CN108064345B - 用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，包括：拨动机构，该拨动机构包括驱动组件及拨动组件，该拨动组件包括与驱动组件传动连接的安装座及安装于安装座上的若干个拨动杆；以及用于承载待测元器件的载台，其中，每个拨动杆的正下方均设有载台，拨动杆与载台上的待测元器件选择性配接，驱动组件可沿X轴方向往复传输动力，当拨动杆与载台上的待测元器件处于配接状态时，驱动拨动杆在驱动组件的驱动下沿X轴方向作往复直线运动以拨动载台上的待测元器件根据本发明，其能够使得力学性能测试与电学性能测试同时进行，大大缩短了测试周期，也减少了元器件由于反复装载导致的元器件损坏，提高了测试效率，降低了生产成本。

Description

用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置

技术领域

本发明涉及元器件高压水密性功能测试领域，特别涉及一种用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置。

背景技术

对于一些元器件，往往在生产完成后至出厂前，需要对其进行高压下的水密性功能测试，例如测试一些力学性能及电学性能是否满足设计需求及产品质量要求。

在现有的元器件高压水密性功能测试仪中，大多数仅仅能够测试元器件的水密性功能，由于异形元器件外形结构复杂、形状不唯一，当要进行一些力学性能测试时，往往显得较为局限，正因如此，现有的元器件高压水密性功能测试仪仅能先测试一项性能，当测试完一项性能后，再将元器件转到下个载台中进行另一项性能测试，这就大大增加了测试时间，及反复装载对元器件的损害。

有鉴于此，实有必要开发一种用于异形元器件高压水密性功能测试仪的拨动机构，用以解决上述问题。

发明内容

针对现有技术中存在的不足之处，本发明的目的是提供一种用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其在提高测试高压水环境状态下异形元器件的电学性能的同时，还能够同时测试该异型元器件在拨动时的力学性能，两项测试同时进行，大大缩短了测试周期，也减少了元器件由于反复装载导致的元器件损坏，提高了测试效率，降低了生产成本。

为了实现根据本发明的上述目的和其他优点，提供了一种用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，包括：

拨动机构，该拨动机构包括驱动组件及拨动组件，该拨动组件包括与驱动组件传动连接的安装座及安装于安装座上的若干个拨动杆；以及

用于承载待测元器件的载台，

其中，每个拨动杆的正下方均设有载台，拨动杆与载台上的待测元器件选择性配接，驱动组件可沿X轴方向往复传输动力，当拨动杆与载台上的待测元器件处于配接状态时，驱动拨动杆在驱动组件的驱动下沿X轴方向作往复直线运动以拨动载台上的待测元器件。

优选的是，驱动组件包括：

支座；以及

设于支座上的驱动电机与滑动导轨，

其中，滑动导轨上滑动配接有滑动座，驱动电机的动力输出端与滑动座相连接，滑动座的旁侧设有用于感应滑动座滑行位置的前位置传感器与后位置传感器。

优选的是，安装座沿Y轴方向延伸，所述X轴与Y轴在同一水平面上且相互垂直。

优选的是，安装座上嵌设有安装板，安装板的延伸方向与安装座的延伸方向相一致。

优选的是，载台包括：

基座，该基座上设有向上凸起的连接部及用于放置待测元器件的载物台；以及

根部与连接部相铰接的盖板，盖板上开设有贯穿其上下表面的让位孔，

其中，盖板可绕连接部在竖直平面内往复转动从而将放置于载物台上的待测元器件选择性地压紧，当盖板将放置于载物台上的待测元器件压紧时，待测元器件的上部可以穿过让位孔。

优选的是，载物台上开设有用于容纳待测元器件的容纳槽，容纳槽的底部开设有沿竖直方向延伸的检测通孔，所述检测通孔中嵌设有探针，容纳槽上设有覆盖有密封组件，该密封组件包括：

密封板；以及

设于密封板与载物台之间的顶部密封圈，

其中，密封板中开设有允许待测元器件的上部通过的密封通孔，顶部密封圈环绕地设置于容纳槽的外周，密封通孔分别与让位孔及及容纳槽相互连通。

优选的是，密封通孔的内侧设有一圈与待测元器件弹性接触的缓冲圈，密封板、顶部密封圈及缓冲圈三者全部一体式地结合成统一整体。

优选的是，基座的旁侧还设有用于将盖板选择性压紧的压紧组件，该压紧组件与盖板的端部相对设置。

优选的是，压紧组件包括：

固定座；

根部与固定座转动连接的转轴；以及

与转轴的顶部相固接的压板，

其中，压板呈L字形结构。

优选的是，拨杆的前端向下延伸形成有下延部，下延部的下表面上开设有拨动槽。

本发明与现有技术相比，其有益效果是：

1、由于当拨动杆与载台上的待测元器件处于配接状态时，驱动拨动杆在驱动组件的驱动下沿X轴方向作往复直线运动以拨动载台上的待测元器件，从而使得可以对元器件进行拨动状态下力学性能测试；

2、由于载物台上开设有用于容纳待测元器件的容纳槽，容纳槽的底部开设有沿竖直方向延伸的检测通孔，所述检测通孔中嵌设有探针，探针可以从容纳槽的底部对容纳槽中的待测元器件进行电学性能测试，具有较合理的空间结构布局，节省空间的同时也能便于后续检修及调试；

3、由于当盖板将放置于载物台上的待测元器件压紧时，待测元器件的上部可以穿过让位孔，从而使得盖板将待测元器件压紧后不会影响后续对待测元器件的上部进行测试；

4、由于密封板中开设有允许待测元器件的上部通过的密封通孔，顶部密封圈环绕地设置于容纳槽的外周，密封通孔分别与让位孔及及容纳槽相互连通，使得放置于容纳槽中的待测元器件的上部能够依次通过密封通孔及让位孔后露出，从而便于对其上部进行测试；

5、由于密封通孔的内侧设有一圈与待测元器件弹性接触的缓冲圈，该缓冲圈除了能够提供更好的密封性外，还能使得异性元器件的表面更好地与密封板相适应，从而减少待测元器件在容纳槽内出现晃动、错位的问题，也有助于待测元器件的外表面受到有效保护；

6、由于基座的旁侧还设有用于将盖板选择性压紧的压紧组件，该压紧组件与盖板的端部相对设置，从而能够进一步加强对待测元器件的密封。

附图说明

图1为根据本发明所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置其中一实施方式的立体图；

图2为根据本发明所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置另一种实施方式的立体图；

图3为根据本发明所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置中拨动机构在待拨动工位处的立体图；

图4为根据本发明所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置中拨动机构在拨动工位处的立体图；

图5为根据本发明所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置中拨动机构的右视图；

图6为根据本发明所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置中拨动机构的爆炸视图；

图7为根据本发明所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置中载台的立体图；

图8为根据本发明所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置中载台的右视图；

图9为根据本发明所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置中载台的俯视图；

图10为图9中沿A-A方向的剖视图；

图11为根据本发明所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置中载台的爆炸视图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明做进一步的详细说明，本发明的前述和其它目的、特征、方面和优点将变得更加明显，以令本领域技术人员参照说明书文字能够据以实施。在附图中，为清晰起见，可对形状和尺寸进行放大，并将在所有图中使用相同的附图标记来指示相同或相似的部件。在下列描述中，诸如中心、厚度、高度、长度、前部、背部、后部、左边、右边、顶部、底部、上部、下部等用词为基于附图所示的方位或位置关系。特别地，“高度”相当于从顶部到底部的尺寸，“宽度”相当于从左边到右边的尺寸，“深度”相当于从前到后的尺寸。这些相对术语是为了说明方便起见并且通常并不旨在需要具体取向。涉及附接、联接等的术语(例如，“连接”和“附接”)是指这些结构通过中间结构彼此直接或间接固定或附接的关系、以及可动或刚性附接或关系，除非以其他方式明确地说明。

参照图2，用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置包括：拨动机构3与载台4，其中，该拨动机构3包括驱动组件31及拨动组件31，该拨动组件32包括与驱动组件31传动连接的安装座321及安装于安装座321上的若干个拨动杆322，载台4用于承载待测元器件，每个拨动杆322的正下方均设有载台4，拨动杆322与载台4上的待测元器件选择性配接，驱动组件31可沿X轴方向往复传输动力，当拨动杆322与载台4上的待测元器件处于配接状态时，驱动拨动杆322在驱动组件31的驱动下沿X轴方向作往复直线运动以拨动载台4上的待测元器件。采用上述结构，可以对元器件进行拨动状态下力学性能测试。

参照图1，在优选的实施方式中，拨动机构3对称地设有两组，每组拨动机构3中设有5根拨动杆322，载台4的数目与拨动杆322的数目一一对应设置。

参照图5，拨动杆322的前端向下延伸形成有下延部3221，下延部3221的下表面上开设有拨动槽3222。从而使得拨动杆322在往复拨动过程中时，拨动杆322除了向下延伸的下延部3221外其他结构能够对异形元器件进行避让，防止出现由于碰撞造成的测试失败。

参照图3与图4，安装座321沿Y轴方向延伸，所述X轴与Y轴在同一水平面上且相互垂直。

进一步地，安装座321上嵌设有安装板328，安装板328的延伸方向与安装座321的延伸方向相一致。

进一步地，若干个拨动杆322等间距且相互平行地与安装板328相固接，拨动杆322沿X轴方向延伸。

参照图6，安装座321内形成有用于容纳安装板328的滑槽3211，滑槽3211的延伸方向与安装座321的延伸方向相一致，滑槽3211的长度大于滑槽3211的长度。使得安装板328能够在滑槽3211内沿Y轴方向选择性往复滑移，从而使得拨动杆322能够从图1中的待拨动工位切换到图2中的拨动工位，当拨动杆322在图1中的待拨动工位时，拨动杆322与待测试的元器件相分离，此时可以对载台上的元器件进行替换。

进一步地，安装板328上设有提手327，滑槽3211的侧壁上、提手327的相应位置处开设有让位槽3212。从而使得操作人员通过提拉提手327来完成在待拨动工位与拨动工位间的切换。在优选的实施方式中，安装座321上还设有与安装板328选择性卡接的锁定旋钮323，具体地，当锁定旋钮323下压时，锁定旋钮323与安装板328相卡接，此时安装板328所处的工位被锁死，当锁定旋钮323向上拔出时，锁定旋钮323与安装板328相分离，安装板328处于自由状态，可通过提拉提手327来对工位进行切换。在另一实施方式中，滑槽3211的敞口处，设置有上阻挡条324及下阻挡条325，上阻挡条324及下阻挡条325分别设于该敞口上下两端，用于阻挡安装板328的上部及下部，防止安装板328从滑槽3211滑脱，有利于安装板328在滑槽3211中稳定安装及滑动。

参照图3，驱动组件31的动力输出端与拨动组件32之间连接有沿X轴方向延伸的传动杆328，传动杆328与驱动组件31的动力输出端连接有推拉力传感器316，推拉力传感器316用于感应拨动杆322在拨动过程中驱动机构施加的推力。

参照图3及图4，驱动组件31包括：

支座311；以及

设于支座311上的驱动电机313与滑动导轨312，

其中，滑动导轨312上滑动配接有滑动座314，驱动电机313的动力输出端与滑动座314相连接，滑动座314的旁侧设有用于感应滑动座314滑行位置的前位置传感器317与后位置传感器318。

参照图7及图8，载台4包括：基座41与盖板42，其中，基座41上设有向上凸起的连接部411及用于放置待测元器件的载物台412，盖板42的根部与连接部411相铰接，盖板42上开设有贯穿其上下表面的让位孔422，盖板42可绕连接部411在竖直平面内往复转动从而将放置于载物台412上的待测元器件选择性地压紧，当盖板42将放置于载物台412上的待测元器件压紧时，待测元器件的上部可以穿过让位孔422。从而使得盖板42将待测元器件压紧后不会影响后续对待测元器件的上部进行测试。

参照图11，载物台412上开设有用于容纳待测元器件的容纳槽4122。

进一步地，容纳槽4122的底部开设有沿竖直方向延伸的检测通孔，检测通孔中嵌设有探针44。从而使得探针可以从待测元器件的下方对其进行测试，具有较合理的空间结构布局，节省空间的同时也能便于后续检修及调试。在优选的实施方式中，由探针底部牵引出的导线从基座41的下方穿出。在另一实施方式中，载物台412上还设有调试定位孔4121。在优选的实施方式中，拨动杆322可拆卸地嵌设有定位插销326，该定位插销326沿竖直方向延伸。该定位插销326用于调试拨动杆322与待测试元器件的垂直度、平行度等配合位置，能够便于两者的位置关系微调，提高测试精确性，以及提高操作人员组装与调试的便捷性。

参照图10，容纳槽4122上设有覆盖有密封组件45，该密封组件45包括：

密封板451；以及

设于密封板451与载物台412之间的顶部密封圈452，

其中，密封板451中开设有允许待测元器件的上部通过的密封通孔454，顶部密封圈452环绕地设置于容纳槽4122的外周，密封通孔454分别与让位孔422及及容纳槽4122相互连通。从而使得放置于容纳槽4122中的待测元器件的上部能够依次通过密封通孔454及让位孔422后露出，在对待测元器件的下部进行密封的同时还能便于对其上部进行测试。

进一步地，密封通孔454的内侧设有一圈与待测元器件弹性接触的缓冲圈453，密封板451、顶部密封圈452及缓冲圈453三者全部一体式地结合成统一整体。该缓冲圈453除了能够提供更好的密封性外，还能使得异性元器件的表面更好地与密封板451相适应，从而减少待测元器件在容纳槽4122内出现晃动、错位的问题，也有助于待测元器件的外表面受到有效保护。

参照图7及图8，基座41的旁侧还设有用于将盖板42选择性压紧的压紧组件43，该压紧组件43与盖板42的端部相对设置。

进一步地，压紧组件43包括：

固定座431；

根部与固定座431转动连接的转轴433；以及

与转轴433的顶部相固接的压板432，

其中，压板432呈L字形结构。压板432在转动过程中，能够选择性地将盖板42压紧。在优选的实施方式中，盖板42的端部上表面设有一向下倾斜的引导斜面421，能够将压板432与盖板42的点接触接触变为面接触，使得两者间的接触压力趋于缓和，减缓长时间、多次测试后两者间出现的磨损，提高使用寿命。

参照图11，基座41的底部嵌设有底部密封圈46，该底部密封圈46环绕地设置于检测通孔的外周。从而使得探针44的下部能够得到密封，防止在高压状态下水从基座41的底部侵入到检测通孔导致的测试失败。

这里说明的设备数量和处理规模是用来简化本发明的说明的。对本发明的应用、修改和变化对本领域的技术人员来说是显而易见的。

尽管本发明的实施方案已公开如上，但其并不仅限于说明书和实施方式中所列运用，它完全可以被适用于各种适合本发明的领域，对于熟悉本领域的人员而言，可容易地实现另外的修改，因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下，本发明并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。

Claims (9)

1.一种用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，包括：

拨动机构（3），该拨动机构（3）包括驱动组件（31）及拨动组件（32），该拨动组件（32）包括与驱动组件（31）传动连接的安装座（321）及安装于安装座（321）上的若干个拨动杆（322）；以及

用于承载待测元器件的载台（4），

其中，每个拨动杆（322）的正下方均设有载台（4），拨动杆（322）与载台（4）上的待测元器件选择性配接，驱动组件（31）可沿X轴方向往复传输动力，当拨动杆（322）与载台（4）上的待测元器件处于配接状态时，驱动拨动杆（322）在驱动组件（31）的驱动下沿X轴方向作往复直线运动以拨动载台（4）上的待测元器件；

载台（4）包括：

基座（41），该基座（41）上设有向上凸起的连接部（411）及用于放置待测元器件的载物台（412）；以及

根部与连接部（411）相铰接的盖板（42），盖板（42）上开设有贯穿其上下表面的让位孔（422），

其中，盖板（42）可绕连接部（411）在竖直平面内往复转动从而将放置于载物台（412）上的待测元器件选择性地压紧，当盖板（42）将放置于载物台（412）上的待测元器件压紧时，待测元器件的上部可以穿过让位孔（422）；拨动机构（3）对称地设有两组。

2.如权利要求1所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，驱动组件（31）包括：

支座（311）；以及

设于支座（311）上的驱动电机（313）与滑动导轨（312），

其中，滑动导轨（312）上滑动配接有滑动座（314），驱动电机（313）的动力输出端与滑动座（314）相连接，滑动座（314）的旁侧设有用于感应滑动座（314）滑行位置的前位置传感器（317）与后位置传感器（318）。

3.如权利要求1所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，安装座（321）沿Y轴方向延伸，所述X轴与Y轴在同一水平面上且相互垂直。

4.如权利要求3所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，安装座（321）上嵌设有安装板（328），安装板（328）的延伸方向与安装座（321）的延伸方向相一致。

5.如权利要求1所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，载物台（412）上开设有用于容纳待测元器件的容纳槽（4122），容纳槽（4122）的底部开设有沿竖直方向延伸的检测通孔，所述检测通孔中嵌设有探针（44），容纳槽（4122）上设有密封组件（45），该密封组件（45）包括：

密封板（451）；以及

设于密封板（451）与载物台（412）之间的顶部密封圈（452），

其中，密封板（451）中开设有允许待测元器件的上部通过的密封通孔（454），顶部密封圈（452）环绕地设置于容纳槽（4122）的外周，密封通孔（454）分别与让位孔（422）及容纳槽（4122）相互连通。

6.如权利要求5所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，密封通孔（454）的内侧设有一圈与待测元器件弹性接触的缓冲圈（453），密封板（451）、顶部密封圈（452）及缓冲圈（453）三者全部一体式地结合成统一整体。

7.如权利要求1所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，基座（41）的旁侧还设有用于将盖板（42）选择性压紧的压紧组件（43），该压紧组件（43）与盖板（42）的端部相对设置。

8.如权利要求7所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，压紧组件（43）包括：

固定座（431）；

根部与固定座（431）转动连接的转轴（433）；以及

与转轴（433）的顶部相固接的压板（432），

其中，压板（432）呈L字形结构。

9.如权利要求1所述的用于测试异形元器件高压水密性功能的测试装置，其特征在于，拨动杆（322）的前端向下延伸形成有下延部（3221），下延部（3221）的下表面上开设有拨动槽（3222）。

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