CN108880542A - 模数转换电路、模数转换方法和像素驱动补偿电路 - Google Patents

模数转换电路、模数转换方法和像素驱动补偿电路 Download PDF

Info

Publication number
CN108880542A
CN108880542A CN201710316964.0A CN201710316964A CN108880542A CN 108880542 A CN108880542 A CN 108880542A CN 201710316964 A CN201710316964 A CN 201710316964A CN 108880542 A CN108880542 A CN 108880542A
Authority
CN
China
Prior art keywords
signal
analog
timer
operational amplifier
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201710316964.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108880542B (zh
Inventor
宋琛
孟松
宋丹娜
吴仲远
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201710316964.0A priority Critical patent/CN108880542B/zh
Priority to PCT/CN2017/102421 priority patent/WO2018205479A1/en
Priority to EP17868510.3A priority patent/EP3622626A4/en
Priority to US15/766,085 priority patent/US10439630B2/en
Publication of CN108880542A publication Critical patent/CN108880542A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108880542B publication Critical patent/CN108880542B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10—Calibration or testing
    • H03M1/1009—Calibration
    • H03M1/1014—Calibration at one point of the transfer characteristic, i.e. by adjusting a single reference value, e.g. bias or gain error
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12—Analogue/digital converters
    • H03M1/50—Analogue/digital converters with intermediate conversion to time interval
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • G09G3/3233—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix with pixel circuitry controlling the current through the light-emitting element
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10—Calibration or testing
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12—Analogue/digital converters
    • H03M1/124—Sampling or signal conditioning arrangements specially adapted for A/D converters
    • H03M1/1245—Details of sampling arrangements or methods
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/12—Analogue/digital converters
    • H03M1/50—Analogue/digital converters with intermediate conversion to time interval
    • H03M1/52—Input signal integrated with linear return to datum
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/08—Active matrix structure, i.e. with use of active elements, inclusive of non-linear two terminal elements, in the pixels together with light emitting or modulating elements
    • G09G2300/0809—Several active elements per pixel in active matrix panels
    • G09G2300/0819—Several active elements per pixel in active matrix panels used for counteracting undesired variations, e.g. feedback or autozeroing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/08—Active matrix structure, i.e. with use of active elements, inclusive of non-linear two terminal elements, in the pixels together with light emitting or modulating elements
    • G09G2300/0809—Several active elements per pixel in active matrix panels
    • G09G2300/0842—Several active elements per pixel in active matrix panels forming a memory circuit, e.g. a dynamic memory with one capacitor
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00—Control of display operating conditions
    • G09G2320/02—Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/029—Improving the quality of display appearance by monitoring one or more pixels in the display panel, e.g. by monitoring a fixed reference pixel
    • G09G2320/0295—Improving the quality of display appearance by monitoring one or more pixels in the display panel, e.g. by monitoring a fixed reference pixel by monitoring each display pixel
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10—Calibration or testing
    • H03M1/1009—Calibration

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

本发明公开了一种模数转换电路、模数转换方法和像素驱动补偿电路，该模数转换电路包括：积分电路、比较器和计时器；积分电路包括：运算放大器和积分电容；运算放大器的正输入端与第一电压输入端连接，运算放大器的负输入端与信号采集线连接，运算放大器的输出端与比较器的第二输入端连接；比较器的第一输入端与第二电压输入端连接，比较器的输出端与计时器连接；计时器用于在模拟电流信号输入至运算放大器的负输入端时开始计时，且当接收到比较器输出的信号发生变化时停止计时，计时器中的计时结果所对应的二进制数为模拟电流信号对应的数字信号的表征。本发明提供的模数转换电路可精准的将信号采集线采集到的模拟电流信号转化为数字信号。

Description

模数转换电路、模数转换方法和像素驱动补偿电路
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种模数转换电路、模数转换方法、像素驱动补偿电路、寄生参数检测方法和驱动电流的检测方法。
背景技术
随着技术的发展，在现有的有源矩阵有机发光二极管(AMOLED)显示装置的像素驱动电路中，有机发光二极管(OLED)和用于驱动OLED的薄膜晶体管(TFT)等因制备工艺不稳定、参数漂移、器件老化等因素可能导致OLED的驱动电流变化，进而导致显示面板发光不均匀的现象。为了解决该发光不均匀的问题，可以采用外部电学补偿方式，对作用于OLED的电压或电流信号进行补偿。
在进行外部电学补偿过程中，需要将信号采集线采集到的模拟电流信号转换为数字信号。然而，转换精度的损失影响补偿效果。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种模数转换电路、模数转换方法、像素驱动补偿电路、寄生参数检测方法和驱动电流的检测方法。
为实现上述目的，本发明提供了一种模数转换电路，用于将信号采集线采集到的模拟电流信号转化为数字信号，该模数转换电路包括：积分电路、比较器和计时器；
所述积分电路包括：运算放大器和积分电容；
所述运算放大器的正输入端与第一电压输入端连接，所述运算放大器的负输入端与信号采集线连接，运算放大器的输出端与所述比较器的第二输入端连接；
所述积分电容的一端与所述运算放大器的负输入端连接，积分电容的另一端与所述运算放大器的输出端连接；
所述比较器的第一输入端与第二电压输入端连接，所述比较器的输出端与所述计时器连接，所述第一输入端和所述第二输入端中的一者为正输入端，另一者为负输入端；
所述计时器用于在所述信号采集线将采集到的所述模拟电流信号输入至所述运算放大器的负输入端时开始计时，且当接收到比较器输出的信号发生变化时停止计时，所述计时器中的计时结果所对应的二进制数为所述模拟电流信号对应的数字信号的表征；
可选地，所述第一电压输入端用于输入第一电压，所述第二电压输入端用于输入第二电压，第二电压小于第一电压。
可选地，还包括：复位单元，所述复位单元与所述运算放大器的负输入端和所述运算放大器的输出端均连接；
所述复位单元用于对所述积分电路进行复位。
可选地，所述复位单元包括：第一开关和第二开关；
所述第一开关的两端分别连接所述运算放大器的负输入端和所述运算放大器的输出端；
所述第二开关设置于所述信号采集线和所述运算放大器的负输入端之间。
可选地，所述第一开关和所述第二开关均为开关晶体管。
可选地，还包括：电平转换子电路，所述电平转换子电路设置于所述比较器的输出端和所述计时器之间；
所述电平转换子电路用于将所述比较器的输出端所输出的信号的电压值调低。
可选地，还包括：计时控制单元，所述计时控制单元与计时器连接；
所述计时控制单元用于在计时器开始计时且经过预设时长后仍未停止时，控制所述计时器停止计时并进行重置。
可选地，还包括：寄存器，所述寄存器与计时器连接；
所述寄存器用于存储所述计时器中的计时结果。
为实现上述目的，本发明还提供了一种模数转换方法，所述模数转换方法基于上述的模数转换电路，所述模数转换方法包括：
所述计时器在所述信号采集线将采集到的所述模拟电流信号输入至所述运算放大器的负输入端时开始计时；
所述计时器接收到比较器输出的信号发生变化时停止计时，所述计时器中的计时结果所对应的二进制数为所述模拟电流信号对应的数字信号的表征。
可选地，当所述模数转换电路采用权利要求2所述的模数转换电路时，所述模数转换方法还包括：
复位单元对所述积分电路进行复位。
为实现上述目的，本发明还提供了一种像素驱动补偿电路，其特征在于，包括：如上述的模数转换电路。
为实现上述目的，本发明还提供了一种寄生参数检测方法，所述电流校准参数检测方法基于上述的模数转换电路，用于在进行外部电学补偿之前对信号采集线上的寄生参数进行检测，所述寄生参数检测方法包括：
测试信号输入端向所述信号采集线加载测试电流信号；
所述信号采集线中实际生成第一模拟电流信号，并将所述第一模拟电流信号发送至所述运算放大器的负输入端；
所述计时器在所述信号采集线将采集到的所述第一模拟电流信号输入至所述运算放大器的负输入端时开始计时；
所述计时器接收到比较器输出的信号发生变化时停止计时，所述计时器中的计时结果所对应的二进制数为所述第一模拟电流信号对应的数字信号的表征；
根据所述第一模拟电流信号对应的数字信号和所述测试电流信号的大小确定所述信号采集线所对应的电流校准参数。
为实现上述目的，本发明还提供了一种驱动电路中驱动电流的检测方法，所述寄生参数检测方法基于上述的模数转换电路，所述驱动电路中驱动电流的检测方法包括：
数据线向驱动电路输入数据电压，所述驱动电路中产生驱动电流，并输出至所述信号采集线；
所述信号采集线中实际采集到第二模拟电流信号；
所述计时器在所述信号采集线将采集到的所述第二模拟电流信号输入至所述运算放大器的负输入端时开始计时；
所述计时器接收到比较器输出的信号发生变化时停止计时，所述计时器中的计时结果所对应的二进制数为所述第二模拟电流信号对应的数字信号的表征。
本发明具有以下有益效果：
本发明提供了一种模数转换电路、模数转换方法、像素驱动补偿电路、寄生参数检测方法和驱动电流的检测方法，其中，模数转换电路包括：积分电路、比较器和计时器；积分电路包括：运算放大器和积分电容；运算放大器的正输入端与第一电压输入端连接，运算放大器的负输入端与信号采集线连接，运算放大器的输出端与比较器的第二输入端连接；积分电容的一端与运算放大器的负输入端连接，积分电容的另一端与运算放大器的输出端连接；比较器的第一输入端与第二电压输入端连接，比较器的输出端与计时器连接，第一输入端和第二输入端中的一者为正输入端，另一者为负输入端；计时器用于在信号采集线将采集到的模拟电流信号输入至运算放大器的负输入端时开始计时，且当接收到比较器输出的信号发生变化时停止计时，计时器中的计时结果所对应的二进制数为模拟电流信号对应的数字信号的表征。本发明提供的模数转换电路可精准的将信号采集线采集到的模拟电流信号转化为数字信号。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的一种模数转换电路的电路示意图；
图2为本发明实施例二提供的一种模数转换方法的流程图；
图3为对信号采集线中的寄生参数进行检测时的电路示意图；
图4为本发明实施例四提供的一种寄生参数检测方法的流程图；
图5为对像素驱动电路中的发光器件的偏移量进行检测时的电路示意图；
图6为本发明实施例五提供的一种驱动电路中驱动电流的检测方法的流程图。
具体实施方式
为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明提供的一种模数转换电路、模数转换方法、像素驱动补偿电路、寄生参数检测方法和驱动电流的检测方法进行详细描述。
实施例一
图1为本发明实施例一提供的一种模数转换电路的电路示意图，如图1所示，该模数转换电路用于将信号采集线采集到的模拟电流信号转化为数字信号，该模数转换电路包括：积分电路1、比较器COMP和计时器2。
积分电路1包括：运算放大器OPAMP和积分电容C，运算放大器OPAMP的正输入端与第一电压输入端INPUT_1连接，运算放大器OPAMP的负输入端与信号采集线连接，运算放大器OPAMP的输出端与比较器COMP的第二输入端连接；积分电容C的一端与运算放大器OPAMP的负输入端连接，积分电容C的另一端与运算放大器OPAMP的输出端连接。其中，第一电压输入端INPUT_1提供第一电压Vref_1。
比较器COMP的第一输入端与第二电压输入端INPUT_2连接，比较器COMP的输出端与计时器2连接，第一输入端和第二输入端中的一者为正输入端，另一者为负输入端。其中，第二电压输入端INPUT_2提供第二电压Vref_2，第二电压Vref_2小于第一电压Vref_1。
计时器2用于在信号采集线将采集到的模拟电流信号输入至运算放大器OPAMP的负输入端时开始计时，且当接收到比较器COMP输出的信号发生变化时停止计时，计时器2中的计时结果所对应的二进制数为模拟电流信号对应的数字信号的表征。
下面将对本发明提供的模数转换电路的工作原理进行详细描述。
在信号采集线像素驱动电路中采集到的模拟电流信号后，该模拟电流信号会输入至运算放大器OPAMP的负输入端，此时积分电容C开始充电，计时器2开始计时。根据运算放大器OPAMP的工作特性，运算放大器OPAMP输出端电压逐渐拉低，且拉低速度由模拟电流信号和积分电容C所决定。对于确定的积分电容C，不同大小的模拟电流信号的引入会带来运算放大器OPAMP输出端电压的拉低速度的不同，且模拟电流信号对应的电流越大，运算放大器OPAMP输出端电压的拉低速度越快。
具体地，运算放大器OPAMP输出端电压由Vref_1开始降低，当运算放大器OPAMP输出端电压小于Vref_2时，比较器COMP的输出(输出“0”或“1”，“0”表示低电平，“1”表示高电平)发生翻转。以第一输入端为比较器COMP的正输入端，第二输入端为比较器COMP的负输入端为例，在初始阶段时运算放大器OPAMP输入至比较器COMP的正输入端的电压大于Vref_2，比较器COMP输出高电平，当运算放大器OPAMP输入至比较器COMP的正输入端的电压小于Vref_2时，比较器COMP的输出由高电平变为低电平。需要说明的是，当第一输入端为比较器COMP的负输入端，第二输入端为比较器COMP的正输入端时，比较器COMP的输出由低电平变为高电平。
在计时器2检测到比较器COMP的输出发生变化时，计时器2停止计时，计时器2中的计时结果所对应的二进制数为模拟电流信号对应的数字信号的表征，即完成将信号采集线所采集的模拟电流信号转化为数字信号。在完成转化过程后，计时器2进行重置，以供在下一模拟电流信号的转换过程中进行计时。
在本发明中，模拟电流信号对应的电流越大，运算放大器OPAMP输出端电压的拉低速度越快，比较器COMP的输出发生变化所需要的时间越短，计时器2中的计时结果越小。
在实际应用中发现，当信号采集线采集的模拟电流信号过小(趋近于0)时，运算放大器OPAMP输出端电压的拉低速度缓慢，比较器COMP的输出经过较长时间后仍不翻转，计时器2持续计时，从而会影响下一模拟电流信号的转换过程。为解决该技术问题，优选地，该模数转换电路还包括：计时控制单元，计时控制单元与计时器2连接，计时控制单元用于在计时器2开始计时且经过预设时长后仍未停止时，控制计时器2停止计时并进行重置。需要说明的是，该预设时长可根据实际需要进行相应调整。
优选地，该模数转换电路还包括：电平转换子电路3，电平转换子电路3设置于比较器COMP的输出端和计时器2之间，电平转换子电路3用于将比较器COMP的输出端所输出的信号的电压值调低。在本发明中，通过将比较器COMP输出的信号的电压值调低，可有效减小电路的整体功耗。
可选地，该模数转换电路还包括：寄存器4，寄存器4与计时器2连接，寄存器4用于存储计时器2中的计时结果，以供后序使用。
可选地，模数转换电路还包括：复位单元5，复位单元5与运算放大器OPAMP的负输入端和运算放大器OPAMP的输出端均连接，复位单元5用于对积分电路1进行复位。具体地，复位单元5包括：第一开关JP1和第二开关JP2，第一开关JP1的两端分别连接运算放大器OPAMP的负输入端和运算放大器OPAMP的输出端，第二开关JP2设置于信号采集线和运算放大器OPAMP的负输入端之间。
在该模数转换电路处于信号转换阶段时，第一开关JP1断开、第二开关JP2导通，模拟电流信号可输入至运算放大器OPAMP的负输入端；在该模数转换电路处于复位阶段时，第一开关JP1导通、第二开关JP2断开，运算放大器OPAMP工作于负反馈模式，运算放大器OPAMP输出端电压为Vref_1。
在本实施例中，可选地，第一开关JP1和第二开关JP2均为开关晶体管。优选地，第一开关JP1和第二开关JP2中的一个为N型晶体管，另一个为P型晶体管，N型晶体管的控制极和P型晶体管的控制极连接同一控制信号线，此时N型晶体管和P型晶体管可轮流导通，以满足转换阶段和复位阶段的交替进行。
此外，第一开关JP1和第二开关JP2也可以都是NP互补型开关，即每个开关都由一个N型晶体管和一个P型晶体管以及一个反相器组成，此时需要第一开关JP1和第二开关JP2的控制信号互反。具体控制过程此处不进行详细描述。
本发明实施例一提供了一种模数转换电路，用于将信号采集线采集到的模拟电流信号转化为数字信号，该模数转换电路的转换精度高，可为后序进行外部电学补偿提供精准的参考。
实施例二
图2为本发明实施例二提供的一种模数转换方法的流程图，如图2所示，该模数转换方法用于将信号采集线采集到的模拟电流信号转化为数字信号，该模数转换方法基于上述实施例一中的模数转换电路，具体电路结构可参见上述实施例一中的内容，此处不再赘述。该模式转换方法包括：
步骤S101、计时器在信号采集线将采集到的模拟电流信号输入至运算放大器的负输入端时开始计时。
在信号采集线像素驱动电路中采集到的模拟电流信号后，该模拟电流信号会输入至运算放大器的负输入端，此时积分电容开始充电，计时器开始计时。根据运算放大器的工作特性，运算放大器输出端电压由Vref_1开始逐渐拉低，当运算放大器输出端电压小于Vref_2时，比较器的输出发生翻转。
步骤S102、计时器接收到比较器输出的信号发生变化时停止计时，计时器中的计时结果所对应的二进制数为模拟电流信号对应的数字信号的表征。
在计时器检测到比较器的输出发生翻转时，计时器停止计时，计时器中的计时结果所对应的二进制数为模拟电流信号对应的数字信号的表征，即完成将信号采集线所采集的模拟电流信号转化为数字信号。
本发明提供的模数转换电路可精准的将像素驱动电路中采集到的模拟电流信号转化为数字信号。
可选地，在模数转换电路包括复位单元时，该模数转换方法还包括：
步骤S103、复位单元对积分电路进行复位。
具体地，复位单元控制信号采集线停止向运算放大器的负输入端输入信号，并将运算放大器的负输入端于输出端电连接，此处运算放大器处于负反馈模式并输出电压Vref_1，积分电容两端电压差为0，积分电路完成复位。
在本实施例中，步骤S103可位于步骤S102之后执行或位于步骤S101之前执行均可。
实施例三
本发明实施例三提供了一种像素驱动补偿电路，用于对像素驱动电路进行外部电学补偿，其中，该像素驱动补偿电路包括：模数转换电路，该模数转换电路采用上述实施例一中的模数转换电路，具体电路结构可参见上述实施例一中的内容，此处不再赘述。
需要说明的是，本发明提供的像素驱动补偿电路对与之相对应的待补偿的像素驱动电路的具体结构没有限制。
此外，本发明实施例三还提供了一种显示基板，包括：像素驱动电路和像素驱动补偿电路，该像素驱动补偿电路包括上述的实施例一中的模数转换电路和外部集成电路芯片。
实施例四
在进行外部电学补偿过程中，将驱动电路中的驱动电流准确采样是实现精准补偿的前提，而显示基板内部走线及工艺偏差使得各信号采集线上的寄生电容不完全相同，寄生电容的差异性会影响像素电流采样的准确性。
为实现上述目的，本发明实施例四提供了一种寄生参数检测方法，用于在进行外部电学补偿之前对信号采集线上的寄生参数进行检测，以便对后序的驱动电流的检测值进行校准。
图3为对信号采集线的寄生参数进行检测时的电路示意图，如图3所示，本实施例中以像素驱动电路为2T1C型电路(第一开关管T1、驱动晶体管DTFT、电容C1)为例，通过测试信号输入端INPUT向信号采集线加载具有预设电流值的测试电流信号，受到自身寄生电容的影响，信号采集线中实际产生第一模拟电流信号，通过检测该第一模拟电流信号对应的大小，并与测试电流信号的电流大小进行比较，即可确定出信号采集线对应的寄生参数。根据输入电流大小、实际检测电流大小以确定寄生参数的具体原理和过程此处不进行详细描述。
图4为本发明实施例四提供的一种寄生参数检测方法的流程图，如图4所示，该检测方法包括：
步骤S201、测试信号输入端向信号采集线加载测试电流信号。
测试信号输入端向信号采集线加载具有预设电流值的测试电流信号，信号采集线中实际产生第一模拟电流信号。
步骤S202、信号采集线将第一模拟电流信号发送至运算放大器的负输入端。
步骤S203、计时器在信号采集线将采集到的第一模拟电流信号输入至运算放大器的负输入端时开始计时。
步骤S204、计时器接收到比较器输出的信号发生变化时停止计时，计时器中的计时结果所对应的二进制数为第一模拟电流信号对应的数字信号的表征。
在步骤S204结束后，计时器可将计时结果存储于预先设置的寄存器中以供外部集成电路芯片进行读取或直接发送给外部集成电路芯片，外部集成电路芯片通过预先设置对应关系表(记载有不同二进制数及其对应的电流值)，即可查询出二进制数对应的电流值。
对于上述步骤S203和步骤S204的具体描述，可参见上述实施例二中步骤S101和步骤S102的内容。
步骤S205、根据第一模拟电流信号对应的数字信号和测试电流信号的大小确定信号采集线对应的电流校准参数。
通过确定信号采集线上的寄生参数，可供对后序的驱动电流的检测进行校准。
作为一种可选的校准方案，若测试电流信号的电流大小为I1，外部集成电路芯片确定出第一模拟电流信号对应的电流大小为I2，则可生成电流校准参数△I＝I1-I2，在后序的驱动电流的检测过程中，根据电流校准参数△I来对检测到的驱动电流进行校准。
在实际引用中，各列信号采集线对应的电流校准参数△I可写入至外部集成电路芯片中，以供对后序的驱动电流的检测值进行校准。
需要说明的是，上述电流校准参数等于基于测试电流信号与第一模拟电流信号的电流差的情况，其不会对本发明的技术方案产生限制。本发明中还可采用其他算法来确定电流校准参数。但凡是基于测试电流信号的电流大小、第一模拟电流信号对应的电流大小，来确定电流校准参数的技术手段，其均应属于本发明的保护范围。
实施例五
本发明实施例五提供了一种驱动电路中驱动电流的检测方法，可用于在进行外部电学补偿之前对像素驱动电路中的驱动电流输出的驱动电流进行检测。
图5为对像素驱动电路中的发光器件的偏移量进行检测时的电路示意图，如图5所示，本实施例中以像素驱动电路为2T1C型电路(第一开关管T1、驱动晶体管DTFT、电容C1)为例，通过数据线向驱动晶体管施加预设导通电压，以使驱动晶体管DTFT中产生驱动电流，通过信号采集线(信号采集线与像素驱动电路之间存在第二开关管T2)可采集该驱动电流，并经过外部集成电路芯片7对该电流进行分析，即可计算出驱动晶体管的(阈值电压、电子迁移率)偏移量。
本实施例提供的驱动电流的检测方法，基于上述实施例一中的模数转换电路6，可将驱动晶体管输出的模拟电流信号精准的转化为数字信号，并发送至外部集成电路芯片7，以供外部集成电路芯片7进行处理。
图6为本发明实施例五提供的一种驱动电路中驱动电流的检测方法的流程图，如图6所示，该检测方法基于上述实施例一中的模数转换电路，该检测方法包括：
步骤S301、数据线向驱动电路输入数据电压，驱动电路中产生驱动电流，并输出至信号采集线。
数据线向驱动晶体管施加预设导通电压，驱动晶体管导通并产生驱动电流，信号采集线采集到该第二模拟电流信号。
步骤S302、信号采集线中实际采集到第二模拟电流信号。
步骤S303、计时器在信号采集线将采集到的第二模拟电流信号输入至运算放大器的负输入端时开始计时。
步骤S304、计时器接收到比较器输出的信号发生变化时停止计时，计时器中的计时结果所对应的二进制数为第二模拟电流信号对应的数字信号的表征。
在步骤S304结束后，计时器可将计时结果存储于预先设置的寄存器中以供外部集成电路芯片进行读取，或直接发送给外部集成电路芯片，以供外部集成电路芯片确定第二模拟电流信号的电流大小。
对于上述步骤S303和步骤S304的具体描述，可参见上述实施例二中步骤S101和步骤S102的内容。
可选地，在外部集成电路芯片通过预先设置对应关系表查询出第二模拟电流信号对应的数字信号的二进制数对应的电流值I3后，根据上述实施例四中确定的电流校准参数△I来对第二模拟电流信号对应的电流值I3进行校准，以得到驱动晶体管实际输出的驱动电流I4的大小。可选地，I4＝I3+△I。
通过上述步骤即可准确的检测到驱动晶体管实际输出的驱动电流的大小。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (13)

1.一种模数转换电路，其特征在于，用于将信号采集线采集到的模拟电流信号转化为数字信号，该模数转换电路包括：积分电路、比较器和计时器；
所述积分电路包括：运算放大器和积分电容；
所述运算放大器的正输入端与第一电压输入端连接，所述运算放大器的负输入端与信号采集线连接，运算放大器的输出端与所述比较器的第二输入端连接；
所述积分电容的一端与所述运算放大器的负输入端连接，积分电容的另一端与所述运算放大器的输出端连接；
所述比较器的第一输入端与第二电压输入端连接，所述比较器的输出端与所述计时器连接，所述第一输入端和所述第二输入端中的一者为正输入端，另一者为负输入端；
所述计时器用于在所述信号采集线将采集到的所述模拟电流信号输入至所述运算放大器的负输入端时开始计时，且当接收到比较器输出的信号发生变化时停止计时，所述计时器中的计时结果所对应的二进制数为所述模拟电流信号对应的数字信号的表征。
2.根据权利要求1所述的模数转换电路，其特征在于，所述第一电压输入端用于输入第一电压，所述第二电压输入端用于输入第二电压，所述第二电压小于所述第一电压。
3.根据权利要求1所述的模数转换电路，其特征在于，还包括：复位单元，所述复位单元与所述运算放大器的负输入端和所述运算放大器的输出端均连接；
所述复位单元用于对所述积分电路进行复位。
4.根据权利要求3所述的模数转换电路，其特征在于，所述复位单元包括：第一开关和第二开关；
所述第一开关的两端分别连接所述运算放大器的负输入端和所述运算放大器的输出端；
所述第二开关设置于所述信号采集线和所述运算放大器的负输入端之间。
5.根据权利要求4所述的模数转换电路，其特征在于，所述第一开关和所述第二开关均为开关晶体管。
6.根据权利要求1所述的模数转换电路，其特征在于，还包括：电平转换子电路，所述电平转换子电路设置于所述比较器的输出端和所述计时器之间；
所述电平转换子电路用于将所述比较器的输出端所输出的信号的电压值调低。
7.根据权利要求1所述的模数转换电路，其特征在于，还包括：计时控制单元，所述计时控制单元与计时器连接；
所述计时控制单元用于在计时器开始计时且经过预设时长后仍未停止时，控制所述计时器停止计时并进行重置。
8.根据权利要求1所述的模数转换电路，其特征在于，还包括：寄存器，所述寄存器与计时器连接；
所述寄存器用于存储所述计时器中的计时结果。
9.一种模数转换方法，其特征在于，所述模数转换方法基于上述权利要求1-8中任一所述的模数转换电路，所述模数转换方法包括：
所述计时器在所述信号采集线将采集到的所述模拟电流信号输入至所述运算放大器的负输入端时开始计时；
所述计时器接收到比较器输出的信号发生变化时停止计时，所述计时器中的计时结果所对应的二进制数为所述模拟电流信号对应的数字信号的表征。
10.根据权利要求9所述的模数转换方法，其特征在于，当所述模数转换电路采用权利要求2所述的模数转换电路时，所述模数转换方法还包括：
复位单元对所述积分电路进行复位。
11.一种像素驱动补偿电路，其特征在于，包括：如上述权利要求1-8中任一所述的模数转换电路。
12.一种寄生参数检测方法，其特征在于，所述寄生参数检测方法基于上述权利要求1-8中任一所述的模数转换电路，用于在进行外部电学补偿之前对信号采集线上的寄生参数进行检测，所述寄生参数检测方法包括：
测试信号输入端向所述信号采集线加载测试电流信号；
所述信号采集线中实际生成第一模拟电流信号，并将所述第一模拟电流信号发送至所述运算放大器的负输入端；
所述计时器在所述信号采集线将采集到的所述第一模拟电流信号输入至所述运算放大器的负输入端时开始计时；
所述计时器接收到比较器输出的信号发生变化时停止计时，所述计时器中的计时结果所对应的二进制数为所述第一模拟电流信号对应的数字信号的表征；
根据所述第一模拟电流信号对应的数字信号和所述测试电流信号的大小确定所述信号采集线所对应的电流校准参数。
13.一种驱动电路中驱动电流的检测方法，其特征在于，所述寄生参数检测方法基于上述权利要求1-8中任一所述的模数转换电路，所述驱动电路中驱动电流的检测方法包括：
数据线向驱动电路输入数据电压，所述驱动电路中产生驱动电流，并输出至所述信号采集线；
所述信号采集线中实际采集到第二模拟电流信号；
所述计时器在所述信号采集线将采集到的所述第二模拟电流信号输入至所述运算放大器的负输入端时开始计时；
所述计时器接收到比较器输出的信号发生变化时停止计时，所述计时器中的计时结果所对应的二进制数为所述第二模拟电流信号对应的数字信号的表征。
CN201710316964.0A 2017-05-08 2017-05-08 模数转换电路、模数转换方法和像素驱动补偿电路 Active CN108880542B (zh)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710316964.0A CN108880542B (zh) 2017-05-08 2017-05-08 模数转换电路、模数转换方法和像素驱动补偿电路
PCT/CN2017/102421 WO2018205479A1 (en) 2017-05-08 2017-09-20 An analog-to-digital conversion circuit, a pixel compensation circuit for display panel, and methods thereof
EP17868510.3A EP3622626A4 (en) 2017-05-08 2017-09-20 ANALOG TO DIGITAL CONVERSION CIRCUIT, PIXEL COMPENSATION CIRCUIT FOR A DISPLAY PANEL, AND RELATED PROCESSES
US15/766,085 US10439630B2 (en) 2017-05-08 2017-09-20 Analog-to-digital conversion circuit, a pixel compensation circuit for display panel, and methods thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201710316964.0A CN108880542B (zh) 2017-05-08 2017-05-08 模数转换电路、模数转换方法和像素驱动补偿电路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108880542A true CN108880542A (zh) 2018-11-23
CN108880542B CN108880542B (zh) 2021-01-08

Family

ID=64104692

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710316964.0A Active CN108880542B (zh) 2017-05-08 2017-05-08 模数转换电路、模数转换方法和像素驱动补偿电路

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10439630B2 (zh)
EP (1) EP3622626A4 (zh)
CN (1) CN108880542B (zh)
WO (1) WO2018205479A1 (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110164374A (zh) * 2019-06-14 2019-08-23 京东方科技集团股份有限公司 一种像素补偿电路、显示装置以及像素补偿电路的驱动方法
CN113053274A (zh) * 2021-03-08 2021-06-29 京东方科技集团股份有限公司 像素电路及其驱动电路的检测方法、显示面板、显示装置

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102471752B1 (ko) * 2017-09-21 2022-11-29 삼성전자주식회사 연산 증폭 회로, 그것을 포함하는 데이터 구동 회로, 및 그것들의 동작 방법
CN109951267A (zh) * 2019-01-28 2019-06-28 宿州学院 一种0.2阶t型分数阶积分电路模块
CN114220372B (zh) * 2021-12-15 2024-01-19 惠州视维新技术有限公司 电平转换电路、电源集成电路、显示装置和电平转换方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003143011A (ja) * 2001-11-05 2003-05-16 Fuji Electric Co Ltd アナログ−ディジタル変換回路
CN1822506A (zh) * 2006-02-10 2006-08-23 中控科技集团有限公司 一种积分式a/d转换方法及其模数转换装置
JP2012124590A (ja) * 2010-12-06 2012-06-28 Panasonic Corp Ａ／ｄ変換器
CN103134996A (zh) * 2013-01-31 2013-06-05 珠海中慧微电子有限公司 采用电荷补偿的互电容感测电路及方法
CN105959012A (zh) * 2016-04-21 2016-09-21 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司 电压型模数转换电路及应用其的光电传感器

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3606893A1 (de) * 1986-03-03 1987-09-10 Zdzislaw Gulczynski Analog-digital-wandler
JP3146502B2 (ja) 1990-08-30 2001-03-19 富士電機株式会社 フォトセンサ回路
US6781627B1 (en) * 1999-06-24 2004-08-24 Olympus Optical Co., Ltd. Solid state imaging device and electric charge detecting apparatus used for the same
FR2911737B1 (fr) * 2007-01-23 2009-03-27 Ulis Soc Par Actions Simplifie Procede pour numeriser une grandeur analogique, dispositif de numerisation mettant en oeuvre ce procede et detecteur de rayonnements electromagnetiques integrant un tel dispositif
JP4816508B2 (ja) * 2007-03-02 2011-11-16 ヤマハ株式会社 Δς型ａｄ変換器およびｄ級アンプ並びにｄｃ−ｄｃ変換器
US8542046B2 (en) * 2011-05-04 2013-09-24 Intel Corporation Apparatus, system, and method for voltage swing and duty cycle adjustment
CN104838645A (zh) * 2012-12-20 2015-08-12 索尼公司 成像元件、成像装置、电子设备、阈值计算装置和成像方法
GB201408082D0 (en) 2014-05-07 2014-06-18 St Microelectronics Res & Dev Photosensor arrangements
US10098595B2 (en) 2015-08-06 2018-10-16 Texas Instruments Incorporated Low power photon counting system

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003143011A (ja) * 2001-11-05 2003-05-16 Fuji Electric Co Ltd アナログ−ディジタル変換回路
CN1822506A (zh) * 2006-02-10 2006-08-23 中控科技集团有限公司 一种积分式a/d转换方法及其模数转换装置
JP2012124590A (ja) * 2010-12-06 2012-06-28 Panasonic Corp Ａ／ｄ変換器
CN103134996A (zh) * 2013-01-31 2013-06-05 珠海中慧微电子有限公司 采用电荷补偿的互电容感测电路及方法
CN105959012A (zh) * 2016-04-21 2016-09-21 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司 电压型模数转换电路及应用其的光电传感器

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110164374A (zh) * 2019-06-14 2019-08-23 京东方科技集团股份有限公司 一种像素补偿电路、显示装置以及像素补偿电路的驱动方法
WO2020248813A1 (zh) * 2019-06-14 2020-12-17 京东方科技集团股份有限公司 一种像素补偿电路、显示装置以及像素补偿电路的驱动方法
US11289025B2 (en) 2019-06-14 2022-03-29 Boe Technology Group Co., Ltd. Pixel compensation circuit, display apparatus, and pixel compensation circuit driving method
CN110164374B (zh) * 2019-06-14 2024-04-12 京东方科技集团股份有限公司 一种像素补偿电路、显示装置以及像素补偿电路的驱动方法
CN113053274A (zh) * 2021-03-08 2021-06-29 京东方科技集团股份有限公司 像素电路及其驱动电路的检测方法、显示面板、显示装置
CN113053274B (zh) * 2021-03-08 2023-04-11 京东方科技集团股份有限公司 像素电路及其驱动电路的检测方法、显示面板、显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN108880542B (zh) 2021-01-08
EP3622626A4 (en) 2021-04-28
EP3622626A1 (en) 2020-03-18
US10439630B2 (en) 2019-10-08
US20190123761A1 (en) 2019-04-25
WO2018205479A1 (en) 2018-11-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN108880542A (zh) 模数转换电路、模数转换方法和像素驱动补偿电路
EP3343549B1 (en) Active-matrix organic light emitting diode display device and luminance compensation method thereof
US10565909B2 (en) Test method for display panel, and test device
CN104700761B (zh) 一种检测电路及其检测方法和驱动系统
CN107924660B (zh) 基于经改进参考值进行像素校准的系统和方法
US7102378B2 (en) Testing apparatus and method for thin film transistor display array
TWI556213B (zh) 畫素補償裝置、具有電流補償功能的顯示器
CN108597449A (zh) 像素电路的检测方法、显示面板的驱动方法和显示面板
US11257406B2 (en) Aging detection circuit, aging compensation circuit, display panel and aging compensation method
US20200193918A1 (en) Light-emitting display and method of driving the same
WO2005024766A1 (ja) 表示パネルの変換データ決定方法および測定装置
CN108962146B (zh) 外部补偿电路及补偿方法、显示装置
CN105046247A (zh) 表面结构识别单元、电路及识别方法和电子设备
CN110491339B (zh) 显示面板的驱动电路、显示面板及显示面板的驱动方法
CN103235250A (zh) 一种光伏阵列i-v特性测试装置及其测试方法
CN110322850B (zh) 显示装置
CN109616050B (zh) 一种oled显示面板驱动电路及驱动方法
CN114446207B (zh) 像素电路检测方法、显示面板及其驱动方法、显示装置
CN207123500U (zh) 探测像素电路、探测面板和光电检测装置
US10360870B2 (en) Display driver, electro-optical device, and electronic apparatus
CN106093529B (zh) 电流测量校准方法、电流测量方法及装置、显示装置
WO2022267055A1 (zh) 一种电流检测装置
CN206725126U (zh) 具有自检功能的电参数测量装置
EP4181112A1 (en) Display apparatus, display panel and driving method therefor, and detection method for pixel circuit
US9524692B2 (en) Signal correcting method and signal correcting device

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant