CN205942759U - 一种测试rfid读写器性能参数的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种测试RFID读写器性能参数的装置，主要由测试暗箱、标签模拟器、控制模块、人机接口组成。测试暗箱内壁上覆有吸波材料，箱体两侧分别设有固定支架。测试时，将被测读写器和标签模拟器分别固定在两侧的固定支架上。控制模块根据用户输入的命令，调整被测读写器和标签模拟器的发射参数和接收参数，并通过人机接口将测试结果显示出来。该装置通过用户输入命令来完成RFID读写器的性能参数的测试，结构简单，便于操作。
Description
技术领域
本实用新型涉及RFID领域，具体涉及一种测试RFID读写器性能参数的装置，结构简单，便于测试RFID读写器的性能参数。
背景技术
RFID读写器通过天线与RFID电子标签进行无线通信，可以实现对标签识别码和内存数据的读出或写入操作。RFID读写器参数的测试对RFID读写器产品的质量监控具有重大的意义。
传统测试RFID读写器参数的装置系统结构较为复杂，成本较高，操作不便，严重影响了批量生产的RFID读写器质量检验的效率。
实用新型内容
本实用新型提供了一种测试RFID读写器性能参数的装置，目的在于提高RFID读写器产品质量检测的效率。
本实用新型提供的一种测试RFID读写器性能参数的装置，主要包括：测试暗箱、标签模拟器、控制模块、人机接口；
所述标签模拟器，接收到被测读写器发送的射频信号后，改变其相关参数，并回复给被测读写器；
所述控制模块，与被测读写器和标签模拟器连接，调整被测读写器和标签模拟器的发射参数和接收参数；
优选的，所述测试暗箱，其内壁上覆有吸波材料，箱体两侧分别设有固定支架，一侧用于固定被测读写器，另一侧用于固定标签模拟器；
优选的，所述人机接口，包括输入模块、显示模块，连接于控制模块，用于输入命令，显示测试结果；
优选的，所述发射参数包括发射功率、数据位速率、中心频率；
优选的，所述接收参数包括接收灵敏度、反向频率容差、同信道干扰抑制比、邻信道干扰抑制比；
优选的，所述测试暗箱可选的还包括一个固定支架，用于固定干扰模拟器，以发射功率与频率可调的干扰信号；
优选的，所述标签模拟器、人机接口与所述控制模块通过网口或串口相连。
所述RFID读写器的性能参数包括接收灵敏度、反向频率容差、同信道干扰抑制比、邻信道干扰抑制比等。测试接收灵敏度时，衰减标签模拟器的发射功率，将标签模拟器发送的数据与被测读写器接收到数据进行对比，计算误码率，直到误码率不满足额定条件时，获取此时标签模拟器设定的发射功率的临界值，此临界值即为被测读写器的接收灵敏度；测试反向频率容差时，调整标签模拟器的数据位速率，将标签模拟器发送的数据与被测读写器接收到数据进行对比，计算误码率，直到误码率不满足额定条件时，获取此时标签模拟器设定的数据位速率的上临界值和下临界值，即可得到被测读写器的反向频率容差；测试同信道干扰抑制比时，设置标签模拟器和干扰模拟器的发射功率为被测读写器的接收灵敏度加6dB，设置干扰模拟器的中心频率为标签模拟器的中心频率，并调整干扰模拟器的功率，将标签模拟器发送的数据与被测读写器接收到数据进行对比，计算误码率，直到误码率满足额定条件时，获取此时标签模拟器与干扰模拟器的发射功率，即可得到被测读写器的同信道干扰抑制比；测试邻信道干扰抑制比时，设置标签模拟器和干扰模拟器的发射功率为被测读写器的接收灵敏度加6dB，设置干扰模拟器的中心频率为标签模拟器的中心频率加/减250KHz，并调整干扰模拟器的发射功率，将标签模拟器发送的数据与被测读写器接收到数据进行对比，计算误码率，直到误码率不满足额定条件时，获取此时标签模拟器与干扰模拟器的发射功率，即可得到被测读写器的邻信道干扰抑制比。
本实用新型有益效果如下：
1)采用覆有吸波材料的测试暗箱结构，避免了测试时的外部信号的干扰，提高了RFID读写器性能参数测试的准确性；
2)采用标签模拟器模拟电子标签与RFID读写器进行通信，结构简单，具备人机接口功能，操作方便，可以提高RFID读写器质量检验的效率。
附图说明
图1为本实用新型的实施例1方案。
图2为本实用新型的实施例1系统结构。
图3为本实用新型的实施例2方案。
具体实施方式
如图1所示，本实施例给出了本实用新型提出的一种测试RFID读写器性能参数的装置的实施方案1，由测试暗箱(1)、被测读写器(2)、标签模拟器(3)、控制模块(4)、人机接口(5)组成，所述RFID读写器的接收参数包括接收灵敏度、反向频率容差。测试暗箱内壁上覆有吸波材料(6)，箱体两侧分别设有固定支架(7，8)，一侧用于固定将被测读写器，另一侧用于固定标签模拟器。如图2所示，控制模块从人机接口接收命令，并根据此命令设置被测读写器和标签模拟器的发射功率或数据位速率，并计算被测读写器的接收灵敏度或反向频率容差。所述被测读写器、标签模拟器、人机接口与控制模块通过串口或者网口进行通信。
下面对本实施例的工作方式进行描述：分别将被测读写器和标签模拟器固定在固定支架上；测试接收灵敏度时，设置被测读写器和标签模拟器的发射功率为一固定值，优选为30dBm，被测读写器和标签模拟器的接收灵敏度设置为最高，优选的，按0.5dB的精度逐步衰减标签模拟器的发射功率，将标签模拟器发送的数据与被测读写器接收到数据进行对比，计算误码率，直到误码率不满足额定条件时，获取此时标签模拟器发射功率的临界值，此临界值即为被测读写器的接收灵敏度；测试反向频率容差时，设置被测读写器和标签模拟器的发射功率为一固定值，优选为20dBm，被测读写器和标签模拟器的接收灵敏度设置为最高，优选的，按250KHz的信道间隔调整标签模拟器的数据位速率，将标签模拟器发送的数据与被测读写器接收到数据进行对比，计算误码率，直到误码率不满足额定条件时，获取标签模拟器设定的数据位速率的上临界值和下临界值，此上临界值和下临界值与参考数据位速率之差的绝对值的最大值即为被测读写器的反向频率容差；
如图2所示，所述一种测试RFID性能参数的装置系统结构可选的还包括一个干扰模拟器，用于测试被测读写器的同信道干扰抑制比或邻信道干扰抑制比等参数。所述被测读写器、标签模拟器、干扰模拟器、人机接口与控制模块通过串口或者网口进行通信。如图3所示，本实施例给出了本实用新型提出的一种测试RFID读写器性能参数的装置的实施方案2，由测试暗箱(1)、被测读写器(2)、标签模拟器(3)、干扰模拟器(9)、控制模块(4)、人机接口(5)组成，所述RFID读写器的参数包括同信道干扰抑制比、邻信道干扰抑制比。测试暗箱内壁上覆有吸波材料(6)，箱体两侧分别设有固定支架(7，8，10)，一侧用于固定将被测读写器，另一侧用于固定标签模拟器和干扰模拟器。
下面对本实施例的工作方式进行描述：分别将被测读写器、标签模拟器和干扰模拟器固定在固定支架上；测试同信道干扰抑制比时，设置标签模拟器和干扰模拟器的发射功率为被测读写器的接收灵敏度加6dB，设置干扰模拟器的中心频率为标签模拟器的中心频率，被测读写器和标签模拟器的接收灵敏度设置为最高，并调整干扰模拟器的发射功率，将标签模拟器发送的数据与被测读写器接收到数据进行对比，计算误码率，直到误码率满足额定条件时，获取此时标签模拟器与干扰模拟器的发射功率，将标签模拟器的发射功率减去干扰模拟器的发射功率即可得到被测读写器的同信道干扰抑制比；测试邻信道干扰抑制比时，设置标签模拟器和干扰模拟器的发射功率为被测读写器的接收灵敏度加6dB，设置干扰模拟器的中心频率为标签模拟器的中心频率加/减250KHz，被测读写器和标签模拟器的接收灵敏度设置为最高，并调整干扰模拟器的发射功率，将标签模拟器发送的数据与被测读写器接收到数据进行对比，计算误码率，直到误码率不满足额定条件时，获取此时标签模拟器与干扰模拟器的发射功率，将标签模拟器发射功率减去干扰模拟器的发射功率即可得到被测读写器的邻信道干扰抑制比。
以上所述仅是本实用新型优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (7)
1.一种测试RFID读写器性能参数的装置，包括：测试暗箱、标签模拟器、控制模块、人机接口，其特征在于，
所述标签模拟器，接收到被测读写器发送的射频信号后，改变其相关参数，并回复给被测读写器；
所述控制模块，与被测读写器和标签模拟器连接，调整被测读写器和标签模拟器的发射参数和接收参数。
2.根据权利要求1所述的一种测试RFID读写器性能参数的装置，其特征在于，所述测试暗箱，其内壁上覆有吸波材料，箱体两侧分别设有固定支架，一侧用于固定被测读写器，另一侧用于固定标签模拟器。
3.根据权利要求1所述的一种测试RFID读写器性能参数的装置，其特征在于，所述人机接口，包括输入模块、显示模块，连接于控制模块，用于输入命令，显示测试结果。
4.根据权利要求1所述的一种测试RFID读写器性能参数的装置，其特征在于，所述发射参数包括发射功率、数据位速率、中心频率。
5.根据权利要求1所述的一种测试RFID读写器性能参数的装置，其特征在于，所述接收参数包括接收灵敏度、反向频率容差、同信道干扰抑制比、邻信道干扰抑制比。
6.根据权利要求1所述的一种测试RFID读写器性能参数的装置，其特征在于，所述测试暗箱可选的还包括一个固定支架，用于固定干扰模拟器，以发射功率与频率可调的干扰信号。
7.根据权利要求1所述的一种测试RFID读写器性能参数的装置，其特征在于，所述标签模拟器、人机接口与所述控制模块通过网口或串口相连。
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| CN201620794345.3U CN205942759U (zh) | 2016-07-26 | 2016-07-26 | 一种测试rfid读写器性能参数的装置 |
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Publications (1)
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| CN201620794345.3U Active CN205942759U (zh) | 2016-07-26 | 2016-07-26 | 一种测试rfid读写器性能参数的装置 |
Country Status (1)
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108761236A (zh) * | 2018-05-28 | 2018-11-06 | 北京智芯微电子科技有限公司 | Rfid标签在高低温条件下的性能测试系统和测试方法 |
| CN116137551A (zh) * | 2023-04-14 | 2023-05-19 | 西安晟昕科技股份有限公司 | 一种通信侦察性能测试控制方法 |
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2016
- 2016-07-26 CN CN201620794345.3U patent/CN205942759U/zh active Active
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