号的低电平周期与配置慢速时钟信号的值的乘积。

具体的，参阅图2，根据128个指示信号的周期的计数结果，生成忙碌信号ADC_BUSY。其中，忙碌信号ADC_BUSY处于高电平状态时，指示信号控制信号采样单元共采集了128个模拟信号采样点的采样值。将慢速时钟信号CLK_CHOP的周期设为指示信号的周期的128倍，并将计数器wait_cfg[3:0]的值配置为15，生成了空闲信号ADC_WAIT。其中，空闲信号ADC_WAIT的一个周期内，高电平时间为15倍的慢速时钟信号CLK_CHOP的周期，即15倍的采集128个采样值的时间长度。通过空闲信号ADC_WAIT配置指示信号的空闲周期，通过忙碌信号ADC_BUSY配置指示信号的忙碌周期。由上述空闲信号ADC_WAIT和忙碌信号ADC_BUSY生成的指示信号，在控制信号采样单元采集128个采样点的采样值后，进入空闲状态，空闲时长为15倍的采集128个采样值的时间长度。

通过计数结果和慢速时钟信号来处理指示信号，使得信号采样单元在指示信号的控制下不会一直处于工作状态，从而达到了低功耗的效果。并且，处于工作状态的忙碌时间以及处于空闲状态的空闲时间可以根据实际情况，人为地进行设定。

检测控制装置生成控制信号。其中，控制信号用于控制信号采样单元同一时刻选择多种模拟信号中的一种模拟信号进行检测。

可选地，检测控制装置可以只生成一种控制信号时，当一种控制信号处于高电平状态，控制信号采样单元选择一种模拟信号进行检测，当控制信号处于低电平状态下，控制信号采样单元选择另一种模拟信号进行检测。由于一种控制信号处于高电平的时刻与处于低电平的时刻互不重合，因此可实现分时对两种模拟信号进行检测。

可选地，检测控制装置也可以生成多种控制信号，其中，每一种控制信号用于控制信号采样单元对唯一一种模拟信号进行检测，每一种控制信号控制信号采样单元进行检测的时刻互不相同。

需要说明的是，控制信号处于高电平状态时，控制信号采样单元对与控制信号相对应的模拟信号进行检测，即信号采样单元对一种模拟信号的检测仅受唯一一种控制信号控制。由于多种控制信号处于高电平的时刻互不重合，因此信号采样单元对多种模拟信号进行检测的时刻也互不相同，进而可实现分时对多种模拟信号进行检测。

可选地，本发明的另一实施例中，检测控制装置生成多种控制信号的一种实施方式，包括：

检测控制装置对接收的多种模拟信号的采样值的个数进行计数，设定前64个采样点为电压采样点，后64个采样点为温度采样点。根据检测控制装置的设定，生成第一控制信号和第二控制信号。第一控制信号处于高电平状态时，用于控制信号采样单元对电压进行检测，信号采样单元采集到64个电压采样值后，第一控制信号变为低电平，而第二控制信号切换到高电平状态。第二控制信号用于控制信号采样单元对温度进行检测。第二控制信号处于高电平状态时，信号采样单元采集64个温度采样值。其中，第一控制信号与第二控制信号处于高电平状态的时刻互不重合。

其中，模拟信号也可以是电流模拟信号等其他类型的模拟信号。需要说明的是，控制信号采用高电平有效控制或采用低电平有效控制均可实现本申请实施例的方案，可以根据实际需要进行设定。

S102、检测控制装置向信号采样单元发送指示信号和控制信号。

信号采样单元接收到检测控制装置发送的指示信号后，当指示信号处于高电平状态时，对模拟信号进行采样检测。信号采样单元接收到检测控制装置发送的控制信号后，当其中一种控制信号处于高电平状态时，选择与控制信号对应的唯一一种模拟信号进行检测。

参阅图3，本申请实施例提供了一种信号采样单元300。信号采样单元300接收指示信号ADC_FS、第一控制信号sel_VBAT、第二控制信号sel_TEMP、时钟信号CLK_ADC。其中，指示信号ADC_FS、第一控制信号sel_VBAT及第二控制信号sel_TEMP是由检测控制装置发送的。

第一控制信号sel_VBAT处于高电平状态时，用于控制信号采样单元300对电压进行检测，第二控制信号sel_TEMP处于高电平状态时，用于控制信号采样单元300对温度进行检测。其中，第一控制信号sel_VBAT与第二控制信号sel_TEMP处于高电平状态的时刻互不重合。

当指示信号ADC_FS处于高电平状态且第一控制信号sel_VBAT处于高电平状态时，信号采样单元300开始对电压模拟信号进行采样检测，信号采样单元300通过D/A转换模块遍历所有的量化值并将其转化为模拟值，将输入的电压模拟信号与其逐一比较，最终得到要输出的数字信号，从SAR逻辑控制模块中输出10位数据的电压模拟信号的采样值ADO[9:0]。可选地，SAR逻辑控制模块还可以输出同步指示信号ADO_EN，检测控制装置接收同步指示信号ADO_EN后，可依据同步指示信号ADO_EN，接收信号采样单元300分时发送的多种模拟信号的采样值。

同理，当指示信号ADC_FS处于高电平状态、第二控制信号sel_TEMP处于高电平状态时，信号采样单元300开始对温度模拟信号进行采样检测。信号采样单元300对温度模拟信号进行采样检测的执行过程及原理，与信号采样单元300对电压模拟信号进行采样检测的执行过程及原理相同，此处不再赘述。

具体的，参阅图4，信号采样单元300接收的指示信号ADC_FS设定为一个周期内包含连续的31个时钟信号CLK_ADC的高电平、1个时钟信号CLK_ADC的低电平。在指示信号ADC_FS的一个周期内，前16个高电平状态时，信号采样单元300进行采样建立，接着的10个高电平状态时，信号采样单元300对模拟信号进行模数转换，得到10位数据的采样值ADO[9:0]。信号采样单元300在接着的4个高电平状态时，信号采样单元300生成的同步指示信号ADO_EN产生一个脉冲，检测控制装置接收到同步指示信号ADO_EN产生的脉冲后，接收完成模数转换的采样值ADO[9:0]。

需要说明的是，采样建立时间、模数装换时间、数据有效指示时间均可人为地进行设定，不影响本申请实施例的实现。

S103、检测控制装置接收信号采样单元分时发送的多种模拟信号的采样值。

需要说明的是，由于控制信号控制信号采样单元同一时刻选择多种模拟信号中的一种进行检测，因此可实现分时对多种模拟信号进行检测，进而检测控制装置可在不同时刻接收到信号采样单元发送的多种模拟信号的采样值。

进一步地，检测控制装置可以将分时接收到的多种模拟信号的采样值进行分时锁存。由于检测控制装置接收不同模拟信号的采样值的时刻不重合，因此对不同模拟信号的采样值进行锁存的时刻也不相同。根据接收不同模拟信号的采样值的时刻不相同，检测控制装置分别对不同模拟信号的采样值进行锁存。

可选地，本发明的另一实施例中，步骤S103的一种实施方式，包括：

检测控制装置接收信号采样单元发送的同步指示信号，检测控制装置依据同步指示信号，接收信号采样单元分时发送的多种模拟信号的采样值。

具体的，参阅图4，当信号采样单元在指示信号ADC_FS的控制下得到10位数据的采样值ADO[9:0]后，在指示信号ADC_FS接着的4个高电平状态过程中，同步指示信号ADO_EN产生了一个脉冲，检测控制装置接收到同步指示信号ADO_EN产生的脉冲后，再接收信号采样单元发送的10位数据的采样值。

本实施例提供的多信号的检测方法中，检测控制装置生成指示信号和控制信号，指示信号用于控制信号采样单元对多种模拟信号进行检测，控制信号则用于控制信号采样单元同一时刻选择多种模拟信号中的一种进行检测。检测控制装置向信号采样单元发送指示信号及控制信号，接收到信号采样单元分时发送的多种模拟信号的采样值。由于控制信号控制信号采样单元同一时刻选择多种模拟信号中的一种进行检测，因此可实现分时对多种模拟信号进行检测，进而使得检测控制装置可分时接收到信号采样单元发送的多种模拟信号的采样值，实现了单个SAR_ADC能对多种信号进行检测。

参阅图5，本申请另一实施例公开了另一种多信号的检测方法，包括以下步骤：

S501、检测控制装置接收复位信号，依据复位信号对检测控制装置进行复位。

通过复位信号，检测控制装置的内部恢复到起始状态，检测控制装置内部的数值全部清零。

S502、检测控制装置生成指示信号和控制信号。

此处S502与图1中的S101的执行过程以及原理相同，这里不再赘述。

S503、检测控制装置向信号采样单元发送指示信号和控制信号。

此处S503与图1中的S102的执行过程以及原理相同，这里不再赘述。

S504、检测控制装置接收信号采样单元分时发送的多种模拟信号的采样值。

此处S504与图1中的S103的执行过程以及原理相同，这里不再赘述。

S505、检测控制装置对接收的模拟信号的采样值进行平均值计算，得到模拟信号的平均检测值。

可选地，本发明的另一实施例中，步骤S505的另一种实施方式，包括：

检测控制装置可以循环记录128个采样值，分时对多种模拟信号的采样值的个数进行计数，得到多种模拟信号对应的采样值个数N，其中N为预设的正整数。检测控制装置可以通过对第一控制信号以及第二控制信号进行设定，令指示信号控制信号采样单元检测得到的128个采样值中，前64个为对电压模拟信号进行检测的采样值，后64个为对温度模拟信号进行检测的采样值。

将64个电压模拟信号的采样值及64个温度模拟信号的采样值分时锁存在检测控制装置中。检测控制装置分时对64个电压模拟信号的采样值以及64个温度模拟信号的采样值进行求和计算，分时得到64个电压模拟信号采样值的求和结果以及64个温度模拟信号采样值的求和结果。检测控制装置根据电压模拟信号的采样值的求和结果及电压模拟信号的采样值个数64，进行平均值计算，得到电压模拟信号的平均检测值。又根据温度模拟信号的采样值的求和结果及温度模拟信号的采样值的个数64，进行平均值计算，得到温度模拟信号的平均检测值。

需要说明的是，由于设定前64个采样值为电压模拟信号的采样值，后64个采样值为温度模拟信号的采样值，因此电压模拟信号与温度模拟信号的平均值计算过程不在同一时刻进行，而是分时得到两种模拟信号的对应的平均检测值。进一步地，根据第一控制信号和第二控制信号，分时将模拟信号的平均检测值锁存在检测控制装置中，得到经过平均值计算后的电压检测值及经过平均值计算后的温度检测值。具体的，当第一控制信号变为低电平时，将模拟信号的平均检测值锁存，此时锁存的平均检测值为电压模拟信号的平均检测值。当第二控制信号变为低电平时，将模拟信号的平均检测值锁存，此时锁存的平均检测值为温度模拟信号的平均检测值。

通过分时将多种模拟信号的多个采样值进行平均值计算，可以分时得到更为精确的多种模拟信号的检测值，提高了SAR_ADC的检测精度。

基于上述本发明实施例公开的多信号的检测方法，本发明实施例还对应公开了一种检测控制装置。参阅图6，该检测控制装置600，包括：生成单元601、发送单元602、以及接收单元603。

生成单元601用于生成指示信号及控制信号。其中，指示信号用于控制信号采样单元对多种模拟信号进行检测，控制信号用于控制所述信号采样单元同一时刻选择多种模拟信号中的一种模拟信号进行检测。

可选地，在本发明的另一实施例中，生成单元601可以包括计数单元和分时控制单元。

计数单元用于接收时钟信号，对时钟信号进行高、低电平信号的计数并分频，得到高、低电平信号的计数结果；依据计数结果，生成指示信号。

可选地，计数单元的具体工作过程可以通过循环计数器、分频器等设备实现。

参阅图7，在本发明的另一具体实施例中，计数单元执行接收时钟信号，对时钟信号进行高、低电平信号的计数并分频，得到高、低电平信号的计数结果；依据计数结果，生成指示信号时，用于：

检测控制装置中的ADC_CNT计数器接收时钟信号CLK_ADC，循环计下31个时钟信号CLK_ADC的高电平、1个时钟信号CLK_ADC的低电平的计数结果。ADC_FS产生控制单元对ADC_CNT计数器的计数结果进行寄存，并根据ADC_CNT计数器的计数结果进行逻辑控制，生成指示信号ADC_FS。ADC_FS产生控制单元生成的指示信号ADC_FS的一个周期内包含连续的31个时钟信号CLK_ADC的高电平、1个时钟信号CLK_ADC的低电平。其中，ADC_FS产生控制单元可以为一种带使能功能的寄存器。

通过对时钟信号CLK_ADC进行计数分频，可降低时钟信号CLK_ADC的频率，调整得到频率合适及高、低电平时间比合适的指示信号ADC_FS。其中，指示信号ADC_FS的高、低电平时间比、ADC_CNT计数器的循环数值等均可人为进行设定调整。

可选地，在本发明另一实施例中，计数单元执行依据计数结果，生成指示信号时，用于：

计数单元利用计数结果，确定忙碌时间。计数单元利用慢速时钟信号，确定空闲时间。计数单元依据忙碌时间和空闲时间，生成指示信号。其中，生成的指示信号包括空闲区域和忙碌区域，指示信号的空闲区域用于控制信号采样单元空闲，指示信号的忙碌区域用于控制信号采样单元工作。

具体的，计数单元根据计数结果，生成忙碌信号。计数单元根据慢速时钟信号，生成空闲信号。计数单元再根据忙碌信号和空闲信号，生成指示信号。其中，生成的指示信号的空闲周期为慢速时钟信号的周期。

可选地，本发明的另一实施例中，计数单元执行根据慢速时钟信号，生成空闲信号时，用于：

对慢速时钟信号进行配置，根据配置后的慢速时钟信号，生成空闲信号。根据空闲信号对指示信号进行处理，配置指示信号的空闲周期。其中，指示信号的空闲周期为慢速时钟信号的低电平周期与配置慢速时钟信号的值的乘积。

具体的，参阅图7，在本发明另一具体实施例中，计数单元执行依据忙碌时间和空闲时间，生成指示信号时，用于：

busy/wait控制单元接收ADC_CNT计数器的计数结果，根据128个指示信号的周期的计数结果，busy/wait控制单元生成忙碌信号ADC_BUSY。其中，忙碌信号ADC_BUSY处于高电平状态时，指示信号控制信号采样单元共采集了128个模拟信号采样点的采样值。

busy/wait控制单元接收慢速时钟信号CLK_CHOP，其中，慢速时钟信号CLK_CHOP的周期设为指示信号的周期的128倍。busy/wait控制单元通过接收慢速时钟信号CLK_CHOP，并配置计数器wait_cfg[3:0]，得到了空闲信号ADC_WAIT。其中，空闲信号ADC_WAIT的一个周期内，高电平时间为15倍的慢速时钟信号CLK_CHOP的周期，即15倍的采集128个采样值的时间长度。其中，busy/wait控制单元可以为一种带使能功能的寄存器。

ADC_FS产生控制单元根据忙碌信号ADC_BUSY和空闲信号ADC_WAIT对指示信号ADC_FS进行处理，配置指示信号ADC_FS的空闲周期。其中，指示信号ADC_FS的空闲周期为慢速时钟信号CLK_CHOP的周期与配置计数器wait_cfg[3:0]的值的乘积，即15倍的慢速时钟信号CLK_CHOP的周期。ADC_FS产生控制单元生成的指示信号，在控制信号采样单元采集128个采样点的采样值后，进入空闲状态，空闲时长为15倍的采集128个采样值的时间长度。

计数单元通过计数结果和慢速时钟信号来处理指示信号，使得信号采样单元在指示信号的控制下不会一直处于工作状态，从而达到了低功耗的效果。并且，处于工作状态的忙碌时间以及处于空闲状态的空闲时间可以根据实际情况，人为地进行设定。

分时控制单元用于生成多种控制信号。其中，每一种控制信号用于控制信号采样单元对唯一一种模拟信号进行检测，每一种控制信号控制信号采样单元进行检测的时刻互不相同。

参阅图7，在本发明的另一具体实施例中，分时控制单元执行生成多种控制信号时，用于：

检测控制装置中的ADO_CNT计数器对接收的多种模拟信号的采样值的个数进行计数。温度电压分时控制单元设定前64个采样点为电压采样点，后64个采样点为温度采样点。温度电压分时控制单元根据ADO_CNT计数器的计数结果，即温度电压分时控制单元在信号采样单元采集到64个电压采样值后，锁存ADO_CNT计数器的高位，使得第一控制信号sel_VBAT变为低电平，而第二控制信号sel_TEMP切换到高电平状态，最终生成第一控制信号sel_VBAT和第二控制信号sel_TEMP。其中，温度电压分时控制单元可以为一种锁存器。第一控制信号sel_VBAT处于高电平状态时，用于控制信号采样单元对电压进行检测，使得信号采样单元得到64个电压的采样值。第二控制信号sel_TEMP处于高电平状态时，用于控制信号采样单元对温度进行检测，使得信号采样单元得到64个温度的采样值。其中，第一控制信号sel_VBAT与第二控制信号sel_TEMP处于高电平状态的时刻互不重合。

其中，模拟信号也可以是电流模拟信号等其他类型的模拟信号。需要说明的是，控制信号采用高电平有效控制或采用低电平有效控制均可实现本申请实施例的方案，可以根据实际需要进行设定。

发送单元602，用于向信号采样单元发送指示信号及控制信号。

参阅图7，在本发明另一具体实施例中，发送单元602为图7中的ADC_FS产生控制单元的输出端口以及图7中的温度电压分时控制单元的输出端口。

接收单元603，用于接收信号采样单元分时发送的多种模拟信号的采样值。

可选地，在本发明的另一实施例中，接收单元603执行接收信号采样单元分时发送的多种模拟信号的采样值时，用于：接收同步指示信号，并依据同步指示信号，接收信号采样单元发送的多种模拟信号的采样值。

参阅图7，在本发明另一具体实施例中，接收单元603执行接收信号采样单元分时发送的多种模拟信号的采样值时，用于：

检测控制装置中的ADO数据锁存单元接收信号采样单元发送的同步指示信号ADO_EN，ADO数据锁存单元依据同步指示信号ADO_EN，接收并锁存信号采样单元分时发送的多种模拟信号的采样值。具体地，当信号采样单元得到10位数据的采样值ADO[9:0]后，同步指示信号ADO_EN产生一个脉冲，ADO数据锁存单元接收到同步指示信号产生的脉冲后，接收信号采样单元发送的10位数据的采样值ADO[9:0]。

上述本申请实施例公开的检测控制装置中的各个单元的具体的原理和执行过程，与上述本申请实施例公开的多信号的检测方法相同，可参见上述本申请实施例公开的多信号的检测方法中相应的部分，这里不再进行赘述。

本申请提供的检测控制装置600中，通过生成单元601生成指示信号和控制信号。其中，指示信号用于控制信号采样单元对多种模拟信号进行检测，控制信号则用于控制信号采样单元同一时刻选择多种模拟信号中的一种进行检测。通过发送单元602向信号采样单元发送指示信号及控制信号，通过接收单元603接收到信号采样单元分时发送的多种模拟信号的采样值。由于控制信号控制信号采样单元同一时刻选择多种模拟信号中的一种进行检测，因此可实现分时对多种模拟信号进行检测，进而使得接收单元603可分时接收到信号采样单元发送的多种模拟信号的采样值，实现了单个SAR_ADC能对多种信号进行检测。

参阅图8，本申请实施例公开了另一种检测控制装置800。

与图6所示实施例不同的是，在图8所示的检测控制装置中，除了包括生成单元802、发送单元803以及接收单元804之外，还包括：

复位单元801及计算单元805。

复位单元801用于接收复位信号，依据复位信号对检测控制装置800进行复位。通过复位信号，检测控制装置的内部恢复到起始状态，检测控制装置内部的数值全部清零。

计算单元805，用于对接收的模拟信号的采样值进行平均值计算，得到模拟信号的平均检测值。

参阅图7，在本发明另一具体实施例中，计算单元805执行接收的模拟信号的采样值进行平均值计算，得到模拟信号的平均检测值时，用于：

检测控制装置可以采用ADO数据锁存单元记录128个采样值ADO[9:0]。其中，ADO数据锁存单元可以为一种10位锁存器。ADO_CNT计数器则分时对多种模拟信号的采样值ADO[9:0]的个数进行计数，得到多种模拟信号对应的采样值个数N，其中N为预设的正整数。可选地，可以通过对第一控制信号sel_VBAT以及第二控制信号sel_TEMP进行设定，令信号采样单元检测得到的128个采样值中，前64个为对电压模拟信号进行检测的采样值，后64个为对温度模拟信号进行检测的采样值。

ADO数据锁存单元将64个电压模拟信号的采样值ADO[9:0]及64个温度模拟信号的采样值ADO[9:0]分时锁存。ADO累加平均单元分时对64个电压模拟信号的采样值ADO[9:0]以及64个温度模拟信号的采样值ADO[9:0]进行求和计算，分时得到64个电压模拟信号采样值的求和结果以及64个温度模拟信号采样值的求和结果。ADO累加平均单元根据电压模拟信号的采样值的求和结果及电压模拟信号的采样值个数64，进行平均值计算，得到电压模拟信号的平均检测值ado_avg[17:0]。又根据温度模拟信号的采样值的求和结果及温度模拟信号的采样值的个数64，进行平均值计算，得到温度模拟信号的平均检测值ado_avg[17:0]。其中，ADO累加平均单元可以为一种可进行平均值计算的加法器。

需要说明的是，由于设定前64个采样值为电压模拟信号的采样值，后64个采样值为温度模拟信号的采样值，因此电压模拟信号与温度模拟信号的平均值计算过程不在同一时刻进行，而是分时得到两种模拟信号的对应的平均检测值。可选地，根据第一控制信号sel_VBAT和第二控制信号sel_TEMP，分时将模拟信号的平均检测值ado_avg[17:0]锁存在温度电压分时锁存单元，得到经过平均值计算后的电压检测值Vbat_det[9:0]以及经过平均值计算后的温度检测值Temp_det[9:0]。具体的，当温度电压分时控制单元发送的第一控制信号sel_VBAT变为低电平时，温度电压分时锁存单元将模拟信号的平均检测值锁存，此时锁存的平均检测值为电压模拟信号的平均检测值。当温度电压分时控制单元发送的第二控制信号sel_TEMP变为低电平时，温度电压分时锁存单元将模拟信号的平均检测值锁存，此时锁存的平均检测值为温度模拟信号的平均检测值。

上述本申请实施例公开的检测控制装置中的各个单元的具体的原理和执行过程，与上述本申请实施例公开的多信号的检测方法相同，可参见上述本申请实施例公开的多信号的检测方法中相应的部分，这里不再进行赘述。

本申请实施例通过复位单元801将检测控制装置800的内部恢复到起始状态，使得检测控制装置内部的数值全部清零。计算单元805通过分时将多种模拟信号的多个采样值进行平均值计算，可以分时得到更为精确的多种模拟信号的检测值，提高了SAR_ADC的检测精度。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (8)

1.一种多信号的检测方法，其特征在于，包括：

检测控制装置生成指示信号和控制信号；其中，所述指示信号用于控制信号采样单元对多种模拟信号进行检测；所述控制信号用于控制所述信号采样单元同一时刻选择所述多种模拟信号中的一种模拟信号进行检测；

所述检测控制装置向所述信号采样单元发送所述指示信号和所述控制信号；

所述检测控制装置接收所述信号采样单元分时发送的所述多种模拟信号的采样值；

所述检测控制装置生成指示信号，包括：

所述检测控制装置接收时钟信号；

所述检测控制装置对所述时钟信号进行高、低电平信号的计数并分频，得到高、低电平信号的计数结果；

所述检测控制装置依据所述计数结果，生成所述指示信号；

所述检测控制装置依据所述计数结果，生成所述指示信号，包括：

所述检测控制装置利用计数结果，确定忙碌时间；

所述检测控制装置利用慢速时钟信号，确定空闲时间；

所述检测控制装置依据忙碌时间和空闲时间，生成所述指示信号；其中，所述指示信号包括空闲区域和忙碌区域，所述指示信号的空闲区域用于控制所述信号采样单元空闲，所述指示信号的忙碌区域用于控制所述信号采样单元工作。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测控制装置接收所述信号采样单元分时发送的所述多种模拟信号的采样值之后，还包括：

所述检测控制装置对接收的模拟信号的采样值进行平均值计算，得到所述模拟信号的平均检测值。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测控制装置接收所述信号采样单元分时发送的多种模拟信号的采样值，包括：

所述检测控制装置接收同步指示信号；

所述检测控制装置依据所述同步指示信号，接收所述信号采样单元分时发送的所述多种模拟信号的采样值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测控制装置生成控制信号，包括：

所述检测控制装置生成多种控制信号；其中，每一种控制信号用于控制所述信号采样单元对唯一一种模拟信号进行检测，所述每一种控制信号控制所述信号采样单元进行检测的时刻互不相同。

5.一种检测控制装置，应用于权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，包括：

生成单元，用于生成指示信号及控制信号；其中，所述指示信号用于控制信号采样单元对多种模拟信号进行检测；所述控制信号用于控制所述信号采样单元同一时刻选择所述多种模拟信号中的一种模拟信号进行检测；

发送单元，用于向所述信号采样单元发送所述指示信号及所述控制信号；

接收单元，用于接收所述信号采样单元分时发送的所述多种模拟信号的采样值；

所述生成单元包括：

计数单元，用于接收时钟信号，对所述时钟信号进行高、低电平信号的计数并分频，得到高、低电平信号的计数结果；依据所述计数结果，生成所述指示信号。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括：

计算单元，用于对接收的模拟信号的采样值进行平均值计算，得到所述模拟信号的平均检测值。

7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述接收单元执行接收所述信号采样单元分时发送的所述多种模拟信号的采样值时，用于：

接收同步指示信号，并依据所述同步指示信号，接收所述信号采样单元发送的多种模拟信号的采样值。

8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述生成单元，包括：

分时控制单元，用于生成多种控制信号；其中，每一种控制信号用于控制所述信号采样单元对唯一一种模拟信号进行检测，所述每一种控制信号控制所述信号采样单元进行检测的时刻互不相同。