CN109541448B - 检测装置和机床 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种检测装置和机床，该检测装置检测开关的接通，该机床具备该检测装置。在机械开关接通时，检测装置的光电耦合器输出电压变动的脉冲信号。积分电路对脉冲信号进行积分。在由光电耦合器输出的脉冲信号的电压为第一阈值以上且由积分电路积分得到的信号的电压为第二阈值以上时，AND电路输出高水平电压，在其它时间，AND电路输出低水平电压。在由AND电路输出的电压的波形为规定的波形时，检测部检测出机械开关的接通。

Description

检测装置和机床

技术领域

本发明涉及一种检测开关的接通的检测装置和具备检测装置的机床。

背景技术

机床具备根据操作部的操作在接通与断开之间进行切换的机械开关以及检测机械开关的接通和断开的检测装置，根据检测装置的检测结果来进行各种动作。

日本公开专利公报第2012-124006号公开了一种检测机械开关的接通和断开的检测装置。在该检测装置中，电池经由电阻来向机械开关的一端施加电压，机械开关的另一端接地。在机械开关断开时，机械开关的一端的电压是电池的输出电压，为阈值电压以上。在机械开关接通时，机械开关的一端的电压为零V，小于阈值电压。

日本公开专利公报第2012-124006号的检测装置在机械开关的一端的电压为阈值电压以上时检测出机械开关的断开，在机械开关的一端的电压小于阈值电压时检测出机械开关的接通。该检测装置根据机械开关的使用时间来变更滤波器，以防因抖动引起误检测。关于滤波器，根据机械开关的使用时间的长度使时间常数变长。因此，以往的检测装置存在以下问题：如果处于虽然抖动期间短但是机械开关的使用时间长的状态，则即使在抖动收敛后也由于滤波器而必须等待长时间。

发明内容

本发明的目的在于提供一种在发生抖动时也能够适当地检测出开关的接通的检测装置和机床。

技术方案1的检测装置对机械开关的接通和断开进行检测，该检测装置具备：第一输出部，在机械开关接通时，该第一输出部输出电压变动的脉冲信号；积分电路，其对由第一输出部输出的脉冲信号进行积分；第二输出部，在由第一输出部输出的脉冲信号的电压为第一阈值以上且由积分电路积分得到的信号的电压为第二阈值以上时，该第二输出部输出第一电压，在其它时间，该第二输出部输出与第一电压不同的第二电压；检测部，其在由第二输出部输出的电压的信号波形为规定的波形时检测出机械开关的接通。

在机械开关接通时，由第一输出部输出的脉冲信号例如交替地呈现高电压和低电压。在机械开关断开时，由第一输出部输出的脉冲信号例如呈现低电压。假设在机械开关从断开切换为接通时发生了抖动。此时，由第一输出部输出的脉冲信号的电压在短期间内频繁地切换。脉冲信号呈现高电压的期间足够短。因此，在发生抖动时，由积分电路积分得到的信号的电压小于第二阈值。在机械开关断开时，脉冲信号呈现低电压，因此由积分电路积分得到的信号的电压小于第二阈值。在机械开关保持接通时，由积分电路积分得到的脉冲信号的电压为第二阈值以上。高电压为第一阈值以上，低电压小于第一阈值。

在机械开关断开或者发生了抖动时，由积分电路积分得到的信号的电压小于第二阈值，由此第二输出部输出第二电压。在机械开关保持接通时，第二输出部输出与由第一输出部输出的脉冲信号所呈现的电压相应的电压。因此，由第二输出部输出的脉冲信号不受抖动的影响，即使在发生抖动时检测部也能够适当地检测出机械开关的接通。

技术方案2的检测装置具备去除电路，该去除电路用于将叠加在由第一输出部输出的脉冲信号上的噪声去除，在由去除电路去除了噪声的脉冲信号的电压为第一阈值以上且由积分电路积分得到的信号的电压为第二阈值以上时，第二输出部输出第一电压，在其它时间，第二输出部输出与第一电压不同的第二电压。

第二输出部所输出的电压基于由去除电路去除了噪声的脉冲信号的电压以及由积分电路积分得到的信号的电压。因此，检测部由于噪声而进行误检测的可能性低。

技术方案3的检测装置具备：半导体开关，其与机械开关串联连接；以及切换部，其交替重复地进行半导体开关向导通的切换和向截止的切换，第一输出部根据是否有电流经由机械开关和半导体开关地流动来输出电压不同的脉冲信号。

在机械开关接通且半导体开关导通时，电流经由机械开关和半导体开关地流动。在机械开关接通且半导体开关截止时，没有电流经由机械开关和半导体开关地流动。因此在机械开关接通时，由第一输出部输出的脉冲信号的电压根据半导体开关的导通和截止而变动。

在技术方案4的检测装置中，积分电路具有电阻和电容器，在由切换部进行的切换中，半导体开关截止的截止期间是固定的，积分电路的时间常数比截止期间长。

积分电路的时间常数比截止期间长，因此在机械开关保持接通时，由积分电路积分得到的信号的电压为第二阈值以上。

技术方案5的机床具备前述的检测装置。

机床根据检测装置的检测结果来进行工作或动作的停止。

附图说明

图1是表示实施方式1的机床的主要部分结构的框图。

图2是去除电路和积分电路的电路图。

图3是用于说明检测装置的动作的时序图。

图4是表示实施方式2的机床的主要部分结构的框图。

图5是用于说明检测装置的动作的时序图。

具体实施方式

实施方式1

如图1所示，机床1具备机械开关10和检测装置11。机械开关10的两端与检测装置11连接。

机械开关10例如是继电器触点。检测装置11对机械开关10的接通和断开进行检测，将表示检测结果的结果信号输出到机床1所具有的省略图示的装置。检测结果表示机械开关10的接通或断开。在结果信号表示机械开关10的断开时，机床1停止动作，在结果信号表示机械开关10的接通时，机床1工作。机床1在工作期间从使用者处接受与工作有关的各种指示。

检测装置11具有半导体开关20、光电耦合器21、切换开关22、检测电路23、去除电路24、积分电路25、AND电路26以及电阻R1、R2、R3。半导体开关20是P沟道型的FET(FieldEffect Transistor：场效应晶体管)。切换开关22是NPN型的双极晶体管。光电耦合器21具有发光二极管30和光电晶体管31。检测电路23例如是FPGA(现场可编程门阵列)。检测电路23具有脉冲信号输出部40、信号输入部41、检测部42以及结果信号输出部43。AND电路26具有两个输入端和一个输出端。

省略图示的电压施加装置向半导体开关20的源极施加正的电压Va。电压Va是固定的。半导体开关20与机械开关10串联连接。即，半导体开关20的漏极与机械开关10的一端连接。机械开关10的另一端与光电耦合器21所具有的发光二极管30的阳极连接。发光二极管30的阴极与电阻R1的一端连接。电阻R1的另一端接地。半导体开关20的源极与电阻R2的一端连接。电阻R2的另一端与半导体开关20的栅极及切换开关22的集电极连接。切换开关22的发射极接地。切换开关22的基极与检测电路23的脉冲信号输出部40连接。

省略图示的调节器向光电耦合器21所具有的光电晶体管31的集电极施加正的电压Vs。电压Vs是固定的。光电晶体管31的发射极与去除电路24、积分电路25以及电阻R3的一端连接。电阻R3的另一端接地。去除电路24与AND电路26的一个输入端连接。积分电路25与AND电路26的另一个输入端连接。AND电路26的输出端与检测电路23的信号输入部41连接。结果信号输出部43与机床1所具有的装置连接。

检测电路23的脉冲信号输出部40将第一脉冲信号输出到切换开关22的基极。在切换开关22中，在以发射极的电位为基准的基极的电压为正的固定电压以上时，切换开关22导通。此时，电流能够在切换开关22的集电极与发射极之间流动。在切换开关22中，在以发射极的电位为基准的基极的电压小于正的固定电压时，切换开关22截止。此时，电流不在切换开关22的集电极与发射极之间流动。

第一脉冲信号呈现高水平电压和低水平电压。高水平电压以接地电位为基准，为前述的正的固定电压以上的电压，低水平电压以接地电位为基准，为小于前述的正的固定电压的电压。因此，在第一脉冲信号呈现高水平电压时，切换开关22导通，在第一脉冲信号呈现低水平电压时，切换开关22截止。脉冲信号输出部40输出第一脉冲信号，来将切换开关22在导通与截止之间进行切换。

在半导体开关20中，在以源极的电位为基准的栅极的电压小于负的固定电压时，半导体开关20导通。在半导体开关20导通时，电流能够在半导体开关20的源极与漏极之间流动。在半导体开关20中，在以源极的电位为基准的栅极的电压为负的固定电压以上时，半导体开关20截止。在半导体开关20截止时，电流不在半导体开关20的源极与漏极之间流动。

在切换开关22导通时，在半导体开关20中，以源极的电位为基准的栅极的电压为负的电压，该电压的绝对值与电压Va的绝对值大致一致。电压Va的绝对值为前述的负的固定电压的绝对值以上，在半导体开关20中，以源极的电位为基准的栅极的电压小于负的固定电压。因此，在切换开关22导通时，半导体开关20导通。

在切换开关22截止时，电流不流向电阻R2。在半导体开关20中，以源极的电位为基准的栅极的电压为零V，为前述的负的固定电压以上。因此，在切换开关22截止时，半导体开关20截止。

脉冲信号输出部40输出第一脉冲信号，来将切换开关22和半导体开关20在导通与截止之间进行切换。

在机械开关10接通且半导体开关20导通时，电流按半导体开关20、机械开关10、发光二极管30、电阻R1的顺序流动，发光二极管30发光。在发光二极管30发光时，光电晶体管31从发光二极管30接收光。光电晶体管31作为开关而发挥功能。在光电晶体管31接收光时，光电晶体管31导通。在光电晶体管31导通时，电流能够在光电晶体管31的集电极与发射极之间流动。在光电晶体管31导通时，光电耦合器21向去除电路24和积分电路25输出电压Vs。光电晶体管31导通时的光电晶体管31的集电极与发射极之间的电阻值能够视作零Ω。

在机械开关10断开或半导体开关20截止时，电流不流过机械开关10、半导体开关20以及发光二极管30，发光二极管30停止发光。在发光二极管30停止发光时，光电晶体管31截止。在光电晶体管31截止时，电流不在光电晶体管31的集电极与发射极之间流动。在光电晶体管31截止时，光电耦合器21向去除电路24和积分电路25输出零V。

如以上那样，光电耦合器21将电压Vs或零V作为第二脉冲信号输出到去除电路24和积分电路25。第二脉冲信号的电压根据是否有电流经由机械开关和半导体开关地流动而不同。在机械开关10接通时，第二脉冲信号的电压根据半导体开关20的导通和截止而变动。在机械开关10接通的状态下，在半导体开关20导通时，第二脉冲信号的电压为电压Vs，在半导体开关20截止时，第二脉冲信号的电压为零V。光电耦合器21作为第一输出部而发挥功能。去除电路24将叠加在由光电耦合器21输出的第二脉冲信号上的干扰噪声去除，将去除了干扰噪声的第二脉冲信号输出到AND电路26的一个输入端。积分电路25对由光电耦合器21输出的第二脉冲信号进行积分，将积分得到的信号输出到AND电路26的另一个输入端。

如图2所示，去除电路24具有电阻50和电容器51。积分电路25具有电阻60和电容器61。电阻50、60各自的一端与光电耦合器21所具有的光电晶体管31的发射极连接。电阻50的另一端与AND电路26的一个输入端及电容器51的一端连接。电容器51的另一端接地。电阻60的另一端与AND电路26的另一个输入端及电容器61的一端连接。电容器61的另一端接地。

光电耦合器21向去除电路24和积分电路25输出第二脉冲信号。在第二脉冲信号的电压为电压Vs时，在去除电路24中，电流按电阻50、电容器51的顺序流动，电容器51蓄电。在电容器51蓄电时，电容器51的两端间的电压随着时间经过而上升。在第二脉冲信号的电压为零V时，在去除电路24中，电容器51放电。此时，电流从电容器51的一端起按电阻50、R3的顺序流动。在电容器51放电时，电容器51的两端间的电压随着时间经过而下降。电容器51将两端间的电压输出到AND电路26的一个输入端。电阻50的电阻值与电阻R3的电阻值相比足够大。因此，电容器51放电时的电阻R3的两端间的电压大致为零V。电容器51的两端间的电压的最大值为电压Vs，最小值为零V。

电容器51吸收叠加在第二脉冲信号上的干扰噪声，来去除第二脉冲信号的干扰噪声。去除电路24将去除了干扰噪声的第二脉冲信号作为输出信号输出到AND电路26的一个输入端。去除电路24的时间常数是电阻50的电阻值与电容器51的静电容量之积的计算结果。时间常数越小，则电容器51的两端间的电压上升的速度和电容器51的两端间的电压下降的速度越快。去除电路24的时间常数小。因此，去除电路24不是对第二脉冲信号在长期间进行积分，而是对由光电耦合器21输出的第二脉冲信号在叠加有干扰噪声的短期间进行积分，来去除干扰噪声。

在第二脉冲信号的电压为电压Vs时，在积分电路25中，电流按电阻60、电容器61的顺序流动，电容器61蓄电。在电容器61蓄电时，电容器61的两端间的电压随着时间经过而上升。在第二脉冲信号的电压为零V时，在积分电路25中，电容器61放电。因此，电流从电容器61的一端起按电阻60、R3的顺序流动。在电容器61放电时，电容器61的两端间的电压随着时间经过而下降。电容器61将两端间的电压输出到AND电路26的另一个输入端。电阻60的电阻值与电阻R3的电阻值相比足够大。因此，电容器61放电时的电阻R3的两端间的电压也大致为零V。电容器61的两端间的电压的最大值为电压Vs，最小值为零V。

积分电路25的时间常数是电阻60的电阻值与电容器61的静电容量之积的计算结果。时间常数越大，则电容器61的两端间的电压上升的速度和电容器61的两端间的电压下降的速度越慢。积分电路25的时间常数大。因此，积分电路25对第二脉冲信号在长期间进行积分，将积分得到的信号作为输出信号输出到AND电路26的另一个输入端。

在去除电路24的输出信号的电压为第一阈值以上且积分电路25的输出信号的电压为第二阈值以上时，AND电路26从输出端向信号输入部41输出高水平电压。在去除电路24的输出信号的电压小于第一阈值或者积分电路25的输出信号的电压小于第二阈值时，AND电路26从输出端向信号输入部41输出低水平电压。AND电路26通过输出高水平电压和低水平电压来输出信号。因此，AND电路26向信号输入部41输出的输出信号呈现高水平电压或低水平电压。

第一阈值和第二阈值是固定的。高水平电压相当于第一电压。低水平电压相当于第二电压。AND电路26作为第二输出部而发挥功能。

图1所示的检测部42在AND电路26的输出信号的波形为规定的波形时，检测出机械开关10的接通，在AND电路26的输出信号的波形不是规定的波形时，检测出机械开关10的断开。

结果信号输出部43将表示检测部42的检测结果的结果信号输出到机床1所具有的装置。在检测部42检测出机械开关10的接通时，结果信号表示机械开关10的接通。在检测部42检测出机械开关10的断开时，结果信号表示机械开关10的断开。机床1根据结果信号所表示的内容来进行工作或动作的停止。

图3示出第一脉冲信号、第二脉冲信号、去除电路24的输出信号、积分电路25的输出信号以及AND电路26的输出信号的电压的变化。这些变化的横轴上的值表示时间。图3还示出机械开关10的接通和断开的变化。该变化的横轴上的值也表示时间。在图3中，“H”表示高水平电压，“L”表示低水平电压。Vr1是第一阈值。Vr2是第二阈值。图3的第二脉冲信号是由光电耦合器21输出的第二脉冲信号。不考虑第一脉冲信号、第二脉冲信号、去除电路24的输出信号、积分电路25的输出信号以及AND电路26的输出信号的传播时间。

检测电路23的脉冲信号输出部40将第一脉冲信号输出到切换开关22的基极。第一脉冲信号所呈现的电压周期性地从低水平电压切换为高水平电压。在一个周期中，第一脉冲信号呈现高水平电压的高水平期间和第一脉冲信号呈现低水平电压的低水平期间是固定的。高水平期间比低水平期间长。第一脉冲信号的一个周期是高水平期间与低水平期间之和。

在第一脉冲信号呈现高水平电压时，半导体开关20导通。在第一脉冲信号呈现低水平电压时，半导体开关20截止。因此，高水平期间相当于半导体开关20导通的导通期间，低水平期间相当于半导体开关20截止的截止期间。

检测电路23的脉冲信号输出部40将第一脉冲信号输出到切换开关22的基极，交替重复地进行半导体开关20向导通的切换和向截止的切换。脉冲信号输出部40作为切换部而发挥功能。在半导体开关20从截止切换为导通时，在半导体开关20中不会发生抖动。

在机械开关10保持断开的状态下使用者将机械开关10从断开切换为接通时，发生抖动。在发生抖动的期间，机械开关10在短时间内频繁地切换为接通或断开。在发生抖动的期间，机械开关10接通的期间比第一脉冲信号的高水平期间短。在抖动结束后，机械开关10保持接通。

在第一脉冲信号呈现高水平电压时，半导体开关20导通。在第一脉冲信号呈现低水平电压时，半导体开关20截止。在机械开关10接通且半导体开关20导通时，由光电耦合器21输出的第二脉冲信号呈现电压Vs。在机械开关10断开或半导体开关20截止时，由光电耦合器21输出的第二脉冲信号呈现零V。因此，在第一脉冲信号呈现高水平电压且机械开关10接通时，第二脉冲信号呈现电压Vs。在第一脉冲信号呈现低水平电压或者机械开关10断开时，第二脉冲信号呈现零V。在第二脉冲信号上叠加有干扰噪声。在叠加有干扰噪声的部分，第二脉冲信号呈现与电压Vs、零V不同的电压。

去除电路24的时间常数比第一脉冲信号的低水平期间短，比叠加有干扰噪声的期间长。因此，去除电路24的输出信号是从由光电耦合器21输出的第二脉冲信号中去除干扰噪声后的第二脉冲信号。电压Vs为第一阈值Vr1以上。零V小于第一阈值Vr1。

在光电耦合器21的第二脉冲信号的电压超过零V时，积分电路25的输出信号的电压逐渐上升，在光电耦合器21的第二脉冲信号的电压为零V时，积分电路25的输出信号的电压逐渐下降。积分电路25的时间常数长。在机械开关10中，在发生抖动时，机械开关10接通的期间短。因此，在发生抖动的期间，积分电路25的输出信号的电压不会变为第二阈值以上。

在发生抖动的状态下，第一脉冲信号的高水平期间与机械开关10接通的期间相比足够长。因此，在机械开关10保持接通时，在第一脉冲信号呈现高水平电压的期间，积分电路25的输出信号的电压为第二阈值Vr2以上，达到电压Vs。

在机械开关10保持接通的状态下第一脉冲信号呈现低水平电压时，光电耦合器21的第二脉冲信号的电压为零V。此时，积分电路25的电容器61放电，电容器61的两端间的电压下降。积分电路25的时间常数比第一脉冲信号的低水平期间长。因此，在机械开关10保持接通的状态下第一脉冲信号呈现低水平电压的期间，积分电路25的输出电压不会小于第二阈值Vr2。其结果，在机械开关10保持接通时，积分电路25的输出信号的电压为第二阈值Vr2以上。在抖动结束后，只要机械开关10保持接通，积分电路25的输出信号的电压就为第二阈值Vr2以上。

在去除电路24的输出信号的电压为第一阈值以上且积分电路25的输出信号的电压为第二阈值以上时，AND电路26输出高水平电压。在去除电路24的输出信号的电压小于第一阈值或者积分电路25的输出信号的电压小于第二阈值时，AND电路26输出低水平电压。

因此，在机械开关10断开的期间和发生抖动的期间，AND电路26的输出信号的电压是低水平电压。在发生抖动之后，只要机械开关10保持接通，AND电路26的输出信号的波形就与第一脉冲信号的波形相同。

假设脉冲信号输出部40输出了第一脉冲信号。在AND电路26向检测电路23的信号输入部41输出的输出信号的波形持续第一脉冲信号的N个周期(N：自然数)为规定的波形时，检测电路23的检测部42检测出机械开关10的接通。规定的波形是与第一脉冲信号的波形相同的波形。在AND电路26向检测电路23的信号输入部41输出的输出信号的波形持续第一脉冲信号的N个周期不同于第一脉冲信号的波形相同时，检测电路23的检测部42检测出机械开关10的断开。

在检测装置11中，在发生抖动时，AND电路26的输出信号的电压为低水平电压，AND电路26的输出信号不受抖动的影响。因此，即使发生抖动，检测电路23的检测部42也能够适当地检测出机械开关10的接通。

去除电路24从光电耦合器21的第二脉冲信号中去除干扰噪声，AND电路26输出基于去除了干扰噪声的第二脉冲信号的电压和由积分电路25积分得到的信号的电压的电压。因此，检测部42由于干扰噪声而进行误检测的可能性低。去除电路24的结构不限于具有电阻50和电容器51的结构，只要是去除干扰噪声的结构即可。例如，去除电路24的结构也可以是使用线圈来去除干扰噪声的结构。

实施方式2

下面，针对实施方式2，说明与实施方式1不同之处。除后述的结构以外的其它结构与实施方式1共同。对与实施方式1共同的结构部标注与实施方式1相同的参照标记，省略说明。

如图4所示，实施方式2的机床1与实施方式1同样地具备机械开关10和检测装置11A。实施方式2的检测装置11A与实施方式1的检测装置11的不同之处在于去除电路24的有无。

在由光电耦合器21输出的第二脉冲信号上难以叠加干扰噪声时，检测装置11A无需具有去除电路24。

光电耦合器21所具有的光电晶体管31的发射极与实施方式1同样地与积分电路25及电阻R3的一端连接。光电晶体管31的发射极与AND电路26的一个输入端连接。

在由光电耦合器21输出的第二脉冲信号的电压为第一阈值以上且积分电路25的输出信号的电压为第二阈值以上时，AND电路26从输出端向检测电路23的信号输入部41输出高水平电压。在由光电耦合器21输出的第二脉冲信号的电压小于第一阈值或者积分电路25的输出信号的电压小于第二阈值时，AND电路26从输出端向信号输入部41输出低水平电压。AND电路26通过输出高水平电压和低水平电压来输出信号。

图5示出第一脉冲信号、第二脉冲信号、积分电路25的输出信号以及AND电路26的输出信号的电压的变化。该变化的横轴上的值表示时间。图5还示出机械开关10的接通和断开的变化。该变化的横轴上的值也表示时间。在图5中，“H”表示高水平电压，“L”表示低水平电压。Vr1是第一阈值。Vr2是第二阈值。图5的第二脉冲信号是由光电耦合器21输出的第二脉冲信号。不考虑第一脉冲信号、第二脉冲信号、积分电路25的输出信号以及AND电路26的输出信号的传播时间。

第一脉冲信号的电压的变化以及机械开关10的接通和断开的变化与实施方式1相同。光电耦合器21与实施方式1同样地将第二脉冲信号输出到AND电路26的一个输入端和积分电路25。在第二脉冲信号上未叠加干扰噪声时，第二脉冲信号的电压为电压Vs或零V。积分电路25与实施方式1同样地对由光电耦合器21输出的第二脉冲信号进行积分。积分电路25的输出信号与实施方式1相同。

在由光电耦合器21输出的第二脉冲信号的电压为第一阈值以上且积分电路25的输出信号的电压为第二阈值以上时，AND电路26输出高水平电压。在由光电耦合器21输出的第二脉冲信号的电压小于第一阈值或者积分电路25的输出信号的电压小于第二阈值时，AND电路26输出低水平电压。因此，在机械开关10断开的期间和发生抖动的期间，AND电路26的输出信号的电压为低水平电压。在发生抖动之后，只要机械开关10保持接通，AND电路26的输出信号的波形就与第一脉冲信号的波形相同。

假设脉冲信号输出部40输出了第一脉冲信号。在AND电路26向检测电路23的信号输入部41输出的输出信号的波形持续第一脉冲信号的N个周期(N：自然数)为规定的波形时，检测电路23的检测部42检测出机械开关10的接通。规定的波形为与第一脉冲信号的波形相同的波形。在AND电路26向检测电路23的信号输入部41输出的输出信号的波形持续第一脉冲信号的一个周期不同于第一脉冲信号的波形时，检测电路23的检测部42检测出机械开关10的断开。

在检测装置11A中，在发生抖动时，AND电路26的输出信号的电压为低水平电压，AND电路26的输出信号不受抖动的影响。因此，在发生抖动时，检测电路23的检测部42也能够适当地检测出机械开关10的接通。

关于实施方式1的机床1和检测装置11所能够得到的效果中的通过具有去除电路24而得到的效果以外的其它效果，实施方式2的机床1和检测装置11A也同样能得到。

在实施方式1、2中，半导体开关20不限于P沟道型的FET，也可以是N沟道型的FET、IGBT(绝缘栅双极晶体管)、双极晶体管等。

切换开关22只要作为开关而发挥功能即可，因此不限于NPN型的双极晶体管，也可以是N沟道型的FET、IGBT、继电器触点等。

搭载机械开关10和检测装置11、11A的机械不限于机床，也可以是根据机械开关10的接通和断开的状态来进行工作或动作的停止的机械。

积分电路25只要是对由光电耦合器21输出的第二脉冲信号进行积分的电路即可，不限于具有电阻60和电容器61的电路。

在第一脉冲信号的一个周期中存在的高水平期间和低水平期间各自的数量不限于一个。也可以在第一脉冲信号的一个周期中存在多个高水平期间或多个低水平期间。在一个周期中存在多个高水平期间时，也可以是，各高水平期间的长度与其它高水平期间中的至少一个高水平期间的长度不同。同样地，在一个周期中存在多个低水平期间时，也可以是，各低水平期间的长度与其它低水平期间中的至少一个低水平期间的长度不同。在该情况下，去除电路24的时间常数比最短的低水平期间短，积分电路25的时间常数比最长的低水平期间长。

由检测装置11检测接通和断开的机械开关10的数量不限于一个，也可以是两个以上。在该情况下，半导体开关20、光电耦合器21、切换开关22、去除电路24、积分电路25、AND电路26、脉冲信号输出部40、信号输入部41以及电阻R1、R2、R3各自的数量与机械开关10的数量相同。检测装置11、11A对各机械开关10的接通和断开进行检测。在该情况下，也可以是，多个脉冲信号输出部40输出的多个第一脉冲信号各自的一个周期的波形互不相同，即与多个机械开关10对应的多个第一脉冲信号各自的一个周期的波形互不相同。

Claims (5)

1.一种检测装置(11)，对机械开关(10)的接通和断开进行检测，该检测装置具备：

第一输出部(21)，在该机械开关接通时，该第一输出部输出电压变动的脉冲信号；

积分电路(25)，其对由该第一输出部输出的脉冲信号进行积分；

第二输出部(26)，在由该第一输出部输出的脉冲信号的电压为第一阈值以上且由所述积分电路积分得到的信号的电压为第二阈值以上时，该第二输出部输出第一电压，在其它时间，该第二输出部输出与该第一电压不同的第二电压；以及

检测部(42)，其在由该第二输出部输出的电压的信号波形为规定的波形时检测出所述机械开关的接通，

其中，在所述机械开关发生抖动的期间，由所述积分电路积分得到的信号的电压小于所述第二阈值。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

具备去除电路(24)，该去除电路用于将叠加在由所述第一输出部输出的脉冲信号上的噪声去除，

在由该去除电路去除了所述噪声的脉冲信号的电压为第一阈值以上且由所述积分电路积分得到的信号的电压为第二阈值以上时，所述第二输出部输出第一电压，在其它时间，所述第二输出部输出与该第一电压不同的第二电压。

3.根据权利要求1或2所述的检测装置，其特征在于，具备：

半导体开关(20)，其与所述机械开关串联连接；以及

切换部(40)，其交替重复地进行该半导体开关向导通的切换和向截止的切换，

所述第一输出部根据是否有电流经由所述机械开关和半导体开关地流动，来输出电压不同的脉冲信号。

4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，

所述积分电路具有电阻(60)和电容器(61)，

在由所述切换部进行的切换中，所述半导体开关截止的截止期间是固定的，

所述积分电路的时间常数比所述截止期间长。

5.一种机床(1)，具备根据权利要求1～4中的任一项所述的检测装置。

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