CN108761236A - Rfid标签在高低温条件下的性能测试系统和测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种RFID标签在高低温条件下的性能测试系统和测试方法。所述性能测试系统包括：热流罩高低温装置，用于对空气进行加热或制冷；热传导装置，通过第一导管与所述热流罩高低温系统相连接，将所述热流罩高低温系统产生的冷热空气进行传输；以及隔热装置，通过第二导管与所述热传导装置相连接，该隔热装置用于容纳所述RFID标签以对其进行高温或低温性能测试。根据本发明的实施方式的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，可以有效评测高低温环境对RFID标签性能的影响，对生产实践有重要的指导意义。

Description

RFID标签在高低温条件下的性能测试系统和测试方法
技术领域
本发明关于一种射频识别芯片领域，特别关于一种RFID标签在高低温条件下的性能测试系统和测试方法。
背景技术
射频识别技术(Radio Frequency Identification RFID)，是20世纪80年代发展起来的一种新兴自动识别技术，射频识别技术是一项利用射频信号通过空间耦合(交变磁场或电磁场)实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的的技术。在过去的几年中，RFID技术一直在不断地发展。RFID已由过去的某个特定应用，衍变为一项为物流公司所普遍采用的技术，例如，用于包裹标签或机场行李标签中加密信息的读取。
RFID标签性能测试至少应包括灵敏度(或读距离)测试。通常灵敏度(或读距离)测试需要在微波暗室内进行。
现有RFID标签性能测试中没有考虑到标签在不同的应用环境下温度对标签性能的影响，没有引入温度因子，因此对于RFID各项指标性能在不同温度下的结果并不知晓，使得RFID标签在实际应用时带来很多问题。
公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本发明的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。
发明内容
本发明的目的在于提供一种RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，其能够对RFID标签在高温或低温条件下的性能进行测试，从而克服现有技术的缺点。
为实现上述目的，本发明提供了一种RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，其包括：热流罩高低温装置，用于对空气进行加热或制冷；热传导装置，通过第一导管与所述热流罩高低温系统相连接，将所述热流罩高低温系统产生的冷热空气进行传输；以及隔热装置，通过第二导管与所述热传导装置相连接，该隔热装置用于容纳所述RFID标签以对其进行高温或低温性能测试。
在一优选的实施方式中，所述热流罩高低温装置包括：压缩空气源，用于提供常温的压缩空气；干燥过滤装置，与所述压缩空气源相连接，对所述压缩空气进行干燥过滤；压缩机，与所述干燥过滤装置相连接，用于对经过干燥过滤的压缩空气进行制冷；以及加热装置，用于对经过干燥过滤的压缩空气进行加热。
在一优选的实施方式中，所述热流罩高低温装置还包括控制单元，用于对常温的压缩空气所需要加热或制冷的温度值进行控制。优选地，所述控制单元还控制所述压缩机和加热装置，使该压缩机和加热装置在同一时间下只能其中之一进行工作。
在一优选的实施方式中，所述热传导装置包括导热管、气体流量调节阀和泄压管。
在一优选的实施方式中，所述导热管包括所述第二导管。
在一优选的实施方式中，所述隔热装置包括：微波暗室、和设置在该微波暗室内的隔热罩。所述隔热罩设有气体入口、气体出口和隔热垫，该隔热罩内设置有标签夹具用于放置RFID标签。
在一优选的实施方式中，所述隔热装置还包括：设置在气体入口处和气体出口处的缓冲板。优选地，所述隔热装置还包括设置在所述隔热罩下方的吸波材料。
本发明的另一方面提供了一种RFID标签在高低温条件下的性能测试方法，其采用了如上所述的性能测试系统。所述测试方法包括如下步骤：在不设有上述的性能测试系统的情况下，在常温下测试所述RFID标签的性能，获取测试结果R1；在设有所述性能测试系统的情况下，在常温下测试所述RFID标签的性能，获取测试结果R2；计算补偿结果R1-R2；在利用上述的性能测试系统下获得的高温或低温条件下测试RFID标签的性能，获取结果R；计算最终RFID标签的在高温或低温的性能：R+R1-R2。
与现有技术相比，根据本发明的实施方式的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，可以有效评测高低温环境对RFID标签性能的影响，对生产实践有重要的指导意义。
附图说明
图1是根据本发明一实施方式的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统的示意图。
图2是根据本发明一实施方式的隔热装置的平面示意图。
图3是根据本发明一实施方式的隔热装置的立体示意图。
图4是根据本发明一实施方式的RFID标签在高低温条件下的性能测试方法的流程图。
主要附图标记说明：
11-压缩空气源，12-干燥过滤装置，21-气体流量调节阀，22-导热管，31-微波暗室，32-隔热罩。
具体实施方式
下面结合附图，对本发明的具体实施方式进行详细描述，但应当理解本发明的保护范围并不受具体实施方式的限制。
除非另有其它明确表示，否则在整个说明书和权利要求书中，术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分，而并未排除其它元件或其它组成部分。
根据本发明优选实施方式的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，包括：热流罩高低温装置、热传导装置和隔热装置。所述热流罩高低温装置用于对空气进行加热或制冷；所述热传导装置通过第一导管与所述热流罩高低温系统相连接，将所述热流罩高低温系统产生的冷空气或热空气进行传输；所述隔热装置通过第二导管与所述热传导装置相连接，该隔热装置用于容纳所述RFID标签以对其进行高温或低温性能测试。
具体而言，如图1所示，所述热流罩高低温装置包括：压缩空气源11，用于提供常温的压缩空气；干燥过滤装置12，与所述压缩空气源11相连接，对所述压缩空气进行干燥过滤；压缩机13，与所述干燥过滤装置12相连接，用于对经过干燥过滤的压缩空气进行制冷；以及加热装置14，用于对经过干燥过滤的压缩空气进行加热。
优选地，所述热流罩高低温装置还包括控制单元，用于对常温的压缩空气所需要加热或制冷的温度值进行控制，以及对压缩空气的供给速度进行控制。优选地，所述控制单元还控制所述压缩机13和加热装置14，使该压缩机13和加热装置14在同一时间下只能其中之一进行工作。亦即，需要对压缩空气加热时，压缩机关闭，热流罩顶端的加热装置14开启，常温空气通过后通过热交换变为热空气，反之亦然。在在优选的实施方式中，气体加热或制冷的温度范围可以介于零下75℃至225℃之间，且气体输出流量介于1.9～8.5升/秒。
继续参考图1，优选地，所述热传导装置包括气体流量调节阀21、导热管22和泄压管23。导热管22将热流罩高低温装置产生的冷热空气通入微波暗室31内，对标签实现加热或制冷。由于微波暗室31内空间密闭且较小，冷热空气进入该微波暗室内会造成按室内气压骤变，因此安装流量调节阀21和泄压管23，保证微波暗室31内的气压不会发生骤变。
图2是根据本发明一实施方式的隔热装置的平面示意图。图3是根据本发明一实施方式的隔热装置的立体示意图。参考图2和图3，所述隔热装置包括：微波暗室31和设置在该微波暗室内的隔热罩32。所述隔热罩32设有气体入口31a、气体出口31b和隔热垫34。该隔热罩内设置有标签夹具33用于放置RFID标签。在一优选的实施方式中，所述隔热装置还包括：设置在气体入口31a处和气体出口31b处的缓冲板35。优选地，所述隔热装置还包括设置在所述隔热罩下方的吸波材料36。在进行试验时，经过加热或制冷的压缩空气通过导热管22从气体出口31a进入到微波暗室31内，并进入到隔热罩32内，并从气体出口31b中流出。设置在标签夹具33上的RFID标签因此被加热或制冷，从而进行各种性能测试。
上述实施方式中，缓冲板35用于减小压缩气体对RFID标签的冲击，同时确保隔热罩内温度均匀。同时，隔热罩32设有隔热垫34，从而减小热量在RFID标签外进行扩散。优选地，隔热罩的材质为玻璃和聚四氟乙烯的合成物。
图4是根据本发明一实施方式的RFID标签在高低温条件下的性能测试方法的流程图。在优选的实施方式中，一种RFID标签在高低温条件下的性能测试方法，其采用了如上所述的性能测试系统。所述测试方法包括如下步骤：在不设有上述的性能测试系统的情况下，在常温下测试所述RFID标签的性能，获取测试结果R1；在设有所述性能测试系统的情况下，在常温下测试所述RFID标签的性能，获取测试结果R2；计算补偿结果R1-R2。由于设置了性能测试系统，尤其是在将RFID标签设置在密封的隔热罩内，其灵敏度(读距离)会收到一些影响，因此该补偿结果即为计算出该隔热罩带来的影响。
接下来，在利用上述的性能测试系统下获得的高温或低温条件下测试RFID标签的性能，获取结果R；计算最终RFID标签的在高温或低温的性能：R+R1-R2。
综上所述，根据本发明的实施方式的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，可以有效评测高低温环境对RFID标签性能的影响，对生产实践有重要的指导意义。
前述对本发明的具体示例性实施方案的描述是为了说明和例证的目的。这些描述并非想将本发明限定为所公开的精确形式，并且很显然，根据上述教导，可以进行很多改变和变化。对示例性实施例进行选择和描述的目的在于解释本发明的特定原理及其实际应用，从而使得本领域的技术人员能够实现并利用本发明的各种不同的示例性实施方案以及各种不同的选择和改变。本发明的范围意在由权利要求书及其等同形式所限定。

Claims (10)

1.一种RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，其特征在于，包括：
热流罩高低温装置，用于对空气进行加热或制冷；
热传导装置，通过第一导管与所述热流罩高低温系统相连接，将所述热流罩高低温系统产生的冷热空气进行传输；以及
隔热装置，通过第二导管与所述热传导装置相连接，该隔热装置用于容纳所述RFID标签以对其进行高温或低温性能测试。
2.如权利要求1所述的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，其特征在于，所述热流罩高低温装置包括：
压缩空气源，用于提供常温的压缩空气；
干燥过滤装置，与所述压缩空气源相连接，对所述压缩空气进行干燥过滤；
压缩机，与所述干燥过滤装置相连接，用于对经过干燥过滤的压缩空气进行制冷；以及
加热装置，用于对经过干燥过滤的压缩空气进行加热。
3.如权利要求2所述的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，其特征在于，所述热流罩高低温装置还包括控制单元，用于对常温的压缩空气所需要加热或制冷的温度值进行控制。
4.如权利要求3所述的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，其特征在于，所述控制单元还控制所述压缩机和加热装置，使该压缩机和加热装置在同一时间下只能其中之一进行工作。
5.如权利要求1所述的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，其特征在于，所述热传导装置包括导热管、气体流量调节阀和泄压管。
6.如权利要求5所述的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，其特征在于，所述导热管包括所述第二导管。
7.如权利要求1所述的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，其特征在于，所述隔热装置包括：
微波暗室；和
设置在该微波暗室内的隔热罩，所述隔热罩设有气体入口、气体出口和隔热垫，该隔热罩内设置有标签夹具用于放置RFID标签。
8.如权利要求7所述的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，其特征在于，所述隔热装置还包括：设置在气体入口处和气体出口处的缓冲板。
9.如权利要求7所述的RFID标签在高低温条件下的性能测试系统，其特征在于，所述隔热装置还包括设置在所述隔热罩下方的吸波材料。
10.一种RFID标签在高低温条件下的性能测试方法，其采用了如权利要求1所述的性能测试系统，其特征在于，所述测试方法包括如下步骤：
在不设有如权利要求1所述的性能测试系统的情况下，在常温下测试所述RFID标签的性能，获取测试结果R1；
在设有所述性能测试系统的情况下，在常温下测试所述RFID标签的性能，获取测试结果R2；
计算补偿结果R1-R2；
在利用如权利要求所述的性能测试系统下获得的高温或低温条件下测试RFID标签的性能，获取结果R；
计算最终RFID标签的在高温或低温的性能：R+R1-R2。
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