CN211726585U - 一种双轨分选机测试装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种双轨分选机测试装置,包括安装座,所述安装座的内部通过定位组件插接固定有顶针,所述安装座的底部对应两侧开设有定位螺栓孔,所述定位螺栓孔的内部旋接固定有紧固旋钮,所述安装座滑动连接有在弹性伸缩组件的内部,所述弹性伸缩组件安装在位移组件上,所述弹性伸缩组件包括弹性伸缩座、滑槽、第一支撑弹簧、滑杆和第一滑块,所述弹性伸缩座的对应两侧内壁开设有滑槽,所述滑槽的对应两侧内壁安装有滑杆,所述滑杆上滑动连接有第一滑块。本实用新型结构新颖,构思巧妙,不仅可以避免顶针与半导体元件硬接触,造成半导体元件或者顶针损坏,而且可以保证顶针与半导体元件接触的紧密性,以保证测试的精确性。

Description

一种双轨分选机测试装置
技术领域
本实用新型涉及分选机技术领域,具体为一种双轨分选机测试装置。
背景技术
半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间,利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件,可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换。半导体器件的半导体材料是硅、锗或砷化镓,可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材。为了与集成电路相区别,有时也称为分立器件。绝大部分二端器件(即晶体二极管)的基本结构是一个PN结。
目前,半导体器件在生产后需要使用双轨分选机对半导体器件进行分选。但是现有的测试装置,顶针在安装时,需要通过螺钉将顶针固定在分选机上,这样使得顶针在安装、更换、拆卸时极为不方便,影响了生产效率,而且顶针在测试的过程中与半导体器件硬接触,影响半导体器件和顶针的寿命。因此,设计一种双轨分选机测试装置是很有必要的。
实用新型内容
针对上述情况,为克服现有技术的缺陷,本实用新型提供一种双轨分选机测试装置,该装置结构新颖,构思巧妙,不仅可以避免顶针与半导体元件硬接触,造成半导体元件或者顶针损坏,而且可以保证顶针与半导体元件接触的紧密性,以保证测试的精确性。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种双轨分选机测试装置,包括安装座,所述安装座的内部通过定位组件插接固定有顶针,所述安装座的底部对应两侧开设有定位螺栓孔,所述定位螺栓孔的内部旋接固定有紧固旋钮,所述安装座滑动连接有在弹性伸缩组件的内部,所述弹性伸缩组件安装在位移组件上;
所述弹性伸缩组件包括弹性伸缩座、滑槽、第一支撑弹簧、滑杆和第一滑块,所述弹性伸缩座的对应两侧内壁开设有滑槽,所述滑槽的对应两侧内壁安装有滑杆,所述滑杆上滑动连接有第一滑块,所述滑杆上套接有位于第一滑块和滑槽内壁的第一支撑弹簧,所述第一滑块固定在安装座的对应两侧。
优选的,所述弹性伸缩座的底部内壁中心处安装有缓冲垫,所述缓冲垫为一种橡胶材料构件。
优选的,所述位移组件包括滑轨、往复丝杆、第二滑块、伺服电机和减速器,所述滑轨的内部转动连接有往复丝杆,所述往复丝杆上啮合连接有在滑轨内部滑动的第二滑块,所述第二滑块的底部安装有弹性伸缩座,所述滑轨的一侧安装有驱动往复丝杆的减速器,所述减速器上安装有伺服电机。
优选的,所述第二滑块的一侧安装有距离传感器,所述第二滑块的外壁一侧安装有PLC控制器,所述距离传感器电性连接PLC控制器的输入端,所述PLC控制器的输出端电性连接伺服电机。
优选的,所述滑轨的顶部对应两侧安装有定位板,所述定位板的中心处开设有贯通的通孔。
优选的,所述定位组件包括伸缩槽、定位凸起、滑板、第二支撑弹簧和定位孔,所述伸缩槽对称开设在安装座的内壁四周,所述伸缩槽的内部滑动连接有滑板,所述滑板的底部通过第二支撑弹簧与伸缩槽的底部连接,所述滑板的顶部中心处安装有贯穿伸缩槽的定位凸起,所述顶针上对称开设有与定位凸起配合使用的定位孔。
本实用新型的有益效果为:
1、顶针安装时,将顶针插入到安装座的内部后,通过安装座内部的定位组件进行卡紧,接着在转动紧固旋钮,使紧固旋钮在定位螺栓孔的内部旋转,从而紧紧的卡紧顶针,便于顶针的快速安装和拆卸,使用方便;
2、测试时,驱动顶针对半导体元件一个位置进行顶压并测试,在顶针接触到半导体元件时,第一滑块在滑杆上运动,从而造成第一支撑弹簧受力压缩,在第一支撑弹簧的反向作用力下,不仅可以避免顶针与半导体元件硬接触,造成半导体元件或者顶针损坏,而且可以保证顶针与半导体元件接触的紧密性,以保证测试的精确性;
3、伺服电机工作,带动减速器旋转,从而带动往复丝杆旋转,带动第二滑块在滑轨的内部滑动,继而带动顶针运动,以便于对半导体元件的不同位置进行测试,以提升测试的精确性,同时配合设置的距离传感器,便于精确的监控第二滑块的运行距离,以便于对第二滑块的位置进行精确调节,有效的提升使用的方便性;
4、将顶针插入到安装座的内部时,会造成定位凸起收入到伸缩槽的内部,使第二支撑弹簧受力压缩,当定位孔运动到与定位凸起对应时,在第二支撑弹簧的反向作用力下,使定位凸起卡入到定位孔的内部,便于顶针的精确对位。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制。在附图中:
图1是本实用新型整体平面结构示意图;
图2是本实用新型弹性伸缩组件平面结构示意图;
图3是本实用新型定位组件平面结构示意图;
图4为本实用新型定位孔安装结构示意图;
图中标号:1、安装座;2、定位组件;3、定位螺栓孔;4、紧固旋钮;5、顶针;6、弹性伸缩组件;7、位移组件;8、滑轨;9、往复丝杆;10、第二滑块;11、伺服电机;12、减速器;13、距离传感器;14、PLC控制器;15、定位板;16、通孔;17、弹性伸缩座;18、滑槽;19、第一支撑弹簧;20、滑杆;21、第一滑块;22、缓冲垫;23、伸缩槽;24、定位凸起;25、滑板;26、第二支撑弹簧;27、定位孔。
具体实施方式
下面结合附图1-4对本实用新型的具体实施方式做进一步详细说明。
由图1-4给出,本实用新型提供如下技术方案:一种双轨分选机测试装置,包括安装座1,安装座1的内部通过定位组件2插接固定有顶针5,安装座1的底部对应两侧开设有定位螺栓孔3,定位螺栓孔3的内部旋接固定有紧固旋钮4,安装座1滑动连接有在弹性伸缩组件6的内部,弹性伸缩组件6安装在位移组件7上,顶针5安装时,将顶针5插入到安装座1的内部后,通过安装座1内部的定位组件2进行卡紧,接着在转动紧固旋钮4,使紧固旋钮4在定位螺栓孔3的内部旋转,从而紧紧的卡紧顶针5,便于顶针5的快速安装和拆卸,使用方便;
弹性伸缩组件6包括弹性伸缩座17、滑槽18、第一支撑弹簧19、滑杆20和第一滑块21,弹性伸缩座17的对应两侧内壁开设有滑槽18,滑槽18的对应两侧内壁安装有滑杆20,滑杆20上滑动连接有第一滑块21,滑杆20上套接有位于第一滑块21和滑槽18内壁的第一支撑弹簧19,第一滑块21固定在安装座1的对应两侧,测试时,驱动顶针5对半导体元件一个位置进行顶压并测试,在顶针5接触到半导体元件时,第一滑块21在滑杆20上运动,从而造成第一支撑弹簧19受力压缩,在第一支撑弹簧19的反向作用力下,不仅可以避免顶针5与半导体元件硬接触,造成半导体元件或者顶针5损坏,而且可以保证顶针5与半导体元件接触的紧密性,以保证测试的精确性。
弹性伸缩座17的底部内壁中心处安装有缓冲垫22,缓冲垫22为一种橡胶材料构件,提升缓冲能力。
位移组件7包括滑轨8、往复丝杆9、第二滑块10、伺服电机11和减速器12,滑轨8的内部转动连接有往复丝杆9,往复丝杆9上啮合连接有在滑轨8内部滑动的第二滑块10,第二滑块10的底部安装有弹性伸缩座17,滑轨8的一侧安装有驱动往复丝杆9的减速器12,减速器12上安装有伺服电机11,伺服电机11工作,带动减速器12旋转,从而带动往复丝杆9旋转,带动第二滑块10在滑轨8的内部滑动,继而带动顶针5运动,以便于对半导体元件的不同位置进行测试,以提升测试的精确性,同时配合设置的距离传感器13,便于精确的监控第二滑块10的运行距离,以便于对第二滑块10的位置进行精确调节,有效的提升使用的方便性。
第二滑块10的一侧安装有距离传感器13,第二滑块10的外壁一侧安装有PLC控制器14,距离传感器13电性连接PLC控制器14的输入端,PLC控制器14的输出端电性连接伺服电机11。
滑轨8的顶部对应两侧安装有定位板15,定位板15的中心处开设有贯通的通孔16,便于滑轨8的安装。
定位组件2包括伸缩槽23、定位凸起24、滑板25、第二支撑弹簧26和定位孔27,伸缩槽23对称开设在安装座1的内壁四周,伸缩槽23的内部滑动连接有滑板25,滑板25的底部通过第二支撑弹簧26与伸缩槽23的底部连接,滑板25的顶部中心处安装有贯穿伸缩槽23的定位凸起24,顶针5上对称开设有与定位凸起24配合使用的定位孔27,将顶针5插入到安装座1的内部时,会造成定位凸起24收入到伸缩槽23的内部,使第二支撑弹簧26受力压缩,当定位孔27运动到与定位凸起24对应时,在第二支撑弹簧26的反向作用力下,使定位凸起24卡入到定位孔27的内部,便于顶针5的精确对位。
本实用新型使用时,顶针5安装时,将顶针5插入到安装座1的内部后,通过安装座1内部的定位组件2进行卡紧,接着在转动紧固旋钮4,使紧固旋钮4在定位螺栓孔3的内部旋转,从而紧紧的卡紧顶针5,便于顶针5的快速安装和拆卸,使用方便;
测试时,驱动顶针5对半导体元件一个位置进行顶压并测试,在顶针5接触到半导体元件时,第一滑块21在滑杆20上运动,从而造成第一支撑弹簧19受力压缩,在第一支撑弹簧19的反向作用力下,不仅可以避免顶针5与半导体元件硬接触,造成半导体元件或者顶针5损坏,而且可以保证顶针5与半导体元件接触的紧密性,以保证测试的精确性;
伺服电机11工作,带动减速器12旋转,从而带动往复丝杆9旋转,带动第二滑块10在滑轨8的内部滑动,继而带动顶针5运动,以便于对半导体元件的不同位置进行测试,以提升测试的精确性,同时配合设置的距离传感器13,便于精确的监控第二滑块10的运行距离,以便于对第二滑块10的位置进行精确调节,有效的提升使用的方便性;
将顶针5插入到安装座1的内部时,会造成定位凸起24收入到伸缩槽23的内部,使第二支撑弹簧26受力压缩,当定位孔27运动到与定位凸起24对应时,在第二支撑弹簧26的反向作用力下,使定位凸起24卡入到定位孔27的内部,便于顶针5的精确对位。
最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种双轨分选机测试装置,包括安装座(1),其特征在于:所述安装座(1)的内部通过定位组件(2)插接固定有顶针(5),所述安装座(1)的底部对应两侧开设有定位螺栓孔(3),所述定位螺栓孔(3)的内部旋接固定有紧固旋钮(4),所述安装座(1)滑动连接有在弹性伸缩组件(6)的内部,所述弹性伸缩组件(6)安装在位移组件(7)上;
所述弹性伸缩组件(6)包括弹性伸缩座(17)、滑槽(18)、第一支撑弹簧(19)、滑杆(20)和第一滑块(21),所述弹性伸缩座(17)的对应两侧内壁开设有滑槽(18),所述滑槽(18)的对应两侧内壁安装有滑杆(20),所述滑杆(20)上滑动连接有第一滑块(21),所述滑杆(20)上套接有位于第一滑块(21)和滑槽(18)内壁的第一支撑弹簧(19),所述第一滑块(21)固定在安装座(1)的对应两侧。
2.根据权利要求1所述的一种双轨分选机测试装置,其特征在于:所述弹性伸缩座(17)的底部内壁中心处安装有缓冲垫(22),所述缓冲垫(22)为一种橡胶材料构件。
3.根据权利要求1所述的一种双轨分选机测试装置,其特征在于:所述位移组件(7)包括滑轨(8)、往复丝杆(9)、第二滑块(10)、伺服电机(11)和减速器(12),所述滑轨(8)的内部转动连接有往复丝杆(9),所述往复丝杆(9)上啮合连接有在滑轨(8)内部滑动的第二滑块(10),所述第二滑块(10)的底部安装有弹性伸缩座(17),所述滑轨(8)的一侧安装有驱动往复丝杆(9)的减速器(12),所述减速器(12)上安装有伺服电机(11)。
4.根据权利要求3所述的一种双轨分选机测试装置,其特征在于:所述第二滑块(10)的一侧安装有距离传感器(13),所述第二滑块(10)的外壁一侧安装有PLC控制器(14),所述距离传感器(13)电性连接PLC控制器(14)的输入端,所述PLC控制器(14)的输出端电性连接伺服电机(11)。
5.根据权利要求3所述的一种双轨分选机测试装置,其特征在于:所述滑轨(8)的顶部对应两侧安装有定位板(15),所述定位板(15)的中心处开设有贯通的通孔(16)。
6.根据权利要求1所述的一种双轨分选机测试装置,其特征在于:所述定位组件(2)包括伸缩槽(23)、定位凸起(24)、滑板(25)、第二支撑弹簧(26)和定位孔(27),所述伸缩槽(23)对称开设在安装座(1)的内壁四周,所述伸缩槽(23)的内部滑动连接有滑板(25),所述滑板(25)的底部通过第二支撑弹簧(26)与伸缩槽(23)的底部连接,所述滑板(25)的顶部中心处安装有贯穿伸缩槽(23)的定位凸起(24),所述顶针(5)上对称开设有与定位凸起(24)配合使用的定位孔(27)。
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