JP5057925B2 - デジタル情報再生方法 - Google Patents
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Description
図12は,シミュレーションに用いた記録データパターンの詳細を示すものである。これは17PP変調に従う64kB分のユーザデータに相当する。以下,光ディスク上に物理的に形成された記録マークあるいはピットをデジタル値“1”で表すものとし,スペース部はデジタル値“0”で表すものとする。図は,記録マークの前後のエッジに対するパターンごとにデータ中に含まれる個数をまとめたものである。記録マークの前エッジに関しては,記録マーク長をmとし,先行するスペース長をsとして表し,mとsが2T,3T,4T,及び5T以上の場合の16ケースについて示したものである。記録マークの後エッジに関しても同様に,記録マーク長をmとし,後続するスペース長をsとする16ケースについて示しており,全てのエッジを表すことができる。
図16は,本発明のパリティ検査符号の設定方法とそのパターンを示す実施例の説明図である。最短ラン長は2Tを仮定している。ここでは,ディスク上に形成するビット列をLビット単位にブロック分割し,それぞれにPビットのパリティ検査符号を付加する。最も簡素な方法は,パリティ符号に使う情報として,対応するLビットのデータ中に含まれる“1”の数(Check Sum)を使う方法である。図16(c)に示すように,パリティ符号として4ビットのビット列を用い,Check Sumが偶奇の場合に対応して“X00Y”と“X11Y”を用いることができる。ここでビット“X”,“Y”はそれぞれ“1”か“0”の値をとり,“X”は先行するデータブロックの最後のデジタル値,“Y”は後続するデータブロックの最初のデジタル値である。こうすることによって,パリティ検査符号と前後のデータブロックを含めて最短ラン長2Tの制限を満たすようにできる。なお,最短ラン長が3Tの符号に従わせるには,同様にしてパリティ検査符号として,“X000Y”と“X111Y”を用いればよい。本実施例では最も簡素なケースとしてCheck Sumを用いた場合を示したが,非特許文献2に示されるようにパリティ検査符号が表すデータとしては,例えば生成多項式g(x)=1+x+x2+x4を用いる4ビットデータを用いることもできる。これらの詳細については記述しないが,これは光ディスクのフォーマットに用いられるエラー検査符号(EDC)の技術と同様であり,関連する技術分野の技術者ならば生成方法や検査方法等について熟知しているはずである。
図18は,本発明のデジタル情報の再生方法によるビットエラー率の低減効果を示す計算結果である。ここでは,図16に示したデータブロックとパリティ検査符号の構成を用い,データブロックの単位を L=69ビットとし,P=4ビットのパリティ検査符号を付加した。計算条件は上と同じとし,PR(1,2,1)クラスについてNRCT値とビットエラー率の関係を調べた。パリティ検査と訂正の手法は前述のとおりである。本発明の手法によって,NRCT値に対して約1.8dBのゲインが得られることが判った。
101 光スポット
110 光ヘッド
111 対物レンズ
112 半導体レーザ
113 光検出器
114 レーザ光
115 反射光
116 レーザドライバ
120 レーザパワー/パルス制御器
130 再生信号処理器
140 CPU
160 スピンドルモータ
Claims (1)
- 長さLの情報ビットと長さPのパリティ検査ビットの組が交互に配置され,前記情報ビットと前記パリティ検査ビットは共にラン長制限符号規則に沿ったものであり,前記パリティ検査ビットは対応する前記情報ビットに予め定められた演算処理を施して得られた検査情報を表しているデジタル情報の再生方法であって,
情報の再生時に,前記情報ビットに前記演算処理を施して得られた結果と,前記パリティ検査ビットの検査情報を照合する工程と,
前記照合の結果,両者が不整合であるとき,前記情報ビットの中から,最も誤り確率の高いビットパターンを抽出し,これを修正する工程とを有し,
前記修正するビットパターンは前記情報ビットの中の“1”と“0”の切り替わり部,即ちエッジ部であり,
前記最も誤り確率の高いビットパターンの抽出は,
前記情報ビットの中からエッジ部を抽出する工程,
前記エッジ部の前後の“0”の連続数と“1”の連続数からビットパターンを判別する工程,
前記エッジ部のエッジシフト相当量を計測する工程,
前記ビットパターンを予め定められた登録ビットパターンと照合する工程,
前記照合の結果,前記ビットパターンが前記登録ビットパターンに一致する場合に,前記エッジシフト相当量の符号が,前記登録ビットパターンごとに定められた登録エッジシフト符号と一致するか否か判定する工程,
前記判定の結果,前記ビットパターンのエッジシフト相当量の符号が,前記登録エッジシフト符号と一致する場合に,ビットパターンの位置とエッジシフト相当量の絶対値を保持することによって,前記情報ビットの中から登録ビットパターンと登録エッジシフト符号の中から最も前記エッジシフト相当量の絶対値の大きなビットパターンの位置を抽出する工程
を経て行われ、
前記ラン長制限符号規則から最短ラン長が2T(Tは検出窓幅)であり,
Xを前記パリティ検査ビットに先行する情報ビットの最後のビット値と等しいデジタル値,Yを前記パリティ検査ビットに後続する情報ビットの最初のビット値と等しいデジタル値とするとき,前記パリティ検査ビットは,当該パリティ検査ビットに先行する情報ビットに含まれる“1”の数の偶奇情報に対応して,“X00Y”又は“X11Y”を用いる
ことを特徴とするデジタル情報再生方法。
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