CN211726585U - 一种双轨分选机测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种双轨分选机测试装置，包括安装座，所述安装座的内部通过定位组件插接固定有顶针，所述安装座的底部对应两侧开设有定位螺栓孔，所述定位螺栓孔的内部旋接固定有紧固旋钮，所述安装座滑动连接有在弹性伸缩组件的内部，所述弹性伸缩组件安装在位移组件上，所述弹性伸缩组件包括弹性伸缩座、滑槽、第一支撑弹簧、滑杆和第一滑块，所述弹性伸缩座的对应两侧内壁开设有滑槽，所述滑槽的对应两侧内壁安装有滑杆，所述滑杆上滑动连接有第一滑块。本实用新型结构新颖，构思巧妙，不仅可以避免顶针与半导体元件硬接触，造成半导体元件或者顶针损坏，而且可以保证顶针与半导体元件接触的紧密性，以保证测试的精确性。

Description

一种双轨分选机测试装置

技术领域

本实用新型涉及分选机技术领域，具体为一种双轨分选机测试装置。

背景技术

半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间，利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换。半导体器件的半导体材料是硅、锗或砷化镓，可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材。为了与集成电路相区别，有时也称为分立器件。绝大部分二端器件(即晶体二极管)的基本结构是一个PN结。

目前，半导体器件在生产后需要使用双轨分选机对半导体器件进行分选。但是现有的测试装置，顶针在安装时，需要通过螺钉将顶针固定在分选机上，这样使得顶针在安装、更换、拆卸时极为不方便，影响了生产效率，而且顶针在测试的过程中与半导体器件硬接触，影响半导体器件和顶针的寿命。因此，设计一种双轨分选机测试装置是很有必要的。

实用新型内容

针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本实用新型提供一种双轨分选机测试装置，该装置结构新颖，构思巧妙，不仅可以避免顶针与半导体元件硬接触，造成半导体元件或者顶针损坏，而且可以保证顶针与半导体元件接触的紧密性，以保证测试的精确性。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种双轨分选机测试装置，包括安装座，所述安装座的内部通过定位组件插接固定有顶针，所述安装座的底部对应两侧开设有定位螺栓孔，所述定位螺栓孔的内部旋接固定有紧固旋钮，所述安装座滑动连接有在弹性伸缩组件的内部，所述弹性伸缩组件安装在位移组件上；

所述弹性伸缩组件包括弹性伸缩座、滑槽、第一支撑弹簧、滑杆和第一滑块，所述弹性伸缩座的对应两侧内壁开设有滑槽，所述滑槽的对应两侧内壁安装有滑杆，所述滑杆上滑动连接有第一滑块，所述滑杆上套接有位于第一滑块和滑槽内壁的第一支撑弹簧，所述第一滑块固定在安装座的对应两侧。

优选的，所述弹性伸缩座的底部内壁中心处安装有缓冲垫，所述缓冲垫为一种橡胶材料构件。

优选的，所述位移组件包括滑轨、往复丝杆、第二滑块、伺服电机和减速器，所述滑轨的内部转动连接有往复丝杆，所述往复丝杆上啮合连接有在滑轨内部滑动的第二滑块，所述第二滑块的底部安装有弹性伸缩座，所述滑轨的一侧安装有驱动往复丝杆的减速器，所述减速器上安装有伺服电机。

优选的，所述第二滑块的一侧安装有距离传感器，所述第二滑块的外壁一侧安装有PLC控制器，所述距离传感器电性连接PLC控制器的输入端，所述PLC控制器的输出端电性连接伺服电机。

优选的，所述滑轨的顶部对应两侧安装有定位板，所述定位板的中心处开设有贯通的通孔。

优选的，所述定位组件包括伸缩槽、定位凸起、滑板、第二支撑弹簧和定位孔，所述伸缩槽对称开设在安装座的内壁四周，所述伸缩槽的内部滑动连接有滑板，所述滑板的底部通过第二支撑弹簧与伸缩槽的底部连接，所述滑板的顶部中心处安装有贯穿伸缩槽的定位凸起，所述顶针上对称开设有与定位凸起配合使用的定位孔。

本实用新型的有益效果为：

1、顶针安装时，将顶针插入到安装座的内部后，通过安装座内部的定位组件进行卡紧，接着在转动紧固旋钮，使紧固旋钮在定位螺栓孔的内部旋转，从而紧紧的卡紧顶针，便于顶针的快速安装和拆卸，使用方便；

2、测试时，驱动顶针对半导体元件一个位置进行顶压并测试，在顶针接触到半导体元件时，第一滑块在滑杆上运动，从而造成第一支撑弹簧受力压缩，在第一支撑弹簧的反向作用力下，不仅可以避免顶针与半导体元件硬接触，造成半导体元件或者顶针损坏，而且可以保证顶针与半导体元件接触的紧密性，以保证测试的精确性；

3、伺服电机工作，带动减速器旋转，从而带动往复丝杆旋转，带动第二滑块在滑轨的内部滑动，继而带动顶针运动，以便于对半导体元件的不同位置进行测试，以提升测试的精确性，同时配合设置的距离传感器，便于精确的监控第二滑块的运行距离，以便于对第二滑块的位置进行精确调节，有效的提升使用的方便性；

4、将顶针插入到安装座的内部时，会造成定位凸起收入到伸缩槽的内部，使第二支撑弹簧受力压缩，当定位孔运动到与定位凸起对应时，在第二支撑弹簧的反向作用力下，使定位凸起卡入到定位孔的内部，便于顶针的精确对位。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1是本实用新型整体平面结构示意图；

图2是本实用新型弹性伸缩组件平面结构示意图；

图3是本实用新型定位组件平面结构示意图；

图4为本实用新型定位孔安装结构示意图；

图中标号：1、安装座；2、定位组件；3、定位螺栓孔；4、紧固旋钮；5、顶针；6、弹性伸缩组件；7、位移组件；8、滑轨；9、往复丝杆；10、第二滑块；11、伺服电机；12、减速器；13、距离传感器；14、PLC控制器；15、定位板；16、通孔；17、弹性伸缩座；18、滑槽；19、第一支撑弹簧；20、滑杆；21、第一滑块；22、缓冲垫；23、伸缩槽；24、定位凸起；25、滑板；26、第二支撑弹簧；27、定位孔。

具体实施方式

下面结合附图1-4对本实用新型的具体实施方式做进一步详细说明。

由图1-4给出，本实用新型提供如下技术方案：一种双轨分选机测试装置，包括安装座1，安装座1的内部通过定位组件2插接固定有顶针5，安装座1的底部对应两侧开设有定位螺栓孔3，定位螺栓孔3的内部旋接固定有紧固旋钮4，安装座1滑动连接有在弹性伸缩组件6的内部，弹性伸缩组件6安装在位移组件7上，顶针5安装时，将顶针5插入到安装座1的内部后，通过安装座1内部的定位组件2进行卡紧，接着在转动紧固旋钮4，使紧固旋钮4在定位螺栓孔3的内部旋转，从而紧紧的卡紧顶针5，便于顶针5的快速安装和拆卸，使用方便；

弹性伸缩组件6包括弹性伸缩座17、滑槽18、第一支撑弹簧19、滑杆20和第一滑块21，弹性伸缩座17的对应两侧内壁开设有滑槽18，滑槽18的对应两侧内壁安装有滑杆20，滑杆20上滑动连接有第一滑块21，滑杆20上套接有位于第一滑块21和滑槽18内壁的第一支撑弹簧19，第一滑块21固定在安装座1的对应两侧，测试时，驱动顶针5对半导体元件一个位置进行顶压并测试，在顶针5接触到半导体元件时，第一滑块21在滑杆20上运动，从而造成第一支撑弹簧19受力压缩，在第一支撑弹簧19的反向作用力下，不仅可以避免顶针5与半导体元件硬接触，造成半导体元件或者顶针5损坏，而且可以保证顶针5与半导体元件接触的紧密性，以保证测试的精确性。

弹性伸缩座17的底部内壁中心处安装有缓冲垫22，缓冲垫22为一种橡胶材料构件，提升缓冲能力。

位移组件7包括滑轨8、往复丝杆9、第二滑块10、伺服电机11和减速器12，滑轨8的内部转动连接有往复丝杆9，往复丝杆9上啮合连接有在滑轨8内部滑动的第二滑块10，第二滑块10的底部安装有弹性伸缩座17，滑轨8的一侧安装有驱动往复丝杆9的减速器12，减速器12上安装有伺服电机11，伺服电机11工作，带动减速器12旋转，从而带动往复丝杆9旋转，带动第二滑块10在滑轨8的内部滑动，继而带动顶针5运动，以便于对半导体元件的不同位置进行测试，以提升测试的精确性，同时配合设置的距离传感器13，便于精确的监控第二滑块10的运行距离，以便于对第二滑块10的位置进行精确调节，有效的提升使用的方便性。

第二滑块10的一侧安装有距离传感器13，第二滑块10的外壁一侧安装有PLC控制器14，距离传感器13电性连接PLC控制器14的输入端，PLC控制器14的输出端电性连接伺服电机11。

滑轨8的顶部对应两侧安装有定位板15，定位板15的中心处开设有贯通的通孔16，便于滑轨8的安装。

定位组件2包括伸缩槽23、定位凸起24、滑板25、第二支撑弹簧26和定位孔27，伸缩槽23对称开设在安装座1的内壁四周，伸缩槽23的内部滑动连接有滑板25，滑板25的底部通过第二支撑弹簧26与伸缩槽23的底部连接，滑板25的顶部中心处安装有贯穿伸缩槽23的定位凸起24，顶针5上对称开设有与定位凸起24配合使用的定位孔27，将顶针5插入到安装座1的内部时，会造成定位凸起24收入到伸缩槽23的内部，使第二支撑弹簧26受力压缩，当定位孔27运动到与定位凸起24对应时，在第二支撑弹簧26的反向作用力下，使定位凸起24卡入到定位孔27的内部，便于顶针5的精确对位。

本实用新型使用时，顶针5安装时，将顶针5插入到安装座1的内部后，通过安装座1内部的定位组件2进行卡紧，接着在转动紧固旋钮4，使紧固旋钮4在定位螺栓孔3的内部旋转，从而紧紧的卡紧顶针5，便于顶针5的快速安装和拆卸，使用方便；

测试时，驱动顶针5对半导体元件一个位置进行顶压并测试，在顶针5接触到半导体元件时，第一滑块21在滑杆20上运动，从而造成第一支撑弹簧19受力压缩，在第一支撑弹簧19的反向作用力下，不仅可以避免顶针5与半导体元件硬接触，造成半导体元件或者顶针5损坏，而且可以保证顶针5与半导体元件接触的紧密性，以保证测试的精确性；

伺服电机11工作，带动减速器12旋转，从而带动往复丝杆9旋转，带动第二滑块10在滑轨8的内部滑动，继而带动顶针5运动，以便于对半导体元件的不同位置进行测试，以提升测试的精确性，同时配合设置的距离传感器13，便于精确的监控第二滑块10的运行距离，以便于对第二滑块10的位置进行精确调节，有效的提升使用的方便性；

将顶针5插入到安装座1的内部时，会造成定位凸起24收入到伸缩槽23的内部，使第二支撑弹簧26受力压缩，当定位孔27运动到与定位凸起24对应时，在第二支撑弹簧26的反向作用力下，使定位凸起24卡入到定位孔27的内部，便于顶针5的精确对位。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种双轨分选机测试装置，包括安装座(1)，其特征在于：所述安装座(1)的内部通过定位组件(2)插接固定有顶针(5)，所述安装座(1)的底部对应两侧开设有定位螺栓孔(3)，所述定位螺栓孔(3)的内部旋接固定有紧固旋钮(4)，所述安装座(1)滑动连接有在弹性伸缩组件(6)的内部，所述弹性伸缩组件(6)安装在位移组件(7)上；

所述弹性伸缩组件(6)包括弹性伸缩座(17)、滑槽(18)、第一支撑弹簧(19)、滑杆(20)和第一滑块(21)，所述弹性伸缩座(17)的对应两侧内壁开设有滑槽(18)，所述滑槽(18)的对应两侧内壁安装有滑杆(20)，所述滑杆(20)上滑动连接有第一滑块(21)，所述滑杆(20)上套接有位于第一滑块(21)和滑槽(18)内壁的第一支撑弹簧(19)，所述第一滑块(21)固定在安装座(1)的对应两侧。

2.根据权利要求1所述的一种双轨分选机测试装置，其特征在于：所述弹性伸缩座(17)的底部内壁中心处安装有缓冲垫(22)，所述缓冲垫(22)为一种橡胶材料构件。

3.根据权利要求1所述的一种双轨分选机测试装置，其特征在于：所述位移组件(7)包括滑轨(8)、往复丝杆(9)、第二滑块(10)、伺服电机(11)和减速器(12)，所述滑轨(8)的内部转动连接有往复丝杆(9)，所述往复丝杆(9)上啮合连接有在滑轨(8)内部滑动的第二滑块(10)，所述第二滑块(10)的底部安装有弹性伸缩座(17)，所述滑轨(8)的一侧安装有驱动往复丝杆(9)的减速器(12)，所述减速器(12)上安装有伺服电机(11)。

4.根据权利要求3所述的一种双轨分选机测试装置，其特征在于：所述第二滑块(10)的一侧安装有距离传感器(13)，所述第二滑块(10)的外壁一侧安装有PLC控制器(14)，所述距离传感器(13)电性连接PLC控制器(14)的输入端，所述PLC控制器(14)的输出端电性连接伺服电机(11)。

5.根据权利要求3所述的一种双轨分选机测试装置，其特征在于：所述滑轨(8)的顶部对应两侧安装有定位板(15)，所述定位板(15)的中心处开设有贯通的通孔(16)。

6.根据权利要求1所述的一种双轨分选机测试装置，其特征在于：所述定位组件(2)包括伸缩槽(23)、定位凸起(24)、滑板(25)、第二支撑弹簧(26)和定位孔(27)，所述伸缩槽(23)对称开设在安装座(1)的内壁四周，所述伸缩槽(23)的内部滑动连接有滑板(25)，所述滑板(25)的底部通过第二支撑弹簧(26)与伸缩槽(23)的底部连接，所述滑板(25)的顶部中心处安装有贯穿伸缩槽(23)的定位凸起(24)，所述顶针(5)上对称开设有与定位凸起(24)配合使用的定位孔(27)。

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