CN108133715A - 光信息记录介质以及再生方法 - Google Patents

Abstract

一种光信息记录介质以及再生方法。在将根据从第1坑点串的最长坑点(P1max)或最长间隙(S1max)获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从第2坑点串的最长坑点(P2max)或最长间隙(S2max)获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下，第1坑点串被形成为第1反射率与第2反射率大致相同。

Description

光信息记录介质以及再生方法

本申请是申请日为2014年04月08日、申请号为201480031827.7、发明名称为“光信息记录介质、再生方法以及再生装置”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及能够记录信息的光信息记录介质及其再生方法和再生装置。

背景技术

近年，为了保存高画质影像等的大量信息，要求光信息记录介质的大容量化，即，要求提高记录密度。为此，提出了超分辨率技术，其中，使通过包含具有比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的长度的坑点的坑点串而高密度记录了信息的光信息记录介质(超分辨率介质)，以高于使通过由不包含具有上述光学系统分辨率限度以下的长度的坑点的坑点构成的坑点串而记录了信息的光信息记录介质(通常介质)进行再生时的再生光强度(再生激光功率)的再生光强度，来进行再生。此外，在将再生装置所射出的再生光的波长设为λ、将物镜的数值孔径设为NA的情况下，光学系统超分辨率限度为λ/4NA。

作为上述超分辨率介质的例子，可列举专利文献1。在专利文献1中公开了下述光信息记录介质，其中分配有：通过包含比光学系统分辨率限度的长度短的长度的坑点(凹以及/或者凸)而记录了内容的第1区域；和通过坑点而记录了用于确定介质的种类的介质识别信息的第2区域。另外，在该光信息记录介质中，形成上述介质识别信息的坑点以光学系统分辨率限度的长度以上的长度来形成。由此，在进行超分辨率介质的介质识别时，能够以适合通常介质的信息再生的再生激光功率而识别出为超分辨率介质。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：国际公开第2007/100139号(2007年9月7日公开)

发明内容

发明所要解决的课题

然而，在专利文献1的光信息记录介质中，第1区域中形成的坑点的长度以及坑点间隔与第2区域中形成的坑点的长度以及坑点间隔彼此不同。即，在第1区域中的信息的记录密度与第2区域中的信息的记录密度之间产生了差异。

该情况下，在从第1区域获得的反射率与从第2区域获得的反射率之间，有可能产生再生装置无法将这些反射率视为大致相同的差异。在产生了该差异的情况下，当一个区域的信息再生和另一个区域的信息再生被连续进行时，有可能在另一个区域中发生焦点偏移等现象。

本发明正是鉴于上述问题点而实现的，其目的在于实现能够提高信息的再生质量的光信息记录介质、以及能够使该光信息记录介质进行再生的再生装置等。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题，本发明的一方式所涉及的光信息记录介质具有被分配了通过第1坑点串而记录有信息的第1区域、和通过第2坑点串而记录有信息的第2区域的记录层，所述第1坑点串包含长度比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点，所述第2坑点串由具有上述光学系统分辨率限度的长度以上的长度的坑点构成，在将根据从上述第1坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从上述第2坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下，上述第1坑点串被形成为上述第1反射率与上述第2反射率大致相同。

发明效果

根据本发明的一方式，具有能够提高信息的再生质量的效果。

附图说明

图1是用于说明本发明的一实施方式所涉及的超分辨率介质的坑点的形状的图，(a)是表示数据区域中的坑点形状的一例的图，(b)是表示从照射到(a)所示的包含最长间隙的单点划线内的再生光而获得的信号强度的图。

图2是表示上述超分辨率介质的外观的立体图。

图3是表示上述超分辨率介质中的基板的主要部分构成的俯视图。

图4是表示上述超分辨率介质的构造的剖视图。

图5是表示上述超分辨率介质所具备的坑点的极性的图。

图6是表示上述超分辨率介质的一实施例的图，(a)是表示向介质信息区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光的状态的图，(b)是表示向数据区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光的状态的图。

图7是表示作为上述超分辨率介质的比较例的超分辨率介质的外观的立体图。

图8是表示作为上述比较例的超分辨率介质中的基板的主要部分构成的俯视图。

图9是表示向作为上述比较例的超分辨率介质的数据区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光L的状态的图。

图10是表示与上述超分辨率介质相关的一实验例的实验结果的图。

图11是表示与上述超分辨率介质相关的一实验例的实验结果的图。

图12是表示本发明的另一实施方式所涉及的超分辨率介质的一实施例、和该超分辨率介质的比较例的图，(a)是表示向上述一实施例中的数据区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光的状态的图，(b)是表示向上述比较例中的数据区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光L的状态的图。

图13是表示与上述超分辨率介质相关的一实验例的实验结果的图。

图14是表示本发明的又一实施方式所涉及的超分辨率介质所具备的坑点的极性的图。

图15是表示上述超分辨率介质的一实施例的图，(a)是表示向介质信息区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光的状态的图，(b)是表示向数据区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光的状态的图。

图16是表示向本发明的又一实施方式所涉及的超分辨率介质的一实施例中的数据区域的一部分(最长间隙附近)照射了再生光的状态的图。

图17是表示本发明的又一实施方式所涉及的再生装置的一例的框图。

图18是表示上述再生装置的信号处理电路/控制部的简要构成的一例的框图。

图19(a)是表示使通常介质以适合通常介质的再生时钟进行采样，并进行了PRML解码的情况下的坑点与输出信号的关系的图，(b)是表示使通常介质以适合超分辨率介质的再生时钟进行采样，并进行了PRML解码的情况下的坑点与输出信号的关系的图。

具体实施方式

〔实施方式1〕

关于本发明的一实施方式所涉及的光信息记录介质，利用图1～图11来进行如下说明。此外，在本实施方式中，将为再生专用介质且具有剖面构造为BD(Blu-ray Disc(蓝光光盘)：注册商标)类型的超分辨率区域的光信息记录介质(以下作为超分辨率介质1)作为例子来进行说明，但并不限定于此。作为超分辨率介质1，例如也可以是能够进行信息的记录的光信息记录介质，还可以是DVD类型。

〔超分辨率介质1的构造〕

图2表示了本实施方式所涉及的超分辨率介质1的外观。如图2所示，作为圆盘状的介质的超分辨率介质1，具有预先被分配了记录有例如影像、软件等内容的数据区域2(第1区域)、和记录有例如与超分辨率介质1有关的信息的介质信息区域3(第2区域)的记录层。

另外，图3放大表示了图2所示的超分辨率介质1的a部。如图3所示，在数据区域2以及介质信息区域3中，形成有：多个坑点P1(第1坑点串的坑点)、坑点P2(第2坑点串的坑点)、和分别形成在该坑点P1间、坑点P2间的多个间隙S1(第1间隙)、间隙S2(第2间隙)，使得每隔给定的轨道间距TpD、TpR(给定的间隔)而在周向上成串。换而言之，在数据区域2中，由坑点P1以及间隙S1形成了第1坑点串，在介质信息区域3中，由坑点P2以及间隙S2形成了第2坑点串。

在数据区域2以及介质信息区域3的信息记录中，采用了能够利用形状以及大小不同的坑点P1、P2以及间隙S1、S2来记录信息的标记边缘记录方式。在本实施方式中，利用了其中的被称为1-7PP(1-7 Parity Preserve/Prohibit RMTR(Repeated MinimumTransition Run Length)；1-7奇偶保留/禁止RMTR(重复的最小过渡行程长度))的调制记录方式(记录编码方式)。即，在该方式中，根据作为(1，7)RLL调制(Run Length Limited；行程长度受限)的1种的调制方式而形成了坑点P1、P2。例如，在BD中，通过2T～8T的坑点(或者记录标记)以及间隙来记录信息。在本实施方式中，为了便于说明，有时将数据区域2的坑点P1的长度表现为“D2T～D8T”、将介质信息区域3的坑点P1的长度表现为“R2T～R8T”。

此外，在上述调制中，将原始信息(调制前的信息)的比特串图案变换为不依赖于原始信息的比特串图案且具有给定的频带宽度(即，以多个种类限制的记录标记与间隙的组合)的记录图案，并且将最短的记录标记或者间隙的长度放大得比原始信息的这些标记或间隙的长度大，从而使记录密度增大。在1-7PP调制记录方式的情况下，原始信息的2比特单位被变换为3通道比特单位，作为变换后的记录图案，被调制为限制在2通道比特(2T)至8通道比特(8T)的长度的记录标记和间隙，由此来限制频带宽度。与此同时，最短的记录标记以及间隙的长度成为原始信息的这些标记以及间隙的长度的1.5倍的长度。因此，基于1-7PP调制记录方式的调制适合于高密度记录。此外，调制方式并不限于1-7PP调制，除了1-7PP调制以外的(1，7)RLL调制之外，还可以使用8/16调制、(2，7)RLL调制等其他适合高密度记录的调制方式。

(数据区域2)

如图2所示，数据区域2被分配在介质信息区域3之间，通过在基板成型时设置坑点P1，从而记录了上述内容。该坑点P1是具有图3中的D2T～D8T的长度的坑点，最短坑点P1min的长度D2T比再生装置所具有的光学系统分辨率限度短。即，由于还包含比再生装置所具有的光学系统分辨率限度短的长度的坑点P1来记录上述内容(超分辨率记录形态)，因此能够实现比通常介质更高密度的记录。

此外，具有D8T的长度的坑点是在数据区域2中形成的多个坑点P1当中最长的最长坑点P1max。另外，在多个坑点P1之间形成的多个间隙S1当中，最短的间隙S1是最短间隙S1min(未图示)，最长的间隙S1是最长间隙S1max(最长第1间隙)(参照图1(a))。

(介质信息区域3)

如图2所示，介质信息区域3预先被分配至超分辨率介质1的最内周部和最外周部，与超分辨率介质1有关的信息由坑点P2来记录(通常记录形态)。该坑点P2是具有图3中的R2T～R8T的长度的坑点P2，最短坑点P2min的长度R2T在再生装置所具有的光学系统分辨率限度以上。即，介质信息区域3的所有坑点P2的长度比数据区域2的上述最短坑点P1min的长度长，介质信息区域3中的信息的记录密度比数据区域2低。

此外，具有R8T的长度的坑点是在介质信息区域3中形成的多个坑点P2当中最长的最长坑点P2max。另外，在多个坑点P2之间形成的多个间隙S2当中，最短的间隙S2是最短间隙S2min(未图示)，最长的间隙S2是最长间隙S2max(最长第2间隙)(参照图6(a))。

另外，介质信息区域3被设置在超分辨率介质1的内周以及外周，但并不限定于此，也可分配至内周以及外周的任一者。

如上所述，超分辨率介质1是利用了所谓的超分辨率技术的光信息记录介质。并且，数据区域2是通过超分辨率技术来再生信息的超分辨率区域，介质信息区域3是不使用超分辨率技术来再生信息的非超分辨率区域。

(介质信息区域3的记录信息例)

与超分辨率介质1有关的信息中包含：用于确定超分辨率介质1的介质识别信息、用于确定数据区域2中的位置的区域位置信息、用于对数据区域2以及介质信息区域3中记录的数据进行管理的数据管理信息等。

上述介质识别信息中包含：表示光信息记录介质的种类(BD、DVD等，或者再生专用型、追记型、改写型等)、记录容量的信息等的盘类型识别信息、以及/或者用于对各个光信息记录介质进行识别(识别超分辨率介质1)的个体识别信息(用于版权保护的介质固有编号)等。

另外，优选上述与超分辨率介质1有关的信息中包含：再生速度信息、再生光强度信息、极性信息、以及/或者区域位置信息。另外，介质识别信息可以包含再生速度信息以及再生光强度信息。

上述再生速度信息中示出了为了无缝地再生影像信息等的内容而需要的再生速度。另外，上述再生速度信息中包含：在向超分辨率介质1照射了适当的再生光(再生激光)的情况下，为了获得能够数字信号化的模拟波形而需要的再生速度范围信息、为了对内容等进行再生而对再生出的模拟波形进行数字信号化时所需的数字处理信息、或者这些信息的组合等。

上述再生速度范围信息是下述信息：在能够通过热量来进行超分辨率再生的情况下，由于若再生速度过快则会热量不足而不能进行超分辨率再生，若过慢则所产生的热能过于增大而会损坏介质，因此为了通过超分辨率再生来稳定地获得模拟波形而对再生速度进行规定的信息。

此外，再生速度是指再生时的线速度(进行介质再生时通过主轴电动机而使光信息记录介质旋转所产生的、光学头(再生光照射)位置与光信息记录介质的再生位置的相对速度)。

上述数字处理信息中包含例如再生时钟切换信息、再生速度切换信息、或者这些信息的组合等。关于这些信息，在对例如以1-7PP调制方式记录且记录密度彼此不同的数据区域2以及介质信息区域3中记录的信息进行了再生的情况下，是对所获得的模拟波形进行数字信号化时所需的信息。

上述再生光强度信息中包含在向超分辨率介质1照射了再生光(再生激光)的情况下为了获得能够进行数字信号化的模拟波形而需要的再生光强度范围信息等。在能够通过热量来进行超分辨率再生的情况下，若再生光强度过低则热量不足而不能进行超分辨率再生，若过高则所产生的热能过于增大而会损坏介质，并且会给再生装置带来负担。再生光强度范围信息是为了通过超分辨率再生不会给再生装置带来过度负担地获得稳定的模拟波形而对再生光强度进行规定的信息。

上述极性信息中包含坑点极性信息等，该坑点极性信息表示相对于超分辨率介质1的入射再生光的一侧而言坑点P1、P2是凹形状(凹入坑点形式)还是凸形状(凸出坑点形式)。例如在利用推挽(PP(Push-Pull))法、差动推挽(DPP(Differential Push-Pull))法等来进行跟踪伺服的情况下，根据坑点P1、P2的极性而跟踪误差信号的正负不同。坑点极性信息是能够直接判定下述情况的信息：再生光的照射位置处于轨道的中心的状态(在轨状态)时的跟踪误差信号，是与距超分辨率介质1的中心的距离有关的跟踪误差信号的一次微分的值为正的跟踪误差信号的振幅中心，还是为负的跟踪误差信号的振幅中心。

上述区域位置信息中包含：表示超分辨率介质1中的数据区域2的位置的数据区域位置信息等。作为数据区域位置信息可列举：表示数据区域2中的信息的再生开始位置以及/或者再生结束位置的信息、表示介质信息区域3中的信息的再生开始位置以及/或者再生结束位置的信息、或者这些信息的组合。数据区域位置信息是下述情况下需要的信息，例如在记录密度彼此不同的数据区域2和介质信息区域3中各自适合的信息再生条件不同，并且，再生装置使数据区域2和介质信息区域3连续地进行再生时，为了切换至按这两个区域的每一个而设定的信息再生条件，再生装置中需要该数据区域位置信息。

此外，信息再生条件是指：在再生光强度、再生速度、或者跟踪伺服的方法等当中，再生装置为了对光信息记录介质中记录的信息进行再生而需要设定的条件。

(超分辨率介质1的具体构造)

下面，对超分辨率介质1的具体构造进行说明。图4表示超分辨率介质1的剖视图。另外，图5是表示坑点P1、P2的极性的图。

如图4所示，超分辨率介质1从自再生装置射出的再生光L所入射的一侧开始依次设置有覆盖层6、功能层5以及基板4。

基板4例如由直径约120mm、厚度约1.1mm的聚碳酸酯(PC)构成，在基板4的再生光L入射的一侧，如图5所示，通过凹形状的坑点P1、P2而记录有各种信息(凹入坑点形式)。即，在基板4上形成的凹部是坑点P1、P2。此外，坑点P1、P2也可以由凸形状构成，还可以由凹形状以及凸形状构成。即，坑点P1、P2由凹以及/或者凸构成即可。此外，关于坑点P1、P2由凸形状构成的情况下(凸出坑点形式)的构造，在实施方式3中进行说明。

覆盖层6例如由厚度约100μm的紫外线固化树脂(例如，再生光L的波长λ＝405nm下的折射率为1.50)构成。覆盖层6的材质只要是在再生光L的波长下透射率高的材质即可，例如可以由聚碳酸酯所构成的薄膜(聚碳酸酯薄膜)和透明粘接材料形成。

功能层5是用于产生超分辨率现象的层，例如通过溅射而形成在基板4上。功能层5例如由厚度约12nm的钽(Ta)构成。功能层5也可以由两种以上的膜构成，该情况下，例如可以由能够吸收再生光L的厚度约8nm的钽所构成的吸光膜和厚度约50nm的氧化锌(ZnO)所构成的超分辨率再生膜来组成。该情况下，能够提高信息的记录密度。

另外，功能层还可以由2层以上的功能层5构成。该情况下，可以在各个功能层5之间设置中间层。作为中间层的材质，例如可列举紫外线固化树脂，但不限于此，只要是在再生光L的波长下透射率高的材质即可。另外，可以在各中间层的再生光L所入射的一侧至少形成坑点P1。该情况下，能够进一步提高超分辨率介质1的记录容量。

通过设置该功能层5，能够再生由数据区域2的坑点P1所记录的信息。在功能层5由薄的金属膜等构成的情况下，能够根据功能层5的温度变化而再生比光学系统分辨率限度的长度短的长度的坑点的信号。另外，在功能层5由吸光膜和超分辨率再生膜构成的情况下，若向坑点P1照射再生光，则在超分辨率介质1上形成再生光的照射区域(激光斑点)，在该照射区域内，根据由于光强度分布而产生的温度分布，会产生透射率的分布。其结果，上述照射区域成为拟似缩小的状态，由此，能够再生由坑点P1所记录的信息，从而能够记录比通常介质多的信息。

(各区域的坑点形状)

下面，利用图1，对超分辨率介质1的坑点P1的形状(大小)进行说明。图1(a)表示数据区域2中的坑点的形状的一例，图1(b)是表示从照射到(a)所示的包含最长间隙S1max的单点划线内的再生光L而获得的信号强度的图。在本实施方式中，将坑点(记录标记)的长度与该坑点(例如8T坑点)所对应的间隙(例如8T间隙)的长度之比表现为“占空比(duty)”，将该比为1∶1的情况表现为“占空比50％”。

该坑点以及间隙的长度(占空比)在能够由再生装置再生的范围内可进行增减。本发明者们关注于该可增减的情况而发现：在具备超分辨率区域和非超分辨率区域的超分辨率介质中，通过变更坑点以及间隙的长度而能够提高超分辨率区域中的反射率，进而能够提高该超分辨率介质中的信息的再生质量。

为了实现上述再生质量的提高，在超分辨率介质1中，在数据区域2中形成坑点P1，使得数据区域2中的反射率(第1反射率)与介质信息区域3中的反射率(第2反射率)大致相同。换而言之，包含坑点P1而形成于数据区域2的第1坑点串被形成为使上述第1反射率与上述第2反射率大致相同。进而，换而言之，在数据区域2中形成有坑点P1，使得无需相对于超分辨率介质1或者再生装置而在数据区域2以及介质信息区域3设置彼此不同的反射率的规定，再生装置能够将上述两个反射率按大致相同来处理。

此外，本实施方式的反射率是指：例如在对记录轨道(轨道)进行跟踪时再生装置所射出的再生光照射到最长坑点或者最长间隙，从而由上述再生装置的探测器获得的根据来自记录层的最大的反射光量而算出的值相对于再生光的强度的比例。此外，上述反射率并不限于上述比例，也可以是来自记录层的反射光的强度相对于再生光的强度的比例等。

即，在本实施方式的超分辨率介质1中，上述第1反射率(从数据区域2获得的反射率)是指根据从第1坑点串的最长坑点P1max或者最长间隙S1max获得的反射光量而算出的反射率。另一方面，上述第2反射率(从介质信息区域3获得的反射率)是指根据从第2坑点串的最长坑点P2max或者最长间隙S2max获得的反射光量而算出的反射率。此外，从最长坑点或者最长间隙获得的反射光量也可以说成是：在该最长坑点或者最长间隙处再生光L进行反射而产生的反射光的光量。

在此，记录层是指在通常介质或者超分辨率介质中记录有信息的层，在再生专用的光信息记录介质中由坑点和反射层构成。反射层是指设置在使得能够对通常介质或者超分辨率介质中记录的信息进行再生的基板与覆盖层之间的层。该反射层在超分辨率介质中是指功能层，在通常介质中例如由厚度为几十nm的金属或者金属合金等构成。

更具体而言，如图1(a)所示，超分辨率介质1中的坑点P1(该图的实线的椭圆形状)的大小形成为比一般的超分辨率介质中的坑点P1’(该图的虚线的椭圆形状)的大小要小一圈。即，坑点P1被形成为，坑点P1的占空比小于间隙S1的占空比(即，小于一般的超分辨率介质的坑点P1’的占空比)。此外，作为该一般的超分辨率介质的一例，可列举图9所示的作为比较例的超分辨率介质，该情况下，坑点P1’相当于图9所示的坑点P101。

在本实施方式中，超分辨率介质1的坑点P1成为与一般的超分辨率介质的坑点P1’相似的形状。即，关于坑点P1，随着占空比的变更，半径方向的长度也与周向的长度同样地变更。例如，在占空比50％时的坑点的长度(坑点P1’)为0.448μm、宽度为0.112μm的情况下，在变更为占空比45％时，坑点(坑点P1)的长度成为0.404μm、宽度成为0.101μm。但是，至少周向的长度变更即可，关于宽度，例如可以与坑点P1’的长度相同。

在此，如上所述，在超分辨率介质1中，数据区域2是通过包含比光学系统分辨率限度的长度短的长度的多个坑点P1而记录了信息的超分辨率区域，介质信息区域3是通过具有光学系统分辨率限度的长度以上的长度的多个坑点P2而记录了信息的非超分辨率区域。

一般而言，坑点长以及间隙长(坑点间隔)根据信息记录中采用的调制记录方式而被规定各自的上限值，因此根据最短坑点的长度而光信息记录介质中的信息的记录密度不同。在上述的1-7PP调制记录方式的情况下，最短坑点长为2T，最长坑点长为最短坑点长的4倍的8T。

即，在超分辨率介质1中坑点P1、P2的长度彼此不同，因此在数据区域2以及介质信息区域3中上述信息的记录密度彼此不同。该情况下，假如在设坑点P1与间隙S1的长度以及坑点P2与间隙S2的长度分别相同(占空比50％)的情况下，在再生装置所获取的数据区域2的给定位置处的反射率与介质信息区域3的给定位置处的反射率之间，有可能产生再生装置无法将这些反射率视为相同的差异。此外，这些给定位置是在各区域中彼此对应的位置，例如是指数据区域2和介质信息区域3各自中的最长坑点彼此(最长坑点P1max与P2max)、或者最长间隙彼此(最长间隙S1max与S2max)等。

另外，一般而言，在再生装置中，利用反射率来进行聚焦控制等各种控制。因此，在产生了上述差异的情况下，当一个区域(例如数据区域2)的信息再生与另一个区域(例如介质信息区域3)的信息再生被连续进行时，例如，在另一个区域中，光信息记录介质上形成的再生光的照射区域的大小会变化(焦点偏移)，有可能每当区域被变更时都需要再生装置进行再次的聚焦控制。

在超分辨率介质1中，在数据区域2和介质信息区域3中产生了记录密度的差异，但如图1(a)所示，在数据区域2中形成了具有与一般的超分辨率介质的坑点P1’不同的形状(形状被限定)的坑点P1。因此，即使存在上述记录密度的差异，也能使再生装置按从数据区域2获得的反射率与从介质信息区域3获得的反射率相同的超分辨率介质1来处理。关于这两个反射率大致相同的情况，利用图1(b)进行说明。

图1(b)表示向图1(a)所示的数据区域2的最长间隙S1max照射了再生光L时的、超分辨率介质1与一般的超分辨率介质的信号强度的差异。在该图中，表示了图1(a)所示的周向位置x1～x2的范围的信号强度。另外，T表示了向非超分辨率区域(例如介质信息区域3)照射了再生光L时的信号强度的最大值，T₀表示了信号强度0，与T-T₀的值成比例的值被测定为反射率。

如图1(b)所示，一般的超分辨率介质所表现的信号强度(该图的虚线)的最大值比T小。另一方面，在超分辨率介质1的情况下(该图的实线)，成为与T大致相同的值。即，从超分辨率介质1获得的反射率大于从一般的超分辨率介质获得的反射率，并且与从非超分辨率区域获得的反射率大致相同。

如图1(a)所示，在向一般的超分辨率介质的间隙照射了再生光L的情况下，再生光L不仅照射到该间隙，还照射到坑点P1’。一般而言，从坑点获得的信号强度小于从间隙获得的信号强度，因此与照射到坑点P1’的量相应地信号强度会减小。

另一方面，在超分辨率介质1中，如上述那样，通过调整占空比来形成坑点P1，使得与坑点P1的长度相比该坑点P1所对应的间隙S1的长度更大。即，如图1(a)所示，在数据区域2上形成了坑点P1，使得最长间隙S1max的长度为再生光L在超分辨率介质1上形成的照射区域(图1(a)的圆形部分)的直径以上。

因此，照射到最长间隙S1max的再生光L不会照射到(或者几乎不会照射到)坑点P1，因此能够基本上排除信号强度减小的可能性。所以，能够获得与从作为非超分辨率区域的介质信息区域3(最长间隙S2max)获得的信号强度大致相同的信号强度，也就是反射率。

如上所述，在超分辨率介质1中，坑点P1具有如上述那样的形状(大小)，因此在进行与一个区域的信息再生连续的另一个区域的信息再生(各区域间中的连续再生)时，能够降低由于各区域中的反射率并非大致相同(产生在再生装置中无法按相同来处理的程度的差异)而产生的可能性、例如在光信息记录介质上形成的再生光的照射区域的大小变化等的可能性。因此，在进行上述连续再生时，也无需进行再次的聚焦控制而能够迅速且可靠地进行信息再生。

即，在进行上述连续再生时，对于一个区域的再生控制当中能够在另一个区域中进行维持的控制无需进行再次的控制，能够按该方式进行另一个区域的信息再生，从而能够提高信息的再生质量。

另外，在1-7PP调制记录方式中，关于向光信息记录介质照射了再生光时获得的反射光的光量(反射光量)，相邻轨道的坑点也会带来一些影响，但主要由最长间隙的长度决定。另外，随着反射光量的增加而反射率增加。

因此，在超分辨率介质1中，如上述那样，通过在数据区域2中形成坑点P1，使得最长间隙S1max的长度在上述照射区域的直径以上，由此来提高最长间隙S1max的反射率。即，在数据区域2中形成了坑点P1，使得最长间隙S1max处的反射率与最长间隙S2max(参照图6(a))处的反射率大致相同。

此外，最长间隙S1max的长度未必需要在再生光L的斑点的直径以上。即，只要从数据区域2获得的反射率与从介质信息区域3获得的反射率大致相同(例如，只要在再生装置能够将从数据区域2(最长间隙S1max)获得的反射率视为与从介质信息区域3(最长间隙S2max)获得的反射率相同的范围内)，则也可以小于上述直径。关于该情况的一例，在实施方式2中进行说明。

另外，在利用了其他调制记录方式的情况下，未必需要以从最长间隙S1max获得的反射率为基准而为提高数据区域2的反射率来设定坑点P1的形状(占空比)，例如也可以以从最长坑点P1max获得的反射率为基准来设定该坑点P1的形状。

此外，超分辨率介质1的基板4上设置的坑点P1以及坑点P2例如通过对利用切割机制作出的母盘进行注射成型来制造，但若考虑不使制作母盘时耗费的时间增加，则优选坑点P1以及坑点P2被连续地形成。然而，不仅坑点P1、P2的长度彼此不同，坑点P1的长度与坑点P1’的长度也不同。因此，作为坑点P1和坑点P2的形成条件，不仅形成坑点P1以及坑点P2的速度彼此不同，而且数据区域2以及介质信息区域3的写入策略也彼此不同，因此在数据区域2与介质信息区域3的交界部分附近的坑点P1以及坑点P2成为坑点P1与坑点P2的中间形状的坑点，有可能无法正确地再生信息。为此，优选从数据区域2与介质信息区域3的交界部分起将期望的范围设为中间区域。该情况下，在中间区域中，可以通过坑点P1以及/或者坑点P2来记录不会对与超分辨率介质1有关的信息、内容等的信息的再生产生影响的给定的信息。

〔实施例〕

下面，关于本实施方式的超分辨率介质1的一实施例，利用图6进行说明。图6是表示超分辨率介质1的一实施例的图，(a)是表示向介质信息区域3的一部分(最长间隙S2max附近)照射了再生光L的状态的图，(b)是表示向数据区域2的一部分(最长间隙S1max附近)照射了再生光L的状态的图。

本实施例中的超分辨率介质1的大小、各层的厚度、材质如上所述。介质信息区域3的轨道间距TpR、以及数据区域2的轨道间距TpD为0.32μm。此外，介质信息区域3的轨道间距TpR也可以是0.35μm。另外，在本实施例中，利用1-7PP调制记录方式记录了信息。

如图6(a)所示，介质信息区域3中最长坑点P2max(8T坑点)以及最长间隙S2max(8T间隙)的长度为0.596μm。即，坑点P2以及间隙S2的占空比均为50％，介质信息区域3的最短坑点P2min(2T坑点，未图示)的长度为0.149μm。

另一方面，如图6(b)所示，数据区域2中最长坑点P1max(8T坑点)的长度为0.404μm，最长间隙S1max(8T间隙)的长度为0.492μm。即，坑点P1的占空比约为45％，间隙S1的占空比约为55％，数据区域2的最短坑点P1min(2T坑点，未图示)的长度为0.101μm(≈0.112μm×2×0.45)。

此外，0.112μm这一长度是后述的比较例中的数据区域102的最短坑点P101min的长度。即，将比较例中的数据区域102的占空比如上述那样变更后的区域是本实施例的数据区域2。

另外，介质信息区域3的记录容量为25GB，数据区域2的记录容量为33.3GB(这些记录容量是相当于将超分辨率介质1设为直径120mm的盘时的记录容量)。

进而，在将能够使本实施例1的超分辨率介质1进行再生的再生装置所射出的再生光L(再生光学系统的再生光L)的波长设为λ、将该再生装置所具备的物镜的数值孔径设为NA的情况下，再生装置的光学系统分辨率限度由λ/4NA表示。在本实施例1中，λ＝405nm，NA＝0.85，光学系统分辨率限度为λ/4NA＝0.119μm(＝119nm)。

即，在本实施例1的超分辨率介质1中，数据区域2是坑点P1(间隙S1)的至少一个的长度小于光学系统分辨率限度的长度(小于119nm)的超分辨率区域。另一方面，介质信息区域3是所有坑点P2(间隙S2)的长度在光学系统分辨率限度的长度以上(119nm以上)的非超分辨率区域。换而言之，本实施例1的超分辨率介质1具有被分配了通过包含比119nm短的长度的坑点P1的第1坑点串而记录了信息的数据区域2、和通过由具有119nm以上的长度的坑点构成的第2坑点串而记录了信息的介质信息区域3的记录层。并且，由上述再生光的波长为λ以及物镜的数值孔径为NA的再生装置来使该超分辨率介质1进行再生。

〔比较例〕

下面，关于作为本实施方式的比较例的超分辨率介质101，利用图7～图9来进行说明。图7是表示超分辨率介质101的外观的图，图8放大表示了超分辨率介质101的b部。另外，图9是表示向数据区域102的一部分(最长间隙S101max附近)照射了再生光L的状态的图。此外，使超分辨率介质101进行再生的再生装置与实施例1中使用的再生装置相同。

超分辨率介质101的基本构造中除了数据区域102的坑点P101(间隙S101)的形状与数据区域2的坑点P1(间隙S1)的形状不同之外，其余与超分辨率介质1是相同的。即，介质信息区域103中的坑点P102的形状以及配置与图6(a)所示的坑点P2的形状以及配置相同，图8所示的“R2T’”以及“R8T’”分别对应于“R2T”以及“R8T”。

具体而言，如图7所示，超分辨率介质101与超分辨率介质1同样被预先分配了：记录了内容的数据区域102；和记录了与超分辨率介质101有关的信息的介质信息区域103。另外，如图8所示，在数据区域102以及介质信息区域103中，多个坑点P101、P102和在该坑点间形成的多个间隙S102、S102被形成为以给定的轨道间距而在周向上成串。

在数据区域102中，最短坑点P101min(2T坑点，未图示)的长度D2T’为0.112μm，如图9所示，最长坑点P101max(8T坑点)的长度D8T’为0.448μm。另外，最长间隙S101max(8T间隙)的长度也为0.448μm。即，在本比较例中，坑点P101以及间隙S101的占空比均为50％。此外，数据区域2的记录容量(相当于将超分辨率介质101设为直径120mm的盘时的记录容量)为33.3GB。

〔与比较例的对比〕

在作为比较例的超分辨率介质101中，如图9所示，再生光L不仅照射到间隙S101，还照射到坑点P101的一部分。即，与照射到坑点P101的量相应地，再生装置所获取的反射率降低。因此，该反射率成为比在介质信息区域103的最长间隙S102max(未图示)处获得的反射率低的值，因此根据情况而需要在上述连续再生时进行再次的聚焦控制。

另一方面，在上述实施例的超分辨率介质1中，数据区域2设为了上述那样的占空比(坑点P1以及间隙S1的长度)。即，数据区域2的坑点P1的占空比小于数据区域102的坑点P101的占空比，如图6(b)所示，最长间隙S1max的长度比再生光L的照射区域大。

因此，在超分辨率介质1中，由于再生光L不会照射到在最长间隙S1max的周围存在的坑点P1，因此在再生装置中能够将从数据区域2的最长间隙S1max获得的反射率和从介质信息区域3的最长间隙S2max获得的反射率按相同来处理。因此，在超分辨率介质1中，在进行上述连续再生时，能够迅速且可靠地对另一个区域中记录的信息进行再生。

〔实验例〕

下面，利用图10以及图11，对与本实施方式所涉及的超分辨率介质1有关的一实验例进行说明。图10以及图11是表示与超分辨率介质1有关的一实验例的实验结果的图。在该实验例中，作为数据区域2中的坑点P1以及间隙S1的长度(占空比)而验证了适当的值。不过，该验证结果只是一例，可根据再生状况而变更其容许范围。

图10表示由作为BD标准的评价机的Pulstec制ODU-1000(λ：405nm，NA：0.85)将再生光的强度设为1.0mW来测定坑点的长度彼此不同的光信息记录介质“坑点(Pit)组A”～“坑点组D”的反射率的结果。

在图10中，“坑点组A”是包含仅由具有光学系统分辨率限度的长度以上的长度的坑点构成的非超分辨率区域的光信息记录介质。“坑点组A”的最短坑点的长度为0.149μm(以占空比50％为基准)。

“坑点组B”～“坑点组D”是包含了至少含有一个具有比光学系统分辨率限度的长度短的长度的坑点的超分辨率区域的光信息记录介质。“坑点组B”～“坑点组D”的最短坑点的长度为0.112μm(以占空比50％为基准)。

“坑点组B”、“坑点组C”以及“坑点组D”的坑点以及间隙的长度(坑点以及间隙的占空比)彼此不同，坑点的长度(坑点的占空比)依次减小。各光信息记录介质中的坑点的占空比为：

·“坑点组B”…51.7％(间隙的占空比48.3％)

·“坑点组C”…50.3％(间隙的占空比49.7％)

·“坑点组D”…48.8％(间隙的占空比51.2％)。

另外，各光信息记录介质在基板上依次层叠厚度为12nm的由钽构成的功能层、以及厚度为100μm的由聚碳酸酯薄膜和透明粘接材料构成的覆盖层而构成。进而，在各光信息记录介质中以1-7PP调制记录方式记录了信息。即，最短坑点(最短间隙)的长度为2T，最长坑点(最长间隙)的长度为8T。

为了使再生装置进行稳定的聚焦控制，需要形成最长坑点以及最长间隙，使得各光信息记录介质中的反射率处于能够进行该聚焦控制的给定的范围内。上述给定的范围可以说是在再生装置中按相同来处理的从各光信息记录介质获得的反射率的容许范围。在本实施方式的超分辨率介质1中，上述给定的范围也可以说成是包含从数据区域2获得的反射率和从介质信息区域3获得的反射率这双方的给定的误差范围。并且，还可以设为在这两个反射率处于上述给定的范围内时这两个反射率大致相同。

关于上述给定的范围，若考虑(1)制造时产生的基板的变形、(2)基板、功能层/反射膜构成的信息记录层、或者覆盖层的膜厚分布、(3)再生装置所具备的光源、检测器(探测器)等的制造偏差、(4)在各光信息记录介质间的聚焦时的测定误差等，则优选相对于给定的基准而在约±5％以内。

另外，如上述那样，非超分辨率介质的最长间隙比在该介质上形成的再生光的照射区域大。因此，关于上述给定的基准，优选以照射到非超分辨率介质的最长间隙的反射率为基准。即，在如超分辨率介质1那样具备超分辨率区域(数据区域2)和非超分辨率区域(介质信息区域3)的情况下，优选所测定的反射率以非超分辨率区域的反射率为基准而在约±5％以内。

在本实验例中，如图10所示，将“坑点组A”的反射率(10.56％)作为上述给定的基准，上述给定的范围(反射率的容许范围)被设定在10.03％以上且11.12％以下。

如图10所示，“坑点组B”、“坑点组C”以及“坑点组D”的反射率的测定结果分别为“9.51％”、“10.27％”、“10.52％”。另外，“坑点组C”以及“坑点组D”的反射率与“坑点组A”的反射率的差小，在上述给定的范围内。

根据该测定结果可知，随着坑点的占空比减小(坑点的长度变短)，间隙的占空比增大(间隙的长度变长)，因此照射到最长间隙(8T间隙)时的反射率也增加。另外，由于“坑点组C”以及“坑点组D”的反射率在上述给定的范围内，因此可知该反射率和“坑点组A”的反射率在再生装置中能够按相同来处理。

因此，在超分辨率介质1中，越减小作为超分辨率区域的数据区域2的坑点P1的长度，越能够使再生装置将从数据区域2获得的反射率按与从作为非超分辨率区域的介质信息区域3获得的反射率相同来处理。也就是说，即使在信息的记录密度彼此不同的数据区域2以及介质信息区域3的连续再生中，也能够不发生伴随于焦点偏移等的反射率的差异的信息再生的障碍地进行稳定的信息的再生。

下面，图11表示测定了表征“坑点组B”、“坑点组C”以及“坑点组D”的各光信息记录介质中的再生信号质量的i-MLSE(Integrated-Maximum Likelihood Sequence ErrorEstimation；综合最大似然序列误差估计)的值的结果。

为了抑制再生时的错误并迅速地进行信息的再生，需要获得良好的再生信号质量，一般而言，作为i-MLSE的值，要求在15.5％以下。

如图11所示，“坑点组B”、“坑点组C”以及“坑点组D”的i-MLSE的值分别为“10.0％”、“10.5％”、“15.2％”。根据该测定结果可知，即使将超分辨率介质1的坑点P1的形状变更为与一般的超分辨率介质的坑点的占空比不同的值，也能进行良好的信息的再生。即，可知在超分辨率介质1中也能维持一般的超分辨率介质的再生信号质量。

另外，根据图10以及图11的测定结果可知，作为超分辨率介质1的数据区域2，优选应用“坑点组C”以及“坑点组D”。即，可知在采用了1-7PP调制记录方式的情况下，即使在数据区域2的坑点P1的占空比大于间隙的占空比的情况下，只要比一般的超分辨率介质的坑点的占空比小即可(一般的超分辨率介质的坑点的占空比不限于50％)。由此，在具有信息的记录密度彼此不同的数据区域2以及介质信息区域3的超分辨率介质1中，能够使再生装置将从数据区域2获得的反射率按与从介质信息区域3获得的反射率相同来处理，并且在再生装置中能够进行良好的信息的再生。

〔实施方式2〕

关于本发明的另一实施方式，基于图12～图13来进行如下说明。此外，为了便于说明，对于与在前述实施方式中说明过的部件具有相同功能的部件标注相同符号，并省略其说明。

本实施方式所涉及的超分辨率介质1，在坑点P1以及间隙S1的长度比该坑点P1以及间隙S1所对应的实施方式1的坑点P1以及间隙S1的长度短这一点上与实施方式1不同。除此以外的构成(例如介质信息区域3的坑点形状等)与实施方式1相同。

该情况下，最长间隙S1max的长度比在超分辨率介质1上形成的再生光L的照射区域的直径短，因此在再生光L照射到最长间隙S1max的情况下，也会照射到在最长间隙S1max的周围存在的坑点P1的一部分，与照射到这一部分的量相应地，获得的反射率降低。

但是，该情况下，也以在再生装置中能够将从最长间隙S1max获得的反射率与从最长间隙S2max(参照图6(a))获得的反射率按相同来处理的程度形成坑点P1即可。由此，即使最长间隙S1max的长度小于上述再生光L的照射区域的直径，在进行上述连续再生时，也能不发生焦点偏移地进行信息的再生。

〔实施例〕

下面，关于本实施方式的超分辨率介质1的一实施例，利用图12进行说明。图12(a)是表示向本实施方式的超分辨率介质1的一实施例中的数据区域2的一部分(最长间隙S1max附近)照射了再生光L的状态的图。

此外，向本实施方式的超分辨率介质1的介质信息区域3照射了再生光L的状态与图6(a)相同。另外，以下描述以外的构成也与实施方式1中的实施例的构成相同。因此，省略这些部分的详细说明。

在本实施例中，如图12(a)所示，数据区域2中最长坑点P1max(8T坑点)的长度为0.339μm，最长间隙S1max(8T间隙)的长度为0.413μm。即，坑点P1的占空比约为45％，间隙S1的占空比约为55％，数据区域2的最短坑点P1min(2T坑点，未图示)的长度约为0.085μm(≈0.094μm×2×0.45)。

此外，0.094μm这一长度是后述的比较例中的数据区域102的最短坑点P101min的长度。即，将比较例中的数据区域102的占空比如上述那样变更后的区域是本实施例的数据区域2。

另外，在本实施例中，数据区域2的轨道间距TpD为0.32μm，数据区域2的记录容量(相当于将超分辨率介质1设为直径120mm的盘时的记录容量)为40GB。即，与实施方式1的实施例相比，坑点P1的长度以及间隙S1的长度短，因此上述记录容量增加。另外，最长间隙S1max的长度小于上述再生光L的照射区域的直径。

〔比较例〕

图12(b)是表示向作为本实施方式的超分辨率介质1的比较例的超分辨率介质101中的数据区域102的一部分(最长间隙S101max附近)照射了再生光L的状态的图。

此外，向上述比较例的介质信息区域103照射了再生光L的状态与图6(a)相同。另外，以下描述以外的构成也与实施方式1中的比较例的构成相同。因此，省略这些部分的详细说明。

在本实施方式的比较例所涉及的超分辨率介质101中，数据区域2的最短坑点P101min(2T坑点，未图示)的长度为0.094μm，数据区域2的轨道间距TpD为0.32μm。

另外，如图12(b)所示，数据区域102中最长坑点P1max(8T坑点)的长度以及最长间隙S1max(8T间隙)的长度均为0.376μm。即，坑点P101以及间隙S101的占空比均为50％。此外，数据区域2的记录容量(相当于将超分辨率介质101设为直径120mm的盘时的记录容量)为40GB。

〔与比较例的对比〕

如图12(a)以及(b)所示，在本实施例以及比较例中，照射到间隙S1max、S101max的再生光L分别照射到坑点P1、P101的一部分。因此，与向坑点P1、P101照射的量相应地，再生装置所获取的反射率下降。

另一方面，本实施例的坑点P1的大小要小于比较例的该坑点P1所对应的坑点P101的大小。即，本实施例的坑点P1的占空比小于比较例的坑点P101的占空比。因此，本实施例中的相对于上述再生光L的照射区域而该照射区域包含的坑点P1的一部分所占的比例，小于比较例中的相对于上述再生光L的照射区域而该照射区域包含的坑点P101的一部分所占的比例。

因此，在本实施例中，与比较例相比，能够提高从数据区域2的最长间隙S1max获得的反射率。并且，在本实施例中，在再生装置中能够将从数据区域2的最长间隙S1max获得的反射率按与从介质信息区域3的最长间隙S2max获得的反射率相同来处理。

这样，在超分辨率介质1中，即使最长间隙S1max的长度小于再生光L的照射区域的直径，也与实施方式1同样，在进行上述连续再生时，能够迅速且可靠地对另一个区域的信息进行再生。

另外，与实施方式1相比，坑点P1的形状小，因此能够增加数据区域2的记录容量。

〔实验例〕

下面，利用图13，对与本实施方式所涉及的超分辨率介质1有关的一实验例进行说明。图13是表示与超分辨率介质1有关的一实验例的实验结果的图。该实验例中，作为数据区域2中的坑点P1以及间隙S1的长度(占空比)而验证了适当的值。不过，该验证结果只是一例，可根据再生状况来变更其容许范围。

此外，本实验例中使用的评价机与实施方式1的实验例中使用的评价机相同。另外，在“坑点组E”～“坑点组G”的各光信息记录介质的构造中，除了坑点的形状之外，具有与实施方式1的实验例中使用的“坑点组B”～“坑点组D”的光信息记录介质同样的构造。因此，省略这些部分的详细说明。

图13表示通过BD标准的评价机将再生光的强度设为1.0mW来测定坑点的长度彼此不同的光信息记录介质“坑点组A”、“坑点组E”～“坑点组G”的反射率的结果。

在图13中，“坑点组E”～“坑点组G”是包含了至少含有一个具有比光学系统分辨率限度的长度短的长度的坑点的超分辨率区域的光信息记录介质。“坑点组E”～“坑点组G”的最短坑点的长度为0.094μm(以占空比50％为基准)。

“坑点组E”、“坑点组F”以及“坑点组G”的坑点以及间隙的长度(坑点以及间隙的占空比)彼此不同，坑点的长度(坑点的占空比)依次减小。另外，在向“坑点组E”～“坑点组G”的最长间隙照射了再生光L的情况下，再生光L还照射到坑点的一部分。

如图13所示，“坑点组E”、“坑点组F”以及“坑点组G”的反射率的测定结果分别为“9.85％”、“10.37％”、“10.40％”。另外，“坑点组F”以及“坑点组G”的反射率与“坑点组A”的反射率的差小，在上述给定的范围内。

根据该该测定结果可知，随着坑点的占空比减小，间隙的占空比增大，因此照射到最长间隙(8T间隙)时的反射率也增加。另外，“坑点组F”以及“坑点组G”的反射率在上述给定的范围内，因此可知在再生装置中能够将该反射率与“坑点组A”的反射率按相同来处理。

因此，在超分辨率介质1中，越减小作为超分辨率区域的数据区域2的坑点P1的长度，越能够使再生装置将从数据区域2获得的反射率按与从作为非超分辨率区域的介质信息区域3获得的反射率相同来处理。

另外，使坑点P1的大小比实施方式1的实施例小，其结果，在向最长间隙S2max照射了再生光L时，即使在该再生光L照射到坑点P1的情况下，也能通过减小坑点P1的占空比来实现再生装置中的上述反射率的处理。即，能够实现超分辨率介质1的记录容量的增大化。

〔实施方式3〕

关于本发明的另一实施方式，基于图14～图15进行如下说明。此外，为了便于说明，对于与在前述实施方式中说明过的部件具有相同功能的部件标注相同符号，并省略其说明。

图14是表示坑点P1、P2的极性的图。如图14所示，本实施方式的超分辨率介质1在基板4上形成了凸形状的坑点P1、P2(以凸出坑点形式形成)这一点与实施方式1(凹入坑点形式)不同。除此以外的构成与实施方式1相同。

〔实施例〕

下面，关于本实施方式的超分辨率介质1的一实施例，利用图15进行说明。图15是表示超分辨率介质1的一实施例的图，(a)是表示向介质信息区域3的一部分(最长间隙S2max附近)照射了再生光L的状态的图，(b)是表示向数据区域2的一部分(最长间隙S1max附近)照射了再生光L的状态的图。

本实施例中的超分辨率介质1除了坑点P1、P2的形状为凸形状这一点以外的构成与图6所示的实施例相同。因此，如图15(a)所示，在向介质信息区域3的最长间隙S2max照射了再生光L的情况下，再生光L不会照射到坑点P2。另外，如图15(b)所示，即使在向数据区域2的最长间隙S1max照射了再生光L的情况下，也与一般的超分辨率介质不同，再生光L不会照射到坑点P1。

因此，在超分辨率介质1中，即使坑点P1、P2为凸形状也与实施方式1同样，在再生装置中能够将从数据区域2的最长间隙S1max获得的反射率与从介质信息区域3的最长间隙S2max获得的反射率按相同来处理。

(实施方式4〕

关于本发明的又一实施方式，基于图16进行如下说明。此外，为了便于说明，对于与在前述实施方式中说明过的部件具有相同功能的部件标注相同符号，并省略其说明。

本实施方式所涉及的超分辨率介质1具有将实施方式2中的超分辨率介质1的数据区域2的轨道间距TpD缩窄后的构成。

〔实施例〕

下面，关于本实施方式的超分辨率介质1的一实施例，利用图16进行说明。图16是表示向数据区域2的一部分(最长间隙S1max附近)照射了再生光L的状态的图。

此外，向本实施方式的超分辨率介质1的介质信息区域3照射了再生光L的状态与图6(a)相同。另外，以下描述以外的构成也与实施方式2中的实施例的构成相同。因此，省略这些部分的详细说明。

在本实施例中，如图16所示，数据区域2中最长坑点P1max(8T坑点)的长度为0.301μm，最长间隙S1max(8T间隙)的长度为0.451μm。即，坑点P1的占空比约为40％，间隙S1的占空比约为60％，数据区域2的最短坑点P1min(2T坑点，未图示)的长度约为0.075μm(≈0.094μm×2×0.40)。

此外，0.094μm这一长度如实施方式2的实施例中描述的那样，是实施方式2的比较例中的数据区域102的最短坑点P101min的长度。即，将该比较例中的数据区域102的占空比如上述那样变更后的区域是本实施例的数据区域2。

另外，在本实施例中，数据区域2的轨道间距TpD为0.29μm，数据区域2的记录容量(相当于将超分辨率介质1设为直径120mm的盘时的记录容量)为44GB。

即，与实施方式2的实施例相比，坑点P1的长度以及间隙S1的长度短，因此上述记录容量进一步增加。另外，最长间隙S1max的长度小于在超分辨率介质1上形成的再生光L的照射区域的直径。

〔比较例〕

作为本实施例的比较例的超分辨率介质101与实施方式2的比较例的构造相同，因此这里省略其说明。此外，向超分辨率介质101的数据区域102的一部分(S101max附近)照射了再生光L的状态如图12(b)所示。此外，数据区域102的轨道间距为0.32μm。

〔与比较例的对比〕

与实施方式2同样，本实施例的坑点P1的大小要小于比较例的该坑点P1所对应的坑点P101的大小。另外，在本实施例中，由于缩窄了轨道间距TpD，因此照射到最长间隙S1max的再生光L有可能照射到相邻轨道的坑点P1。因此，该情况下，反射率有可能降低。因此，在本实施例中，使坑点P1的占空比与实施方式2的实施例中的坑点P1相比进一步减小。

由此，能够避免上述再生光L照射到相邻轨道的坑点P1，因此能够排除由轨道间距TpD的减少所引起的相邻轨道的坑点P1给测定的反射率带来的影响。

另外，与实施方式2同样，即使照射到最长间隙S1max的再生光L还照射到与该最长间隙S1max为相同轨道上的坑点P1的一部分，也能使该照射部分与比较例相比较小，因此，能够使再生装置将从数据区域2获得的反射率按与从介质信息区域3获得的反射率相同来处理。

另外，如上述那样，由于本实施例中的数据区域2的轨道间距TpD以及坑点P1的大小要小于比较例的轨道间距以及坑点P101的大小，因此与比较例相比而轨道间距的条数以及坑点数变多。因此，与比较例相比，能够增大记录容量。进而，由于小于实施方式2的实施例中的数据区域2的轨道间距TpD以及坑点P1的大小，因此能够进一步增大记录容量。

〔实施方式1～4所涉及的超分辨率介质1的变形例〕

此外，只要(1)能够使再生装置将从数据区域2获得的反射率按与从介质信息区域3获得的反射率相同来处理、(2)能够在再生装置中进行良好的信息的再生，则并不限定于如上述的坑点P1的形状。

例如，可以是仅最长坑点P1max的占空比小于一般的超分辨率介质的最长坑点的占空比，而其他坑点P1的占空比与一般的超分辨率介质的坑点的占空比相同。即，可以是仅最长间隙S1max的占空比大于一般的超分辨率介质的最长间隙。

一般而言，最短坑点(最短间隙)或者以此为标准的坑点(以此为标准的间隙)占对再生信号质量的影响的大部分，最长坑点或者最长间隙对再生信号质量的影响小。此外，在1-7PP调制记录方式的情况下，最短坑点为2T坑点，以此为标准的坑点为3T坑点，最短间隙为2T间隙，以此为标准的坑点为3T间隙。

因此，通过仅使最长坑点或者最长间隙的占空比小于一般的超分辨率介质，从而能够进一步提高再生信号质量。即，能够进行更为良好的信息的再生。

另外，也可以在使坑点P1的占空比与一般的超分辨率介质的坑点相同的基础上，使得与一般的超分辨率介质的坑点相比而坑点P1的宽度缩短、或坑点P1的深度变浅。

在坑点P1的占空比与一般的超分辨率介质的坑点相同的情况下，例如照射到最长间隙S1max的再生光L还会照射到在该最长间隙S1max附近存在的坑点P1的一部分。

但是，在坑点P1的宽度短的情况下，与一般的超分辨率介质的情况相比，能够减小相对于再生光L所形成的照射区域而坑点P1的一部分所占的比例。另外，在坑点P1的深度浅的情况下，与一般的超分辨率介质的情况相比，能够使从上述坑点P1的一部分获得的反射率接近从最长间隙S1max获得的反射率。

因此，任一情况下都能够使从数据区域2获得的反射率接近从介质信息区域3获得的反射率的值，从而在再生装置中能够按相同来处理。

即，只要设定坑点P1的形状，使得实质上决定数据区域2中的反射率的最长间隙S1max的大小满足上述(1)以及(2)即可。

〔实施方式5〕

关于本发明的又一实施方式，基于图17～图19进行如下说明。此外，为了便于说明，对于与在前述实施方式中说明过的部件具有相同功能的部件标注相同符号，并省略其说明。

<再生装置10的构成>

图17表示了本实施方式所涉及的再生装置10的简要构成。本实施方式的再生装置10能够使上述实施方式1～4的任一超分辨率介质1和通常介质这双方进行再生。

再生装置10如图示那样具备激光控制电路14、信号处理电路/控制部17(信号处理单元)、伺服处理电路18(伺服处理单元)、主轴电动机19、光拾取器20(再生光照射单元)和光拾取器用电动机21。光拾取器20用于向超分辨率介质1或者通常介质照射再生光，具备偏光束分离器12、激光光源13以及检测器15。此外，图中的光信息记录介质11有是超分辨率介质1的情况和是通常介质的情况。

再生装置10首先通过主轴电动机19使光信息记录介质11旋转，通过光拾取器用电动机21使光拾取器20移动到给定位置。然后，通过激光控制电路14将从激光光源13射出的再生光的强度设为给定的强度，使激光光源13射出再生光。该再生光经由偏光束分离器12而照射到光信息记录介质11，来自光信息记录介质11的反射光经由偏光束分离器12而到达检测器15。

检测器15基于到达的反射光而输出电信号，该电信号被送到伺服处理电路18，进行各种的伺服控制(例如聚焦伺服以及跟踪伺服)。另外，该电信号还被送到信号处理电路/控制部17。信号处理电路/控制部17基于该电信号而向光拾取器用电动机21进行驱动指示，或者对再生数据进行解码生成并输出到外部装置(例如显示装置)。

图18表示了信号处理电路/控制部17的构成。信号处理电路/控制部17用于将通过光拾取器20对数据区域2照射再生光而获得的再生数据等的再生信号波形以PR(12221)ML方式进行解码，如图所示，具备信号处理部22、介质识别部23以及访问位置控制部24。

信号处理部22对从光拾取器20送来的表示介质识别信息的电信号进行处理，并提供给介质识别部23。介质识别部23基于由信号处理部22提供的表示上述介质识别信息的电信号来进行光信息记录介质11的识别。另外，将从光拾取器20送来的表示内容的电信号解码为再生数据，并输出给上述外部装置。

访问位置控制部24控制光拾取器用电动机21，以使光拾取器20访问光信息记录介质11的期望的位置。此外，在超分辨率介质1中数据区域2的轨道间距与介质信息区域3的轨道间距不同的情况下，希望访问位置控制部24基于通过介质识别部23得到的光信息记录介质11的识别结果来控制访问位置。

在此，对伺服处理电路18中的跟踪伺服的方法进行说明。例如，在跟踪伺服的方法中有下述方法：将接受检测器15中的反射光的探测器至少进行2分割，利用了来自分割后的探测器的检测信号中会产生相位差这一点。但是，在该方法的情况下，在相当于设为直径120mm的盘时的记录容量例如为45GB以上这样的记录密度高的区域(数据区域2)中，跟踪变得不稳定，有可能无法进行从介质信息区域3向数据区域2连续的再生。因此，在数据区域2中，需要变更跟踪伺服的方法。

另一方面，在3波束法、PP法或者DPP法等中，即使是记录密度高的区域也能获得充分的跟踪错误信号，因此能够稳定地进行跟踪。通过在伺服处理电路18中采用对数据区域2和介质信息区域3均能进行跟踪的跟踪伺服的方法(3波束法、PP法或者DPP法等)，从而对于如超分辨率介质1那样一个区域的记录密度高于另一个区域的记录密度的情况，也能迅速且可靠地连续再生记录密度不同的这两个区域中记录的信息。

另外，优选信号处理电路/控制部17具备再生时钟控制部或者再生速度控制部(均未图示)。

在具备上述再生时钟控制部或者再生速度控制部的情况下，再生时钟控制部基于由介质识别部23获得的光信息记录介质11的识别结果，将信号处理部22中利用的再生时钟直接(即适合通常介质的再生时钟)使用，或者切换为适合超分辨率介质1的再生时钟。再生速度控制部基于由介质识别部23获得的光信息记录介质11的识别结果，控制主轴电动机19而将再生速度直接(即适合通常介质的再生速度)使用，或者切换为适合超分辨率介质1的再生速度。

此外，在上述说明中，例示了光信息记录介质11的介质识别信息中包含再生速度信息的情况下的处理，但也存在介质识别信息中不包含再生速度信息的情况。该情况下，在信号处理电路/控制部17中具备再生速度信息获取部(再生速度信息获取单元)(未图示)即可。由再生速度信息获取部获取的再生速度信息被输出给再生时钟控制部或者再生速度控制部，从而即使不具备介质识别部23也能实现适合于再生装置10中装入的光信息记录介质11的再生时钟以及再生速度。

进而，优选信号处理电路/控制部17具备功率控制部(未图示)。

在具备上述功率控制部的情况下，功率控制部基于由介质识别部23获得的光信息记录介质11的识别结果，将从激光光源13射出的再生光的强度直接(即适合通常介质的再生光强度)使用，或者控制激光控制电路14而切换为适合超分辨率介质1的再生光的强度。

此外，在上述说明中，例示了光信息记录介质11的介质识别信息中包含再生光强度信息的情况下的处理，但也存在介质识别信息中不包含再生光强度信息的情况。该情况下，在信号处理电路/控制部17中具备再生光强度信息获取部(再生光强度信息获取单元)(未图示)即可。由再生光强度信息获取部获取的再生光强度信息被输出给功率控制部，从而即使不具备介质识别部23也能实现具有适合于再生装置10中装入的光信息记录介质11的强度的再生光的射出。

进而，优选信号处理电路/控制部17具备极性识别部(极性识别单元)(未图示)。

在具备上述极性识别部的情况下，信号处理部22对从光拾取器20送来的表示极性信息的电信号(极性识别信号)进行处理，并提供给极性识别部。极性识别部基于由信号处理部22提供的上述极性识别信号，进行光信息记录介质11的坑点的极性的识别。伺服处理电路18基于由极性识别部获得的光信息记录介质11的坑点的极性的识别结果来进行跟踪伺服。

进而，优选信号处理电路/控制部17具备区域位置信息辨识部(区域位置信息辨识单元)以及信息再生条件控制部(信息再生条件控制单元)。

在具备上述区域位置信息辨识部以及信息再生条件控制部的情况下，信号处理部22对从光拾取器20送来的表示数据区域位置信息的电信号(数据区域位置信号)进行处理，并提供给区域位置信息辨识部。区域位置信息辨识部基于由信号处理部22提供的上述数据区域位置信号，对光信息记录介质11的数据区域的位置进行辨识。信息再生条件控制部基于由区域位置信息辨识部获得的数据区域的位置的辨识结果，切换为适合数据区域的信息再生条件。即，信息再生条件控制部控制激光控制电路14以及/或者主轴电动机19而切换为适合超分辨率介质1的再生光的强度以及/或者再生速度。

<再生装置10的处理动作>

下面，对再生装置10的处理动作进行说明。

若再生装置10中装入了光信息记录介质11，则由信号处理电路/控制部17的访问位置控制部24来控制光拾取器用电动机21，使来自激光光源13的再生光以预先设定为再生初期用的通常介质用的再生光的强度，照射到作为光信息记录介质11的再生初期的访问位置的介质信息区域。并且，在介质信息区域中记录的表示光信息记录介质11是超分辨率介质还是通常介质的介质识别信息，即表示光信息记录介质11的数据区域是否为超分辨率形态的介质识别信息，经由检测器15而由信号处理电路/控制部17的信号处理部22进行处理，并且由介质识别部23进行光信息记录介质11的识别。

然后，访问数据区域2，数据区域2的内容经由检测器15以及信号处理部22而被再生为再生数据。

在此，对信号处理部22中的解码方式进行说明。在比CD以及/或者DVD更高密度地由1-7PP调制记录方式记录了信息的BD中，使用PRML(Partial Response MaximumLikelihood；局部响应最大似然)解码。此外，作为PRML的例子可列举BDXL(TM)中使用的PR(12221)ML等。

在数据区域2中记录的信息的调制记录方式例如为MFM(ModifiedFrequencyModulation；改进的频率调制)调制记录方式的情况下，通过1T、1.5T以及2T的坑点以及间隙来进行信息记录，因此为了使数据区域2的反射率与介质信息区域3的反射率大致相同而能够选择的坑点P1的形状的自由度受到限制，有可能无法确保良好的再生信号质量。然而，若为通过1-7PP调制记录方式记录了信息的光信息记录介质，则通过2T至8T的坑点以及间隙来进行信息记录。进而，根据以对再生信号质量的影响小的8T间隙为主的长度来决定反射光量。因此，在超分辨率介质1的信息记录中在采用了1-7PP调制记录方式的情况下，能够提高可选择的坑点P1的形状的自由度，能够使得超分辨率介质1的生产容易。

而且，在本实施方式中，作为信号处理部22的解码方式而采用了PR(12221)ML方式。即，在本实施方式的再生方法中，将通过向数据区域2照射再生光而获得的再生数据等的再生信号波形利用PR(12221)ML方式来解码。由此，再生装置10能够应对可选择的坑点P1的形状的自由度高的超分辨率介质1，并且能够确保良好的再生信号质量且可靠性高地对信息进行再生。

此外，作为信号处理部22的解码方式，不限定于上述PR(12221)ML方式，只要是能够对超分辨率介质1中以给定的调制方式记录的信息进行解码的解码方式即可，也可以是2值检测方式或者PR(1221)ML方式等解码方式。

(再生装置10的处理动作的另一例)

另外，对上述信号处理电路/控制部17具备上述再生时钟控制部、上述功率控制部、上述极性识别部、上述区域位置信息辨识部以及上述信息再生条件控制部的情况下的再生装置10的处理动作的另一例进行说明。以下，主要说明与上述再生装置10的处理动作不同的点。

首先，由介质识别部23进行光信息记录介质11的识别，在光信息记录介质11的识别结果为通常介质的情况下，不切换再生光的强度以及再生时钟来访问通常介质的数据区域。另一方面，在由介质识别部23获得的识别结果为超分辨率介质1的情况下，功率控制部基于上述识别结果来控制激光控制电路14，能够调整为预先设定的适合超分辨率介质1的再生光的强度。在进行该调整的同时，再生时钟控制部能够基于上述识别结果，将再生时钟变更为预先设定的超分辨率介质1用的再生时钟。

另外，在至少作为跟踪伺服的方法而利用了PP法或者DPP法等的情况下，超分辨率介质1的介质信息区域3中记录的表示坑点P1、P2是凹入坑点形式还是凸出坑点形式的坑点极性信息被再生。表示该坑点极性信息的坑点极性信号经由检测器15而被送到信号处理部22，由信号处理部22进行处理之后，通过极性识别部进行坑点P1、P2的极性的识别。伺服处理电路18基于由极性识别部获得的坑点P1、P2的极性的识别结果，选择适合超分辨率介质1的跟踪伺服的伺服处理。

接着，介质信息区域3中记录的表示数据区域2的位置的数据区域位置信息被再生。表示该数据区域位置信息的数据区域位置信号经由检测器15而被送到信号处理部22，由信号处理部22进行处理之后，由区域位置信息辨识部进行数据区域2的位置的辨识。

然后，数据区域2被以超分辨率介质1用的再生光强度访问，并且基于由区域位置信息辨识部获得的数据区域2的位置的辨识结果，信息再生条件控制部切换为适合数据区域2的信息再生条件。即，信息再生条件控制部控制激光控制电路14或者/以及主轴电动机19，切换为适合数据区域2的再生光强度或者/以及再生速度。并且，数据区域2的内容经由检测器15以及信号处理部22而被再生为再生数据。

此外，在上述说明中，例示了光信息记录介质11的介质识别信息中包含再生速度信息以及再生光强度信息的情况下的处理，但也存在介质识别信息中不包含再生速度信息的情况。该情况下，只要在上述信号处理电路/控制部17中具备再生速度信息获取部即可。并且，在由介质识别部23获得的识别结果为超分辨率介质1的情况下，表示再生速度信息的再生信号经由检测器15以及信号处理部22而从再生速度信息获取部被送到再生时钟控制部或者再生速度控制部，从而基于上述再生信号来将再生时钟变更为预先设定的超分辨率介质1用的再生时钟即可。

另外，还存在介质识别信息中不包含再生光强度信息的情况。该情况下，在上述信号处理电路/控制部17中具备再生光强度获取部即可。并且，在由介质识别部23获得的识别结果为超分辨率介质1的情况下，表示再生光强度信息的再生信号经由检测器15以及信号处理部22而从再生光强度信息获取部被送到功率控制部，由激光控制电路14进行控制，从而基于上述再生信号来调整为预先设定的适合超分辨率介质1的再生光强度即可。

如上所述，由于超分辨率介质1具备如上述那样的构成，因此再生装置10能够以通常介质用的低再生光的强度来容易且准确地进行所装入的光信息记录介质是否为超分辨率介质1的识别。由此，再生装置10能够使超分辨率介质1和通常介质中的任一种介质进行再生。另外，由于能够以通常介质用的低再生光的强度来进行上述识别，因此能够抑制再生装置10的耗电，进而不会因超分辨率介质1用的再生光的强度而破坏通常介质。

另外，再生装置10在对超分辨率介质1的各信息进行再生的情况下，能够将从数据区域2获得的反射率和从介质信息区域3获得的反射率按相同来处理。因此，再生装置10在进行上述连续再生时，对于一个区域的再生控制当中能够在另一个区域中进行维持的控制无需进行再次的控制，能够按该方式进行另一个区域的信息再生。

<进行各种处理的理由>

(再生时钟的切换理由)

在此，关于优选再生装置10根据超分辨率介质1和通常介质来切换再生时钟的理由，以利用通常介质用的再生时钟以及超分辨率介质1用的再生时钟使再生专用的通常介质进行再生的情况为例，利用图19(a)以及(b)来进行说明。

此外，上述通常介质通过1-7PP调制方式记录有各信息。即，以通道比特的长度T为基准，在基板上设置了从最短坑点2T至最长坑点8T的长度的坑点。另外，关于光信息记录介质的再生，通过向基板上设置的坑点照射再生光，并将根据其反射光而获得的输出信号以再生时钟进行采样所得到的结果进行PRML解码来再生信号。图19(a)表示了使上述通常介质以上述通常介质用的再生时钟进行采样并进行了PRML解码的情形，输出信号对应于位于该图下侧的坑点。图19(b)表示了使上述通常介质以超分辨率介质1用的再生时钟进行采样并进行了PRML解码的情形，输出信号对应于位于该图下侧的坑点。

说明上述通常介质以超分辨率介质1用的再生时钟进行再生的情况。此外，超分辨率介质1设为上述通常介质的2倍的线密度。因此，超分辨率介质1用的再生时钟宽度为上述通常介质用的再生时钟宽度的一半。

若以如上述那样的超分辨率介质1用的再生时钟使通常介质进行再生，则如图19(b)所示，PRML解码后的信号成为“1·1·1·1·0·0·0·0·1·1·1·1·1·1·1·1”。因此，为了设为与图19(a)所示的通常介质的再生时同样的状态，需要将“1·1·1·1”的信号作为2T坑点来处理、将“1·1·1·1·1·1·1·1”的信号作为4T坑点来处理，电路会复杂化。因此，为了使通常介质和超分辨率介质1分别以最佳的状态进行再生，优选在各自的情况下变更再生时钟。并且，根据以上说明，优选再生装置10根据超分辨率介质1和通常介质来切换再生时钟。

另外，上述再生时钟切换信息由长度比再生装置10所具有的光学系统分辨率限度的长度长的坑点P2来记录。因此，能够以通常介质用的再生时钟进行再生，无需进行无谓的再生时钟的切换。

另外，在再生装置10中根据通常介质和超分辨率介质1而切换了再生时钟的情况下，基准振荡器成为2台等电路负担会增大。因此，也可取代切换再生时钟而切换再生速度。

例如，在超分辨率介质1为通常介质的2倍的线密度的情况下，若切换再生速度而使该速度为一半，则再生的信号被传输的速度变为与通常介质的情况相同，因此即使不切换再生时钟，也不会产生如上述的再生的可靠性下降等问题。因此，可以采用取代切换再生时钟而切换再生速度的构成。

此外，在切换再生速度的构成的情况下，与切换再生时钟的构成相比，能够降低电路负担，但超分辨率介质1的传输速度与通常介质相比没有变化。反之，在切换再生时钟的构成的情况下，能够加快超分辨率介质1的信息的传输速度。

(再生光强度的切换理由)

在此，说明优选再生装置10根据超分辨率介质1和通常介质来切换再生光强度的理由。在能够通过热量来进行超分辨率再生的情况下，若再生光强度过低则热量不足而无法进行超分辨率再生，因此需要以高于通常介质用的再生光强度的强度来对超分辨率介质1的至少数据区域2中记录的信息进行再生。另一方面，通过使通常介质以通常介质用的再生光强度进行再生，从而能够阻止通常介质的劣化加快的可能性。另外，上述再生光强度信息由长度比再生装置10所具有的光学系统分辨率限度的长度长的坑点P2来记录。因此，在超分辨率介质1中，能够以通常介质用的再生光强度来对再生光强度信息进行再生，因此无需进行无谓的再生时钟的切换。

(坑点极性的识别理由)

另外，说明优选再生装置10对坑点P1、P2的极性进行识别的理由。在再生装置10例如利用PP法或DPP法等来进行跟踪伺服的情况下，根据坑点P1、P2的极性而跟踪误差信号的正负不同。因此，在不进行坑点P1、P2的极性的识别的情况下，无法直接判别下述情况：再生光的照射位置为在轨状态时的跟踪误差信号，是与距超分辨率介质1的中心的距离有关的跟踪误差信号的一次微分的值为正的跟踪误差信号的振幅中心，还是为负的跟踪误差信号的振幅中心。因此，该情况下，例如需要确认有无因坑点P1、P2的存在而引起的反射光量的变动来确认是否处于在轨状态。

另一方面，再生装置10基于超分辨率介质1中记录的坑点极性信息来进行坑点P1、P2的极性的识别，从而能够迅速地对超分辨率介质1进行跟踪伺服。进而，能够提高跟踪伺服的方法的自由度，从而能够使再生装置10的生产容易。

(数据区域2的位置辨识理由)

另外，说明优选再生装置10对数据区域2的位置进行辨识的理由。在能够通过热量来进行超分辨率再生的情况下，若为了以良好的质量来再生例如介质信息区域3中记录的信息，并且降低对光拾取器20施加的负荷，使数据区域2与介质信息区域3的再生速度以及再生光强度和能够再生介质信息区域3中记录的信息的再生速度的上限值以及再生光强度的下限值相同，则在记录密度高的数据区域2中超分辨率再生所需的热量不足，有可能无法进行超分辨率再生。因此，在进行数据区域2的再生时，通过使再生速度变慢或者提高再生光强度，从而在数据区域2中也能以良好的质量来再生所记录的信息，并且能够降低对光拾取器20施加的负荷。

因此，通过对数据区域2的位置进行辨识，能够切换为考虑了分别针对数据区域2和介质信息区域3而容许的再生速度的上限值以及再生光强度的下限值的再生条件，从而能够以良好的质量来分别再生数据区域2和介质信息区域3中记录的信息，并且能够降低对光拾取器20施加的负荷。

〔基于软件的实现例〕

再生装置10的控制块(特别是信号处理电路/控制部17)可以由形成于集成电路(IC芯片)等的逻辑电路(硬件)来实现，也可以利用CPU(Central Processing Unit；中央处理单元)而由软件来实现。

在后者的情况下，再生装置10具备：执行作为实现各功能的软件的程序的命令的CPU；以由计算机(或者CPU)可读取的方式记录了上述程序以及各种数据的ROM(Read OnlyMemory；只读存储器)或者存储装置(将这些称为“记录介质”)；和将上述程序展开的RAM(Random Access Memory；随机存取存储器)等。并且，通过计算机(或者CPU)从上述记录介质中读取上述程序来执行，能够实现本发明的目的。作为上述记录介质，可使用“非暂时性的有形介质”，例如带、盘、卡、半导体存储器、可编程逻辑电路等。另外，上述程序也可经由能够传送该程序的任意的传送介质(通信网络、广播波等)而提供给上述计算机。此外，本发明也能够以上述程序通过电子传送而被具体化的、嵌入于载波的数据信号的形态来实现。

〔总结〕

本发明的方式1所涉及的光信息记录介质(超分辨率介质1)具有被分配了通过第1坑点串而记录有信息的第1区域、和通过第2坑点串而记录有信息的第2区域的记录层，所述第1坑点串包含长度比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点，所述第2坑点串由具有上述光学系统分辨率限度的长度以上的长度的坑点构成，在将根据从上述第1坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从上述第2坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下，上述第1坑点串被形成为上述第1反射率与上述第2反射率大致相同。

根据上述构成，在第1区域中，通过包含长度比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点的第1坑点串而记录有信息。另外，在第2区域中，通过由具有光学系统分辨率限度的长度以上的长度的坑点构成的第2坑点串而记录有信息。

一般而言，根据最短坑点的长度而光信息记录介质中的信息的记录密度不同。另外，形成上述第1坑点串的坑点和形成上述第2坑点串的坑点的长度彼此不同。因此，第1区域以及第2区域中的信息的记录密度彼此不同。该情况下，在第1反射率与第2反射率之间，会产生再生装置无法将这些反射率视为大致相同的差异，该差异有可能对信息的再生产生影响。

在本发明的一方式所涉及的光信息记录介质中，第1坑点串被形成为第1反射率与第2反射率大致相同。

因此，在进行各区域间的连续再生时，能够降低由于第1反射率以及第2反射率并非彼此大致相同而产生的可能性、例如再生光在光信息记录介质上形成的照射区域的大小变化等的可能性。因此，在进行上述连续再生时，无需进行再次的聚焦控制，能够迅速且可靠地进行信息的再生。

即，在进行上述连续再生时，对于一个区域的再生控制当中能够在另一个区域中进行维持的控制无需进行再次的控制，能够按该方式进行另一个区域的信息再生，从而能够提高信息的再生质量。

另外，在第2区域中，形成了由再生装置所具有的光学系统分辨率限度以上的长度的坑点构成的第2坑点串。因此，能够以适合通常介质的信息再生的再生光的强度来再生在第2区域中记录的信息。此外，作为该信息，例如可列举介质识别信息、再生速度信息、介质固有编号等各种信息(与超分辨率介质有关的信息)。

此外，“上述第1反射率与上述第2反射率大致相同”也可以说成是，无需相对于光信息记录介质(超分辨率介质1)或者再生装置而在第1区域以及第2区域设置彼此不同的反射率的规定，再生装置能够将上述两个反射率按相同来处理的程度的大小。

进而，本发明的方式2所涉及的光信息记录介质在方式1中，在将形成上述第1坑点串的多个坑点之间形成的多个第1间隙(间隙S1)当中最长的第1间隙设为最长第1间隙(最长间隙S1max)、将形成上述第2坑点串的多个坑点之间形成的多个第2间隙(间隙S2)当中最长的第2间隙设为最长第2间隙(最长间隙S2max)时，优选上述第1坑点串被形成为上述最长第1间隙处的反射率与上述最长第2间隙处的反射率大致相同。

根据上述构成，在第1区域形成有上述第1坑点串，使得第1最长间隙处的反射率与最长第2间隙处的反射率大致相同。因此，在进行上述连续再生时也能迅速且可靠地进行信息再生。

进而，本发明的方式3所涉及的光信息记录介质在方式2中，优选上述最长第1间隙的长度为上述再生装置所射出的再生光在上述光信息记录介质上形成的照射区域的直径以上。

根据上述构成，由于最长第1间隙的长度为再生光在光信息记录介质上形成的照射区域的直径以上，因此在向最长第1间隙照射了再生光时，该再生光不会照射到在与最长第1间隙相同的轨道上存在的形成第1坑点串的坑点。因此，第1反射率成为仅基于最长第1间隙的反射率。

另一方面，在第2区域中，由于最长第2间隙的长度大于上述再生光的照射区域的直径，因此第2反射率成为仅基于最长第2间隙的反射率。

因此，通过如上述那样形成坑点，能够使再生装置将第1反射率按与第2反射率大致相同的值来处理。

进而，本发明的方式4所涉及的光信息记录介质，由再生光的波长(λ)为405nm、物镜的数值孔径(NA)为0.85的再生装置使该光信息记录介质进行再生，该光信息记录介质具有被分配了通过第1坑点串而记录有信息的第1区域、和通过第2坑点串而记录有信息的第2区域的记录层，所述第1坑点串包含长度比119nm短的坑点，所述第2坑点串由具有119nm以上的长度的坑点构成，在将根据从上述第1坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从上述第2坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下，上述第1坑点串被形成为上述第1反射率与上述第2反射率大致相同。

根据上述构成，除了方式1中的效果之外，通过变更再生光的强度等，能够在第1区域中进行基于超分辨率技术的再生，在第2区域中进行基于非超分辨率技术的再生。

进而，本发明的方式5所涉及的光信息记录介质在方式1至4的任一方式中，优选上述第1坑点串利用1-7PP调制记录方式而被形成。

根据上述构成，与利用同一长度的坑点记录了信息的情况相比，能够增大信息的记录密度。另外，能够获得良好的信号质量。

进而，本发明的方式6所涉及的光信息记录介质在方式1至5的任一方式中，优选在上述第2区域中包含用于确定介质的种类的介质识别信息。

根据上述构成，能够以适合通常介质的信息再生的再生光的强度来再生介质识别信息。因此，能够利用适合通常介质的信息再生的再生光的强度而将上述光信息记录介质识别为超分辨率介质。

另外，本发明的方式7所涉及的光信息记录介质的再生方法是方式5的光信息记录介质的再生方法，优选将通过向上述第1区域照射再生光而获得的再生信号波形以PR(12221)ML方式进行解码。

根据上述构成，能够进行对应于形成上述第1区域中的第1坑点串的坑点的形状的自由度高的光信息记录介质、即生产容易的光信息记录介质的再生，并且能够确保良好的再生信号质量且可靠性高地对信息进行再生。

进而，本发明的方式8所涉及的光信息记录介质的再生装置是能够使方式5的光信息记录介质进行再生的光信息记录介质的再生装置，优选具备：再生光照射单元，其向上述光信息记录介质照射再生光；和信号处理单元，其将通过上述再生光照射单元向上述第1区域照射上述再生光而获得的再生信号波形以PR(12221)ML方式进行解码。

根据上述构成，再生装置能够对应于形成上述第1区域中的第1坑点串的坑点的形状的自由度高的光信息记录介质、即生产容易的光信息记录介质，并且能够确保良好的再生信号质量且可靠性高地对信息进行再生。

本发明并不限定于上述各实施方式，能够在权利要求所示的范围内进行各种变更，关于将在不同实施方式中分别公开的技术手段适当组合而获得的实施方式也包含于本发明的技术范围。进而，通过对在各实施方式中分别公开的技术手段进行组合而能够形成新的技术特征。

产业上的利用可能性

本发明所涉及的光信息记录介质(超分辨率介质)适合于光学读取式的盘、磁光盘、相变型盘等各种光盘，但也可应用于磁盘等具有长度比光学系统分辨率限度的长度短的记录标记的信息记录介质中。另外，本发明所涉及的再生方法以及再生装置能够应用于使本发明所涉及的光信息记录介质进行再生的方法以及装置中。

符号说明

1 超分辨率介质(光信息记录介质)

2 数据区域(第1区域)

3 介质信息区域(第2区域)

5 功能层

10 再生装置

17 信号处理电路/控制部(信号处理单元)

20 光拾取器(再生光照射单元)

P1 坑点(第1坑点串的坑点)

P2 坑点(第2坑点串的坑点)

P1max 最长坑点

P2max 最长坑点

S1max 最长间隙

S2max 最长间隙

L 再生光

λ 波长

NA 数值孔径

Claims (3)

1.一种光信息记录介质，具有被分配了通过第1坑点串而记录有信息的第1区域、和通过第2坑点串而记录有信息的第2区域的记录层，所述第1坑点串包含长度比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点，所述第2坑点串由具有上述光学系统分辨率限度的长度以上的长度的坑点构成，

所述光信息记录介质的特征在于，

在将根据从上述第1坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从上述第2坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下，

上述第1坑点串以与上述第2坑点串的形成条件不同的形成条件被形成，使得上述第1反射率与上述第2反射率大致相同，

在上述第2区域记录有用于识别坑点的极性的极性信息。

2.一种光信息记录介质，由再生光的波长为405nm、物镜的数值孔径为0.85的再生装置使该光信息记录介质进行再生，该光信息记录介质具有被分配了通过第1坑点串而记录有信息的第1区域、和通过第2坑点串而记录有信息的第2区域的记录层，所述第1坑点串包含长度比119nm短的坑点，所述第2坑点串由具有119nm以上的长度的坑点构成，

所述光信息记录介质的特征在于，

在将根据从上述第1坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从上述第2坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下，

上述第1坑点串以与上述第2坑点串的形成条件不同的形成条件被形成，使得上述第1反射率与上述第2反射率大致相同，

在上述第2区域记录有用于识别坑点的极性的极性信息。

3.一种光信息记录介质的再生方法，是权利要求1或2所述的光信息记录介质的再生方法，其特征在于，

基于通过向上述第2区域照射再生光而获得的极性信息，来进行跟踪。