CN203433522U - 一种测试rfid标签灵敏度的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种测试RFID标签灵敏度的装置，包括灵敏度测试主箱和灵敏度测试子箱；灵敏度测试主箱包括封闭的主瓦楞纸箱，主瓦楞纸箱的顶面外壁中部为产品放置区，主瓦楞纸箱的外壁除产品放置区外均包覆有主箱铝箔，主瓦楞纸箱的底面内壁中部为天线放置区，天线放置区与产品放置区正对，主瓦楞纸箱内壁除天线放置区和与天线放置区正对的区域外均贴有主箱吸波棉；灵敏度测试子箱包括下端开口的子瓦楞纸箱且开口端向下将灵敏度测试主箱的产品放置区完全罩住，子瓦楞纸箱的外壁均包覆有子箱铝箔，子瓦楞纸箱的内壁均贴有子箱吸波棉；测试天线放置在天线放置区，RFID产品放置在产品放置区。该灵敏度的装置投资省、操作方便，抗干扰性好。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测试RFID标签灵敏度的装置，属于非接触式的自动识别标签技术领域。
背景技术
无线射频识别标签(RFID)技术已广泛用于高铁、地铁的车票制造。无线射频识别标签包括芯片和铝箔天线，芯片的引脚与铝箔天线的引脚电连接。
无线射频识别标签(RFID)的性能一般由其灵敏度来体现，在无线电行业里，测试灵敏度一般采用标准的3米、5米或7米的微波暗室进行，微波暗室的墙壁上贴满吸波棉，测试天线防在暗室中，由于暗室为3米或以上见方的空间构成，且测试时不允许有人在暗室中，故每测试一次产品，都需要有人打开暗室的门，将需要测试的产品放到产品支架上，然后出暗室并将门关上后进行测试。此种测试方式操作极其不便，一般用于实验室，而无法用于量产中的灵敏度测试。
还有另外一种采用半米法或1米法来进行测试，即在自由空间中将产品距离测试天线半米或1米的距离进行测试。测试非常方便，但由于在自由空间，尤其是在有生产RFID标签的车间，其测试极易受到其它产品的影响，另外由于目前手机使用频率段也会落在RFID的工作频率段内，故此电磁波也会对测试造成影响。
实用新型内容
本实用新型的目的在于，克服现有技术中存在的问题，提供一种测试RFID标签灵敏度的装置，投资省、操作方便，且抗干扰性好。
为解决以上技术问题，本实用新型的一种测试RFID标签灵敏度的装置，包括灵敏度测试主箱和灵敏度测试子箱；所述灵敏度测试主箱包括封闭的主瓦楞纸箱，所述主瓦楞纸箱的顶面外壁中部为产品放置区，所述主瓦楞纸箱的外壁除产品放置区外均包覆有主箱铝箔，所述主瓦楞纸箱的底面内壁中部为天线放置区，所述天线放置区与所述产品放置区正对，所述主瓦楞纸箱的内壁除天线放置区和与天线放置区正对的区域外均贴有主箱吸波棉；所述灵敏度测试子箱包括下端开口的子瓦楞纸箱且开口端向下将灵敏度测试主箱的产品放置区完全罩住，所述子瓦楞纸箱的外壁均包覆有子箱铝箔，所述子瓦楞纸箱的内壁均贴有子箱吸波棉；测试天线放置在灵敏度测试主箱的天线放置区，待测试的RFID产品放置在灵敏度测试主箱的产品放置区。
相对于现有技术，本实用新型取得了以下有益效果：灵敏度测试主箱的内壁安装有吸波棉，外壁裹覆有铝箔，测试主箱的底部安装有测试天线，以模拟无电磁干扰的空间，在测试主箱的顶部留一小块区域不装吸波棉且不覆铝箔作为产品放置区，其上放置RFID产品，然后再将灵敏度测试子箱罩在产品上进行测试，灵敏度测试子箱同样内装吸波棉，外裹铝箔，且其大小完全覆盖住测试主箱的产品放置区；测试主箱和子箱外壁均采用铝箔覆盖，可以反射外界的电磁波，避免外界环境的干扰，测试箱内除产品放置区外全部由吸波棉覆盖，将测试天线辐射至其它方向的电磁波吸收掉，未吸收的部分经过箱外的铝箔再次反射并进一步被吸波棉吸收，达到辐射至产品的电磁波没有干扰，如此即可形成类似暗室的效果。该装置采用简单的材料构造一个无干扰且操作方便的RFID灵敏度测试环境，可保证批量生产中的灵敏度测试的准确性和方便性。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明，附图仅提供参考与说明用，非用以限制本实用新型。
图1为本实用新型测试RFID标签灵敏度的装置的立体图。
图2为图1的立体分解图。
图3为图1的剖视图。
图中：1.灵敏度测试主箱；1a.主瓦楞纸箱；1b.主箱铝箔； 1c.主箱吸波棉； 1d.产品放置区； 1e.天线放置区；2.灵敏度测试子箱；2a.子瓦楞纸箱；2b.子箱铝箔；2c.子箱吸波棉；3.测试天线；4.RFID产品。
具体实施方式
如图1至图3所示，本实用新型的测试RFID标签灵敏度的装置，包括灵敏度测试主箱1和灵敏度测试子箱2；灵敏度测试主箱1包括封闭的主瓦楞纸箱1a，主瓦楞纸箱1a的顶面外壁中部为产品放置区1d，主瓦楞纸箱1a的外壁除产品放置区1d外均包覆有主箱铝箔1b，主瓦楞纸箱1a的底面内壁中部为天线放置区1e，天线放置区1e与产品放置区1d正对，主瓦楞纸箱1a的内壁除天线放置区1e和与天线放置区正对的区域外均贴有主箱吸波棉1c；灵敏度测试子箱2包括下端开口的子瓦楞纸箱2a且开口端向下将灵敏度测试主箱1的产品放置区1d完全罩住，子瓦楞纸箱2a的外壁均包覆有子箱铝箔2b，子瓦楞纸箱2a的内壁均贴有子箱吸波棉2c；测试天线3放置在灵敏度测试主箱1的天线放置区1e，待测试的RFID产品4放置在灵敏度测试主箱1的产品放置区1d。
测试主箱的底部装有测试天线3，在测试主箱的顶部留一小块区域不装吸波棉且不覆铝箔作为产品放置区1d，其产品放置区1d放置RFID产品4，然后再将灵敏度测试子箱2罩在产品上进行测试；测试主箱和子箱外壁均采用铝箔覆盖，可以反射外界的电磁波，避免外界环境的干扰，测试箱内除产品放置区1d外全部由吸波棉覆盖，将测试天线3辐射至其它方向的电磁波吸收掉，未吸收的部分经过箱外的铝箔再次反射并进一步被吸波棉吸收，达到辐射至产品的电磁波没有干扰，如此即可形成类似暗室的效果，可保证批量生产中的灵敏度测试的准确性和方便性。
以上所述仅为本实用新型之较佳可行实施例而已，非因此局限本实用新型的专利保护范围。除上述实施例外，本实用新型还可以有其他实施方式。凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案，均落在本实用新型要求的保护范围内。本实用新型未经描述的技术特征可以通过或采用现有技术实现，在此不再赘述。
Claims (1)
1.一种测试RFID标签灵敏度的装置，其特征在于：包括灵敏度测试主箱和灵敏度测试子箱；所述灵敏度测试主箱包括封闭的主瓦楞纸箱，所述主瓦楞纸箱的顶面外壁中部为产品放置区，所述主瓦楞纸箱的外壁除产品放置区外均包覆有主箱铝箔，所述主瓦楞纸箱的底面内壁中部为天线放置区，所述天线放置区与所述产品放置区正对，所述主瓦楞纸箱的内壁除天线放置区和与天线放置区正对的区域外均贴有主箱吸波棉；所述灵敏度测试子箱包括下端开口的子瓦楞纸箱且开口端向下将灵敏度测试主箱的产品放置区完全罩住，所述子瓦楞纸箱的外壁均包覆有子箱铝箔，所述子瓦楞纸箱的内壁均贴有子箱吸波棉；测试天线放置在灵敏度测试主箱的天线放置区，待测试的RFID产品放置在灵敏度测试主箱的产品放置区。
Priority Applications (1)
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| CN201320502200.8U CN203433522U (zh) | 2013-08-15 | 2013-08-15 | 一种测试rfid标签灵敏度的装置 |
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| CN201320502200.8U CN203433522U (zh) | 2013-08-15 | 2013-08-15 | 一种测试rfid标签灵敏度的装置 |
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| CN203433522U true CN203433522U (zh) | 2014-02-12 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108761236A (zh) * | 2018-05-28 | 2018-11-06 | 北京智芯微电子科技有限公司 | Rfid标签在高低温条件下的性能测试系统和测试方法 |
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2013
- 2013-08-15 CN CN201320502200.8U patent/CN203433522U/zh not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN108761236A (zh) * | 2018-05-28 | 2018-11-06 | 北京智芯微电子科技有限公司 | Rfid标签在高低温条件下的性能测试系统和测试方法 |
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