CN102203857B - 光记录方法、光记录装置以及原盘曝光装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种光盘记录方法等，能精密地补偿对光盘介质进行记录或再现时的热干扰和光学符号间干扰。在光记录方法中，通过以多个等级的功率切换激光，将调制之后的记录脉冲列照射在光盘介质上，从而在光盘介质上形成多个标记，利用各标记以及相邻2个标记之间的间隔的边沿位置来记录信息。光记录方法包括：对记录数据进行编码从而制作标记以及间隔的组合即编码数据的步骤；根据标记的标记长度、标记前面的第1间隔的间隔长度以及标记后面的第2间隔的间隔长度的组合，来对编码数据进行分类的步骤；根据分类结果，生成使记录脉冲列的始端边沿位置、终端边沿位置以及脉冲宽度之中的至少一个改变的记录脉冲列的步骤，该记录脉冲列用于形成标记；以及对光盘介质照射所生成的记录脉冲列，在光盘介质上形成多个标记的步骤。

Description

光记录方法、光记录装置以及原盘曝光装置

技术领域

本发明涉及利用PRML等最大似然译码的光记录方法、光记录装置、原盘曝光装置、光信息记录介质及再现方法。更加具体而言，本发明涉及的技术是，为了降低在记录或再现比光束点径充分小的标记或凹坑(pit)时产生的光学符号间干扰或者热干扰，至少根据所关注标记的前面及后面的间隔的间隔长度进行适应记录补偿，以最合适的记录条件进行写入。本发明还涉及如下技术，除了所关注标记的前面及后面标记的间隔的间隔长度以外，还根据该间隔的更前面及更后面的标记的标记长度来进行适应记录补偿，从而以最合适的记录条件进行写入。 

在本说明书中，以某位置为起点，将由于光信息记录介质(光盘介质)的旋转光束点在光盘介质上行进的方向称为该位置的“后面”，以该位置为起点将其相反方向称为“前面”。 

背景技术

以往，作为光盘介质存在BD-R、BD-RE、DVD-RAM、DVD-R、DVD-RW、CD-RW规格等，存在对基于这些规格的光盘介质照射激光从而进行改写或补写的技术。 

作为光盘介质的一例，存在相变化型光盘介质。对相变化型光盘介质的信息记录通过如下方式进行，对光盘介质照射激光，由该注入能量使形成于记录膜面上的薄膜物质原子结合状态局部性地变化。通过照射激光，所照射的部分与其周边部的物理状态发生变化。具体而言，产生结晶或非结晶(amorphous)状态的反射率的差异。由于因物理状态的不同反射率发生变化，因此若照射其功率远低于记录时功率的激光来检测反射率的变化量，就能够进行信息的读取。 

这样，在相变化型光盘介质中，除了在记录层中将GeSbTe材料用作记录材料的改写型介质之外，还存在一次写入型(补写型)光盘介质。作为一次写入型光盘介质的记录材料的一例，专利文献1所公开的技术中，采用了含有Te-O-M(其中，M是从金属元素、半金属元素以及半导体元素中选择的至少一个元素)。所谓Te-O-M是指含有Te、O以及M的复合材料。成膜之后，在TeO2的矩阵中，同样地随机分散Te、Te-M以及M微粒子。当对这种记录材料形成的薄膜照射聚光的激光时，将引起膜的熔化，析出粒径较大的Te或Te-M的结晶。能够将此时的光学状态的不同作为信号进行检测，由此能进行只一次的写入，即所谓的一次写入型记录。 

此外，在由无机系材料形成的合金系的一次写入型光盘中，重叠了2个材料不同的薄膜。由激光对这些材料进行加热熔化，通过使二者混合而形成合金，从而形成记录标记。另外，周知一种一次写入型光盘介质，因激光照射导致的升温，有机色素系材料的有机色素进行热分解，通过降低热分解部分的折射率来记录信息。在该一次写入型光盘介质中，与未记录部分相比，视为光透过层的路线长度变短，以此为结果对于入射光而言，可视为再现专用CD等的凹凸的凹坑，从而进行信息记录。 

在对这种一次写入型光盘介质进行标记边沿记录的情况下，照射由被称为多脉冲的多个脉冲列构成的激光，使标记的物理状态发生变化，从而来记录信息。然后，通过检测反射率变化来读取信息。 

为了提高记录密度，一般考虑缩短所记录的标记、间隔的长度。但是，特别在记录标记之前的间隔长度变短时，会产生热干扰。该热干扰是指：记录标记的终端的热量在间隔部分传导，从而对下一个标记始端的温度上升带来影响；相反，记录的标记始端的热量将对前面标记的终端的冷却过程带来影响。此外，即便在轨道上形成正确长度的标记以及间隔，由于光点尺寸所决定的再现光学系统的频率特性的原因，存在再现时检测出的短的标记及间隔的边沿位置与理想值不同。一般将这种检测边沿与理想值之间的偏差称为符号间干扰。当标记及间隔的尺寸比光点小时，存在符号间干扰变得显著、再现时的抖动增大从而凹坑差错率增加的课题。 

在DVD以及BD这种的记录密度下，所记录的标记尺寸及标记间的间距的距离较小。其结果，为了形成标记而施加的激光的热量，不仅传达 至自身标记还在间隔传递而到达前后的标记，自身标记及前后的标记将发生变形。为了避免该情况，周知如下的技术：因自身标记长度与之前的间隔长度的关系，来改变用于形成标记的多脉冲的开头脉冲位置；或，因自身标记长度与之后的间隔长度的关系，来改变用于形成标记的多脉冲的最终脉冲位置。该技术是预先对记录标记的热干涉部分进行修正然后进行记录的技术。该记录脉冲位置的控制一般被称为适应型记录补偿。专利文献2公开了适应型记录补偿的方法。 

根据专利文献2公开的记录方法，首先在可写入的光盘介质中，针对标记长度与之前的间隔长度、或者标记长度与之后的间隔长度的多种可能组合，对它们分别确定记录脉冲的位置信息，记录脉冲标准条件被预先记录。记录装置从光盘介质读出该记录脉冲标准条件，对至此所设定的记录脉冲标准条件进行修正，求出最合适的记录脉冲条件。 

具体而言，利用处于该记录脉冲标准条件中的所有的标记长度和之前的间隔长度、或者标记长度和之后的间隔长度的组合所对应的位置信息，对光盘介质上的规定轨道进行第1次试写。然后，对第1次试写所记录的信息进行再现，根据再现信号检测第1抖动，对处于该记录脉冲标准条件中的所有的标记长度和间隔长度的组合所对应的位置信息，一律加上第1规定量的变化。之后，利用同样变化的位置信息，对光盘介质上的规定轨道进行第2次试写。然后，对第2次试写所记录的信息进行再现，根据再现信号检测第2抖动。最后，比较第1抖动与第2抖动，选择抖动较少一方的试写中采用的位置信息，求出记录脉冲条件。 

此外，在专利文献3、专利文献4以及专利文献5所公开的记录控制方法中，利用最大似然译码法而不是再现信号的抖动，预先根据再现信号波形估计信号图案(pattern)。然后，比较再现信号波形与估计信号波形，同时根据再现信号译码出具有最可靠的信号路径的解调数据。利用该方法，使信息的记录时的记录参数最佳，以便使进行最大似然译码时的差错发生概率最小。 

此外，由于近年来光盘介质的高密度化，记录标记长度接近于光学分辨率的界限，符号间干扰的增大以及SNR(Signal to Noise Ratio)的劣化变得更加显著。 

为了维持系统余量，通过将PRML设为高次，从而能够应对。例如非专利文献1公开了如下内容：在激光波长为405nm、物镜NA(Numerical Aperture)为0.85的光学系统中，在直径为12cm的蓝光光盘(BD)每一面的记录密度为25GB(Giga Byte)的情况下，通过采用PR(1、2、2、1)ML方式，能够确保系统余量。该文献公开中，若为了确保每一面超过25GB的记录容量(例如，30GB或33.4GB)，缩短标记长度而提高线密度，则在使用同一光学系统的情况下，需要采用PR(1、2、2、2、1)ML方式。 

此外，专利文献6、专利文献7以及专利文献8公开了如下的方法，对于每一面的记录密度为30GB至33.4GB的高记录密度光盘介质，根据基于PR(1、2、2、2、1)ML方式的复合化数据的质量，来调整记录脉冲波形，使各种记录参数最佳。 

专利文献1：特开2004-362748号公报 

专利文献2：特开2000-200418号公报 

专利文献3：特开2004-335079号公报 

专利文献4：特开2004-63024号公报 

专利文献5：特开2008-159231号公报 

专利文献6：特开2007-317334号公报 

专利文献7：特开2008-33981号公报 

专利文献8：美国专利申请公开第2008/0159104号说明书 

非专利文献1：图解蓝光光盘读本 欧姆公司 

但是，上述文献记载的技术中存在以下所示的各种问题。 

第1，如专利文献2记载那样的、在以限幅电平为基准判定再现信号的“0”以及“1”的电平判定方式中，再现比光点直径足够小的标记或凹坑时，再现信号的振幅变得极其小。这样，因为短标记和短间隔的再现信号集中在限幅电平附近，容易受到噪声和符号间干扰等的影响，在电平判定时频发判定错误。 

第2，若采用如专利文献3、4以及5记载那样的、采用再现性能高的高次PRML方式进行记录标记的边沿位置调整方法时，在记录密度为每面30GB至33.4GB这种高密度的记录中，无法以最大的SN比(SNR)的记录条件进行记录，将使光盘系统整体的记录再现余量减少。 

第3，在专利文献6、7以及8记载的记录补偿方法中，仅对所关注标记的标记长度和该标记之前的间隔的间隔长度的组合、或者所关注标记的标记长度和该标记之后的间隔的间隔长度的组合所对应的位置信息，进行记录脉冲调整，无法对应超过了根据标记尺寸和光电尺寸所决定的光学分辨率的标记长度。 

通过以上所说明，在以上各现有技术中，在超过光学分辨率的高密度记录时，都无法以足够的精度形成或读出标记，其结果将无法实现充分的记录面密度和可靠性。 

发明内容

本发明的目的在于，提供一种光记录方法以及光记录再现装置，能够对光盘介质进行记录和再现时，精密地补偿热干扰和光学符号间干扰。 

此外，本发明的目的特别在于：在以波长405nm、物镜的数值孔径NA(Numerical Aperture)为0.85的光学系统进行直径12cm的蓝光光盘(BD)每一面为30GB或33.4G这种的最短标记长度大概为0.124μm～0.111μm的高线密度记录的情况下，基于以PR(1，2，2，2，1)ML方式进行最大似然译码的再现信息，为了减少高密度记录时成为问题的光学符号间干扰或热干扰，通过根据前面或者/以及后面间隔长度和前面或者/以及后面标记长度，对所关注标记的记录脉冲条件进行适应补偿，从而形成高质量的记录标记，提高光盘介质的系统余量。 

根据本发明的光记录方法，通过以多个等级的功率切换激光，将调制之后的记录脉冲列照射于光盘介质，从而在所述光盘介质上形成多个标记，利用各标记以及相邻的2个标记之间的间隔的边沿位置记录信息，所述光记录方法包括：对记录数据进行编码，制作作为标记以及间隔的组合的编码数据的步骤；根据所述标记的标记长度、所述标记前面的第1间隔的间隔长度以及所述标记后面的第2间隔的间隔长度的组合，对编码数据进行分类的步骤；根据所述分类结果，生成使记录脉冲列的始端边沿位置、终端边沿位置以及脉冲宽度之中的至少一个改变的所述记录脉冲列的步骤，所述记录脉冲列用于形成所述标记；和将所生成的所述记录脉冲列照射于光盘介质，从而在所述光盘介质上形成多个所述标记的步骤。 

在进行分类的所述步骤中，可以根据最短标记的标记长度、所述第1间隔的间隔长度以及所述第2间隔的间隔长度的组合，对所述编码数据进行分类。 

将最短间隔长度设为n时，在进行分类的所述步骤中，可以根据所述标记的标记长度、所述第1间隔的间隔长度是n还是n+1以上、或者所述第2间隔的间隔长度是n还是n+1以上的组合，来对所述编码数据进行分类。 

在对所述标记的标记长度、所述第1间隔的间隔长度以及所述第2间隔的间隔长度进行组合时，在进行分类的所述步骤中，可以将所述第1间隔分类至根据间隔长度预先规定的M个种类的其中一个，其中的M为1以上的整数，将所述第2间隔分类至根据间隔长度预先规定的N个种类的其中一个，其中的N为1以上的整数且M≠N。 

在将最短间隔长度设为n时，在进行分类的所述步骤中，可以根据间隔长度，将所述第1间隔分类为n、n+1、n+2、n+3以上的4个种类，将所述第2间隔分类为n以及n+1以上的2个种类，从而对所述编码数据进行分类，在进行生成的所述步骤中，根据所述分类结果，改变所述记录脉冲列的始端边沿位置。 

在将最短间隔长度设为n时，在进行分类的所述步骤中，可以根据间隔长度，将所述第1间隔分类为n以及n+1以上的2个种类，将所述第2间隔分类为n、n+1、n+2、n+3以上的4个种类，从而对所述编码数据进行分类，在进行生成的所述步骤中，根据所述分类结果，改变所述记录脉冲列的终端边沿位置。 

在将最短间隔长度设为n时，在进行分类的所述步骤中，可以根据间隔长度，将所述第1间隔分类为n、n+1、n+2、n+3以上的4个种类，将所述第2间隔分类为n以及n+1以上的2个种类，从而对所述编码数据进行分类，在进行生成的所述步骤中，根据所述分类结果，改变所述记录脉冲列的脉冲宽度。 

在所述标记的标记长度比最短标记长度长时，在进行分类的所述步骤中，可以根据所述标记长度和所述第1间隔长度的组合、以及所述标记长度与所述第2间隔长度的组合之中的至少其中一方，来对所述编码数据进 行分类。 

所述光记录方法还可以包括：从所述光盘介质生成模拟信号，从所述模拟信号生成数字信号的步骤；对所述数字信号的波形进行整形的步骤；通过PRML方式对整形之后的所述数字信号进行最大似然译码的步骤，其中的PRML方式是Partial Response Maximum Likelihood(部分响应最大似然)方式；生成表示最大似然译码结果的二值化信号的步骤；和基于整形之后的所述数字信号和所述二值化信号，检测整形之后的所述数字信号波形的偏移量的步骤。在生成记录脉冲列的所述步骤中，根据所述偏移量的检测结果，改变用于形成多个所述标记的记录脉冲列的所述始端边沿位置、所述终端边沿位置以及脉冲宽度之中的至少一个。 

在进行检测的所述步骤中，可以比较所述编码数据和所述二值化信号，从而检测所述数字信号波形的偏移量；在生成记录脉冲列的所述步骤中，改变所述记录脉冲列的所述始端边沿位置、所述终端边沿位置、以及脉冲宽度之中的至少一个。 

在生成记录脉冲列的所述步骤中，可以根据所述分类结果，改变所述记录脉冲列的、从始端起第1个至第3个以及从终端起第1个至第3个的脉冲边沿之中的至少一个脉冲边沿的位置，来生成所述记录脉冲列。 

在将所述激光的波长设为λ，将物镜的数值孔径设为NA，将最短标记长度设为ML时，优选满足：ML＜λ/NA×0.26。 

优选所述最短标记长度ML为0.128μm以下。 

优选所述激光的波长λ在400nm至410nm的范围内，所述NA在0.84至0.86的范围内。 

根据本发明的光记录装置，通过以多个等级的功率切换激光，将调制之后的记录脉冲列照射于光盘介质，从而在所述光盘介质上形成多个标记，利用各标记以及相邻的2个标记之间的间隔的边沿位置记录信息，所述光记录装置具备：编码部，对记录数据进行编码，制作作为标记以及间隔的组合的编码数据；分类部，根据所述标记的标记长度、所述标记前面的第1间隔的间隔长度以及所述标记后面的第2间隔的间隔长度的组合，对编码数据进行分类；记录波形发生部，根据所述分类结果，生成使记录脉冲列的始端边沿位置、终端边沿位置以及脉冲宽度之中的至少一个改变 的所述记录脉冲列，所述记录脉冲列用于形成所述标记；和激光驱动部，将所生成的所述记录脉冲列照射于光盘介质，从而在所述光盘介质上形成多个所述标记。 

所述光记录装置还可以具有：PRML处理部，接受根据从光盘介质再现得到的模拟信号所生成的数字信号，对所述数字信号波形进行整形，通过PRML方式对所述整形之后的数字信号进行最大似然译码，其中PRML方式是Partial Response Maximum Likelihood方式；偏移检测部，基于整形之后的所述数字信号和所述二值化信号，检测整形之后的所述数字信号波形的偏移量，记录补偿部，根据所述偏移量的检测结果，改变用于形成多个所述标记的记录脉冲列的所述始端边沿位置、所述终端边沿位置以及脉冲宽度之中的至少一个。 

根据本发明的原盘曝光装置，在涂布了光刻胶的原盘上，通过以多个等级的功率切换激光，将调制之后的记录脉冲列照射于光盘介质，从而在所述光盘介质上形成多个标记，利用各标记以及相邻的2个标记之间的间隔的边沿位置记录信息，所述原盘曝光装置具备：编码部，对记录数据进行编码，制作作为标记以及间隔的组合的编码数据；分类部，根据所述标记的标记长度、所述标记前面的第1间隔的间隔长度以及所述标记后面的第2间隔的间隔长度的组合，对编码数据进行分类；记录波形发生部，根据所述分类结果，生成使记录脉冲列的始端边沿位置、终端边沿位置以及脉冲宽度之中的至少一个改变的所述记录脉冲列，所述记录脉冲列用于形成所述标记；和激光驱动部，将所生成的所述记录脉冲列照射于光盘介质，从而在所述光盘介质上形成多个所述标记。 

本发明的光盘介质，通过上述光记录方法来记录信息，在所述光盘介质中，与所述分类相关的信息记录在规定区域。 

本发明的光盘介质制造方法，该光盘介质通过上述光记录方法来记录信息，该光盘介质制造方法包括：形成记录与所述分类相关的信息的规定区域的步骤。 

本发明的再现方法从通过上述记录方法记录所述标记的光盘介质再现信息，所述再现方法包括：对所述光盘介质照射激光来再现所述信息的步骤。 

如上所说明的那样，根据本发明的光记录方法，对于所记录的各标记，预先依据其标记长度和其前后的间隔长度或者/以及更加前后的标记长度来进行分类，按照上述分类结果，改变记录各标记的记录脉冲列的脉冲边沿位置，从而来控制记录脉冲信号。这样，能够精密控制在光盘介质的轨道上形成的标记的始端位置或后端位置。特别地，考虑了在线密度超过了由最短标记长度和光点直径决定的OTF(Optical Transfer Function)的边界的高密度记录时成为问题的光学符号间干扰或热干扰，从而能够严密地控制标记的始端位置和后端位置。由此，可实现记录/再现动作的高可靠性，能够实现高密度大容量的记录介质的同时，能够实现信息记录装置以及记录介质的小型化。 

更加具体而言，在使用激光波长405nm、物镜NA为0.85的光学系统，进行直径12cm的蓝光光盘(BD)每一面为30GB或33.4GB这种的最短标记长度大致为0.124μm～0.111μm的高线密度记录的情况下，基于以PR(1，2，2，2，1)ML方式再现得到的再现信息，设定记录再现装置的记录脉冲条件，通过补偿高密度记录时成为问题的符号间干扰或热干扰，从而形成高质量的记录标记，可提高光盘介质的系统余量。 

在考虑到对前后间隔的热影响的情况下，激光照射脉冲dTF1、dTF2等的前侧脉冲边沿，容易受到来自更靠近脉冲边沿侧的间隔即前面间隔的热影响。也就是说，根据前面间隔长度记录标记容易受到热干扰。在本发明的扩张型记录补偿方式中，在记录最短标记(2T)的情况下，根据前后间隔长度进行记录补偿。在改变dTF1、dTF2等的前侧脉冲边沿、或dTF1、dTF2之间的脉冲宽度TF2、或者dTE2、dTE3之间的脉冲宽度TE2的情况下，通过使前面间隔长度所对应的记录补偿分类数比后面间隔长度所对应的记录补偿分类数多，能够更有效地减少热干扰。此外，通过减少后面间隔长度的分类数，能够减少记录补偿表的分类总数，可简化LSI，此外可减少记录学习时的学习工序。 

同样，在考虑到对前后间隔的热影响的情况下，激光照射脉冲dTE1、dTE2等的后侧脉冲边沿，容易受到来自更靠近于脉冲边沿的间隔即后面间隔的热影响。也就是说，根据后面间隔长度记录标记容易受到热干扰。在本发明的扩张型记录补偿方式中，在记录最短标记(2T)的情况下，根据前后间隔长度进行记录补偿。在改变dTE1、dTE2等的后侧脉冲边沿的情况下，通过使后面间隔长度所对应的记录补偿分类数比前面间隔长度所对应的记录补偿分类数多，能够更有效地减少热干扰。此外，通过减少前面间隔长度的分类数，能够减少记录补偿表的分类总数，可简化LSI，此外可减少记录学习时的学习工序。

此外，通过将(紧挨着)所关注标记的前面间隔的间隔长度、以及(紧挨着)所关注标记的后面间隔的间隔长度分类为最短间隔长度(n)和比最短间隔长度长的间隔长度(n+1以上)的2种组合，能够更有效地减少热干扰。所关注标记的前面或后面的间隔为最短间隔长度(n)的间隔的情况下，由于所关注标记的前面或后面标记变得更近，因此容易受到来自前面或后面标记的热影响。因此，通过分类为最短间隔长度(n)和比最短间隔长度长的间隔长度(n+1以上)的2种组合，在最短间隔长度(n)的情况下和比最短间隔长度长的间隔长度(n+1以上)的情况下，使调整量不同，可在最短间隔长度(n)时进行更精密的调整，从而更有效地减少热干扰。 

附图说明

图1是说明本发明的实施方式中的光学信息记录再现装置的整体结构图。 

图2是说明本发明的实施方式中的光学信息记录介质的结构图。 

图3是表示本发明的实施方式中的与记录方法相关的时序图。 

图4是表示本发明的实施方式中的标记长度与记录脉冲列波形之间的关系的时序图。 

图5是表示本发明的实施方式中的标记长度与记录脉冲列波形之间的关系的其他时序图。 

图6是表示本发明的实施方式中的光学系统的OTF与空间频率的关系的图。 

图7是表示本发明的实施方式中的光点直径与记录标记的物理尺寸的关系的示意图。 

图8是表示本发明的实施方式中光记录方法的流程图。 

图9表示本发明的实施方式中记录脉冲列的控制例。 

图10表示本发明的实施方式中的记录脉冲条件的设定值的例子。 

图11表示本发明的实施方式中记录脉冲列的其他控制例。 

图12表示本发明的实施方式中的记录脉冲条件的设定值的例子。 

图13表示本发明的实施方式中的记录脉冲条件的设定值的例子。 

图14表示本发明的实施方式中由RLL(1，7)记录符号和等效方式PR(1，2，2，2，1)所决定的状态转移规则。 

图15表示本发明的实施方式中的状态转移规则所对应的格状图。 

图16表示本发明的实施方式中的表1所示的PR等效理想波形的一例。 

图17表示本发明的实施方式中的表2所示的PR等效理想波形的一例。 

图18表示本发明的实施方式中的表3所示的PR等效理想波形的一例。 

图19表示本发明的实施方式中的记录脉冲条件设定值的其他例。 

图20表示本发明的实施方式中表1所示的PR均衡理想波形的一例与记录标记的关系。 

图21表示本发明的实施方式中表2所示的PR均衡理想波形的一例与记录标记的关系。 

图22表示本发明的实施方式中表3所示的PR均衡理想波形的一例与记录标记的关系。 

图23表示本发明的实施方式中将差错位置与正解图形比较之后的一例结果。 

图24是表示本发明的实施方式中使光学信息记录介质的记录脉冲条件最佳化的步骤的流程图。 

图25是说明本发明的实施方式中的原盘曝光装置的整体结构图。 

图26表示3层光盘介质的叠层结构。 

图中： 

101-光盘介质 

102-光照射部 

103-前置放大器部 

105-波形均衡部 

108-PRML处理部 

109-边沿偏移检测部 

110-记录脉冲条件运算部 

111-记录图形发生部 

112-记录补偿部 

113-激光驱动部 

具体实施方式

以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。在本实施方式中，作为记录介质以一次写入式相变化型光盘介质(特别是BD-R(一次写入型蓝光光盘))为例进行说明。但是，这并不限定记录介质的种类。无论何种记录介质，只要是通过对记录介质注入能量从而形成与未记录部在物理性质上不同的标记或凹坑来记录信息的记录介质都可以。例如，该技术对于可改写型光盘介质(例如，BD-RE(可改写型蓝光光盘))也同样适用。此外，如制作在具有凹凸的凹坑的基板上形成反射膜的再现专用光盘时所使用的被称为PTM(Phase Transition Mastering)的原盘曝光装置，在对无机光刻胶(inorganic resist)进行热模式记录的情况下该技术也同样适用。 

本发明的记录方法中使用的主要光学条件以及光盘结构如下。 

激光：波长400nm至410nm范围内，例如波长405nm 

物镜：NA为0.84至0.86的范围内，例如NA＝0.85 

轨道间距0.32μm，激光入射侧的封面层厚度为50μm至110μm，光盘介质的最短标记长(2T)为0.111μm至0.124μm，例如为0.111μm。最短间隔也同样。 

被记录的调制数据的调制方法：17PP调制 

以上述的最短标记长度为0.111μm的线密度进行记录的情况下，直径12cm的光盘介质的每面上的记录容量大致为33.4GB。将此以3层进行叠层的情况下大致为100GB，叠层4层的情况下大致为134GB。以下，对最短标记长度为0.111μm的情况进行说明。严谨地说该数值为0.11175μ m，相对于作为BD最短标记长度的0.1490μm是其3/4。但是，本发明的内容并不限定于该数值。 

此外，以最短标记长度为0.116μm的线密度进行记录的情况下，直径为12cm的光盘介质每面的记录容量大致是32GB。将此叠层3层的话大致为96GB，叠层4层的话大致为128GB。 

在相同条件下，最短标记长度为0.124μm时的记录容量是30GB。将此叠层3层的话大致是90GB，叠层4层的话大致是120GB。 

记录时的速度例如设定为相对于信道速率132MHz(Tw＝7.58ns)的BD的2倍速度。 

图1是是对一例根据本发明的光记录再现装置的整体结构进行说明的图。光记录再现装置具有：光照射部102、前置放大器部103、波形均衡部105、PRML处理部108、边沿偏移检测部109、记录脉冲条件运算部110、记录图案发生部111、记录补偿部112、激光驱动部113。各结构部分所具有的功能，与后述的光记录再现装置的再现处理以及记录处理相关地进行说明。 

此外，尽管图1中记载了作为光信息记录介质的光盘介质101，但光盘介质101也可以不是光记录再现装置的构成要素。 

图2表示光盘介质101的数据构造。光盘介质101中从外周向内周设有：数据区1001、用于学习记录条件的记录条件学习区1002、处于记录条件学习区内周侧的初始值记录区1003。 

数据区1001是为了实际上用户对光盘介质保存数据而使用的区域。记录条件学习区1002是对用户区记录数据之前，为了在起动时或产生温度变动时调整记录功率和记录脉冲条件的变动部分，从而进行测试记录而使用的区域。初始值记录区1003是再现专用区域，记录着对每个盘片预先规定的记录功率的推荐值和记录脉冲条件的推荐值、记录线速度、盘片ID等信息。这些信息，被在以将轨道的蜿蜒走向等作为信息的记录单位而形成在盘片基体上的状态下。 

以下，对从光盘介质101的数据再现处理进行说明。 

光照射部102是搭载了对光盘介质101照射激光的激光二极管(LD)的光拾取器。 

光拾取器将从激光二极管射出的光束照射在光盘介质面上，对反射回来的光进行接受。所接受的光被光探测器转换为电信号并成为模拟再现信号。模拟再现信号由前置放大器部103、AGC部104、波形均衡部105、A/D转换部106从模拟信号转换为数字信号。数字信号由PLL(Phase Locked Loop)部107以时钟间隔进行采样。数字信号输入至PRML(Partial Response Maximum Likelihood)处理部108。在PRML处理部108的内部作为最大似然译码部例如存在Viterbi译码部，其对数字信号进行最大似然译码，生成表示最大似然译码结果的二值化信号。二值化信号输入至偏移检测部109。 

接下来，说明对光盘介质的数据记录处理。在记录(改写)动作时，图案发生部111将任意的符号序列作为NRZI(Non Return to Zero Inversion)信号输出。记录脉冲条件运算部110根据运算结果对记录补偿部112设定记录脉冲条件。激光驱动部113根据NRZI信号，通过转换为记录脉冲列的信号驱动光照射部102内的激光二极管，由激光的记录功率强弱在光盘介质的所希望位置记录数据。 

图3(a)～(f)是一例说明该光记录再现装置中的记录符号列的标记、间隔、以及记录这些的记录脉冲列发生动作的图。图3(a)表示作为记录动作的时间基准的基准时间信号1201的波形。基准时间信号1201是周期Tw的脉冲时钟。图3(b)表示由记录图案发生部111产生的记录符号列的NRZI(Non Return to Zero Inverted)信号。在此，Tw是检测窗宽度，是NRZI1202中的标记长度以及间隔长度变化量的最小单位。 

图3(c)表示实际在光盘介质上记录的标记和间隔的图。激光的点从左向右对图3(c)所示的标记和间隔进行扫描。例如，标记1207与NRZI信号1202中的“1”电平一一对应，以与该期间成比例的长度形成。 

图3(d)表示计数信号1204。计数信号1204以Tw为单位对从标记1207以及间隔1208的开头起的时间进行计时。 

图3(e)是脉冲条件运算部110内的分类信号1205的示意图。在本例中，由各标记的标记长度的值与各标记的前后间隔长度以及更加前后的标记长度的5个组合对编码数据进行分类。此外，作为编码数据是指由标记以及间隔的组合进行编码之后的记录数据。关于分类，例如在图3(e) 中，“3-4-5-2-6”表示：对于标记长度为5Tw的标记，其之前的间隔长度为4Tw，进一步靠前的标记长度为3Tw，此外标记长度5Tw之后的间隔长度为2Tw，进一步靠后的标记长度为6Tw。此外，也存在省略Tw而分别作为2T、3T的情况。再有，还存在对于间隔长度由4Ts和s表示，对于标记长度由2Tm和m表示的情况。 

图3(f)表示与图3(b)的NRZI信号1202相对应的记录脉冲信号的波形。该波形是实际记录的光波形的一例。记录脉冲信号1206是参照计数信号1204、NRZI信号1202、分类信号1205以及从记录脉冲条件运算部110输出的记录补偿表数据而生成的。 

此外，在本实施方式中，对于图3(e)的分类信号，由各标记的标记长度值与各标记前后的间隔长度以及更加前后的标记长度的5个值的组合进行分类。但是，也可以如后述的例子那样，由各标记的标记长度值和各标记的前后的间距长度或者更前或更后的标记长度的组合的3个值或者4个值的组合进行分类。 

接下来，对本光记录再现装置中的记录补偿方法进行说明。图4(a)～(f)表示标记长度和记录脉冲信号1206的波形之间的关系的概略图。图4(a)表示作为记录动作的时间基准的基准时间信号1201的波形。如上所述，基准时间信号1201的周期是Tw。图4(b)表示由计数器发生的计数信号1204。计数信号1204是以基准时间信号1201的基准时间Tw为单位对从标记开头起的时间进行计数。计数信号转移至0的时刻对应标记或间隔的开头。 

图4(c)～(f)表示记录标记形成时的记录脉冲信号1206的波形例。记录脉冲信号1206进行电平调制，以作为最高电平的峰值功率(Pw)、作为照射间隔区间的电平的间隔功率(Ps)、作为最低电平的基础功率电平(Pb)的3个值进行调制。此外，在最后一个脉冲之后，由基础功率电平形成冷却脉冲。 

图4(c)～(f)的纵轴表示激光器发光时的功率大小，另外横轴表示时间。 

此外，尽管在此对功率电平进行3值调制，但也可以使最后一个脉冲之后的冷却脉冲的冷却功率电平(Pc)和中间脉冲之间的基础功率电平 (Pb)为彼此不同的电平，从而进行共计4值的功率调制。此外，尽管图4中将基础功率电平设定为比间隔功率电平低的功率电平，但也可以是间隔功率电平和峰值功率电平之间的功率电平。此外，在一次写入型光盘介质的情况下，将间隔区间照射时的功率电平称为间隔功率，但在以间隔消去可改写型光盘介质中预先记录的记录标记的情况下，因为以间隔区间的功率消去记录标记，所以有时也称为擦除功率(Pe)。 

此外，在图4(c)～(f)中，对于4Tw标记的记录脉冲信号其中间脉冲为1个，而如5Tw、6Tw标记长度(符号长度)每增长1Tw，则与此相应中间脉冲的个数一个一个增加。 

此外，图4例示的峰值功率电平的脉冲数为N-1个的脉冲，是为了记录标记长度为N的标记而利用的。这种脉冲被称为所谓N-1型记录脉冲。但是，也可以利用N-2型、N/2型、在2个峰值功率电平之间具有中间功率电平的所谓的城堡(castle)型记录脉冲、或使城堡型的第2个峰值功率电平与中间功率电平相等的所谓L型记录脉冲。当然，后述的说明也同样适用于这些情况。 

对L型的记录脉冲的例子进行说明。图5(a)～(f)是表示标记长度与记录脉冲信号1206的波形之间的关系的概略图。图5(a)表示作为记录动作的时间基准的基准时间信号1201的波形。基准时间信号1201的周期为Tw。图5(b)表示由计数器产生的计数信号1204。计数信号1204，以基准时间信号1201的基准时间Tw为单位对从标记开头起的时间进行计时。计数信号转移至0的时刻对应标记或间隔的开头。 

图5(c)～(f)表示记录标记形成时的记录脉冲信号1206的波形例。记录脉冲信号1206进行电平调制，由作为最高电平的峰值功率(Pw)、作为中间功率电平的中间功率(Pm)、作为照射间隔区间的电平的间隔功率(Ps)、作为最低电平的冷却功率电平(pc)的4个值进行调制。 

此外，尽管图5中将中间功率电平设定为比间隔功率电平高的功率电平，但也可以是比间隔功率电平低的功率电平。此外，在一次写入型光盘介质的情况下，将间隔区间照射时的功率电平称为间隔功率，但以间隔消去可改写型光盘介质中预先记录的记录标记的情况下，因为以间隔区间的功率消去记录标记，因此有时也称为擦除功率(Pe)。 

对于本发明的适应型记录补偿，针对各标记由发生记录脉冲列的所关注的标记长度和其前后的间隔长度的组合、以及/或者进一步前面或后面的标记长度对记录补偿表进行分类。然后，从记录各标记的记录脉冲列的端部起根据上述分类结果使第1个或第2个脉冲边沿的位置改变，改变的量为边沿变化量dTF1、dTF2或者/以及dTE1、dTE2，从而产生记录脉冲信号。由此，精密地控制标记的始端位置或者后端位置，从而在光盘介质上形成标记来记录信息。如现有技术所述，与对于各标记由其标记长度和前面的间隔长度对始端边沿进行分类、对于各标记仅由其标记长度和后面的间隔长度对终端边沿进行分类的情况相比，考虑了光学上的符号间干扰和热干扰，从而能够更加精密地控制标记的始端位置和后端位置。 

特别地，所关注的标记为2T(最短标记)，并且前面的间隔长度为2T(最短间隔)时，根据更加前面的标记长度对记录补偿表进行分类。然后，从记录各标记的记录脉冲列的端部起，根据上述分类结果使第1个或第2个或第3个脉冲边沿的位置改变，改变的量为边沿变化量dTF1、dTF2、dTF3或者/以及dTE1、dTE2、dTE3，从而产生记录脉冲信号。由此，精密地控制标记的始端位置或后端位置，从而在光盘介质上形成标记来更有效地记录信息。 

同样，在所关注的标记为2T(最短标记)，并且紧接其后的间隔长度为2T(最短间隔)时，根据更加后面的标记长度对记录补偿表进行分类。然后，从记录各标记的记录脉冲列的端部起，根据上述分类结果使第1个或第2个或第3个脉冲边沿的位置改变，改变的量为边沿变化量dTF1、dTF2、dTF3或者/以及dTE1、dTE2、dTE3，从而产生记录脉冲信号。由此，精密地控制形成于光盘介质上的标记的始端位置或后端位置，从而在光盘介质上形成标记来有效地记录信息。 

如上所述，在最短标记(2T)以及最短间隔(2T)连续的情况下，通过将前后的标记长度分类为最短标记长度(2T)和在此以上的标记长度，从而进行记录补偿，能够降低记录补偿的分类数。此外，LSI的结构并不复杂，可有效地除去光学上的符号间干扰或热干扰。此外，在最短的2T标记以及2T间隔连续出现的情况下，也可以考虑其更加前面的标记的标记长度以及其更加后面的标记的标记长度的至少一方来进行记录补偿。 

在本发明的记录再现装置中，利用激光波长为405nm的半导体激光器、物镜的NA为0.85的光拾取器，再现时的激光功率被设定为1mW。此外，对于光盘结构，采用能够从激光入射侧对3层的信息面进行记录再现的3层光盘介质。因此，对于再现时激光的实际点径，将高斯光束的峰值强度的1/e^2的范围中的直径设为实际点径的情况下，实际点径由0.82×(λ/NA)标示，大致为0.39μm。在这种光学系统中，最短标记为0.111μm的记录标记超过了光点能够识别标记的界限即光学上的分辨率界限。 

由光束对记录标记进行再现时的再现信号振幅，随着记录标记变短而下降，在光学分辨率的界限处变为0。该记录标记的倒数为空间频率。 

将空间频率与信号振幅的关系称为OTF(Optical Transfer Function)。信号振幅随着空间频率的变高而线性下降，将变为零的边界称为OTF截止频率。图6中表示上述光学系统中的OTF空间频率的关系。在上述光学系统的情况下，根据波长λ和物镜的NA求得OTF的截止频率，即λ/NA×0.5。也就是说，在λ＝405nm、NA＝0.85的情况下，截止周期为0.237μm。最短标记长度为截止周期的一半即0.1185μm。在最短标记长度为0.111μm或0.116μm的情况下，由于要对比光学再现的截止频率更高的空间频率的记录标记进行处理，因此再现以及记录都较困难。此外，截止频率的界限因光拾取器等的偏差、或记录标记的变形、标记形状等发生偏差。除了本实施方式的具体数值(λ＝405nm、NA＝0.85)以外，作为点尺寸最大的条件，例如将激光波长为410nm、物镜NA＝0.84、因所述偏差等引起的误差为5％考虑在内，OTF截止频率的1/2为λ/NA×0.26＝0.128μm。因此，在对最短标记长度为0.128μm以下的标记进行记录或再现的情况下，可忽略光学上的符号间干扰。 

图7(a)以及(b)表示光束的实际点径和记录标记的物理尺寸的关系的示意图。在图7(a)以及(b)中，光点501表示聚光于光盘介质盘面上的光点。以点径为0.39μm的高斯光束形状照射。在图7(a)以及(b)中分别表示长度不同的记录标记502、503、504、505、506、507。图7(a)表示最短标记长度(2T)为0.111μm的记录标记和间隔的关系。图7(b)表示最短标记长度(2T)为0.149μm的记录标记和间隔的关系。若分别 换算为直径为12cm的BD，则图7(a)相当于33.4GB的记录容量，图7(b)相当于25GB的记录容量。 

在光点通过2T标记时，图7(a)的记录密度(相当于33.4GB)中，实际光束点径大致相当于7T。在对2T标记之前的2T间隔进行再现时、和更加前面的标记长度为2T或3T以上时，由于光束点的左侧落在前面的标记上，因此再现信号受到前面标记的影响产生光学的符号间干扰。另一方面，在相同的2T标记的再现时，前面的间隔为2T的情况下，在图7(b)的记录密度(相当于25GB)中，仅产生与前后的间隔长度相应的光学的符号间干扰。其原因为：由于前面的标记处于光点的实际光束点径的外侧，因此没有受到前面标记的影响。此外，在2T标记再现时，后面的间隔为2T间隔的情况下，也产生同样的现象。 

根据上述原因，记录标记的线密度成为由光束点径和最短标记长度之间的关系所决定的一定值以上的高密度记录的情况下，相对于根据各标记长度以及间隔长度对记录脉冲的脉冲边沿进行适应补偿的现有适应型记录补偿，通过进行不仅根据所关注的标记的前后的间隔长度还根据更加前后的标记长度进行记录补偿的扩张型的适应型记录补偿，从而不仅能补偿作为高密度记录时的问题的热干扰，还能补偿光学上的符号间干扰。其中，不仅根据前后的间隔长度，还根据前后的标记组合来进行扩张型的适应型型记录补偿的情况下，记录补偿的分类数目庞大，进行求出记录补偿条件的操作的时间变长。此外，还存在LSI的结构复杂等的缺点。 

因此，在本发明的光盘介质的扩张型记录补偿方式中，只有在由光点直径和最短标记长度的关系决定的标记间隔为一定值以上的情况下，才根据前面(紧挨靠前)或者/以及后面(紧挨靠后)的标记长度进行扩张型的记录补偿。更加具体而言构成为：在最短标记长度为0.111μm的情况下，进行所关注标记的记录补偿时，只有在所关注的标记的前面或者/以及后面的标记长度为2T的情况下，才根据更加前面或者/以及更加后面的标记长度为2T的情况、和标记长度为3T以上的情况，改变记录补偿值。这样一来，能够减少记录补偿的分类数量，可有效地除去光学上的符号间干扰。 

此外，根据光盘介质，还存在由来自前面的标记的热扩散而引起的热干扰影响较大的光盘。对这种前面标记的热干扰显著的光盘介质应用扩张 型记录补偿的情况下，可根据前后的间隔长度和更加前面的标记长度来对记录补偿表进行分类。也就是说，通过与后面标记的标记长度无关地进行分类，能够减少记录补偿的分类数量，能够简化LSI，可有效地除去热干扰。 

此外，由前面或者后面的标记引起的热干扰较小的情况下，除了根据前面或者后面的标记长度进行记录补偿表的分类之外，还可以根据所关注的标记的前后间隔长度进行记录补偿表的分类。例如，可以根据所关注标记和前后的间隔长度对记录脉冲列的始端边沿进行分类；可以根据所关注的标记和前后的间隔长度对记录脉冲列的终端边沿进行分类。 

此时，通过将所关注标记的前面间隔的间隔长度、以及所关注标记的后面间隔的间隔长度至少分类为最短间隔长度(n)和比最短间隔长度更长的间隔长度(n+1以上)的2种组合，能够更有效地减少热干扰。当所关注标记的前面或者后面间隔的间隔长度为最短长度(n)时，所关注标记和隔着该间隔相邻的前面或后面的标记之间的间距变得更近。因此，所关注标记特别容易受到该相邻的前后标记形成时的热影响。因此，至少分出最短间隔长度(n)和比最短间隔长度长的间隔长度(n+1以上)的2种组合，使最短间隔长度(n)情况下的调整量和比最短间隔长度长的间隔长度(n+1)情况下的调整量不同。使得在最短间隔长度(n)的情况下能进行更精密的调整，从而能够更有效地降低热干扰。无论哪种分类方法，都能减少记录补偿的分类数，能简化LSI，可有效地除去热干扰。 

接下来，参照图8的流程图，对本光记录方法中的扩张型记录补偿方法进行说明。 

(a)首先，对记录数据进行编码从而生成作为标记和间隔的组合的编码数据(S01)。图3(b)的NRZI信号1202对应该编码数据。 

(b)针对标记，将其分类为其标记长度和前后的间隔长度、更加前后的标记长度的组合(S02)。在图3(e)中，对于2T标记为“X-2-2-3-3”，对于3T标记为“2-3-3-4-5”，对于5T标记为“3-4-5-2-6”，对于6T标记为“5-2-6-2-X”。在此，X表示没有图示出的符号，实际上要根据符号序列输入分类之后的数字。此外，分别按照“前面标记长度”、“前面间隔长度”、“对于进行记录补偿所关注标记的标记长度”、“后面间隔长度”、“后面标记长度”的顺序并排表示。

(c)根据分类结果，改变从用于形成标记的记录脉冲列的端部起第1个或者/以及第2个的脉冲边沿的位置，来控制记录脉冲列(S03)。例如，在图4(c)～(f)中，从始端使第1个或者/以及第2个脉冲边沿的位置改变，变化的量为边沿变化量dTF1或者/以及dTF2。还从后端使第1个或者/以及第2个脉冲边沿的位置改变，变化的量为边沿变化量dTE1或者/以及dTE2。 

(d)对光盘介质照射记录脉冲列从而形成标记(S04)。 

图9(a)～(d)表示在记录标记长度为2T的标记601时、分别从记录脉冲列的始端使第1个和第2个脉冲边沿位置改变了边沿变化量dTF1以及dTF2的概略图。图9(a)表示作为记录动作的时间基准的基准时间信号1201的波形。图9(b)是由计数器产生的计数信号1204。图9(c)表示记录脉冲信号1206的波形。对于记录脉冲信号1206，从始端使第1个和第2个脉冲边沿的位置改变了边沿变化量dTF1以及dTF2。图9(d)表示由图9(c)的记录脉冲列记录的标记长度2T的标记601的图形。能够由记录脉冲列精密地控制标记601的始端位置。 

如图10(a)以及图10(c)所示的分类表，根据记录的标记的标记长度、前后间隔长度、该前后间隔长度的更加前后的标记长度，分类为预先规定的多个种类的任意一种，基于分类的结果来规定上述边沿变化量dTF1以及dTF2。图10(a)表示记录脉冲列的dTF1、dTF2、dTF3的移动量。例如，图中的M3224规定了边沿移动，表示在后面的间隔长度为4T间隔、前面的间隔长度为2T间隔、更加前面的标记长度为3T以上的标记的情况下，记录2T标记时的记录脉冲的边沿移动量。在此，作为与图示的表中的值不同的例子，可以使dTF1、dTF2、dTF3分别取各自的值。图10(b)表示记录脉冲列的dTE1、dTE2、dTE3的移动量，例如图中的S4223规定了边沿移动，表示在前面的间隔长度为4T间隔、后面的间隔长度为2T间隔、更加后面的标记长度为3T以上的标记的情况下，记录2T标记时的记录脉冲的边沿移动量。在此，作为与图示的表中的值不同的例子，可以使dTE1、dTE2、dTE3分别取各自的值。 

图10(c)表示记录脉冲列的dTF1、dTF2、dTF3的移动量。例如， 图中的M32222规定了边沿移动，也就是说，表示在后面的间隔长度为2T间隔、后面的标记长度为2T标记、前面的间隔长度为2T间隔、更前面的标记长度为3T以上的标记的情况下，记录2T标记时的记录脉冲边沿移动量。在此，作为与图示的表中的值不同的例子，可以使dTF1、dTF2、dTF3分别取各自的值。 

图10(d)表示记录脉冲列的dTE1、dTE2、dTE3的移动量。例如图中的S22223规定了边沿移动。表示在前面的间隔长度为2T间隔，更加前面的标记长度为2T标记、后面的间隔长度为2T间隔、更加后面的标记长度为3T以上的标记的情况下，记录2T标记时的记录脉冲的边沿移动量。在此，作为与图示的表中的值不同的例子，可以使dTE1、dTE2、dTE3分别取各自的值。 

在图10(c)以及图10(d)中，特别在所关注的标记为2T(最短标记)时，前面或者后面的间隔长度为2T(最短间隔)时，根据更加前面或后面的标记长度是2T标记还是2T标记以上的标记长度，对记录补偿表进行分类。根据上述分类结果，从记录各标记的记录脉冲列的端部起使第1个或者第2个或者第3个脉冲边沿位置改变，改变的量为边沿变化量为dTF1、dTF2、dTF3或者/以及dTE1、dTE2、dTE3，从而产生记录脉冲信号。这样一来，可有效地精密控制并记录在光盘介质上形成的标记的始端位置或后端位置。 

此外，在所关注标记为3T以上(最短标记以外)时，根据前面的间隔长度是2T间隔(最短间隔)、3T间隔、4T间隔、以及5T间隔以上，来对记录补偿表进行分类。根据分类结果，从记录各标记的记录脉冲列的始端位置起使第1个或者第2个或者第3个脉冲边沿位置改变，改变的量为边沿变化量dTF1、dTF2、dTF3，从而产生记录脉冲信号。这样一来，可有效地精密控制在光盘介质上形成的标记的始端位置并进行记录。 

此外，在所关注的标记为3T以上(最短标记以外)时，根据后面的间隔长度是2T间隔(最短间隔)、3T间隔、4T间隔、以及5T间隔以上，来对记录补偿表进行分类。根据分类结果，从记录各标记的记录脉冲列的终端部起使第1个或者第2个或者第3个脉冲边沿位置改变，改变的量为边沿变化量dTE1、dTE2、dTE3，从而产生记录脉冲信号。这样一来，可 有效地精密控制在光盘介质上形成的标记的始端位置并进行记录。 

如上所述，在最短标记(2T)和前后的间隔长度为最短间隔(2T)出现连续的情况下，将前后的标记长度分类为最短标记长度(2T)和在此之上的标记长度，从而进行记录补偿。由此，能够减少记录补偿的分类数，简化LSI的结构，能有效地消除光学上的符号间干扰或热干扰。 

该边沿变化量dTF1以及dTF2被规定分类为总计35种。具体而言，对于所记录标记的标记长度规定了2T、3T、4T、5T以上的4种，对于前面间隔长度规定了2T、3T、4T、5T以上的4种，对于前面间隔为2T间隔时的更前面的标记长度规定了2T、3T以上的2种，在2T标记中对于后面的间隔长度规定了2T、3T、4T、5T以上的4种。 

另外，在此针对边沿变化量dTF1、dTF2、dTF3，对标记长度分为4种，对前面间隔长度分为4种，对前面标记长度分为2种，但并不限定于该情况。例如，可以使标记长度为3种、5种、或者更多，可以使前面间隔长度为2种、3种、5种、或者更多，可以使前面标记长度为3种。 

此外，在同一分类的标记·间隔长度的组合中，可以使边沿变化量dTF1和dTF2为相同值。该情况下，开头脉冲的峰值功率区域的脉冲长度被固定。特别在以峰值功率电平的脉冲个数为1个的记录脉冲信号进行记录的情况下，能够不改变记录标记的大小，而使记录标记的记录位置偏移。这样，能更加精密地调整边沿位置。此外，在以峰值功率电平的脉冲个数为1个的记录脉冲信号进行记录的情况下，从记录脉冲列的始端起使第3个脉冲边沿位置为dTF3，在同一分类的标记·间隔长度的组合中，可以将边沿变化量dTF1、dTF2、dTF3设定为相同值。该情况下，在保持记录脉冲列自身的形状的情况下，向前方或后方移动来进行记录。此外，由于能够固定冷却脉冲的脉冲时间宽度，因此，特别像改写型记录介质那样的记录介质，能够防止根据冷却脉冲时间宽度的不同记录脉冲的大小或位置发生移动。这样，能更加精密地调整边沿位置。该边沿变化量dTF1以及dTF2例如可以像图10(a)的M2222＝0.5nsec那样以绝对时间来规定，或者像Tw/16的整数倍的值那样根据基准时间信号来规定。此外，也可以像Tw/32的整数倍的值那样规定。 

此外，可以针对2T、3T、4T、5T以上标记，预先保持一个作为dTF1、 dTF2、dTF3、dTE1、dTE2、dTE3的基准的值，将与前后的间隔长度或前后标记长度相应的记录补偿值规定为相对于上述各标记长度的基准值的差值信息。这样一来，特别在不进行与前后间隔相应的记录补偿或与前后标记长度相应的记录补偿的情况下，仅读出各标记长度的基准值而不读出差值信息，就能高速地从盘片读出记录补偿值。此外，能节约记录装置的存储器，并简化LSI的结构。此外，通过记录差值信息，能削减盘片内记录的记录补偿值的位数。 

如上所述，通过从记录脉冲信号始端起使第1个或者第2个或者第3个脉冲边沿位置改变边沿变化量dTF1、dTF2、dTF3，从而能更加精密地控制标记的始端位置。再有，不仅根据记录标记的标记长度，还根据前后间隔长度来控制脉冲边沿。此外，在记录2T标记时，前面间隔长度为2T的情况下，由于根据前面标记长度来控制脉冲边沿，因此在进行超过OTF边界的高密度记录时，能够考虑到热干扰或光学上的符号间干扰，从而精密地控制标记601的始端位置。 

图11(a)～(d)表示在记录标记长度为2T的标记1401时、从记录脉冲列的后端起分别使第1个和第2个以及第3个脉冲边沿的位置改变边沿变化量dTE1和dTE2以及dTE3的概略图。图11(a)表示作为记录动作的时间基准的基准时间信号1201的波形。图11(b)是由计数器产生的计数信号1204。图11(c)表示记录脉冲信号1206的波形。在计数信号1204中，从后端使第1个、第2个、第3个脉冲边沿的位置改变边沿变化量dTE1、dTE2、dTE3。图11(d)表示由图11(c)的记录脉冲列记录的标记长度为2T的标记1401的图形。表示能够由记录脉冲列精密地控制标记1401的终端位置。 

如图10(b)以及图10(d)所示的分类表那样，根据记录的标记的标记长度、前后的间隔长度、该前后的间隔长度的更加前后的标记长度来进行分类，基于分类的结果规定上述边沿变化量dTE1、dTE2、dTE3。 

按照之前图3中所说明，在所关注的标记为2T(最短标记)时，如果前面的间隔长度为2T(最短间隔)，则根据更前面标记的标记长度来对记录补偿表进行分类。此外，所关注的标记为2T(最短标记)时，如果后面的间隔长度为2T(最短间隔)，则再根据后面标记的标记长度对记录补偿表进行分类。根据上述分类结果，使记录各标记的记录脉冲列的边沿位置改变边沿变化量dTF1、dTF2、dTF3或者/以及dTE1、dTE2、dTE3，从而产生记录脉冲信号。然后，能够精密地控制在光盘介质上形成的标记的始端位置或后端位置，从而记录数据。 

此外，进一步具体而言是按照图12的分类。dTF1、dTF2在记录2T标记时，将前后的间隔长度分类为2T、3T、4T、5T以上的4种。然后，在该2T标记的前面或后面的间隔长度为2T间隔时，将更加前面或者后面的标记长度分类为2T、3T以上的2种的合计25种(1～25)。然后，分别以1字节的信息进行定义。此外，在记录3T、4T、5T以上的标记时，将前面的间隔长度分类为2T、3T、4T、5T以上的4种的合计12种(26～37)，分别以1字节的信息进行定义。 

同样，在记录2T标记时，将后面的间隔长度分类为2T、3T、4T、5T以上的4种从而来规定dTE1。在后面的间隔长度为2T间隔时，将更后面的标记长度分类为2T、3T以上的2种的合计10种(1～10)，各自以1字节的信息定义。此外，在记录3T、4T、5T以上的标记时，将后面的间隔长度分类为2T、3T、4T、5T以上的4种的合计12种(11～22)。然后，各自以1字节的信息定义。 

在此，图12的dTF1、dTF2、dTE1、dTE2在图4所示的N-1型的写入策略的情况下，dTF1表示开头脉冲的上升位置，dTF2表示开头脉冲的下降位置，dTE1表示冷却脉冲的上升位置，dTE2表示3T以上标记的最后一个脉冲的下降位置的信息。同样，在图5的L型的写入策略的情况下，dTF1表示开头脉冲的上升位置，dTF2表示开头脉冲的下降位置，dTE1表示冷却脉冲的上升位置，dTE2表示3T以上标记的中间功率的下降位置。在此，尽管定义了dTF2，但例如也可以代替dTF2定义dTF1和dTF2之间的脉冲宽度TF2。同样，尽管定义了dTE2，但例如也可以代替dTE2定义dTE2和dTE3之间的脉冲宽度TE2。 

此外，如图13所示，可以在由前后标记引起的干扰较少的情况下简化分类。也就是说，dTF1、dTF2在记录2T标记时，将前后的间隔长度分类为2T、3T、4T、5T以上的4×4的16种(1～16)，各自以1字节的信息定义。此外，在记录3T、4T、5T以上的标记时，将前面的间隔长度分 类为2T、3T、4T、5T以上的4种的总计12种(17～28)，各自以1字节的信息定义。 

同样，dTE1在记录2T标记时，将后面的间隔长度分类为2T、3T、4T、5T以上的4种，将前面间隔分类为2T、3T以上的2种的总计8种(1～8)，各自以1字节信息定义。此外，在记录3T、4T、5T以上的标记时，将前面的间隔长度分类为2T、3T、4T、5T以上的4种的合计12种(9～20)，各自以1字节信息定义。dTE2在记录3T、4T、5T以上的标记时，将前面的间隔长度分类为2T、3T、4T、5T以上的4种的合计12种(1～12)，各自以1字节的信息定义。 

对于该边沿变化量dTE1以及dTE2以及dTE3，针对记录标记的标记长度规定了2T、3T、4T、5T以上的4种，针对后面间隔长度规定了2T、3T、4T、5T以上的4种，针对后面间隔为2T间隔时的更后面标记长度规定了2T、3T以上的2种，此外，对于2T标记，针对前面间隔长度规定分类为2T、3T、4T、5T以上的4种的、总计35种。另外，在此对于边沿变化量dTE1以及dTE2以及dTE3，针对标记长度分类为4种，针对后面间隔长度分类为4种，针对后面标记长度分类为2种，但并不限定于该情况。例如，可以使标记长度为3种、5种或者更多，使后面间隔长度为2种、3种、5种、或者更多，使后面标记长度为3种。优选：将前面间隔长度分为2T和3T以上的2种，同时将后面间隔长度分为2T或3T以上的2种。 

当以后面间隔长度是2种为例进行说明时，将这些大致分为是“2T”还是“3T以上”即可。此情况通过图13的“后面标记”(后mark)被划分为“2T”还是“3T以上”已明确地表示出。作为“后面标记”是“2T”还是“3T以上”时的“3T以上”的值，可利用例如图13的3T间隔(3Tspace)栏的记载。此外，在图13的记载中，2T标记的后面的标记中记载表示对于是“2T”还是“3T以上”都为“没有规定”(无需考虑)的“X”标记。但是，在此只不过是作为一例附于了“X”。附于该“X”的栏，只要视为2T标记的后面的间隔被划分为“2T”或“3T以上”来把握即可。 

此外，在同一分类的标记·间隔长度的组合中，也可以使边沿变化量dTE1、dTE2、dTE3为相同的值。该情况下，开头脉冲的峰值功率区间的脉冲长度被固定，特别在以峰值功率电平的脉冲个数是1个的记录脉冲信号进行记录的情况下，由于能够在不改变记录标记大小的情况下，移动记录标记的位置，因此可更加精密地调整边沿的位置。

此外，在以峰值功率电平的脉冲个数是1个的记录脉冲信号进行记录的情况下，也可以从记录脉冲列的后端使第1个脉冲边沿位置为dTE1，从而同一分类的标记·间隔长度的组合中，使边沿变化量dTE2、dTE3以及dTE1为相同值。该情况下，保存记录脉冲列自身的形状的情况下，向前方或后方移动从而进行记录。此外，由于能够固定冷却脉冲的脉冲时间宽度，因此能够防止特别像改写型记录介质那样，随着冷却脉冲时间宽度不同记录标记的大小和位置发生移动，这样可更精密地调整边沿位置。 

该边沿变化量dTE2以及dTE3可以像图10(b)的S2222＝0.5nsec那样以绝对时间规定，或者像Tw/16的整数倍的值那样根据基准时间信号来规定。 

如上所述，通过从记录脉冲信号的后端使第2个或第3个或第1个脉冲边沿的位置改变边沿变化量dTE2、dTE3、dTE1，从而能够更精密地控制标记的后端位置。再有，不仅根据记录的标记的标记长度，还根据前后间隔长度来控制脉冲边沿。此外，在记录2T标记的情况下，后面的间隔长度为2T时，由于根据更后面的标记长度来控制脉冲边沿，因此在进行超过OTF边界的高密度记录时，能够考虑热干扰或光学上的符号间干扰来精密地控制标记1401的后端位置。 

此外，在本发明的实施方式中，根据前后2T间隔的更加前后大的标记长度来控制记录2T标记时的记录脉冲边沿，但对于记录3T或在此之上的标记时的记录脉冲边沿，也可以根据前后2T间隔的前后标记长度来调整记录脉冲边沿。此外，也可以与2T标记同时、与3T或3T以上的记录标记同时进行记录脉冲边沿的调整。这样一来，在进行超过OTF边界的高密度记录时，能够考虑热干扰或光学上的符号间干扰来精密地控制记录标记的始端或后端位置。 

接下来，对偏移检测部109中为了进行扩张型记录补偿而从再现信号检测偏移的方法进行说明。首先，说明PRML处理部108中PR(1、2、2、2、1)ML方式的Viterbi译码的动作。 

在本发明的高密度光盘介质再现时的再现系统的信号处理中采用PR(1，2，2，2，1)ML方式，记录符号中采用RLL(1，7)符号等的(Run Length Limited)符号。利用图14以及图15说明PR(1，2，2，2，1)ML。对于PR(1，2，2，2，1)ML，由于与RLL(1，7)的组合，译码部的状态数被限制为10，其状态转移的路径数为16，再现电平为9电平。图14表示PRML说明时一般采用的状态转移图，表示PR(1，2，2，2，1)ML的状态转移规则。将某时刻下的状态S(0，0，0，0)记为S0，将状态S(0，0，0，1)记为S1、将状态S(0，0，1，1)记为S2，将状态S(0，1，1，1)记为S3，将状态S(1，1，1，1)记为S4，将状态S(1，1，1，0)记为S5，将状态S(1，1，0，0)记为S6，将状态S(1，0，0，0)记为S7，将状态S(1，0，0，1)记为S8，将状态S(0，1，1，0)记为S9，表现出10个状态。在此，括号中记载的“0”或“1”表示时间轴上的信号序列，表示从各状态到下一个时刻的状态转移的可能性处于哪种状态。此外，若将该状态转移图相对于时间轴展开，则得到图15所示的格状图。 

在图15所示的PR(1，2，2，2，1)ML的状态转移中，从某时刻的规定状态转移至其他时刻的规定状态时可获得2个状态转移的这种状态转移图案(状态的组合)有无数个。当限定于某时刻的范围，并且关注于特别容易发生差错的图案时，对于PR(1，2，2，2，1)ML的情况，能够按照表1、2、3所示进行分类。 

[表1] 

[表2] 

[表3] 

表1、表2、表3中表示从开始状态起到汇合之后的状态轨迹所示出的状态转移、经由该状态转移时可能存在的2个记录序列、经由该状态转移时可能存在的2个理想波形、以及2个理想波形的再现波形的欧几里德距离。 

表1是可获得2个状态转移的状态转移图案的欧几里德距离为14的情况，有18种。该图案(pattern)，在光盘介质的再现波形中来说相当于记录标记的边沿部分。也就是说，是记录标记和间隔之间的边沿位置的1位差错(1bit error)的图案。作为一例，说明图15所示的状态转移规则中S0(k-5)至S6(k)的情况的转移路径。对于该情况下的1个路径，在记录序列以“0，0，0，0，1，1，1，0，0”进行转移而检测出的情况下，若在记录状态中认为再现数据的“0”为间隔部分，“1”为标记部分，则出现4T以上间隔、3T标记、2T以上间隔。将此表示为图16的A路径波形。图16表示采样时间与再现电平之间的关系不同的2种波形。在图16中，横轴是表示记录序列的每一时刻的采样时间，纵轴表示再现电平。 如上所述，在PR(1，2，2，2，1)ML的情况下，理想的再现电平为0电平至8电平的合计9电平。 

另一方面，对于另一个路径，在记录序列以“0，0，0，0，0，1，1，0，0”进行转移并检测出的情况下，当在记录状态中认为再现数据“0”为间隔部分、“1”为标记部分时，出现了5T以上间隔、2T标记、2T以上间隔。将该路径表示为图16的B路径波形。表1中示出的欧几里德距离为14的图案，特征在于，它是必定包含一个作为标记和间隔的边界的边沿信息的图案。例如JP特开2004-335079号公报中，提出了一种利用该特征适合于PRML方式的边沿位置调整方法。 

同样，表2是可获得2个状态转移的状态转移图案的欧几里德距离为12的情况，全部包括18种。该图案是2T标记或2T间隔的偏移差错之中检测出2位差错的图案。作为一例，说明图15所示的状态转移规则中的S0(k-7)至S0(k)情况下的转移路径。对于该情况下的1个路径，在记录序列以“0，0，0，0，1，1，0，0，0，0，0”进行转移并检测出的情况下，当在记录状态中认为再现数据“0”为间隔部、“1”为标记部时，出现4T以上间隔、2T标记、5T以上间隔。将此表示为图17的A路径波形。 

另一方面，对于另一个路径，在记录序列以“0，0，0，0，0，1，1，0，0，0，0，0”进行转移并检测出的情况下，当在记录状态中认为再现数据“0”为间隔部分、“1”为标记部分时，出现5T以上间隔、2T标记、4T以上间隔。将此表示为图17的B路径波形。表2示出的欧几里德距离为12的图案，特征在于，必定含有2个2T标记或2T间隔的上升及下降信息。 

同样，表3是可获得2个状态转移的状态转移图案的欧几里德距离为12的情况，总计18种。该图案是如2T标记2T间隔或2T间隔2T标记这种至少2个2T连续出现的位置检测到3位差错的图案。作为一例，说明图15所示的状态转移规则中S0(k-9)至S6(k)情况下的转移路径。对于该情况下的一个路径，当在记录状态中认为再现数据“0”为间隔部分、“1”为标记部分时，在记录序列以“0，0，0，0，1，1，0，0，1，1，1，0，0”进行转移并检测出的情况下，出现4T以上间隔、2T标记、2T间隔、 3T标记、2T以上间隔。将此表示为图18的A路径波形。 

另一方面，对于另一个路径，当在记录状态中认为再现数据“0”为间隔部分、“1”为标记部分时，在记录符号序列以“0，0，0，0，0，1，1，0，0，1，1，0，0”进行转移并检测出的情况下，出现5T以上间隔、2T标记、2T间隔、2T标记、2T以上间隔。将此表示为图18的B路径波形。表3的欧几里德距离为12的图案，特征在于，如2T标记、2T间隔或2T间隔、2T标记那样在2T至少连续2次出现的位置，检测出3位差错。 

在调整记录标记的始端边沿或终端边沿位置的情况下，需要以各标记与各间隔的组合为单位检测边沿偏移(边沿错位)方向和边沿偏移量。采用PR(1，2，2，2，1)ML方式的情况下，能够利用表1所说明的欧几里德距离为14的图案进行调整。也就是说，通过根据自身标记长度和前后间隔长度调整记录脉冲列的脉冲边沿从而可进行记录补偿。图19表示使用欧几里德距离为14的图案进行记录补偿的分类表。 

在欧几里德距离为14的图案的情况下，记录补偿分类为自身标记为2T、3T、4T、5T以上的4种。再有，根据前面间隔长度为2T、3T、4T、5T以上分类为4种总计4×4的16种来进行调整。该情况下，进行记录补偿的记录脉冲列是图4的dTF1、dTF2。 

将自身标记分类为标记长度2T、3T、4T、5T以上的4种，再有根据自身标记的后面间隔的间隔长度为2T、3T、4T、5T以上分类为4种的4×4的16种来进行调整。该情况下，进行记录补偿的记录脉冲列为图4的dTE2、dTE3。通过根据自身标记和前后间隔长度来对dTF1、dTF2、dTE2、dTE3进行记录补偿，从而进行欧几里德距离为14的记录补偿。 

对进行此时的记录补偿的偏移检测方法进行说明。例如在图16中，定义Pa为：从时刻k-4到时刻k的再现信号y_k-4到y_k的值与路径A的期待值之差的平方。于是，Pa由(式1)表示。Pb定义为：从时刻k-4到时刻k的再现信号y_k-4到y_k的值与路径B的期待值之差的平方，Pb由(式2)表示。 

Pa＝(y_k-4-1)^2+(y_k-3-3)^2+(y_k-2-5)^2+(y_k-1-6)^2+(y_k-5)^2    (式1) 

Pb＝(y_k-4-0)^2+(y_k-3-1)^2+(y_k-2-3)^2+(y_k-1-4)^2+(y_k-4)^2    (式2) 

在此，阐述表示最大似然译码结果的可靠性的Pa与Pb的差Pa-Pb的意义。如果Pa＜＜Pb，则最大似然译码部可自信地选择路径A；如果Pa＞＞Pb，则最大似然选择部可自信地选择路径B。此外，如果Pa＝Pb，则无论选择路径A、路径B的哪一个都正常，有一半的概率译码结果是正确的。这样，当根据规定时间或规定次数、译码结果求得Pa-Pb时，得到Pa-Pb的分布。 

对在上述记录脉冲条件下写入的轨道进行连续再现，测定再现信号的边沿位置信息。光照射部102对进行了写入的记录脉冲条件的轨道进行再现。再现得到的记录脉冲条件通过波形均衡部105、A/D转换部106。然后，PLL部107生成再现时钟。PRML处理部108内的图案检测部对以再现时钟采样得到的数字信号进行Viterbi译码(最大似然译码)，按每个记录条件生成表示最大似然译码结果的二值化信号。 

接下来，说明以PR(1，2，2，2，1)均衡的方式对再现信号的波形进行整形的情况下、检测再现信号的边沿偏移(edge shift)的方法。 

图20中作为PR等效理想波形的一例，表示表1的状态转移S0→S6的图案的采样值。横轴表示时间(1刻度表示1信道时钟周期)，纵轴表示信号电平(0～8)。虚线表示路径A，实线表示路径B。各采样值相当于最大似然译码中的输入期待值Levelv的0～8。并且定义为：记录标记部分作为信号电平再现后出现向上的波形，未记录部分再现出向下的波形。此外，图20所示的图案相当于标记和间隔的边界部分(标记的始端边沿以及终端边沿)的再现波形。这样，图20的波形以及表1的以下的图案(S0→S6，S0→S5，S0→S4，S7→S6，S7→S5，S7→S4，S6→S6，S6→S5，S6→S4)相当于标记的始端边沿部分；表1的其他图案(S2→S0，S2→S1，S2→S2，S3→S0，S3→S1，S3→S2，S4→S0，S4→S1，S4→S2)相当于标记的终端边沿。 

图20(a)以及(b)的再现波形是本实施方式中记录的4T间隔、3T标记的情况下波形。因此，关注于图20(a)以及(b)的再现波形对标记的始端边沿偏移的检测方法进行说明。 

图20(a)以及(b)表示与表1的S0→S6相关的再现波形和记录标 记的偏离(错位)之间的相关性。在图20(a)以及(b)中，实线△记号是输入信号，由虚线表示的路径A设定为正解的状态移动路径。在图20(a)中根据记录标记A-来生成输入信号，在图20(b)中根据记录标记A+来生成输入信号。记录标记A具有理想的始端边沿。 

图20(a)表示记录标记的始端边沿位置相比理想始端边沿位置往标记较短一侧偏离时的再现波形。计算路径A与输入信号之间的距离Pa、路径B与输入信号之间的距离Pb，求出4S3M-A＝ΔA-＝|Pa-Pb|-Pstd。4S3M-A是指路径A中的4T间隔3T标记之间的边沿偏移，示出了4T间隔与之后的3T标记之间的边沿偏移量。在此，Pstd将Pa＝0时的Pa-Pb的值表示为-Pstd，将Pb＝0时的Pa-Pb的值表示为Pstd。 

图20(b)表示记录标记的始端边沿位置相比理想始端边沿位置往标记较长一侧偏离时的再现波形。计算路径A与输入信号之间的距离Pa、路径B与输入信号之间的距离Pb，求出4S3M-A＝ΔA+＝|Pa-Pb|-Pstd。4S3M-A是指路径A中的4T间隔3T标记之间的边沿偏移，示出了4T间隔与之后的3T标记之间的边沿偏移量。 

按照表1中分类出的合计18种图案进行以上这种的边沿偏移检测，检测出与标记·间隔的长度相应的边沿偏移量。 

在此，表1图案中的标记长度、间隔长度的边沿偏移的分类以如下方式进行，将记录符号(b_k-8～b_k)的9位中的b_k-4位作为标记·间隔之间或间隔·标记之间的边沿偏离的分界检测出来。例如，在S0→S6图案中相当于(4T以上间隔，3T标记)与(5T以上间隔，2T标记)的比较对象图案，检测与这些标记长度和前面间隔长度相应的边沿偏移量。同样，在S2→S0图案中相当于(3T标记，4T以上间隔)与(2T标记、5T以上间隔)的比较对象图案，检测与这些标记长度和后面间隔长度相应的边沿偏移量。 

接下来，对表2图案的相位偏移量检测方法进行说明，在检测方法中，可取得2个状态转移的状态转移图案的欧几里德距离为12，且检测2T标记或2T间隔的偏移差错之中的2位差错。 

图21(a)以及(b)表示作为比较对照的图案的采样值。横轴表示时间(1刻度表示1信道时钟周期)，纵轴表示信号电平(0～8)。虚线表示 路径A，实线表示路径B。各采样值相当于最大似然译码中的输入期待值Level v的0～8。定义为：记录标记部分作为信号电平再现后出现向上的波形，未记录部分再现后为向下的波形。此外，图21(a)以及(b)所示的图案相当于至少包含一个2T标记或2T间隔的图案的再现波形。这样，图21(a)以及(b)的图案以及表2的以下的图案(S0→S0，S0→S1，S0→S2，S7→S0，S7→S1，S7→S2，S6→S0，S6→S1，S6→S2)相当于使2T标记的位置向前后就偏移2T标记长度的部分；表2的其他图案(S2→S6，S2→S5，S2→S4，S3→S6，S3→S5，S3→S4，S4→S6，S4→S5，S4→S4)相当于使2T间隔的位置向前后就偏移2T间隔长度的部分。 

本实施方式中记录的4T以上间隔、2T标记、5T以上间隔的情况下的波形是图21(a)以及(b)的再现波形。着眼于图21(a)以及(b)的再现波形，对2T标记的记录位置偏移的检测方法进行说明。图21(a)以及(b)表示与表2的S0→S0相关的再现波形和记录标记的偏离之间的相关性。在图21(a)以及(b)中，实线△记号是输入信号，由虚线表示的路径A设定为正解的状态移动路径。根据图21(a)中的记录标记B-、图21(b)中的记录标记B+来生成输入信号。记录标记B具有理想的记录位置。 

图21(a)表示记录标记(2T)的记录位置与理想的位置相比往后侧偏离时的再现波形。计算路径A与输入信号之间的距离Pa、路径B与输入信号之间的距离Pb，求出4S2M5S-A＝ΔB-＝|Pa-Pb|-Pstd。4S2M5S-A是指路径A中的4T以上间隔、2T标记、5T以上标记的2T记录位置偏移，示出了4T以上间隔与5T以上间隔之间所夹着的2T标记的记录位置偏离量。在此，Pstd将Pa＝0时的Pa-Pb的值表示为-Pstd，将Pb＝0时的Pa-Pb的值表示为Pstd。 

图21(b)表示记录标记(2T)的记录位置与理想的位置相比往前侧偏离时的再现波形。计算路径A与输入信号之间的距离Pa、路径B与输入信号之间的距离Pb，求出4S2M5S-A＝ΔB+＝|Pa-Pb|-Pstd。4S2M5S-A是指路径A中的4T以上间隔、2T标记、5T以上标记的2T记录位置偏移，示出了4T以上间隔与5T以上间隔之间所夹着的2T标记的记录位置偏离量。 

对表2中分类出的合计18种图案进行以上这种的相位偏移检测，检测出与X间隔、2T标记、Y间隔或者X’标记、2T间隔、Y’标记的长度相应的相位偏移量。 

在此，表2图案中的X间隔、2T标记、Y间隔或者X’标记、2T间隔、Y’标记的记录位置偏移的分类以如下方式进行，将记录符号(b_k-10～b_k)的11位之中的b_k-5位作为2T或2T间隔的记录位置偏离的分界检测出来。例如，在S0→S0图案中相当于(4T以上间隔，2T标记，5T以上间隔)与(5T以上间隔，2T标记，4T以上间隔)的比较对象图案，检测与这些的2T标记和前后间隔长度相应的相位偏移量。同样，在S3→S4图案中相当于(4T标记，2T间隔，4T以上标记)与(3T标记、2T间隔，5T以上标记)的比较对象图案，检测与这些的2T间隔长度和前后标记长度相应的记录位置偏移量。 

接下来，说明在可取得2个状态转移的状态转移图案的欧几里德距离为12的情况下，如连续的(2T标记、2T间隔)或(2T间隔，2T标记)那样在至少连续出现2次2T的位置检测出3位差错的图像。更加具体而言，对连续的(2T标记、2T间隔)或连续的(2T间隔、2T标记)的偏移差错之中检测出3位差错的表3图案的相位偏移量的检测方法进行说明。 

图22中，表示作为比较对照的图案的采样值。横轴表示时间(1刻度表示1信道时钟周期)，纵轴表示信号电平(0～8)。虚线表示路径A，实线表示路径B。各采样值相当于最大似然译码中的输入期待值Levelv的0～8。定义为：记录标记部分作为信号电平再现后出现向上的波形，未记录部分再现后为向下的波形。 

此外，图22所示的图案相当于包含连续的(2T标记、2T间隔)的图案再现波形。这样，图22的图案以及表3的以下的图案(S0→S6，S0→S5，S0→S4，S7→S6，S7→S5，S7→S4，S6→S6，S6→S5，S6→S4)相当于使连续的(2T标记、2T间隔)的位置向前后偏移的部分；表3的其他图案(S2→S0，S2→S1，S2→S2，S3→S0，S3→S1，S3→S2，S4→S0，S4→S1，S4→S2)相当于使连续的(2T间隔、2T标记)的位置向前后偏移的部分。 

由于，本实施方式中记录的4T以上间隔、2T标记、2T间隔、3T标记的情况下的波形是图22的再现波形，因此着眼于图22的再现波形，对连续的(2T标记、2T间隔)的记录位置偏移的检测方法进行说明。图22表示与表3的S0→S0相关的再现波形和记录标记的偏离之间的相关性。在图22中，实线△记号是输入信号，由虚线表示的路径A设定为正解的状态移动路径。在图22(a)中根据记录标记C-来生成输入信号，在图22(b)中根据记录标记C+来生成输入信号。记录标记C具有理想的记录位置。 

图22(a)是连续的2T标记、2T间隔的的记录位置与理想的位置相比向后侧偏离时的情况。计算路径A与输入信号之间的距离Pa、路径B与输入信号之间的距离Pb，求出4S2M2S3M-A＝ΔC-＝|Pa-Pb|-Pstd。4S2M2S3M-A是指路径A中的4T以上间隔、2T标记、2T间隔、3T标记的2T标记、2T间隔的记录位置偏移，示出了4T以上间隔与3T标记之间所夹着的2T标记、2T间隔的记录位置偏离量。在此，Pstd将Pa＝0时的Pa-Pb的值表示为-Pstd，将Pb＝0时的Pa-Pb的值表示为Pstd。 

图22(b)是连续的2T标记、2T间隔的的记录位置与理想的位置相比向前侧偏离时的情况。计算路径A与输入信号之间的距离Pa、路径B与输入信号之间的距离Pb，求出4S2M2S3M-A＝ΔC+＝|Pa-Pb|-Pstd。4S2M2S3M-A是指路径A中的4T以上间隔、2T标记、2T间隔、3T标记的2T间隔、2T标记的记录位置偏移，示出了4T以上间隔与3T标记之间所夹着的2T间隔、2T标记的记录位置偏离量。 

对表3中分类出的合计18种图案进行以上这种的偏移检测，检测出与X间隔、2T标记、2T间隔、Y标记或者X’标记、2T间隔、2T标记、Y’间隔的长度相应的相位偏移量。 

在此，表3图案中的X间隔、2T标记、2T间隔、Y标记或者X’标记、2T间隔、2T标记、Y’间隔的记录位置偏移的分类以如下方式进行，将记录符号(b_k-12～b_k)的13位之中的b_k-6位作为(2T标记，2T间隔)或(2T间隔，2T标记)的记录位置偏离的分界检测出来。例如，在S0→S6图案中相当于(4T以上间隔，2T标记，2T间隔，3T标记)与(5T 以上间隔，2T标记，2T间隔，2T标记)的比较对象图案，检测与这些的2T标记、2T间隔和前面的间隔长度以及后面的标记长度相应的偏移量。同样，在S2→S0图案中相当于(3T标记、2T间隔、2T标记、4T以上间隔)与(2T标记、2T间隔、2T标记、5T以上间隔)的比较对象图案，检测与这些的2T间隔、2T标记和前面的标记长度以及后面的间隔长度相应的记录位置偏移量。 

作为偏移检测方法，通过对每个图案测定比较Viterbi译码和再现信号而得到的|Pa-Pb|-Pstd，来检测偏移量，基于其结果置换为扩张型记录补偿的各表值，从而能进行记录补偿。但是，作为其他偏移检测方法，还存在如下的方法，例如，提取发生位差错的部分后比较错误图案与记录元的符号序列，基于位错误的偏移倾向来进行扩张型记录补偿。对实际记录的符号序列的正解图案和从再现信号得到的Viterbi译码之后的位进行比较，图23表示对正解符号序列和译码之后的错误数据进行比较得到的结果。图23的结果例如为：在进行扩张型记录补偿之前，根据标记长度和前后的间隔长度进行了记录补偿的情况下，即仅进行了表1的欧几里德距离14的标记·间隔的边沿补偿之后的、再现记录标记并进行Viterbi译码之后的结果；将检测出的数据之中的错误位置与正解图案比较之后的结果。 

图23中成2组的竖条之中，左侧是正解图案的数据序列、即记录元的数据序列。右侧是对记录了正解图案的部分将来自光盘介质的再现信号进行Viterbi译码从而得到的再现数据之中的错误结果。各竖条内的“0”表示1T的标记，“1”表示1T的间隔。例如，“00”表示2T标记，“000”表示3T标记。图23(a)以及(b)的2个符号序列的组之中，图23(a)是针对正解符号序列收集了误检测为向前侧偏移的序号序列。图23(b)是收集了误检测为向后侧偏移的符号序列。符号序列从图的上方向下方进行记录以及再现。 

对于图23(a)的最左侧的符号序列的组，记录了“4T间隔、2T标记、2T间隔、3T间隔”的符号序列时，作为实际上产生错误的符号序列的一部分，误检测为“3T间隔、2T标记、2T间隔、3T标记”。在此，认为是“2T标记、2T间隔、3T标记”每一位向前侧偏移的错误方式。此 外，对于图23(b)的最左侧的符号序列的组，在记录了“3T标记、2T间隔、2T标记、3T间隔”时，作为实际上产生错误的符号序列的一部分，误检测为“4T间隔、2T标记、2T间隔、3T标记”。在此，认为是“3T标记、2T间隔、2T标记”每一位向后侧移位而检测的错误方式。 

当研究图23(a)以及(b)的错误符号序列的全部组时，实际上产生错误的符号序列如下。也就是说，在图23(a)中，对于40图案中的34图案，所记录的图案“3T以上间隔、2T标记、2T间隔”每一位向前侧偏移地被检测。在图23(b)中，对于28图案中的23图案，所记录的图案“2T间隔、2T标记、3T以上间隔”每一位向后侧偏移地被检测。也就是说，错误的大部分是表3所示的、含有连续的“2T间隔、2T标记”或“2T标记、2T间隔”的图案每一位向前后偏移而引起的。 

可知在33.4GB这种高密度记录中，因光学上的符号间干扰或热干扰上述从而表3所示的图案是容易产生位错误的符号序列。此外，这些图案如图23(a)所示那样“2T标记、2T间隔”的组合连续出现的图案的情况下，再现信号向前侧出现错误，如图23(b)所示那样在“2T间隔、2T标记”的组合连续出现的图案的情况下，再现信号向后侧出现错误。 

因此，针对在2T标记之后有2T间隔、2T标记之前有3T以上间隔的情况、以及在2T标记之后在2T间隔、2T标记之前有2T间隔的情况，通过进行具有各自的记录补偿值的扩张型记录补偿，从而可改善位差错。 

同样，针对在2T标记之前2T间隔、2T标记之后记录3T以上间隔的情况、以及在2T标记之前在2T间隔、2T标记之后出现2T间隔的情况，通过进行具有各自的记录补偿值的扩张型记录补偿，从而可改善位差错。 

更加具体而言如下所述。 

首先，将所关注标记的标记长度和其前面间隔的间隔长度设为编码数据中最短的长度(2T)。并且，将位于其间隔的前面的标记(第2标记)的标记长度设为最短长度(2T)。将此时的记录脉冲列连续的2个以上的脉冲边沿(例如，dTF1和dTF2)的移动量记为x1。此外，将第2标记长度为最短长度以外(≥3T)时的记录脉冲列连续的2个以上的脉冲边沿(例如，dTF1和dTF2)的移动量记为y1。 

再有，将所关注标记的标记长度和其后面间隔的间隔长度设为编码数 据中最短长度(2T)。并且，将该间隔的后面标记(第3标记)的标记长度设为最短长度(2T)。将此时的记录脉冲列连续的2个以上的脉冲边沿(例如，dTE2和dTE3)的移动量记为x2。此外，将第3标记的标记长度为最短长度以外(≥3T)时的记录脉冲列连续的2个以上的脉冲边沿(例如，dTE2和dTE3)的移动量记为y2。 

于是，有效地使x1、x2、y1以及y2移动，使得满足： 

(y1-x1)×(y2-x2)≤0 

也就是说，在根据差错分布前面标记为2T和3T以上的情况、与后面标记为2T和3T以上的情况下，通过向相反方向移动记录脉冲边沿，进而在固定了记录脉冲的峰值功率电平幅度(最高脉冲幅度)的状态下使2T标记的位置偏移来进行记录，是特别有效的。这样一来，可以在不改变记录标记(2T)的大小的情况下，减少符号间干扰以及热干扰。 

此外，通过比较产生差错的符号序列和元数据，来检测引起差错的符号序列的种类和方向，从而对位差错出现最频繁或出现概率最大的组合的符号序列进行记录补偿。这样，可进一步减少位差错率，提高再现信号质量。 

此外，也可以控制x1、x2、y1以及y2，使得满足： 

|y1-x1|＝|y2-x2| 

由此，2T标记的一半的记录位置向前侧均等地偏移，一半的记录位置向后侧均等地偏移，2T标记整体的记录位置的平均在本记录脉冲边沿的偏移前后相同的。于是，即使改变在2T标记、其前面或后面2T间隔、甚至更前面或后面为3T以上标记的记录脉冲条件的变化量(y1-x1，y2-x2)，通过以变化量的绝对值相同的方式使其向相反方向移动，从而作为整体PLL的相位变化较少，能够降低因PLL相位偏移引起的检测误差。 

在此，在可取得2个状态转移的状态转移图案的欧几里德距离为12的情况下，也可以不以各图案为0的方式对偏移调整的目标值进行调整，在标记、间隔、标记、间隔的4个符号序列中为正解的符号序列为2个以上的情况下，以2个以上的符号序列的偏移量平均值为0的方式进行调整。对于表3的S2k-7→S1k、S3k-5→S2k，正解的符号序列都包括3T标记、2T间隔、2T标记、3T间隔。成为各自的比较对象的符号序列一个是2T 间隔、2T标记、2T间隔、4T标记，另一个是4T间隔、2T标记、2T间隔、2T标记。通过与偏移方向不同的符号序列进行比较，以各个图案中检测出的偏移平均值为0的方式进行调整，从而有效地修正移位偏离，有效降低符号间干扰或热干扰。 

接下来，对记录图案进行说明。一般，随着符号长度变长针对符号长度的记录图案的出现频率(概率)下降。也就是说，出现频率2T＞3T＞4T＞...＞8T，例如2T出现频率大致为38％，3T为25％，4T为16％。其中，记录通常的用户数据时使用的17PP调制之后的记录图案的符号长度分布还依赖于调制前的数据序列。这样，使用符号长度的出现频率不同的记录图案，改变记录脉冲条件进行记录，读出所记录的标记，将2个记录脉冲条件的差作为边沿偏离量进行检测出的情况下，受到所述调制符号的不同符号长度出现频率的影响，PLL锁定的相位也受到特定符号长度的显著影响从而发生变化。特别在记录具有1/3以上的出现概率的2T标记时，当2T标记的边沿位置发生变化时，所有记录标记的平均相位分布都改变。于是，PLL锁定的相位偏移，使用PLL时钟检测出记录标记的边沿位置信息的情况下，出现频率比较少的标记长度，特别是本实施方式中4T以上的标记长度，与边沿位置信息或标记的相位分量相关的检测误差变得显著。 

因此，作为本实施方式中的2T、3T标记调整用的记录图案，使用2T至8T的符号长度出现频率大致均等、并且进行过DSV控制的特定图案来记录。通过使用上述出现频率均等的特定图案，从而各符号长度的出现频率等于1/7，2T、3T各自为1/7，4T以上为5/7的出现频率，4T以上标记的出现频率占据大多数。该情况下，即便使2T、3T标记的记录脉冲条件发生变化，由于没有发生变化的4T以上的记录标记的边沿位置没变，因此作为整体PLL的相位变化较少，能够降低由PLL的相位偏移引起的检测误差。 

此外，作为预先记录的信号，还可以用除去了最短标记长度(2T)的符号序列进行第1试写，在求得标记长度为3T以上的符号长的记录补偿值之后，在进行第2试写时以含有2T信号的符号序列进行试写，从而生成含有2T信号的记录补偿值。在每一层的记录容量为33.4GB的光盘介质 中，再现信号中的短标记·间隔的振幅极小。在这种光盘介质中，在无法正确记录2T信号的记录标记位置的状态下，有时难以正确对准3T以上较长的标记·间隔的位置。在对上述这种符号间干扰非常大的信号进行再现时，首先记录3Tw以上符号长度的标记，预先对3Tw以上的标记·间隔的边沿位置进行正确记录补偿，然后只要记录含有2Tw信号的信号，正确补偿2Tw的标记和间隔的记录位置即可。由此，能够更加正确且有效地记录，能提高再现信号质量。 

此外，在测试记录时，2T和3T标记等较短的记录标记大小或偏移量，根据不同的记录条件而不同。每次适应均衡滤波器的抽头(tap)系数发生变化时，除了记录状态的变化，还要加上因再现状态变化引起的读出信号的偏移状态。因此，为了正确进行由于记录条件不同产生的偏移调整，在进行记录调整时，优选预先对测试记录或记录补偿调整用固定再现均衡器的提升值或适应均衡滤波器的抽头系数。这样一来，能正确调整各图案的偏移位置。 

接下来，利用图24对扩张型记录补偿的步骤进行说明。图24表示对根据本实施方式的光盘介质进行扩张型记录补偿，使记录脉冲条件最大似然化的步骤的流程图。规定了该流程图所示的处理步骤的计算机程序，由计算机执行。由此，该计算机及其处理中所需的硬件作为图1所示的光记录再现装置进行动作。 

第1步骤是记录条件的设定。记录脉冲条件运算部110设置预先记录在光盘介质101上的记录条件、或保存在光记录装置的存储器上的记录条件。 

第2步骤是用于调整符号距离14的图案的写入。记录补偿部112控制激光驱动部113以及光照射部102，以第1步骤中设置的记录条件对光盘介质101上的规定轨道进行测试记录。 

第3步骤中再现写入的信号，检测作为符号距离14的边沿偏移。偏移检测部109按照上述的边沿偏移检测方法，检测表1示出的18个图案的边沿偏移。 

第4步骤是判断表1的符号距离14的边沿偏移量是否为希望值以下的步骤。如果边沿偏移量抑制在希望值以下，则进入下一步骤。另一方面， 如果边沿偏移量没有抑制在希望值以下，则返回上述的第2步骤。记录脉冲条件运算部110设定与边沿偏移量相应的记录补偿条件，反复进行测试记录。 

第5步骤中检测表2以及表3的符号距离12的相位偏移。偏移检测部109按照上述偏移检测方法，检测表2、表3示出的各自18个图案的相位偏移。 

此外，需要留意，虽然对符号距离14检测“边沿偏移”，但对符号距离12检测“相位偏移”这一点。其原因如下。首先，符号距离14的图案调整是通过调整记录脉冲从而改变标记的始端或终端的(边沿位置)来进行的。因此，需要检测测试记录的标记的边沿偏移。另一方面，符号距离12的图案调整是通过改变连续的多个标记·间隔的记录位置而进行的，而不是调整标记始端位置或终端位置。因此，需要将进行了测试记录的各标记以及各间隔作为整体进行检测。在本说明书中，为了表示检测对象是不同的，因此区分使用“边沿偏移”的表述、和“相位偏移”的表述。其中，该用语的区分使用只是为了方便说明，不需要严格地解释。“相位偏移”在广义上是指检测测试记录的各标记的边沿偏移的意思。 

第6步骤是判断表2以及表3的符号距离12的相位偏移量是否抑制在希望值以下的步骤。如果相位偏移量抑制在希望值以下，则调整结束；如果相位偏移量没有被抑制在希望值以下，则进入下一步骤。 

第7步骤是用于调整符号距离12的图案的写入。根据第5步骤中检测出的相位偏移结果，记录脉冲条件运算部110设定记录补偿条件，对光盘介质上的规定轨道进行测试记录。返回图5。 

此外，在本实施方式的图24的步骤中，进行了在测试记录区进行测试记录从而决定记录补偿值的作业。但是，也存在原盘曝光装置这种无法对测试记录区进行记录的情况。在这种情况下，可以在其他的光盘介质的原盘进行测试记录求得记录条件之后，进行原盘切刻(cutting)。 

此外，在本实施方式中，根据光盘介质的不同，还存在与标记的前后间隔长度相应，热干扰的影响显著变化的光盘介质。在对这种光盘介质进行写入时等，不仅需要根据标记长度还要根据前后间隔长度来改变记录脉冲条件。其中，考虑标记的前后间隔长度的情况下，由于记录脉冲条件组 合数2维地增加，因此通过测试记录进行调整的参数变多，消耗更多的学习所花费的时间和记录条件学习区的轨道。一次写入型盘片这种仅能记录1次的光盘介质中，受到所述记录条件学习区轨道数的限制，能学习的次数受限，这样不希望在一次学习中消耗太多的轨道。因此，在本实施方式的使记录脉冲条件最佳化的方法中，按照各标记长度的分类来进行记录脉冲条件的调整。在为具有不需要标记的前后间隔长度下的补偿的特性的光盘介质时，不实施不必要的调整步骤，进行只是标记长度的记录脉冲条件的修正。这样，通过对每个标记长度的调整限定记录脉冲条件的修正，从而能够缩短调整时间，可有效地提高记录标记的信号质量。 

另一方面，在需要根据标记前后间隔长度以及更加前后标记长度调整记录脉冲条件的光盘介质、或仅实施每个标记以及前后间隔长度的记录脉冲条件的修正无法充分补偿记录标记的偏离等情况下，除了标记的前后间隔长度，通过进行与更前后的标记长度相应的记录脉冲条件的调整，从而能够提高记录标记的信号质量。 

此外，也可以预先将与扩张型记录补偿的有无、记录补偿的标记长度·间隔长度的分类数、前面标记补偿是否需要、后面标记补偿是否需要或分类数等的与分类相关的信息，记录在光盘介质的规定区域。所谓规定区域可以是光盘介质的内周的读入区域的初始值记录区1003(图2)。这样一来，根据光盘介质的特性，不实施不需要的调整步骤，来进行记录脉冲条件的修正。这样，预先了解记录补偿的分类数和是否需要前后标记补偿的情况下，能够有效地缩短调整时间，可提高记录标记的信号质量。 

此外，在光盘轨道中学习之后，也可以将扩张型记录补偿的有无、记录部长的标记长度·间隔长度的分类数、前面标记补偿是否需要、后面标记补偿是否需要或分类数等的与分类相关的信息记录在规定区域中。所谓规定区域可以是光盘介质内周的读入区域的初始值记录区1003。这样一来，根据光盘介质的特性，能够在下次起动时不实施所不需要的调整步骤来进行记录脉冲条件的修正。这样，预先了解记录补偿的分类数和是否需要前后标记补偿的情况下，能够有效地缩短调整时间，可提高记录标记的信号质量。 

此外，在本发明的再现装置·再现方法中，包括对光盘介质照射激光从而再现信息的再现部·再现步骤。再有，如上所述，也可以包括读取记录在光盘介质规定区域(例如，初始值记录区1003等)的、与分类相关的信息(扩张型记录补偿的有无、记录补偿的标记长度·间隔长度的分类数、前面标记补偿是否需要、后面标记补偿是否需要或分类数等)的读取部·读取步骤。根据光盘介质的特性，能够在下次起动时不实施所不需要的调整步骤来进行记录脉冲条件的修正。这样，预先了解记录补偿的分类数和是否需要前后标记补偿的情况下，能够有效地缩短调整时间，可提高记录标记的信号质量。

此外，在本实施方式中，以PR(1，2，2，2，1)ML方式为例进行了说明，但本发明并不限定于此。可以选择能够实施本发明的主旨的PRML方式的组合。 

此外，在本发明的实施方式中设定光记录法，但是作为光记录再现方法，也可以包含记录再现动作的方法。 

此外，在本发明的实施方式中，以光记录再现装置和一次写入型光盘介质为例进行了说明，但并不限定于此。本发明对于可改写型光盘介质或读出专用的光盘介质的原盘曝光装置也是有效的。例如，在制作读出专用的光盘介质时的控制步骤中，利用波长400nm左右的激光光束对无机光刻胶进行原盘切刻时，该情况下本实施方式的光记录方法的效果将充分发挥。 

图25表示这种原盘切刻装置。原盘切刻装置具有：物镜2203、电动机2204、光调制器2205、激光器2706、记录补偿电路2207、存储器2208、记录图案发生电路2209、转台2210。 

如图25所示，存储器2208中存储由图1的装置求出的图10所示的扩张型记录补偿值。首先，从存储器2208输出dTF1、dTF2、dTF3、dTE1、dTE2、dTE3的调整方式。在记录图案发生电路2209中，进行调制、ECC附于、扰频(scramble)等，从而转换为记录用二值数据(NRZI信号)。由激光器2206输出的激光光束，在光调整器2205中由记录补偿电路2207的输出信号进行输出功率调制，经由物镜2203照射在涂布于玻璃原盘2201上的无机光刻胶2202上。此时二值记录因照射的有无来实现。然后，熔化掉照射了激光的部分，通过溅射镍等金属，制作出具有凹凸凹坑的金 属母盘。将上述金属母盘作为金属模，制作光盘基板，在所述光盘基板上形成记录膜等。通过粘合至少在一侧形成记录膜的2张基板来制作出1张光盘。 

利用电子束进行原盘的切刻时，由于波长较小，因此形成高密度的凹坑。但是，切刻中所需要的时间与使用激光束的切刻相比非常长，因此相应地增加了光盘介质的原盘制造成本。通过利用本实施方式的光信息装置，使用激光束进行原盘的切刻，从而能够提供廉价的光盘介质。 

此外，根据利用了上述原盘曝光装置的实施方式的光盘介质的制造方法，也可以包含将用于记录相应信息的规定区域形成在光盘介质上的步骤，该相应信息与进行所述扩张记录补偿所需的分类相关。作为与该分类相关的信息可以是扩张型记录补偿的有无、记录部长的标记长度·间隔长度的分类数、前面标记补偿是否需要、后面标记补偿是否需要或分类数等。此外，所谓规定区域可以是光盘介质内周的读入区域的初始值记录区1003。通过这种制造方法，能够将与分类相关的信息记录在光盘介质上。由此，能够根据光盘介质的特性，不实施所不需要的调整步骤来进行记录脉冲条件的修正。这样，在预先了解记录补偿的分类数和是否需要前后标记补偿的情况下，能够有效地缩短调整时间，可提高记录标记的信号质量。 

接下来，图26表示根据本实施方式的3层光盘介质的叠层结构的概略图。在3层光盘介质中，以基板2603、信息记录层L0(简记Layer0为L0)2600、信息记录层L1(2601)、信息记录层L2(2602)、封面层2606的顺序叠层。激光从封面层2606侧向基板2603方向射入。 

基板2603的厚度大致为1.1mm，封面层2606的厚度至少为53μm以上，各信息记录层L0、L1以及L2由透明的间隔层2604、2605彼此隔开。 

在本实施方式中，作为具体例设定：封面层2606的厚度为57μm，L2-L1之间的间隔层2605的厚度为18μm，L1-L0之间的间隔层2604的厚度为25μm。优选以来自各信息记录层的折射光的干扰(层间干扰)较少的方式来设计以间隔层隔开的各信息记录层的间距，并不限定于由上述间隔层的厚度得到的层间距离。在叠层盘片的情况下，特别是L2、L1层由于必需向里层透过光，因此在设计中需要55％～65％的高透过率。 

在对这种具有高透过率记录层的记录介质，以超过光学分辨率的标记 长度的记录密度进行写入时，为了确保高透过率，必需使各信息记录层的记录膜、反射膜、电介质膜等的膜厚较薄。因此，记录膜上下的电介质膜对反射膜的热扩散较少，对记录膜面内的热扩散较多。也就是说，在记录标记时，因热干扰，标记的记录边沿位置会偏离。本发明的扩张型记录补偿，在对这种具有高透过率的记录介质记录超过光学分辨率的微小标记的情况下特别有效。 

此外，这里使用的光拾取头与现有BD中采用的相同，但也可以是其他结构的光拾取头，只要能对光存储介质照射激光并输出与光存储介质反射出的光束相应的信号即可。 

(产业上的利用可能性) 

本发明的对光盘介质的光记录再现方法以及光记录再现装置，具有对光记录介质的高密度记录的效果，可以利用与包括数字家用电器、信息处理装置的电子设备产业等中。 

Claims (16)

1.一种光记录方法，通过以多个等级的功率切换激光，将调制之后的记录脉冲列照射于光盘介质，从而在所述光盘介质上形成多个标记，利用各标记以及相邻的2个标记之间的间隔的边沿位置记录信息，所述光记录方法特征在于包括：

对记录数据进行编码，生成作为标记以及间隔的组合的编码数据的步骤；

根据所述标记的标记长度、所述标记前面的第1间隔的间隔长度以及所述标记后面的第2间隔的间隔长度的组合，对编码数据进行分类的步骤；

根据所述分类结果，生成使用于形成所述标记的记录脉冲列的始端边沿位置、终端边沿位置以及脉冲宽度之中的至少一个改变的所述记录脉冲列的步骤；和

将所生成的所述记录脉冲列照射于光盘介质，从而在所述光盘介质上形成多个所述标记的步骤，

所述第1间隔长度被分类为M个种类，其中的M为1以上的整数，

所述第2间隔长度被分类为N个种类，其中的N为1以上的整数，

在生成记录脉冲列的所述步骤中，

在改变所述始端边沿位置或所述脉冲宽度的情况下，根据以M>N的方式分类得到分类结果，改变所述始端边沿位置或所述脉冲宽度，

在改变所述终端边沿位置的情况下，根据以M<N的方式分类得到分类结果，改变所述终端边沿位置。

2.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于，

在进行分类的所述步骤中，根据最短标记的标记长度、所述第1间隔的间隔长度以及所述第2间隔的间隔长度的组合，对所述编码数据进行分类。

3.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于，

将最短间隔长度设为n时，

在进行分类的所述步骤中，根据所述标记的标记长度、所述第1间隔的间隔长度是n还是n+1以上、或者所述第2间隔的间隔长度是n还是n+1以上的组合，来对所述编码数据进行分类。

4.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于，

在将最短间隔长度设为n时，

在进行分类的所述步骤中，根据间隔长度，将所述第1间隔分类为n、n+1、n+2、n+3以上的4个种类，将所述第2间隔分类为n以及n+1以上的2个种类，从而对所述编码数据进行分类，

在进行生成的所述步骤中，根据所述分类结果，改变所述记录脉冲列的始端边沿位置。

5.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于，

在将最短间隔长度设为n时，

在进行分类的所述步骤中，根据间隔长度，将所述第1间隔分类为n以及n+1以上的2个种类，将所述第2间隔分类为n、n+1、n+2、n+3以上的4个种类，从而对所述编码数据进行分类，

在进行生成的所述步骤中，根据所述分类结果，改变所述记录脉冲列的终端边沿位置。

6.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于，

在将最短间隔长度设为n时，

在进行分类的所述步骤中，根据间隔长度，将所述第1间隔分类为n、n+1、n+2、n+3以上的4个种类，将所述第2间隔分类为n以及n+1以上的2个种类，从而对所述编码数据进行分类，

在进行生成的所述步骤中，根据所述分类结果，改变所述记录脉冲列的脉冲宽度。

7.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于，

在所述标记的标记长度比最短标记长度长时，

在进行分类的所述步骤中，根据所述标记长度和所述第1间隔长度的组合、以及所述标记长度与所述第2间隔长度的组合之中的至少其中一方，来对所述编码数据进行分类。

8.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于，

还包括：从所述光盘介质生成模拟信号，从所述模拟信号生成数字信号的步骤；

对所述数字信号的波形进行整形的步骤；

通过PRML(Partial Response Maximum Likelihood)方式对整形之后的所述数字信号进行最大似然译码的步骤；

生成表示最大似然译码结果的二值化信号的步骤；和

基于整形之后的所述数字信号和所述二值化信号，检测整形之后的所述数字信号波形的偏移量的步骤，

在生成记录脉冲列的所述步骤中，根据所述偏移量的检测结果，改变用于形成多个所述标记的记录脉冲列的所述始端边沿位置、所述终端边沿位置以及脉冲宽度之中的至少一个。

9.根据权利要求8所述的光记录方法，其特征在于，

在进行检测的所述步骤中，比较所述编码数据和所述二值化信号，从而检测所述数字信号波形的偏移量，

在生成记录脉冲列的所述步骤中，改变所述记录脉冲列的所述始端边沿位置、所述终端边沿位置、以及脉冲宽度之中的至少一个。

10.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于，

在生成记录脉冲列的所述步骤中，根据所述分类结果，改变所述记录脉冲列的、从始端起第1个至第3个以及从终端起第1个至第3个的脉冲边沿之中的至少一个脉冲边沿的位置，来生成所述记录脉冲列。

11.根据权利要求1所述的光记录方法，其特征在于，

在将所述激光的波长设为λ，将物镜的数值孔径设为NA，将最短标记长度设为ML时，

满足：ML<λ／NA×0.26。

12.根据权利要求11所述的光记录方法，其特征在于，

所述最短标记长度ML为0.128μm以下。

13.根据权利要求11所述的光记录方法，其特征在于，

所述激光的波长λ在400nm至410nm的范围内，所述NA在0.84至0.86的范围内。

14.一种光记录装置，通过以多个等级的功率切换激光，将调制之后的记录脉冲列照射于光盘介质，从而在所述光盘介质上形成多个标记，利用各标记以及相邻的2个标记之间的间隔的边沿位置记录信息，所述光记录装置特征在于具备：

编码部，对记录数据进行编码，生成作为标记以及间隔的组合的编码数据；

分类部，根据所述标记的标记长度、所述标记前面的第1间隔的间隔长度以及所述标记后面的第2间隔的间隔长度的组合，对编码数据进行分类；

记录波形发生部，根据所述分类结果，生成使用于形成所述标记的记录脉冲列的始端边沿位置、终端边沿位置以及脉冲宽度之中的至少一个改变的所述记录脉冲列；和

激光驱动部，将所生成的所述记录脉冲列照射于光盘介质，从而在所述光盘介质上形成多个所述标记，

所述第1间隔长度被分类为M个种类，其中的M为1以上的整数，

所述第2间隔长度被分类为N个种类，其中的N为1以上的整数，

所述记录波形发生部，

在改变所述始端边沿位置或所述脉冲宽度的情况下，根据以M>N的方式分类得到分类结果，改变所述始端边沿位置或所述脉冲宽度，

在改变所述终端边沿位置的情况下，根据以M<N的方式分类得到分类结果，改变所述终端边沿位置。

15.根据权利要求14所述的光记录装置，其特征在于具有：

PRML处理部，接受根据从光盘介质再现得到的模拟信号所生成的数字信号，对所述数字信号波形进行整形，通过PRML(Partial ResponseMaximum Likelihood)方式对所述整形之后的数字信号进行最大似然译码；

偏移检测部，基于标示最大似然译码的结果的二值化信号和整形之后的所述数字信号，检测所述数字信号波形的偏移量，

记录补偿部，根据所述偏移量的检测结果，改变用于形成多个所述标记的记录脉冲列的所述始端边沿位置、所述终端边沿位置以及脉冲宽度之中的至少一个。

16.一种原盘曝光装置，在涂布了光刻胶的原盘上，通过以多个等级的功率切换激光，将调制之后的记录脉冲列照射于光盘介质，从而在所述光盘介质上形成多个标记，利用各标记以及相邻的2个标记之间的间隔的边沿位置记录信息，所述原盘曝光装置特征在于具备：

编码部，对记录数据进行编码，生成作为标记以及间隔的组合的编码数据；

分类部，根据所述标记的标记长度、所述标记前面的第1间隔的间隔长度以及所述标记后面的第2间隔的间隔长度的组合，对编码数据进行分类；

记录波形发生部，根据所述分类结果，生成使用于形成所述标记的记录脉冲列的始端边沿位置、终端边沿位置以及脉冲宽度之中的至少一个改变的所述记录脉冲列；和

激光驱动部，将所生成的所述记录脉冲列照射于光盘介质，从而在所述光盘介质上形成多个所述标记，

所述第1间隔长度被分类为M个种类，其中的M为1以上的整数，

所述第2间隔长度被分类为N个种类，其中的N为1以上的整数，

所述记录波形发生部，

在改变所述始端边沿位置或所述脉冲宽度的情况下，根据以M>N的方式分类得到分类结果，改变所述始端边沿位置或所述脉冲宽度，

在改变所述终端边沿位置的情况下，根据以M<N的方式分类得到分类结果，改变所述终端边沿位置。

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