CN109521214B - 自动分析仪及其样本针或试剂针的工作方法、清洗室 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种自动分析仪及其样本针或试剂针的工作方法、清洗室，通过至少提供两个不相同清洗高度，从而可以灵活地将吸移器——例如样本针和/或试剂针——控制在不同的清洗高度进行清洗，在清洗要求和吸液完成到开始排液所需时间之间，根据情况可以选择不同的清洗高度，当清洗要求很高时，控制吸移器在比较低的清洗高度进行清洗，当要求吸液完成后快速排液，则控制吸移器在比较高的清洗高度进行清洗。

Description

自动分析仪及其样本针或试剂针的工作方法、清洗室

技术领域

本发明涉及一种自动分析仪及其样本针或试剂针的工作方法、清洗室。

背景技术

在自动分析仪中，清洗是一个必不可少的环节，例如对样本针和试剂针等部件的清洗。

不妨以样本针为例，其用于吸取和排放样本。为了避免污染等，样本针在吸取完样本后，需要对该样本针进行外壁清洗，在排放完样本后，需要对该样本针进行内外壁清洗。因此，在一个加样周期内，样本针一般先是移动到吸样位吸取样本，然后移动到清洗室中被清洗外壁，再移动到加样位排放样本，然后移动到清洗室中被清洗内外壁；可以看到在一个加样周期中，样本针包括吸样、水平移动、垂直移动和排样等动作，每个动作所花费的时间，直接影响到加样周期的长短，加样周期越长，导致自动分析仪的测试速度越低，反之，加样周期越短，则自动分析仪的测试速度会越高。

试剂针与样本针类似，只不过试剂针是用于吸取和排放试剂到样本中。类似地，在一个加试剂周期中，试剂针包括吸试剂、水平移动、垂直移动和排试剂等动作，每个动作所花费的时间，直接影响到加试剂周期的长短，加试剂周期越长，导致自动分析仪的测试速度越低，反之，加试剂周期越短，则自动分析仪的测试速度会越高。

发明内容

本申请提供一种自动分析仪及其样本针或试剂针的工作方法、清洗室，其可以缩短加样周期和/或加试剂周期，从而提高仪器的测试速度等。

根据第一方面，一种实施例中提供一种用于自动分析仪的样本针的工作方法，包括：

至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，其中第一清洗高度和第二清洗高度不相同；

当样本针需要清洗时，控制样本针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作。

根据第二方面，一种实施例中提供一种用于自动分析仪的试剂针的工作方法，包括：

至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，其中第一清洗高度和第二清洗高度不相同；

当试剂针需要清洗时，控制试剂针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作。

根据第三方面，一种实施例提供一种自动分析仪，包括：

样本针，用于吸样和排样；

驱动机构，用于驱动所述样本针；

清洗室，用于对所述样本针进行清洗；

控制单元，用于至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，当样本针需要清洗时，控制样本针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作，其中第一清洗高度和第二清洗高度不相同。

根据第四方面，一种实施例提供一种自动分析仪，包括：

试剂针，用于吸试剂和排试剂；

驱动机构，用于驱动所述样本针；

清洗室，用于对所述样本针进行清洗；

控制单元，用于至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，当试剂针需要清洗时，控制试剂针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作，其中第一清洗高度和第二清洗高度不相同。

根据第五方面，一种实施例提供一种清洗室，所述清洗室用于样本针和/或试剂针的清洗，所述清洁室被设置有第一清洗高度和第二清洗高度，所述第一清洗高度和第二清洗高度不相同。

依据上述实施例的自动分析仪及其样本针或试剂针的工作方法、清洗室，通过至少提供两个不相同的清洗高度，从而可以灵活地将吸移器——例如样本针和/或试剂针——控制在不同的清洗高度进行清洗，在清洗要求和吸液完成到开始排液所需时间之间，根据情况可以选择不同的清洗高度，当清洗要求很高时，控制吸移器在比较低的清洗高度进行清洗，当要求吸液完成后快速排液，则控制吸移器在比较高的清洗高度进行清洗。

附图说明

图1为一实施例中所列举的两种清洗方式；

图2为一种实施例的用于自动分析仪的工作方法的流程图；

图3为一种实施例的自动分析仪的结构示意图；

图4为一实施例中的清洗液路图的结构示意；

图5为一种实施例的用于自动分析仪的样本针的工作方法的流程图；

图6为一种实施例的用于自动分析仪的样本针的工作方法的图形示意；

图7为一种实施例的自动分析仪的结构示意图；

图8为另一种实施例的用于自动分析仪的样本针的工作方法的流程图；

图9为另一种实施例的用于自动分析仪的样本针的工作方法的图形示意；

图10为一种实施例的用于自动分析仪的试剂针的工作方法的流程图；

图11为一种实施例的用于自动分析仪的试剂针的工作方法的图形示意；

图12为另一种实施例的自动分析仪的结构示意图；

图13为另一种实施例的用于自动分析仪的样本针的工作方法的流程图；

图14为另一种实施例的用于自动分析仪的样本针的工作方法的图形示意。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本发明作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。

另外，说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时，方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此，说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例，并不意味着是必须的顺序，除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。

本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接(联接)。

请参照图1，现有技术中，对样本针或试剂针的清洗，不妨以样本针为例，在吸样完成后，样本针移动到清洗室的上方，然后再下降到清洗室一个比较深的位置进行外壁清洗，在排样完成后，样本针移动到清洗室的上方，再下降到清洗室的同样的一个比较深的位置进行内外壁清洗，即不论是外壁清洗还是内外壁清洗，样本针都是下降到清洗室的同一个比较深的位置进行清洗。在进行外壁清洗时，可以是清洗室内壁喷出清洗液等来清洗样本针的外壁，然后废液经过清洗室的下端出口流到废液池等；在进行内外壁清洗时，一方面清洁室内喷出清洗液等来清洗样本针的外壁，另一方面向样本针注入清洗液等来清洗样本针的内壁，然后废液同样可以经过清洗室的下端出口流到废液池等；在样本针外壁清洗或内外壁清洗时，还可以通过清洗室下端出口连接的真空泵等装置来进行吸废液，避免清洗过程中清洗池溢流和清洗后样本针的针尖挂液等问题。

图1中的方式一，为上面所描述的清洗方案，即样本针在外壁清洗和内外壁清洗时，都下降到清洗室同一个比较深的位置进行清洗，由于样本针垂直移动并下降到一个比较深的位置，从而使得该动作所花费的时间较多，从而使得整体的加样周期很难做得很短，造成了仪器提速的困难。

如何在清洗要求或者说清洗效果，以及速度之间进行灵活选择，这是一个问题。发明人经过巧妙构思，例如图1中的方式二，通过至少提供两个不相同清洗高度，从而可以灵活地将吸移器——例如样本针和/或试剂针——控制在不同的清洗高度进行清洗，在清洗要求和吸液完成到开始排液所需时间之间，根据情况可以选择不同的清洗高度，当清洗要求很高时，控制吸移器在比较低的清洗高度进行清洗，当要求吸液完成后快速排液，则控制吸移器在比较高的清洗高度进行清洗。

因此，请参照图2，在一实施例中，本发明公开了一种用于自动分析仪的工作方法，包括步骤S100～S200。

步骤S100：至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，其中第一清洗高度和第二清洗高度不相同；

步骤S200：当吸移器需要清洗时，控制吸移器下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作。在一实施例中，吸移器为样本针和/或试剂针。例如，控制吸移器在吸液后在第一清洗高度或第二清洗高度进行外壁清洗操作，以及控制吸移器在排液后在第一清洗高度或第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

请参照图3，本发明还公开了一种自动分析仪，该自动分析仪包括：吸移器110、驱动机构120、清洗室130和控制单元140。

吸移器110用于吸液和排液。在一实施例中，吸移器110为样本针，用于吸样和排样。在一实施例中，吸移器110为试剂针，用于吸试剂和排试剂。

驱动机构120用于驱动吸移器110。

清洗室130用于对吸移器110进行清洗。

控制单元140用于至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，当吸移器110需要清洗时，控制吸移器110下降到清洗室130内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作，其中第一清洗高度和第二清洗高度不相同。

本发明还公开了一种清洗室，该清洗室用于样本针和/或试剂针的清洗，所述清洁室被设置有第一清洗高度和第二清洗高度，第一清洗高度和第二清洗高度不相同。

本发明公开的自动分析仪及其样本针或试剂针的工作方法、清洗室，通过至少提供两个不相同清洗高度，从而可以灵活地将吸移器——例如样本针和/或试剂针——控制在不同的清洗高度进行清洗，在清洗要求和吸液完成到开始排液所需时间之间，根据情况可以选择不同的清洗高度，当清洗要求很高时，控制吸移器在比较低的清洗高度进行清洗，当要求吸液完成后快速排液，则控制吸移器在比较高的清洗高度进行清洗。

在一实施例中，本发明可以采用如图4所示的清洗液路图来实现上述的发明构思。

图4中吸移器为样本针或试剂针，换句话说，样本针的清洗液路和试剂针的清洗液路都可以采用如图4所示的清洗液路。吸移器的末端(即非吸移器尖端)可以连接一管路，该管路通过开关阀SV01来开启和关闭，当开关阀SV01开启时，清洗液可以通过管路到达吸移器的末端，流经吸移器的内壁，并从吸移器的针尖端流出，完成清洗液对吸移器的内壁清洗。清洗室也连接一管路，该管路通过开关阀SV02来开启和关闭，当开关阀SV02开启时，清洗液可以通过管路到达清洗室，并从清洗室内壁喷出到吸移器的外壁，完成清洗液对吸移器的外壁清洗。清洁室的下端通过管路连接一废液吸入阀SV03，废液吸入阀SV03开启时，清洗后的废液经过清洗室的下端流出。

具体如何在不同的清洗高度之间进行选择，在一实施例中，可以针对清洗要求不太高的情况，选择比较高的清洗高度，例如吸样完成后且开始排样前的外壁清洗等；针对清洗要求相比较高的情况，选择比较低的清洗高度例如排样完成后的内外壁清洗；这是因为本次排样完成后且下次吸样之前的内外壁清洗，为了避免样本针上本次所吸取的样本对下次吸取的样本的污染，所以清洗要求比较高，而吸样后且排样前的外壁清洗，清洗要求相对就没那么高。另外，由于外壁清洗是位于吸样后且排样前，这部分时间对从吸样到排样的时间影响最大，也是对其他需要配合的组件，例如等待加样完成后进行后续操作的组件的影响最大，因此这一部分的时间的缩短，对于仪器提速至关重要，因此，针对需要快速排样的情况，可以选择比较高的清洗高度，因为选择比较高的清洗高度，使得将这一部分的时间(例如从吸样到排样的时间)中样本针垂直移动以下降的动作所花的时间缩小了，从而使得从完成吸样到开始排样的时间也缩短了，对于仪器提速起到了重要作用。

下面通过若干实施例并结合附图，对本发明作进一步的说明。

实施例一：

请参照图5和图6，本实施例公开了一种用于自动分析仪的样本针的工作方法(以下简称工作方法)，其包括步骤S10～S16。

步骤S10：控制样本针移至吸样位，并进行吸样操作。

步骤S12：控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作。

步骤S14：控制样本针移至排样位，并进行排样操作。

步骤S16：控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

在本实施例中，第一清洗高度大于第二清洗高度。需要说明的是，第一清洗高度和第二清洗高度都是相对于清洗室的下端而言，第一清洗高度对应于样本针下降得比较浅，第二清洗高度对应于样本针下降得比较深，例如图6中所标出的第一清洗高度和第二清洗高度。当然，第一清洗高度的设置，至少要使得样本针下降至清洗室的第一清洗高度时，样本针接触到样本的外壁可以被清洗室喷出的清洗液清洗到。

可以看到，本实施例中，在吸样完成后，且排样开始前，对样本针进行外壁清洗操作时，样本针只需下降一小段距离，不用像传统做法一样下降很大一段距离，从而使得样本针在吸样完成后可以更快地开始排样，提高了自动分析仪的测试速度，并且在排样完成后，控制样本针下降到相对较深的位置进行内外壁清洗操作，保证了清洗效果，使得本次吸样对下次吸样造成的污染等影响非常小，甚至没有。

有时仪器发生故障，样本针在吸样操作时发生样本针伸入样本超过预定深度等的故障，这时候为了保证样本针外壁伸入到样本液面的部分都被清洗到，因此，在一实施例中，本发明的工作方法还可以包括：当检测到样本针在吸样操作时发生样本针伸入样本超过预定深度时，则控制完成吸样操作的样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行外壁清洗操作；换句话说，因为样本针在吸样时伸入到样本液面的部分对平常要多，因此这时候进行外壁清洗时，要在清洗室中的第二清洗高度而不是第一清洗高度进行清洗。

有日常清洗维护时，为了保证清洗效果，在一实施例中，本申请的工作方法还包括：控制样本针移至清洗室，并降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

请参照图7，本实施例还公开了一种自动分析仪，其包括样本针10、驱动机构12、清洗室14和控制单元16。

样本针10用于吸样和排样。

驱动机构12用于驱动样本针10，例如驱动样本针10移动，驱动样本针10吸液和排液等。控制单元16可以通过控制驱动机构12来控制样本针10移动或吸液、排液等动作

清洗室14用于对样本针14进行清洗。

控制单元16用于控制样本针10移至吸样位，并进行吸样操作，再控制样本针10移至清洗室16，并下降至清洗室14内的第一清洗高度进行外壁清洗操作；再控制样本针10移至排样位，并进行排样操作；再控制样本针10移至清洗室14，并下降至清洗室14内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作，其中第一清洗高度大于第二清洗高度。

在一实施例中，控制单元16当检测到样本针10在吸样操作时发生样本针10伸入样本超过预定深度时，则控制完成吸样操作的样本针10移至清洗室14，并下降至清洗室14内的第二清洗高度进行外壁清洗操作。

在一实施例中，控制单元16当接收到启动日常清洁维护的信号时，则控制样本针10移至清洗室14，并降至清洗室14内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

本实施例还公开了一种清洗室，清洗室被设置有第一清洗高度和第二清洗高度，第一清洗高度大于第二清洗高度，其中：第一清洗高度用于供吸样操作完成后的样本针进行外壁清洗操作；第二清洗高度用于供排样操作完成后的样本针进行内外壁清洗操作。需要说明的是，这里的第一清洗高度和第二清洗高度也是相对于清洗室的下端而言，第一清洗高度对应于样本针下降得比较浅，第二清洗高度对应于样本针下降得比较深。

实施例二：

如上所述，样本针排样完成后的内外壁清洗，清洗要求比较高，这是为了避免样本针上残留本次所吸取的样本对下次吸取的样本的污染；在实施例一的基础上，发明人考虑到，如果样本针本次吸取的样本与下次将吸取的样本为相同样本时，这时候就相对可以放低清洗要求，可以将完成排样操作的样本针下降到一个比较浅的位置来进行内外壁清洗。因此，本实施例与实施例一主要的区别，在于排样后是下降至清洗室的哪个高度进行内外壁清洗操作，实施例一是统一下降到清洗室的第二清洗高度进行内外壁清洗操作，而本实施例则是根据不同情况来确定是下降至第一清洗高度还是第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

请参照图8和图9，本实施例公开了一种用于自动分析仪的样本针的工作方法(以下简称工作方法)，其包括步骤S20～S26。

步骤S20：控制所述样本针移至吸样位，并进行吸样操作。

步骤S22：控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作。

步骤S24：控制样本针移至排样位，并进行排样操作。

步骤S26：控制样本针移至清洗室；当本次吸取的样本与下次将吸取的样本为相同样本，则控制样本针下降至清洗室内的第一清洗高度进行内外壁清洗操作，反之，即本次吸取的样本与下次将吸取的样本为不同样本，则控制样本针下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作，其中第一清洗高度大于第二清洗高度。在一实施例中，对于本次吸取的样本与下次将吸取的样本是否为相同样本的判断，可以是步骤S26实时进行的判断，也可以是仪器将所有申请进行的测试项目设置好各自的时序，然后在启动测试前就判断完成。

在一实施例中，本申请的工作方法还包括：当检测到样本针在吸样操作时发生样本针伸入样本超过预定深度时，则控制完成吸样操作的样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行外壁清洗操作。

在一实施例中，本申请的工作方法还包括：当需要进行日常清洁维护时，控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

请返回参照图7，本实施例还公开了一种自动分析仪，其与实施例一中公开的自动分析仪不同之处主要在于控制单元16。本实施例的控制单元16用于控制样本针10移至吸样位，并进行吸样操作；再控制样本针10移至清洗室14，并下降至清洗室14内的第一清洗高度进行外壁清洗操作；再控制样本针10移至排样位，并进行排样操作；再控制样本针10移至清洗室14，当本次吸取的样本与下次将吸取的样本为相同样本，则控制样本针10下降至清洗室内的第一清洗高度进行内外壁清洗操作，反之，则控制样本针10下降至清洗室14内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作，其中第一清洗高度大于第二清洗高度。在一实施例中，控制单元16对于本次吸取的样本与下次将吸取的样本是否为相同样本的判断，可以是实时的判断，也可以将所有申请进行的测试项目设置好各自的时序，然后在启动测试前就判断完成。

本实施例还公开了一种清洗室，清洗室被设置有第一清洗高度和第二清洗高度，第一清洗高度大于第二清洗高度，其中：第一清洗高度用于供吸样操作完成后的样本针进行外壁清洗操作，以及供排样操作完成后且本次吸取的样本与下次将吸取的样本为相同样本的样本针进行内外壁清洗操作；第二清洗高度用于供排样操作完成后且本次吸取的样本与下次将吸取的样本为不同样本的样本针进行内外壁清洗操作。

实施例三

试剂针与样本针类似，试剂针先是伸入试剂液面中吸取试剂，再移至清洗室清洗外壁，然后伸入样本液面排放试剂，再移至清洗室清洗外壁，在整个过程中，试剂针会接触到试剂和样本，为了避免本次吸取的试剂和被排放试剂的样本，对下次吸取的试剂以及下次待排放试剂的样本造成污染等，试剂针排放完试剂后的内外壁清洗要求也比较高，而吸取完试剂后的外壁清洗，由于是处于一次吸试剂完成后且向样本中排试剂之前，所以外壁清洗要求相对可以放低一点。

基于上述考虑，请参照图10和图11，本实施例公开了一种用于自动分析仪的试剂针的工作方法(以下简称工作方法)，其包括步骤S30～S36。

步骤S30：控制所述试剂针移至吸试剂位，并进行吸试剂操作。

步骤S32：控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作。

步骤S34：控制试剂针移至排试剂位，并进行排试剂操作。

步骤S36：控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作，其中第一清洗高度大于第二清洗高度。

可以看到，本实施例中，在吸试剂完成后，且排试剂开始前，对试剂针进行外壁清洗操作时，试剂针只需下降一小段距离，不用像传统做法一样下降很大一段距离，从而使得试剂针在吸试剂完成后可以更快地开始排试剂，提高了自动分析仪的测试速度，并且在排试剂完成后，控制试剂针下降到相对较深的位置进行内外壁清洗操作，保证了清洗效果，使得本次吸试剂和排试剂，对下次吸试剂和排试剂造成的污染等影响非常小，甚至没有。

向位于排试剂位的样本容器中的样本加入试剂时，如果本次需要加入多种试剂，可以吸一种试剂然后向排试剂位的样本容器排放该种试剂，再吸另一种试剂然后向排试剂位的样本容器排放该种试剂，这样每次吸一种试剂然后向排试剂位的样本容器排放一种试剂，直到向样本容器排放完本次需要加入的所有试剂。在一实施例中，试剂针可以被设置成连续吸取多种试剂再一起排放，这样当需要向位于排试剂位的样本容器加入多种试剂时，则控制试剂针连续进行多次吸试剂操作以吸取所需的多种试剂，其中在吸取该所需要的多种试剂的过程中，在完成一次吸试剂操作后且开始下次吸试剂操作之前，控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作。例如，当需要吸取三种试剂然后再一起向位于排试剂位的样本容器中排放时，可以先控制试剂针吸取第一种试剂，然后控制试剂针移至清洗室并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作，再控制试剂针吸取第二种试剂，然后控制试剂针移至清洗室并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作，再控制试剂针吸取第三种试剂，然后控制试剂针移至清洗室并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作，最后再控制试剂针移至排试剂位并进行排试剂操作。

在一实施例中，当检测到试剂针在吸试剂操作时发生试剂针伸入试剂超过预定深度时，则控制完成吸试剂操作的试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行外壁清洗操作。

在一实施例中，需要进行日常清洁维护时，控制试剂针移至清洗室，并降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

请参照图12，本实施例还公开了一种自动分析仪，其包括试剂针30、驱动机构32、清洗室34和控制单元36。

试剂针30用于吸试剂和排试剂。

驱动机构32用于驱动试剂针30，例如驱动试剂针30移动，驱动试剂针30吸液和排液等。控制单元36可以通过控制驱动机构32来控制试剂针30移动或吸液、排液等动作。

清洗室34用于对试剂针30进行清洗。

控制单元36用于控制试剂针30移至吸试剂位，并进行吸试剂操作；控制试剂针30移至清洗室34，并下降至清洗室34内的第一清洗高度进行外壁清洗操作；控制试剂针30移至排试剂位，并进行排试剂操作；控制试剂针30移至清洗室34，并下降至清洗室34内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作，其中第一清洗高度大于第二清洗高度。

在一实施例中，试剂针30被设置成连续吸取多种试剂再一起排放；当试剂针30需要连续吸取多种试剂再一起排放时，控制单元36则控制试剂针30连续进行多次吸试剂操作以吸取所需的多种试剂；其中在吸取该所需要的多种试剂的过程中，在完成一次吸试剂操作后且开始下次吸试剂操作之前，控制单元36控制试剂针30移至清洗室34，并下降至清洗室34内的第一清洗高度进行外壁清洗操作。

在一实施例中，控制单元36当检测到试剂针30在吸试剂操作时发生试剂针伸入试剂超过预定深度时，则控制完成吸试剂操作的试剂针30移至清洗室34，并下降至清洗室34内的第二清洗高度进行外壁清洗操作。

在一实施例中，控制单元36当接收到启动日常清洁维护的信号时，则控制试剂针30移至清洗室34，并降至清洗室34内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

本实施例还公开了一种清洗室，清洗室被设置有第一清洗高度和第二清洗高度，第一清洗高度大于第二清洗高度，其中：第一清洗高度用于供吸试剂操作完成后的试剂针进行外壁清洗操作；第二清洗高度用于供排试剂操作完成后的试剂针进行内外壁清洗操作。

实施例四

在实施例三的基础上，发明人考虑到，如果试剂针本次被加试剂的样本与下次将被加试剂的样本为相同样本，且本次被吸取和排放的试剂与下次将被吸取和排放的试剂之间不存在化学反应时，这时候就相对可以放低清洗要求，可以将完成排试剂操作的试剂针下降到一个比较浅的位置来进行内外壁清洗。因此，本实施例与实施例三主要的区别，在于排试剂是下降至清洗室的哪个高度进行内外壁清洗操作，实施例三是统一下降到清洗室的第二清洗高度进行内外壁清洗操作，而本实施例则是根据不同情况来确定是下降至第一清洗高度还是第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

请参照图13和图14，本实施例公开一种用于自动分析仪的试剂针的工作方法(以下简称工作方法)，其包括步骤S40～S46。

步骤S40：控制所述试剂针移至吸试剂位，并进行吸试剂操作。

步骤S42：控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作。

步骤S44：控制试剂针移至排试剂位，并进行排试剂操作。

步骤S46：控制试剂针移至清洗室；当本次被加试剂的样本与下次将被加试剂的样本为相同样本，且本次被吸取和排放的试剂与下次将被吸取和排放的试剂之间不存在化学反应时，则控制试剂针下降至清洗室内的第一清洗高度进行内外壁清洗操作，反之，则控制试剂针下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作，其中第一清洗高度大于第二清洗高度。

在一实施例中，当试剂针被设置成连续吸取多种试剂再一起排放时，则控制试剂针连续进行多次吸试剂操作以吸取所需的多种试剂；其中在吸取该所需要的多种试剂的过程中，在完成一次吸试剂操作后且开始下次吸试剂操作之前，控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作。

在一实施例中，当检测到试剂针在吸试剂操作时发生试剂针伸入试剂超过预定深度时，则控制完成吸试剂操作的试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行外壁清洗操作；和/或当检测到试剂针在排试剂操作时发生试剂针伸入样本超过预定深度时，则控制完成排试剂操作的试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行外壁清洗操作。

在一实施例中，需要进行日常清洁维护时，控制试剂针移至清洗室，并降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

请返回参照图12，本实施例中还公开了一种自动分析仪，其与实施例三中公开的自动分析仪不同之处在主要在于控制单元36。本实施例的控制单元36用于控制试剂针30移至吸试剂位，并进行吸试剂操作；控制试剂针30移至清洗室34，并下降至清洗室34内的第一清洗高度进行外壁清洗操作；控制试剂针30移至排试剂位，并进行排试剂操作；控制试剂针30移至清洗室34；当本次被加试剂的样本与下次将被加试剂的样本为相同样本，且本次被吸取和排放的试剂与下次将被吸取和排放的试剂之间不存在化学反应时，则控制试剂针30下降至清洗室内的第一清洗高度进行内外壁清洗操作，反之，则控制试剂针30下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作，其中第一清洗高度大于第二清洗高度。

在一实施例中，试剂针30被设置成连续吸取多种试剂再一起排放；当试剂针30需要连续吸取多种试剂再一起排放时，控制单元36则控制试剂针30连续进行多次吸试剂操作以吸取所需的多种试剂；其中在吸取该所需要的多种试剂的过程中，在完成一次吸试剂操作后且开始下次吸试剂操作之前，控制单元36控制试剂针30移至清洗室34，并下降至清洗室34内的第一清洗高度进行外壁清洗操作。

在一实施例中，控制单元36当检测到试剂针30在吸试剂操作时发生试剂针伸入试剂超过预定深度时，则控制完成吸试剂操作的试剂针30移至清洗室34，并下降至清洗室34内的第二清洗高度进行外壁清洗操作。在一实施例中，控制单元36当检测到试剂针30在排试剂操作时发生试剂针30伸入样本超过预定深度时，则控制完成排试剂操作的试剂针30移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

在一实施例中，控制单元36当接收到启动日常清洁维护的信号时，则控制试剂针30移至清洗室34，并降至清洗室34内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

本实施例还公开了一种清洗室，清洗室被设置有第一清洗高度和第二清洗高度，第一清洗高度大于第二清洗高度，其中：

第一清洗高度用于供吸试剂操作完成后的试剂针进行外壁清洗操作；以及第一清洗高度还用于供本次被试剂针加试剂的样本与下次将被试剂针加试剂的样本为相同样本，且本次被试剂针吸取和排放的试剂与下次将被试剂针吸取和排放的试剂之间不存在化学反应的试剂针进行内外壁清洗操作；

第二清洗高度用于供本次被试剂针加试剂的样本与下次将被试剂针加试剂的样本为不同样本，或本次被试剂针吸取和排放的试剂与下次将被试剂针吸取和排放的试剂之间存在化学反应的试剂针进行内外壁清洗操作。

本发明的自动分析仪及其样本针或试剂针的工作方法、清洗室，通过提供至少两个不相同清洗高度：第一清洗高度和第二清洗高度，从而可以灵活地将吸移器——例如样本针和/或试剂针——控制在不同的清洗高度进行清洗，在清洗要求和吸液完成到开始排液所需时间之间，根据情况可以选择不同的清洗高度，当清洗要求很高时，控制吸移器在比较低的清洗高度进行清洗(例如第一清洗高度，其中第一清洗高度大于第二清洗高度)，当要求吸液完成后快速排液，则控制吸移器在比较高的清洗高度进行清洗(例如第二清洗高度，其中第一清洗高度大于第二清洗高度)。例如，本发明的自动分析仪及其样本针或试剂针的工作方法、清洗室，可以将吸移器吸液后的清洗控制在一个比较高的清洗高度，从而减少了吸液完成到开始排液过程中吸移器垂直下降的动作所花的时间，从而使得吸液完成后可以更快地开始排液，对于仪器提速起到了重要作用；或者，根据不同的情况——对清洗要求的高低——将吸移器吸液后的清洗以及排液后的清洗设置在相应的高度，从而减少了吸液完成到开始排液过程中吸移器垂直下降的动作所花的时间，从而使得吸液完成后可以更快地开始排液，对于仪器提速起到了重要作用；另上，本发明还可以直接采用现有清洗室的结构，并将其设置成两个清洗位置，一个相对较浅的位置，一个相对较深的位置，从而不会增加额外的产品重新制造的成本，便于普及。

本领域技术人员可以理解，上述实施方式中各种方法的全部或部分功能可以通过硬件的方式实现，也可以通过计算机程序的方式实现。当上述实施方式中全部或部分功能通过计算机程序的方式实现时，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括：只读存储器、随机存储器、磁盘、光盘、硬盘等，通过计算机执行该程序以实现上述功能。例如，将程序存储在设备的存储器中，当通过处理器执行存储器中程序，即可实现上述全部或部分功能。另外，当上述实施方式中全部或部分功能通过计算机程序的方式实现时，该程序也可以存储在服务器、另一计算机、磁盘、光盘、闪存盘或移动硬盘等存储介质中，通过下载或复制保存到本地设备的存储器中，或对本地设备的系统进行版本更新，当通过处理器执行存储器中的程序时，即可实现上述实施方式中全部或部分功能。

以上应用了具体个例对本发明进行阐述，只是用于帮助理解本发明，并不用以限制本发明。对于本发明所属技术领域的技术人员，依据本发明的思想，还可以做出若干简单推演、变形或替换。

Claims (25)

1.一种用于自动分析仪的样本针的工作方法，其特征在于，包括：

至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，其中第一清洗高度大于第二清洗高度；

当样本针需要清洗时，控制样本针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作；其中：

第一种清洗模式：控制所述样本针移至吸样位，并进行吸样操作；控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作；控制样本针移至排样位，并进行排样操作；控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作；

第二种清洗模式：控制所述样本针移至吸样位，并进行吸样操作；控制样本针移至清洗室，当检测到样本针在吸样操作时发生样本针伸入样本超过预定深度时，则控制样本针下降至清洗室内的第二清洗高度进行外壁清洗操作；控制样本针移至排样位，并进行排样操作；控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

2.如权利要求1所述的工作方法，其特征在于，当需要进行日常清洁维护时，控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作，其中第一清洗高度大于第二清洗高度。

3.一种用于自动分析仪的样本针的工作方法，其特征在于，包括：

至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，其中第一清洗高度大于第二清洗高度；

当样本针需要清洗时，控制样本针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作；其中：

控制所述样本针移至吸样位，并进行吸样操作；控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作；控制样本针移至排样位，并进行排样操作；控制样本针移至清洗室；当本次吸取的样本与下次将吸取的样本为相同样本，则控制样本针下降至清洗室内的第一清洗高度进行内外壁清洗操作，反之，则控制样本针下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

4.如权利要求3所述的工作方法，其特征在于，当需要进行日常清洁维护时，控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作，其中第一清洗高度大于第二清洗高度。

5.一种用于自动分析仪的试剂针的工作方法,其特征在于，包括：

至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，其中所述第一清洗高度大于第二清洗高度；

当试剂针需要清洗时，控制试剂针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作；其中：

第一种清洗模式：控制所述试剂针移至吸试剂位，并进行吸试剂操作；控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作；控制试剂针移至排试剂位，并进行排试剂操作；控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作；

第二种清洗模式：控制所述试剂针移至吸试剂位，并进行吸试剂操作；控制试剂针移至清洗室，当检测到试剂针在吸试剂操作时发生试剂针伸入试剂超过预定深度时，则控制试剂针下降至清洗室内的第二清洗高度进行外壁清洗操作；控制试剂针移至排试剂位，并进行排试剂操作；控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

6.如权利要求5所述的工作方法，其特征在于：当所述试剂针被设置成连续吸取多种试剂再一起排放时，则控制试剂针连续进行多次吸试剂操作以吸取所需的多种试剂；其中在吸取该所需要的多种试剂的过程中，在完成一次吸试剂操作后且开始下次吸试剂操作之前，控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作。

7.如权利要求5所述的工作方法，其特征在于，还包括：当检测到试剂针在排试剂操作时发生试剂针伸入样本超过预定深度时，则控制完成排试剂操作的试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行外壁清洗操作。

8.如权利要求5所述的工作方法，其特征在于，还包括：需要进行日常清洁维护时，控制试剂针移至清洗室，并降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

9.一种用于自动分析仪的试剂针的工作方法,其特征在于，包括：

至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，其中所述第一清洗高度大于第二清洗高度；

当试剂针需要清洗时，控制试剂针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作；其中：

控制所述试剂针移至吸试剂位，并进行吸试剂操作；控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作；控制试剂针移至排试剂位，并进行排试剂操作；控制试剂针移至清洗室；当本次被加试剂的样本与下次将被加试剂的样本为相同样本，且本次被吸取和排放的试剂与下次将被吸取和排放的试剂之间不存在化学反应时，则控制试剂针下降至清洗室内的第一清洗高度进行内外壁清洗操作，反之，则控制试剂针下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

10.如权利要求9所述的工作方法，其特征在于：当所述试剂针被设置成连续吸取多种试剂再一起排放时，则控制试剂针连续进行多次吸试剂操作以吸取所需的多种试剂；其中在吸取该所需要的多种试剂的过程中，在完成一次吸试剂操作后且开始下次吸试剂操作之前，控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作。

11.如权利要求9所述的工作方法，其特征在于，还包括：

当检测到试剂针在排试剂操作时发生试剂针伸入样本超过预定深度时，则控制完成排试剂操作的试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行外壁清洗操作。

12.如权利要求9所述的工作方法，其特征在于，还包括：需要进行日常清洁维护时，控制试剂针移至清洗室，并降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

13.一种自动分析仪，其特征在于，包括：

样本针，用于吸样和排样；

驱动机构，用于驱动所述样本针；

清洗室，用于对所述样本针进行清洗；

控制单元，用于至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，当样本针需要清洗时，控制样本针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作，其中第一清洗高度大于第二清洗高度；其中：

第一种清洗模式：所述控制单元还用于控制所述样本针移至吸样位，并进行吸样操作；控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作；控制样本针移至排样位，并进行排样操作；控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作；

第二种清洗模式：所述控制单元还用于控制所述样本针移至吸样位，并进行吸样操作；控制样本针移至清洗室，当检测到样本针在吸样操作时发生样本针伸入样本超过预定深度时，则控制样本针下降至清洗室内的第二清洗高度进行外壁清洗操作；控制样本针移至排样位，并进行排样操作；控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

14.如权利要求13所述的自动分析仪，其特征在于，所述控制单元当接收到启动日常清洁维护的信号时，则控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

15.一种自动分析仪，其特征在于，包括：

样本针，用于吸样和排样；

驱动机构，用于驱动所述样本针；

清洗室，用于对所述样本针进行清洗；

控制单元，用于至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，当样本针需要清洗时，控制样本针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作，其中第一清洗高度大于第二清洗高度；其中：

所述控制单元还用于控制所述样本针移至吸样位，并进行吸样操作；控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作；控制样本针移至排样位，并进行排样操作；控制样本针移至清洗室；当本次吸取的样本与下次将吸取的样本为相同样本，则控制样本针下降至清洗室内的第一清洗高度进行内外壁清洗操作，反之，则控制样本针下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

16.如权利要求15所述的自动分析仪，其特征在于，所述控制单元当接收到启动日常清洁维护的信号时，则控制样本针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

17.一种自动分析仪，其特征在于，包括：

试剂针，用于吸试剂和排试剂；

驱动机构，用于驱动所述试剂针；

清洗室，用于对所述试剂针进行清洗；

控制单元，用于至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，当试剂针需要清洗时，控制试剂针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作，其中所述第一清洗高度大于第二清洗高度；其中：

第一种清洗模式：控制单元还用于控制所述试剂针移至吸试剂位，并进行吸试剂操作；控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作；控制试剂针移至排试剂位，并进行排试剂操作；控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作；

第二种清洗模式：控制单元还用于控制所述试剂针移至吸试剂位，并进行吸试剂操作；控制试剂针移至清洗室，当检测到试剂针在吸试剂操作时发生试剂针伸入试剂超过预定深度时，则控制试剂针下降至清洗室内的第二清洗高度进行外壁清洗操作；控制试剂针移至排试剂位，并进行排试剂操作；控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

18.如权利要求17所述的自动分析仪，其特征在于，所述试剂针被设置成连续吸取多种试剂再一起排放；当所述试剂针需要连续吸取多种试剂再一起排放时，所述控制单元则控制试剂针连续进行多次吸试剂操作以吸取所需的多种试剂；其中在吸取该所需要的多种试剂的过程中，在完成一次吸试剂操作后且开始下次吸试剂操作之前，控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作。

19.如权利要求17所述的自动分析仪，其特征在于，所述控制单元当检测到试剂针在排试剂操作时发生试剂针伸入样本超过预定深度时，则控制完成排试剂操作的试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

20.如权利要求17所述的自动分析仪，其特征在于，所述控制单元当接收到启动日常清洁维护的信号时，则控制试剂针移至清洗室，并降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

21.一种自动分析仪，其特征在于，包括：

试剂针，用于吸试剂和排试剂；

驱动机构，用于驱动所述试剂针；

清洗室，用于对所述试剂针进行清洗；

控制单元，用于至少提供第一清洗高度和第二清洗高度，当试剂针需要清洗时，控制试剂针下降到清洗室内的第一清洗高度或第二清洗高度进行清洗操作，其中所述第一清洗高度大于第二清洗高度；其中：

所述控制单元还用于控制所述试剂针移至吸试剂位，并进行吸试剂操作；控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作；控制试剂针移至排试剂位，并进行排试剂操作；控制试剂针移至清洗室；当本次被加试剂的样本与下次将被加试剂的样本为相同样本，且本次被吸取和排放的试剂与下次将被吸取和排放的试剂之间不存在化学反应时，则控制试剂针下降至清洗室内的第一清洗高度进行内外壁清洗操作，反之，则控制试剂针下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

22.如权利要求21所述的自动分析仪，其特征在于，所述试剂针被设置成连续吸取多种试剂再一起排放；当所述试剂针需要连续吸取多种试剂再一起排放时，所述控制单元则控制试剂针连续进行多次吸试剂操作以吸取所需的多种试剂；其中在吸取该所需要的多种试剂的过程中，在完成一次吸试剂操作后且开始下次吸试剂操作之前，控制试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第一清洗高度进行外壁清洗操作。

23.如权利要求21所述的自动分析仪，其特征在于，所述控制单元当检测到试剂针在排试剂操作时发生试剂针伸入样本超过预定深度时，则控制完成排试剂操作的试剂针移至清洗室，并下降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

24.如权利要求21所述的自动分析仪，其特征在于，所述控制单元当接收到启动日常清洁维护的信号时，则控制试剂针移至清洗室，并降至清洗室内的第二清洗高度进行内外壁清洗操作。

25.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括程序，所述程序能够被处理器执行以实现如权利要求1-12中任一项所述的工作方法。